JP2007318057A - エッチング用組成物及びエッチング方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】リン酸及びヘキサフルオロケイ酸塩を含んでなる窒化ケイ素のエッチング用組成物、或いはリン酸、アンモニア、ヘキサフルオロ珪酸及び/又はその塩を含んでなるエッチング用組成物では、高温で用いた場合、酸化ケイ素に対する窒化ケイ素のエッチング選択比が長期間安定に維持される。リン酸が70〜99重量%、ヘキサフルオロ珪酸塩が0.01〜0.5重量%が好ましく、ヘキサフルオロケイ酸塩がヘキサフルオロケイ酸水素アンモニウム及び/又はヘキサフルオロケイ酸アンモニウムが好ましい。さらに硝酸、又は硝酸アンモニウム、モリブデン酸塩、モリブデン酸、タングステン酸塩、タングステン酸の群から選ばれるいずれか1種以上をさらに含んでもよい。
【選択図】図1
Description
SiN:窒化ケイ素
SiO:酸化ケイ素
AFS:ヘキサフルオロケイ酸アンモニウム
AHFS:ヘキサフルオロケイ酸水素アンモニウム
FS:ヘキサフルオロケイ酸
AM:モリブデン酸アンモニウム
AT:タングステン酸アンモニウム
実施例1〜9
表1に示したエッチング組成物20gに、SiNをCVD法により100nmの厚みに成膜したシリコンウエハ(15mm角)、及び熱酸化で50nmの厚みに成膜したSiOを有するシリコンウエハ(15mm角)を10分間浸漬した。水洗、乾燥の後、光干渉式膜厚計でSiN、SiOの膜厚を測定した。結果を表1に示す。
本発明のエッチング用組成物は、窒化ケイ素のエッチング速度及び酸化ケイ素に対する選択性が高かった。
表1に示した、比較用エッチング組成物とし、実施例と同様の方法でSiN及びSiOのエッチング速度を測定した。結果を表1に示す。
ヘキサフルオロケイ酸0.02重量%、アンモニア0.002重量%、水5重量%、残部リン酸からなるエッチング組成物100gに、SiNをCVD法により300nmの厚みに成膜したシリコンウエハ(15mm角の正方形)を150℃で30分間浸漬した。ウエハを取り出し、水洗、乾燥の後、光干渉式膜厚計でSiNの膜厚を測定した。これを、1バッチとして連続的に14バッチ繰り返した。1バッチ目のエッチング速度を1とした場合の2バッチ目以降のエッチング速度を図1に示す。
実施例10のエッチング組成物のうちアンモニア含有量を0.005重量%、硝酸をヘキサフルオロ珪酸に対して1/100モル添加した以外は実施例10と同様な操作を行った。結果を図1に示す。
実施例10のエッチング組成物のうちアンモニア含有量を0.01重量%、硝酸をヘキサフルオロ珪酸に対して1/100モル添加とした以外は実施例10と同様な操作を行った。結果を図1に示す。
実施例11のエッチング組成物のうち硝酸をヘキサフルオロ珪酸に対して当量添加した以外は実施例10と同様な操作を行った。結果を図1に示す。
実施例10のエッチング組成物のうち、アンモニアを全く加えないこと以外は実施例10と同様な操作を行った。結果を図1に示す。
Claims (9)
- リン酸及びヘキサフルオロケイ酸塩を含んでなる窒化ケイ素のエッチング用組成物。
- リン酸が70〜99重量%、ヘキサフルオロ珪酸塩が0.01〜0.5重量%である請求項1に記載のエッチング用組成物。
- リン酸、アンモニア、ヘキサフルオロケイ酸及び/又はその塩を含んでなる窒化ケイ素のエッチング用組成物。
- リン酸が70〜99重量%、アンモニアが0.0001〜0.5重量%、ヘキサフルオロケイ酸及び/又はその塩が0.01〜0.5重量%である請求項3に記載のエッチング組成物。
- ヘキサフルオロケイ酸塩がヘキサフルオロケイ酸水素アンモニウム及び/又はヘキサフルオロケイ酸アンモニウムである請求項1〜4に記載のエッチング用組成物。
- 硝酸及び/又は硝酸アンモニウムをさらに含んでなる請求項1〜5に記載のエッチング用組成物。
- モリブデン酸、タングステン酸及び/又はそれらの塩の群から選ばれるいずれか1種以上をさらに含んでなる請求項1〜6のいずれかに記載のエッチング用組成物。
- モリブデン酸塩、タングステン酸塩がアンモニウム塩である請求項7に記載のエッチング用組成物。
- 請求項1〜7のいずれかに記載のエッチング組成物を使用し、120℃以上180℃以下でエッチングすることを特徴とする窒化ケイ素のエッチング方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006202260A JP5003047B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-07-25 | エッチング用組成物及びエッチング方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006126066 | 2006-04-28 | ||
JP2006126066 | 2006-04-28 | ||
JP2006202260A JP5003047B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-07-25 | エッチング用組成物及びエッチング方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007318057A true JP2007318057A (ja) | 2007-12-06 |
JP5003047B2 JP5003047B2 (ja) | 2012-08-15 |
Family
ID=38851624
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006202260A Expired - Fee Related JP5003047B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-07-25 | エッチング用組成物及びエッチング方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5003047B2 (ja) |
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JP5003047B2 (ja) | 2012-08-15 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090612 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091022 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120424 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120507 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |