JP2007218776A - 導電性接触子および導電性接触子ユニット - Google Patents
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- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 44
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 9
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 4
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 4
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 4
- 230000005489 elastic deformation Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229920006351 engineering plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 1
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
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- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06733—Geometry aspects
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
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Abstract
【解決手段】異なる回路構造のいずれかと物理的に接触する第1接触部と、前記第1接触部とは別の回路構造と物理的に接触する第2接触部と、長手方向に沿って前記第1接触部と前記第2接触部との間に介在し、前記長手方向に伸縮自在な弾性部と、前記弾性部と前記第1接触部とを接続する第1接続部と、前記弾性部と前記第2接触部とを接続し、板厚方向に貫通する開口部が形成された第2接続部と、を備え、前記弾性部の少なくとも一部では、前記長手方向および前記板厚方向とそれぞれ直交する幅方向の長さを、前記第1接続部および前記第2接続部がそれぞれ有する前記幅方向の長さよりも小さくする。
【選択図】 図2
Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る導電性接触子ユニットの構成を示す斜視図である。同図に示す導電性接触子ユニット1は、検査対象である液晶パネル等の回路構造の導通状態検査や動作特性検査を行うものであり、板状をなす複数の導電性接触子2と、複数の導電性接触子2を収容保持する導電性接触子ホルダ3と、導電性接触子ホルダ3に固着され、複数の導電性接触子2を支持する棒状部材4とを備える。
図7は、本実施の形態1の第1変形例に係る導電性接触子の構成を示す図である。同図に示す導電性接触子5は、導電性接触子2と同様に、第1接触部51、第2接触部52、弾性部53、第1接続部54、第2接続部55、および開口部56を備える。本変形例においても、複数の導電性接触子5を導電性接触子ホルダ3に収容することによって導電性接触子ユニットが構成される。
図9は、本発明の実施の形態2に係る導電性接触子の構成を示す図である。同図に示す導電性接触子7は、導電性材料を用いて形成され、板状をなす。また、上記実施の形態1で説明した導電性接触子ホルダ3に対して複数の導電性接触子7を収容することにより、本実施の形態2に係る導電性接触子ユニットを構成することができる。
ここまで、本発明を実施するための最良の形態として、実施の形態1および2を詳述してきたが、本発明はそれら二つの実施の形態によってのみ限定されるべきものではない。例えば、本発明は、弾性部の少なくとも一部の幅が他の部分の幅よりも小さくかつ他の部分の縁端部よりも導電性接触子本体の中心部の方向へと退避していればよく、他の部分の形状については、板状をなしてさえいれば、上述した以外の任意の形状を取ることが可能である。
2、5、6、7、8 導電性接触子
3 導電性接触子ホルダ
3a 上面部
3b、3c 側面部
3d 底面部
4 棒状部材
21、51、61、71、81 第1接触部
22、52、62、72、82 第2接触部
23、53、63、74a、74b、84a、84b、84c 弾性部
24、54、64、75、85 第1接続部
25、55、65、76、86 第2接続部
26、56、66、77、87 開口部
31 保持部
32 固着用孔部
31a 第1ガイド溝
31b 第2ガイド溝
73、83a、83b 平板部
100 回路基板
101 固定部材
200 検査対象
P1 初期接触点
P2 最終接触点
Δ1 オフセット量
δ1、δ2、h 突出量
r 逃げ量
Claims (9)
- 異なる回路構造間を電気的に接続し、各回路構造との間で電気信号の入出力を行う板状の導電性接触子であって、
前記異なる回路構造のいずれかと物理的に接触する第1接触部と、
前記第1接触部とは別の回路構造と物理的に接触する第2接触部と、
長手方向に沿って前記第1接触部と前記第2接触部との間に介在し、前記長手方向に伸縮自在な弾性部と、
前記弾性部と前記第1接触部とを接続する第1接続部と、
前記弾性部と前記第2接触部とを接続し、板厚方向に貫通する開口部が形成された第2接続部と、
を備え、
前記弾性部の少なくとも一部は、前記長手方向および前記板厚方向とそれぞれ直交する幅方向の長さが、前記第1接続部および前記第2接続部がそれぞれ有する前記幅方向の長さよりも小さいことを特徴とする導電性接触子。 - 前記第2接触部は、前記第2接続部の幅方向の縁端部よりも当該導電性接触子の中心部から遠ざかる方向に突出していることを特徴とする請求項1記載の導電性接触子。
- 前記弾性部の少なくとも一部は、前記第2接続部の幅方向の縁端部であって前記第2接触部が突出しているのと反対側の縁端部が、前記第2接続部の幅方向の縁端部よりも当該導電性接触子の中心部に近づく方向へと退避していることを特徴とする請求項2記載の導電性接触子。
- 前記弾性部の少なくとも一部は、前記第2接続部の幅方向の縁端部であって前記第2接触部が突出している側の縁端部が、前記第2接続部の幅方向の縁端部よりも当該導電性接触子の中心部に近づく方向へと退避していることを特徴とする請求項2または3記載の導電性接触子。
- 前記弾性部は、前記幅方向の長さが互いに異なる箇所を有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の導電性接触子。
- 前記弾性部を前記長手方向に沿って分割する少なくとも一つの平板部をさらに備えたことを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項記載の導電性接触子。
- 前記平板部の前記幅方向の長さは、前記第1接続部の幅方向の長さおよび/または前記第2接続部の幅方向の長さと等しいことを特徴とする請求項6記載の導電性接触子。
- 請求項1〜7のいずれか一項に記載した導電性接触子と、
複数の前記導電性接触子を収容するため、前記導電性接触子の長手方向の一方の縁端部を嵌合保持する第1ガイド溝、および前記第1ガイド溝と対向して位置し、前記第1ガイド溝に嵌め込まれた前記導電性接触子の他方の縁端部を嵌合保持する第2ガイド溝をそれぞれ複数個有する導電性接触子ホルダと、
前記導電性接触子ホルダで収容する複数の前記導電性接触子がそれぞれ有する前記第2接続部に形成された前記開口部を貫通し、前記導電性接触子ホルダに固着されて成る棒状部材と、
を備えたことを特徴とする導電性接触子ユニット。 - 前記棒状部材の長手方向に垂直な断面積は、前記導電性接触子に形成された前記開口部の面積よりも小さいことを特徴とする請求項8記載の導電性接触子ユニット。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006040746A JP4907191B2 (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | 導電性接触子ユニット |
US12/223,983 US7942677B2 (en) | 2006-02-17 | 2007-02-08 | Conductive contact and conductive contact unit |
PCT/JP2007/052258 WO2007094237A1 (ja) | 2006-02-17 | 2007-02-08 | 導電性接触子および導電性接触子ユニット |
CNA2007800058091A CN101384909A (zh) | 2006-02-17 | 2007-02-08 | 导电性接触器及导电性接触器单元 |
KR1020087019899A KR101012732B1 (ko) | 2006-02-17 | 2007-02-08 | 도전성 접촉자 및 도전성 접촉자 유닛 |
TW096105188A TWI384224B (zh) | 2006-02-17 | 2007-02-13 | 導電性接觸件單元 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006040746A JP4907191B2 (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | 導電性接触子ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007218776A true JP2007218776A (ja) | 2007-08-30 |
JP4907191B2 JP4907191B2 (ja) | 2012-03-28 |
Family
ID=38371424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006040746A Expired - Fee Related JP4907191B2 (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | 導電性接触子ユニット |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7942677B2 (ja) |
JP (1) | JP4907191B2 (ja) |
KR (1) | KR101012732B1 (ja) |
CN (1) | CN101384909A (ja) |
TW (1) | TWI384224B (ja) |
WO (1) | WO2007094237A1 (ja) |
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2007
- 2007-02-08 WO PCT/JP2007/052258 patent/WO2007094237A1/ja active Application Filing
- 2007-02-08 KR KR1020087019899A patent/KR101012732B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2007-02-08 US US12/223,983 patent/US7942677B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-02-08 CN CNA2007800058091A patent/CN101384909A/zh active Pending
- 2007-02-13 TW TW096105188A patent/TWI384224B/zh not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4907191B2 (ja) | 2012-03-28 |
KR20080086931A (ko) | 2008-09-26 |
KR101012732B1 (ko) | 2011-02-09 |
TWI384224B (zh) | 2013-02-01 |
TW200809207A (en) | 2008-02-16 |
CN101384909A (zh) | 2009-03-11 |
US7942677B2 (en) | 2011-05-17 |
US20100227514A1 (en) | 2010-09-09 |
WO2007094237A1 (ja) | 2007-08-23 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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