JP2007209899A - 金属水銀酸化用触媒及び金属水銀酸化用触媒を備えた排ガス浄化用触媒とその製造方法 - Google Patents

金属水銀酸化用触媒及び金属水銀酸化用触媒を備えた排ガス浄化用触媒とその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】脱硝触媒が使用される高い温度域(350℃付近)においても、排ガス中のSO酸化率を高めることなく、金属水銀の酸化率を高める。
【解決手段】コロイダルシリカとバナジウム化合物との混合液を予めゲル化させ、得られたスラリ状物を、加熱混合後、乾燥及びまたは焼成することにより、ケイ素酸化物とバナジウム酸化物を主成分とし、Si/Vの原子比が99.5/0.5〜85/15の範囲内にある触媒を得る。この触媒を金属水銀酸化用触媒として、金属水銀を含む排ガスに接触させ、金属水銀を酸化させる。
【選択図】 なし

Description

本発明は排ガス中の金属水銀の除去技術に係り、特に化石燃料を用いる火力発電所から排出される金属水銀の除去に用いる金属水銀酸化用触媒及び金属水銀酸化用触媒を備えた排ガス浄化用触媒とその製造方法に関する。
化石燃料を燃料とする火力発電所における排煙処理技術は、これまでNOxやSOx、粒子状物質の低減を主な対象として発展してきたが、近年ではHg、As、Cd、Pd、Ceなどの微量成分の大気中への放出に関心が持たれている。これらの微量成分のうち、蒸気圧の高い元素または化合物は、大気中へ放出されやすく、微量成分の毒性による健康への影響を引き起こす。このため、米国を中心に上記微量元素に対する排出規制が強化されつつある。特に蒸気としての水銀は、神経系に作用する毒物であり、人が高濃度の水銀蒸気に曝されると、慢性的な水銀中毒に陥り、発育段階に重大な影響を及ぼす他、震えやどもり、構音障害などを引き起こす。また、水銀が一旦水に入り込むと、無機水銀から有機水銀に変化し、魚介類に蓄積され、この魚介類を食する人々にまでも害をもたらすため、水銀の汚染は広範囲に及ぶ。このため、水銀に対しては、他の微量元素に先んじて、特に厳しい規制が課せられようとしている。
火力発電所からの排出される水銀は、金属形態と酸化形態が存在しており、これらのうち、酸化形態の水銀、特に排ガス中の塩化水素または塩素と反応して生成される塩化水銀は、蒸気圧が低く、可溶性であり、灰中や脱硫装置の吸収液中に容易に固定化されるため、比較的簡単に回収・除去することができる。一方、金属形態の水銀は、煤煙及び他の粒子には固着せず、大気温度に近い温度であっても、気相中に残留する。従って、金属形態の水銀を従来の電気集塵装置やバグフィルタなどの除塵装置で除去することは困難である。
そのため、これまでの水銀除去技術として、例えば、排ガス中へ活性炭などの吸着剤を吹き込み、水銀を吸着後、吸着剤ごとバグフィルタで回収する活性炭吸着法や、脱硫装置の吸収液や湿式の電気集塵装置に用いられる循環水などの次亜塩素酸ソーダを添加する次亜塩素酸ソーダ吸収法などが用いられている。しかし、活性炭吸着法は高い水銀除去率を得られるものの、大量の活性炭が必要となるため、莫大な運転費用を要する。また、次亜塩素酸ソーダ吸収法においても、同様に運転費用の問題がある上、装置内の腐食や排水の処理方法などの課題が残る。
そこで、上記の水銀除去方法よりも比較的、設備投資や運転費用の安く済む方法として、水銀の酸化機能を有する固体触媒を用い、金属態水銀を蒸気圧の低い酸化態水銀に酸化し、後流の除塵装置や脱硫装置などで除去する研究が進められており、例えば、ハロゲン化合物の存在下において、Ti-V系触媒を用いて、金属態水銀を塩化水銀に酸化処理する方法が提案されている(特許文献1及び2参照)。
特開2005−125211号公報 特開2003−53142号公報
上記のTi-V系触媒を用いた水銀の処理方法は、主として排ガス温度が、例えば300℃以下という比較的低い領域で使用されるのに適している。この理由は、排ガス温度が300℃以上、特に一般的な脱硝触媒の使用温度域である350℃付近の高温域では、酸化態水銀(塩化水銀)が不安定な状態であり、触媒反応による安定した水銀酸化率が得難いためである。また、従来からTi-V系触媒は脱硝触媒として知られる触媒であり、高い脱硝活性を有する反面、活性成分であるバナジウム濃度や触媒温度の増大に応じて、SOの酸化活性が増大することは良く知られている。従って、Ti-V系触媒においては、水銀の酸化活性を増大させる目的でバナジウム濃度を高めると、SOの酸化率も高くなるし、脱硝装置の使用温度域で使用すると、さらにSOの酸化率が高くなる方向である上、水銀の酸化活性は低下してしまう。このため、高温の排ガス或いは高濃度のSOを含有する排ガスに対して、Ti-V系触媒を適用することは困難である。
本発明の目的は、脱硝触媒が使用される高い温度域(350℃付近)においても、高い水銀酸化機能を有し、且つSO酸化率の低い触媒を実現して、高温の排ガスまたは高濃度のSOを含有する排ガスに対しても適用できる水銀の酸化方法を提供することにある。
本発明者らは、火力発電所の排煙処理システムにおける脱硝触媒が使用される一般的な排ガス温度、すなわち、350℃付近の温度域でもSOの酸化を抑制しながら、金属水銀を効率的に酸化できる触媒を探索した結果、Siに担持されたVが、金属水銀の酸化活性は高く、SOの酸化に対する活性は低いことを見出した。
具体的には、上記課題は、ケイ素酸化物とバナジウム酸化物を主成分とし、Si/Vの原子比が99.5/0.5〜85/15の範囲内にあって、排ガス中に含まれる金属水銀と、酸素或いは塩化水素とを酸化的に反応せしめる、金属水銀酸化用触媒により解決される。
上記金属水銀酸化用触媒は、コロイダルシリカとバナジウム化合物との混合液を予めゲル化させて得たスラリ状物を、加熱混合後、乾燥及びまたは焼成することで製造することができる。
前記金属水銀酸化用触媒を、無機質の多孔質担体に担持させた排ガス浄化用の触媒としてもよいし、NOとNHの反応活性を有する板状あるいはハニカム状の触媒表面に、層状に担持させた排ガス浄化用の触媒としてもよい。
前記触媒の粉末のスラリ、またはコロイダルシリカと酸化バナジウムのゾル状物の混合ゾルを、NOとNHの反応活性を有する多孔質触媒の細孔内に含浸担持させたものとしてもよい。
上記課題は、金属水銀を含む排ガスと、前記各項の触媒とを接触させることにより、排ガス中の金属水銀を酸化除去する排ガスの浄化方法によっても解決される。
Siに担持されたV、すなわちSi−V触媒が、金属水銀の酸化活性を有してもSOの酸化活性はない理由は明確ではないが、このような特性を有するSi-V触媒を金属水銀酸化用触媒として用いれば、金属水銀の酸化活性成分であるバナジウムの濃度を高めても、従来のTi-V系触媒のように、金属水銀の酸化率の向上と共に、SO酸化率が上昇するという問題を生じることが無いため、金属水銀の酸化率は高く、且つ、SOの酸化率は同等かそれ以下に抑制することを実現できるようになる。
ケイ素酸化物とバナジウム酸化物から構成される金属水銀酸化用触媒(以下Si-V触媒と称す)の組成は、Si/Vの原子比が99.5/0.5〜85/15の範囲であることが好ましく、さらには、Si/V=98/2〜90/10の範囲であるとなお好ましい。Si/V比がこれ(85/15)よりも小さすぎると十分な活性が得られないし、これ(99.5/0.5)より多すぎるとSiOの上に担持しきれなかった活性成分である余剰なVが細孔閉塞を引き起こすため好ましくない。
本発明によれば、脱硝触媒が使用される高い温度域(350℃付近)においても、高い金属水銀酸化機能を有し、且つSO酸化率の低い触媒を実現して、前記高い温度域の排ガスやSO濃度の高い排ガス中であっても、SOの酸化によるSOの発生を抑制しながら、高い水銀酸化率を得ることができる。
Si-V触媒に用いられるケイ素酸化物の原料としては、例えば、Si(OCH)などの有機化合物や、SiClやSi(OH)、シリカ粉末、コロイダルシリカなどの無機化合物を用いることができる。また、バナジウム酸化物の原料としては、4価または5価のバナジウム酸化物を分散媒中に分散させたゾルの他、バナジウムを含有する水酸化物やアンモニウム塩、蓚酸塩、硫酸塩、ハロゲン化物など、各種のバナジウム化合物を用いることができる。
Si-V触媒は、前記したSi原料及びV原料のそれぞれ一種以上の混合液を加熱混合後、乾燥及びまたは焼成する周知の方法によって調製することが可能であるが、Si原料にコロイダルシリカを用い、これとバナジウム化合物との混合液をPH調整によってゲル化させると、バナジウムがシリカに担持され易くなるので、バナジウムがシリカ上に高分散し、より高い活性を有する触媒を得ることができる。
また、Si-V触媒を担持する担体には、各種の無機の多孔質担体を用いることができ、例えば、無機繊維シートをコルゲート加工したハニカム状担体、無機繊維製不織布シート、コーディエライトやアルミナなどのセラミックハニカム担体、Eガラス繊維などの無機繊維ヤーンを網状に織った網状物などを用いることができる。また、金網やメタルラスなどの網状物に上記の無機繊維物を担持したものを用いることもできる。
これら各種の無機多孔質担体へSi-V触媒を担持する方法としては、該触媒の粉末に水を加えて得たスラリ状物に、無機多孔質担体を浸漬後、乾燥及びまたは焼成する方法や、コロイダルシリカとバナジウム化合物との混合液に、無機多孔質担体を浸漬後、乾燥及びまたは焼成し、該担体中で直接、触媒を形成、担持する方法など、公知の方法を用いることができる。このときのSi-V触媒の担持量は、20〜200g/mにするのが好ましいが、100〜150g/mにすると好結果を得やすい。担持量が少なすぎると十分な性能が得られず、多すぎると触媒の剥離が生じるので好ましくない。焼成する場合は、その焼成温度は300〜600℃の範囲であればよい。
また、Si-V触媒を、NOとNHの反応活性を有する触媒、つまり脱硝機能を有する板状或いはハニカム状の触媒に担持することも可能である。このときの担持方法としては、予め上記した方法で調製したSi-V触媒を、上記の脱硝触媒の表面にスラリコーティング後、乾燥及びまたは焼成する方法や、コロイダルシリカと酸化バナジウムのゾル状物の混合ゾル中に、直接、脱硝触媒を浸漬後、乾燥及びまたは焼成する方法が採られる。このときのSi-V触媒の脱硝触媒への担持量は、20〜50g/mとするのが好ましく、担持量が少なすぎると十分な性能が得られず、多過ぎると脱硝触媒の活性が低下するので好ましくない。焼成する場合は、その温度が300〜600℃の範囲であればよい。
脱硝機能を有する板状或いはハニカム状の触媒に代えて、脱硝機能を有する多孔質の触媒を用い、コロイダルシリカと酸化バナジウムのゾル状物の混合ゾル中に、直接、前記多孔質の脱硝触媒を浸漬してその細孔に前記混合ゾルを含浸、担持後、乾燥及びまたは焼成するようにしてもよい。
また、上記コーティング処理操作において、コーティング触媒の剥離を防止するため、TiO、SiO、Alなどの一般的に用いられるバインダ成分をコーティングする触媒のスラリに予め混ぜておいてもよい。
前記の脱硝触媒は、脱硝活性を有するものであれば、特に限定はしないが、例えば、Ti/V、Ti/MO/V、Ti/W/Vなどの公知の脱硝触媒が用いられる。
本発明に係るSi-V系触媒は、高温(350℃付近の温度域)の排ガス中であっても使用することができ、SOの酸化を抑制しながら、高い水銀酸化率を得ることができる。このため、350℃付近で使用される脱硝装置内に該触媒を組み込むことができ、排ガス温度が低い煙道途中に新たに触媒塔を設置する必要が無くなるため、ユーティリティコストの増加を抑えることができる。また、本発明のSi-V系触媒は、SOの酸化率が低いため、高濃度のSOを含有する排ガスに対しても使用できる他、より高い水銀酸化率が求められる場合でも、触媒中のバナジウム濃度を増加したり、触媒量を増加したりすることによって達成することが可能である。
また、本発明のSi-V触媒を脱硝触媒の表面にコーティングすることによっても、同じ効果を得ることができる。これにより、脱硝触媒能と水銀酸化能とを有し、且つ、SO酸化能の低い触媒を得ることができるため、脱硝装置の他に、新たに水銀酸化装置を設ける必要がなくなり、排ガス浄化装置のコンパクト化を図ることができる。
(実施の形態1)
20Wt%のコロイダルシリカ(SiO)と10.5Wt%のバナジウムゾル(VO)をSi/Vの原子比が95/5になるように混合し、この混合ゾルにアンモニアを適量加えてゲル化させた後、150℃で約2時間かけて蒸発乾固した。得られた粉末を大気中500℃で2時間焼成後、粉砕してSi-V触媒の粉末を得、このSi-V触媒の粉末に純水を適量加え、20Wt%のSi-V触媒スラリを得た。そして、無機繊維の不織布からなる板厚0.2mmのコルゲートハニカム担体(波板ピッチ3.7mm、平板間隔2.2mm)を上記Si-V触媒スラリに含浸後、液切り、150℃で2時間乾燥後、大気中500℃で2時間焼成し、組成がSi/V=95/5(原子比)、触媒担持量が150g/mの触媒を調製した。
(実施の形態2)
実施の形態1のコロイダルシリカとバナジウムゾルの混合ゾルへのアンモニアの添加を行わずに該混合ゾルを150℃で約2時間かけて蒸発乾固し、以下、実施の形態1と同様にして、組成がSi/V=95/5(原子比)、触媒担持量が150g/mの触媒を調製した。
(実施の形態3)
実施の形態2のコロイダルシリカをシリカ粉末に代え、以下、同様にして、組成がSi/V=95/5(原子比)、触媒担持量が150g/mの触媒を調製した。
(実施の形態4)
酸化チタン、パラタングステン酸アンモニウム、メタバナジン酸アンモニウム、水とシリカ系無機繊維を加えてニーダを用いて混練し、組成がTi/W/V=94/5/1(原子比)である触媒ペーストを得た。これとは別にSUS430製帯鋼をメタルラス加工して目開きが約2mmの網状基材を作成し、この基材に上記触媒ペーストを置き、加圧ローラで通過させることにより、基材の網目間及び表面に触媒を圧着して厚さ0.8mmの板状触媒1を得た。得られた触媒を150℃で2時間乾燥後、大気中500℃で2時間焼成した。次いで、この板状触媒を実施の形態1のSi-V触媒スラリに含浸後、液切り、150℃で2時間乾燥後、大気中500℃で2時間焼成し、Si-V触媒を表面に50g/m担持した触媒を得た。
(実施の形態5)
実施の形態4のパラタングステン酸アンモニウムをモリブデン酸アンモニウムに代え、組成がTi/MO/V=94/5/1(原子比)である板状触媒2を得、以下、同様にしてSi-V触媒を表面に50g/m担持した触媒を得た。
(実施の形態6)
20Wt%のコロイダルシリカ(SiO)と10.5Wt%のバナジウム(VO)ゾルをSi/Vの原子比が95/5になるように混合したゾルに、実施の形態4の板状触媒1を含浸後、液切り、150℃で2時間乾燥後、大気中500℃で2時間焼成し、Si-V触媒の担持量が50g/mの触媒を得た。
(実施の形態7)
実施の形態6の板状触媒1を実施の形態5記載の板状触媒2に代え、以下、同様に触媒を調製した。
(比較例1)
30Wt%のチタニアゾル(TiO)と10.5Wt%のバナジウムゾル(VO)をTi/Vの原子比が95/5になるように混合したゾルに、実施の形態1で用いたものと同じ仕様のコルゲートハニカム担体を含浸後、十分に液切りした後に150℃で2時間乾燥した。その後、500℃で2時間焼成し、組成がTi/V=95/5(原子比)、触媒担持量が50g/mの触媒を調製した。
(比較例2)
30Wt%のチタニアゾル(TiO)と10.5Wt%のバナジウムゾル(VO)をTi/Vの原子比が95/5になるように混合し、150℃で約2時間かけて蒸発乾固した。得られた粉末を大気中500℃で2時間焼成後、粉砕してTi-V触媒の粉末を得、このTi-V触媒の粉末に純水を適量加え、15Wt%のTi-V触媒スラリを得た。これに実施の形態4の板状触媒1を含浸後、液切りし、150℃で2時間乾燥後、大気中500℃で2時間焼成し、Ti-V触媒を表面に25g/m担持した触媒を得た。
(比較例3)
比較例2の板状触媒1を実施の形態5記載の板状触媒2に代え、以下、同様にして触媒を調製した。
本発明に係るSi-V触媒の効果を確認するため、実施の形態1〜7及び比較例1〜3の触媒について、図1に示す試験条件で排ガスを通過・反応させ、水銀の酸化率、SOの酸化率、及び脱硝率をそれぞれ測定した。図中、AVはarea velocity(ガス量/触媒外面積)である。
比較例1は実施例1〜3に対応し、比較例2は実施例4,6で用いた板状触媒1を用い、比較例3は実施例5,7で用いた板状触媒2を用いていて、それぞれ対応する。
得られた結果を図2及び図3に纏めて示した。図2に、実施の形態1乃至3のSi-V触媒単独で用いた場合の試験結果を、比較例1のTi-V触媒単独で用いた場合の試験結果に対比して示し、図3に、Si-V触媒を脱硝機能を有する触媒にそれぞれ担持させた実施の形態4乃至7の場合の試験結果を、Ti-V触媒を脱硝機能を有する触媒にそれぞれ担持させた比較例2,3の場合の試験結果に対比して示す。
図2から明らかなように、比較例1のものに比べ、本発明に係るSi-V触媒が、高い水銀酸化率を示すとともに、SO2酸化率が低い値に止まっている。また、図3から明らかなように、脱硝機能を有する触媒にSi-V触媒を担持させた場合も、実施例4,6は同じ板状触媒1を用いた比較例2に対して高い水銀酸化率を示すとともにSO2酸化率が低い値に止まっているし、比較例3は実施例4,6よりも高い水銀酸化率を示しているが、SO2酸化率も実施例4,6より高くなっている。さらに、実施例5,7は、同じ板状触媒2を用いた比較例3よりもさらに高い水銀酸化率を示すとともにSO2酸化率が比較例3よりも低い値に止まっている。
図4に、図2、図3のデータを、Hg酸化率を横軸にとり、SO酸化率を縦軸にとって示した。図中、1〜7で示す印は本願実施例1〜7のデータを、1〜3で示す印は、比較例1〜3のデータをそれぞれ示している。すなわち、本願実施例に係るSi-V触媒は、Ti-V触媒に比べ、高い水銀酸化率を示すとともにSO2酸化率が低いことが実証された。
排ガス中の金属水銀を酸化させる試験の試験条件を示す図である。 実施の形態1乃至3のSi-V触媒単独で用いた場合の試験結果を、比較例1のTi-V触媒単独で用いた場合の試験結果に対比して示す図である。 実施の形態4乃至7の、Si-V触媒を脱硝機能を有する触媒にそれぞれ担持させた場合の試験結果を、比較例2,3の、Ti-V触媒を脱硝機能を有する触媒にそれぞれ担持させた場合の試験結果に対比して示す図である。 図2、図3のデータをグラフで示す図である。

Claims (7)

  1. 排ガス中に含まれる金属水銀と、酸素或いは塩化水素とを酸化的に反応させる金属水銀酸化用触媒であって、ケイ素酸化物とバナジウム酸化物を主成分とし、Si/Vの原子比が99.5/0.5〜85/15の範囲内にある金属水銀酸化用触媒。
  2. 請求項1に記載の金属水銀酸化用触媒を製造する方法であって、コロイダルシリカとバナジウム化合物との混合液を予めゲル化させる手順と、得られたスラリ状物を、加熱混合後、乾燥及びまたは焼成する手順とを有してなる金属水銀酸化用触媒の製造方法。
  3. 金属水銀酸化用触媒と、この触媒を担持する無機質の多孔質担体とを含んでなる排ガス浄化用触媒であって、前記金属水銀酸化用触媒が請求項1記載の金属水銀酸化用触媒である排ガス浄化用触媒。
  4. NOとNHの反応活性を有する板状あるいはハニカム状の触媒と、この触媒の表面に担持された金属水銀酸化用触媒とを含んでなる排ガス浄化用触媒であって、前記金属水銀酸化用触媒が請求項1記載の金属水銀酸化用触媒である排ガス浄化用触媒。
  5. NOとNHの反応活性を有する多孔質の触媒と、この触媒に担持された金属水銀酸化用触媒とを含んでなる排ガス浄化用触媒であって、前記金属水銀酸化用触媒が請求項1記載の金属水銀酸化用触媒である排ガス浄化用触媒。
  6. 請求項5に記載の排ガス浄化用触媒を製造する方法であって、コロイダルシリカと酸化バナジウムとのゾル状物の混合ゾルを生成する手順と、生成された混合ゾル中に前記多孔質の触媒を浸漬する手順と、浸漬後、前記多孔質の触媒を乾燥及びまたは焼成する手順とを有してなる排ガス浄化用触媒の製造方法。
  7. 金属水銀を含む排ガスを金属水銀酸化用触媒を含む触媒に接触させて排ガス中の金属水銀を酸化除去する排ガスの浄化方法であって、前記金属水銀酸化用触媒を含む触媒が、請求項1に記載の金属水銀酸化用触媒もしくは請求項3〜5の内のいずれかに記載の排ガス浄化用触媒である排ガスの浄化方法。
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