JP2007073602A - 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法 - Google Patents

半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007073602A
JP2007073602A JP2005256502A JP2005256502A JP2007073602A JP 2007073602 A JP2007073602 A JP 2007073602A JP 2005256502 A JP2005256502 A JP 2005256502A JP 2005256502 A JP2005256502 A JP 2005256502A JP 2007073602 A JP2007073602 A JP 2007073602A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor chip
adhesive sheet
picked
suction nozzle
backup body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005256502A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Ota
誠 太田
Yasushi Takeda
泰 武田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2005256502A priority Critical patent/JP2007073602A/ja
Publication of JP2007073602A publication Critical patent/JP2007073602A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】粘着シートから半導体チップを確実にピックアップすることができるようにしたピックアップ装置を提供することにある。
【解決手段】粘着シートの上面に貼られた半導体チップを吸着ノズルによってピックアップする半導体チップのピックアップ装置であって、
上面が粘着シートの下面を吸着保持する保持面に形成されたバックアップ体1と、吸着ノズルによってピックアップされる半導体チップを粘着シートを介して突き上げる突き上げ部材13と、バックアップ体に設けられ粘着シートの突き上げ部材によって突き上げられる半導体チップが貼着された部分を加熱するヒータ24とを具備する。
【選択図】 図2

Description

この発明は粘着シートに貼着された半導体チップを吸着ノズルによってピックアップするピックアップ装置及びピックアップ方法に関する。
半導体ウエハをさいの目状に切断して形成された半導体チップは合成樹脂製の粘着シートに貼られており、この半導体チップを基板にボンディングする場合には吸着ノズルによって上記粘着シートから1つずつピックアップするようにしている。
半導体チップを吸着ノズルによって粘着シートからピックアップする場合、従来は特許文献1に示されるように、吸着ノズルによってピックアップされる半導体チップが貼着された粘着シートの、上記半導体チップの周辺部をバックアップ体によって吸着保持するとともに、その半導体チップを下面側から突き上げピンによって突き上げることで、上記半導体チップを上記粘着シートから分離させながら、吸着ノズルによってピックアップするということが行なわれていた。
つまり、半導体チップを突き上げピンによって突き上げると、粘着シートは突き上げピンによって突き上げられた部分を頂点とする山形状に弾性変形するから、その変形によって粘着シートが半導体チップから剥がれるから、その半導体チップを上記吸着ノズルによってピックアップすることができる。
特開2002−100644号公報
ところで、最近では半導体チップの厚さが100μm以下と非常に薄い場合があり、そのように薄い半導体チップは可撓性を有する。そのため、半導体チップを突き上げピンによって突き上げて粘着シートを山形状に変形させても、この粘着シートの粘着力によって粘着シートが半導体チップから剥がれず、半導体チップが粘着シートとともに変形してしまうということがある。
その結果、半導体チップを吸着ノズルによってピックアップすることができないということがあったり、半導体チップに大きな曲げ応力が加わり、その応力で割れが生じるなどのことがある。
この発明は、半導体チップを突き上げたときに、半導体チップから粘着シートが剥離し易くしたピックアップ装置及びピックアップ方法を提供することにある。
この発明は、粘着シートの上面に貼られた半導体チップを吸着ノズルによってピックアップする半導体チップのピックアップ装置であって、
上面が上記粘着シートの下面を吸着保持する保持面に形成されたバックアップ体と、
上記吸着ノズルによってピックアップされる半導体チップを上記粘着シートを介して突き上げる突き上げ部材と、
上記バックアップ体に設けられ上記粘着シートの上記突き上げ部材によって突き上げられる半導体チップが貼着された部分を加熱する加熱手段と
を具備したことを特徴とする半導体チップのピックアップ装置にある。
上記加熱手段は上記バックアップ体の上面に設けられ上記粘着シートをパルスヒートする電熱ヒータであることが好ましい。
上記バックアップ体の上面には上記突き上げ部材が突出する開口部が開口形成され、上記加熱手段は上記開口部の周囲に設けられていることが好ましい。
この発明は、粘着シートの上面に貼られた半導体チップを吸着ノズルによってピックアップする半導体チップのピックアップ方法であって、
上記粘着シートの上記吸着ノズルによってピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分を吸着保持する工程と、
吸着保持された上記粘着シートの上記吸着ノズルによってピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分を加熱する工程と、
上記粘着シートの加熱された部分に貼着された半導体チップを突き上げる工程と
を具備したことを特徴とする半導体チップのピックアップ方法にある。
上記粘着シートの上記吸着ノズルによってピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分をパルスヒートすることが好ましい。
この発明によれば、粘着シートの吸着ノズルによってピックアップされる半導体チップが貼着された部分を加熱するため、粘着シートのその部分の粘着力が低下する。そのため、半導体チップを突き上げることで、粘着シートを山形状に変形させると、この粘着シートが半導体チップから剥離し易くなるから、吸着ノズルによって容易かつ確実にピックアップすることができる。
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1乃至図3はこの発明の一実施の形態を示す。図1に示すピックアップ装置はバックアップ体1を有する。このバックアップ体1は、保持面としての上面を図示しないウエハリングに張設された粘着シート2の下面に対向させて設けられている。このバックアップ体1は、図示しないZ駆動源によって上面が粘着シート2の下面に接触する位置と、粘着シート2にから離れた位置との間でZ方向(図1に矢印で示す)に駆動されるようになっている。
上記粘着シート2の上面には半導体ウエハをさいの目状に分割した複数の半導体チップ3が貼着されている。上記ウエハリングは図示しないX及びY駆動源によって水平方向に駆動されるようになっている。それによって、粘着シート2に貼着された半導体チップ3はバックアップ体1に対してX及びY方向に位置決め可能となっている。
なお、バックアップ体1に代わり、ウエハリングをZ方向に駆動するようにしてもよく、要はウエハリングとバックアップ体1とが相対的にX、Y及びZ方向に駆動されるようになっていればよい。
上記粘着シート2の上面側で、上記バックアップ体1の上方には位置決めされた半導体チップ3を吸着保持する吸着ノズル4が設けられている。この吸着ノズル4は、図示しないX、Y及びZ駆動源によってX、Y及びZ方向に駆動されるようになっている。なお、Z駆動源としてはボイスコイルモータなどを用い、吸着ノズル4による押圧荷重を一定制御できるようにすることが好ましい。
上記バックアップ体1の上方にはカメラ5が配置され、このカメラ5からの撮像信号によって上記ウエハリング、つまり上記吸着ノズル4によってピックアップされた半導体チップ3が上記吸着ノズル4に対して位置決めされるようになっている。
なお、カメラ5は吸着ノズル4をこのカメラ5の下方から退避させた状態で半導体チップ3を撮像し、撮像後に上記吸着ノズル4が上記カメラ5の撮像結果に基いて位置決めされる。
上記バックアップ体1は図2に示すように下端面が開放し上面に開口部6が形成された円筒状をなしている。このバックアップ体1の下端開口には円柱状の閉塞部材11が一端部を気密に嵌合させて設けられている。この閉塞部材11の中心部には軸方向に貫通する挿通孔12が穿設されている。
上記挿通孔12には軸状の突き上げ部材13がOリング13aによって気密な状態でスライド可能に挿通されている。突き上げ部材13の上記閉塞部材11の下端面から突出した下端部にはカムフォロア14が回転可能に設けられている。このカムフォロア14の下方には、図1に示すように回転軸15に設けられて矢印方向に偏心回転するカム16が設けられ、このカム16の外周面に上記カムフォロア14が当接している。したがって、上記回転軸15が図示しない駆動源によって回転駆動されると、上記突き上げ部材13がカム15の偏心回転によって上下動するようになっている。
上記閉塞部材11には吸引路18が形成されている。この吸引路18は一端を閉塞部材11の外周面に開口させ、他端を上面に開口させている。吸引路18の一端には吸引ポンプ19(図1に示す)が接続されている。
上記バックアップ体1の上部壁1aの保持面である上面には環状の連通溝21が形成されている。さらに、バックアップ体1の上部壁1aには一端を上記連通溝21に開口させ、他端を下面に開口させた複数の吸引孔22が周方向に所定間隔で形成されている。
上記吸引ポンプ19を作動させると、その吸引力が上記開口部6及び吸引孔22を通じて上記連通溝21に作用する。それによって、バックアップ体1に対して位置決めされた粘着シート2がこのバックアップ体1の上面に吸着保持される。
つまり、粘着シート2は、上記吸着ノズル4によってピックアップされる半導体チップ3の中心が上記開口部6の中心に一致するようウエハリングによって位置決めされた後、上記バックアップ体1が上昇してその上面に吸着保持される。
上記バックアップ体1の上部壁1aには、上記開口部6の周囲に加熱手段としての電熱式のヒータ、たとえばセラミックヒータなどのヒータ24が設けられている。このヒータ24はリング状に形成されていて、制御装置25によってパルスヒートされるようになっている。つまり、バックアップ体1の上面に粘着シート2を吸着保持するために吸引ポンプ19が作動したときに、上記ヒータ24がパルスヒートされる。
