JP3544989B2 - 前真空ポンプを有する漏れ検出装置 - Google Patents
前真空ポンプを有する漏れ検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3544989B2 JP3544989B2 JP50353697A JP50353697A JP3544989B2 JP 3544989 B2 JP3544989 B2 JP 3544989B2 JP 50353697 A JP50353697 A JP 50353697A JP 50353697 A JP50353697 A JP 50353697A JP 3544989 B2 JP3544989 B2 JP 3544989B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum pump
- conduit
- valve
- inlet
- high vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 12
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 4
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M3/00—Investigating fluid-tightness of structures
- G01M3/02—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
- G01M3/04—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
- G01M3/20—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
- G01M3/202—Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material using mass spectrometer detection systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Examining Or Testing Airtightness (AREA)
Description
当該種類の公知の漏れ検出装置は、テストガス検出器(通常は質量分析計)と、テストガスによって吐出方向とは反対方向に貫流される高真空ポンプと、この高真空ポンプに後置された比較的小さい第1の前真空ポンプとを備えている。さらに、被験体もしくは漏れを検査しようとする被験体のための試験室の排気に用いられる、比較的大きい吸込み能力を有するもう1つの前真空ポンプが設けられている。2つの前真空ポンプを用いる理由は、一つには被験体もしくは試験室の迅速な排気を可能にすべきだからである。このために、第2の前真空ポンプの吸込み能力はできるだけ高く選択される。この第2の前真空ポンプを利用して、高真空ポンプによって必要とされる前真空を形成することは、確かに可能である。しかし、この場合は少なからぬ感度損失を甘受しなければならない。これを避けるために、高真空ポンプには比較的小さい吸込み能力を有する別個の前真空ポンプが配属されている。
本発明の課題は、感度損失を甘受することなく、当該種類の漏れ検出装置において、前真空を形成するのに必要な手間を減らすことである。
この課題は、本発明により各請求項の特徴部に記載された特徴によって解決される。
本発明による構成により、高真空ポンプのための別個の前真空ポンプを省略できる。弁は、一方では被験体もしくは漏れ検出装置に接続された試験室の排気を極めて迅速に行うことができ、他方では精密な漏れ検出が可能であるように切り換えることができる。
前真空ポンプとして、たとえばドイツ連邦共和国特許出願公開第2927690号明細書により公知の、スパイラル原理(Spiralprinzip)で作動する容積形真空ポンプを使用すると、極めて合理的である。この種類のポンプは吸込み室内にシール剤(油)を必要としないので、高真空ポンプが摩擦ポンプである場合は、油のない真空ポンプのみが存在する。被験体または試験室が炭化水素分子によって汚染される危険はない。
この他の長所および詳細を、第1図および第2図に示された実施例に基づいて説明する。第1図は、上側部分に高真空ポンプを有する漏れ検出装置を示しており、第2図は、多段高真空ポンプを有する漏れ検出装置を示している。
両実施例において、漏れ検出装置は全体が符号1、その上側部分は符号2(破線)、入口もしくは被験体接続部は符号3、テストガス検出器は符号4、高真空ポンプは符号5、および上側部分2の外部にある前真空ポンプは符号6で示されている。被験体接続部3は、(弁8を有する)導管部分7と(弁11を有する)導管部分9とを介して、高真空ポンプ5の出口と連通している。導管7には圧力計12が接続されている。弁8と11の間には、前真空ポンプ6の入口とつながり絞り14を備えた導管13が接続されている。さらに、被験体接続部3と前真空ポンプ6の入口とは、弁16を有する導管15を介して連通している。さらに、弁18を有する導管が符号17で示されている。導管17は導管13に開口していて、以下に述べるように洗浄ガスを供給する働きを有している。
第1図に示した実施例の場合、高真空ポンプ5は1段のターボ分子ポンプである。待機時にはすべての弁(弁11を除く)が閉じている。この段階では、高真空ポンプ5は質量分析計4の運転に必要な圧力を形成する。高真空ポンプ5の運転に必要な前真空は、前真空ポンプ6が形成する。前真空ポンプ6の入口は、(開いた弁11を有する)導管9および13を介して高真空ポンプ5の出口と連通している。
測定を開始するために、弁11が閉じられ、弁8および16が開かれる。これにより、被験体接続部3は、全体として比較的大きい流過横断面を介して前真空ポンプと連通している。前真空ポンプ6の比較的大きい吸込み能力を完全に利用できるので、被験体の迅速な排気が可能である。圧力計12によって記録された圧力が十分低いと(たとえば2mbar以下)、大まかな漏れ検出を開始できる。この目的のために、弁11が開かれる。場合によっては吸引されるテストガスが導管7,9を介し、高真空ポンプ5により向流(Gegenstrom)でテストガス検出器4に到達し、これによって記録される。大まかな漏れ検出の間、入口の圧力はさらに低下する。入口の圧力がたとえば0.05mbarに達すると、精密な漏れ検出を開始できる。これを目的として、弁16が閉じられる。この段階では、絞り14によって減じられた、前真空ポンプ5の吸込み能力で、極めて少量の漏れの推測も可能である。
測定後に待機状態に切り換えるために、最初にすべての弁が閉じられ、弁18が開かれる。導管17を介して洗浄ガス(たとえば空気)が供給される。洗浄ガスによって、場合により測定中に前真空ポンプ5内に形成されたヘリウム底層(Heriumuntergrund)を減じることができる。この目的のためには、弁18は短時間(たとえば10〜20秒)開かれれば十分である。
第2図に示した実施例では、高真空ポンプ5は多段に形成されている。高真空ポンプ5は、3つの摩擦ポンプ段(21,22,23)を有しており、そのうち2段(21,22)はターボ分子ポンプ段として形成されている。これらの段の間に絞り24が位置している。前真空側に位置する段23は分子ポンプとして形成されており、それによって高真空ポンプ5の臨界前真空を改善する。弁8,11には、弁26を有するバイパス管25が配属されている。導管7には、弁28を有する導管27も接続されている。この導管27は、両ターボ分子ポンプ段21,22の間の連通管内に、しかも絞り24の上方で吐出方向に開口している。
第1図に示した実施例におけるように、待機時にはすべての弁(弁11を除く)が閉じている。測定段階の第1部(被験体の排気)も、第1図に示した構成に相応している。大まかな漏れ検出は、弁11および26が開くことによって開始する。高真空ポンプの臨界前真空が改善されているので、このことはすでに約2mbarの圧力で起こり得る。約0.1mbarの圧力では、弁28が開き、弁26は閉じられる。この段階には、感度上昇が伴う。5.10-2mbarの圧力で弁16は閉じるので、その後では極めて小さい漏れも検出できる。
絞り14の特性は、絞りの上方で有効な、前真空ポンプ6の吸込み能力が全吸込み能力の10〜20%でしかないように選択されている。有効吸込み能力の減少に応じて、漏れ検出器の感度が上昇する。
Claims (4)
- テストガスとしてのヘリウムで運転される漏れ検出装置(1)であって、被験体または試験室の接続に用いられる入口(3)と、検出器(4)と、該検出器に接続された、吐出方向とは反対方向にテストガスによって貫流される高真空ポンプ(5)と、前真空ポンプ(6)と、前記高真空ポンプ(5)の出口に接続された、弁(11)を備えた導管(9)と、前記被験体接続部(3)に接続された、弁(8)を備えた導管(7)と、共通の導管として、前記高真空ポンプ(5)の出口に接続された前記導管(9)および前記被験体接続部(3)に接続された導管(7)の両方に接続された、前記前真空ポンプ(6)の入口に通じる導管(13)とが設けられている形式のものにおいて、
前記前真空ポンプ(6)の入口に通じる前記導管(13)が絞り(14)を備えており、前記被験体接続部(3)を直接に前記前真空ポンプ(6)の入口と連通させる、弁(16)を備えた導管(15)が設けられていることを特徴とする、前真空ポンプを有する漏れ検出装置。 - 前記前真空ポンプ(6)がスパイラル原理に基づく容積形真空ポンプである、請求項1記載の漏れ検出装置。
- 前記導管(13)が、有利には前記絞り(14)と前記前真空ポンプ(6)の入口との間で洗浄ガス入口(17,18)を備えている、請求項1または2記載の漏れ検出装置。
- 前記高真空ポンプ(5)が多段に形成された摩擦ポンプである、請求項1から3までのいずれか1項記載の漏れ検出装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19522466.3 | 1995-06-21 | ||
DE19522466A DE19522466A1 (de) | 1995-06-21 | 1995-06-21 | Lecksuchgerät mit Vorvakuumpumpe |
PCT/EP1996/001772 WO1997001084A1 (de) | 1995-06-21 | 1996-04-26 | Lecksuchgerät mit vorvakuumpumpe |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11508045A JPH11508045A (ja) | 1999-07-13 |
JP3544989B2 true JP3544989B2 (ja) | 2004-07-21 |
Family
ID=7764853
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP50353697A Expired - Fee Related JP3544989B2 (ja) | 1995-06-21 | 1996-04-26 | 前真空ポンプを有する漏れ検出装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5974864A (ja) |
EP (1) | EP0834061B1 (ja) |
JP (1) | JP3544989B2 (ja) |
CN (1) | CN1122834C (ja) |
DE (2) | DE19522466A1 (ja) |
WO (1) | WO1997001084A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10156205A1 (de) * | 2001-11-15 | 2003-06-05 | Inficon Gmbh | Testgaslecksuchgerät |
DE10319633A1 (de) * | 2003-05-02 | 2004-11-18 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
