JP2006300994A - Resist recovering apparatus - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a resist recovering apparatus in which (1) resist recovering efficiency is enhanced, so that the lifetime of an alkali solution is extended and cleaning work is made simple and easy, (2) it is made unnecessary to add a defoaming agent, so that the occurrence of a defective circuit board is prevented, (3) clogging is prevented, so that mesh density can be made high, and (4) the apparatus is made smaller in size. <P>SOLUTION: The resist recovering apparatus 11 is used in a process of producing a circuit board to separate and recover a photosensitive resist A from a mixture D of the resist A and an alkali solution B, and comprises a liquid pre-removal section 13, a resist concentration section 14, a resist recovery section 15 and a scum recovery section 30. In the liquid pre-removal section 13, the alkali solution B is separated and recovered from the mixture D. In the resist concentration section 14, the resist A is concentrated and the alkali solution B is separated and recovered. In the resist recovery section 15, the resist A is collected and recovered and the the alkali solution B is separated and recovered. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、レジスト回収装置に関する。すなわち、回路基板の製造工程おいて、現像機や剥離機に付設され、現像液や剥離液等のアルカリ溶液と感光性のレジストとを、混合体から分離,回収する、レジスト回収装置に関するものである。   The present invention relates to a resist collection apparatus. That is, the present invention relates to a resist recovery apparatus that is attached to a developing machine or a peeling machine and separates and collects an alkaline solution such as a developer or a peeling liquid and a photosensitive resist in a circuit board manufacturing process. is there.

《技術的背景》
電子機器の高性能化,高機能化,小型軽量化に伴い、プリント配線基板等の回路基板も、高精度化,ファイン化,極薄化,多様化が進み、形成される回路の高密度化,微細化が著しい。
そして、このような回路基板の製造工程では、銅張り積層板たる基板材の外表面に、感光性のレジストを膜状に塗布又は張り付けてから、→回路のネガフィルムを当てて、露光した後、→回路形成部分以外のレジストを、現象により溶解除去し、→回路形成部分以外の銅箔を、エッチングにより溶解除去してから、→回路形成部分のレジストを、剥膜除去することにより、→基板材の外表面に、銅箔にて回路が形成され、→もって、回路基板が製造されている。
《Technical background》
As electronic devices become more sophisticated, more functional, smaller and lighter, printed circuit boards and other circuit boards are becoming more accurate, finer, thinner, and more diverse, resulting in higher circuit density. , The miniaturization is remarkable.
And in such a circuit board manufacturing process, after applying or pasting a photosensitive resist in the form of a film on the outer surface of the substrate material, which is a copper-clad laminate, → after applying a negative film of the circuit and exposing → The resist other than the circuit forming part is dissolved and removed by the phenomenon, → The copper foil other than the circuit forming part is dissolved and removed by etching, and then the resist of the circuit forming part is removed by stripping → A circuit is formed of copper foil on the outer surface of the substrate material, and thus a circuit board is manufactured.

《従来技術》
図4は、この種従来例の説明に供し、正断面説明図である。同図にも示したように、上述した現像工程や剥膜工程では、現像機1や剥離機2が用いられており、回路形成部分以外のレジストAや、硬化して残っていた回路形成部分のレジストAが、→現像液や剥離液等のアルカリ溶液Bを、噴射することにより、→基板材Cの外表面から、溶解除去,剥膜除去される。
→そして、このように現像機1や剥離機2にて使用されたアルカリ溶液Bと、感光膜として用いられた後に除去された小さな破片状のレジストAとは、→混じり合った混合体Dとなって、流下する。
→そこで、このような混合体Dを、現像機1や剥離機2から、付設されたレジスト回収装置3に供給して、アルカリ溶液BとレジストAを分離し、→現像液や剥離液等のアルカリ溶液Bは、現像機1や剥離機2に循環供給されて再使用され、レジストAは廃棄されている。
<Conventional technology>
FIG. 4 is a front sectional view for explaining this type of conventional example. As shown in the figure, in the development process and the film peeling process described above, the developing machine 1 and the peeling machine 2 are used, and the resist A other than the circuit formation part and the circuit formation part left after being cured. The resist A is sprayed with an alkaline solution B such as a developing solution or a stripping solution, and dissolved and removed from the outer surface of the substrate material C.
→ And the alkaline solution B used in the developing machine 1 and the peeling machine 2 in this way and the small fragment-like resist A removed after being used as the photosensitive film → the mixed mixture D and It will flow down.
→ Therefore, such a mixture D is supplied from the developing machine 1 or the peeling machine 2 to the attached resist collecting device 3 to separate the alkaline solution B and the resist A. The alkaline solution B is circulated and supplied to the developing machine 1 and the peeling machine 2 and reused, and the resist A is discarded.

そして、この種のレジスト回収装置3としては、図4に示したフィルター4式や網目ドラム式のものが、代表的に使用されていた。
すなわち、この種従来例のレジスト回収装置2では、混合体Dを、現像機1や剥離機2のチャンバー5の下部の液槽6から、→ポンプ7や配管8を介して、フィルター4や網目ドラムに供給し、→もって、フィルター4や網目ドラムを通過することにより、濾過,分離する。→そして、回収された現像液や剥離液等のアルカリ溶液Bは、配管8を介して、現像機1や剥離機2のスプレーノズル9に供給して、噴射,再使用し、フィルター4や網目ドラムを通過しなかったレジストAは、捕集,回収,廃棄していた。
図中10は、現像機1や剥離機2において、基板材Cを搬送するローラーコンベヤである。
As this type of resist recovery apparatus 3, a filter 4 type or mesh drum type shown in FIG. 4 has been typically used.
That is, in this type of conventional resist recovery apparatus 2, the mixture D is removed from the liquid tank 6 below the chamber 5 of the developing machine 1 and the peeling machine 2, through the pump 7 and the pipe 8, through the filter 4 and the mesh. It is supplied to the drum and then filtered and separated by passing through the filter 4 and the mesh drum. → Then, the recovered alkaline solution B such as developer or stripper is supplied to the spray nozzle 9 of the developer 1 or stripper 2 via the pipe 8 and sprayed, reused, and the filter 4 or mesh Resist A that did not pass through the drum was collected, recovered, and discarded.
In the drawing, reference numeral 10 denotes a roller conveyor that conveys the substrate material C in the developing machine 1 and the peeling machine 2.

《先行技術文献情報》
このような従来例としては、例えば、次の特許文献1の従来技術欄に示されたものが、挙げられる。
特開2004−325502号公報
《Information on prior art documents》
As such a conventional example, for example, the one shown in the prior art column of the following Patent Document 1 can be cited.
JP 2004-325502 A

ところで、このような従来例のレジスト回収装置3については、次の問題が指摘されていた。
《第1の問題点》
第1に、レジストAとアルカリ溶液Bとの分離,回収が不確実であり、レジストAの回収効率が悪く、アルカリ溶液Bの消耗が激しい、という問題が指摘されていた。
すなわち、回路基板は、高精度化,ファイン化,極薄化が進み、形成される回路の高密度化,微細化が著しい。→もって、このような回路形成部分や回路形成部分以外から除去されたレジストAも、微細化が著しい。
→そこで、従来のフィルター4式や網目ドラム式のレジスト回収装置3では、混合体D中からレジストAを濾過,分離,捕集,回収することが、最近ますます容易でなく、不確実化,困難化する傾向にある。
By the way, the following problems have been pointed out with respect to such a conventional resist collecting apparatus 3.
<First problem>
First, it has been pointed out that the separation and recovery of the resist A and the alkaline solution B are uncertain, the recovery efficiency of the resist A is poor, and the alkaline solution B is consumed very much.
In other words, circuit boards are becoming more accurate, finer, and extremely thin, and the density and miniaturization of circuits formed are remarkable. Therefore, the resist A removed from such a circuit forming part and other parts than the circuit forming part is remarkably miniaturized.
→ Thus, with the conventional filter 4 type or mesh drum type resist collecting device 3, it is not easy to filter, separate, collect and collect the resist A from the mixture D recently. It tends to be difficult.

→従って、レジスト回収装置3を経て回収された現像液や剥離液等のアルカリ溶液B中には、レジストAが多量に混入しやすい状態にある。→そこで、このようなアルカリ溶液Bは、現像機1や剥離機2に循環供給して再使用を繰り返すと、→本来機能である基板材CからのレジストAの溶解除去,剥膜除去機能が、次第に低下してしまうことになる。
→もって、現像機1の現像液や剥離機2の剥離液等のアルカリ溶液Bは、ライフ寿命が短く、新鮮液の補充頻度や新鮮液への交換頻度が高くなり、その分、コスト負担も大きくなっていた。例えば、1週間に1回程度の交換が必要とされていた。
又、現像機1や剥離機2にレジストAが混入したアルカリ溶液Bを、循環供給して繰り返し使用していると、→レジストAが白濁化,クリーム状化,のり状化して、→液槽6内壁に沈澱,付着してしまい、配管8その他の目詰まりの原因ともなる。→そこで、その清掃や除去作業が行われているが、非常に面倒であり手間や時間を要していた。
Therefore, the resist A is likely to be mixed in a large amount in the alkaline solution B such as the developer and the stripping solution recovered through the resist recovery device 3. → Therefore, when such an alkaline solution B is circulated and supplied to the developing machine 1 or the peeling machine 2 and reused repeatedly, the functions of dissolving and removing the resist A from the substrate material C, which are the original functions, are removed. It will gradually decline.
→ As a result, the alkaline solution B such as the developing solution of the developing machine 1 or the peeling liquid of the peeling machine 2 has a short life life, and the frequency of replenishing and replacing the fresh liquid becomes high. It was getting bigger. For example, it was necessary to exchange about once a week.
In addition, when the alkaline solution B mixed with the resist A is circulated and repeatedly used in the developing machine 1 and the peeling machine 2, the resist A becomes white turbid, creamy, glued, and the liquid tank. 6 precipitates on and adheres to the inner wall, causing clogging of the pipe 8 and others. → Therefore, the cleaning and removal work is being carried out, but it is very troublesome and takes time and effort.

《第2の問題点》
第2に、現像液や剥離液等のアルカリ溶液Bには、従来より消泡剤が添加されているが、この消泡剤は、基板材Cの回路形成に悪影響を及ぼし、回路基板の不良原因となる、という問題が指摘されていた。
すなわち、現像機や剥離機では、スプレーノズル9から基板材Cに対し、現像液や剥離液等のアルカリ溶液Bが噴射される。→そこで、基板材C付近では、噴射に伴いアルカリ溶液Bの泡が発生するが、→この泡が、混合体Dと共にレジスト回収装置3のフィルター4や網目ドラムに、流れ込むと、→この泡にて、レジストAが液面に浮いてしまい、→レジストAの分離,回収が不確化し、レジストAの回収効率が低下してしまう。
→そこでその対策として、従来は、予めアルカリ溶液Bに消泡剤、例えばエマルジョンタイプのエーテル型油質の消泡剤が、添加されていた。
→しかしながら、このように添加された消泡剤が、基板材Cの処理に悪影響を及ぼし、現像不良,エッチング不良,剥離不良が生じ易くなり、→製造される回路基板に、不良品が発生していた。
<< Second problem >>
Secondly, an antifoaming agent has been added to the alkaline solution B such as a developing solution or a stripping solution, but this defoaming agent has an adverse effect on the circuit formation of the substrate material C, and the circuit board is defective. The problem of being the cause was pointed out.
That is, in the developing machine or the peeling machine, an alkaline solution B such as a developer or a peeling liquid is sprayed from the spray nozzle 9 to the substrate material C. → Therefore, in the vicinity of the substrate material C, bubbles of the alkaline solution B are generated as a result of spraying. → When this bubbles flows into the filter 4 and the mesh drum of the resist recovery device 3 together with the mixture D, → As a result, the resist A floats on the liquid surface, and the separation and recovery of the resist A become uncertain, and the recovery efficiency of the resist A decreases.
Therefore, as a countermeasure, conventionally, an antifoaming agent, for example, an emulsion type ether type oily defoaming agent has been added to the alkaline solution B in advance.
→ However, the antifoaming agent added in this way has an adverse effect on the processing of the substrate material C, and development defects, etching defects and peeling defects are likely to occur. → A defective product is generated on the manufactured circuit board. It was.

《第3の問題点》
第3に、レジスト回収装置3のフィルター4や網目ドラムについて、目詰まりが発生し易く、もって、フィルター4や網目ドラムの交換頻度やメインテナンス頻度が高く、コストがかさむという問題が指摘されていた。
すなわち、前記第1の問題への対応策、つまり微細化が進むレジストAの濾過,分離,回収を確実化し、レジストAの回収効率を向上させる対応策としては、→レジスト回収装置3について、目がより密なフィルター4や網目ドラムを、採用することが必要となる。→しかしながらその結果、フィルター4や網目ドラムに、レジストAが捕集,蓄積されて、詰まり易かった。
因に、従来のレジスト回収装置3では、網目について、1インチ(25.4mm)当たりの網目数で20メッシュ程度が限界とされており、微細なレジストA回収にとって十分ではないと共に、目詰まりも多発していた。
《Third problem》
Thirdly, it has been pointed out that the filter 4 and the mesh drum of the resist collecting apparatus 3 are likely to be clogged, and the filter 4 and the mesh drum are frequently exchanged and maintained frequently, resulting in high costs.
That is, as a countermeasure for the first problem, that is, a countermeasure for ensuring the filtration, separation and recovery of the resist A which is becoming finer and improving the recovery efficiency of the resist A, However, it is necessary to employ a filter 4 or a mesh drum that is denser. → However, as a result, the resist A was collected and accumulated in the filter 4 and the mesh drum, and clogged easily.
Incidentally, in the conventional resist collecting apparatus 3, the mesh is limited to about 20 meshes per inch (25.4 mm), which is not sufficient for collecting the fine resist A, and clogging is also caused. It occurred frequently.

《第4の問題点》
第4に、レジスト回収装置3が大型化してしまい、据付スペースを取ると共に、コスト高となる、という問題も指摘されていた。
すなわち、従来のレジスト回収装置3では、現像機1や剥離機2から供給された混合体Dを、→フィルター4や網目ドラムにて、一度に濾過,分離して、→レジストAを捕集しアルカリ溶液Bを回収していた。
つまり、供給された多量の混合体Dを、→1回の処理で一挙に濾過,分離していたので、→どうしても、レジスト回収装置3が大型化してしまっていた。
《Fourth problem》
Fourthly, it has been pointed out that the resist collection device 3 is enlarged, which takes up installation space and increases the cost.
That is, in the conventional resist collecting apparatus 3, the mixture D supplied from the developing machine 1 or the peeling machine 2 is filtered and separated at once with a filter 4 or a mesh drum, and then the resist A is collected. Alkaline solution B was recovered.
That is, since a large amount of the supplied mixture D was filtered and separated at once in a single process, the resist collecting apparatus 3 was inevitably increased in size.

《本発明について》
本発明のレジスト回収装置は、このような実情に鑑み、上記従来例の課題を解決すべく、なされたものである。
そして、本発明は、第1に、レジストの回収効率が向上し、第2に、消泡剤の添加が不要化され、第3に、目詰まりが防止され、第4に、装置が小型化される、レジスト回収装置を提案すること、を目的とする。
<< About the present invention >>
In view of such circumstances, the resist recovery apparatus of the present invention has been made in order to solve the problems of the conventional example.
And, according to the present invention, firstly, the resist recovery efficiency is improved, secondly, the addition of an antifoaming agent is not required, thirdly, clogging is prevented, and fourthly, the apparatus is downsized. An object of the present invention is to propose a resist recovery apparatus.

《請求項について》
このような課題を解決する本発明の技術的手段は、次のとおりである。まず、請求項1については次のとおり。
請求項1のレジスト回収装置は、回路基板の製造工程において使用され、供給された噴射後のアルカリ溶液と除去された感光性のレジストとの混合体から、該レジストを回収する。そして、液槽,プレ脱液部,レジスト濃縮部,レジスト回収部を有している。
該プレ脱液部は、該混合体から該アルカリ溶液を分離して、該液槽へと回収させる。該レジスト濃縮部は、該プレ脱液部から供給された該混合体について、該レジストを濃縮すると共に、該アルカリ溶液を分離して該液槽へと回収させる。該レジスト回収部は、該レジスト濃縮部から供給された該混合体について、該レジストを捕集,回収すると共に、該アルカリ溶液を該液槽へと分離,回収させること、を特徴とする。
請求項2については次のとおり。請求項2のレジスト回収装置では、請求項1において、該プレ脱液部は、脱液ネットを備えている。そして、供給された該混合体は、まず該脱液ネット上を流れることにより、かなりの該アルカリ溶液が、分離,落下されて該液槽へと回収される。
該レジスト濃縮部は、該液槽中に立設された略逆円錐状の捕集ネットを備えている。そして、該プレ脱液部の脱液ネット上から供給された該混合体は、該捕集ネット内で下方に向け吸引,流下されることにより、かなりの該アルカリ溶液が、該捕集ネット外に流出し下方に向け吸引,流下されて該液槽へと吸引,回収されると共に、該レジストが、該捕集ネット内下部に向け順次濃縮されて行く。
該レジスト回収部は、濾過ネットを備えている。そして、該レジスト濃縮部の捕集ネット内下部から供給され濃縮された該レジストを含んだ該混合体は、該レジストが、該濾過ネットにて捕集,回収されると共に、該アルカリ溶液が、該液槽へと回収されること、を特徴とする。
<About Claim>
The technical means of the present invention for solving such a problem is as follows. First, claim 1 is as follows.
The resist recovery apparatus according to claim 1 is used in the circuit board manufacturing process, and recovers the resist from the mixture of the supplied sprayed alkaline solution and the removed photosensitive resist. And it has a liquid tank, a pre-liquid removal part, a resist concentration part, and a resist collection | recovery part.
The pre-liquid removal unit separates the alkaline solution from the mixture and collects it in the liquid tank. The resist concentration unit concentrates the resist with respect to the mixture supplied from the pre-liquid removal unit, and separates and recovers the alkaline solution into the liquid tank. The resist collecting unit collects and collects the resist from the mixture supplied from the resist concentrating unit, and separates and collects the alkaline solution into the liquid tank.
Claim 2 is as follows. According to a second aspect of the present invention, the pre-liquid removal unit includes a liquid removal net. The supplied mixture first flows on the dewatering net, so that a considerable amount of the alkaline solution is separated and dropped and recovered into the liquid tank.
The resist concentrating unit includes a substantially inverted conical collection net standing in the liquid tank. Then, the mixture supplied from the drainage net of the pre-drainage section is sucked and flowed downward in the collection net, so that a considerable amount of the alkaline solution is removed from the collection net. The resist flows out into the liquid tank and is sucked and flowed downward to be sucked and collected into the liquid tank, and the resist is successively concentrated toward the lower part of the collection net.
The resist collection unit includes a filtration net. Then, the mixture containing the resist supplied and concentrated from the lower part of the collection net of the resist concentration unit is collected and collected by the filtration net, and the alkaline solution is It is collected in the liquid tank.

請求項3については次のとおり。請求項3のレジスト回収装置は、請求項2において、回路基板の製造工程の現像機に付設され、該アルカリ溶液が現像液よりなること、を特徴とする。
請求項4については次のとおり。請求項4のレジスト回収装置は、請求項2において、回路基板の製造工程の剥離機に付設され、該アルカリ溶液が剥離液よりなること、を特徴とする。
請求項5については次のとおり。請求項5のレジスト回収装置は、請求項3又は4において、更に、泡回収ボックス,液化ノズル,消泡ネットを備えた、泡回収部が配設されている。
そして該泡回収ボックスは、該レジスト濃縮部上に間隔を存して配設され、下面が開放されており、該混合体上部の該アルカリ溶液の泡を吸引する。該液化ノズルは、該泡回収ボックスから供給された該泡を、該消泡ネットへと噴射する。該消泡ネットは、噴射された該泡を液化し該アルカリ溶液に戻して、該液槽へ回収させること、を特徴とする。
Claim 3 is as follows. According to a third aspect of the present invention, there is provided the resist collecting apparatus according to the second aspect, wherein the resist collecting apparatus is attached to a developing machine in a circuit board manufacturing process, and the alkaline solution comprises a developer.
Claim 4 is as follows. According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the resist collecting apparatus according to the second aspect, wherein the resist solution is attached to a peeling machine in a circuit board manufacturing process, and the alkaline solution is made of a peeling solution.
Claim 5 is as follows. According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the resist recovery apparatus according to the third or fourth aspect, further comprising a foam recovery unit including a foam recovery box, a liquefaction nozzle, and a defoaming net.
The foam recovery box is disposed on the resist concentrating portion with a space therebetween, and the lower surface is opened, and sucks the bubbles of the alkaline solution above the mixture. The liquefaction nozzle sprays the foam supplied from the foam recovery box onto the defoaming net. The defoaming net is characterized in that the jetted bubbles are liquefied, returned to the alkaline solution, and collected in the liquid tank.

請求項6については次のとおり。請求項6のレジスト回収装置では、請求項3又は4において、該プレ脱液部は、下降傾斜して配設された該脱液ネットと、該脱液ネット下に上下間隔を存して配設された多孔プレートと、該多孔プレート上に立設された各突起と、を備えた構造よりなる。
そして、該脱液ネット下に落下した該アルカリ溶液は、該多孔プレートと該突起にてバウンド,浮沈運動され、もって該脱液ネットを下から揺らすと共に、該多孔プレート上から該液槽へと落下,回収されること、を特徴とする。
請求項7については次のとおり。請求項7のレジスト回収装置は、請求項3又は4において、該レジスト濃縮部の捕集ネットの外側に、間隔を存して多孔カバーが周設されている。そして、該液槽内の該アルカリ溶液は、該多孔カバー内に流入すると共に、該捕集ネットの外面に沿って下方に向け吸引,流下され、もって該液槽へと吸引,回収されること、を特徴とする。
請求項8については次のとおり。請求項8のレジスト回収装置は、請求項5又は7において、該混合体,該アルカリ溶液,又は該泡を吸引するポンプは、間欠駆動タイプよりなること、を特徴とする。
Claim 6 is as follows. According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the resist collecting apparatus according to the third or fourth aspect, wherein the pre-liquid removal unit is disposed at a vertical interval below the liquid removal net disposed at a downward inclination. It comprises a structure comprising a perforated plate provided and each protrusion standing on the perforated plate.
Then, the alkaline solution dropped under the drainage net is bound and floated by the perforated plate and the protrusion, so that the drainage net is shaken from below, and from above the perforated plate to the liquid tank. It is dropped and collected.
Claim 7 is as follows. According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the resist collecting apparatus according to the third or fourth aspect, wherein a porous cover is provided around the collection net of the resist concentrating portion with a space therebetween. The alkaline solution in the liquid tank flows into the porous cover and is sucked and flowed downward along the outer surface of the collection net, and is sucked and collected into the liquid tank. It is characterized by.
Claim 8 is as follows. The resist collecting apparatus according to an eighth aspect is characterized in that, in the fifth or seventh aspect, the pump for sucking the mixture, the alkaline solution, or the bubbles is of an intermittent drive type.

《作用等》
本発明のレジスト回収装置は、このような手段よりなるので、次のようになる。
(1)回路基板の製造工程において、現像機や剥離機で噴射使用された現像液や剥離液等のアルカリ溶液と、感光膜として用いられ基板材から除去された小さな破片状の感光性レジストとの混合体は、付設されたレジスト回収装置に供給される。
(2)そして混合体は、まず、プレ脱液部の脱液ネット上を流れることにより、かなりの量のアルカリ溶液が、分離,落下されて液槽に回収される。
その際、脱液ネット下に落下したアルカリ溶液が、突起付きの多孔プレートにてバウンド,浮沈運動して、脱液ネットを下から揺らすので、脱液ネットは、常時リフレッシュされ、混合体中のレジストによる目詰まりが防止される。
《Action etc.》
Since the resist recovery apparatus of the present invention comprises such means, it is as follows.
(1) In a circuit board manufacturing process, an alkaline solution such as a developer or a peeling solution sprayed and used in a developing machine or a peeling machine, and a small piece of photosensitive resist removed as a photosensitive film from a substrate material This mixture is supplied to an attached resist collecting apparatus.
(2) First, the mixture flows on the liquid removal net of the pre-liquid removal unit, so that a considerable amount of the alkaline solution is separated and dropped and collected in the liquid tank.
At that time, the alkaline solution that has fallen under the drainage net bounces and floats on the perforated plate with protrusions and shakes the drainage net from below, so the drainage net is constantly refreshed and remains in the mixture. Clogging due to the resist is prevented.

(3)次に混合体は、レジスト濃縮部の捕集ネットに供給され、略逆円錐状の捕集ネット内を、下方に吸引,流下される。もって、かなりの量のアルカリ溶液が、捕集ネット外に流出して下方に吸引,流下されて液槽へと吸引,回収され、レジストが、捕集ネット下部に向け順次集められ,濃縮されて行く。
(4)捕集ネットの外側には、多孔カバーが周設されており、液槽内のアルカリ溶液が、多孔カバーを介し、捕集ネット外面に沿って下方に吸引,流下され、もって捕集ネット内から流出したアルカリ溶液と共に、液槽へと吸引,回収される。
このようにして、捕集ネット内外には、同方向,同圧の流れが形成されるので、混合体中のレジストによる捕集ネットの目詰まりが防止される。
(5)さて、濃縮されたレジストを含んだ混合体は、それから、捕集ネット下部からレジスト回収部に供給され、レジストが濾過ネットにて捕集,回収されると共に、アルカリ溶液が液槽へと回収される。
(6)なお、混合体やアルカリ溶液を吸引するポンプについて、間欠駆動タイプを採用すると、捕集ネットや濾過ネットが、混合体中のレジストにて目詰まりすることが、より確実に防止される。
(3) Next, the mixture is supplied to the collection net of the resist concentrating portion, and is sucked and flowed downward in the collection net having a substantially inverted conical shape. Therefore, a considerable amount of alkaline solution flows out of the collection net and is sucked and flowed downward and sucked and collected into the liquid tank. The resist is sequentially collected and concentrated toward the bottom of the collection net. go.
(4) A porous cover is provided on the outside of the collection net, and the alkaline solution in the liquid tank is sucked and flowed downward along the outer surface of the collection net through the porous cover. Along with the alkaline solution flowing out of the net, it is sucked and collected into the liquid tank.
In this way, since a flow in the same direction and pressure is formed inside and outside the collection net, clogging of the collection net due to the resist in the mixture is prevented.
(5) The mixture containing the concentrated resist is then supplied from the lower part of the collection net to the resist collection unit, where the resist is collected and collected by the filtration net, and the alkaline solution is supplied to the liquid tank. And recovered.
(6) In addition, if the intermittent drive type is adopted for the pump for sucking the mixture and the alkaline solution, the collection net and the filtration net are more reliably prevented from being clogged with the resist in the mixture. .

(7)ところで、現像機又は剥離機における噴射に伴い、レジスト回収装置に供給された混合体は、アルカリ溶液の多量の泡を伴っている。
そこで、レジスト回収装置には、泡回収部が配設されている。そして泡は、泡回収ボックスに吸引されて、液化ノズルから消泡ネットへと噴射され、もって液化されアルカリ溶液に戻されて、液槽に回収される。なお、泡を吸引するポンプについて、間欠駆動タイプを採用すると、泡の液化が助長される。
このようにして泡、つまり混合体の液面にレジストを浮かせて、レジストの分離,回収を不確実化させる泡は、解消される。そしてこれは、基板材の処理に悪影響を及ぼす消泡剤を使用することなく、実現される。
(8)このレジスト回収装置では、このようにして、レジストとアルカリ溶液とが、確実に分離,回収される。
(9)又、プレ脱液部で、予めかなりの量のアルカリ溶液を分離,回収するので、その分だけ、レジスト濃縮部に供給される混合体の量が削減され、更に、レジスト濃縮部でもアルカリ溶液を分離,回収するので、その分だけ、レジスト回収部に供給される混合体の量が削減される。もって、レジスト濃縮部やレジスト回収部が小型化され、レジスト回収装置も小型化される。
(10)さてそこで、本発明のレジスト回収装置は、次の効果を発揮する。
(7) By the way, the mixture supplied to the resist recovery apparatus is accompanied by a large amount of bubbles of the alkaline solution as it is jetted by the developing machine or the peeling machine.
Therefore, a bubble recovery unit is disposed in the resist recovery apparatus. The foam is sucked into the foam collection box, sprayed from the liquefaction nozzle to the defoaming net, liquefied and returned to the alkaline solution, and collected in the liquid tank. In addition, about the pump which suck | inhales a bubble, if an intermittent drive type is employ | adopted, liquefaction of a bubble will be promoted.
In this way, bubbles, that is, bubbles that cause the resist to float on the liquid surface of the mixture and make the separation and recovery of the resist uncertain, are eliminated. This is achieved without the use of antifoam agents that adversely affect the processing of the substrate material.
(8) In this resist recovery apparatus, the resist and the alkaline solution are reliably separated and recovered in this manner.
(9) In addition, since a considerable amount of alkaline solution is separated and collected in advance in the pre-liquid removal unit, the amount of the mixture supplied to the resist concentration unit is reduced by that amount. Since the alkaline solution is separated and collected, the amount of the mixture supplied to the resist collecting unit is reduced accordingly. Accordingly, the resist concentrating unit and the resist collecting unit are downsized, and the resist collecting apparatus is also downsized.
(10) Now, the resist recovery apparatus of the present invention exhibits the following effects.

