JP2008017101A - パワーオンリセット回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】RC回路の時定数を考慮せずに、電源の立ち上がりにおいて、例えば電源電位が最大値に到達した後にクロックを入力するように設定するだけで、適切なタイミングでパワーオンリセット信号を生成でき、パワーオンリセット信号を制御するクロックの初期の極性設定を不要とする。
【解決手段】パワーオン時に電源電圧の変化を検出してパルスを発生する信号発生回路10と、信号発生回路10のパルスによりリセットを解除し、クロックCLOCKにより電源電圧を取り込むDフリップフロップ4と、Dフリップフロップ4の出力信号を受け電源電圧VDDを取り込むDフリップフロップ5と、Dフリップフロップ5の出力信号をクロックCLOCKにより取り込み出力信号をパワーオンリセット信号PONとして出力し、パワーオンリセット信号PONが出力されるとDフリップフロップ5をリセットするフリップフロップ6とを設ける。
【選択図】図1
【解決手段】パワーオン時に電源電圧の変化を検出してパルスを発生する信号発生回路10と、信号発生回路10のパルスによりリセットを解除し、クロックCLOCKにより電源電圧を取り込むDフリップフロップ4と、Dフリップフロップ4の出力信号を受け電源電圧VDDを取り込むDフリップフロップ5と、Dフリップフロップ5の出力信号をクロックCLOCKにより取り込み出力信号をパワーオンリセット信号PONとして出力し、パワーオンリセット信号PONが出力されるとDフリップフロップ5をリセットするフリップフロップ6とを設ける。
【選択図】図1
Description
本発明は、電源投入後にシステムのリセット及びデータの初期化を行うための、パワーオンリセット回路に関するものである。
パワーオンリセット回路は、電源投入後にシステムのリセット及びデータの初期化を行う必要があるデジタルシステムに搭載される。
図9及び図10を用いて特許文献1に開示された従来例のパワーオンリセット回路について説明する。図9に従来例のパワーオンリセット回路の回路図を示す。また、図10に図9の各部の電圧波形図を示す。図10には、電源電圧VDDの変化と、それに対応したノードn1の電圧の変化と、リセット解除信号RSLの変化と、パワーオンリセット信号PONの変化とが示されている。
従来例のパワーオンリセット回路は、RC回路18と、ハイレベル補正回路20と、設定回路22と、バスホルダ24と、バッファ26と、インバータ28と、ORゲート30とを有する。
まず、RC回路18は、pチャネルMOSトランジスタ32,34からなる抵抗体(R)と、nチャネルMOSトランジスタ36からなる容量素子(C)とを有する。ここで、pチャネルMOSトランジスタ32のソースは電源に接続され、そのゲートおよびドレインは短絡されてpチャネルMOSトランジスタ34のソースに接続されている。pチャネルMOSトランジスタ34のドレインはnチャネルMOSトランジスタ36のゲートに接続されている。nチャネルMOSトランジスタ36のソースおよびドレインは短絡されて接地されている。
ハイレベル補正回路20は、pチャネルMOSトランジスタ38と、インバータ40,42とを有する。ここで、pチャネルMOSトランジスタ38のソースは電源に接続され、そのドレインは、RC回路18を構成するpチャネルMOSトランジスタ34のドレインとnチャネルMOSトランジスタ36のゲートとの接続点(ノードn1)に接続されている。ノードn1はインバータ40の入力端に接続され、インバータ40の出力端はインバータ42の入力端およびpチャネルMOSトランジスタ38のゲートに入力されている。
設定回路22は、pチャネルMOSトランジスタ44と、nチャネルMOSトランジスタ46とを有する。ここで、pチャネルMOSトランジスタ44のソースは電源に接続され、そのゲートには、ハイレベル補正回路20を構成するインバータ42の出力端が接続されている。nチャネルMOSトランジスタ46のソースは接地され、そのゲートには、バッファ26の出力端が接続されている。また、pチャネルMOSトランジスタ44のドレインとnチャネルMOSトランジスタ46のドレインとは互いに短絡(接続)され、ノードn2とされている。
バスホルダ24は、2つのインバータ48,50を有する。インバータ48,50の出力端は、互いに他方のインバータ50,48の入力端に接続されている。また、インバータ48の出力端つまり、インバータ50の入力端はノードn2に接続されている。ノードn2はインバータ28の入力端に接続され、バッファ26にはリセット解除信号RSLが入力されている。バッファ26およびインバータ28の出力はともにORゲート30に入力され、ORゲート30からはパワーオンリセット信号PONが出力されている。ここで、パワーオンリセット信号PONがLレベルの時、パワーオンリセット信号PONを入力とする外部回路がリセットされる。
このパワーオンリセット回路において、電源電位VDDが0Vの時は各ノードの電圧レベルはいずれも0Vである。この時、前述のように、リセット解除信号RSLの電圧レベルも0Vにしておく。
時刻t0で電源を投入すると、電源電位VDDは0Vから徐々に上昇する。まず、RC回路18では、pチャネルMOSトランジスタ32,34からなる抵抗体Rの抵抗値と、nチャネルMOSトランジスタ36からなる容量素子Cの容量値とで決まる時定数RCに相当する時間、電源電位VDDの上昇と比べてノードn1の電圧上昇が抑えられる。ノードn1の電圧レベルがインバータ40のスレッショルド電圧に到達するまでは、ハイレベル補正回路20の出力であるインバータ42の出力レベルはインバータ40,42を介して、所定の一定時間tの間Lレベルが保持され、設定回路22のpチャネルMOSトランジスタ44のゲートに入力される。