DE10354234B4 (de) * | 2003-11-19 | 2008-10-16 | Eaton Fluid Power Gmbh | Messverfahren für CO2-Leckagen und -Permeationen |
DE102004031503A1 (de) * | 2004-06-30 | 2006-02-09 | Inficon Gmbh | Schnüffelsonde |
KR20060068534A (ko) * | 2004-12-16 | 2006-06-21 | 한국전자통신연구원 | 나노와이어 센서 및 제조 방법 |
DE102005054638B4 (de) * | 2005-11-16 | 2013-09-26 | Oerlikon Leybold Vacuum Gmbh | Mobiles Lecksuchegerät |
CN101408466B (zh) * | 2008-11-08 | 2010-06-02 | 宁夏电力科技教育工程院 | 管壳式换热器的泄漏检测方法及检测装置 |
DE102009010064A1 (de) * | 2009-02-21 | 2010-08-26 | Inficon Gmbh | Schnüffellecksucher |
CN101839794B (zh) * | 2010-05-19 | 2012-11-21 | 杭州大和热磁电子有限公司 | 一种用于大型真空腔体批量真空检漏的方法及系统 |
DE102010033373A1 (de) * | 2010-08-04 | 2012-02-09 | Inficon Gmbh | Lecksuchgerät |
DE102011107334B4 (de) | 2011-07-14 | 2023-03-16 | Leybold Gmbh | Lecksucheinrichtung sowie Verfahren zum Überprüfen von Gegenständen auf Dichtigkeit mittels einer Lecksucheinrichtung |
DE102013218506A1 (de) * | 2013-09-16 | 2015-03-19 | Inficon Gmbh | Schnüffellecksucher mit mehrstufiger Membranpumpe |
CN104697579B (zh) * | 2015-02-10 | 2017-05-24 | 兰州空间技术物理研究所 | 一种低温容器综合性能检测设备 |
SE539654C2 (en) * | 2016-03-08 | 2017-10-24 | Avac Vakuumteknik Ab | Pressure measurement |
DE102022115562A1 (de) | 2022-06-22 | 2023-12-28 | Inficon Gmbh | Verfahren zur Messung der Umgebungskonzentration eines leichten Gases mit einer massenspektrometrischen Gegenstrom-Lecksuchvorrichtung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3690151A (en) * | 1968-07-25 | 1972-09-12 | Norton Co | Leak detector |
US3762212A (en) * | 1971-07-15 | 1973-10-02 | Advanced Technologies Inc | Leak testing apparatus and methods |
US3824839A (en) * | 1971-09-24 | 1974-07-23 | Varian Associates | Leak detecting system and method for passing a measured sample of gas to a leak detector |
BE859352A (fr) * | 1977-10-04 | 1978-02-01 | Organisation Europ De Rech S S | Appareil de detection de fuite de gaz |
DE2927690A1 (de) * | 1979-07-09 | 1981-01-29 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Verdraengermaschine nach dem spiralprinzip |
GB2190204B (en) * | 1986-05-09 | 1990-10-17 | Boc Group Plc | Improvement in leak detectors |
EP0283543B1 (de) * | 1987-03-27 | 1991-12-11 | Leybold Aktiengesellschaft | Lecksuchgerät und Betriebsverfahren dazu |
DE4140366A1 (de) * | 1991-12-07 | 1993-06-09 | Leybold Ag, 6450 Hanau, De | Lecksucher fuer vakuumanlagen sowie verfahren zur durchfuehrung der lecksuche an vakuumanlagen |
DE4228313A1 (de) * | 1992-08-26 | 1994-03-03 | Leybold Ag | Gegenstrom-Lecksucher mit Hochvakuumpumpe |
US5703281A (en) * | 1996-05-08 | 1997-12-30 | Southeastern Univ. Research Assn. | Ultra high vacuum pumping system and high sensitivity helium leak detector |
-
1995
- 1995-06-21 DE DE19522466A patent/DE19522466A1/de not_active Withdrawn
-
1996
- 1996-04-26 DE DE59608382T patent/DE59608382D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-04-26 US US08/981,091 patent/US5974864A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-04-26 CN CN96194946.5A patent/CN1122834C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1996-04-26 JP JP50353697A patent/JP3544989B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-04-26 WO PCT/EP1996/001772 patent/WO1997001084A1/de active IP Right Grant
- 1996-04-26 EP EP96914141A patent/EP0834061B1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19522466A1 (de) | 1997-01-02 |
DE59608382D1 (de) | 2002-01-17 |
US5974864A (en) | 1999-11-02 |
CN1122834C (zh) | 2003-10-01 |
EP0834061B1 (de) | 2001-12-05 |
EP0834061A1 (de) | 1998-04-08 |
JPH11508045A (ja) | 1999-07-13 |
CN1188543A (zh) | 1998-07-22 |
WO1997001084A1 (de) | 1997-01-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3544989B2 (ja) | 前真空ポンプを有する漏れ検出装置 | |
JP3568536B2 (ja) | 真空ポンプを有する漏れ検出器及び漏れ検出器を運転する方法 | |
JP4357528B2 (ja) | リークディテクタ | |
JP2655315B2 (ja) | 複合分子ポンプを使用した漏洩探知装置 | |
US5900537A (en) | Test gas leakage detector | |
JPH0478936B2 (ja) | ||
JP2005330967A (ja) | 軽量気体用真空ポンプシステム | |
EP0268777A1 (fr) | Installation de fuite à gaz traceur et procédé d'utilisation | |
JP3485574B2 (ja) | 向流形スニッファ漏れ検査器 | |
JPH03195935A (ja) | 漏洩を検出する装置および方法 | |
US20130186183A1 (en) | Leak detection appliance | |
US7082813B2 (en) | Test gas leakage detector | |
JPH05223682A (ja) | トレーサガスによる漏れ検出器 | |
RU2728446C2 (ru) | Масс-спектрометрический течеискатель с турбомолекулярным насосом и бустерным насосом на общем валу | |
RU1809919C (ru) | Устройство дл детектировани утечки с помощью газа-индикатора | |
JP3737132B2 (ja) | 多数の類似の被検体の漏洩を検査する方法 | |
JPH04233428A (ja) | ヘリウム漏れ検出器 | |
JP3149226B2 (ja) | 漏れ検出装置 | |
JPH11153508A (ja) | 真空装置用ヘリウムリークディテクター装置 | |
US5708194A (en) | Test gas leak detector | |
US6282946B1 (en) | Leak detector | |
JPH03225245A (ja) | トレーサ用気体による試験すべき容器の漏れ検出設備 | |
RU2002111643A (ru) | Способ испытания на герметичность и вакуумная система течеискателя, реализующая его |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20031224 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040309 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040407 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080416 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090416 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110416 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120416 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120416 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140416 Year of fee payment: 10 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |