JP2006303150A - メモリ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】メモリ装置は、抵抗変化型のメモリセルMがマトリックス状に配置されたメモリセルアレイ1と、ワード線W1〜Wmと、ビット線B1〜Bnと、プレート電極線P1〜Pnと、トランジスタTとを有する。このメモリ装置において、ビット線B1〜Bnとプレート電極線P1〜Pnとを共に列方向に配置し、かつビット線B1〜Bnの各々における両端間の抵抗値とプレート電極線P1〜Pnの各々における両端間の抵抗値とを同一にする。
【選択図】 図1
Description
また、本発明のメモリ装置の1構成例は、前記ビット線と前記プレート電極線との間で、配線材料と配線長さと配線幅と配線厚みのうち少なくとも2つを異ならせることにより、前記ビット線の両端間の抵抗値と前記プレート電極線の両端間の抵抗値とを同一としたものである。
また、本発明のメモリ装置の1構成例は、前記ビット線と前記プレート電極線との間で、配線材料と配線長さと配線幅と配線厚みとを同じにすることにより、前記ビット線の両端間の抵抗値と前記プレート電極線の両端間の抵抗値とを同一としたものである。
なお、各ビット線B1〜Bnの長さとは、ビット線選択回路2(正確にはビット線選択回路2内の図示しない電源)から各ビット線B1〜Bnの先端までの長さであり、各プレート電極線P1〜Pnの長さとは、各プレート電極線P1〜Pnの先端から読み出し回路4(正確には読み出し回路4内のグランド)までの長さである。
Claims (3)
- 電気抵抗の変化によって情報を記憶する抵抗変化型のメモリセルを用いたメモリ装置において、
複数の前記メモリセルが2次元マトリクス状に配置されたメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイの行毎に設けられたワード線と、
前記メモリセルアレイの列毎に設けられたビット線と、
前記メモリセルアレイの列毎に設けられ、対応する列のメモリセルの一端に接続されたプレート電極線と、
前記メモリセルアレイの行毎及び列毎に設けられ、ゲートが対応する行のワード線に接続され、ドレインが対応する列のビット線に接続され、ソースが対応する行及び列のメモリセルの他端に接続されたトランジスタとを有し、
前記ビット線の各々における両端間の抵抗値と前記プレート電極線の各々における両端間の抵抗値とが同一であることを特徴とするメモリ装置。 - 請求項1記載のメモリ装置において、
前記ビット線と前記プレート電極線との間で、配線材料と配線長さと配線幅と配線厚みのうち少なくとも2つを異ならせることにより、前記ビット線の両端間の抵抗値と前記プレート電極線の両端間の抵抗値とを同一としたことを特徴とするメモリ装置。 - 請求項1記載のメモリ装置において、
前記ビット線と前記プレート電極線との間で、配線材料と配線長さと配線幅と配線厚みとを同じにすることにより、前記ビット線の両端間の抵抗値と前記プレート電極線の両端間の抵抗値とを同一としたことを特徴とするメモリ装置。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010081172A (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Toshiba Corp | プログラマブル論理回路 |
JP4606520B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2011-01-05 | パナソニック株式会社 | 抵抗変化型不揮発性記憶装置 |
US8369136B2 (en) | 2009-05-14 | 2013-02-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Resistive memory employing different pulse width signals for reading different memory cells |
WO2014080616A1 (ja) * | 2012-11-20 | 2014-05-30 | パナソニック株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2014229328A (ja) * | 2013-05-21 | 2014-12-08 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
WO2016198965A1 (en) * | 2015-06-10 | 2016-12-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Resistance change memory |
US10950278B2 (en) | 2019-03-20 | 2021-03-16 | Toshiba Memory Corporation | Nonvolatile memory device including memory element in equal cross-sectional area of word lines and bit lines |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001135085A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-05-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 強誘電体メモリ装置およびセンスアンプの起動タイミング設定方法 |
JP2002170377A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜磁性体記憶装置 |
JP2002170376A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜磁性体記憶装置 |
JP2005510005A (ja) * | 2001-11-20 | 2005-04-14 | マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド | コンプリメンタリ・ビットpcramセンス増幅器及びその動作方法 |
JP2006294206A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-10-26 | Renesas Technology Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
-
2005
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001135085A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-05-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 強誘電体メモリ装置およびセンスアンプの起動タイミング設定方法 |
JP2002170377A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜磁性体記憶装置 |
JP2002170376A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 薄膜磁性体記憶装置 |
JP2005510005A (ja) * | 2001-11-20 | 2005-04-14 | マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド | コンプリメンタリ・ビットpcramセンス増幅器及びその動作方法 |
JP2006294206A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-10-26 | Renesas Technology Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010081172A (ja) * | 2008-09-25 | 2010-04-08 | Toshiba Corp | プログラマブル論理回路 |
JP4606520B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2011-01-05 | パナソニック株式会社 | 抵抗変化型不揮発性記憶装置 |
JPWO2010109803A1 (ja) * | 2009-03-25 | 2012-09-27 | パナソニック株式会社 | 抵抗変化型不揮発性記憶装置 |
US8369136B2 (en) | 2009-05-14 | 2013-02-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Resistive memory employing different pulse width signals for reading different memory cells |
JPWO2014080616A1 (ja) * | 2012-11-20 | 2017-01-05 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
US9478283B2 (en) | 2012-11-20 | 2016-10-25 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Nonvolatile semiconductor storage device having improved reading and writing speed characteristics |
WO2014080616A1 (ja) * | 2012-11-20 | 2014-05-30 | パナソニック株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2014229328A (ja) * | 2013-05-21 | 2014-12-08 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
WO2016198965A1 (en) * | 2015-06-10 | 2016-12-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Resistance change memory |
TWI627772B (zh) * | 2015-06-10 | 2018-06-21 | 東芝記憶體股份有限公司 | 電阻變化記憶體 |
JP2018521500A (ja) * | 2015-06-10 | 2018-08-02 | 東芝メモリ株式会社 | 抵抗変化メモリ |
CN108885893A (zh) * | 2015-06-10 | 2018-11-23 | 东芝存储器株式会社 | 阻变存储器 |
US10311929B2 (en) | 2015-06-10 | 2019-06-04 | Toshiba Memory Corporation | Resistance change memory |
RU2702271C2 (ru) * | 2015-06-10 | 2019-10-07 | Тосиба Мемори Корпорейшн | Запоминающее устройство с изменением сопротивления |
CN108885893B (zh) * | 2015-06-10 | 2022-05-06 | 铠侠股份有限公司 | 阻变存储器 |
US10950278B2 (en) | 2019-03-20 | 2021-03-16 | Toshiba Memory Corporation | Nonvolatile memory device including memory element in equal cross-sectional area of word lines and bit lines |
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