JP4357528B2 - リークディテクタ - Google Patents

Description

本発明は、逆流原理に基づくリークディテクタであって、入口側がリークディテクタの吸込口に接続された第１の高真空ポンプと、入口側が質量分析計に接続された第２の高真空ポンプと、入口側が両方の高真空ポンプの出口側に接続された補助真空ポンプと、リークディテクタの吸込口を前記補助真空ポンプに接続する、第１の弁を有する迂回管路とが設けられている形式のものに関する。

この形式のリークディテクタが、ヨーロッパ特許庁特許公開第０２８３５４３号明細書に記載されている。このリークディテクタは、真空密な装置内のリークを検出するために用いられる。この目的のためには、軽いテストガスがテストしたい装置内へ挿入され、この装置は真空密なスペース内に配置され、このスペースからは、提供されたガスが吸い出される。択一的には、テストガスは外側からテストピースに吹き付けられ、このテストピースの内部容積はリークディテクタの吸込口に接続されている。吸い出されガス内の、テストガスの成分を質量分析計により検出し、評価することができる。テストガス成分が存在する場合には、装置内のリークが推量される。逆流原理に基づく前記リークディテクタは、補助真空ポンプと第１の高真空ポンプとを有しており、これらの補助真空ポンプと第１の高真空ポンプとは直列して運転される。第２の真空ポンプが質量分析計を補助真空ポンプの入口側に接続する。吸込み段階では、第１の高真空ポンプを介した経路は、このポンプに前置された弁の閉鎖により遮断され、テストピースを有する容器のポンピングによる排出が、弁を有する迂回管路により行われる。容器内の圧力が約１００ｍｂａｒの値よりも低下した場合には、第１の高真空ポンプに通じる管路内の絞り弁が開放され、これにより、テストガスが第１の高真空ポンプを介して流れることができる。この場合にテストガス（ヘリウム）が管路システム内へ進入した場合には、このテストガスは逆流で第２の高真空ポンプ内へ到達し、この第２の高真空ポンプを介して質量分析計内へ到達する。この段階の間にヘリウムがまだ質量分析計によって検出されていない場合には、より高い感度によりさらなる漏れ探しが行われ、この場合にはテストピースと第１の高真空ポンプとの接続が、大きい定格幅の別の弁により解放される。この場合に迂回管路の前排気弁は閉じられる。この場合にテストピースの排気は約１０^−４ｍｂａｒの圧力まで行われ、この場合には１０^−５〜１０^−１０ｍｂａｒ ｌ／ｓまでの範囲のリーク率を確認することができる。

第１の高真空ポンプの入口側の前に配置された弁により、このポンプは常に真空条件下に完全な回転数により作動する。しかしながら、前置された弁は流れ抵抗、ひいては絞り作用を有している。それ故、高真空ポンプの完全な吸入特性がテスト接続部では絞られずに提供されてはいない。最小限の反応時間を得るためには有利であるように、特に高真空ポンプのヘリウム吸入特性を全面的に使用することができない。

本発明の課題は、逆流原理に基づいくリークディテクタにおいて、吸込口においてヘリウムのための高められた吸入特性を有しており、ひいては短い反応時間を有しており、これにより、リーク検出が短縮されるものを提供することである。

この課題の解決は、本発明によれば請求項１の特徴部により解決される。これによれば、第１の高真空ポンプは直接に、弁なしにリークディテクタの吸込口に接続されている。第２の弁、さらに迂回管路内に設けられた第１の弁が、第１の高真空ポンプの出口側と補助真空ポンプとの間に設けられている。

上に述べた従来技術に対して、本発明は多くの利点を有している。第１の高真空ポンプの吸込口の前には弁がない。したがって、このポンプはポンプサイクルの開始時には静止しており、圧力が既に低下した場合に、迂回管路内に設けられた第１の弁の開放と同時に、又は幾らか遅れて始動される。テスト接続部、すなわち、リークディテクタの吸込口には第１の高真空ポンプの完全な吸入特性が、圧力がこのポンプの最大限の吸入圧力よりも低下するやいなや、絞られずに提供されている。検出感度は影響されない。なぜならば、検出感度は第１の高真空ポンプの吸入特性及び吸込圧力とは無関係だからである。ヘリウムリークガス流はリーク部から流出した流れに常に等しい。

前記第２の弁には２つの運転形式がある。第１の運転形式では、第１及び第２の弁は、第１の高真空ポンプの始動と同時に開放される。これにより、第１の高真空ポンプ及びこれに対して平行に延びる迂回管路とにより、補助真空ポンプの最大限の吸入特性が最小限の排出時間によって生じる。第２の運転形式では、圧力が粘性流範囲を離れるまで、これは約０．１〜１ｍｂａｒの場合であるが、第２の弁はまず閉じられている。この場合にようやく第１の高真空ポンプが始動され、同時に第２に弁が開放される。この運転形式は、テストピースからの汚れからの最適な保護を提供する。なぜならば、汚れは迂回管路を介してポンピングされ、第１の高真空ポンプ内へは到達しないからである。

第１の高真空ポンプは、有利には水平方向の運転形式で配置され、これにより、粒子は真っ直ぐに入口側に落下することができない。補助真空ポンプが油によりシールされたポンプ、例えば、回転翼形油回転ポンプ(Drehschieberpumpe)である場合には、端部圧力領域内のテスト接続部は油環流から最適に保護される。

次に本発明の実施の形態を唯一の図面につきさらに詳しく説明する。

図面には、リークディテクタの原理的な回路図が示されている。

リークをテストしたいテストピース１０が、テストガス、一般にはヘリウムにより充填されており、真空密なテストチャンバ１１内へ挿入されている。このテストチャンバ１１内には吸出しにより真空が形成され、テストチャンバを離れるガスのヘリウム含有量が検査される。

テストチャンバ１１の接続部１２にはリークディテクタ１４の吸込口１３が接続されている。この吸込口１３には高真空ポンプ１６の入口側１５が接続されている。高真空ポンプは、本発明の説明及び特許請求の範囲では分子ポンプである。分子ポンプはガス分子に衝撃を加え、これらのガス分子を加速する。したがって、分子ポンプは圧力が低い場合にのみ作動し、この場合に圧力側の排出圧はわずか数ｍｂａｒのみである。典型的な高真空ポンプはターボ分子ポンプであり、このターボ分子ポンプは多数のステータディスクとロータディスクとを有しており、この場合にロータディスクは高い回転数により回転する。分子ポンプは、重い分子のためにのみ高い圧縮力を形成するが、しかしながら、軽い分子のためには低い圧縮力を形成する。分子ポンプはそれぞれのガスのために異なった吸入特性を有している。軽いガス、ヘリウムのためには、吸入特性は特に低い。

高真空ポンプ１６の出口側１７は、以下にさらに説明する弁１８を介して、補助真空ポンプ２０の入口側１９に接続されている。補助真空ポンプの出口側２１は雰囲気内へ通じている。補助真空ポンプ２０は、例えば容積式ポンプ（Verdraengerpumpe）であり、この容積式ポンプは高真空ポンプ１６の運転のために必要な低い圧力を形成する。

第２の高真空ポンプ２２の入口側２３は質量分析計２４に接続されている。この質量分析計２４はテストガス、ヘリウムを検出するために適している。第２の高真空ポンプ２２の出口側２５は、弁２６を介して補助真空ポンプ２０の入口側に接続されている。

テストガスは軽いガスであり、このガスは、逆流で、すなわち、圧送方向に抗して高真空ポンプ２２を通過し、質量分析計２４に到達する。

さらにリークディテクタは迂回管路３０を有しており、この迂回管路３０は、吸込口１３を補助真空ポンプ２０の入口側１９に接続しており、第１の弁３１を有しており、これにより、迂回管路３０は選択的に開放及び遮断することができるようになっている。

制御装置３２は第１の弁３１と、高真空ポンプ１６の出口側１７に接続された第２の弁１８とを吸込口１３の圧力に関連して制御する。この圧力は圧力測定装置３３により測定される。さらに吸込口１３は、通気弁３４を介して雰囲気に接続されている。同様に補助真空ポンプ２０の入口側１９は通気弁３５を介して雰囲気に接続されている。

第２の高真空ポンプ２２の出口側２５の圧力は圧力測定装置３６により測定される。別の圧力測定装置３７が、第１の高真空ポンプ１６の出口側１７に接続されている。測定された圧力に関連して、圧力が所定の値を下回った場合には弁２６が開かれる。

本発明の主な特徴は、吸込口１３を第１の高真空ポンプ１６の入口側１５に接続している管路４０が全く絞られておらず、絞り箇所も弁も有していないことである。これにより、圧力が高真空ポンプの最大吸入力以下に低下するやいなや、吸込口１３には高真空ポンプ１６の完全な吸入特性が提供されている。これにより、テストガス、ヘリウムのための最短の反応時間が得られる。

第１の高真空ポンプ１６を有する管路分岐部の遮断が第２の弁１８により行われる。

第１の運転形式では弁３１及び１８が、高真空ポンプ１６の始動により同時に開放される。これにより、高真空ポンプ１６を介しても迂回管路３０を介しても、補助真空ポンプ２０の最大限の吸入特性により最小限の排出時間が得られる。

第２の運転形式では、吸込口１３の圧力が約０．１〜１ｍｂａｒまでの限界値よりも低下するまで、弁１８はまだ閉鎖されたままである。この限界値は粘性流範囲の限界である。圧力測定装置３３の信号が、限界値の下回りを示した場合にはじめて高真空ポンプ１６が始動され、同時に第２の弁１８が開放される。この運転形式では、高真空ポンプ６はガスの排出の間にテストピースからの汚れから保護される。なぜならば、ガスはもっぱら迂回管路３０を介してのみ案内されるからである。

第２の高真空ポンプ２２は２つの中間吸込部４１及び４２を有しており、これらの中間吸込部４１及び４２は、それぞれ切換可能な弁４３若しくは４４を介して、第１の高圧真空ポンプ１６の出口側１７に接続されている。これらの弁の切換により、測定領域を変更することができる。以下に高真空ポンプ２２の特徴的な箇所の圧力のための例を示す。
出口側２５： １５ｍｂａｒ
中間吸込口４２： １ｍｂａｒ
中間吸込口４１： １０^−２ｍｂａｒ
入口側２３： １０^−４ｍｂａｒ

リークディテクタの原理的な回路図である。

Claims (4)

1. 逆流原理に基づくリークディテクタであって、該リークディテクタに、第１の高真空ポンプ（１６）が設けられており、該第１の高真空ポンプ（１６）の入口側（１５）が、リークディテクタ（１４）の吸込口（１３）に接続されており、第２の高真空ポンプ（２２）が設けられており、該第２の高真空ポンプ（２２）の入口側（２３）が、質量分析計（２４）に接続されており、補助真空ポンプ（２０）が設けられており、該補助真空ポンプ（２０）の入口側（１９）が、両方の高真空ポンプ（１６，２２）の出口側（１７，２５）に接続されており、リークディテクタの吸込口（１３）を補助真空ポンプ（２０）に接続する、第１の弁（３１）を有する迂回管路（３０）が設けられている形式のものにおいて、
   第１の高真空ポンプ（１６）が、絞られずに、弁なしにリークディテクタ（１４）の吸込口（１３）に接続されており、第２の弁（１８）が、第１の高真空ポンプ（１６）の出口側（１７）と、補助真空ポンプ（２０）との間に設けられていることを特徴とする、リークディテクタ。
2. 第１の高真空ポンプ（１６）が、第１の弁（３１）の開放時に、第２の弁（１８）の開放と同時に始動される、請求項１記載のリークディテクタ。
3. 吸込口（１３）の圧力が、粘性流範囲を離れた場合に、若しくは限界値よりも低下した場合に、第１の高真空ポンプ（１６）が、第１の弁（３１）の開放後にはじめて始動される、請求項１記載のリークディテクタ。
4. 第２の高真空ポンプ（２２）が、少なくとも１つの中間吸込口（４１，４２）を有しており、この中間吸込口（４１，４２）が、弁（４３，４４）を介して第１の高真空ポンプ（１６）の出口側（１７）に接続されており、前記弁が、第１の高真空ポンプ（１６）の出口側の圧力に関連して制御されている、請求項１から３までのいずれか１項記載のリークディテクタ。

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