設定回路22では、電源の投入後、電源電位VDDのレベルがトランジスタの閾値電圧付近になると、pチャネルMOSトランジスタ44がオンし始める。これにより、ノードn2は、pチャネルMOSトランジスタ44とバスホルダ24との抵抗分割によってHレベルとなるように抵抗比が設定されている。
この段階では、バスホルダ22のインバータ48の出力はHレベル、したがって、インバータ28からはLレベルが出力されており、リセット解除信号RSLもLレベルであるから、ORゲート30からは、パワーオンリセット信号PONとしてLレベルが出力される。パワーオンリセット信号PONのLレベルによって、このパワーオンリセット回路を搭載する半導体装置がリセットされる。
電源電位VDDが上昇すると、これに応じてノードn1の電圧レベルも上昇し、したがって、インバータ40の出力は降下し、インバータ42の出力は上昇する。そして、インバータ40の出力が降下してpチャネルMOSトランジスタ38がオンした時点で、ノードn1の電圧レベルは、インバータ40,42を介して設定回路22のpチャネルMOSトランジスタ44のゲートに入力され、pチャネルMOSトランジスタ44をオフする。なお、電源電位VDDは時刻teで最大値Veに達する。
その後、リセット解除信号RSLの電圧レベルが変化してHレベルが入力される。この時、ORゲート30の出力すなわちパワーオンリセット信号PONはHレベルになるとともに、設定回路22のnチャネルMOSトランジスタ46がオンして、ノードn2の電圧レベルはLレベルとなる。ノードn2の電圧レベルはバスホルダ24に保持され、インバータ28からはHレベルが出力される。したがって、これ以後、パワーオンリセット信号PONはHレベルに保持され、リセットが解除される。
すなわち、パワーオンリセット回路においては、電源の投入後、リセット解除信号RSLが一度でもLレベルからHレベルに変化すると、ノードn2の電圧レベルはLレベルとなり、このノードn2の電圧レベルはバスホルダ24に保持される。このため、パワーオンリセット信号PONは、リセット解除信号RSLの電圧レベルが変化しても、リセット解除信号RSLに係わらずHレベルを保持し、再度パワーオンリセット信号PONがLレベルになることはない。ここで、パワーオンリセット信号PONがHレベルになると、パワーオンリセット信号PONを入力とする外部回路のリセットが解除される。
なお、図10のノードn1の電圧波形が2段階の勾配になっているが、これは以下のとおりである。初めの傾きはRCによる傾きであり、ノードn1がインバータ40のスレッショルド電圧に達した時点でハイレベル補正回路により傾きが切り替わる。
特開2000−261300号公報
しかしながら、特許文献1に開示された図9のパワーオンリセット回路では、リセット解除信号RSLによりリセットを解除できるが、リセット解除信号RSLの入力タイミングによっては設定回路22のpチャネルMOSトランジスタ44とnチャネルMOSトランジスタ46が同時にオンし、電源電位VDDとグランドVSSとの間で貫通電流が流れるおそれがある。そのため、電源電位VDDの立ち上がり時間とともにRC回路18の時定数に応じてリセット解除信号RSLを入力するタイミングを設定する必要があった。
また、RC回路18の時定数は、製造プロセスのバラツキ及び温度により変化するため、リセット解除信号の入力タイミングは製造プロセスのバラツキ及び温度等を考慮し設定しなければならなかった。
さらに電源投入時においてリセット解除信号RSLをLレベルに設定しなければならないという制約があった。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、RC回路の時定数を考慮せずに、電源の立ち上がりにおいて、例えば電源電位が最大値に到達した後にクロックを入力するように設定するだけで、しかも製造プロセスのバラツキ及び温度等の影響を受けず、適切なタイミングでパワーオンリセット信号がアクティブになるパワーオンリセット回路を提供とすることを目的とする。
本発明は、RC回路の時定数を考慮せずに、電源の立ち上がりにおいて、例えば電源電位が最大値に到達した後にクロックを入力するように設定するだけで、適切なタイミングでパワーオンリセット信号がアクティブになり、パワーオンリセット信号を制御するクロックの初期の極性設定が不要なパワーオンリセット回路を提供とすることを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明のパワーオンリセット回路は、パワーオン時に電源電圧の変化を検出してパルスを発生する信号発生回路と、信号発生回路のパルスによりリセットが解除され、クロックにより電源電圧を取り込む第1のフリップフロップと、第1のフリップフロップの出力信号を受けて電源電圧を取り込む第2のフリップフロップと、第2のフリップフロップの出力信号をクロックにより取り込み出力信号をパワーオンリセット信号として出力し、パワーオンリセット信号の出力に応答して第2のフリップフロップをリセットする第3のフリップフロップとを備えている。
この構成によれば、クロックの切り替わりによりパワーオンリセット信号のタイミングを制御でき、クロックの初期の設定も不要であり、電源の立ち上がりとクロックを入力するタイミングを設定しておけば、確実かつ正確にパワーオンリセット信号を生成できる。