それによって、粘着シート2の上記突き上げ部材13によって突き上げられる半導体チップ3が貼着された部分が所定の温度、例えば80〜100℃程度の加熱されるようになっている。粘着シート2がヒータ24によって加熱されると、粘着シート2上に層状に設けられた接着剤の温度が高くなって粘性が低下する。それによって、上記粘着シート2の粘着力が低下することになる。
なお、ヒータ24によって粘着シート2のパルスヒートを開始するタイミングは吸引ポンプ19が作動する前や作動した後であってもよく、要は突き上げ部材13によって半導体チップ3が突き上げられるまでに、粘着シート2の半導体チップ3が貼着された部分が所定の温度の加熱されるタイミングでパルスヒートを開始すればよい。
つぎに、上記構成のピックアップ装置によって半導体チップ3をピックアップする手順を図3(a)、(b)を参照して説明する。
まず、カメラ5からの撮像信号に基いて、粘着シート2をウエハリングによってX、Y方向に駆動し、ピックアップする半導体チップ3が吸着ノズル4の下方に位置するよう位置決めする。ついで、図3(a)に示すようにバックアップ体1を上昇させ、その上面を位置決めされた粘着シート2の下面に接触させたなら、吸引ポンプ19を作動させ、バックアップ体1の上面に粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3が貼着された部分の下面を吸着保持する。
バックアップ体1に粘着シート2を吸着保持したならば、吸着ノズル4を下降させ、ピックアップする半導体チップ3の上面に所定の圧力で接触させて吸着する。
上記吸引ポンプ19の作動と同時或いはその前後のタイミングで、制御装置25によってヒータ24をパルスヒートする。このヒータ24をパルスヒートすると、粘着シート2のピックアップする半導体チップ3が貼着された部分が80〜100℃の温度に加熱される。粘着シート2が所定の温度に加熱されると、図3(b)に示すように突き上げ部材13を上昇方向に駆動する。
それによって、上記突き上げ部材13は、その先端で粘着シート2のヒータ24によって加熱された部分を介してバックアップ体1の上面に位置決めされた半導体チップ3を突き上げる。このとき、吸着ノズル4は半導体チップ3を吸着した状態で、上記突き上げ部材13とともに上昇する。
上記突き上げ部材13によって粘着シート2を介して半導体チップ3が突き上げられると、粘着シート2は山形状に弾性変形する。粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3が貼着された部分は、ヒータ24によって加熱されている。そのため、粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3が貼着された部分の粘着力は低下しているから、この粘着シート2が山形状に弾性変形することで、半導体チップ3から容易に剥がれることになる。
したがって、突き上げ部材13を上昇させて半導体チップ3を突き上げてから、吸着ノズル4をさらに上昇させることで、半導体チップ3は変形や損傷することなく、粘着シート2から確実にピックアップされることになる。
上記ヒータ24は、粘着シート2のピックアップされる半導体チップ3が貼着された部分だけを局部的に加熱している。そのため、粘着シート2のヒータ24からの熱影響を受ける部分は、ピックアップされる半導体チップ3を貼着した部分だけに制限されることになる。
それによって、粘着シート2は、ピックアップされる半導体チップ3を貼着した部分以外が加熱されて不均一な伸びが生じるなどして変形するということがないから、粘着シート2の不均一な伸びによって半導体チップ3が傾き、カメラ5による位置認識が精度よく行えなくなるということがない。つまり、半導体チップ3のピックアップ精度及びピックアップ精度に基く実装精度を向上させることができる。
しかも、ヒータ24は制御装置25によってパルスヒートされるため、ヒータ24の熱が粘着シート2に必要以上に供給されるのが防止される。そのため、そのことによっても、粘着シート2の変形を小さくすることが可能となる。
上記一実施の形態では、突き上げ部材として軸状のものを挙げたが、突き上げ部材の形状は半導体チップの大きさなどによって種々のものが用いられるから、その形状はなんら限定されるものでない。
また、上記一実施の形態ではヒータがリング状に形成されている場合について説明したが、半導体チップとほぼ同じ大きさの四角形状とすれば、粘着シートのピックアップする半導体チップが貼着された部分だけを加熱することができる。それによって、粘着シートの不均一な伸びを抑制し、ピックアップ精度の向上を図ることができる。
また、バックアップ体の上部壁にヒータを着脱可能に設けるようにすれば、半導体チップのサイズなどの品種が変更になったとき、上記ヒータの交換を容易に行うことができる。バックアップ体の上部壁にヒータを着脱可能に設ける構造としては、その上部壁の上面に外周面に開放する取り付け溝を形成し、その取り付け溝にヒータを着脱可能に装着してボールプランジャなどによって脱落しないように押えるようにすればよい。
この発明の一実施の形態を示すピックアップ装置の概略的構成図。 ピックアップ体の軸方向に沿う拡大縦断面図。 (a),(b)は半導体チップをピックアップするときの動作の説明図。
符号の説明
1…バックアップ体、2…粘着シート、3…半導体チップ、4…吸着ノズル、6…開口部、13…突き上げ部材、22…吸引孔、24…ヒータ、25…制御装置。

