JP2007081450A - 露光機のワークステージ及び露光方法 - Google Patents
露光機のワークステージ及び露光方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007081450A JP2007081450A JP2006349495A JP2006349495A JP2007081450A JP 2007081450 A JP2007081450 A JP 2007081450A JP 2006349495 A JP2006349495 A JP 2006349495A JP 2006349495 A JP2006349495 A JP 2006349495A JP 2007081450 A JP2007081450 A JP 2007081450A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin plate
- workpiece
- work
- photomask
- work stage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【解決手段】 表裏両面加工に付される薄板状ワーク6の周縁部6bを支える支持部7と、薄板状ワーク下において支持部の内側に形成される空洞部8とを備え、支持部で支持した薄板状ワークをフォトマスク3との間に透き間が生じるように配置してフォトマスクのパターンを薄板状ワークにプロキシミティ露光する。支持部で周縁部が支えられた薄板状ワークの中央部6aを撓み矯正手段13でフォトマスク側に押圧して薄板状ワークの撓みを矯正し、パターンの均一性を高める。
【選択図】図3
Description
図1に示すように、この露光機は、薄板状ワーク6を保持するワークステージ9と、所定のパターンが形成されたフォトマスク3を保持するマスクホルダ4と、アライメント用の顕微鏡10と、露光用の光源である高圧水銀ランプ11とを含んでいる。
(1)露光機内のワークステージ9の支持部7に表裏両面加工に付される薄板状ワーク6を乗せる。真空吸引孔7bから環状凹溝7a内の空気を排出し、薄板状ワーク6の周縁部6bを支持部7の環状凹溝7a上に吸着し固定する。
(2)露光機内でワークステージ9を上昇させ、支持部7に吸着された薄板状ワーク6をフォトマスク3に接近させる。
(3)図1に示す顕微鏡10で薄板状ワーク6とフォトマスク3との重畳体を観察しながらアライメントを行う。アライメントが終わると顕微鏡10をフォトマスク3上から退避させる。
(4)再度ワークステージ9を上昇させ、図1及び図3に示すごとく支持部7に吸着された薄板状ワーク6をフォトマスク3に、両者間に透き間(プロキシミティギャップ)δが生じる程度に接近させる。
(5)図3に示すように、支持部7の内側に形成される空洞部8内に導入孔13から清浄な空気を導入する。この導入空気の圧力により、支持部7に吸着された薄板状ワーク6がフォトマスク3側に均一に押圧される。これにより、薄板状ワーク6の撓みが解消する。また、薄板状ワーク6の裏面に対しワークステージ9は非接触であるから、薄板状ワーク6の裏面の傷付き、汚染が防止される。
(6)水銀ランプ11が点灯され、フォトマスク3上から薄板状ワーク6に対し光が照射される。これにより、薄板状ワーク6のレジスト膜にフォトマスク3のパターンが潜像として形成される。その後、レジスト膜が現像され、その全面にパターンが現れる。上述したように薄板状ワーク6はその全面にわたり撓みが解消しているので、パターンは薄板状ワーク6の全面にわたり均一に形成される。
図4及び図5に示すように、この実施の形態2における露光機のワークステージ14では、流体である空気を導入孔13から空洞部8内に導き、排出孔15から空洞部8外に排出しながら、薄板状ワーク6の中央部6aを空洞部8側からフォトマスク3側に非接触で押圧するようになっている。排出孔15はワークステージ14の基部9bに、薄板状ワーク6の周縁部6bに対向するように形成される。
図6及び図7に示すように、この実施の形態3における露光機のワークステージ16では、撓み矯正手段として、シリコンゴム等の軟質材からなる凸状のスペーサ17が用いられる。この凸状のスペーサ17が支持片17aに支持されて空洞部8内の所望の位置に配置され、粘着テープ等により基部9bにおける空洞部8の底面に固定される。この実施の形態3ではスペーサ17は複数箇所にわたって設けられるが、薄板状ワーク6の中心に対し一箇所のみ設けるようにしてもよい。また、薄板状ワーク6の押圧する箇所を適宜選別してスペーサ17を配置することも可能である。この場合は薄板状ワーク6の非加工部にスペーサ17が対峙するようにしたり、薄板状ワーク6の加工済みの箇所にスペーサ17が当たらないようにしたりすることができる。
6…薄板状ワーク
6a…薄板状ワークの中央部
6b…薄板状ワークの周縁部
7…支持部
8…空洞部
13…導入孔
15…排出孔
17…スペーサ
Claims (7)
- 表裏両面加工に付される薄板状ワークの周縁部を支える支持部と、薄板状ワーク下において支持部の内側に形成される空洞部とを備え、支持部で支持した薄板状ワークをフォトマスクとの間に透き間が生じるように配置してフォトマスクのパターンを薄板状ワークにプロキシミティ露光する露光機のワークステージにおいて、支持部で周縁部が支えられた薄板状ワークの中央部をフォトマスク側に押圧して薄板状ワークの撓みを矯正する撓み矯正手段を具備したことを特徴とする露光機のワークステージ。
- 請求項1に記載の露光機のワークステージにおいて、撓み矯正手段が上記空洞部内に供給される流体であり、この流体を薄板状ワークの背面に当てることにより、支持部で周縁部が支えられた薄板状ワークの中央部を上記空洞部側からフォトマスク側に押圧するようにしたことを特徴とする露光機のワークステージ。
- 請求項2に記載の露光機のワークステージにおいて、流体を導入孔から空洞部内に導き、排出孔から空洞部外に排出しながら、薄板状ワークの中央部を空洞部側からフォトマスク側に押圧するようにしたことを特徴とする露光機のワークステージ。
- 請求項1に記載の露光機のワークステージにおいて、撓み矯正手段が上記空洞部内に配置された軟質材からなる凸状のスペーサであり、スペーサを薄板状ワークの背面に当てることにより、支持部で周縁部が支えられた薄板状ワークの中央部を上記空洞部側からフォトマスク側に押圧するようにしたことを特徴とする露光機のワークステージ。
- 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の露光機のワークステージにおいて、薄板状ワークの周縁部を支持部に吸着する真空吸引手段を備えたことを特徴とする露光機のワークステージ。
- 表裏両面加工に付される薄板状ワークの周縁部を露光機のワークステージの支持部で支持する支持工程と、支持部に支持された薄板状ワークをフォトマスクとの間に透き間が生じるように配置する配置工程と、支持部の内側に形成される空洞部内に流体を導入することにより、支持部に支持された薄板状ワークの中央部をフォトマスク側に押圧して撓みを矯正する押圧工程と、フォトマスク上から薄板状ワークに対し露光するプロキシミティ露光工程とを包含してなることを特徴とする露光方法。
