JP2007275959A - 鉛フリーはんだペースト及び実装構造 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の鉛フリーはんだペーストは、SnZn系はんだ材料からなるはんだ粒子とCuを主成分とする金属粒子とを、フラックスと混練してなるものである。
【選択図】なし
Description
図1は、本発明に係る実装構造を具備した回路基板の一例を示す概略断面図である。基板10Aには、通常複数種の電子部品が実装されるが、図1には、これらの電子部品のうちチップコンデンサ10の実装構造を示している。
チップコンデンサ10は、略直方体であり、2つの端面それぞれに外部電極11が設けられている。外部電極11のそれぞれには、複数の板状の内部電極12がチップコンデンサ10の本体上面と平行に接続されている。一方の外部電極11に接続している内部電極12(例えば+電極)と他方の外部電極11に接続している内部電極12(例えば−電極)は、上下に互い違いに配置されている。外部電極11は、チップコンデンサ10の本体側から順にCu層とNi層とを形成してなる積層構造の電極である。内部電極12はNiを主成分とする金属により形成されており、図示上下方向で隣接する内部電極12の間には、絶縁体であるセラミック13が充填されている。
本発明の鉛フリーはんだペーストは、SnZn系のはんだ粒子と、Cuを主成分とする金属粒子とを、フラックスと混練してなるものである。図2(a)には、はんだ粒子22としてSn9Zn(重量%)粒子を用い、金属粒子21としてCu粒子を用いており、これらをフラックス23に混練した構成について示している。前記はんだ粒子を構成するSnZn系のはんだ材料としては、Snに5〜10重量%のZnを添加したSnZnはんだを用いることが好ましく、Zn含有量は7〜9重量%であることが好ましい。Zn含有量が少なすぎると溶融温度が高くなるため用途が限られてしまう。またZn含有量が多すぎるとZn析出量が多くなって機械的、電気的特性の低下を招く。また、上記SnZnに金属元素を添加したものを用いることもできる。かかる添加金属元素としては、Bi、In、Ti、Ni、Cu、Nb、Sb、Al、Pd、Pt、Fe等を例示することができる。前記はんだ粒子の粒径は、特に限定されないが、はんだペースト用途における一般的な粒径である20μm〜60μm程度とすることができる。
上記構成を具備した鉛フリーはんだペーストは、はんだ粒子と金属粒子とをフラックスと混練したものであるため、金属粒子を添加しない従来のSnZn系はんだペーストと比較してもはんだ溶融温度がほとんど変化せず、200℃程度の加熱で容易に溶融するものとなっている。
ここで、図5及び図6は、本発明に係る鉛フリーはんだペーストを用いた場合と、従来の金属粒子を添加しない鉛フリーはんだペーストを用いた場合のチップコンデンサ10の絶縁劣化寿命を比較したグラフである。
Claims (7)
- SnZn系はんだ材料からなるはんだ粒子と、Cuを主成分とする金属粒子とを、フラックスと混練してなることを特徴とする鉛フリーはんだペースト。
- 前記金属粒子の含有量が、前記はんだ粒子に対して0.5重量%以上10重量%以下であることを特徴とする請求項1に記載の鉛フリーはんだペースト。
- 前記金属粒子の含有量が、前記はんだ粒子に対して0.5重量%以上5重量%以下であることを特徴とする請求項1に記載の鉛フリーはんだペースト。
- 前記金属粒子の粒径が、1μm以上50μm以下であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の鉛フリーはんだペースト。
- 前記金属粒子の粒径が、10μm以上30μm以下であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の鉛フリーはんだペースト。
- 請求項1から5のいずれか1項に記載の鉛フリーはんだペーストを用いて基板上に電子部品を実装してなる実装構造。
- 前記電子部品を実装するはんだに含まれる前記金属粒子の表面に、CuとZnとの金属間化合物が形成されていることを特徴とする請求項6に記載の実装構造。
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