上記のパワーオンリセット回路の構成においては、信号発生回路が、例えばゲート及びドレインが接地され基板が電源に接続された第1のpチャネルMOSトランジスタと、電源と第1のpチャネルMOSトランジスタのソースとの間に接続された抵抗体と、入力端子が第1のpチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたインバータとを有する。
この構成によれば、信号発生回路にRC回路を使用しないため、電源とクロックの切り替わりによりパワーオンリセット信号のタイミングを制御でき、クロックの初期の設定も不要である。そのため、電源の立ち上がりとクロックを入力するタイミングを設定しておけば、確実かつ正確にパワーオンリセット信号を生成できる。しかも、コンデンサを使用しないので、集積化が可能である。
また、上記のパワーオンリセット回路の構成においては、信号発生回路が、ゲート及びドレインが接地され基板が電源に接続された第1のpチャネルMOSトランジスタと、ゲート、ソース及び基板が電源に接続され、ドレインが第1のpチャネルMOSトランジスタのソースに接続された第2のpチャネルトランジスタと、入力端子が第1のpチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたインバータとを有する構成であってもよい。
この構成によれば、パワーオンリセット回路がトランジスタのみから構成されているので、集積度に優れたパワーオンリセット回路を提供できる。
また、上記のパワーオンリセット回路の構成においては、信号発生回路の出力は、第3のフリップフロップのリセット端子に接続されていることが好ましい。
この構成によれば、電源投入において第3のフリップフロップをリセットし、その後リセット解除を行うので、クロックに対して確実にパワーオンリセット信号のタイミングを制御でき、さらにパワーオンリセット信号のアクティブ期間をクロックの1周期に設定できる。
また、上記のパワーオンリセット回路の構成においては、ドレインが接地され、ゲートが電源に接続され、基板及びソースがインバータの入力端子に接続された第3のpチャネルMOSトランジスタをさらに備えることが好ましい。
この構成によれば、瞬断後の電源の再立ち上げ時にも正確にパワーオンリセット信号を生成できる。
また、上記のパワーオンリセット回路の構成においては、ゲート、ドレイン及び基板が接地され、ソースが前記インバータの入力端子に接続されたnチャネルMOSトランジスタをさら備えることが好ましい。
この構成によれば、瞬断後の電源の再立ち上げ時にも正確にパワーオンリセット信号を生成できる。
本発明によれば、電源電位VDDの立ち上がりと入力されるクロックの切り替わりタイミングにより確実にパワーオンリセット信号を生成するパワーオンリセット回路を実現できるという有利な効果が得られる。
本発明によれば、電源電位VDDの立ち上がり、例えば電源電位VDDが最大値に到達した後にクロックが入力され、このクロックの切り替わりにより確実にパワーオンリセット信号を生成し、かつ入力されるクロックの初期値についてもLレベルまたはHレベルどちらも可能となるので、クロック仕様の汎用性が高く、正確にパワーオンリセット信号が生成されるという有利な効果が得られる。
以下、本発明の実施をするための最良の形態を具体的に示した実施の形態について、図面とともに記載する。
《実施の形態1》
図1および図3を用いて本発明の実施の形態1のパワーオンリセット回路を説明する。図1は本発明におけるパワーオンリセット回路の回路図である。
図1および図3を用いて本発明の実施の形態1のパワーオンリセット回路を説明する。図1は本発明におけるパワーオンリセット回路の回路図である。
実施の形態1のパワーオンリセット回路は、第1のpチャネルMOSトランジスタ1、抵抗体2、インバータ3、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6から構成される。
電源電位VDDと接地電位VSSとの間に抵抗体2と第1のpチャネルMOSトランジスタ1とが直列に接続される。第1のpチャネルMOSトランジスタ1のゲートとドレインは接地電位VSSに接続され、基板が電源電位VDDに接続される。記号Naは、抵抗体2と第1のpチャネルMOSトランジスタ1のソースとの接続点を示す。
インバータ3の入力端子に、第1のpチャネルMOSトランジスタ1のソースが接続される。インバータ3の出力端子に第1のDフリップフロップ4のリセット入力端子が接続される。記号Reは、インバータ3の出力端子と第1のDフリップフロップ4のリセット入力端子との接続点を示す。
上記の抵抗対2は、100kΩ程度の高い抵抗値を有するものであるが、できるだけMOS1に流れる電流を少なくするために高抵抗が望ましい。ただし、チップ上の抵抗による面積の増大も考慮することが必要である。
第1のDフリップフロップ4のD入力端子に電源電位VDD、クロック入力端子にクロックCLOCKが入力され、Q出力端子は第2のDフリップフロップ5のクロック入力端子に接続される。記号Q1は第1のDフリップフロップ4のQ出力端子と第2のDフリップフロップ5のクロック入力端子との接続点を示す。
第2のDフリップフロップ5のD入力端子に電源電位VDDが接続され、第2のDフリップフロップのQ出力端子は第3のDフリップフロップ6のD入力端子に接続される。記号Q2は第2のDフリップフロップ5のQ出力端子と第3のDフリップフロップ6のD入力端子との接続点を示す。
第3のDフリップフロップ6のクロック入力端子にクロックCLOCKが入力され、第3のDフリップフロップ6のNQ出力端子は第2のDフリップフロップ5のリセット端子に接続される。記号NQ3は第3のDフリップフロップ6のNQ出力端子と第2のDフリップフロップ5のリセット入力端子との接続点を示す。
第3のDフリップフロップ6のQ出力端子からはパワーオンリセット信号PONが出力される。パワーオンリセット信号PONはHレベルでアクティブである。つまり、パワーオンリセット信号PONがHレベルの時、パワーオンリセット信号PONを入力する外部回路がリセットされる。
インバータ3は、pチャネルMOSトランジスタ(図示しない)及びnチャネルMOSトランジスタ(図示しない)から構成される。インバータ3の閾値電位は電源電位VDDの半分としている。
図3は、電源が立ち上がった後の接続点Q2の初期値をLレベル、パワーオンリセット信号PONの初期値をLレベルとした場合の本発明の実施の形態1のパワーオンリセット回路の動作を示すパワーオンリセット回路の各部の電圧波形図である。図3において、記号VGS1は、第1のpチャネルMOSトランジスタ1の閾値電圧を示す。時刻t0で電源投入後、電源電位VDDは0Vから上昇し時刻teで最大値に達する。
接続点Naの電位Vaは、時刻t0に電源が投入された後、抵抗体2を流れる微少電流により電源電位VDDに追随して上昇する。その結果、時刻t1に第1のpチャネルMOSトランジスタ1のゲートとソース間の電位差(接続点Naの電位Vaに等しい)は閾値電圧VGS1に達し、第1のpチャネルMOSトランジスタ1が導通する。接続点Naの電位Vaは、その後一定の値になる。時刻t1以降、インバータ3及び第1から第3のDフリップフロップ4,5,6はその論理入力に従って動作する。電源投入から時刻t1までのインバータ3の出力はLレベルとなる。第1から第3のDフリップフロップ4,5,6を構成するnチャネルMOSトランジスタ(図示しない)またはpチャネルMOSトランジスタ(図示しない)に接続した電源電位VDDは、各トランジスタの閾値電圧に達しない。
時刻t1以降、図1の全ての回路が動作する。電源電位VDDが接続点Naの電位Vaの2倍(2Va)に到達する時刻をt2とする。時刻t2において、電源電位VDDはまだ上昇中である。時刻t1から時刻t2までは、インバータ3の入力電圧Vaが、Va>VDD/2の関係を満たすため、インバータ3の出力はLレベルである。従って、第1のDフリップフロップ4はリセットされ、Q出力端子はLレベルとなる。時刻t2以降は、インバータ3の入力電圧Vaが、Va<VDD/2の関係を満たすため、インバータ3の出力はHレベルである。従って、第1のDフリップフロップ4のリセットは解除される。
電源電位VDDが立ち上がった後、クロックCLOCKがLレベルからHレベルになると、接続点Q1はHレベルになる。接続点Q1がHレベルとなることにより、接続点Q2はHレベルとなる。次にクロックCLOCKがHレベルからLレベルになるがDフリップフロップは立ち上がりで取り込むため、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6の出力は保持される。次にクロックCLOCKがHレベルになると、接続点Q2はHレベルであるので、パワーオンリセット信号PONはHレベルになる。つまり、パワーオンリセット信号PONがアクティブになる。この時、接続点NQ3がLレベルになる。接続点NQ3がLレベルになると、第2のDフリップフロップ5はリセットされ、接続点Q2はLレベルになる。次にクロックCLOCKがLレベルとなるが、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6の出力は保持される。次にクロックCLOCKがHレベルになると、接続点Q2はLレベルであるので、接続点NQ3はHレベルとなり、第2のDフリップフロップのリセットは解除され、第3のDフリップフロップ3のQ出力端子であるパワーオンリセット信号PONはLレベルとなる。つまり、パワーオンリセット信号PONがインアクティブとなる。
なお、クロックCLOCKは、内部にて発生するクロックでは無く、外部から入力されるものである。特に、このクロックCLOCKは、シリアル制御等のクロックを想定しており、この様なクロックはLSIに電源を供給後、内部のリセットがオンからリセット解除後に入力されるものである。
これ以降に、クロックCLOCKがLレベルからHレベルまたはHレベルからLレベルに変化したとしても、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6のD入力端子および第2のDフリップフロップ6のリセット入力端子のレベルは変化がなく、第3のDフリップフロップ6のQ出力端子であるパワーオンリセット信号PONはLレベルを保持する。つまり、クロックの1周期分がパワーオンリセット信号PONのアクティブ期間となる。
図4は、電源が立ち上がった後の接続点Q2の初期値をHレベル、パワーオンリセット信号PONの初期値をLレベルとした場合の本発明の実施の形態1のパワーオンリセット回路の動作を示すパワーオンリセット回路の各部の電圧波形図である。図4において、記号VGS1は、第1のpチャネルMOSトランジスタ1の閾値電圧である。時刻t0で電源投入後、電源電位VDDは0Vから上昇し時刻teで最大値Veに達する。
接続点Naの電位Vaは、時刻t0で電源が投入された後、抵抗体2を流れる微少電流により電源電位VDDに追随して上昇する。その結果、時刻t1で第1のpチャネルMOSトランジスタ1のゲートとソース間の電位差(接続点Naの電位Vaに等しい)は閾値電圧VGS1に達し、第1のpチャネルMOSトランジスタ1が導通する。接続点Naの電位Vaは、その後一定の値になる。時刻t1以降、インバータ3及び第1から第3のDフリップフロップ4,5,6はその論理入力に従って動作する。電源投入から時刻t1までのインバータ3の出力はLレベルとなる。第1から第3のDフリップフロップ4,5,6を構成するnチャネルMOSトランジスタ(図示しない)またはpチャネルMOSトランジスタ(図示しない)に接続した電源電位VDDは、各トランジスタの閾値電圧に達しない。
時刻t1以降、図1の全ての回路が動作する。電源電位VDDが接続点Naの電位Vaの2倍(2Va)に到達する時刻をt2とする。時刻t2において、電源電位VDDはまだ上昇中である。時刻t1から時刻t2までは、インバータ3の入力電圧Vaが、Va>VDD/2の関係を満たすため、インバータ3の出力はLレベルである。従って、第1のDフリップフロップ4はリセットされ、Q出力端子はLレベルとなる。時刻t2以降は、インバータ3の入力電圧Vaが、Va<VDD/2の関係を満たすため、インバータ3の出力はHレベルである。従って、第1のDフリップフロップ4のリセットは解除される。
電源電位VDDが立ち上がった後、クロックCLOCKがHレベルになると、接続点Q1はHレベルになる。接続点Q1がHレベルとなるが、接続点Q2はHレベルであるためHレベルを保持する。次にクロックCLOCKがLレベルになるがDフリップフロップは立ち上がりで取り込むため、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6の出力は保持される。次にクロックCLOCKがHレベルになると、接続点Q2はHレベルであるので、パワーオンリセット信号PONはHレベルになる。つまり、パワーオンリセット信号PONがアクティブになる。この時、接続点NQ3がLレベルになる。接続点NQ3がLレベルになると、第2のDフリップフロップ5はリセットされ、接続点Q2はLレベルになる。次にクロックCLOCKがLレベルになるが、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6の出力は保持される。次にクロックCLOCKがHレベルになると、接続点Q2はLレベルであるので、接続点NQ3はHレベルとなり第2のDフリップフロップ5のリセットは解除され、第3のDフリップフロップ6のQ出力端子であるパワーオンリセット信号PONはLレベルとなる。つまり、パワーオンリセット信号PONがインアクティブとなる。これ以降に、クロックCLOCKがLレベルからHレベルまたはHレベルからLレベルになったとしても、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6のD入力端子および第2のDフリップフロップ6のリセット入力端子は変化がなく、第3のDフリップフロップ6のQ出力端子であるパワーオンリセット信号PONはLレベルを保持する。つまり、クロックの1周期分がパワーオンリセット信号PONのアクティブ期間となる。
図5は、電源が立ち上がった後のパワーオンリセット信号PONの初期値をHレベル、接続点Q2の初期値をLレベル(接続点NQ3がLレベルであるので第2のDフリップフロップ5はリセットされる)とした場合の本発明の実施の形態1のパワーオンリセット回路の動作を示すパワーオンリセット回路の各部の電圧波形図である。図5において、記号VGS1は、第1のpチャネルMOSトランジスタ1の閾値電圧である。時刻t0に電源投入後、電源電位VDDは0Vから上昇し時刻teに最大値に達する。
接続点Naの電位Vaは、時刻t0で電源が投入された後、抵抗体2を流れる微少電流により電源電位VDDに追随して上昇する。その結果、時刻t1に第1のpチャネルMOSトランジスタ1のゲートとソース間の電位差(接続点Naの電位Vaに等しい)は閾値電圧VGS1に達し、第1のpチャネルMOSトランジスタ1が導通する。接続点Naの電位Vaは、その後一定の値になる。時刻t1以降、インバータ3及び第1から第3のDフリップフロップ4,5,6はその論理入力に従って動作する。電源投入から時刻t1までのインバータ3の出力はLレベルとなる。第1から第3のDフリップフロップ4,5,6を構成するnチャネルMOSトランジスタ(図示しない)またはpチャネルMOSトランジスタ(図示しない)に接続した電源電位VDDは、各トランジスタの閾値電圧に達しない。
時刻t1以降、図1の全ての回路が動作する。電源電位VDDが接続点Naの電位Vaの2倍(2Va)に到達する時刻をt2とする。時刻t2において、電源電位VDDはまだ上昇中である。時刻t1から時刻t2までは、インバータ3の入力電圧Vaが、Va>VDD/2の関係を満たすため、インバータ3の出力はLレベルである。従って、第1のDフリップフロップ4はリセットされ、Q出力端子はLレベルとなる。時刻t2以降は、インバータ3の入力電圧Vaが、Va<VDD/2の関係を満たすため、インバータ3の出力はHレベルである。従って、第1のDフリップフロップ4のリセットは解除される。この時、パワーオンリセット信号PONはHレベルである。つまり、パワーオンリセット信号PONがアクティブになる。
電源電位VDDが立ち上がった後、クロックCLOCKがHレベルになると、接続点Q1はHレベルになる。接続点Q1がHレベルとなるが、接続点NQ3はLレベルであるため第2のDフリップフロップ5はリセットされており、接続点Q2はLレベルを保持する。接続点Q2がLレベルであるため、パワーオンリセット信号はLレベルになる。つまり、パワーオンリセット信号PONがインアクティブとなる。これ以降に、クロックCLOCKがLレベルからHレベルまたはHレベルからLレベルに切り替わったとしても、第1から第3のDフリップフロップ4,5,6のD入力端子および第2のDフリップフロップ6のリセット入力端子は変化がなく、第3のDフリップフロップ6のQ出力端子であるパワーオンリセット信号PONはLレベルを保持する。つまり、時刻t2以降から最初のクロックCLOCKの立ち上がりまでの期間がパワーオンリセット信号PONのアクティブ期間となる。
実施の形態1のパワーオンリセット回路は、第1のpチャネルMOSトランジスタ1のソースとドレイン間の電位差が電源電位VDDに追随して変化する構成とした。従って、電源電位が立ち上がると、インバータ3はその論理入力に従って動作し始めた後(時刻t1)、電源電位VDDが第1のpチャネルMOSトランジスタ1の閾値電圧VGS1の2倍を超えるまで(Va<VDD/2が成立するまで。時刻t2)第1のDフリップフロップ4はリセット状態となり、時刻t2以降は第1のDフリップフロップ4はリセットが解除され、接続点Q1はLレベルとなる。時刻t2以降にクロックが入力されると、クロックCLOCKの入力に従ってパワーオンリセット信号PONがアクティブとなり、クロックCLOCKの1周期後にインアクティブとなり、その後インアクティブを保持する(図3、図4)。
また、電源が立ち上がった後のパワーオンリセット信号PONの初期値をHレベル、接続点Q2の初期値をLレベル(接続点NQ3がLレベルであるので第2のDフリップフロップ5はリセットされる)の場合においては(図5)、時刻t2からクロックCLOCKがHレベルへ切り替わるまでの期間がパワーオンリセット信号のアクティブ期間となり、その後インアクティブを保持する。
実施の形態1のパワーオンリセット回路は、RC回路を使用しないので、RC回路の時定数を考慮せずに、電源の立ち上がり、例えば電源電位が最大値に到達した後にクロック入力のHレベルになるタイミングのみを設定すれば、製造プロセスのバラツキ及び温度等の影響を受けず、しかも確実にパワーオンリセット信号PONを生成するパワーオンリセット回路を提供できる。さらに、クロックCLOCKがHレベルの切り替わりでパワーオンリセット信号PONがアクティブまたはインアクティブになるので、クロックCLOCKの初期値についてもLレベルまたはHレベルどちらも可能となるので、汎用性の高いパワーオンリセット回路を提供できる。
《実施の形態2》
図2は、本発明の実施の形態2のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態2のパワーオンリセット回路は、実施の形態1のパワーオンリセット回路(図1)における抵抗体2を第2のpチャネルMOSトランジスタ7で置き換えたものである。第2のpチャネルMOSトランジスタ7のゲート、ソース及び基板は電源電位VDDに接続され、ドレインは接続点Naに接続される。第2のpチャネルMOSトランジスタ7は、その定電流領域の特性を利用して、例えば消費電流を出来るだけ増加させない様、100kΩ等の高抵抗の働きをする。この抵抗値は、ICの消費電力を増加させないため、大きく設定している。
図2は、本発明の実施の形態2のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態2のパワーオンリセット回路は、実施の形態1のパワーオンリセット回路(図1)における抵抗体2を第2のpチャネルMOSトランジスタ7で置き換えたものである。第2のpチャネルMOSトランジスタ7のゲート、ソース及び基板は電源電位VDDに接続され、ドレインは接続点Naに接続される。第2のpチャネルMOSトランジスタ7は、その定電流領域の特性を利用して、例えば消費電流を出来るだけ増加させない様、100kΩ等の高抵抗の働きをする。この抵抗値は、ICの消費電力を増加させないため、大きく設定している。
その他の構成は実施の形態1と同様であり、同様の符号を付してその説明に代える。
実施の形態2のパワーオンリセット回路は、実施の形態1のパワーオンリセット回路(図1)と同様に作動し、同様の効果を奏する。さらに、実施の形態2のパワーオンリセット回路はトランジスタのみから構成されるので、集積度に優れたパワーオンリセット回路を提供できる。
《実施の形態3》
図6は、本発明の実施の形態3のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態3のパワーオンリセット回路は、実施の形態2のパワーオンリセット回路(図2)におけるインバータ3の出力と第3のDフリップフロップ6のリセット入力端子とを接続したものである。その他の構成は実施の形態2と同様である。
図6は、本発明の実施の形態3のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態3のパワーオンリセット回路は、実施の形態2のパワーオンリセット回路(図2)におけるインバータ3の出力と第3のDフリップフロップ6のリセット入力端子とを接続したものである。その他の構成は実施の形態2と同様である。
実施の形態3のパワーオンリセット回路は、電源電位VDDが時刻t2になるとインバータ3の出力がHレベルになるので、第3のDフリップフロップ6の出力と接続しているパワーオンリセット信号PONはLレベルとなる。従って、実施の形態3のパワーオンリセット回路は図3または図4の動作となり、図5の動作は存在しない。よって、実施の形態3のパワーオンリセット回路におけるパワーオンリセット信号PONのアクティブ期間は必ずクロック1周期分となり、正確なパワーオンリセット信号PONが生成できる。
なお、実施の形態1のパワーオンリセット回路(図1)におけるインバータ3の出力と第3のDフリップフロップ6のリセット入力端子とを接続した構成も容易に考えられる。この場合も上記の実施の形態と同様の作用効果が得られる。
《実施の形態4》
図7は、本発明の実施の形態4のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態4のパワーオンリセット回路は、実施の形態2のパワーオンリセット回路(図2)に第3のpチャネルMOSトランジスタ8を追加したものである。第3のPチャネルMOSトランジスタ8は、ドレインが接地電位VSSに接続され、ゲートが電源電位VDDに接続され、ソース及び基板が接続点Naに接続される。その他の構成は実施の形態2(図2)と同様であり、同様の符号を付してその説明に代える。