- 請求項6に記載の露光方法において、流体を空洞部の内外間で流しながら、薄板状ワークの中央部をフォトマスク側に押圧することを特徴とする露光方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006349495A JP4826466B2 (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | 露光機のワークステージを用いた露光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006349495A JP4826466B2 (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | 露光機のワークステージを用いた露光方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005220555A Division JP4848697B2 (ja) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | 露光機のワークステージを用いた露光方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007081450A true JP2007081450A (ja) | 2007-03-29 |
JP4826466B2 JP4826466B2 (ja) | 2011-11-30 |
Family
ID=37941345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006349495A Expired - Fee Related JP4826466B2 (ja) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | 露光機のワークステージを用いた露光方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4826466B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011121868A1 (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-06 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 基板保持装置,基板保持方法、それらを用いた検査装置、及び検査方法 |
JP2013130608A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Ushio Inc | 露光装置 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08102437A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
JPH1064982A (ja) * | 1996-08-14 | 1998-03-06 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板保持機構及び基板処理装置 |
JPH10242255A (ja) * | 1997-02-28 | 1998-09-11 | Kyocera Corp | 真空吸着装置 |
JPH11111819A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Asahi Kasei Micro Syst Co Ltd | ウェハーの固定方法及び露光装置 |
JP2000223388A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Toshiba Corp | ステージ及び露光装置 |
JP2001060618A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Canon Inc | 基板吸着保持方法、基板吸着保持装置および該基板吸着保持装置を用いた露光装置ならびにデバイスの製造方法 |
JP2001267404A (ja) * | 2000-03-22 | 2001-09-28 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 基板搭載装置 |
WO2003052804A1 (fr) * | 2001-12-17 | 2003-06-26 | Nikon Corporation | Appareil porte-substrat, appareil d'exposition et procede de production d'un dispositif |
JP2004221323A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Nikon Corp | 基板保持装置、露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP2004259792A (ja) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Nikon Corp | 吸着装置、吸着装置用シート、研磨装置、半導体デバイス及び半導体デバイス製造方法 |
-
2006
- 2006-12-26 JP JP2006349495A patent/JP4826466B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08102437A (ja) * | 1994-09-30 | 1996-04-16 | Nikon Corp | 走査型露光装置 |
JPH1064982A (ja) * | 1996-08-14 | 1998-03-06 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板保持機構及び基板処理装置 |
JPH10242255A (ja) * | 1997-02-28 | 1998-09-11 | Kyocera Corp | 真空吸着装置 |
JPH11111819A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Asahi Kasei Micro Syst Co Ltd | ウェハーの固定方法及び露光装置 |
JP2000223388A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-08-11 | Toshiba Corp | ステージ及び露光装置 |
JP2001060618A (ja) * | 1999-08-20 | 2001-03-06 | Canon Inc | 基板吸着保持方法、基板吸着保持装置および該基板吸着保持装置を用いた露光装置ならびにデバイスの製造方法 |
JP2001267404A (ja) * | 2000-03-22 | 2001-09-28 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | 基板搭載装置 |
WO2003052804A1 (fr) * | 2001-12-17 | 2003-06-26 | Nikon Corporation | Appareil porte-substrat, appareil d'exposition et procede de production d'un dispositif |
JP2004221323A (ja) * | 2003-01-15 | 2004-08-05 | Nikon Corp | 基板保持装置、露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP2004259792A (ja) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Nikon Corp | 吸着装置、吸着装置用シート、研磨装置、半導体デバイス及び半導体デバイス製造方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011121868A1 (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-06 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 基板保持装置,基板保持方法、それらを用いた検査装置、及び検査方法 |
US8723536B2 (en) | 2010-03-31 | 2014-05-13 | Hitachi High-Technologies Corporation | Inspection apparatus, substrate mounting device and inspection method |
JP2013130608A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Ushio Inc | 露光装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4826466B2 (ja) | 2011-11-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7345613B2 (ja) | 基板のボンディング装置及び方法 | |
JP2020129131A (ja) | 基板ホルダ、リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 | |
KR101762957B1 (ko) | 펠리클 및 그 부착 방법, 그리고 펠리클 부착 마스크 및 마스크 | |
JP5190497B2 (ja) | インプリント装置及び方法 | |
TWI414895B (zh) | Exposure desk and exposure device | |
JP2008103703A (ja) | 基板保持装置、該基板保持装置を備える露光装置、およびデバイス製造方法 | |
JP2010129929A (ja) | 基板保持装置、基板保持方法、露光装置およびデバイス製造方法 | |
JP4848697B2 (ja) | 露光機のワークステージを用いた露光方法 | |
TW200832602A (en) | Substrate-retaining unit | |
JP6400120B2 (ja) | 基板保持装置、リソグラフィ装置、及び物品の製造方法 | |
TWI566325B (zh) | A substrate holding device and a close contact exposure device and a proximity exposure device | |
JP2016111343A (ja) | 基板保持装置、リソグラフィ装置、及び物品の製造方法 | |
JP2015176934A (ja) | 静電チャッククリーナ、クリーニング方法、および露光装置 | |
JP2016085439A (ja) | 露光方法及び露光装置 | |
TW486608B (en) | Contact exposure method | |
KR20070058337A (ko) | 기판의 파티클 제거 방법, 그 장치 및 도포, 현상 장치 | |
JP4799172B2 (ja) | 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法 | |
TWI463274B (zh) | 微影裝置及基板處置方法 | |
JP4826466B2 (ja) | 露光機のワークステージを用いた露光方法 | |
JPH06326174A (ja) | ウェハ真空吸着装置 | |
JP2006324369A (ja) | ワーク、フォトマスク及び露光方法 | |
JP2011075662A (ja) | ペリクル、フォトマスク、および半導体デバイス | |
JP2006339347A (ja) | レチクルチャック | |
JP2010039227A (ja) | 露光装置、露光方法及び基板載置方法 | |
JP2007207996A (ja) | 基板保持装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080404 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100713 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100909 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101005 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101119 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110315 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110603 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20110613 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110816 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110829 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140922 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |