JP2006339973A - 信号変換回路 - Google Patents

信号変換回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2006339973A
JP2006339973A JP2005161432A JP2005161432A JP2006339973A JP 2006339973 A JP2006339973 A JP 2006339973A JP 2005161432 A JP2005161432 A JP 2005161432A JP 2005161432 A JP2005161432 A JP 2005161432A JP 2006339973 A JP2006339973 A JP 2006339973A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
transistor
channel mos
mos transistor
interpolation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005161432A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4668690B2 (ja
Inventor
Masafumi Watanabe
雅史 渡邉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Electronics Corp
Original Assignee
NEC Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Electronics Corp filed Critical NEC Electronics Corp
Priority to JP2005161432A priority Critical patent/JP4668690B2/ja
Priority to US11/443,064 priority patent/US7564293B2/en
Publication of JP2006339973A publication Critical patent/JP2006339973A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4668690B2 publication Critical patent/JP4668690B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/156Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern
    • H03K5/1565Arrangements in which a continuous pulse train is transformed into a train having a desired pattern the output pulses having a constant duty cycle
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/30Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor
    • H03F3/3001Single-ended push-pull [SEPP] amplifiers; Phase-splitters therefor with field-effect transistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45183Long tailed pairs
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K5/00Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
    • H03K5/13Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45318Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC comprising a cross coupling circuit, e.g. two extra transistors cross coupled
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45366Indexing scheme relating to differential amplifiers the AAC comprising multiple transistors parallel coupled at their gates only, e.g. in a cascode dif amp, only those forming the composite common source transistor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

【課題】
差動信号を変換したシングルエンド信号に生じるデューティ比の誤差を低減できる信号変換回路を提供すること。
【解決手段】
本発明にかかる信号変換回路は、入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換回路であって、差動信号を差動増幅し、シングルエンド信号である信号Sa1と信号Sa1を反転した信号Sb1を生成する差動増幅器110,120と、信号Sa1を反転した信号Saを生成するインバータ150と、信号Saと信号Sbの位相差を補間する補間回路とを有するものである。
【選択図】 図1

Description

本発明は、信号変換回路に関し、特に、入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換回路に関する。
一般に、クロックやデータ信号を入出力する入出力回路などでは、入出力する信号のノイズ低減を図るため、差動(ディファレンシャル)信号が広く利用されている。そして、差動信号を受けた回路では、この差動信号を単相のシングルエンド信号に変換し内部の回路などに供給している。
図6は、差動信号をシングルエンド信号に変換する従来の信号変換回路の構成を示している。図に示されるように、この従来の信号変換回路は、差動増幅器610とインバータ620,630を備えている。
差動増幅信号である入力信号SIN,反転入力信号SINBが入力端子601,602に入力され、差動増幅器610によってシングルエンドの信号Saに変換され、インバータ620,630によって繰り返し反転されて出力端子603から出力信号SOUTが出力される。
差動増幅器610では、PチャネルMOSトランジスタ(MOSFET:Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)P611とNチャネルMOSトランジスタN611、PチャネルMOSトランジスタP612とNチャネルMOSトランジスタN612が、それぞれ縦に直列に接続されており、PチャネルMOSトランジスタP611とPチャネルMOSトランジスタP612が、カレントミラー回路を構成するように接続されている。インバータ620,630は、それぞれ、縦に直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタP621,P631とNチャネルMOSトランジスタN621,N631から構成されている。
図7は、従来の他の信号変換回路の構成を示している。図に示されるように、この従来の信号変換回路は、差動増幅器710とインバータ720,730,740を備えている。
差動増幅信号である入力信号SIN,反転入力信号SINBが入力端子701,702に入力され、差動増幅器710によってシングルエンドの信号Saに変換され、インバータ720,730によって繰り返し反転されて出力端子703から出力信号SOUTが出力される。インバータ740は、差動増幅器710の出力のバランスをとるためのダミー回路である。
また、従来の信号変換回路として特許文献1が知られている。特許文献1では、差動信号が交差する電圧を検出し、オフセット信号を生成することで、デューティ比を調整している。この場合、交差電圧の検出やオフセット信号を生成する回路が必要となるため、回路が複雑となり、回路規模が大きくなってしまう。
特開平10−13210号公報
しかしながら、図6や図7で示した従来の信号変換回路では、差動増幅器の構成などにより、差動信号を変換したシングルエンド信号にデューティ比の誤差が生じてしまうという問題がある。
図8及び図9を用いて、この問題について説明する。図8は、図6の従来の信号変換回路における各信号の波形を示している。例えば、従来の信号変換回路に、図8(a)に示されるような入力信号SINと反転入力信号SINBが入力される。
そうすると、入力信号SINに応じて、NチャネルMOSトランジスタN611が導通し、PチャネルMOSトランジスタP611に電流が流れて、PチャネルMOSトランジスタP612にも同様にソース−ドレイン間にドレイン電流が流れる。また、反転入力信号SINBに応じて、NチャネルMOSトランジスタN612が導通し、NチャネルMOSトランジスタN612のドレイン−ソース間にドレイン電流が流れる。そして、PチャネルMOSトランジスタP612のドレイン電流とNチャネルMOSトランジスタN612のドレイン電流との関係から信号Saが生成される。
したがって、図8(b)に示されるように、入力信号SINの立ち下がり時(反転入力信号SINBの立ち上がり時)では、NチャネルMOSトランジスタN612のみが動作することで信号Saのレベルが減少するため、信号Saの立ち下がりが入力信号SINの立ち下がりとほぼ同じタイミングとなる。しかし、入力信号SINの立ち上がり時では、NチャネルMOSトランジスタN611とPチャネルMOSトランジスタP611,P612の3つのトランジスタが動作することで信号Saのレベルが増加するため、信号Saの立ち上がりのタイミングが入力信号SINの立ち上がりよりも遅延する。信号Saの立ち下がりと入力信号SINの立ち下がりのタイミングの差よりも、信号Saの立ち上がりと入力信号SINの立ち上がりのタイミングの差が大きい。すなわち、信号Saは、信号SINと比べて、立ち下がりのタイミングは同様であるが立ち上がりのタイミングが遅いため、パルス幅が狭くなる。
その結果、図8(c)に示されるように、図8(b)の信号がインバータ620,630で反転されて、出力信号SOUTは、デューティ比が誤差βだけ小さい波形となってしまうのである。
図7の従来の信号処理回路でも同様の波形となる。入力信号SINの立ち上がり時は、NチャネルMOSトランジスタN711のドレイン電位が下がり、PチャネルMOSトランジスタP712が動作することで信号Saのレベルが増加するため、信号Saの立ち上がりのタイミングが入力信号SINよりも遅延し、入力信号SINの立ち下がり時は、NチャネルMOSトランジスタN712のみが動作することで信号Saのレベルが減少するため、信号Saの立ち下がりは入力信号SINとほぼ同じタイミングとなり、図8(b)(c)のような信号となる。
また、図6と図7の従来の信号変換回路において、NチャネルMOSトランジスタとPチャネルMOSトランジスタを逆にして構成した場合には、図9のような波形となる。この場合、図9に示すように、図8とは逆の波形となる。すなわち、図9(b)に示すように、差動増幅器から出力される信号Saは、立ち上がりが入力信号SINとほぼ同じタイミングとなり、立ち下がりのタイミングが入力信号SINよりも遅延する。したがって、図9(c)に示されるように、出力信号SOUTは、デューティ比が誤差βだけ大きい波形となってしまうのである。
さらに、信号のタイミングの遅延によりデューティ比に誤差が生じる他、製造ばらつきや温度等の環境の変化により、差動増幅器のPチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOSトランジスタとの動作特性がアンバランスとなった場合にも、同様の誤差が生じる。この場合、信号Saの立ち上がりと立ち下がりの傾きに差が生じるためである。例えば、図10は、信号Saの立ち上がりの傾きが、信号Saの立ち下がりの傾きよりも緩やかになる例である。信号Saの立ち上がりの傾きが緩やかになると、出力信号SOUTの立ち上がりが遅延するため、図8と同様に、出力信号SOUTのデューティ比が誤差β分小さくなる。一方、図11は、信号Saの立ち下がりの傾きが、信号Saの立ち上がりの傾きよりも緩やかになる例である。信号Saの立ち下がりの傾きが緩やかになると、出力信号SOUTの立ち下がりが遅延するため、図9と同様に、出力信号SOUTのデューティ比が誤差β分大きくなる。
このように、従来の信号変換回路では、差動増幅器の構成や製造ばらつき、温度等の環境の変化等により、デューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号、もしくは、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号を出力してしまう。
本発明にかかる信号変換回路は、入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換回路であって、前記差動信号を差動増幅し、シングルエンド信号である第1の正転信号と前記第1の正転信号を反転した第1の反転信号を生成する差動増幅回路と、前記第1の反転信号を反転した第2の正転信号を生成する第1のインバータと、前記第1の正転信号と前記第2の正転信号の位相差を補間する補間回路とを有するものである。
この信号変換回路によれば、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号とデューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号が生成でき、これらの信号を補間するようになる。したがって、2つのシングルエンド信号の時間的なずれを補間するため、デューティ比の誤差を精度よく除去でき、デューティ比の誤差の発生を低減することができる。
本発明にかかる信号変換回路は、入力される差動信号を、デューティ比が誤差分だけ大きい第1のシングルエンド信号とデューティ比が誤差分だけ小さい第2のシングルエンド信号とに変換する変換部と、前記第1のシングルエンド信号と前記第2のシングルエンド信号のデューティ比の差を補間する補間部とを有するものである。
この信号変換回路によれば、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号とデューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号の時間的なずれを補間するため、デューティ比の誤差を精度よく除去でき、デューティ比の誤差の発生を低減することができる。
本発明によれば、差動信号を変換したシングルエンド信号に生じるデューティ比の誤差を低減できる信号変換回路を提供することができる。
発明の実施の形態1.
まず、本発明の実施の形態1にかかる信号変換回路について説明する。本実施形態にかかる信号変換回路は、2つの差動増幅器と複数のインバータにより、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号と、デューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号とを生成し、これらの信号を補間することを特徴としている。
ここで、図1を用いて、本実施形態にかかる信号変換回路の構成について説明する。この信号変換回路は、入力される差動信号を単相のシングルエンド信号に変換する回路である。例えば、デジタルの矩形波やアナログのsin波の差動信号を入力し、デジタルの矩形波のシングルエンド信号を出力する。
信号変換回路には、デューティ比がα[%]の差動信号が入力される。すなわち、差動信号として、ディーティ比がα[%]の入力信号SINと、ディーティ比が100−α[%]の反転入力信号SINBが入力される。
図に示されるように、信号変換回路は、変換部100と補間部200を有している。変換部100は、入力端子101,102に入力された入力信号SIN,反転入力信号SINBを変換し、デューティ比が誤差βだけ大きいシングルエンドの信号Saと、デューティ比が誤差βだけ小さいシングルエンドの信号Sbとを生成する。補間部200は、変換部100が生成した信号Saと信号Sbとのデューティ比の差、すなわち、信号の時間的な差、位相差を補間し、デューティ比が誤差βを除いたα%の出力信号SOUTを出力端子103から出力する。
尚、本明細書において誤差βは、差動増幅器で生じるデューティ比の誤差を示している。誤差βは、主に、図8や図9で示したような、差動増幅器の動作原理上生じるものであるが、その他、温度や電源電圧など動作環境の変化によるトランジスタの特性上生じる誤差や、製造ばらつきにより生じる誤差などを含んでいてもよい。
変換部100は、図に示されるように、差動増幅器110,120とインバータ130,140,150,160,170を備えている。差動増幅器110は、入力される差動信号を変換し、デューティ比が誤差βを含む信号Sa1を出力する。例えば、信号Sa1は、反転入力信号SINBと同相の信号である。信号Sa1はインバータ130により反転されて信号Sa2となり、信号Sa2はインバータ140により反転されて信号Sa3となり、信号Sa3はインバータ150により反転されて信号Saとなる。ここでは、差動増幅器でデューティ比が誤差βだけ小さくなるものとして、信号Sa1のデューティ比は、100−α−β[%]、信号Sa2のデューティ比は、α+β[%]、信号Sa3のデューティ比は、100−(α+β)[%]、信号Saのデューティ比は、α+β[%]となる。
差動増幅器120は、差動増幅器110と反対に入力される差動信号を変換し、デューティ比が誤差βを含み、差動増幅器110の信号Sa1を反転した信号Sb1を出力する。例えば、信号Sb1は、入力信号SINと同相の信号である。信号Sb1はインバータ160により反転されて信号Sb2となり、信号Sb2はインバータ170により反転されて信号Sbとなる。上記と同様にして、信号Sb1のデューティ比は、α−β[%]、信号Sb2のデューティ比は、100−(α−β)[%]、信号Sbのデューティ比は、α−β[%]となる。
例えば、信号Sb1もしくは信号Sbが第1の正転信号、信号Sa1が第1の反転信号、信号Sa2もしくは信号Saが第2の正転信号であり、この第1の正転信号と第2の正転信号が補間部200によって補間される。
尚、差動増幅器でデューティ比が誤差βだけ大きくなる場合(例えば、後述するようにNチャネルMOSトランジスタとPチャネルMOSトランジスタを逆に構成した場合など)、信号Saと信号Sbの関係が逆になる。この場合、信号Sa1のデューティ比は、100−α+β[%]、信号Sa2のデューティ比は、α−β[%]、信号Sa3のデューティ比は、100−(α−β)[%]、信号Saのデューティ比は、α−β[%]となり、信号Sb1のデューティ比は、α+β[%]、信号Sb2のデューティ比は、100−(α+β)[%]、信号Sbのデューティ比は、α+β[%]となる。
信号Sa,Sbが上記のデューティ比の関係(α+βとα−β)を精度よく満たすようにするため、差動増幅器110と差動増幅器120、インバータ130とインバータ160、インバータ140とインバータ170は、それぞれ対称的に同様のトランジスタで形成されていることが好ましく、また、インバータ150は、できるだけ遅延が少なく、より正確な反転信号を生成することが好ましい。例えば、インバータ150は、デューティ比が50%の信号を入力すると、デューティ比が50%の信号を出力し、デューティ比が40%の信号を入力すると、デューティ比が60%の信号を出力する。すなわち、インバータ150は、閾値がハイレベルとローレベルのほぼ中間の電位であり、出力する信号の立ち上がりと立ち下がりがほぼ同じ傾きである。
差動増幅器110は、図に示されるように、PチャネルMOSトランジスタP111,P112とNチャネルMOSトランジスタN111,N112を有している。PチャネルMOSトランジスタP111とNチャネルMOSトランジスタN111、PチャネルMOSトランジスタP112とNチャネルMOSトランジスタN112は、それぞれ、電源電位と接地電位の間に縦に直列に接続されている。PチャネルMOSトランジスタP111とPチャネルMOSトランジスタP112は、カレントミラー回路を構成するように接続されている。
NチャネルMOSトランジスタN111は、ソースが接地電位に接続され、ゲートが入力端子102に接続され、ドレインがPチャネルMOSトランジスタ111のドレインに接続されている。PチャネルMOSトランジスタP111は、ソースが電源電位に接続され、ゲートがドレインに接続されるとともにPチャネルMOSトランジスタP112のゲートにも接続されている。NチャネルMOSトランジスタN112は、ソースが接地電位に接続され、ゲートが入力端子101に接続され、ドレインがPチャネルMOSトランジスタ112のドレインに接続されている。PチャネルMOSトランジスタP112は、ソースが電源電位に接続され、ゲート,ドレインは上記のようにPチャネルMOSトランジスタP111,NチャネルMOSトランジスタN112に接続されている。
PチャネルMOSトランジスタP112とNチャネルMOSトランジスタN112間の中間ノード、すなわち、PチャネルMOSトランジスタP112のドレイン、もしくは、NチャネルMOSトランジスタN112のドレインが出力ノード110aとなり、信号Sa1を出力する。
差動増幅器120は、差動増幅器110と同様の構成である。すなわち、差動増幅器120は、PチャネルMOSトランジスタP121,P122とNチャネルMOSトランジスタN121,N122を有している。NチャネルMOSトランジスタN121のゲートに入力端子101が接続され、NチャネルMOSトランジスタN122のゲートに入力端子102が接続される。そして、PチャネルMOSトランジスタP122とNチャネルMOSトランジスタN122間の中間ノードである出力ノード120aから信号Sb1が出力される。
尚、本実施形態では、NチャネルMOSトランジスタN111,N112,N121,N122を、デプレッション型トランジスタとしている。デプレッション型トランジスタであれば、エンハンスメント型トランジスタより、入力される差動信号がアナログの小信号の場合でも、動作することができる。一方、入力される差動信号がエンハンスメント型トランジスタの動作点を超える程度の電圧レベルである場合には、NチャネルMOSトランジスタN111,N112,N121,N122は、デプレッション型をエンハンスメント型トランジスタに代えることによりリーク電流を減らすことができる。
インバータ130,140,150,160,170は、それぞれ同様の構成であり、電源電位と接地電位との間に縦に直列に接続されたPチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOSトランジスタを有している。すなわち、インバータ130は、PチャネルMOSトランジスタP131とNチャネルMOSトランジスタN131、インバータ140は、PチャネルMOSトランジスタP141とNチャネルMOSトランジスタN141、インバータ150は、PチャネルMOSトランジスタP151とNチャネルMOSトランジスタN151、インバータ160は、PチャネルMOSトランジスタP161とNチャネルMOSトランジスタN161、インバータ170は、PチャネルMOSトランジスタP171とNチャネルMOSトランジスタN171から構成されている。
各インバータでは、PチャネルMOSトランジスタのソースが電源電位に接続され、NチャネルMOSトランジスタのソースが接地電位に接続される。PチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOSトランジスタのゲートが互いに接続され、この中間ノードが入力ノード(130a〜170a)となり、PチャネルMOSトランジスタとNチャネルMOSトランジスタのドレインが互いに接続され、この中間ノードが出力ノード(130b〜170b)となる。
インバータ130は、入力ノード130aが差動増幅器110の出力ノード110aに接続され信号Sa1を入力し、出力ノード130bがインバータ140の入力ノード140aに接続され信号Sa2を出力する。インバータ150は、入力ノード150aがインバータ140の出力ノード140bに接続され信号Sa3を入力し、出力ノード150bが補間部200の入力ノード201aに接続され信号Saを出力する。インバータ160は、入力ノード160aが差動増幅器120の出力ノード120aに接続され信号Sb1を入力し、出力ノード160bがインバータ170の入力ノード170aに接続され信号Sb2を出力する。インバータ170は、出力ノード170bが補間部200の入力ノード202aに接続され信号Sbを出力する。
補間部200は、図に示されるように、PチャネルMOSトランジスタP201,P202,P203、NチャネルMOSトランジスタN201,N202,N203、コンデンサ210、インバータ(第3の補間用インバータ)220を有している。
例えば、PチャネルMOSトランジスタP201とNチャネルMOSトランジスタN201とで信号Sa用のインバータ(第1の補間用インバータ)を構成し、PチャネルMOSトランジスタP202とNチャネルMOSトランジスタN202とで信号Sb用のインバータ(第2の補間用インバータ)を構成する。
PチャネルMOSトランジスタP201とNチャネルMOSトランジスタN201は、信号Saを反転させた反転信号を生成し、PチャネルMOSトランジスタP202とNチャネルMOSトランジスタN202は、信号Sbを反転させた反転信号を生成する。これらの反転信号によってコンデンサ210に充放電が行われて信号Scが生成される。インバータ220は、信号Scを反転して、出力信号SOUTを出力する。
PチャネルMOSトランジスタP201とNチャネルMOSトランジスタN201のゲートが互いに接続され、この中間ノードが入力ノード201aとなって信号Saが入力される。同様に、PチャネルMOSトランジスタP202とNチャネルMOSトランジスタN202のゲートが互いに接続され、この中間ノードが入力ノード202aとなって信号Sbが入力される。
PチャネルMOSトランジスタP201とPチャネルMOSトランジスタP202は並列に接続される。PチャネルMOSトランジスタP201とPチャネルMOSトランジスタP202のソースが互い接続され、この中間ノードが電源電位に接続される。PチャネルMOSトランジスタP201とPチャネルMOSトランジスタP202のドレインが互いに接続され、この中間ノードがPチャネルMOSトランジスタP203のソースに接続される。同様に、NチャネルMOSトランジスタN201とNチャネルMOSトランジスタN202は並列に接続される。NチャネルMOSトランジスタN201とNチャネルMOSトランジスタN202のソースが互い接続され、この中間ノードが接地電位に接続される。NチャネルMOSトランジスタN201とNチャネルMOSトランジスタN202のドレインが互いに接続され、この中間ノードがNチャネルMOSトランジスタN203のソースに接続される。
PチャネルMOSトランジスタP203とNチャネルMOSトランジスタN203は、PチャネルMOSトランジスタP201,P202とNチャネルMOSトランジスタN201,N202の間に縦に直列に接続され、常時、導通状態で動作する。PチャネルMOSトランジスタP203のゲートは、接地電位に接続され、NチャネルMOSトランジスタN203のゲートは、電源電位に接続される。PチャネルMOSトランジスタP203とNチャネルMOSトランジスタN203のドレインが互いに接続され、この中間ノードがコンデンサ210の一端とインバータ220の入力端に共通に接続される。コンデンサ210の他端は接地電位に接続され、インバータ220の出力端は出力端子103に接続される。
尚、PチャネルMOSトランジスタP203とNチャネルMOSトランジスタN203は、信号Saと信号Sbの位相差から生じるPチャネルMOSトランジスタP201とNチャネルMOSトランジスタN202との間及びPチャネルMOSトランジスタP202とNチャネルMOSトランジスタN201との間に流れる貫通電流を減らす抵抗として機能する。また、PチャネルMOSトランジスタP203とNチャネルMOSトランジスタN203は、PチャネルMOSトランジスタP201,P202及びNチャネルMOSトランジスタN201,N202の内部の寄生容量により信号Saと信号Scとの間及び信号Sbと信号Scとの間に生じる容量結合の影響を減らす機能も有している。すなわち、PチャネルMOSトランジスタP203とNチャネルMOSトランジスタN203は、信号Scへの信号Sa及び信号Sbの漏れを低減させている。しかし、原理的には、PチャネルMOSトランジスタP203とNチャネルMOSトランジスタN203を省略しても補間回路として動作可能である。
次に、図2乃至図4を用いて、本実施形態にかかる信号変換回路の動作について説明する。図2は、図1の信号変換回路における各信号の波形を示している。信号変換回路には、図2(a)に示されるような入力信号SINと反転入力信号SINBが入力される。尚、ここでは、入力される差動信号は、矩形波となっているが、これに限らず、sin波などのアナログ信号でも同様の動作となる。
入力信号SINと反転入力信号SINBが入力されると、差動増幅器110,120によって、図3(a)(b)に示すような信号Sa1,Sb1が生成される。すなわち、差動増幅器110では、反転入力信号SINBがNチャネルMOSトランジスタN111の閾値を超えると、NチャネルMOSトランジスタN111が導通してドレイン−ソース間にドレイン電流が流れドレイン電位が低下する。そうすると、PチャネルMOSトランジスタP111は、閾値よりもゲート電位が低下すると導通しソース−ドレイン間にドレイン電流が流れる。このとき、PチャネルMOSトランジスタP111も、同様にゲート電位が低下して導通しソース−ドレイン間にドレイン電流が流れる。したがって、反転入力信号SINBがNチャネルMOSトランジスタN111の閾値以下の場合には、PチャネルMOSトランジスタP112のドレイン電流は流れない。
また、入力信号SINがNチャネルMOSトランジスタN112の閾値を超えると、NチャネルMOSトランジスタN112が導通し、NチャネルMOSトランジスタN112のドレイン−ソース間にドレイン電流が流れる。したがって、入力信号SINがNチャネルMOSトランジスタN112の閾値以下の場合には、NチャネルMOSトランジスタN112のドレイン電流は流れない。
そして、PチャネルMOSトランジスタP112のドレイン電流からNチャネルMOSトランジスタN112のドレイン電流を引いた信号が信号Sa1となる。つまり、反転入力信号SINBの立ち上がり時(入力信号SINの立ち下がり時)は、PチャネルMOSトランジスタP112が導通しドレイン電流が増加し、NチャネルMOSトランジスタN112が非導通となりドレイン電流が減少するため、信号Sa1はハイレベルとなる。反転入力信号SINBの立ち下がり時(入力信号SINの立ち上がり時)は、PチャネルMOSトランジスタP112が非導通となりドレイン電流が減少し、NチャネルMOSトランジスタN112が導通しドレイン電流が増加するため、信号Sa1はローレベルとなる。
この信号Sa1は、図3(a)に示すような波形となる。尚、図3中の点線は、入力信号SIN、反転入力信号SINBの立ち上がりもしくは立ち下がりのタイミングを示している。すなわち、従来例と同様に、反転入力信号SINBの立ち下がり時は、NチャネルMOSトランジスタN112のみの動作でよいため、信号Sa1の立ち下がりは反転入力信号SINBとほぼ同じタイミングとなり、反転入力信号SINBの立ち上がり時は、NチャネルMOSトランジスタN111とPチャネルMOSトランジスタP111,P112の3つの動作が必要なため、信号Sa1の立ち上がりのタイミングは反転入力信号SINBよりも遅延する。
一方、差動増幅器120も差動増幅器110と同様に動作し、図3(b)に示すような信号Sb1を生成する。差動増幅器120では、入力される信号が差動増幅器110と反対のため出力する信号Sb1は、信号Sa1の逆相の信号、すなわち、信号Sa1を反転させた信号となる。この場合、信号Sb1の立ち下がりが入力信号SINとほぼ同じタイミングとなり、信号Sb1の立ち上がりのタイミングが入力信号SINよりも遅延する。その結果、信号Sa1のデューティ比は、100−α−β[%]となり、信号Sb1のデューティ比は、α−β[%]となる。
また、図1の信号変換回路において、NチャネルMOSトランジスタとPチャネルMOSトランジスタを逆にして構成した場合、信号Sa1,Sb1は、図3(c)(d)のような波形となる。例えば、差動増幅器110,120の入力信号SINと反転入力信号SINBが入力される側をPチャネルMOSトランジスタとし、このPチャネルMOSトランジスタと直列に接続されカレントミラーを構成する側をNチャネルMOSトランジスタとする。この場合には、図3(c)(d)に示すように、図3(a)(b)とは逆の波形となる。すなわち、従来例と同様、図3(c)に示すように、信号Sa1の立ち上がりが反転入力信号SINBの立ち上がりとほぼ同じタイミングとなり、信号Sa1の立ち下がりのタイミングが反転入力信号SINBよりも遅延する。図3(d)に示すように、信号Sb1の立ち上がりが入力信号SINとほぼ同じタイミングとなり、信号Sb1の立ち下がりのタイミングが入力信号SINよりも遅延する。その結果、信号Sa1のデューティ比は、100−α+β[%]となり、信号Sb1のデューティ比は、α+β[%]となる。
そして、信号Sa1,信号Sb1は、インバータ130,140,150,160,170によって反転を繰り返し、図2(b)に示すような信号Sa,Sbとなる。すなわち、信号Sa1は、インバータ130,140,150により繰り返し反転され、信号Sb1は、インバータ160,170によって繰り返し反転される。インバータを介すことで、図3のような信号の立ち上がりと立ち下がりの傾きの差がなくなり、ほぼ矩形波に近い信号となる。信号Saのデューティ比は、α+β[%]となり、信号Sbのデューティ比は、α−β[%]となる。
さらに、信号Sa,Sbは、補間部200によって補間され、図2(c)に示すような出力信号SOUTとなる。すなわち、出力信号SOUTのデューティ比は、((α−β)+(α+β))/2となり、信号Saと信号Sbから誤差βを除いたデューティ比α[%]の信号となる。出力信号SOUTの立ち上がりは、信号Saの立ち上がりと信号Sbの立ち上がりのほぼ中間となり、出力信号SOUTの立ち下がりは、信号Saの立ち下がりと信号Sbの立ち下がりのほぼ中間となる。
ここで、図4を用いて、補間部200の動作について説明する。図4は、補間部200における各信号の波形を示している。
図2(b)と同様、図4(a)に示すような信号Sa,Sbが補間部200に入力される。この信号Sa,Sbが入力されると、信号Scは、図4(b)に示されるような信号となる。図4(b)の点線401は、信号Saのみが入力された場合の信号Scを示しており、点線402は、信号Sbのみが入力された場合の信号Scを示している。
信号Sa,Sbの立ち上がり時、T101において、信号SbがNチャネルMOSトランジスタN201の閾値を超えると、NチャネルMOSトランジスタN201のみが導通してドレインからソースへ電流が流れ、コンデンサ210の電荷が放電され、信号Scが低下し始める。その後、T102において、信号SaがNチャネルMOSトランジスタN202の閾値を超えると、NチャネルMOSトランジスタN202がさらに導通しドレインからソースへ電流が流れる。そうすると、NチャネルMOSトランジスタN201とNチャネルMOSトランジスタN202の両方を介してコンデンサ210の電荷が放電されるため、信号Scが2倍の傾きで低下するようになる。コンデンサ210の電荷が全て放電されると、信号Scは所定のローレベルとなる。すなわち、信号Sa,Sbがハイレベルのとき信号Scはローレベルとなる。
信号Sa,Sbの立ち下がり時も同様に動作する。T103おいて、信号SaがPチャネルMOSトランジスタP201の閾値以下になると、PチャネルMOSトランジスタP201のみが導通してソースからドレインへ電流が流れ、コンデンサ210に電荷が充電され、信号Scが上昇し始める。その後、T104において、信号SbがPチャネルMOSトランジスタP202の閾値以下になると、PチャネルMOSトランジスタP202がさらに導通しソースからドレインへ電流が流れる。そうすると、PチャネルMOSトランジスタP201とPチャネルMOSトランジスタP202の両方を介してコンデンサ210に電荷が充電されるため、信号Scが2倍の傾きで上昇するようになる。コンデンサ210の充電が完了すると、信号Scは所定のハイレベルとなる。すなわち、信号Sa,Sbがローレベルのとき信号Scはハイレベルとなる。
信号Scが生成されると、インバータ220によって、図4(c)に示されるような出力信号SOUTが出力される。図4(c)の点線403は、信号Saのみが入力された場合の出力信号SOUTを示しており、点線404は、信号Sbのみが入力された場合の出力信号SOUTを示している。
信号Scの立ち下がり時、T201において、信号Scがインバータ220の閾値以下になると、出力信号SOUTは、ローレベルからハイレベルまで立ち上がる。信号Scの立ち上がり時、T202において、信号Scがインバータ220の閾値を超えると、出力信号SOUTは、ハイレベルからローレベルまで立ち下がる。したがって、信号Saと信号Sbの立ち上がりの中間が出力信号SOUTの立ち上がりとなり、信号Saと信号Sbの立ち下がりの中間が出力信号SOUTの立ち下がりとなる。
このように、本実施形態では、差動信号をシングルエンド信号に変換する回路において、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号と、デューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号とを生成し、これらの信号を補間する。すなわち、誤差によるデューティ比の増加分と減少分の平均をとることにより、差動増幅器で生じるデューティ比の誤差を精度よく除去することができる。この2つのシングルエンド信号を生成する変換部100は、差動増幅器とインバータの組み合わせで構成でき、補間部200も、インバータとコンデンサにより構成できるため、複雑な回路を設けることなく、簡易に構成することができる。
また、図10や図11で示したように、差動増幅器から出力される信号Sa1,Sb1の立ち上がりと立ち下がりの傾きの差によって、デューティ比に誤差が生じた場合でも、本実施形態を適用することにより、デューティ比の誤差を除去することができる。したがって、差動増幅器により生じる誤差のみならず、製造ばらつきや環境の変化に起因するデューティ比の誤差も低減することができる。
本実施形態により、差動信号とシングルエンド信号のデューティ比の誤差を低減することができるため、差動信号からクロック信号を生成するようなデューティ比の精度が要求される回路に用いると、特に効果が大きい。例えば、DDR(Double Date Rate)メモリI/F用のDLL(Delay Locked Loop)において、DCD(Duty Cycle Distortion:デューティサイクル歪)と呼ばれる入力信号のデューティ比と出力信号デューティ比の差を示す特性を向上することができる。
発明の実施の形態2.
次に、本発明の実施の形態2にかかる信号変換回路について説明する。本実施形態にかかる信号変換回路は、1つの差動増幅器と複数のインバータにより、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号と、デューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号とを生成し、これらの信号を補間することを特徴としている。
図5は、本実施形態にかかる信号変換回路の構成を示している。図5において、図1と同一の符号を付されたものは同様の要素である。この信号変換回路は、図1の差動増幅器110,120に代えて差動増幅器180を備えている。その他については同様の構成である。
差動増幅器180は、入力される差動信号を変換し、デューティ比が誤差βを含む信号Sa1,Sa2を出力する。すなわち、差動増幅器180は、反転入力信号SINBと同相のSa1を出力するとともに、入力信号SINと同相のSa2を出力する。各信号のデューティ比は、実施の形態1と同様であり、例えば、信号Sa1のデューティ比は、100−α−β[%]、信号Sa2のデューティ比は、α−β[%]である。
差動増幅器180は、図に示されるように、PチャネルMOSトランジスタP181,P182とNチャネルMOSトランジスタN181,N182を有している。PチャネルMOSトランジスタP181とNチャネルMOSトランジスタN181、PチャネルMOSトランジスタP182とNチャネルMOSトランジスタN182は、それぞれ、電源電位と接地電位の間に縦に直列に接続されている。NチャネルMOSトランジスタN181,N182の各ソースは、接地電位に接続され、PチャネルMOSトランジスタP181,P182の各ソースは、電源電位に接続されている。NチャネルMOSトランジスタN181,N182の各ドレインと、PチャネルMOSトランジスタP181,P182の各ドレインがそれぞれ互いに接続されている。PチャネルMOSトランジスタP181のゲートは、PチャネルMOSトランジスタP182とNチャネルMOSトランジスタN182の中間ノードに接続され、PチャネルMOSトランジスタP182のゲートは、PチャネルMOSトランジスタP181とNチャネルMOSトランジスタN181の中間ノードに接続されている。そして、PチャネルMOSトランジスタP182とNチャネルMOSトランジスタN182の中間ノードである出力ノード180aから信号Sa1が出力され、PチャネルMOSトランジスタP181とNチャネルMOSトランジスタN181の中間ノードである出力ノード180bから信号Sb1が出力される。
本実施形態の動作や信号は、実施の形態1と同様であり、差動増幅器180から出力される信号Sa1,Sb1は、図3のようになる。信号Sa1,Sb1の立ち上がりや立ち下がりの差も同様である。例えば、信号Sa1では、反転入力信号SINBが立ち上がると、NチャネルMOSトランジスタN181が導通してドレイン電位が低下し、PチャネルMOSトランジスタP182が導通して信号Sa1のレベルが増加する。反転入力信号SINBが立ち下がると(入力信号SINが立ち上がると)、NチャネルMOSトランジスタN182が導通してドレイン電位が低下し、信号Sa1のレベルが低下する。信号Sb1では、入力信号SINが立ち上がると、NチャネルMOSトランジスタN182が導通してドレイン電位が低下し、PチャネルMOSトランジスタP181が導通して信号Sb1のレベルが増加する。入力信号SINが立ち下がると(反転入力信号SINBが立ち上がると)、NチャネルMOSトランジスタN181が導通してドレイン電位が低下し、信号Sb1のレベルが低下する。
このように、本実施形態では、1つの差動増幅器によって、デューティ比が誤差分だけ大きいシングルエンド信号と、デューティ比が誤差分だけ小さいシングルエンド信号とを生成する。この場合でも、実施の形態1と同様に、デューティ比の誤差を低減することができる。
実施の形態1と実施の形態2を比較すると、実施の形態1では、差動増幅器110,120が、出力ノードの電位に影響されず入力信号の電位のみで動作するので高速に動作し、高周波信号にも対応できるが、カレントミラー回路に電流が流れやすいため、消費電力が高い。実施の形態2では、差動増幅器180が、一方の出力ノードの電位により他方のPチャネルMOSトランジスタが動作するので、高速には動作することはできないが、不要な電流が流れないため消費電力が低い。したがって、高速動作が要求されるような装置では、実施の形態1の回路を適用することが好ましく、低消費電力が要求されるような装置では、実施の形態2の回路を適用することが好ましい。
その他の発明の実施の形態.
尚、上述の例では、2種類の差動増幅器を用いて説明したが、デューティ比が誤差βを含み互いに反転した信号Sa1,Sb1を生成できれば、これに限らず、その他の構成の差動増幅器でもよい。
上述の例では、変換部100に、5つのインバータを設けたが、変換部100から信号Sa,Sbが出力できれば、任意の数のインバータでもよい。これらのインバータは、差動増幅器の出力信号の波形の傾きをより大きく整形するために設けられているが、例えば、インバータ150のみとしても動作可能である。この場合、信号Sa1がインバータ150に入力され、信号Sb1がそのまま信号Sbとして補間部200に入力される。また、例えば、インバータ130,140やインバータ160,170を偶数回反転動作を行うインバータ群としてこのインバータ群を複数設けてもよい。
このほか、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変形、実施が可能である。
本発明にかかる信号変換回路の構成を示す回路図である。 本発明にかかる信号変換回路の各信号の波形を示す図である。 本発明にかかる信号変換回路の各信号の波形を示す図である。 本発明にかかる信号変換回路の各信号の波形を示す図である。 本発明にかかる信号変換回路の構成を示す回路図である。 従来の信号変換回路の構成を示す回路図である。 従来の信号変換回路の構成を示す回路図である。 従来の信号変換回路の各信号の波形を示す図である。 従来の信号変換回路の各信号の波形を示す図である。 従来の信号変換回路の各信号の波形を示す図である。 従来の信号変換回路の各信号の波形を示す図である。
符号の説明
100 変換部
101,102 入力端子
103 出力端子
110,120 差動増幅器
130,140,150,160,170 インバータ
N111,N112,N121,N122,N131,N141,N151,N161,N171 NチャネルMOSトランジスタ
P111,P112,P121,P122,P131,P141,P151,P161,P171 PチャネルMOSトランジスタ
200 補間部
210 コンデンサ
220 インバータ
N201,N202,N203 NチャネルMOSトランジスタ
P201,P202,P203 PチャネルMOSトランジスタ

