JP2007294851A - 有機半導体物質を利用した液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法 - Google Patents

有機半導体物質を利用した液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法 Download PDF

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Abstract


【課題】有機半導体層をシャドーマスクなしに製造すると同時に、有機半導体層が化学薬品からの損傷を防ぐ液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の液晶表示装置用アレイ基板は、ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホール243を有し、感光性有機絶縁物質で構成される第1保護層と、第1保護層の上部に形成され、ゲートコンタクトホール243を通じてゲート電極と接触してデータ配線と交差して画素領域を定義し、第2金属で構成されるゲート配線250とを含み、有機半導体層、ゲート絶縁膜、及びゲート電極235は、同一形状であることを特徴とする。
【選択図】図8

Description

本発明は、液晶表示装置に係り、より詳しくは、有機半導体物質を利用した液晶表示装置用アレイ基板及びその製造方法に関する。
近来、社会が本格的な情報化時代に入ることによって、各種の電気的信号情報を処理及び表現するディスプレー分野が急速に発展しており、最近は、薄形化、軽量化、低消費電力化等の優れた性能を保有している薄膜トランジスタTFT型の液晶表示装置(TFT-LCD)が開発され、既存のブラウン管(CRT)に代替している。
液晶表示装置の画像表示原理は、液晶の光学的異方性と分極性質を利用する。液晶は、分子構造が細くて長く、配列に方向性を有する光学的異方性と、電場内に置かれる場合に、その大きさによって分子の配列方向が変化する分極性質を有する。
従って、液晶表示装置は、液晶層を間に、相互に向かい合う面に、各々画素電極と共通電極が形成されたアレイ基板とカラーフィルター基板とを合着させて構成する液晶パネルを構成要素として、電極間の電場の変化によって液晶分子の配列方向を任意的に調節し、この時、変化される光の通過率を利用して多様な画像を表示する。
最近、特に、画像表現の基本単位である画素を行列方式に配列して、スイッチング素子を各画素に配置させて、独立的に制御する能動行列方式が解像度及び動画像表示能力に優れていることから注目を浴びているが、このようなスイッチング素子で薄膜トランジスタ(TFT)を使用するのがTFT型の液晶表示装置(以下、「液晶表示装置」と称する。)である。
より詳しくは、一般の液晶表示装置の分解斜視図である図1に示したように、液晶層30を間に、アレイ基板10とカラーフィルター基板20が向かい合って合着された構成である。このうち、下部のアレイ基板10は、第1基板12及びこの上面に縦横に交差配列され多数の画素領域Pを定義する複数のゲート配線14及びデータ配線16を含む。ゲート配線14及びデータ配線16の交差地点には、薄膜トランジスタTを備えて、各画素領域Pに備えた画素電極18に連結されている。
また、これと向かい合う上部のカラーフィルター基板20は、第2基板22及びこの上面に形成されるブラックマトリックス25、カラーフィルター層26、共通電極28等を含む。ブラックマトリックス25は、第1基板12上のゲート配線14とデータ配線16、薄膜トランジスタT等の非表示領域を有するように各画素領域Pを取り囲む格子状であって、この格子の内部で、各画素領域Pに対応するように形成されるカラーフィルター層26は、赤色R、緑色G、青色Bのサブカラーフィルター26a、26b、26cを含む。さらに、共通電極28は、ブラックマトリックス25と赤色R、緑色G、青色Bのカラーフィルター層26の全面に掛けて形成される。
図面には明確に示されてないが、アレイ基板10とカラーフィルター基板20は、その間に介された液晶層30の漏洩を防ぐために、端側に沿ってシーリング剤等で封書された状態で各基板10、20と液晶層30の境界部分には、液晶の分子配列方向に信頼性を与える上部配向膜及び下部配向膜が介されて、各基板10、20の少なくとも一つの外側面に偏光板を設けて付着させる。
さらに、液晶パネルの背面には、バックライトを備えて光を供給し、ゲート配線14に薄膜トランジスタTのオン/オフ信号が順にスキャン印加され選択された画素領域Pの画素電極18にデータ配線16の画像信号が伝達されると、垂直電界によって液晶分子が駆動され、これによる光の透過率の変化によって多様な画像を表示することができる。
一方、このような液晶表示装置において、アレイ基板10とカラーフィルター基板20の母体となる第1絶縁基板12及び第2絶縁基板22は、一般的にガラス基板が使用されたが、最近は、ノートブックコンピュータやPDAのような小型のポータブル端末機が幅広く普及されていることによって、これらに適用できるようにガラスより軽くて軽量であると同時に柔軟な特性を有する破損危険の少ないプラスチック基板を利用した液晶パネルが紹介された。
ところが、プラスチック基板を利用した液晶パネルは、液晶表示装置の製造特性上、特にスイッチング素子である薄膜トランジスタが形成されるアレイ基板の製造には、200℃以上の高温を要する高温工程が多くて耐熱性及び耐化学性がガラス基板より劣るプラスチック基板でアレイ基板を製造するには困難があるため、上部基板であるカラーフィルター基板だけをプラスチック基板で製造して、下部基板であるアレイ基板は通常のガラス基板を使用して液晶表示装置を製造している。
このような問題を解決するために、最近は、低分子有機半導体物質等を利用して200℃以下の低温工程によって薄膜トランジスタを形成することを特徴とするアレイ基板を製造する技術が提案されている。
200℃以下の低温工程によって薄膜トランジスタを含む画素領域を形成するにおいて、電極と配線を構成する金属物質と絶縁膜と保護層等の形成は、低温蒸着またはコーティング方法等によって形成しても薄膜トランジスタの特性に別に影響を与えないが、チャンネルを形成する半導体層を一般の半導体物質である非晶質シリコンを使用して低温工程によって形成すると、内部構造が緻密さに欠けて電気伝導度等の重要特性が低下する問題が発生する。
従って、これを克服するために、非晶質シリコン等の従来の半導体物質の代わりに半導体の特性を有する有機物質を利用して半導体層を形成することが提案され、以下、図面を参照して従来の低分子有機半導体物質を利用したアレイ基板の製造方法を説明する。
図2は、従来の液晶表示装置用アレイ基板を製造する過程において、低分子有機半導体物質をシャドーマスクを利用してエバポレーションを行って半導体層を形成することを示した図である。
絶縁基板50上に金属物質を蒸着してパターニングし、ゲート配線(図示せず)を含むゲート電極52を形成して、ゲート配線(図示せず)とゲート電極52上に全面に有機絶縁物質をコーティングしてゲート絶縁膜57を形成する。
低分子有機半導体物質をシャドーマスク56を利用したエバポレーション法を利用してゲート電極52と重なるように画素ごとに分離した半導体層54を形成する。ガラス材質の絶縁基板を利用する場合は、シリコン、さらに正確にはSiHをCVD法を利用して蒸着し、マスクを利用してパターニングすることによって形成したが、通常は粉末状の低分子有機半導体物質の特性上、前述したCVD法による蒸着が難しい。また、これをパターニングする際において、通常のフォトエッチング法によって行う場合、水気及びアルカリ(または酸)成分を含むフォトレジストとの接触またはフォトレジストを現像または除去するために、アルカリまたは酸成分を含む現像液やストリップ液に露出することによって、その特性が低下する等の問題が発生する。従って、パターニングされたシャドーマスク56を利用してエバポレーション法によって形成される。
ところが、前述したシャドーマスク56を利用したエバポレーションによる有機半導体物質パターンの形成は、シャドーマスクパターンの幅w2及び隣接するシャドーマスクパターン間の間隔w1の制限を有して高精細構造の高解像度製品を実現するにおいて問題になっている。
有機半導体物質は、高分子有機半導体物質と低分子有機半導体物質に区分される。低分子有機半導体物質は、高分子有機半導体物質に比べて電気伝導度等の優れた物性を有しているので、主にシリコンの代わりに半導体物質として利用されているが、有機溶剤やアルコール等のような溶媒に非常に脆弱であって溶液形態にし辛い短所がある。
前述したような問題を解決するために、図3のような液晶表示装置の構造が提案されている。図3は、従来のボトムゲートのボトムコンタクト構造の有機薄膜トランジスタを備えた液晶表示装置用アレイ基板のスイッチング領域の断面図である。
有機半導体物質は、通常はエバポレーションによって基板60上に形成されて、一部の有機半導体物質は、有機溶剤やアルコール等に脆弱な構造を有するために、有機半導体物質が有機溶媒やアルコール等の溶媒(現像液やエッチング液の成分)に露出されるのを最小化するための構造を有する。先ず、ゲート電極62が基板60上に形成されて、ゲート電極62上にゲート絶縁膜63が形成される。ゲート絶縁膜63上に、ソース電極64及びドレイン電極66の表面と有機半導体層68の底面が接触することを特徴とするボトムゲートのボトムコンタクト構造が形成される。
ところが、ボトムゲート構造において、ボトムコンタクトの場合、接触抵抗が大きいため、電荷注入に困難があって、その結果、移動度等が一般に低くなって薄膜トランジスタの特性が低下する。
一方、有機半導体物質を利用してボトムゲートのトップコンタクト構造で形成する場合、薄膜トランジスタの特性は優れる。しかし、パターニング時、現像液またはエッチング液に露出されると、その特性上、半導体物質としての性能が急激に低下する。
図4は、従来のボトムゲートのトップコンタクト構造の薄膜トランジスタを有する液晶表示装置用アレイ基板の一つの画素領域を示した断面図である。
図4に示したように、ゲート電極72及びゲート絶縁膜73が形成された基板70上に、シャドーマスク80を利用して有機半導体物質で構成される有機半導体層78を形成する、以後、有機半導体層78の上部に形成されるソース電極74及びドレイン電極76もシャドーマスク80を利用して形成する。
ところが、シャドーマスク80を利用する場合、ソース電極74及びドレイン電極76間の間隔d、すなわち、チャンネルの長さを調節するのは非常に困難である。ソース電極74及びドレイン電極76間の間隔dは、数十μm以上になって薄膜トランジスタTr自体のサイズが大きくなる。結果的に、液晶表示装置の開口率及び解像度等に影響を与えるため、実際の液晶表示装置等の表示装置に適用するには限界がある。
本発明は、前述した問題を解決するために案出されており、有機半導体層をシャドーマスクなしに製造することによって高精細の液晶表示装置を提供すると同時に、有機半導体層が化学薬品からの損傷を防ぐ薄膜トランジスタ及びアレイ基板を製造することを目的とする。
さらには、素子特性を向上する構造の低分子有機半導体物質を利用した液晶表示装置用アレイ基板の製造方法を提供することをまた他の目的とする。
前述したような目的を達成するために、本発明の液晶表示装置用アレイ基板は、画素領域を有する基板上に形成されたデータ配線と、前記データ配線から分岐されて、前記基板上に形成されるソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極と、前記ドレイン電極と接触して、前記画素領域に形成された画素電極と、前記ソース電極及びドレイン電極の上部に形成された有機半導体層と、前記有機半導体層の上部に形成されたゲート絶縁膜と、前記ゲート絶縁膜の上部に形成されて、乾式エッチングによってパターニングされる第1金属で構成されるゲート電極と、前記ゲート電極の上部に形成されて、前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有し、感光性有機絶縁物質で構成される第1保護層と、前記第1保護層の上部に形成されて、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して前記データ配線と交差して画素領域を定義して、第2金属で構成されるゲート配線を含み、前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜、及び前記ゲート電極は、同一形状であることを特徴とする。
前記第1物質は、モリブデン、クロムまたはモリブデン-クロム合金のうちのいずれかである。
前記第2金属は、アルミニウム、アルミニウム合金、銅、銅合金、金のうちのいずれかである。
前記第1保護層は、前記画素電極を露出させる開口部を含み、また、前記第1保護層は、前記データ配線を露出させるデータパッドコンタクトホールを含む。
前記ゲート配線を露出させるゲートパッドコンタクトホールを含み、前記ゲート配線の上部に形成される第2保護層をさらに含む。
前記ゲート配線は、前記画素電極と重なって、前記ゲート配線と前記画素電極との間に前記第1保護層が形成されている。
前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極の各々の両端は、相互に一致する。
また、本発明の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法は、画素領域を有する基板上に、データ配線と、前記データ配線から分岐したソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極を形成する段階と、透明伝導性金属層を蒸着してパターニングすることによって前記ドレイン電極と接触する画素電極を前記画素領域に形成する段階と、前記ソース電極及びドレイン電極の上部に有機半導体層、ゲート絶縁膜及び第1金属で構成されるゲート電極を形成する段階と、前記ゲート電極及び前記データ配線の上部に、感光性有機絶縁物質で構成される前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有する第1保護層を形成する段階と、前記第1保護層の上部に、前記データ配線と交差して前記画素領域を定義し、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して第2金属物質で構成されるゲート配線を形成する段階を含み、前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極は同一形状であることを特徴とする。
前記有機半導体層、ゲート絶縁膜及びゲート電極を形成する段階は、前記データ配線と、ソース電極及びドレイン電極と、画素電極の上部に有機半導体物質層と、ゲート絶縁物質層と、第1金属層とを順に形成する段階と、前記第1金属層上に、前記ソース電極及びドレイン電極と前記ソース電極及びドレイン電極の離隔領域に対応するフォトレジストパターンとを形成する段階と、前記フォトレジストパターンの外部に露出された前記第1金属層と、その下部のゲート絶縁物質層と有機半導体層を乾式エッチングを行って除去する段階と、前記フォトレジストパターンを除去する段階とを含む。
前記第1金属は、モリブデン、クロム、モリブデン-クロム合金のうちのいずれかで構成される。
前記第2金属は、アルミニウム、アルミニウム合金、銅、銅合金または金のうちから選択されるいずれかで構成される。
前記第1保護層は、前記画素電極を露出させる開口部をさらに含み、また、前記第1保護層に、前記データ配線を露出させるデータパッドコンタクトホールを形成する段階をさらに含む。
前記ゲート配線は、前記ゲート電極と重なって、前記第1保護層は、前記ゲート配線と前記ゲート電極との間に形成される。
前記ゲート配線の上部に、前記ゲート配線を露出させるゲートパットコンタクトホールを有する第2保護層を形成する段階をさらに含む。
前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極の各々の両端は、相互に一致する。
また、本発明の液晶表示装置用アレイ基板は、画素領域を有する基板上に形成されたデータ配線と、前記データ配線から分岐されて前記基板上に形成されるソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極と、前記ドレイン電極と接触して、前記画素領域に形成された画素電極と、前記ソース電極及びドレイン電極の上部に形成された有機半導体層と、前記有機半導体層の上部に形成されたゲート絶縁膜と、相互に異なる金属物質で構成されて、前記ゲート絶縁膜の上部に形成される第1金属パターンと前記第1金属パターンの上部に形成される第2金属パターンを含むゲート電極と、前記ゲート電極の上部に形成されて、前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有して、感光性有機絶縁物質で構成される第1保護層と、前記第1保護層の上部に形成されて、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して前記データ配線と交差して画素領域を定義して、第2金属で構成されるゲート配線とを含み、前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜、及び前記第1及び第2金属パターンは、同一形状であることを特徴とする。
前記有機半導体層は、ペンタセンまたはポリチオフェンを含む。
前記第1金属パターンは、モリブデンMo、クロムCrのいずれかで構成されて、前記第2金属パターンは、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金、銀Agのいずれか一つで構成される。
前記第1保護層は、前記画素電極を露出する開口部を含み、前記ゲート配線の上部に形成される第2保護層をさらに含む。
前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜、及び前記第1及び第2金属パターンの各々の両端が一致する。
前記第1保護層は、感光性物質であるポリビニルアルコールまたはフォトアクリルで構成される。
さらに、本発明の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法は、画素領域を有する基板上に、データ配線と、前記データ配線から分岐したソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極を形成する段階と、透明伝導性金属層を蒸着してパターニングすることによって前記ドレイン電極と接触する画素電極を前記画素領域に形成する段階と、前記ソース電極及びドレイン電極の上部に有機半導体層、ゲート絶縁膜及び第1金属で構成されるゲート電極を形成する段階と、前記ゲート電極及び前記データ配線の上部に、感光性有機絶縁物質で構成され前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有する第1保護層を形成する段階と、前記第1保護層の上部に、前記データ配線と交差して前記画素領域を定義し、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して第2金属物質で構成されるゲート配線を形成する段階とを含み、前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極は、同一な形状であることを特徴とする。
前記第1金属パターンの形成段階は、前記第2金属層の上部に感光性物質層を形成する段階と、前記感光性物質層をパターニングして感光性パターンを形成する段階と、前記感光性パターンによって露出された前記第2金属層を除去する段階と、前記感光性パターンを除去する段階とを含む。
前記第2金属層の除去段階は、エッチング液を利用した湿式エッチング工程を含む。
前記感光性パターンの除去段階は、ストリッピング(stripping)工程またはアッシング工程のいずれかである。
前記第1金属層は、モリブデンMoまたはクロムCrを含み、前記第2金属層は、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金、銀Agのいずれかの一つを含む。
前記第1保護層は、前記画素電極を露出させる開口部をさらに含み、また、前記第1保護層は、感光性有機物質であるポリビニルアルコールまたはフォトアクリルで構成されて、別途のフォトレジスト層の蒸着及びパターニング工程なしに、前記第1保護層を露光して現像する工程によってゲートコンタクトホールを形成する。
前記第2金属パターン、前記ゲート絶縁膜及び前記有機半導体層を形成する段階は、異方性の乾式エッチング工程を含む。
本発明による液状の有機半導体物質を利用した液晶表示装置用アレイ基板は、有機半導体層が水気及び化学薬品等からの損傷を防いで、マスク工程によって各画素領域に有機半導体層を形成し、高精細構造のアレイ基板を製造する製造方法を提供する。
有機半導体層の底面がソース電極及びドレイン電極の表面と接触する構造の薄膜トランジスタ構造を提案することによって素子特性を向上させる。
また、ゲート電極とゲート配線を二元化して、相互に異なる層に形成して、ゲート配線は、低抵抗金属物質で構成されるために、信号遅延等の問題が解決されると同時に、ゲート電極の下部にだけ有機半導体層が形成されることによって隣接する画素に漏洩電流が発生する特性の低下を防ぐ。
さらに、ゲート電極を二重層構造で形成し、パターニングの際に有機半導体が受ける損傷を防ぐ。
以下、図面を参照して、本発明をより詳しく説明する。
図5は、本発明の実施例1による有機半導体物質を利用したアレイ基板のスイッチング素子を含む一つの画素領域に対する平面図である。
図5に示したように、基板101上に、一方向にゲート配線133が延長形成されており、ゲート配線133と交差して画素領域Pを定義するデータ配線105が形成される。
ゲート及びデータ配線133、105の交差地点には、データ配線105から分岐した形態でソース電極110が形成されており、ソース電極110と離隔してドレイン電極113が形成されて、ソース電極110とドレイン電極113を含み、両電極110、113の離隔領域を覆いながらゲート配線133から分岐したゲート電極135が形成される。
この時、図面には詳しく示してないが、ゲート電極135及びゲート配線133の下部には、有機半導体物質で構成される半導体層が形成されており、ドレイン電極113に連結されて、各画素領域Pに独立された画素電極117が形成される。
また、画素電極117は、その一部が前段のゲート配線133と重なりながら形成されることによって、重なったゲート配線133及び画素電極117がストレージキャパシターStgCを形成する。
図6は、図5のVI−VI線に沿って切断した断面図であって、これを参照して本発明の実施例1によるアレイ基板の断面構造を説明する。
図6に示したように、基板101上にデータ配線105と、データ配線105と同一な金属物質で構成されて、相互に離隔するソース電極110及びドレイン電極113が形成されており、この時、ソース電極110は、データ配線105に連結される。
また、基板101上に、ドレイン電極113の一部と直接接触して各画素領域Pにパターニングされた形態で画素電極117が形成される。
相互に離隔したソース電極110及びドレイン電極113の上部に有機半導体物質で構成される有機半導体層125が形成されており、有機半導体層125の上部に有機絶縁物質で構成されるゲート絶縁膜130と、その上部にモリブデンMo、クロムCrまたはこれら金属の合金等、乾式エッチングが可能な金属物質で構成されるゲート電極135が形成される。この時、有機半導体層125とゲート絶縁膜130とゲート電極135及びゲート配線(図示せず)は、同一な形態であることを特徴とする。
図面には示してないが、ゲート電極135と同一層に同一な積層構造でデータ配線105と交差するゲート配線が形成される。ゲート配線(図示せず)とその下部のゲート絶縁物質パターン、有機半導体パターンも同一な形態である。
ゲート配線(図示せず)とゲート電極135上に、画素電極117を露出させる形態の有機絶縁物質で構成される保護層140が形成される。
有機半導体物質を利用する有機半導体層125を含む前述した構造のアレイ基板101は、ゲート電極135を有機半導体層125より上部に位置させるトップゲート構造で具現することによって有機半導体層125とゲート電極135の一括エッチングが可能になることを特徴とする。前述したように、有機半導体層125とその上部のゲート絶縁膜130とその上部に位置したゲート電極135及びゲート配線(図示せず)を同時に乾式方法によって一括エッチングするために、有機半導体層125がエッチング液等に露出されなくなる。従って、損傷されずに実質的にはマスク工程によってパターニングされ、高精細構造が可能になる。
図7Aないし図7Eは、有機半導体層を備える薄膜トランジスタの製造段階別の工程断面図である。この時、薄膜トランジスタが形成される領域をスイッチング領域と定義する。
その前に、図示してはないが、透明な絶縁特性を有する物質で構成された基板、例えば、ガラスまたはプラスチック基板上において親水性があって、基板との接着力の優れた物質、例えば、酸化シリコンSiOを全面に蒸着することによってバッファ層(図示せず)を形成する。これは、その上部に形成される半導体層(図示せず)と基板との接触特性を向上させ、半導体層(図示せず)を均一な厚さに形成するためである。この時、バッファ層は必ずしも形成する必要はなく、基板の特性によって省略することができる。
図7Aに示したように、基板101上に、金Au、銅Cu、銅合金、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNdのうちから選択される低抵抗金属物質を蒸着することによって第1金属層(図示せず)を形成する。
第1金属層(図示せず)上にフォトレジストを塗布してフォトレジスト層(図示せず)を形成し、フォトレジスト層(図示せず)を露光マスクを利用した露光及び現像工程によってフォトレジストパターン(図示せず)を形成した後、フォトレジストパターン(図示せず)の外部に露出された第1金属層(図示せず)をエッチングすることによって相互に離隔するソース電極110及びドレイン電極113を形成する。
ソース電極110及びドレイン電極113は、スイッチング領域TrAに形成されると同時に、ソース電極110から一方向に延長するデータ配線(図示せず)を形成する。スイッチング領域TrAは、基板101上に定義される画素領域P内に位置する。
図7Bに示したように、ソース電極110及びドレイン電極113が形成された基板101に透明導電性物質、例えば、インジウムースズーオキサイドITOまたはインジウムージンクーオキサイドIZOを全面に蒸着して透明導電性物質層(図示せず)を形成する。
透明導電性物質層(図示せず)をマスク工程によってパターニングし、画素領域Pの内部にドレイン電極113の一端と直接接触する形態の画素電極117を形成する。
図7Cに示したように、データ配線(図示せず)とソース電極110及びドレイン電極113と画素電極117上に有機半導体物質層126を形成する。有機半導体物質層126は、液状の有機半導体物質、すなわち、特に移動度等が比較的優れた低分子有機半導体物質で構成される。液状の有機半導体物質は、液状のペンタセンまたはポリチオフェンであって、インクジェット装置、ノズルコーティング装置、バーコーティング装置、スリットコーティング装置、スピンコーティング装置またはプリンティング装置等を利用して塗布される。
有機半導体物質層126上に連続して有機絶縁物質、例えば、ポリビニルアルコールまたはフルオロポリマーを塗布することによって全面にゲート絶縁物質層131を形成する。
ゲート絶縁物質層131上に乾式エッチングが容易な金属物質、例えば、モリブデンMoまたはクロムCrを全面に蒸着することによって第2金属層136を形成する。
第2金属層136上に感光性特性を有するフォトアクリルを塗布してフォトアクリル層を形成し、これを露光及び現像することによってフォトアクリルパターン137を形成する。
図7Dに示したように、ソース電極110及びドレイン電極113上に有機半導体層125、ゲート絶縁膜130及びゲート電極135を形成する。有機半導体層125、ゲート絶縁膜130及びゲート電極135は、フォトアクリルパターン137をエッチングマスクとして利用する乾式エッチング工程によってフォトアクリルパターン137の外部に露出された第2金属層(図7Cの136)とその下部のゲート絶縁物質層(図7Cの131)と有機半導体物質層(図7Cの126)を連続的に除去して形成される。
従って、乾式エッチング工程によってデータ配線(図示せず)及び画素電極117は、有機半導体層125、ゲート絶縁膜130、ゲート電極135及びフォトアクリルパターン137の外部に露出されると同時に、ゲート電極から延長されるゲート配線(図示せず)が形成される。ゲート配線(図示せず)は、データ配線(図示せず)と交差して画素領域Pを定義する。工程の特性上、ゲート配線(図示せず)と基板101間には、有機半導体層125と同一物質で構成される有機半導体パターン(図示せず)とゲート絶縁膜130と同一物質で構成されるゲート絶縁物質パターン(図示せず)が形成される。
図7Eに示したように、アッシング工程によってフォトアクリルパターン(図7Dの137)を除去し、本発明の実施例1による液晶表示装置用アレイ基板を完成することができる。この時、ゲート電極135とゲート配線(図示せず)上に第2保護層をさらに形成することもできる。
ところが、前述した実施例1によるアレイ基板101においては、有機半導体層125がゲート電極135以外にゲート電極135に連結されたゲート配線(図示せず)の下部にも存在して、隣接する画素領域P間に有機半導体層125を通じて少量の電流が流れて駆動の特性が低下される問題がある。また、ゲート配線(図示せず)とゲート電極135を形成する金属物質が乾式エッチングの可能なモリブデンMoまたはクロムCrで形成されるために、一般に低抵抗特性のゲート配線を形成するにおいて主に利用されるアルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cuまたは銅合金等で構成される場合に比べると、抵抗特性が低下され信号遅延等の問題が発生する可能性がある。
従って、このような実施例1の問題を解決することを特徴とするアレイ基板を次に説明する実施例2によって提示する。
図8は、本発明の実施例2による有機半導体層を含むアレイ基板の画素領域の平面図であって、図9及び図10は、図8を各々IX−IX線、X−X線に沿って切断した断面図である。
図8に示したように、フレキシブルな特性のプラスチック、ガラス等の物質で構成される基板201上に、相互に交差して画素領域Pを定義してゲート配線250とデータ配線205が形成されており、これら両配線250、205の交差地点には、データ配線205から分岐した形態でソース電極210が、ソース電極210と離隔してドレイン電極213が形成される。
また、ソース電極210とドレイン電極213を含み、両電極210、213の離隔領域を覆ってゲート電極235が形成されており、この時、ゲート電極235は、ゲート配線250とゲートコンタクトホール243を通じて電気的に連結して形成される。
このような構造は、前述した実施例1と差別的な構造になる。すなわち、本発明の実施例2は、ゲート電極235とゲート配線250を二元化して相互に異なる層に形成しており、ゲート電極235に対応する部分にだけ有機半導体層(図示せず)を形成することによって実施例1とは異なり、ゲート配線250の下部には、有機半導体層(図示せず)が形成されないために、有機半導体層(図示せず)を通じる隣接する画素領域P間の電流通電による特性の低下は、発生しない。
また、ゲート電極235の下部には、図面には示してないが、有機絶縁物質で構成されるゲート絶縁膜(図示せず)と、有機半導体物質で構成される半導体層(図示せず)が形成されており、ドレイン電極213に連結されて各画素領域Pに独立された画素電極217が前段のゲート配線250と重なりながら形成される。従って、重なる前段のゲート配線250と画素電極217は、各々第1及び第2ストレージ電極(図10の218、251)として作用し、ストレージキャパシターStgCを形成する。
図9と図10を参照して、実施例2によるアレイ基板の断面構造を説明する。
図9と図10に示したように、基板201上に、データ配線205が一方向に延長して形成されており、データ配線205と同一な金属物質で同一層にデータ配線205から分岐したソース電極210及びソース電極210から所定間隔離隔してドレイン電極213が形成される。
また、データ配線205とソース電極210及びドレイン電極213の外部に露出された基板201上に、ドレイン電極213の一部と直接接触して各画素領域Pにパターニングされた形態で画素電極217が形成される。
相互に離隔したソース電極210及びドレイン電極213の上部にアイランド状に有機半導体物質で構成される有機半導体層225が形成されており、有機半導体層225の上部に有機絶縁物質で構成されるゲート絶縁膜230と、その上部にモリブデンMoまたはクロムCrまたはこれら金属の合金等、乾式エッチングが可能な金属物質で構成されるゲート電極235が形成される。この時、有機半導体層225とゲート絶縁膜230とゲート電極235は、同一な形態であって、また、その両一端は相互に一致する。
ゲート電極235上に、全面に有機絶縁物質で構成されてゲート電極235の一部を露出させるゲートコンタクトホール243を備えて画素電極217を露出させる形態の保護層240が形成される。また、保護層240の上部にアルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cuまたは銅合金等の比較的に低抵抗特性の金属物質で構成されて、ゲートコンタクトホール243を通じてゲート電極235に連結されデータ配線205と交差して画素領域Pを定義するゲート配線250が形成される。この時、ゲート配線250は、その一部が画素電極217と重なるように形成されることによって、重なる部分が各々第1及び第2ストレージ電極218、251を構成して、第1及び第2ストレージ電極218、251間に形成された保護層240が誘電体層の役割をする。第1及び第2ストレージ電極218、251及び保護層240は、ストレージキャパシターStgCを構成する。
前述した実施例2による液晶表示装置用アレイ基板は、ゲート電極235を有機半導体層225より上部に位置させるトップゲート構造で具現することによって有機半導体層225とゲート電極235の一括エッチングが可能になることを特徴とする。前述したように、有機半導体層225とその上部のゲート絶縁膜230とその上部に位置したゲート電極235を同時に乾式方法によって一括エッチングして有機半導体層225がエッチング液等に露出されなくなるため、損傷を受けることなく実質的にはマスク工程によってパターニングされ、高精細構造が可能になる。また、ゲート電極235とゲート配線250を二元化して相互に異なる層に形成することによってゲート配線250を構成する金属物質の選択が幅広くなり、特に、低抵抗金属物質で形成することによって信号遅延等の問題の発生を防ぐ。
本発明の実施例2による有機半導体層を有するアレイ基板の製造方法を説明する。
図11Aないし図11F及び図12Aないし図12Fは、本発明の実施例2による有機半導体物質を利用して液晶表示装置用アレイ基板を製造する方法を示した製造断面図である。特に、図11Aないし図11Fは、図9に示した部分の製造断面図であって、図12Aないし図12Fは、図10に示した部分の製造断面図である。
図11A及び図12Aに示したように、基板201が準備される。図11Aでは、基板201上にデータ配線205、ソース電極210及びドレイン電極213が形成される。尚、基板201は、プラスチック板のようなフレキシブルな基板である。
詳しく説明すると、第1金属物質を200℃以下の低温工程でスパッタリングによって蒸着して、基板201上に第1金属層(図示せず)を形成する。フォトレジスト層を第1金属層上に形成して、透過部と遮断部を有する第1マスクをフォトレジスト層の上部に位置させる。ここで、透過部は、遮断部に比べて大きい透過率を有する。
第1マスクを利用してフォトレジスト層を露光、現像することによって第1金属層上にフォトレジストパターンを形成する。また、フォトレジスト層パターンによって露出された第1金属層を除去することによって基板201上にデータ配線205、ソース電極210及びドレイン電極213が形成される。ソース電極210は、データ配線205から延長され形成されて、ドレイン電極213と離隔される。
上述したように、データ配線205とソース電極210及びドレイン電極213が形成された後、図11B及び図12Bに示したように、基板201上に、透明導電性物質、例えば、インジウムースズーオキサイドITOまたはインジウムージンクーオキサイドIZOを蒸着してマスク工程によってドレイン電極213と接触し、各画素領域Pに独立された形態の画素電極217を形成する。
図11C及び図12Cに示したように、画素電極217上に全面に液状の有機半導体物質をコーティングすることによって有機半導体物質層224を形成する。有機半導体物質は、ペンタセン、ポリチオフェンであって、インクジェット装置、ノズルコーティング装置、バーコーティング装置、スリットコーティング装置またはスピンコーティング装置等を利用して全面に所定の厚さでコーティングされる。また、有機半導体物質層224上に有機絶縁物質、例えば、フォトアクリルまたはPVA(poly vinyl alcohol)を塗布することによって全面にゲート絶縁物質層229を形成する。
ゲート絶縁物質層229上に乾式エッチングが可能な金属物質、例えば、モリブデンMo、クロムCrまたはこれら金属の合金を蒸着することによって第2金属層234を形成する。
図11D及び図12Dに示したように、第2金属層(図11C及び図12Cの234)上に第1フォトレジスト層(図示せず)を塗布してマスク工程によってアイランド状の第1フォトレジストパターン293を形成する。以後、第1フォトレジストパターン293をエッチングマスクとして利用して乾式エッチングを行う。これにより、第1フォトレジストパターン293の外部に露出した第2金属層(図11C及び図12Cの234)及びその下部のゲート絶縁物質層(図11C及び図12Cの229)と有機半導体物質層(図11C及び図12Cの224)が除去され、有機半導体層225、ゲート絶縁膜230及びゲート電極235がソース電極210及びドレイン電極213の上部に順に形成される。有機半導体層225、ゲート絶縁膜230及びゲート電極235は、順にエッチングすることによって形成されるために、同一な形態であって、また、その両一端は相互に一致する。
次いで、第1フォトレジストパターン293を除去する。この時、乾式エッチングによって各画素領域Pにおいては第1フォトレジストパターン293の外部に露出された領域において第2金属層(図11C及び図12Cの234)、ゲート絶縁物質層(図11C及び図12Cの229)、有機半導体物質層(図11C及び図12Cの224)が全て除去されるために、データ配線205と画素電極217も露出された状態になる。
図11E及び図12Eに示したように、ゲート電極235等が形成された基板201上に、有機絶縁物質のフォトアクリルまたはPVAを塗布することによって全面に保護層240を形成する。次いで、保護層240にマスク工程によってゲート電極235の一部を露出させるゲートコンタクトホール243を形成すると同時に、各画素領域P内の画素電極217を各々露出させる開口部245を形成する。画素電極217の上部には、液晶層(図示せず)が形成されて、画素電極217と向かい合う共通電極(図示せず)間に形成される電界によって液晶(図示せず)を駆動する。この場合、保護層240が画素電極217を覆うと電界が弱くなるために、電力消費が増加する問題が発生する。前述したような開口部245を形成することによって、このような問題を解決することができる。
但し、保護層内に開口部を必ずしも形成する必要はなく、各画素領域P内の画素電極217は、保護層240が積層された状態に、すなわち、開口部を形成しないことによって空気中に露出させずに形成することもできる。
尚、図面には示してないが、データ配線205の一部を露出させるデータパッドコンタクトホール(図示せず)を保護層240内に形成することができる。
この時、保護層240が前述したような感光性有機物質のフォトアクリルまたはPVAで構成される場合、フォトレジストを利用してフォトレジストパターンを形成しないで、保護層240に直接マスクを利用して露光し現像することによって保護層240内にゲート電極235を露出させるゲートコンタクトホール243と開口部245及びデータパッドコンタクトホール(図示せず)を形成する。
但し、保護層240の形成は、感光性の有機絶縁物質に限られるのではなく、非感光性の有機絶縁物質、例えば、ベンゾシクロブテンBCBを利用して形成することもできて、この場合、一般な配線等のパターニングのように、保護層上にフォトレジスト層を形成して、これを露光し現像することによってフォトレジストパターンを形成して、これを利用してゲートコンタクトホールを形成した後除去しても良い。
エッチング液等によって損傷されやすい有機半導体層225の場合、保護層240によって覆われた状態であって、ゲート電極235の一部だけがエッチング液に露出される構造であるために、湿式エッチングを行っても有機半導体層225の損傷はない。さらに、非感光性の有機物質で構成される場合は、乾式エッチングが行われ、有機半導体層235の損傷問題は発生しない。
図11F及び図12Fに示したように、本発明の実施例2によるアレイ基板は、ゲートコンタクトホール243を有する保護層240上に低抵抗特性の金属物質を全面に蒸着して、これをマスク工程によってパターニングし、ゲート配線250を形成して完成する。低抵抗特性の金属物質は、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金または金Auのうちから選択することができる。ゲート配線250は、ゲートコンタクトホール243を通じてゲート電極235と接触すると同時に、データ配線205と交差して画素領域Pを定義する。
この時、ゲート配線250は、画素電極217と一部重なるように形成することによって各々第1及び第2ストレージ電極218、251を構成して、また、第1及び第2ストレージ電極218、251間に形成された保護層240が誘電体層の役割をしてストレージキャパシターStgCを形成する。
尚、図面には示してないが、露出されたゲート配線250を保護するために、ゲート配線250上に第2保護層をさらに形成することができる。この場合、第2保護層は、ゲート配線250の一部を露出させるゲートパッドコンタクトホールを含み、データパッドコンタクトホールに対応してデータ配線の一部を露出するように形成される。
図13Aないし図13Fは、本発明の実施例3による有機半導体物質をコーティングによって形成して、エッチング液等によって損傷されることなくパターニングされた有機半導体層を備える液晶表示装置用アレイ基板のスイッチング素子を含む一つの画素領域の製造工程断面図である。
その前に、図示してはないが、透明な絶縁特性を有する材質、例えば、ガラスまたはプラスチックの物質で構成された基板上に親水性があって、基板との接着力の優れた物質、例えば、酸化シリコンSiOを全面に蒸着することによってバッファ層(図示せず)を形成する。この時、バッファ層(図示せず)は必ずしも形成する必要はなく、基板の特性によって省略することができる。
図13Aに示したように、基板301上に、金Au、銅Cu、銅合金、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNdのうちから選択される低抵抗金属物質を蒸着することによって第1金属層(図示せず)を形成する。
第1金属層(図示せず)をパターニングすることによって基板301上のスイッチング領域TrAに相互に離隔するソース電極310及びドレイン電極313を形成する。
スイッチング領域TrAは、基板301上に定義される画素領域P内に位置すると同時に、ソース電極310から一方向に延長するデータ配線(図示せず)を形成する。
ソース電極310及びドレイン電極313が形成された基板301に透明導電性物質、例えば、インジウムースズーオキサイドITOまたはインジウムージンクーオキサイドIZOを全面に蒸着して、マスク工程によってパターニングし、画素領域Pに画素電極315を形成する。画素電極315は、ドレイン電極313の一端と直接接触する。
図13Bに示したように、データ配線(図示せず)とソース電極310及びドレイン電極313と画素電極315上に有機半導体物質層316を形成する。有機半導体物質層316は、液状の有機半導体物質、すなわち、特に移動度等が比較的優れた低分子有機半導体物質で構成される。液状の有機半導体物質は、液状のペンタセンまたはポリチオフェンであって、インクジェット装置、ノズルコーティング装置、バーコーティング装置、スリットコーティング装置、スピンコーティング装置またはプリンティング装置等を利用して塗布される。
有機半導体物質層316の上部に有機絶縁物質、例えば、ポリビニルアルコールまたはフルオロポリマーを塗布することによって全面にゲート絶縁物質層323を形成する。
ゲート絶縁物質層323上に乾式エッチングが容易な金属物質、例えば、モリブデンMoまたはクロムCrを全面に蒸着することによって第2金属層329を形成して、第2金属層329に対してほとんど影響を及ぼさないエッチング液を利用してエッチングが可能な金属物質、例えば、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金、銀Agのうちから選択される一つの金属物質を蒸着することによって第3金属層331を形成する。
図13Cに示したように、第3金属層(図13Bの331)の上部に感光性物質、例えば、フォトレジストまたはフォトアクリルを塗布して感光性物質層(図示せず)を形成し、感光性物質層(図示せず)に露光及び現像工程を行うことによってスイッチング領域TrAに対応して感光性パターン337を形成する。
この場合、現像工程によって現像液に有機半導体層316を含む基板301が露出される。しかし、有機半導体物質層316は、その上部に形成されたゲート絶縁物質層323と第2金属層329、第3金属層(図13Bの331)によって現像液から保護される。
感光性パターン337の外部に露出された第3金属層(図13Bの331)をエッチングして除去することによって第3金属パターン332を形成すると同時に、第2金属層329が露出される。この場合、望ましくは、第3金属層(図13Bの331)と反応するエッチング液を利用した湿式エッチングによる。
図13Dに示したように、感光性パターン(図13Cの337)をストリップ工程によって除去する。この場合、ストリップ工程の際にストリップ液に基板301が露出されるが、有機半導体物質層316は、ゲート絶縁物質層323と第2金属層329によって遮られたままであるので、損傷の心配はない。
この時、感光性パターン(図13Cの337)は、乾式エッチング等を行ってないので、アッシング工程によって除去しても構わない。仮に、乾式エッチング工程に露出された感光性パターンにアッシング工程をさらに行うと、残渣が残って金属物質との接触時には、接触抵抗を高める問題が発生する。しかし、本発明の実施例3の場合、感光性パターン(図13Cの337)は、乾式エッチング工程に露出されてないので、アッシング工程またはストリップ工程のいずれかを選択して除去工程が行われる。
図13Eに示したように、第3金属パターン332をエッチングマスクとして異方性の乾式エッチングを行うことによって第3金属パターン332の外部に露出された第2金属層(図13Dの329)、その下部のゲート絶縁物質層(図13Dの323)及び有機半導体物質層(図13Dの316)を順に除去することによってソース電極310及びドレイン電極313の上部に有機半導体層317、ゲート絶縁膜325及び第2金属パターン330を形成する。ここで、第2金属パターン330とその上部の第3金属パターン332は、二重層構造のゲート電極333を構成する。
また、本発明の実施例3の特性上、現段階ではゲート配線は形成されないことを特徴とする。
図13Fに示したように、二重層構造のゲート電極333上に、全面に感光性の有機絶縁物質、例えば、ポリビニルアルコールまたはフォトアクリルを塗布してパターニングすることによってゲートコンタクトホール345と開口部347を含む保護層340を形成する。ゲートコンタクトホール345は、ゲート電極333、より詳しくは、第3金属パターン332を露出させて、開口部347は、画素電極315を露出させる。
この場合、保護層340によって有機半導体層317は完全に遮られる構造になるために、保護層340のパターニングの際に使用される現像液による有機半導体層317の損傷はない。
図13Gに示したように、ゲートコンタクトホール345及び開口部347を有する保護層340上に低抵抗特性を有する金属物質、例えば、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金、銀Agのうちから選択される一つの金属物質を蒸着してパターニングすることによってゲート配線350を形成する。
ゲート配線350は、ゲートコンタクトホール345を通じてゲート電極333、より詳しくは、第3金属パターン332と接触して、データ配線(図示せず)と交差して画素領域Pを定義する。尚、図面には示してないが、ゲート配線350の上部に別途の保護層をさらに形成することもできる。
このような製造方法によって製造される実施例3による液晶表示装置用アレイ基板は、有機半導体層317を損傷させることなく形成することができるため、一括エッチングして形成された二重層構造のゲート電極333を形成し、これとは別途にゲート配線350を形成する。従って、ゲート配線350の下部には、有機半導体で構成された半導体パターンを形成しないことによって、実施例3の漏洩電流問題は解決される。
また、ゲート電極333を二重層構造で形成することによって最上層の第3金属パターン332の上部に残っている感光性パターンが下部の有機半導体層317の損傷なしに除去できることを本発明の実施例3の特徴とする。
一般の液晶表示装置の分解斜視図である。 従来技術によるシャドーマスクを利用してエバポレーションを行うことによって有機半導体物質で構成される半導体層を形成する工程を示した断面図である。 従来のボトムゲートのボトムコンタクト構造の有機薄膜トランジスタを備えた液晶表示装置用アレイ基板の一つの画素領域を示した断面図である。 従来のボトムゲートのトップコンタクト構造の有機薄膜トランジスタを備えた液晶表示装置用アレイ基板の一つの画素領域を示した断面図である。 本発明の実施例1による有機半導体層を有する液晶表示装置用アレイ基板の一つの画素領域を示した平面図である。 図5のVI−VI線に沿って切断した部分の断面図である。 有機半導体層を備える薄膜トランジスタの製造段階別の工程断面図である。 図7Aに続く製造工程を示す断面図である。 図7Bに続く製造工程を示す断面図である。 図7Cに続く製造工程を示す断面図である。 図7Dに続く製造工程を示す断面図である。 本発明の実施例2による有機半導体層を有する液晶表示装置用アレイ基板の一つの画素領域を示した平面図である。 図8のIX−IX線に沿って切断した部分の断面図である。 図8のX−X線に沿って切断した部分の断面図である。 図9に示したアレイ基板の製造工程断面図である。 図11Aに続く製造工程を示す断面図である。 図11Bに続く製造工程を示す断面図である。 図11Cに続く製造工程を示す断面図である。 図11Dに続く製造工程を示す断面図である。 図11Eに続く製造工程を示す断面図である。 図10に示したアレイ基板の製造工程断面図である。 図12Aに続く製造工程を示す断面図である。 図12Bに続く製造工程を示す断面図である。 図12Cに続く製造工程を示す断面図である。 図12Dに続く製造工程を示す断面図である。 図12Eに続く製造工程を示す断面図である。 本発明の実施例3による有機半導体物質をコーティングによって形成して、エッチング液等による損傷なしにパターニングされた有機半導体層を備える液晶表示装置用アレイ基板のスイッチング素子を含む一つの画素領域の製造工程断面図である。 図13Aに続く製造工程を示す断面図である。 図13Bに続く製造工程を示す断面図である。 図13Cに続く製造工程を示す断面図である。 図13Dに続く製造工程を示す断面図である。 図13Eに続く製造工程を示す断面図である。 図13Fに続く製造工程を示す断面図である。
符号の説明
201:基板
205:データ配線
210:ソース電極
213:ドレイン電極
217:画素電極
225:有機半導体層
230:ゲート絶縁膜
235:ゲート電極
240:第1保護層
243:ゲートコンタクトホール
250:ゲート配線
245:開口部
P:画素領域

Claims (32)

  1. 画素領域を有する基板上に形成されたデータ配線と、
    前記データ配線から分岐されて、前記基板上に形成されたソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極と、
    前記ドレイン電極と接触して、前記画素領域に形成された画素電極と、
    前記ソース電極及びドレイン電極の上部に形成された有機半導体層と、
    前記有機半導体層の上部に形成されたゲート絶縁膜と、
    前記ゲート絶縁膜の上部に形成されて、乾式エッチングによってパターニングされる第1金属で構成されたゲート電極と、
    前記ゲート電極の上部に形成されて、前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有し、感光性有機絶縁物質で構成された第1保護層と、
    前記第1保護層の上部に形成されて、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して前記データ配線と交差して画素領域を定義して、第2金属で構成されたゲート配線を含み、
    前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜、及び前記ゲート電極は、同一形状であることを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板。
  2. 前記第1物質は、モリブデン、クロムまたはモリブデン-クロム合金のうちのいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  3. 前記第2金属は、アルミニウム、アルミニウム合金、銅、銅合金、及び金のうちのいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  4. 前記第1保護層は、前記画素電極を露出させる開口部を含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  5. 前記第1保護層は、前記データ配線を露出させるデータパッドコンタクトホールを含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  6. 前記ゲート配線を露出させるゲートパッドコンタクトホールを含み、前記ゲート配線の上部に形成された第2保護層をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  7. 前記ゲート配線は、前記画素電極と重なって、前記ゲート配線と前記画素電極との間に前記第1保護層が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  8. 前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極の各々の両端は、相互に一致することを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  9. 画素領域を有する基板上に、データ配線と、前記データ配線から分岐したソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極を形成する段階と、
    透明伝導性金属層を蒸着してパターニングすることによって前記ドレイン電極と接触する画素電極を前記画素領域に形成する段階と、
    前記ソース電極及びドレイン電極の上部に有機半導体層、ゲート絶縁膜及び第1金属で構成されるゲート電極を形成する段階と、
    前記ゲート電極及び前記データ配線の上部に、感光性有機絶縁物質で構成される前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有する第1保護層を形成する段階と、
    前記第1保護層の上部に、前記データ配線と交差して前記画素領域を定義し、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して第2金属物質で構成されるゲート配線を形成する段階とを含み、
    前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極は同一形状であることを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  10. 前記有機半導体層、ゲート絶縁膜及びゲート電極を形成する段階は、
    前記データ配線と、ソース電極及びドレイン電極と、画素電極の上部における有機半導体物質層と、ゲート絶縁物質層と、第1金属層とを順に形成する段階と、
    前記第1金属層上に、前記ソース電極及びドレイン電極と、前記ソース電極及びドレイン電極の離隔領域に対応するフォトレジストパターンとを形成する段階と、
    前記フォトレジストパターンの外部に露出された前記第1金属層と、その下部のゲート絶縁物質層と有機半導体層を乾式エッチングを行って除去する段階と、
    前記フォトレジストパターンを除去する段階と、
    を含むことを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  11. 前記第1金属は、モリブデン、クロム、モリブデン-クロム合金のうちのいずれかで構成されることを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  12. 前記第2金属は、アルミニウム、アルミニウム合金、銅、銅合金または金のうちから選択されるいずれかで構成されることを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  13. 前記第1保護層は、前記画素電極を露出させる開口部をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  14. 前記第1保護層に、前記データ配線を露出させるデータパッドコンタクトホールを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  15. 前記ゲート配線は、前記ゲート電極と重なって、前記第1保護層は、前記ゲート配線と前記ゲート電極との間に形成されることを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  16. 前記ゲート配線の上部に、前記ゲート配線を露出させるゲートパットコンタクトホールを有する第2保護層を形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  17. 前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極の各々の両端は、相互に一致することを特徴とする請求項9に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  18. 画素領域を有する基板上に形成されたデータ配線と、
    前記データ配線から分岐されて前記基板上に形成されたソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極と、
    前記ドレイン電極と接触して、前記画素領域に形成された画素電極と、
    前記ソース電極及びドレイン電極の上部に形成された有機半導体層と、
    前記有機半導体層の上部に形成されたゲート絶縁膜と、
    相互に異なる金属物質で構成されて、前記ゲート絶縁膜の上部に形成された第1金属パターンと前記第1金属パターンの上部に形成された第2金属パターンを含むゲート電極と、
    前記ゲート電極の上部に形成されて、前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有して、感光性有機絶縁物質で構成される第1保護層と、
    前記第1保護層の上部に形成されて、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して前記データ配線と交差して画素領域を定義して、第2金属で構成されるゲート配線とを含み、
    前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜、及び前記第1及び第2金属パターンは、同一形状であることを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板。
  19. 前記有機半導体層は、ペンタセンまたはポリチオフェンを含むことを特徴とする請求項18に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  20. 前記第1金属パターンは、モリブデンMo、クロムCrのいずれかで構成されて、前記第2金属パターンは、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金、銀Agのいずれかの一つで構成されることを特徴とする請求項18に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  21. 前記第1保護層は、前記画素電極を露出する開口部をさらに含むことを特徴とする請求項18に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  22. 前記ゲート配線の上部に形成された第2保護層をさらに含むことを特徴とする請求項18に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  23. 前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜、及び前記第1及び第2金属パターンの各々の両端が一致することを特徴とする請求項18に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  24. 前記第1保護層は、感光性物質であるポリビニルアルコールまたはフォトアクリルで構成されることを特徴とする請求項18に記載の液晶表示装置用アレイ基板。
  25. 画素領域を有する基板上に、データ配線と、前記データ配線から分岐したソース電極と、前記ソース電極と離隔するドレイン電極を形成する段階と、
    透明伝導性金属層を蒸着してパターニングすることによって前記ドレイン電極と接触する画素電極を前記画素領域に形成する段階と、
    前記ソース電極及びドレイン電極の上部に有機半導体層、ゲート絶縁膜及び第1金属で構成されるゲート電極を形成する段階と、
    前記ゲート電極及び前記データ配線の上部に、感光性有機絶縁物質で構成され前記ゲート電極を露出させるゲートコンタクトホールを有する第1保護層を形成する段階と、
    前記第1保護層の上部に、前記データ配線と交差して前記画素領域を定義し、前記ゲートコンタクトホールを通じて前記ゲート電極と接触して第2金属物質で構成されるゲート配線を形成する段階とを含み、
    前記有機半導体層、前記ゲート絶縁膜及び前記ゲート電極は、同一な形状であることを特徴とする液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  26. 前記第1金属パターンの形成段階は、
    前記第2金属層の上部に感光性物質層を形成する段階と、
    前記感光性物質層をパターニングして感光性パターンを形成する段階と、
    前記感光性パターンによって露出された前記第2金属層を除去する段階と、
    前記感光性パターンを除去する段階と、
    を含むことを特徴とする請求項25に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  27. 前記第2金属層の除去段階は、エッチング液を利用した湿式エッチング工程を含むことを特徴とする請求項26に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  28. 前記感光性パターンの除去段階は、ストリッピング(stripping)工程またはアッシング工程のいずれかであることを特徴とする請求項26に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  29. 前記第1金属層は、モリブデンMoまたはクロムCrを含み、前記第2金属層は、アルミニウムAl、アルミニウム合金AlNd、銅Cu、銅合金、銀Agのいずれか一つを含むことを特徴とする請求項25に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  30. 前記第1保護層は、前記画素電極を露出させる開口部をさらに含むことを特徴とする請求項25に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  31. 前記第1保護層は、感光性有機物質であるポリビニルアルコールまたはフォトアクリルで構成されて、別途のフォトレジスト層の蒸着及びパターニング工程なしに、前記第1保護層を露光して現像する工程によってゲートコンタクトホールを形成することを特徴とする請求項25に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
  32. 前記第2金属パターン、前記ゲート絶縁膜及び前記有機半導体層を形成する段階は、異方性の乾式エッチング工程を含むことを特徴とする請求項25に記載の液晶表示装置用アレイ基板の製造方法。
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