《第1の効果》
第1に、レジスト回収効率が向上し、アルカリ溶液のライフ寿命が長くなり、清掃作業も簡単容易化される。
すなわち、本発明のレジスト回収装置では、混合体について、まずプレ脱液部において、レジストの少ない下部側から現像液や剥離液等のアルカリ溶液を分離,回収してから、次にレジスト濃縮部において、レジストを濃縮すると共に、更にアルカリ溶液を分離,回収し、最後にレジスト回収部において、濃縮されたレジストを捕集,回収すると共に、アルカリ溶液を分離,回収する。
このようにして、レジストとアルカリ溶液がスムーズかつ確実に分離,回収される。最近の微細化されたレジストでも、確実に分離,回収される。又、泡が解消されることや、目詰まりが防止される面からも、このような分離,回収の確実化が促進される。
そこで、フィルター式や網目ドラム式の前述したこの種従来例のレジスト回収装置のように、回収されたアルカリ溶液中に多量のレジストが混入してしまうことは、回避される。回収されたアルカリ溶液は、何回も現像機や剥離機に供給して、再使用,循環利用可能である。
もって、この種従来例に比べ、レジストの回収効率が大幅に向上し、アルカリ溶液の消耗が1/3程度に削減されて、アルカリ溶液のライフ寿命が長くなり、その補充頻度や交換頻度が低下し、コスト負担が軽減される。例えば、2〜3週間に1回程度の交換で済むようになる。
又、循環使用されるアルカリ溶液中に混入していたレジストが、現像機や剥離機内において、白濁化,クリーム状化,のり状化して沈澱,付着することも減少し、面倒で手間や時間がかかる清掃除去作業の回数も、大幅に削減される。
<< First effect >>
First, the resist recovery efficiency is improved, the life of the alkaline solution is increased, and the cleaning operation is simplified and facilitated.
That is, in the resist collection apparatus of the present invention, the mixture is first separated and collected in the pre-liquid removal unit from the lower side where there is little resist, and then the alkaline solution such as developer and stripping solution is collected, and then in the resist concentration unit. Then, the resist is concentrated, and further, the alkali solution is separated and collected. Finally, the resist collecting unit collects and collects the concentrated resist, and the alkali solution is separated and collected.
In this way, the resist and the alkaline solution can be separated and recovered smoothly and reliably. Even recent miniaturized resists are reliably separated and recovered. In addition, from the viewpoint of eliminating bubbles and preventing clogging, the certainty of such separation and recovery is promoted.
Therefore, it is avoided that a large amount of resist is mixed into the recovered alkaline solution as in the above-described conventional resist recovery apparatus of the filter type or mesh drum type. The collected alkaline solution can be reused and recycled by supplying it to a developing machine and a peeling machine many times.
Therefore, compared with this type of conventional example, the recovery efficiency of the resist is greatly improved, the consumption of the alkaline solution is reduced to about 1/3, the life life of the alkaline solution is increased, and the replenishment frequency and replacement frequency are reduced. The cost burden is reduced. For example, it will be possible to exchange only once every two to three weeks.
In addition, the resist mixed in the alkaline solution that is circulated is reduced in whiteness, cream, paste, and deposit in the developing machine and stripping machine, and it is troublesome and time-consuming. The number of such cleaning removal operations is also greatly reduced.

《第2の効果》
第2に、消泡剤の添加が不要化され、もって製造される回路基板の不良発生が防止される。
すなわち、本発明のレジスト回収装置では、泡回収部により、アルカリ溶液の泡を解消させるシステムを採用してなる。前述したこの種従来例のように、予め現像液や剥離液等のアルカリ溶液に、消泡剤を添加しておくシステムではないので、消泡剤による現像不良,エッチング不良,剥離不良等の発生の虞はなく、消泡剤による基板材の処理に対する悪影響は発生しない。もって、製造される回路基板について、消泡剤に起因した不良品発生は回避される。
<< Second effect >>
Secondly, the addition of an antifoaming agent is not necessary, and the occurrence of defects in the manufactured circuit board is prevented.
That is, the resist recovery apparatus of the present invention employs a system that eliminates bubbles of the alkaline solution by the bubble recovery unit. This kind of conventional example is not a system in which an antifoaming agent is added to an alkaline solution such as a developing solution or a stripping solution in advance, so that development failure, etching failure, peeling failure, etc. due to the defoaming agent are generated. There is no fear of this, and there is no adverse effect on the processing of the substrate material by the antifoaming agent. Therefore, the generation of defective products due to the antifoaming agent is avoided for the circuit board to be manufactured.

《第3の効果》
第3に、目詰まりが防止され、メッシュ密度をより密にすることも可能である。すなわち、本発明のレジスト回収装置では、プレ脱液部における脱液ネットの揺れによるリフレッシュや、レジスト濃縮部における捕集ネット内外の同方向,同圧流れの形成や、間欠駆動タイプのポンプの採用等により、脱液ネット,捕集ネット,濾過ネットについて、目詰まりが阻止される。
そこで、前述したこの種従来例のレジスト回収装置に比し、ネット等の交換頻度が大幅に減少し、メインテナンスの頻度も少なく、コスト面に優れている。
又、最近の回路の微細化に伴い、レジストも微細化傾向が顕著であるが、このように目詰まりが防止されるので、200メッシュ程度の網目のネットも採用可能となった。脱液ネット,捕集ネット,濾過ネット等について、微細レジストへの対応に優れた、1インチ(25.4mm)当たりの網目数で200メッシュ程度のものを、採用できるようになった。そこで、20メッシュ程度が限界とされていた前述したこの種従来例のレジスト回収装置に比し、この面からもレジスト回収効率が向上する。
《Third effect》
Thirdly, clogging is prevented and the mesh density can be made denser. That is, in the resist recovery apparatus of the present invention, refreshing by shaking of the liquid removal net in the pre-liquid removal part, formation of the same direction and pressure flow inside and outside the collection net in the resist concentration part, and adoption of an intermittent drive type pump For example, clogging of the drainage net, the collection net, and the filtration net is prevented.
Therefore, compared to the above-described conventional resist collection apparatus, the replacement frequency of the net or the like is greatly reduced, the frequency of maintenance is low, and the cost is excellent.
Further, with the recent miniaturization of circuits, the tendency of miniaturization of resists is remarkable. However, since clogging is prevented in this way, a net having a mesh of about 200 mesh can be employed. As for drainage nets, collection nets, filtration nets, etc., it is possible to adopt those having a mesh number of about 200 mesh per inch (25.4 mm), which are excellent in dealing with fine resists. Therefore, the resist recovery efficiency is improved from this aspect as compared with the above-described conventional resist recovery apparatus of which the limit is about 20 mesh.

《第4の効果》
第4に、装置が小型化される。すなわち、本発明のレジスト回収装置では、プレ脱液部,レジスト濃縮部,レジスト回収部の順に、順次段階的に、現像液や剥離液等のアルカリ溶液が分離,回収されて行く。
そこで、レジストとアルカリ溶液とを、一度に濾過,分離,回収する方式よりなり、もって装置が大型化していた前述したこの種従来例のレジスト回収装置に比し、装置が小型化される。もって、据付スペースを取らないと共に、価格も半分程度になる等、コスト面にも優れている。
このように、この種従来例に存した課題がすべて解決される等、本発明の発揮する効果は、顕著にして大なるものがある。
<< 4th effect >>
Fourth, the device is downsized. That is, in the resist recovery apparatus of the present invention, an alkaline solution such as a developer and a stripping solution is separated and recovered in order in the order of the pre-liquid removal unit, the resist concentration unit, and the resist recovery unit.
Therefore, the apparatus is reduced in size as compared with the above-described conventional resist recovery apparatus of this type, which has a system in which the resist and the alkaline solution are filtered, separated and recovered at a time, and thus the apparatus has been increased in size. Therefore, it does not take up installation space, and the price is also reduced to about half.
As described above, the effects exerted by the present invention are remarkably large, such as all the problems existing in this type of conventional example are solved.

《図面について》
以下、本発明のレジスト回収装置を、図面に示した発明を実施するための最良の形態に基づいて、詳細に説明する。
図1,図2,図3は、本発明の実施の形態の説明図に供する。そして図1は、正断面説明図、図2は、要部の側断面説明図、図3は、全体の側断面説明図である。
図5は、基板(基板材)の模式化した平面説明図である。
《About drawing》
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a resist recovery apparatus according to the present invention will be described in detail based on the best mode for carrying out the invention shown in the drawings.
1, 2, and 3 are provided for explaining the embodiment of the present invention. 1 is a front cross-sectional explanatory view, FIG. 2 is a side cross-sectional explanatory view of the main part, and FIG. 3 is an overall side cross-sectional explanatory view.
FIG. 5 is a schematic plan view of a substrate (substrate material).

《回路基板Eについて》
このレジスト回収装置11は、回路基板Eの製造工程で使用される。そこでまず、図5を参照しつつ、回路基板Eの概略について説明しておく。
回路基板Eは、AV機器,パソコン,携帯電話,デジカメ,その他各種の電子機器において、電気的接続用に用いられており、部品間を接続するための回路Fパターンを、絶縁層の外表面や内部に形成してなる。
そして回路基板Eは、片面基板と両面基板とに分けられる他、多層基板(含、最近のビルドアップ法のもの)、その他各種のものがあり、硬質のリジット系基板とフィルム状のフレキシブル系基板にも分けられる。
又、このような回路基板Eの一環として、IC,LSI素子,受動部品,駆動部品,コンデンサー等々の半導体部品が、回路Fと一体的に組み込まれたモジュール基板(半導体一体型のパッケージ基板)や、ガラスベースに回路Fと共に半導体部品が埋め込まれたガラス基板、つまりプラズマディスプレイPDP用のガラス基板や液晶LCD用のガラス基板、更にはCSP,PBGA等も出現している。勿論、本明細書において回路基板Eとは、従来よりのプリント配線基板の外、このようなものも広く包含する。
そして回路基板Eは、電子機器の高性能化,高機能化,小型軽量化に伴い、高精度化,ファイン化,そして極薄化,フレキシブル化,更には多層化,多様化等が進み、外表面(表面や裏面の一方又は双方)に形成される回路F、更には内部に形成される回路Fの高密度化,微細化が著しい。
回路基板E例えばプリント配線基板は、製造に際しての1枚の縦横のカットサイズが、例えば500mm×500mm程度よりなる。肉厚は、絶縁層(コア材)部分が、従来の1.6mmから1.0mm〜60μm程度、昨今では50μmから10μm前後まで、極薄化されている。回路F部分(銅箔部分)の肉厚も、75μm〜35μm、昨今では16μm〜10μm前後まで、極薄化されている。多層基板の場合でも、全体の肉厚が1.0mm〜0.4mm程度まで、極薄化されつつある。回路F幅や回路F間スペースも、30μm〜15μm程度、昨今では10μm前後と微細化傾向にある。
回路基板Eは、概略このようになっている。
<< About circuit board E >>
This resist recovery apparatus 11 is used in the manufacturing process of the circuit board E. First, an outline of the circuit board E will be described with reference to FIG.
The circuit board E is used for electrical connection in AV equipment, personal computers, mobile phones, digital cameras, and other various electronic devices, and the circuit F pattern for connecting parts is formed on the outer surface of the insulating layer, It is formed inside.
The circuit board E is divided into a single-sided board and a double-sided board, as well as a multi-layer board (including recent build-up type), and various other types. A rigid rigid board and a film-like flexible board. It can also be divided into
As part of such a circuit board E, a module board (semiconductor integrated package board) in which semiconductor parts such as ICs, LSI elements, passive parts, driving parts, capacitors, etc. are integrated with the circuit F, A glass substrate in which a semiconductor component and a circuit F are embedded in a glass base, that is, a glass substrate for a plasma display PDP, a glass substrate for a liquid crystal LCD, CSP, PBGA, and the like have also appeared. Of course, in the present specification, the circuit board E widely includes such a circuit board in addition to the conventional printed wiring board.
Circuit board E has become more accurate, finer, and thinner, more flexible, multi-layered and more diverse as electronic devices become more sophisticated, more functional, and smaller and lighter. The circuit F formed on the front surface (one or both of the front surface and the back surface), and further, the circuit F formed inside is remarkably increased in density and miniaturization.
A circuit board E, for example, a printed wiring board, has a vertical and horizontal cut size of about 500 mm × 500 mm, for example. The thickness of the insulating layer (core material) is extremely thin from the conventional 1.6 mm to about 1.0 mm to 60 μm, and recently from about 50 μm to about 10 μm. The thickness of the circuit F portion (copper foil portion) is also extremely thinned from 75 μm to 35 μm, and recently, around 16 μm to 10 μm. Even in the case of a multilayer substrate, the overall thickness is being reduced to about 1.0 mm to 0.4 mm. The circuit F width and the space between the circuits F are also about 30 μm to 15 μm.
The circuit board E is roughly like this.

