JP2007500352A - 漏れ検出装置 - Google Patents

漏れ検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007500352A
JP2007500352A JP2006529777A JP2006529777A JP2007500352A JP 2007500352 A JP2007500352 A JP 2007500352A JP 2006529777 A JP2006529777 A JP 2006529777A JP 2006529777 A JP2006529777 A JP 2006529777A JP 2007500352 A JP2007500352 A JP 2007500352A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
valve
vacuum pump
detection device
leak detection
inlet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006529777A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4555824B2 (ja
Inventor
ベーム トーマス
グローセ ブライ ヴェルナー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Inficon GmbH
Original Assignee
Inficon GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inficon GmbH filed Critical Inficon GmbH
Publication of JP2007500352A publication Critical patent/JP2007500352A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4555824B2 publication Critical patent/JP4555824B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/202Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

対向流の原理による漏れ検出装置(10)が高圧真空ポンプ(22)を有しており、この高圧真空ポンプ(22)の入口(21)は質量分析計(24)に接続されている。さらにまた真空ポンプ(20)が設けられており、この真空ポンプ(20)の入口(21)は、前記高圧真空ポンプ(22)の出口(23)に及び漏れ検出装置の入口(12)に接続されている。また、漏れ検出装置の入口(12)と高圧真空ポンプ(22)の中間入口(28)との間の接続導管(30)が設けられている。該接続導管(30)の途中に、コンダクタンスに関連して調節可能な第1の弁(32)が配置されている。大きい内径を有する弁は高価であり、これに対して、小さい内径を有する弁は、完全に開放された場合でも有効な抵抗を有している。本発明によれば、調節可能な第1の弁(32)に対して平行に配置された第2の弁(34)が接続導管(30)の途中に設けられている。これによって接続導管(30)内の2つの弁(32,34)のために、比較的小さい内径を有する安価な弁を使用することができる。この場合、2つの開放された弁(32,34)の全コンダクタンスは著しく大きくなる。

Description

本発明は、対向流の原理による漏れ検出装置に関する。
このような形式の漏れ検出装置は、WO96/24828(国際公開第96/24828号明細書)により公知である。このような形式の漏れ検出装置においては、漏れ検出装置の感度若しくは検出限界が調節される。このために、入口が質量分析計に接続されていて、出口が予備真空ポンプに接続されている高圧真空ポンプが、中間入口を備えており、この中間入口が接続導管を介して漏れ検出装置の入口に接続されている。接続導管内に、コンダクタンス(Leitwert;流力)に関連して調節可能な弁が設けられている。調節可能な弁は調節可能な絞りとして用いられ、これに対して漏れ検出装置の入口における圧力は、質量分析計内の絞られていない接続導管が高い内圧、つまり質量分析計が作業しない高い内圧を生ぜしめる程度に高い。費用の理由により、弁の内径はできるだけ小さい直径に制限されている。しかしながらこれによって完全に開放された弁においても、吸込み能力を低下させるような重大な絞り作用を得ることになる。
本発明の課題は、吸込み能力が改善されるような安価な漏れ検出装置を提供することである。
この課題は、本発明によれば請求項1に記載した特徴によって解決される。
本発明による漏れ検出装置は、接続導管の途中に、調節可能な第1の弁に対して平行に配置された第2の弁が設けられている。この第2の弁によって、接続導管内のすべての開放された弁の全コンダクタンスが著しく増大せしめられるので、小さい内径を有する比較的安価な弁でも良好な全コンダクタンスが実現され得る。このような形式で大きい内径ひいては高いコンダクタンスを有する、非常に高価な幾つかの弁を使用することは避けられる。2つの弁は互いに平行に配置されており、つまり高圧真空ポンプのいくつかの中間入口と漏れ検出装置の入口との間の単独の接続導管内で互いに平行に位置している。
予備真空ポンプとしての乾式ポンプ例えばダイヤフラムポンプを備えた漏れ検出装置においては、漏れ検出装置の入口に接続された検査室が予備真空ポンプによってまず、約10mbar〜5mbarに排気される。この圧力範囲に達するか若しくはこの圧力範囲を下回ると直ちに、調節可能な第1の弁がゆっくりと開放せしめられる。調節可能な弁の制御は、入口圧力に関連して、つまり漏れ検出装置の入口に存在する圧力に関連して行われる。調節可能な第1の弁が完全に開放されないことによって、高圧真空ポンプの中間入口における最大許容圧力を著しく上回る予備真空圧力値において既に、測定が開始される。何故ならば調節可能な第1の弁は絞りとして働くからである。この絞り作用によって高圧真空ポンプの中間入口において、質量分析計内でも最大許容圧力を下回ったままで、質量分析計が既に測定を開始できる程度に低い圧力が生ぜしめられる。接続導管内における調節可能な弁のコンダクタンスは、できるだけ高く、しかしながら質量分析計内の最大許容圧力を越えない程度に調節される。予備真空圧力の値が所定の限界値を下回ると直ちに、調節可能な弁は完全に開放せしめられ、第2の弁は同様に完全に開放せしめられる。これによって、接続導管内の2つの弁の全コンダクタンスは著しく高くなるので、高圧真空ポンプの吸込み能力を完全に利用することができる。
オイルシールされた予備真空ポンプにおいて、漏れ検出装置の入口が約1mbarになるまで排気され、またこの圧力を下回ると、調節可能な第1の弁がまず開放され、次いで接続導管の途中に設けられた第2の弁が開放される。これによって早期に高感度の測定が可能である。漏れ検出装置の入口においてできるだけ大きい吸込み能力を提供するために、10−2の圧力以上になると2つの平行な弁が完全に開放せしめられる。
第1の調節可能な弁に対して平行な第2の弁を設けることによって、これらの弁の開放状態でより高いコンダクタンスが実現される。この場合、同時に、安価に提供可能な比較的小さい導管直径若しくは導管横断面を有する弁を使用することができる。
有利な実施態様によれば、第2の弁が、完全に開放された状態と完全に閉鎖された状態との間で切換えられる切換弁である。第2の弁は全弁装置のコンダクタンスを高めるために用いられる。従って第2の弁においては調節弁を省くことができ、安価な切換弁を使用することができる。
有利には、調節可能な第1の弁は無段階に調節可能である。これによって第1の弁は無段階に圧力比に適合させることができる。
有利な実施態様によれば、第1及び第2の弁の内径はそれぞれ13mmよりも小さい。13mmよりも小さい内径を有する弁は比較的安価であるので、このような形式で、接続導管内における弁装置全体は、相応に大きい内径を備えた単独の弁として安価に実現可能である。
有利な形式で、調整モジュールを備えた調整装置が設けられており、該調整モジュールが、調節可能な第1の弁の開放を制御し、ガス流を前記調節可能な第1の弁によって調整させるようになっている。ガス流を接続導管によって高圧真空ポンプの中間入口内に調整させることによって、感度を高めることができる。何故ならば、このような調整によってすべての信号から有効信号がフィルタリングされるからである。この調整は、調節可能な第1の弁によって、第2の弁の開放された状態又は閉鎖された状態で行うことができる。
以下に図面を用いて本発明の実施例を詳しく説明する。図面には、対向流の原理による漏れ検出装置の1実施例が示されている。
図面には漏れ検出装置10が示されており、この漏れ検出装置10は、漏れ検出装置の入口12を有していて、この入口12に、検査体16が収容された検査室14が接続されている。検査体16はテストガス例えばヘリウムを含有しており、少量のヘリウムも漏れ検出装置10によって検出される。
漏れ検出装置10は主に、予備真空ポンプ20と高圧真空ポンプ22と質量分析計24とから形成されており、これらはガス導管によって互いに直列に接続されている。さらにまた、漏れ検出装置の入口12と予備真空ポンプ20の入口21との間、並びに漏れ検出装置の入口12と高圧真空ポンプ22の中間入口28との間に接続導管30が設けられている。接続導管30の途中に2つの弁、つまりそのコンダクタンスに関連して無段階に調節可能な第1の弁32と、この第1の弁32に対して平行な、切換弁として構成された第2の弁34とが配置されている。迂回導管26内に迂回導管の遮断弁38が設けられ、また呼び真空ポンプの入口21と高圧真空ポンプの出口23との間の導管25内に高圧真空ポンプの遮断弁40が設けられている。圧力を規定するために漏れ検出装置の入口12に検査室圧力の測定装置42が設けられていて、高圧真空ポンプ22の出口23に予備真空圧力の測定装置44が設けられている。漏れ検出装置10を制御及び調整するために調整装置46が設けられており、この調整装置46は特に調整モジュール48と弁制御モジュール50とを有している。高圧真空ポンプ22はターボ分子ポンプであるが、別の構造の摩擦真空ポンプとして構成されていてもよい。
予備真空ポンプ20は乾式ポンプ例えばダイヤフラムポンプとして構成されているが、オイルシールされた予備真空ポンプとして構成されていてもよい。
調節可能な第1の弁32は、6mmの内径を有する無段階に制御可能な比例弁である。第2の弁34は切換弁であって、完全に開放した状態と完全に閉じた状態との間で切換可能であって、同様に6mmの内径を有している。予備真空圧力の測定装置44と検査室圧力の測定装置42とは、相応の信号ラインによって調整装置46に接続されている。
接続導管30内に設けられた2つの遮断弁38,40並びに2つの弁32,34は、相応の制御ラインを介して調整装置46に接続されている。
漏れ検出装置10によって漏れ検出を実施するために、テストガスとしてのヘリウムを含有する検査体15を備えた検査室14は、漏れ検出装置の入口12に接続されている。高圧真空ポンプの遮断弁40も、また接続導管30内に配置された2つの弁32,34も、最初は閉鎖されており、これに対して迂回導管の遮断弁38は開放されている。予備真空ポンプ20はスイッチオンされ、迂回導管26を介して検査室14を排気する。検査室圧力の測定装置42が5mbar以下の圧力を確認すると直ちに、高圧真空ポンプの遮断弁40が開放されるので、検査ガスが対向流の原理で高圧真空ポンプ22を通って検出器及び質量分析計24に達し、ここで検出されるようになっている。迂回導管の遮断弁38は閉鎖される。
5mbarの検査室圧力を下回る圧力になると、調整装置46及び弁制御モジュール50によって、そのコンダクタンスに関連して調節可能な第1の弁32がゆっくりと開放せしめられる。第1の弁32はそれぞれ、高圧真空ポンプ22の中間入口28のガス圧が、質量分析計24内にまだ十分に低い圧力が確認されている圧力値を下回っている間だけ開放せしめられる。検査室圧力がさらに低下すると、第1の弁32はさらに開放せしめられ、それによって第1の弁32のコンダクタンスが大きくなる。検査室圧力が中間入口28における最大許容圧力に達すると直ちに、第1の弁32は完全に開放せしめられ、第2の弁34は同様に開放せしめられる。第2の弁34が開放せしめられると、接続導管30の2つの弁32,34から成る弁装置の全コンダクタンスが直ちに著しく増大せしめられるので、高圧真空ポンプ22の吸込み能力は、完全に開放された弁32,34によって低下せしめられることはない。
接続導管30内の2つの弁32,34の調整及び開放は、調整装置46によって、検査室圧力に関連して自動的に行われる。
測定感度を高めるために、弁制御モジュール50は調整モジュール48によって次のように制御される。つまり第1の調節可能な弁32のコンダクタンスが第2の弁34の開放された状態又は閉鎖された状態において一定の周波数で調整せしめられるように制御される。質量分析計24によって発信された測定信号は、調整装置46によって相応にフィルタリングされるので、有効信号だけが評価のために提供される。
本発明の1実施例による漏れ検出装置の概略図である。

Claims (7)

  1. 対向流の原理による漏れ検出装置(10)であって、高圧真空ポンプ(22)と予備真空ポンプ(20)とが設けられており、高圧真空ポンプ(22)の入口(21)が質量分析計(24)に接続されていて、予備真空ポンプ(20)の入口(21)が前記高圧真空ポンプ(22)の出口(23)に及び漏れ検出装置の入口(12)に接続されており、漏れ検出装置の入口(12)と高圧真空ポンプ(22)の中間入口(28)との間に接続導管(30)が設けられており、該接続導管(30)内に、コンダクタンスに関連して調節可能な第1の弁(32)が設けられている形式のものにおいて、
    接続導管(30)の途中に、調節可能な第1の弁(32)に対して平行に配置された第2の弁(34)が設けられていることを特徴とする、漏れ検出装置。
  2. 第2の弁(34)が、完全に開放された状態又は完全に閉鎖された状態で切換えられる切換弁である、請求項1記載の漏れ検出装置。
  3. 調節可能な第1の弁(32)のコンダクタンスが無段階に調節可能である、請求項1又は2記載の漏れ検出装置。
  4. 弁(32,34)の内径が13mmよりも小さい、請求項1から3までのいずれか1項記載の漏れ検出装置。
  5. 予備真空ポンプ(20)がオイルシールされたポンプである、請求項1から4までのいずれか1項記載の漏れ検出装置。
  6. 予備真空ポンプ(20)が乾式ポンプである、請求項1から4までのいずれか1項記載の漏れ検出装置。
  7. 調整モジュール(48)を備えた調整装置(46)が設けられており、該調整モジュール(48)が、調節可能な第1の弁(32)の開放を制御し、ガス流を前記調節可能な第1の弁(23)によって調整させる、請求項1から6までのいずれか1項記載の漏れ検出装置。
JP2006529777A 2003-05-30 2004-05-11 漏れ検出装置 Expired - Lifetime JP4555824B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10324596A DE10324596A1 (de) 2003-05-30 2003-05-30 Lecksuchgerät
PCT/EP2004/005008 WO2004106882A1 (de) 2003-05-30 2004-05-11 Lecksuchgerät