Claims (10)

  1. 入力される差動信号をシングルエンド信号に変換する信号変換回路であって、
    前記差動信号を差動増幅し、シングルエンド信号である第1の正転信号と前記第1の正転信号を反転した第1の反転信号を生成する差動増幅回路と、
    前記第1の反転信号を反転した第2の正転信号を生成する第1のインバータと、
    前記第1の正転信号と前記第2の正転信号の位相差を補間する補間回路とを有する、
    信号変換回路。
  2. 前記差動増幅回路は、
    前記第1の正転信号を生成する第1の差動対と、
    前記第1の反転信号を生成する第2の差動対とを有する、
    請求項1に記載の信号変換回路。
  3. 前記第1及び第2の差動対は、
    前記差動信号の一方の信号を制御端子に入力する第1のトランジスタと、
    前記第1のトランジスタと縦に接続された第2のトランジスタと、
    前記差動信号の他方の信号を制御端子に入力する第3のトランジスタと、
    前記第2のトランジスタとカレントミラー接続されるとともに、前記第3のトランジスタと縦に接続される前記第4のトランジスタとを有し、
    前記第3のトランジスタと前記第4のトランジスタの中間ノードから前記第1の正転信号もしくは前記第1の反転信号を出力する、
    請求項2に記載の信号変換回路。
  4. 前記差動増幅回路は、
    一方の出力端子から前記第1の正転信号を出力し、他方の出力端子から前記第1の反転信号を出力する差動対を有する、
    請求項1に記載の信号変換回路。
  5. 前記差動対は、
    前記差動信号の一方の信号を制御端子に入力する第1のトランジスタと、
    前記第1のトランジスタと縦に接続された第2のトランジスタと、
    前記差動信号の他方の信号を制御端子に入力する第3のトランジスタと、
    前記第3のトランジスタと縦に接続される前記第4のトランジスタとを有し、
    前記第1のトランジスタと前記第2のトランジスタの中間ノードは、前記第4のトランジスタの制御端子に接続されるとともに、前記第1の正転信号もしくは前記第1の反転信号を出力する、
    前記第3のトランジスタと前記第4のトランジスタの中間ノードは、前記第2のトランジスタの制御端子に接続されるとともに、前記第1の正転信号もしくは前記第1の反転信号を出力する、
    請求項4に記載の信号変換回路。
  6. 前記第1の正転信号を偶数回反転させ前記補間回路へ入力する第1のインバータ群と、
    前記第1の反転信号を偶数回反転させ前記第1のインバータへ入力する第2のインバータ群とをさらに有する、
    請求項1乃至5のいずれか一つに記載の信号変換回路。
  7. 前記補間回路は、
    前記第1の正転信号に応じて反転動作する第1の補間用インバータと、
    前記第2の正転信号に応じて反転動作する第2の補間用インバータと、
    前記第1及び第2の補間用インバータの出力信号に応じて充放電を行うコンデンサとを有する、
    請求項1乃至6のいずれか一つに記載の信号変換回路。
  8. 前記補間回路は、
    前記第1の正転信号を制御端子に入力する第1及び第2の補間用トランジスタと、
    前記第2の正転信号を制御端子に入力する第3及び第4の補間用トランジスタと、
    前記第1の補間用トランジスタと前記第3の補間用トランジスタを並列に接続した第1の並列回路と、
    前記第2の補間用トランジスタと前記第4の補間用トランジスタを並列に接続するとともに、前記第1の並列回路と直列に接続される第2の並列回路と、
    前記第1の並列回路と前記第2の並列回路の中間ノードに接続されたコンデンサとを有する、
    請求項1乃至6のいずれか一つに記載の信号変換回路。
  9. 前記補間回路は、
    前記コンデンサの充放電に応じて反転動作する第3の補間用インバータをさらに有する、
    請求項7又は8に記載の信号変換回路。
  10. 入力される差動信号を、デューティ比が誤差分だけ大きい第1のシングルエンド信号とデューティ比が誤差分だけ小さい第2のシングルエンド信号とに変換する変換部と、
    前記第1のシングルエンド信号と前記第2のシングルエンド信号のデューティ比の差を補間する補間部とを有する、
    信号変換回路。