《回路基板Eの製造方法の1例について》
次に、このレジスト回収装置11が使用される、回路基板Eの製造方法について、図5,図1等を参照して説明する。まず、第1例の製造方法について述べる。この製造方法において、回路基板E例えばプリント配線基板は、次のステップを辿って製造される。
最初に、ガラスクロス製,セラミックス製や,フィルム状のポリイミド製,その他の樹脂製の絶縁層(コア材)の外表面に、銅箔が熱プレス等により張り付けられた、銅張り積層板たる基板材Cが準備される。
そして、このように準備された基板材Cについて、張り付けられた銅箔表面を粗化する表面粗化処理(ソフトエッチング)が行われた後、短尺のワークサイズの各葉に切断される。表面粗化処理は、従来は機械研磨によって行われていたが、最近は処理液の噴射によって行われることが多い。
そして多くの場合、スルホール用の孔あけ加工が、レーザ等を使用して実施される。スルホールは、基板材C(回路基板E)の両外表面間の微細な貫通孔よりなり、1枚について、極小径のものが数百個以上形成され、その径は、0.5mm〜0.2mm程度以下のものが多くなっている。そしてスルホールは、両外表面の回路F(銅箔)間や多層基板の回路F(銅箔)間の導通接続用や、回路Fに実装される半導体部品の取付け用として使用される。
なお最近は、孔あけ加工を要するスルホールに代えて、小突起状・略円錐台状の接点たるバンプを形成し、もって多層基板等について、このバンプにより、スルホールと同様の機能を実現する技術も開発されている。バンプは、回路Fに準じ、現像工程,エッチング工程,剥膜工程を辿って製造される。
<< One Example of Manufacturing Method of Circuit Board E >>
Next, a method for manufacturing the circuit board E in which the resist recovery apparatus 11 is used will be described with reference to FIGS. First, the manufacturing method of the first example will be described. In this manufacturing method, the circuit board E, for example, a printed wiring board, is manufactured by following the following steps.
First, a copper-clad laminate board with a copper foil attached to the outer surface of an insulating layer (core material) made of glass cloth, ceramics, film-like polyimide, or other resin. A plate material C is prepared.
And about the board | substrate material C prepared in this way, after the surface roughening process (soft etching) which roughens the paste | laminated copper foil surface is performed, it cut | disconnects to each leaf of a short work size. The surface roughening treatment is conventionally performed by mechanical polishing, but recently, it is often performed by jetting a treatment liquid.
In many cases, drilling for through holes is performed using a laser or the like. The through holes are formed of fine through-holes between both outer surfaces of the substrate material C (circuit board E), and one or more hundreds of extremely small diameters are formed with a diameter of 0.5 mm to 0.00 mm. The number is about 2 mm or less. The through-holes are used for conductive connection between the circuits F (copper foil) on both outer surfaces and between the circuits F (copper foil) on the multilayer substrate, and for mounting semiconductor components mounted on the circuit F.
Recently, instead of through-holes that require drilling, bumps that are contact points in the form of small protrusions and substantially frustoconical shapes have been formed. Has been developed. The bumps are manufactured following the development process, the etching process, and the delamination process according to the circuit F.

さてしかる後、基板材Cの銅箔の外表面に、感光性のレジストAが、膜状に塗布又は張り付けられる。レジストAのドライフィルムが、圧着されることも多い。それから、回路Fのネガフィルムつまり予め回路F設計された回路F写真を当てて、露光することにより、外表面のレジストAは、露光されて硬化した回路F形成部分(保護膜部分)を残し、その他の不要部分が、処理液たる現像液つまりアルカリ溶液Bの噴射により、溶解除去される。
それから、このような基板材Cの銅箔は、レジストAが硬化して被覆された回路F形成部分(保護膜部分)を残し、現像によりレジストAが溶解除去されて露出した不要部分が、処理液たるエッチング液(塩化第二銅,塩化第二鉄,その他の腐食液)の噴射により、溶解除去・エッチングされる。それから、残っていた回路F形成部分のレジストAが、処理液たる剥離液つまりアルカリ溶液Bの噴射により剥膜除去され、もって、残った回路F形成部分の銅箔にて、基板材Cの外表面に、所定導体パターンの回路Fが形成され、回路基板Eが製造される。
なお、上述した現像工程,エッチング工程,剥膜工程には、それぞれ後処理用に、又は剥膜工程の後にまとめて後処理用に、水洗液,中和剤液,その他の洗浄液を噴射する洗浄工程が付設されている。洗浄工程では、基板材Cの外表面(含むスルホール内等)に付着していた現像液,エッチング液,剥離液等の処理液が、洗浄,除去される。更に、洗浄工程の後には、乾燥工程が付設されている。すなわち、洗浄工程で洗浄された基板材Cの外表面(含むスルホール内等)には、水洗液その他の洗浄液や,それらの水分が付着しているので、酸化防止等のためこれらを除去すべく、事後直ちに乾燥工程において乾燥処理される。
第1例の製造方法は、このようなウェットプロセス法よりなる。第1例の製造方法は、このようになっている。
After that, the photosensitive resist A is applied or pasted on the outer surface of the copper foil of the substrate material C in the form of a film. The dry film of resist A is often pressed. Then, a negative film of the circuit F, that is, a circuit F photograph previously designed for the circuit F, is applied and exposed, so that the resist A on the outer surface leaves a circuit F forming part (protective film part) that has been exposed and cured, Other unnecessary portions are dissolved and removed by spraying the developing solution as the processing solution, that is, the alkaline solution B.
Then, such a copper foil of the substrate material C leaves a circuit F forming part (protective film part) coated with the resist A cured, and an unnecessary part exposed by dissolving and removing the resist A by development is processed. It is dissolved and removed by spraying a liquid etchant (cupric chloride, ferric chloride, or other corrosive liquid). Then, the remaining resist A in the circuit F forming portion is stripped by spraying a stripping solution, that is, an alkaline solution B as a processing solution, and the remaining circuit F forming portion is removed from the substrate material C by the copper foil. A circuit F having a predetermined conductor pattern is formed on the surface, and a circuit board E is manufactured.
In the development process, the etching process, and the film removal process described above, washing is performed by spraying a washing solution, a neutralizing agent solution, and other washing solutions for the post-treatment or for the post-treatment after the film-removal step. A process is attached. In the cleaning process, the processing liquid such as the developing solution, the etching solution, and the stripping solution adhering to the outer surface of the substrate material C (including the inside of the through hole) is cleaned and removed. Furthermore, a drying process is attached after the cleaning process. That is, the outer surface of the substrate material C cleaned in the cleaning process (including the inside of the through hole) is adhered with water and other cleaning liquids and their moisture. After the fact, it is immediately dried in the drying process.
The manufacturing method of the first example includes such a wet process method. The manufacturing method of the first example is as described above.

《回路基板Eの製造方法の他の例について》
次に、第2例の製造方法について述べる。回路基板E例えばプリント配線基板の製造方法としては、上述した第1例のウェットプロセス法が代表的であるが、第2例のセミアディティブ法も多用されつつある。
セミアディティブ法では、まず、予めスルホールが形成された基板材Cの外表面に、無電解銅メッキが施される。→それから、この無電解銅メッキに、感光性のレジストAを膜状に塗布又は張り付けた後、→回路Fフィルムである回路F写真を当て、露光する。→そしてレジストAは、露光されて硬化した部分を残し、他の部分つまり回路F形成部分が、処理液たる現像液つまりアルカリ溶液Bの噴射により溶解除去される。
しかる後、→回路F形成部分、つまり現像によりレジストAが溶解除去されたメッキパターン部分、つまり無電解銅メッキが露出した部分に対し、電解銅メッキが施されて、→回路Fが形成される。→なお、残っていた回路F形成部分以外の硬化したレジストAは、処理液たる剥離液つまりアルカリ溶液Bの噴射により剥膜除去され、→露出した無電解銅メッキが、処理液たるエッチング液の噴射によりクイックエッチングされて、融解除去される。→なお、各工程の後処理用として、前述した所に準じ、洗浄液による洗浄工程や、乾燥工程が付設される。
第2例のセミアディティブ法では、このようにして、電解銅メッキにて回路Fが形成され、もって回路基板Eが製造される。第2例の製造方法は、このようになっている。
ところで、プリント配線基板その他の回路基板Eの製造方法は、最近ますます多様化しつつあり、上述した第1例,第2例以外にも、その他各種の方法が開発,使用されている。本発明は勿論、このような各種の回路基板Eの製造方法にも、適用される。
回路基板Eの製造方法は、このようになっている。
<< Other Examples of Manufacturing Method of Circuit Board E >>
Next, a manufacturing method of the second example will be described. As a method for manufacturing a circuit board E, for example, a printed wiring board, the wet process method of the first example described above is typical, but the semi-additive method of the second example is also being used frequently.
In the semi-additive method, first, electroless copper plating is performed on the outer surface of the substrate material C on which through holes have been formed in advance. → Then, a photosensitive resist A is applied or pasted on the electroless copper plating, and then a circuit F photograph as a circuit F film is applied and exposed. The resist A remains exposed and hardened, and the other part, that is, the circuit F forming part is dissolved and removed by spraying the developing solution, ie, the alkaline solution B, as the processing liquid.
Thereafter, electrolytic copper plating is applied to the circuit F forming portion, that is, the plating pattern portion where the resist A is dissolved and removed by development, that is, the portion where the electroless copper plating is exposed, and the circuit F is formed. . → The remaining hardened resist A other than the part where the circuit F is formed is removed by spraying a stripping solution as a processing solution, that is, an alkaline solution B, and the exposed electroless copper plating is an etching solution as a processing solution. It is quick etched by spraying and melted away. → In addition, a cleaning process using a cleaning liquid and a drying process are provided for the post-treatment of each process in accordance with the above-described place.
In the semi-additive method of the second example, the circuit F is thus formed by electrolytic copper plating, and thus the circuit board E is manufactured. The manufacturing method of the second example is as described above.
By the way, the manufacturing method of printed circuit boards and other circuit boards E has been increasingly diversified recently, and various other methods have been developed and used in addition to the first and second examples described above. Of course, the present invention is also applied to the manufacturing methods of such various circuit boards E.
The manufacturing method of the circuit board E is as described above.

《レジスト回収装置11の概要について》
以下、本発明のレジスト回収装置11について、図1,図2,図3を参照して、説明する。
まず前提として、前述したように、回路基板Eの製造工程中、現像工程や剥膜工程では、搬送される基板材Cに対し、現像液や剥離液等のアルカリ溶液Bが噴射されて、基板材Cの外表面から、感光性のレジストAが除去される。
すなわち、図1中に示したように、現像機1や剥離機2のチャンバー5内では、ローラーコンベヤ10等のコンベヤにて水平搬送される基板材Cに対し、上下に対向配設された各スプレーノズル9から、例えば3%程度の苛性ソーダを含有したアルカリ性の薬液、つまり現像液又は剥離液よりなるアルカリ溶液Bが、噴射される。
もって、基板材Cの外表面の感光性のレジストAが除去される。つまり、現像機1では、回路F形成部分以外のレジストAが溶解除去され、剥離機2では、回路F形成部分のレジストAが、剥膜除去される。
<< Outline of Resist Collection Device 11 >>
Hereinafter, the resist recovery apparatus 11 of the present invention will be described with reference to FIGS.
As a premise, as described above, during the manufacturing process of the circuit board E, in the development process and the film peeling process, an alkaline solution B such as a developer or a peeling liquid is jetted onto the substrate material C to be transported, The photosensitive resist A is removed from the outer surface of the plate material C.
That is, as shown in FIG. 1, in the chamber 5 of the developing machine 1 and the peeling machine 2, each of the substrate materials C that are horizontally transported by a conveyor such as a roller conveyor 10 is arranged to face each other vertically. From the spray nozzle 9, an alkaline chemical solution containing, for example, about 3% caustic soda, that is, an alkaline solution B made of a developing solution or a stripping solution is sprayed.
Thus, the photosensitive resist A on the outer surface of the substrate material C is removed. That is, in the developing machine 1, the resist A other than the circuit F forming portion is dissolved and removed, and in the peeling machine 2, the resist A in the circuit F forming portion is removed.

レジスト回収装置11は、回路基板Eの製造工程において、このような現像工程や剥膜工程の付帯工程として、現像機1や剥離機2にそれぞれ付設使用される。
現像工程の場合は、現像機1から、噴射使用後のアルカリ溶液Bである現像液と、除去されたレジストAとの混合体Dが、付設されたレジスト回収装置11に供給される。剥膜工程の場合は、剥離機2から、噴射使用後のアルカリ溶液Bである剥離液と、除去されたレジストAとの混合体Dが、付設されたレジスト回収装置11に供給される。
レジスト回収装置11は、このように供給されたアルカリ溶液Bと感光性のレジストAとの混合体Dから、レジストAを分離,回収する。そして、液槽12,プレ脱液部13,レジスト濃縮部14,レジスト回収部15,泡回収部30等、を有してなる。
レジスト回収装置11は、概略このようになっている。以下、その詳細について説明する。
The resist recovery apparatus 11 is attached to and used in the developing machine 1 and the peeling machine 2, respectively, as an accompanying process of the developing process and the film peeling process in the manufacturing process of the circuit board E.
In the case of the developing step, a mixture D of the developing solution, which is the alkali solution B after spray use, and the removed resist A is supplied from the developing machine 1 to the attached resist collecting device 11. In the case of the film removal process, a mixture D of the stripper, which is the alkaline solution B after spray use, and the removed resist A is supplied from the stripper 2 to the attached resist collection device 11.
The resist recovery device 11 separates and recovers the resist A from the mixture D of the alkaline solution B and the photosensitive resist A supplied in this way. And it has the liquid tank 12, the pre-liquid removal part 13, the resist concentration part 14, the resist collection | recovery part 15, the bubble collection | recovery part 30, etc.
The resist recovery apparatus 11 is roughly as described above. The details will be described below.

《プレ脱液部13について》
まず、図2等を参照して、プレ脱液部13について説明する。レジスト回収装置11のプレ脱液部13は、脱液ネット16を備えており、供給された混合体Dは、まず脱液ネット16上を流れることにより、かなりの量のアルカリ溶液Bが、分離,落下されて、液槽12へと回収される。
すなわちプレ脱液部13は、下降傾斜して配設された脱液ネット16と、脱液ネット16下に上下間隔を存して配設された多孔プレート17と、多孔プレート17上に多数立設された突起18と、を備えた構造よりなる。
そして脱液ネット16下に流下,落下したアルカリ溶液Bは、多孔プレート17と突起18にて反転,バウンド,浮沈運動され、もって脱液ネット16を下から揺らすと共に、多孔プレート17上から液槽12へと落下,回収される。
<< About pre-liquid removal part 13 >>
First, the pre-liquid removal part 13 is demonstrated with reference to FIG. The pre-liquid removal unit 13 of the resist recovery apparatus 11 includes a liquid removal net 16. The supplied mixture D first flows on the liquid removal net 16, so that a considerable amount of the alkaline solution B is separated. , Dropped and collected into the liquid tank 12.
That is, the pre-liquid removal unit 13 is provided with a large number of liquid removal nets 16 disposed at a downward inclination, a porous plate 17 disposed below the liquid removal net 16 with a vertical interval, and a plurality of porous liquid plates 17. And a protrusion 18 provided.
Then, the alkaline solution B that has flowed down and dropped under the drainage net 16 is reversed, bound, and floated by the perforated plate 17 and the projections 18, so that the drainage net 16 is shaken from below and the liquid tank is placed from above the perforated plate 17. It falls to 12 and is collected.

このようなプレ脱液部13について、更に詳述する。まず混合体Dは、図1に示したように、現像機1や剥離機2のチャンバー5内の若干傾斜した仕切床19上に、落下した後、その傾斜に沿って流れる。そして、排出口20から供給管21を介し、受入口22を経由してレジスト回収装置11へと、流し込まれる。
そして、このようにレジスト回収装置11に供給された混合体Dは、まず、液槽12の液面上に上下間隔を存して配設されたプレ脱液部13の脱液ネット16上を流れる。
図2に示したように、脱液ネット16は、微細なネット孔が密に多数形成されると共に、略長板ネット状をなしており、ネット孔の径は、微細化したレジストAでも通過不能な網目寸法に設定されており、例えば、数10μm〜数μm程度、200メッシュ程度に設定されている。そして、このような脱液ネット16が、長手方向に若干下降傾斜して配設されている。
混合体Dは、このような脱液ネット16上を、受入口22下の上流側から下流側へと、その傾斜に沿って流れる。もって、混合体Dに混入されていたアルカリ溶液Bのかなりの部分が、脱液ネット16のネット孔にて濾過,分離されて、下位の多孔プレート17を介し、下方の液槽12に向けて落下して行く。
Such a pre-liquid removal part 13 is further explained in full detail. First, as shown in FIG. 1, the mixture D drops on a slightly inclined partition floor 19 in the chamber 5 of the developing machine 1 or the peeling machine 2 and then flows along the inclined line. Then, it is poured from the discharge port 20 through the supply pipe 21 to the resist collection device 11 through the receiving port 22.
The mixture D thus supplied to the resist recovery device 11 is first placed on the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal unit 13 disposed on the liquid surface of the liquid tank 12 with a vertical interval. Flowing.
As shown in FIG. 2, the liquid removal net 16 has a large number of fine net holes densely formed and has a substantially long plate net shape, and the diameter of the net holes also passes through the refined resist A. The mesh size is set to an impossible mesh size. For example, the mesh size is set to about several tens of μm to several μm and about 200 mesh. Such a drainage net 16 is disposed with a slight downward inclination in the longitudinal direction.
The mixture D flows on the drainage net 16 along the inclination from the upstream side under the receiving port 22 to the downstream side. Accordingly, a considerable portion of the alkaline solution B mixed in the mixture D is filtered and separated through the net hole of the liquid removal net 16 and directed toward the lower liquid tank 12 through the lower porous plate 17. Fall down.

次に、プレ脱液部13の多孔プレート17は、脱液ネット16下に上下間隔を存しつつ、平行に並んで配設されており、回収孔が多数形成されている。
多孔プレート17としては、例えばパンチングプレートが使用され、多数の小さな回収孔(孔径は、脱液ネット16のネット孔よりは遥かに大)を備えると共に、上位の脱液ネット16と見合った寸法の長板状をなし、見合った傾斜角度で配設,固定されている。
そして、このような多孔プレート17上には、リキッドカットバーとして機能する突起18が多数、立設,固定されている。突起18は、前後(上下流方向)に相互間隔を存しつつ配設され、その高さ寸法が、脱液ネット16と多孔プレート17間の上下間隔の例えば半分程度に設定されている。
そこで、前述により脱液ネット16にて混合体Dから分離,落下されたアルカリ溶液Bは、下位の多孔プレート17の回収孔を経由して、下方の液槽12に向けて落下するが、かなりの部分が途中で、多孔プレート17の回収孔以外の表面部分にて、反転され,跳ね返される。
そしてアルカリ溶液Bは、バウンド,浮沈運動しつつ多孔プレート17上を流れる。又、このアルカリ溶液Bのバウンド,浮沈運動は、プレート17上に立設された各突起18の流れ止め機能にて、大きく助長される。
もって、このようなバウンド,浮沈運動により、上位の脱液ネット16が上下に揺らされるので、脱液ネット16上を流れる混合体D中のレジストAが、脱液ネット16上に沈殿,付着することが阻止される。つまり、脱液ネット16の目詰まりが防止される。
プレ脱液部11は、このようになっている。
Next, the perforated plate 17 of the pre-liquid removal unit 13 is arranged in parallel with the vertical space below the liquid removal net 16, and a large number of recovery holes are formed.
As the perforated plate 17, for example, a punching plate is used. The perforated plate 17 has a large number of small recovery holes (the hole diameter is much larger than the net hole of the liquid removal net 16), and has a size corresponding to the upper liquid removal net 16. It has a long plate shape and is arranged and fixed at an appropriate inclination angle.
A large number of protrusions 18 functioning as liquid cut bars are erected and fixed on the perforated plate 17. The protrusions 18 are arranged with a mutual interval in the front-rear direction (up-downstream direction), and the height dimension is set to, for example, about half of the vertical interval between the liquid removal net 16 and the perforated plate 17.
Therefore, the alkaline solution B separated and dropped from the mixture D by the dewatering net 16 as described above falls toward the lower liquid tank 12 through the recovery hole of the lower porous plate 17, but it is considerably This part is reversed and rebounded at the surface part other than the recovery hole of the perforated plate 17 in the middle.
The alkaline solution B flows on the perforated plate 17 while bouncing and sinking. In addition, the bounce and up / down movement of the alkaline solution B is greatly promoted by the flow stop function of the protrusions 18 erected on the plate 17.
Accordingly, the upper drainage net 16 is swung up and down by such bounce and sinking motion, so that the resist A in the mixture D flowing on the drainage net 16 is deposited and adhered on the drainage net 16. That is blocked. That is, clogging of the drainage net 16 is prevented.
The pre-liquid removal part 11 is like this.

《レジスト濃縮部14について》
次に、図2,図3を参照して、レジスト濃縮部14について説明する。レジスト回収装置11のレジスト濃縮部14は、プレ脱液部13から供給された混合体Dについて、レジストAを濃縮すると共に、アルカリ溶液Bを分離して液槽12へと回収させる。
すなわち、レジスト濃縮部14は、液槽12中に立設された略逆円錐状の捕集ネット23を備えており、プレ脱液部13の脱液ネット16上から供給された混合体Dは、捕集ネット23内を下方に向け吸引,流下される。
もって混合体Dは、かなりのアルカリ溶液Bが、捕集ネット23外に流出し、下方に向け吸引,流下されて、液槽12へと吸引,回収されるので、レジストAが、捕集ネット23内の下部に向けて、順次濃縮されて行く。
又、レジスト濃縮部14の捕集ネット23の外側には、間隔を存して多孔カバー24が、周設されている。そこで、液槽12内のアルカリ溶液Bが、多孔カバー24内に流入すると共に、捕集ネット23の外面に沿って下方に向け吸引,流下され、もって液槽12へと吸引,回収される。
<< Registration section 14 >>
Next, the resist concentration unit 14 will be described with reference to FIGS. The resist concentrating unit 14 of the resist collecting apparatus 11 concentrates the resist A on the mixture D supplied from the pre-liquid removal unit 13 and separates and recovers the alkaline solution B into the liquid tank 12.
That is, the resist concentration unit 14 includes a substantially inverted conical collection net 23 erected in the liquid tank 12, and the mixture D supplied from the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal unit 13 is Then, the inside of the collection net 23 is sucked and flowed downward.
Accordingly, the mixture D flows out of the collection net 23, and a considerable amount of the alkaline solution B is sucked and flowed downward, and is sucked and collected into the liquid tank 12, so that the resist A is collected in the collection net. Concentrated sequentially toward the lower part of 23.
In addition, a porous cover 24 is provided around the collection net 23 of the resist concentrating unit 14 at intervals. Therefore, the alkaline solution B in the liquid tank 12 flows into the porous cover 24 and is sucked and flowed downward along the outer surface of the collection net 23, and is sucked and collected into the liquid tank 12.

このようなレジスト濃縮部14について、更に詳述する。液槽12の中央部には、捕集ネット23と多孔カバー24とが、同心状に立設されている。
すなわち、捕集ネット23は、上面が開放されると共に下方ほど小径となった、漏斗状,略逆円錐状をなすと共に、微細なネット孔が密に多数形成されている。ネット孔の径は、微細化したレジストAも通過不能な網目寸法に設定されており、例えば、数10μm〜数μm程度、200メッシュ程度に設定されている。
そして、このような捕集ネット23の外側に、左右間隔を存して例えば円筒状の多孔カバー24が立設されており、多孔カバー24は、多数の小さな孔(孔径は、捕集ネット23のネット孔よりは遥かに大)を備えている。
捕集ネット23の上部は、液槽12の液面上に突出すると共に、プレ脱液部13の脱液ネット16下流側より、一段低く配されており、捕集ネット23の下部は、液槽12下に連通して垂下付設された下ボックス部25内に、至っている。多孔カバー24の上部は、捕集ネット23と共に液槽12の液面上に突出し、下部は、液槽12底面に固定されている。
Such a resist concentrating part 14 will be further described in detail. A collection net 23 and a porous cover 24 are provided concentrically at the center of the liquid tank 12.
That is, the collection net 23 has a funnel shape and a substantially inverted conical shape whose upper surface is opened and becomes smaller in the lower portion, and a large number of fine net holes are densely formed. The diameter of the net hole is set to a mesh size through which the resist A that has been refined cannot pass, and is set to about several tens of μm to several μm and about 200 mesh, for example.
For example, a cylindrical porous cover 24 is erected on the outside of the collection net 23 with a left-right interval, and the porous cover 24 has a large number of small holes (having a diameter of the collection net 23. It is much larger than the net hole of the).
The upper part of the collection net 23 protrudes above the liquid surface of the liquid tank 12 and is arranged one step lower than the downstream side of the deliquidation net 16 of the pre-liquid removal unit 13. It reaches the lower box portion 25 that is communicated with the bottom of the tank 12 and is suspended. The upper part of the porous cover 24 protrudes on the liquid surface of the liquid tank 12 together with the collection net 23, and the lower part is fixed to the bottom surface of the liquid tank 12.

そこで、プレ脱液部13の脱液ネット16下流からの混合体Dは、捕集ネット23上に供給された後、捕集ネット23内部を下へと流下する。
そして混合体Dは、捕集ネット23内部を自然流下すると共に、捕集ネット23下端に接続された配管26のポンプ27にて、吸引,流下される。混合体D中のレジストAも、液面に浮上することなく、下方に向けて吸引,流下される。
そして混合体Dは、下方ほど径小となって捕集ネット23内部を、このように吸引,流下されるので、混入されていたかなりの量のアルカリ溶液Bが、徐々に捕集ネット23外へと流出して行く。
そこで混合体Dは、下方ほど径小となった捕集ネット23下部に向け、残ったレジストAが次第に濃縮されて行く。そして混合体Dは、捕集ネット23下端に接続された配管26,ポンプ27を介し、レジスト回収部15へと供給される。
Therefore, the mixture D from the downstream of the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal unit 13 is supplied onto the collection net 23 and then flows down inside the collection net 23.
The mixture D naturally flows down inside the collection net 23 and is sucked and flowed down by the pump 27 of the pipe 26 connected to the lower end of the collection net 23. The resist A in the mixture D is also sucked and flowed downward without floating on the liquid surface.
Then, the mixture D is reduced in diameter toward the lower side, and thus the inside of the collection net 23 is sucked and flowed down in this way, so that a considerable amount of the alkaline solution B that has been mixed is gradually removed from the collection net 23. It flows out to.
Accordingly, the mixture D is gradually concentrated toward the lower part of the collection net 23 where the diameter becomes smaller toward the lower side. Then, the mixture D is supplied to the resist collection unit 15 via a pipe 26 and a pump 27 connected to the lower end of the collection net 23.

これに対し、捕集ネット23外では、次のようになる。すなわち、液槽12内のアルカリ溶液Bが、多孔カバー24の孔を介し流入して、捕集ネット23の外面に至ると共に、下ボックス部25に接続された配管26のポンプ28にて吸引される。もって、前述により捕集ネット23外へと流出してきたアルカリ溶液Bと共に、多孔カバー24と捕集ネット23の間を、下方に向けて吸引,流下される。
そして、このようなアルカリ溶液Bは、配管26,ポンプ28を介し、液槽12へと循環,供給される。
ところで、ポンプ27を介しレジスト回収部15へと供給される混合体Dと、ポンプ28を介し液槽12へと供給されるアルカリ溶液Bとを比較すると、前者は、濃いレジストA,比較的大きな破片のレジストAが混入しているのに対し、後者は、極めて薄いレジストA,ミクロ的に小さなレジストAしか混入されていないと、表現することもできる。
なお、配管26に介装されたポンプ27,28は、間欠駆動タイプよりなり、吸引駆動と停止とが、明確に順次繰り返されるタイプよりなる。
On the other hand, it is as follows outside the collection net 23. That is, the alkaline solution B in the liquid tank 12 flows in through the hole of the porous cover 24, reaches the outer surface of the collection net 23, and is sucked by the pump 28 of the pipe 26 connected to the lower box portion 25. The Accordingly, together with the alkaline solution B that has flowed out of the collection net 23 as described above, the space between the porous cover 24 and the collection net 23 is sucked and flowed downward.
Such an alkaline solution B is circulated and supplied to the liquid tank 12 via the pipe 26 and the pump 28.
By the way, when the mixture D supplied to the resist recovery unit 15 via the pump 27 and the alkaline solution B supplied to the liquid tank 12 via the pump 28 are compared, the former is a thick resist A, a relatively large resist A. It can be expressed that the resist A in a broken piece is mixed, whereas the latter is mixed with only a very thin resist A or a microscopically small resist A.
The pumps 27 and 28 interposed in the pipe 26 are of an intermittent drive type, and are of a type in which suction driving and stopping are clearly and sequentially repeated.

《レジスト回収部15について》
次に、図3を参照して、レジスト回収部15について説明する。レジスト回収装置11のレジスト回収部15は、レジスト濃縮部14から供給された混合体Dから、レジストAを捕集すると共に、アルカリ溶液Bを液槽12へと分離,回収させる。
すなわちレジスト回収部15は、槽状をなし濾過ネット29を備えており、レジスト濃縮部14の捕集ネット23下部から配管26やポンプ27を介して供給され濃縮されたレジストAを含んだ混合体Dは、大部分のレジストAが濾過ネット29にて捕集,回収される。
そして、濾過ネット29にて濾過された後のアルカリ溶液B、つまり混合体Dから大部分のレジストAが除去されて得られたアルカリ溶液Bが、配管26を経由して、液槽12へと供給される。
レジスト回収部15は、このようになっている。
<Register Recovery Unit 15>
Next, the resist collection unit 15 will be described with reference to FIG. The resist recovery unit 15 of the resist recovery apparatus 11 collects the resist A from the mixture D supplied from the resist concentration unit 14 and separates and recovers the alkaline solution B into the liquid tank 12.
That is, the resist collection unit 15 has a tank shape and is provided with a filtration net 29, and is a mixture containing the resist A that is supplied from the lower part of the collection net 23 of the resist concentration unit 14 through the pipe 26 and the pump 27 and concentrated. As for D, most of the resist A is collected and collected by the filtration net 29.
Then, the alkali solution B after being filtered by the filter net 29, that is, the alkali solution B obtained by removing most of the resist A from the mixture D, is supplied to the liquid tank 12 via the pipe 26. Supplied.
The resist collection unit 15 is as described above.