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007500352A true JP2007500352A (ja) 2007-01-11
JP4555824B2 JP4555824B2 (ja) 2010-10-06

Family

ID=33441504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006529777A Expired - Lifetime JP4555824B2 (ja) 2003-05-30 2004-05-11 漏れ検出装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7254989B2 (ja)
EP (1) EP1629263B1 (ja)
JP (1) JP4555824B2 (ja)
CN (1) CN100559141C (ja)
DE (1) DE10324596A1 (ja)
WO (1) WO2004106882A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014504735A (ja) * 2011-02-03 2014-02-24 オーリコン レイボルド バキューム ゲーエムベーハー 漏れ検出デバイス

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006047856A1 (de) * 2006-10-10 2008-04-17 Inficon Gmbh Schnüffellecksucher
FR2910964A1 (fr) * 2007-01-03 2008-07-04 Alcatel Lucent Sa Dispositif et procede de detection rapide de fuites.
CN102612641B (zh) * 2009-11-09 2015-01-14 Mks仪器公司 真空质量测量系统
FR2974412B1 (fr) * 2011-04-21 2013-06-07 Adixen Vacuum Products Procede de controle d'un detecteur de fuites et detecteur de fuites
DE102013218506A1 (de) * 2013-09-16 2015-03-19 Inficon Gmbh Schnüffellecksucher mit mehrstufiger Membranpumpe
US10094381B2 (en) 2015-06-05 2018-10-09 Agilent Technologies, Inc. Vacuum pump system with light gas pumping and leak detection apparatus comprising the same
DE102015222213A1 (de) * 2015-11-11 2017-05-11 Inficon Gmbh Druckmessung am Prüfgaseinlass
DE102017217374A1 (de) * 2017-09-29 2019-04-04 Inficon Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Unterscheidung eines aus einem Leck austretenden Prüfgases von Störgas
FR3072774B1 (fr) * 2017-10-19 2019-11-15 Pfeiffer Vacuum Detecteur de fuites pour le controle de l'etancheite d'un objet a tester
CN111707423B (zh) * 2020-06-18 2022-04-15 苏州镓港半导体有限公司 真空系统测漏方法及用于真空系统的测漏装置
DE102022129858A1 (de) * 2022-11-11 2024-05-16 Inficon Gmbh Trägergas-Lecksuchsystem und Trägergas-Lecksuchverfahren zur Leckagedetektion an einem Prüfling

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255637A (ja) * 1987-03-27 1988-10-21 ライボルト・アクチエンゲゼルシヤフト 漏洩検査器及びこれの運転法
JPH05223682A (ja) * 1991-09-25 1993-08-31 Alcatel Cit トレーサガスによる漏れ検出器
JPH07146199A (ja) * 1993-06-29 1995-06-06 Varian Assoc Inc 大きな漏れを検出するための装置及び方法
JPH10513561A (ja) * 1995-02-09 1998-12-22 ライボルト ヴァークウム ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング テストガス−漏れ検出器
JPH11241971A (ja) * 1998-02-26 1999-09-07 Shimadzu Corp リークテスト装置
JP2000046681A (ja) * 1998-07-30 2000-02-18 Shimadzu Corp ヘリウムリークディテクタ
WO2001046667A1 (de) * 1999-12-22 2001-06-28 Inficon Gmbh Verfahren zum betrieb eines folien-lecksuchers sowie für die durchführung dieses verfahrens geeigneter folien-lecksucher
JP2001516014A (ja) * 1997-08-14 2001-09-25 ライボルト ヴァークウム ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ヘリウム漏洩検出器の動作方法及びこの方法を実施するのに適したヘリウム漏洩検出器
JP2002267565A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 漏洩試験装置及び漏洩試験方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56126733A (en) * 1980-03-10 1981-10-05 Nippon Sanso Kk Detecting method for leakage of helium
DE4228313A1 (de) * 1992-08-26 1994-03-03 Leybold Ag Gegenstrom-Lecksucher mit Hochvakuumpumpe
DE4408877A1 (de) * 1994-03-16 1995-09-21 Leybold Ag Testgaslecksucher
DE4442174A1 (de) * 1994-11-26 1996-05-30 Leybold Ag Lecksuchgerät mit Vakuumpumpen und Betriebsverfahren dazu
DE19962006A1 (de) * 1998-10-10 2001-06-28 Leybold Vakuum Gmbh Verfahren zum Betrieb eines Folien-Lecksuchers sowie für die Durchführung dieses Verfahrens geeigneter Folien-Lecksucher