JP2005161432A 2005-06-01 2005-06-01 信号変換回路 Expired - Fee Related JP4668690B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005161432A JP4668690B2 (ja) 2005-06-01 2005-06-01 信号変換回路
US11/443,064 US7564293B2 (en) 2005-06-01 2006-05-31 Signal conversion circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005161432A JP4668690B2 (ja) 2005-06-01 2005-06-01 信号変換回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006339973A true JP2006339973A (ja) 2006-12-14
JP4668690B2 JP4668690B2 (ja) 2011-04-13

Family

ID=37034596

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005161432A Expired - Fee Related JP4668690B2 (ja) 2005-06-01 2005-06-01 信号変換回路

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7564293B2 (ja)
JP (1) JP4668690B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7375550B1 (en) * 2005-07-15 2008-05-20 Tabula, Inc. Configurable IC with packet switch configuration network
US8107910B2 (en) * 2007-08-29 2012-01-31 Qualcomm, Incorporated Differential to single-ended conversion for radio frequency devices
US7859295B2 (en) * 2008-06-18 2010-12-28 Micron Technology, Inc. Transmitter apparatus, systems, and methods
US9407245B2 (en) * 2014-06-30 2016-08-02 Intel IP Corporation System for digitally controlled edge interpolator linearization
CN110838844B (zh) * 2019-11-15 2023-09-05 湖南国科微电子股份有限公司 差分信号转单端信号电路、锁相环和serdes电路

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS613508A (ja) * 1984-06-15 1986-01-09 Pioneer Electronic Corp プツシユプル増幅回路
JPH08307236A (ja) * 1995-05-08 1996-11-22 Hitachi Ltd ドライブ装置とこのドライブ装置を用いた半導体装置
JPH0974340A (ja) * 1995-09-04 1997-03-18 Toshiba Corp コンパレータ回路
JPH1013210A (ja) * 1996-03-12 1998-01-16 Lsi Logic Corp 交差電圧調節機能を備えた差動−cmosレベル変換器
JP2000286648A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2001326564A (ja) * 2000-05-12 2001-11-22 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JP2002319854A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Nec Microsystems Ltd 差動入力回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8901033A (nl) * 1989-04-25 1990-11-16 Philips Nv Stuurschakeling voor ten minste een klokelektrode van een geintegreerd circuit.
KR100272167B1 (ko) * 1998-07-13 2000-11-15 윤종용 동기식 반도체 메모리 장치의 기준 신호 발생 회로
US6154066A (en) * 1998-12-15 2000-11-28 Oak Technology, Inc. Apparatus and method for interfacing integrated circuits having incompatible I/O signal levels
JP4342111B2 (ja) * 2001-01-30 2009-10-14 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 電流パルス受信回路
US7202714B2 (en) * 2003-05-12 2007-04-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Amplifier circuit with output delay selectively changed according to common mode voltage level, associated replica delay circuit and internal clock generator
TWI227965B (en) * 2004-02-05 2005-02-11 Integrated Technology Express True/complement-phase logic signal pair generation device
US7157944B1 (en) * 2004-04-27 2007-01-02 Altera Corporation Differential signal detector methods and apparatus
JP4401236B2 (ja) * 2004-05-07 2010-01-20 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 信号検出回路および信号検出方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS613508A (ja) * 1984-06-15 1986-01-09 Pioneer Electronic Corp プツシユプル増幅回路
JPH08307236A (ja) * 1995-05-08 1996-11-22 Hitachi Ltd ドライブ装置とこのドライブ装置を用いた半導体装置
JPH0974340A (ja) * 1995-09-04 1997-03-18 Toshiba Corp コンパレータ回路
JPH1013210A (ja) * 1996-03-12 1998-01-16 Lsi Logic Corp 交差電圧調節機能を備えた差動−cmosレベル変換器
JP2000286648A (ja) * 1999-03-31 2000-10-13 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2001326564A (ja) * 2000-05-12 2001-11-22 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JP2002319854A (ja) * 2001-04-20 2002-10-31 Nec Microsystems Ltd 差動入力回路

Also Published As

Publication number Publication date
US20060214719A1 (en) 2006-09-28
US7564293B2 (en) 2009-07-21
JP4668690B2 (ja) 2011-04-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5412639B2 (ja) 比較器及びアナログデジタル変換器
KR101311726B1 (ko) 센스 앰프 회로, 이를 포함하는 반도체 메모리 장치 및신호 증폭 방법
JP4349445B2 (ja) フラッシュ型ad変換器
KR101120047B1 (ko) 단일 신호-차동 신호 변환기 및 변환 방법
JP4666346B2 (ja) 電圧比較器
JP2005354266A (ja) 電圧比較器回路
JP4668690B2 (ja) 信号変換回路
JP4342548B2 (ja) プリアンプラッチコンパレータ
JP5625955B2 (ja) 増幅回路及びその増幅回路を含むアナログデジタル変換回路
JP3625881B2 (ja) バスシステム及びバスセンスアンプ
JP2011050004A (ja) 半導体装置及び位相検知回路
US8324950B2 (en) Schmitt trigger circuit operated based on pulse width
TWI401890B (zh) 電壓位準轉換電路
KR20010039393A (ko) 부스팅 커패시터를 구비하는 입력버퍼 회로
JP4491730B2 (ja) 一定遅延零待機の差動論理レシーバおよび方法
JP4658868B2 (ja) 増幅回路
CN110635790B (zh) 一种电压型迟滞比较器
EP3070845B1 (en) Comparison circuit
US20130002350A1 (en) Differential Comparator
JP3426594B2 (ja) 入力バッファ回路
JP2020195032A (ja) 半導体装置及びそれを備えた半導体システム
JP6223722B2 (ja) 電圧検出回路
KR101096197B1 (ko) 다단 차동증폭회로 및 반도체 장치의 입력버퍼
US11961580B2 (en) Sense amplifier and method thereof
JP2012109774A (ja) サンプルホールド回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080513

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101019

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101026

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101215

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110111

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140121

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4668690

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees