CN112187232A - 一种上电检测电路及上电检测方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 123
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种上电检测电路及上电检测方法,包括第一PMOS晶体管、第一NMOS晶体管、第一反相器、第二反相器和D触发器;第一PMOS晶体管的栅极、源极和体连接电源VDD,漏极连接第一NMOS晶体管的源极、漏极和体、第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D;第一反相器的输出端OUT连接第二反相器的输入端IN;D触发器的输入端R连接复位信号RESET,D触发器的输入端CLK连接第二反相器的输出端OUT,输出端Q输出上电检测信号P。本发明采用纯CMOS电路实现上电检测功能,检测完成后无动态功耗,功耗极低,解决了传统上电检测电路结构的弊端,适用于低压,低功耗的集成电路芯片应用。
Description
技术领域
本发明属于集成电路设计技术领域,具体涉及到一种上电检测电路及上电检测方法。
背景技术
在集成电路芯片设计中,越来越多的设计方案中需要对系统的上电状态进行检测。而对于上电状态检测而言,目的本身就是根据实际需要而多样化的。如,由于数字逻辑电路上电过程容易出现数字逻辑错误,通常需要在电源电压达到电路的工作电平前,利用复位信号对电路进行初始化,以保证数字逻辑的正确性,而产生复位信号的电路就是上电检测电路。又如,在某些特定应用系统中,需要对系统的上电状态进行控制、计数、实时监控等,也需要采用上电检测电路。
有从业者提出过很多上电检测电路的设计。
如,目前常用的上电检测电路如说明书附图5所示,电源电压VDD上升阶段,电阻R1和电容C1组成延迟电路,VP电压缓慢上升,PM1和NM1组成反相器结构,反相器阈值电压与MOS器件的W/L有关,当VDD上升较快,VP由于延迟作用上升较慢时候,PM1导通,NM1截止,这样通过I1反相器整形,产生s_porb=L的检测信号,当VDD稳定后,VP=VDD,通过反相器整形,s_porb=H,芯片正常工作且无静态功耗。但这种结构的检测电路对VDD的慢上电的应用无效,因为慢上电情况下,VP始终等于VDD,因此s_porb始终为H,无法产生复位/置位信号。
又如,说明书附图6所示的也是一种常用的上电检测电路。PM3,PM5,NM3二极管串联连接,当VDD低于三个MOS器件阈值电压情况下,VP始终为低电平,输出s_porb=L,为复位/置位阶段,当VDD足够高的情况下,PM4导通,VP被充电至VDD,因此s_porb转变为高电平,芯片正常工作,从而达到了上电检测的功能,而且这种方式对VDD的上电速度并不敏感。这种结构有两个问题,第一,由于MOS管二极管串联使用,使得VDD的最小启动电压为MOS器件阈值的整数倍,无法低电压环境下使用;第二,MOS管通路始终存在静态功耗,无法应用于低功耗环境下。
发明内容
针对现有技术存在的技术问题,本发明提供一种结构原理简单、易实现、功耗低、面积小、速度快的上电检测电路及上电检测方法。
为解决上述技术问题,本发明采用以下技术方案:
一种上电检测电路,包括第一PMOS晶体管、第一NMOS晶体管、第一反相器、第二反相器和D触发器;输入端有电源VDD、地GND和复位端RESET,输出端为上电检测信号P。其中:
所述第一PMOS晶体管的栅极、源极和体连接电源VDD;所述第一PMOS晶体管的漏极连接所述第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D。
所述第一NMOS晶体管的漏极、源极和体连接第一PMOS晶体管的漏极、第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D,所述第一NMOS晶体管的栅极连接地GND。
所述第一反相器的输入端IN连接第一PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及D触发器的输入端D;第一反相器的输出端OUT连接第二反相器的输入端IN。
所述第二反相器的输入端IN连接第一反相器的输出端OUT,第二反相器的输出端OUT连接D触发器的输入端CLK。
所述D触发器的输入端R连接复位信号RESET,所述D触发器的输入端D连接第一PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及第一反相器的输入端IN;所述D触发器的输入端CLK连接第二反相器的输出端OUT;所述D触发器的输出端Q输出上电检测信号P。
进一步,所述反相器电路包括第二PMOS晶体管和第二NMOS晶体管,其中第二PMOS晶体管的源极和体连接电源VDD,第二PMOS晶体管的漏极连接第二NMOS晶体管的漏极和输出端OUT,第二PMOS晶体管的栅极连接输入端IN。第二NMOS晶体管的源极和体连接地GND,第二NMOS晶体管的漏极连接第二PMOS晶体管的漏极和输出端OUT,第二NMOS晶体管的栅极连接输入端IN。
进一步,D触发器电路可采用带复位端的CMOS结构D触发器电路。
进一步,上电检测电路与一个应用系统相连,以达到检测上电状态的目的。该上电检测电路的输入端VDD连接电源VDD,上电检测电路的输入端RESET连接应用系统输出的复位信号F,上电检测电路的输入端GND连接地GND,上电检测电路的输出端P输出上电检测信号至应用系统。
进一步,应用系统输入上电检测信号,可以通过上电检测信号的电压判断是否发生上电,并控制输出复位信号。
本发明进一步提供一种基于上述上电检测电路的上电检测方法,结合在应用系统上的应用,其步骤包括:
步骤S1:应用系统冷启动上电;一旦电源VDD上电,VDD电压从0上升到U,那么D触发器的输出端Q输出电压从0上升到U,从而判定发生了上电。
步骤S2:应用系统启动完毕后的复位;在应用系统完成上电之后,输出复位信号F,复位D触发器,令上电检测信号P的电压从U下降到0,完成复位。
进一步,在步骤S1中,当冷启动上电时,上电检测流程包括:
步骤S101:电源VDD未上电,VDD的电压为0,GND的电压为0,RESET的电压为0,上电检测信号P的电压为0,复位信号F为0,表明未发生上电。
步骤S102:电源VDD上电,VDD电压从0上升到U,GND的电压保持为0,复位信号F的电压保持为0,则上电检测电路的D触发器输入端D的电压和输入端CLK的电压先后从0上升到U。
步骤S103:上电检测电路的D触发器的输出端Q输出电压从0上升到U,则上电检测信号P的电压从0上升到U,表明发生了上电。
进一步,在步骤S2中,应用系统启动完毕后,包括以下流程:
步骤S201:应用系统启动完毕后,检测上电检测信号P的电压。P的电压为U,表明此次启动为冷启动上电,则输出复位信号F,F电压0上升到U。
步骤S202:上电检测电路的D触发器输入端R输入电压U,则复位D触发器,使上电检测电路的D触发器的输出端Q输出电压从U下降到0,则上电检测信号P的电压从U下降到0。
步骤S203:应用系统检测到上电检测信号P的电压从U下降到0,则撤销复位信号F,F电压从U下降到0。
步骤S204:上电检测电路的D触发器输入端R输入电压0,输入端D和CLK维持1不变,则输出端Q输出电压维持0不变,即上电检测信号P的电压维持0不变。
进一步,还可以进一步包括步骤S3:如果应用系统发生热复位,则应用系统启动完毕后,同样检测上电检测信号P的电压,P的电压为0,表明此次启动为热复位,维持输出复位信号F的电压为0。
与现有技术相比,本发明的优点在于:
本发明的上电检测电路及上电检测方法,结构原理简单、易实现,它采用纯CMOS电路实现上电检测功能,功耗低,面积小,检测完成后无动态功耗,功耗极低。本发明解决了传统上电检测电路结构的弊端,适用于低压,低功耗的集成电路芯片应用。
附图说明
图1是本发明电路的拓扑结构原理示意图。
图2是本发明在具体应用实例中反相器的电路原理示意图。
图3是本发明在具体应用实例中D触发器的电路原理示意图。
图4是本发明在具体应用实例中与应用系统结合时的电路原理示意图。
图5是传统技术中一种上电检测电路的示意图。
图6是传统技术中另一种上电检测电路的示意图。
具体实施方式
以下将结合说明书附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。
如图1所示,本发明的上电检测电路,包括第一PMOS晶体管、第一NMOS晶体管、第一反相器、第二反相器和D触发器;输入端有电源VDD、地GND和复位端RESET,输出端为上电检测信号P。其中:
所述第一PMOS晶体管的栅极、源极和体连接电源VDD;所述第一PMOS晶体管的漏极连接所述第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D。
所述第一NMOS晶体管的漏极、源极和体连接第一PMOS晶体管的漏极、第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D,所述第一NMOS晶体管的栅极连接地GND。
所述第一反相器的输入端IN连接第一PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及D触发器的输入端D;第一反相器的输出端OUT连接第二反相器的输入端IN。
所述第二反相器的输入端IN连接第一反相器的输出端OUT,第二反相器的输出端OUT连接D触发器的输入端CLK。
所述D触发器的输入端R连接复位信号RESET,所述D触发器的输入端D连接第一PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及第一反相器的输入端IN;所述D触发器的输入端CLK连接第二反相器的输出端OUT;所述D触发器的输出端Q输出上电检测信号P。
如图2所示,在具体应用实例中,所述反相器电路包括第二PMOS晶体管和第二NMOS晶体管,其中第二PMOS晶体管的源极和体连接电源VDD,第二PMOS晶体管的漏极连接第二NMOS晶体管的漏极和输出端OUT,第二PMOS晶体管的栅极连接输入端IN。第二NMOS晶体管的源极和体连接地GND,第二NMOS晶体管的漏极连接第二PMOS晶体管的漏极和输出端OUT,第二NMOS晶体管的栅极连接输入端IN。
如图3所示,在具体应用实例中,D触发器电路可采用带复位端的CMOS结构D触发器电路。可以理解,在其他的应用实例中,也可以根据实际需要,选择其他形式的D触发器电路,只要满足本发明的需求,就应当在本发明的保护范围之内。
如图4所示,为本发明在一个具体应用实例中的示意图,即将本发明的上电检测电路与一个应用系统相连,以达到检测上电状态的目的。
本发明上电检测电路的输入端VDD连接电源VDD,上电检测电路的输入端RESET连接应用系统输出的复位信号F,上电检测电路的输入端GND连接地GND,上电检测电路的输出端P输出上电检测信号至应用系统。
应用系统输入上电检测信号,可以通过上电检测信号的电压判断是否发生上电,并控制输出复位信号。
为此,本发明进一步提供一种基于上述上电检测电路的上电检测方法,结合在应用系统上的应用,其步骤包括:
步骤S1:应用系统冷启动上电;一旦电源VDD上电,VDD电压从0上升到U,那么D触发器的输出端Q输出电压从0上升到U,从而判定发生了上电。
步骤S2:应用系统启动完毕后的复位;在应用系统完成上电之后,输出复位信号F,复位D触发器,令上电检测信号P的电压从U下降到0,完成复位。
在具体应用实例中,在步骤S1中,当冷启动上电时,上电检测流程包括:
步骤S101:电源VDD未上电,VDD的电压为0,GND的电压为0,RESET的电压为0,上电检测信号P的电压为0,复位信号F为0,表明未发生上电。
步骤S102:电源VDD上电,VDD电压从0上升到U,GND的电压保持为0,复位信号F的电压保持为0,则上电检测电路的D触发器输入端D的电压和输入端CLK的电压先后从0上升到U。
步骤S103:上电检测电路的D触发器的输出端Q输出电压从0上升到U,则上电检测信号P的电压从0上升到U,表明发生了上电。
在具体应用实例中,在步骤S2中,应用系统启动完毕后,包括以下流程:
步骤S201:应用系统启动完毕后,检测上电检测信号P的电压。P的电压为U,表明此次启动为冷启动上电,则输出复位信号F,F电压0上升到U。
步骤S202:上电检测电路的D触发器输入端R输入电压U,则复位D触发器,使上电检测电路的D触发器的输出端Q输出电压从U下降到0,则上电检测信号P的电压从U下降到0。
步骤S203:应用系统检测到上电检测信号P的电压从U下降到0,则撤销复位信号F,F电压从U下降到0。
步骤S204:上电检测电路的D触发器输入端R输入电压0,输入端D和CLK维持1不变,则输出端Q输出电压维持0不变,即上电检测信号P的电压维持0不变。
作为较佳的实施例,在具体应用时,本发明的检测方法还可以进一步包括步骤S3:如果应用系统发生热复位,则应用系统启动完毕后,同样检测上电检测信号P的电压,P的电压为0,表明此次启动为热复位,维持输出复位信号F的电压为0。
以上仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种上电检测电路,其特征在于,包括第一PMOS晶体管、第一NMOS晶体管、第一反相器、第二反相器和D触发器;输入端有电源VDD、地GND和复位端RESET,输出端为上电检测信号P;
所述第一PMOS晶体管的栅极、源极和体连接电源VDD;所述第一PMOS晶体管的漏极连接所述第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D;
所述第一NMOS晶体管的漏极、源极和体连接第一PMOS晶体管的漏极、第一反相器的输入端IN和D触发器的输入端D,所述第一NMOS晶体管的栅极连接地GND;
所述第一反相器的输入端IN连接第一PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及D触发器的输入端D;第一反相器的输出端OUT连接第二反相器的输入端IN;
所述第二反相器的输入端IN连接第一反相器的输出端OUT,第二反相器的输出端OUT连接D触发器的输入端CLK;
所述D触发器的输入端R连接复位信号RESET,所述D触发器的输入端D连接第一PMOS晶体管的漏极、第一NMOS晶体管的源极、漏极和体,以及第一反相器的输入端IN;所述D触发器的输入端CLK连接第二反相器的输出端OUT;所述D触发器的输出端Q输出上电检测信号P。
2.根据权利要求1所述的一种上电检测电路,其特征在于,所述反相器的电路包括第二PMOS晶体管和第二NMOS晶体管,其中第二PMOS晶体管的源极和体连接电源VDD,第二PMOS晶体管的漏极连接第二NMOS晶体管的漏极和输出端OUT,第二PMOS晶体管的栅极连接输入端IN;第二NMOS晶体管的源极和体连接地GND,第二NMOS晶体管的漏极连接第二PMOS晶体管的漏极和输出端OUT,第二NMOS晶体管的栅极连接输入端IN。
3.根据权利要求1所述的一种上电检测电路,其特征在于,所述D触发器电路采用带复位端的CMOS结构的D触发器电路。
4.根据权利要求1所述的一种上电检测电路,其特征在于,所述上电检测电路与一个应用系统相连,以达到检测上电状态的目的;该上电检测电路的输入端VDD连接电源VDD,上电检测电路的输入端RESET连接应用系统输出的复位信号F,上电检测电路的输入端GND连接地GND,上电检测电路的输出端P输出上电检测信号至应用系统。
5.根据权利要求4所述的一种上电检测电路,其特征在于,所述应用系统输入上电检测信号,通过上电检测信号的电压判断是否发生上电,并控制输出复位信号。
6.一种基于上电检测电路的上电检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1:应用系统冷启动上电;一旦电源VDD上电,VDD电压从0上升到U,那么D触发器的输出端Q输出电压从0上升到U,从而判定发生了上电;
S2:应用系统启动完毕后的复位;在应用系统完成上电之后,输出复位信号F,复位D触发器,令上电检测信号P的电压从U下降到0,完成复位。
7.根据权利要求6所述的一种基于上电检测电路的上电检测方法,其特征在于,在所述步骤S1中,当冷启动上电时,上电检测流程包括如下步骤:
S101:电源VDD未上电,VDD的电压为0,GND的电压为0,RESET的电压为0,上电检测信号P的电压为0,复位信号F为0,表明未发生上电;
S102:电源VDD上电,VDD电压从0上升到U,GND的电压保持为0,复位信号F的电压保持为0,则上电检测电路的D触发器输入端D的电压和输入端CLK的电压先后从0上升到U;
S103:上电检测电路的D触发器的输出端Q输出电压从0上升到U,则上电检测信号P的电压从0上升到U,表明发生了上电。
8.根据权利要求6所述的一种基于上电检测电路的上电检测方法,其特征在于,在所述步骤S2中,应用系统启动完毕后,包括以下步骤:
S201:应用系统启动完毕后,检测上电检测信号P的电压;P的电压为U,表明此次启动为冷启动上电,则输出复位信号F,F电压0上升到U;
S202:上电检测电路的D触发器输入端R输入电压U,则复位D触发器,使上电检测电路的D触发器的输出端Q输出电压从U下降到0,则上电检测信号P的电压从U下降到0;
S203:应用系统检测到上电检测信号P的电压从U下降到0,则撤销复位信号F,F电压从U下降到0;
S204:上电检测电路的D触发器输入端R输入电压0,输入端D和CLK维持1不变,则输出端Q输出电压维持0不变,即上电检测信号P的电压维持0不变。
9.根据权利要求6所述的一种基于上电检测电路的上电检测方法,其特征在于,包括步骤S3:如果应用系统发生热复位,则应用系统启动完毕后,同样检测上电检测信号P的电压,P的电压为0,表明此次启动为热复位,维持输出复位信号F的电压为0。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010927387.0A CN112187232B (zh) | 2020-09-07 | 2020-09-07 | 一种上电检测电路及上电检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|
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CN202010927387.0A Active CN112187232B (zh) | 2020-09-07 | 2020-09-07 | 一种上电检测电路及上电检测方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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