Claims (5)

  1. 粘着シートの上面に貼られた半導体チップを吸着ノズルによってピックアップする半導体チップのピックアップ装置であって、
    上面が上記粘着シートの下面を吸着保持する保持面に形成されたバックアップ体と、
    上記吸着ノズルによってピックアップされる半導体チップを上記粘着シートを介して突き上げる突き上げ部材と、
    上記バックアップ体に設けられ上記粘着シートの上記突き上げ部材によって突き上げられる半導体チップが貼着された部分を加熱する加熱手段と
    を具備したことを特徴とする半導体チップのピックアップ装置。
  2. 上記加熱手段は上記バックアップ体の上面に設けられ上記粘着シートをパルスヒートする電熱ヒータであることを特徴とする請求項1記載の半導体チップのピックアップ装置。
  3. 上記バックアップ体の上面には上記突き上げ部材が突出する開口部が開口形成され、上記加熱手段は上記開口部の周囲に設けられていることを特徴とする請求項1記載の半導体チップのピックアップ装置。
  4. 粘着シートの上面に貼られた半導体チップを吸着ノズルによってピックアップする半導体チップのピックアップ方法であって、
    上記粘着シートの上記吸着ノズルによってピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分を吸着保持する工程と、
    吸着保持された上記粘着シートの上記吸着ノズルによってピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分を加熱する工程と、
    上記粘着シートの加熱された部分に貼着された半導体チップを突き上げる工程と
    を具備したことを特徴とする半導体チップのピックアップ方法。
  5. 上記粘着シートの上記吸着ノズルによってピックアップされる上記半導体チップが貼着された部分をパルスヒートすることを特徴とする請求項4記載の半導体チップのピックアップ方法。
JP2005256502A 2005-09-05 2005-09-05 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法 Pending JP2007073602A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005256502A JP2007073602A (ja) 2005-09-05 2005-09-05 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005256502A JP2007073602A (ja) 2005-09-05 2005-09-05 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007073602A true JP2007073602A (ja) 2007-03-22

Family

ID=37934824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005256502A Pending JP2007073602A (ja) 2005-09-05 2005-09-05 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007073602A (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010087424A1 (ja) * 2009-01-30 2010-08-05 三星ダイヤモンド工業株式会社 基板ブレーク装置
CN102218777A (zh) * 2010-03-31 2011-10-19 三星钻石工业股份有限公司 脆性材料基板的分断方法
CN102329075A (zh) * 2010-07-05 2012-01-25 三星钻石工业股份有限公司 分断装置
JP2012045946A (ja) * 2011-11-21 2012-03-08 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd 基板ブレーク装置
JP2014110262A (ja) * 2012-11-30 2014-06-12 Dainippon Printing Co Ltd 剥離装置および剥離方法
JP2020009894A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009892A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009895A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009897A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009896A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009893A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
CN111128789A (zh) * 2018-10-31 2020-05-08 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 微元件的转移装置及其转移方法
JP2020092198A (ja) * 2018-12-06 2020-06-11 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020188063A (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020188048A (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03102737U (ja) * 1990-02-09 1991-10-25
JPH09321123A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Kaijo Corp 半導体部品供給装置
JP2001196443A (ja) * 2000-01-14 2001-07-19 Sharp Corp 半導体チップのピックアップ装置およびピックアップ方法
JP2003264203A (ja) * 2002-03-11 2003-09-19 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法
JP2004165244A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体チップのピックアップ装置及び方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03102737U (ja) * 1990-02-09 1991-10-25
JPH09321123A (ja) * 1996-05-30 1997-12-12 Kaijo Corp 半導体部品供給装置
JP2001196443A (ja) * 2000-01-14 2001-07-19 Sharp Corp 半導体チップのピックアップ装置およびピックアップ方法
JP2003264203A (ja) * 2002-03-11 2003-09-19 Hitachi Ltd 半導体装置の製造方法
JP2004165244A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体チップのピックアップ装置及び方法

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010087424A1 (ja) * 2009-01-30 2010-08-05 三星ダイヤモンド工業株式会社 基板ブレーク装置
JP2010173251A (ja) * 2009-01-30 2010-08-12 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd 基板ブレーク装置
KR101275540B1 (ko) 2009-01-30 2013-06-17 미쓰보시 다이야몬도 고교 가부시키가이샤 기판 브레이크 장치
CN102218777A (zh) * 2010-03-31 2011-10-19 三星钻石工业股份有限公司 脆性材料基板的分断方法
CN102218777B (zh) * 2010-03-31 2016-02-24 三星钻石工业股份有限公司 脆性材料基板的分断方法
CN102329075A (zh) * 2010-07-05 2012-01-25 三星钻石工业股份有限公司 分断装置
CN102329075B (zh) * 2010-07-05 2014-03-12 三星钻石工业股份有限公司 分断装置
JP2012045946A (ja) * 2011-11-21 2012-03-08 Mitsuboshi Diamond Industrial Co Ltd 基板ブレーク装置
JP2014110262A (ja) * 2012-11-30 2014-06-12 Dainippon Printing Co Ltd 剥離装置および剥離方法
JP2020009897A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009895A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009894A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009896A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009893A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020009892A (ja) * 2018-07-06 2020-01-16 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
CN111128789B (zh) * 2018-10-31 2022-08-05 成都辰显光电有限公司 微元件的转移装置及其转移方法
CN111128789A (zh) * 2018-10-31 2020-05-08 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 微元件的转移装置及其转移方法
JP2020092198A (ja) * 2018-12-06 2020-06-11 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
CN111293081A (zh) * 2018-12-06 2020-06-16 株式会社迪思科 晶片的加工方法
JP7246825B2 (ja) 2018-12-06 2023-03-28 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
CN111293081B (zh) * 2018-12-06 2024-03-15 株式会社迪思科 晶片的加工方法
JP2020188063A (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP2020188048A (ja) * 2019-05-10 2020-11-19 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP7330616B2 (ja) 2019-05-10 2023-08-22 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法
JP7330615B2 (ja) 2019-05-10 2023-08-22 株式会社ディスコ ウェーハの加工方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007073602A (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP4156460B2 (ja) ワークのピックアップ方法及びその装置、実装機
JP2010161155A (ja) チップ転写方法およびチップ転写装置
EP1665364B1 (en) Apparatus and method for removing semiconductor chip
JP5284144B2 (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
JPH0837395A (ja) 半導体チップ供給装置および供給方法
JP2007109936A (ja) チップピックアップ装置およびチップピックアップ方法ならびにチップ剥離装置およびチップ剥離方法
JP2013033850A (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
KR20190024631A (ko) 점착 테이프 박리 방법 및 점착 테이프 박리 장치
TWI234826B (en) Apparatus for picking up semiconductor chips and method of picking up semiconductor chips
JP4825637B2 (ja) 半導体チップのピックアップ装置
JP2008141068A (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP5227117B2 (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP2006005030A (ja) 半導体チップのピックアップ方法および装置
JP2008109119A (ja) ピックアップ装置及びピックアップ方法
JP2008078411A (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP4563862B2 (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法
JP5214421B2 (ja) 剥離装置及び剥離方法
JP5060273B2 (ja) 電子部品剥離装置
JP5005403B2 (ja) 電子部品の実装ツール、実装装置
JP2010040657A (ja) チップ剥離装置およびチップ剥離方法
US7757390B2 (en) Method for production of a semiconductor component
JP2017041532A (ja) チップ剥離装置、およびチップ剥離方法
JP3945331B2 (ja) 半導体チップのピックアップ装置および吸着剥離ツール
JP4629624B2 (ja) 半導体チップのピックアップ装置及びピックアップ方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20080812

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A977 Report on retrieval

Effective date: 20100531

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100601

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100705

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20101019