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63255637A (ja) * 1987-03-27 1988-10-21 ライボルト・アクチエンゲゼルシヤフト 漏洩検査器及びこれの運転法
JPH05223682A (ja) * 1991-09-25 1993-08-31 Alcatel Cit トレーサガスによる漏れ検出器
JPH07146199A (ja) * 1993-06-29 1995-06-06 Varian Assoc Inc 大きな漏れを検出するための装置及び方法
JPH10513561A (ja) * 1995-02-09 1998-12-22 ライボルト ヴァークウム ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング テストガス−漏れ検出器
JP2001516014A (ja) * 1997-08-14 2001-09-25 ライボルト ヴァークウム ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ヘリウム漏洩検出器の動作方法及びこの方法を実施するのに適したヘリウム漏洩検出器
JPH11241971A (ja) * 1998-02-26 1999-09-07 Shimadzu Corp リークテスト装置
JP2000046681A (ja) * 1998-07-30 2000-02-18 Shimadzu Corp ヘリウムリークディテクタ
WO2001046667A1 (de) * 1999-12-22 2001-06-28 Inficon Gmbh Verfahren zum betrieb eines folien-lecksuchers sowie für die durchführung dieses verfahrens geeigneter folien-lecksucher
JP2002267565A (ja) * 2001-03-08 2002-09-18 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 漏洩試験装置及び漏洩試験方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014504735A (ja) * 2011-02-03 2014-02-24 オーリコン レイボルド バキューム ゲーエムベーハー 漏れ検出デバイス

Also Published As

Publication number Publication date
EP1629263A1 (de) 2006-03-01
CN1798963A (zh) 2006-07-05
DE10324596A1 (de) 2004-12-16
CN100559141C (zh) 2009-11-11
EP1629263B1 (de) 2016-04-13
JP4555824B2 (ja) 2010-10-06
WO2004106882A1 (de) 2004-12-09
US20070000309A1 (en) 2007-01-04
US7254989B2 (en) 2007-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3483571B2 (ja) テストガス−漏れ検出器
JP4555824B2 (ja) 漏れ検出装置
JP2541615B2 (ja) 漏洩検査器及びこれの運転法
JP4095771B2 (ja) ヘリウム漏洩検出器の動作方法及びこの方法を実施するのに適したヘリウム漏洩検出器
JPS6287825A (ja) ガス漏れ検知のための方法及び装置
RU2523070C2 (ru) Течеискатель для работы методом щупа
JP3568536B2 (ja) 真空ポンプを有する漏れ検出器及び漏れ検出器を運転する方法
US3968675A (en) Method and apparatus for preparing a mass spectrometer leak detector system for operation
JP6883036B2 (ja) 試験ガス入口における圧力測定
JP4164030B2 (ja) 試験ガス漏れ検出装置
JP3391027B2 (ja) サーチガス漏洩検出器
JP2013532833A (ja) 漏れ検出装置
US20060280615A1 (en) Leak detector
JP3544989B2 (ja) 前真空ポンプを有する漏れ検出装置
US20230273087A1 (en) Vacuum leak detection system, gas control unit and method for gas leak detection
KR20240019104A (ko) 누출 감지기
JPH11153508A (ja) 真空装置用ヘリウムリークディテクター装置
EP1942327B1 (fr) Dispositif et procédé de détection rapide de fuites
JP4079997B2 (ja) ガス分析装置の低圧入力を接続するための配置
RU2002111643A (ru) Способ испытания на герметичность и вакуумная система течеискателя, реализующая его
JPS59119234A (ja) リ−クテスト装置
JP4130968B2 (ja) 漏洩検知装置
EP0716296A1 (fr) Détecteur de fuite
JPH11294380A (ja) ガス圧縮ユニット
CN117501083A (zh) 泄漏检测器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070316

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090805

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091104

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091111

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091202

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091209

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100129

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100428

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100511

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100525

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100624

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100716

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4555824

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250