図7は、本発明の実施の形態4のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態4のパワーオンリセット回路は、実施の形態2のパワーオンリセット回路(図2)に第3のpチャネルMOSトランジスタ8を追加したものである。第3のPチャネルMOSトランジスタ8は、ドレインが接地電位VSSに接続され、ゲートが電源電位VDDに接続され、ソース及び基板が接続点Naに接続される。その他の構成は実施の形態2(図2)と同様であり、同様の符号を付してその説明に代える。
電源が投入された後にクロックCLOCKが入力され、パワーオンリセット信号PONがアクティブとなり、さらにインアクティブになった後、電源電位VDDが電位Veから急激に0Vまで低下し、すぐに回復する場合(瞬断)の動作を説明する。実施の形態2のパワーオンリセット回路(図2)は、電源電位VDDが瞬間的に0Vになると、第1のpチャネルMOSトランジスタ1と第2のpチャネルMOSトランジスタ7との容量結合が起きる。従って、電源電位VDDが急激に低下するときに、接続点Naの電位Vaは、(VGS1―Ve)まで急激に低下する。そのため、電源電位VDDが電位Veに回復するまでに、Vaが閾値電圧VGS1に回復せず、第1のDフリップフロップ4をリセットできなくなり、パワーオンリセット信号PONが正常に生成されない可能性がある。
実施の形態4のパワーオンリセット回路は、電源電位VDDが電位Veから急激に0Vまで低下するとき、接続点Naの電位Vaは、第3のpチャネルMOSトランジスタ8のドレインと基板間のPN接合電圧をVdとすると、−Vdまでしか低下しない。従って、電源電位VDDの回復時にも、正常にパワーオンリセット信号PONを生成できる。
なお、実施の形態1のパワーオンリセット回路(図1)において、第3のpチャネルMOSトランジスタ8を追加した構成も上記と同様に考えることができる。この場合も上記の実施の形態と同様の作用効果が得られる。
《実施の形態5》
図8は、本発明の実施の形態5のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態5のパワーオンリセット回路は、実施の形態2のパワーオンリセット回路にnチャネルMOSトランジスタ9を追加したものである。nチャネルMOSトランジスタ9は、ゲート、ドレイン及び基板が接地電位VSSに接続され、ソースが接続点Naに接続される。その他の構成は実施の形態2(図2)と同様であり、同様の符号を付してその説明に代える。
図8は、本発明の実施の形態5のパワーオンリセット回路の回路図である。実施の形態5のパワーオンリセット回路は、実施の形態2のパワーオンリセット回路にnチャネルMOSトランジスタ9を追加したものである。nチャネルMOSトランジスタ9は、ゲート、ドレイン及び基板が接地電位VSSに接続され、ソースが接続点Naに接続される。その他の構成は実施の形態2(図2)と同様であり、同様の符号を付してその説明に代える。
電源が投入された後にクロックCLOCKが入力され、パワーオンリセット信号PONがアクティブとなり、さらにインアクティブになった後、電源電位VDDが電位Veから急激に0Vまで低下し、すぐに回復する場合(瞬断)の動作を説明する。実施の形態5のパワーオンリセット回路は、電源電位VDDが電位Veから急激に0Vまで低下するとき、接続点Naの電位Vaは、nチャネルMOSトランジスタ9のドレインと基板間のpn接合電圧をVdとすると、−Vdまでしか低下しない。従って、電源電位VDDの回復時に、正常にパワーオンリセット信号PONを生成できる。
実施の形態5のパワーオンリセット回路は、実施の形態4のパワーオンリセット回路と同様の効果を奏する。
なお、実施の形態1のパワーオンリセット回路(図1)において、nチャネルMOSトランジスタ9を追加した構成も上記と同様に考えることができる。この場合も上記の実施の形態と同様の作用効果が得られる。
本発明にかかるパワーオンリセット回路は、シリアル通信等のクロック入力を有するデジタル回路搭載の半導体装置において、製造プロセスのバラツキ及び温度等の影響を受けず、確実にパワーオンリセット信号を生成でき、かつパワーオンリセット信号発生タイミングを設定できるという効果を有し、種々のデジタル回路を電源起動時にリセットするパワーオンリセット回路として有用である。
さらにシリアル通信等のクロック入力を有するデジタル回路搭載の半導体装置において、動作制御用クロックを共用することができるので、パワーオンリセット信号専用に新たなクロックを入力する必要が無くパワーオンリセット信号を生成できる。
1 第1のpチャネルMOSトランジスタ
2 抵抗体
3 インバータ
4 第1のDフリップフロップ
5 第2のDフリップフロップ
6 第3のDフリップフロップ
7 第2のpチャネルMOSトランジスタ
8 第3のpチャネルMOSトランジスタ
9 nチャネルMOSトランジスタ
10 信号発生回路
18 RC回路
20 ハイレベル補正回路
22 設定回路
30 ORゲート
24 バスホルダ
26 バッファ
28,40,42,48,50,54,56 インバータ
32,34,38,44 pチャネルMOSトランジスタ
36,46 nチャネルMOSトランジスタ
2 抵抗体
3 インバータ
4 第1のDフリップフロップ
5 第2のDフリップフロップ
6 第3のDフリップフロップ
7 第2のpチャネルMOSトランジスタ
8 第3のpチャネルMOSトランジスタ
9 nチャネルMOSトランジスタ
10 信号発生回路
18 RC回路
20 ハイレベル補正回路
22 設定回路
30 ORゲート
24 バスホルダ
26 バッファ
28,40,42,48,50,54,56 インバータ
32,34,38,44 pチャネルMOSトランジスタ
36,46 nチャネルMOSトランジスタ
Claims (6)
- パワーオン時に電源電圧の変化を検出してパルスを発生する信号発生回路と、
前記信号発生回路のパルスによりリセットが解除され、クロックにより前記電源電圧を取り込む第1のフリップフロップと、
前記第1のフリップフロップの出力信号を受けて前記電源電圧を取り込む第2のフリップフロップと、
前記第2のフリップフロップの出力信号を前記クロックにより取り込み出力信号をパワーオンリセット信号として出力し、前記パワーオンリセット信号の出力に応答して前記第2のフリップフロップをリセットする第3のフリップフロップとを備えたパワーオンリセット回路。 - 前記信号発生回路は、ゲート及びドレインが接地され基板が電源に接続された第1のpチャネルMOSトランジスタと、前記電源と前記第1のpチャネルMOSトランジスタのソースとの間に接続された抵抗体と、入力端子が前記第1のpチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたインバータとを有する請求項1に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記信号発生回路は、ゲート及びドレインが接地され基板が電源に接続された第1のpチャネルMOSトランジスタと、ゲート、ソース及び基板が前記電源に接続され、ドレインが前記第1のpチャネルMOSトランジスタのソースに接続された第2のpチャネルトランジスタと、入力端子が前記第1のpチャネルMOSトランジスタのソースに接続されたインバータとを有する請求項1に記載のパワーオンリセット回路。
- 前記信号発生回路の出力は、前記第3のフリップフロップのリセット端子に接続されている請求項2または3に記載のパワーオンリセット回路。
- ドレインが接地され、ゲートが前記電源に接続され、基板及びソースが前記インバータの入力端子に接続された第3のpチャネルMOSトランジスタをさらに備えた請求項3から請求項4のいずれか1項に記載のパワーオンリセット回路。
- ゲート、ドレイン及び基板が接地され、ソースが前記インバータの入力端子に接続されたnチャネルMOSトランジスタをさら備えた請求項3から請求項4のいずれか1項に記載のパワーオンリセット回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006185304A JP2008017101A (ja) | 2006-07-05 | 2006-07-05 | パワーオンリセット回路 |
Applications Claiming Priority (1)
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Family
ID=39073722
Family Applications (1)
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JP2006185304A Pending JP2008017101A (ja) | 2006-07-05 | 2006-07-05 | パワーオンリセット回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2008017101A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102565668A (zh) * | 2010-10-14 | 2012-07-11 | 拉碧斯半导体株式会社 | 检查装置和方法 |
CN108023580A (zh) * | 2016-10-28 | 2018-05-11 | 拉碧斯半导体株式会社 | 半导体装置以及上电复位信号的生成方法 |
CN112187232A (zh) * | 2020-09-07 | 2021-01-05 | 上海威固信息技术股份有限公司 | 一种上电检测电路及上电检测方法 |
-
2006
- 2006-07-05 JP JP2006185304A patent/JP2008017101A/ja active Pending
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US8786306B2 (en) | 2010-10-14 | 2014-07-22 | Lapis Semiconductor Co., Ltd. | Inspection device and inspection method |
CN108023580A (zh) * | 2016-10-28 | 2018-05-11 | 拉碧斯半导体株式会社 | 半导体装置以及上电复位信号的生成方法 |
CN108023580B (zh) * | 2016-10-28 | 2023-12-22 | 拉碧斯半导体株式会社 | 半导体装置以及上电复位信号的生成方法 |
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CN112187232B (zh) * | 2020-09-07 | 2024-01-26 | 上海威固信息技术股份有限公司 | 一种上电检测电路及上电检测方法 |
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