《液槽12について》
次に、液槽12について説明する。図1等に示したように、レジスト回収装置11の回収室Hの下部が、液槽12となっており、レジスト回収装置11そして回収室Hは、現像機1や剥離機2に隣接配設されている。
そして液槽12は、図2,図3に示したように、上位のプレ脱液部13からアルカリ溶液Bが落下,回収,貯留される。又、下ボックス部25からのアルカリ溶液Bが、配管26やポンプ28を介して、供給,回収,貯留される。更に、レジスト回収部15からもアルカリ溶液Bが、配管26やポンプ27を介して、供給,回収,貯留される。又、泡回収部30の消泡ネット31からも、アルカリ溶液Bが、落下,回収,貯留される。
これと共に、図1に示したように、貯留されたアルカリ溶液Bは、配管26やポンプ32を介し、現像機1や剥離機2へと再使用のため循環供給されて、そのスプレーノズル9から噴射された後、レジストAと共に混合体Dとなって、レジスト回収装置11のプレ脱液部13に供給される。
液槽12は、このようになっている。
<< About the liquid tank 12 >>
Next, the liquid tank 12 will be described. As shown in FIG. 1 and the like, the lower part of the recovery chamber H of the resist recovery device 11 is a liquid tank 12, and the resist recovery device 11 and the recovery chamber H are disposed adjacent to the developing machine 1 and the peeling machine 2. Has been.
As shown in FIGS. 2 and 3, the alkaline solution B is dropped, collected, and stored in the liquid tank 12 from the upper pre-liquid removal unit 13. Further, the alkaline solution B from the lower box portion 25 is supplied, recovered, and stored via the pipe 26 and the pump 28. Further, the alkaline solution B is also supplied, recovered, and stored from the resist recovery unit 15 via the pipe 26 and the pump 27. Further, the alkaline solution B is dropped, recovered and stored from the defoaming net 31 of the bubble recovery unit 30.
At the same time, as shown in FIG. 1, the stored alkaline solution B is circulated and supplied to the developing machine 1 and the peeling machine 2 through the pipe 26 and the pump 32 for reuse. After being sprayed, it becomes a mixture D together with the resist A, and is supplied to the pre-liquid removal unit 13 of the resist recovery apparatus 11.
The liquid tank 12 is as described above.

《泡回収部30について》
次に、図2,図3を参照して、泡回収部30について説明する。レジスト回収装置11には、更に、泡回収ボックス33,液化ノズル34,消泡ネット31を備えた、泡回収部30が配設されている。
そして泡回収ボックス33は、レジスト濃縮部14上に間隔を存して配設され、下面が開放されており、混合体D上部のアルカリ溶液Bの泡Gを吸引する。
液化ノズル34は、該泡回収ボックス33から供給された泡Gを、消泡ネット31へと噴射する。消泡ネット31は、噴射された泡Gを液化し、アルカリ溶液Bに戻して、液槽12へ回収させる。
<< About the foam collection | recovery part 30 >>
Next, the bubble collection | recovery part 30 is demonstrated with reference to FIG. 2, FIG. The resist collection device 11 is further provided with a foam collection unit 30 including a foam collection box 33, a liquefaction nozzle 34, and a defoaming net 31.
The foam collection box 33 is disposed on the resist concentrating unit 14 with a space therebetween, the lower surface is opened, and the foam G of the alkaline solution B above the mixture D is sucked.
The liquefying nozzle 34 injects the foam G supplied from the foam recovery box 33 onto the defoaming net 31. The defoaming net 31 liquefies the injected foam G, returns it to the alkaline solution B, and collects it in the liquid tank 12.

このような泡回収部30について、更に詳述する。レジスト回収装置11の回収室Hの中央上部、つまり液槽12の中央部上には、泡回収部30の泡回収ボックス33が配設されている。
この泡回収ボックス33は、下面が開放された例えば円筒箱状をなし、開放された下面が、上下間隔を存し下位の捕集ネット23の上面開口に、対向位置している。
又、回収ボックス33の外側には、泡回収壁35が周設形成されている。泡回収壁35は、例えば円筒状をなし、回収室29の天井から液槽12内まで垂下設されており、プレ脱液部13の脱液ネット16上に横から臨んで、大きな開口36が形成されている。
Such a bubble collection | recovery part 30 is further explained in full detail. A foam recovery box 33 of the foam recovery unit 30 is disposed at the center upper part of the recovery chamber H of the resist recovery apparatus 11, that is, on the center part of the liquid tank 12.
The foam recovery box 33 is formed in, for example, a cylindrical box shape with the lower surface opened, and the opened lower surface is opposed to the upper surface opening of the lower collection net 23 with a vertical interval.
In addition, a foam recovery wall 35 is formed around the outside of the recovery box 33. The bubble collection wall 35 has, for example, a cylindrical shape, and is suspended from the ceiling of the collection chamber 29 to the inside of the liquid tank 12. The foam collection wall 35 faces the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal unit 13 from the side, and has a large opening 36. Is formed.

そこで、プレ脱液部13の脱液ネット16上から供給された混合体D上部の泡Gは、開口36,泡回収ボックス33を経由し、泡回収ボックス33頂端に接続された配管26のポンプ37にて吸引され、もって液化ノズル34に供給される。
そして泡Gは、液化ノズル34から消泡ネット31に噴射される。消泡ネット31は、多数のネット孔が密に多数形成されると共に、液槽12の液面上に上下間隔を存して配設されている。
そこで消泡ネット31に噴射された泡Gは、圧射とネット孔の凹凸により、潰され破壊されて液化し、元のアルカリ溶液Bとなって、液槽12に落下,回収,貯留される。このようにして回収されたアルカリ溶液Bも、前述により貯留されていたアルカリ溶液Bと共に、再使用される。
泡回収部30は、このようになっている。
Therefore, the foam G on the upper side of the mixture D supplied from the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal unit 13 passes through the opening 36 and the foam recovery box 33, and is a pump of the pipe 26 connected to the top end of the foam recovery box 33. The air is sucked at 37 and supplied to the liquefying nozzle 34.
Then, the bubbles G are jetted from the liquefying nozzle 34 to the defoaming net 31. The defoaming net 31 has a large number of densely formed net holes and is disposed on the liquid surface of the liquid tank 12 with a vertical interval.
Therefore, the foam G sprayed to the defoaming net 31 is crushed and destroyed by pressure and unevenness of the net hole, and is liquefied to become the original alkaline solution B, which is dropped, recovered and stored in the liquid tank 12. . The alkaline solution B collected in this way is also reused together with the alkaline solution B stored as described above.
The foam recovery unit 30 is as described above.

《作用等について》
本発明のレジスト回収装置11は、以上説明したように構成されている。そこで、以下のようになる。
(1)回路基板Eの製造工程において、噴射使用後のアルカリ溶液Bと基板材Cから除去された感光膜つまりレジストAとの混合体Dは、レジスト回収装置11に供給される(図1を参照)。
すなわち、現像工程の現像機1で噴射使用された現像液又は剥離工程の剥離機2で噴射使用された剥離液、つまりアルカリ溶液Bと、基板材Cの外表面から除去された微少破片状の感光性のレジストAとが、混じり合った混合体Dは、→現像機1又は剥離機2から、それぞれに付設されたレジスト回収装置11に、供給される。
<About the action>
The resist recovery apparatus 11 of the present invention is configured as described above. Therefore, it becomes as follows.
(1) In the manufacturing process of the circuit board E, the mixture D of the alkali solution B after spray use and the photosensitive film removed from the substrate material C, that is, the resist A is supplied to the resist recovery device 11 (see FIG. 1). reference).
That is, the developer sprayed and used in the developing machine 1 in the developing process or the stripping liquid sprayed and used in the peeling machine 2 in the peeling process, that is, the alkali solution B and the minute fragments removed from the outer surface of the substrate material C The mixture D in which the photosensitive resist A is mixed is supplied from the developing device 1 or the peeling device 2 to the resist collecting device 11 attached thereto.

(2)供給された混合体Dは、上部上を泡Gが覆うと共に、比重の軽いレジストAが上部ほど多く浮遊し、下部ほど少ない状態となっている。→そこで混合体Dは、まず、レジスト回収装置11の下降傾斜したプレ脱液部13の脱液ネット16上を流れることにより、→混合体Dの下部から、かなりの量のアルカリ溶液Bが、濾過,分離,落下されて、液槽12へと回収される(図2を参照)。
その際、プレ脱液部13は、脱液ネット16下に突起18付きの多孔プレート17を備えた構造よりなるので、→脱液ネット16下に流下,落下したアルカリ溶液Bは、多孔プレート17による反転と突起18による下部の流れ止めにより、跳ね返り,バウンドして、波立ち,浮沈運動し、→もって、脱液ネット16を下から上下に揺らすと共に、→多孔プレート17上から液槽12へと落下,回収される。
このように脱液ネット16は、常時下から揺らされてリフレッシュされるので、→その上を流れる混合体D中のレジストAにて、目詰まりすることが防止される。
(2) In the supplied mixture D, the upper part is covered with the bubbles G, and the resist A having a lower specific gravity floats more in the upper part and is in the lower part in the lower part. → Therefore, the mixture D first flows on the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal part 13 inclined downward of the resist recovery apparatus 11, → A considerable amount of the alkaline solution B is formed from the lower part of the mixture D, It is filtered, separated, dropped and recovered into the liquid tank 12 (see FIG. 2).
At this time, the pre-liquid removal unit 13 has a structure including a porous plate 17 with protrusions 18 under the liquid removal net 16, so that the alkaline solution B that has flowed down and dropped under the liquid removal net 16 Bounces, bounces, undulates, floats and sinks due to reversal by the projection and the lower flow by the protrusion 18, and then swings the liquid removal net 16 up and down and from the top of the porous plate 17 to the liquid tank 12. Dropped and recovered.
As described above, since the liquid removal net 16 is constantly shaken from below and refreshed, it is prevented that clogging occurs in the resist A in the mixture D flowing over it.

(3)さて、このレジスト回収装置11において、プレ脱液部16でかなりの量のアルカリ溶液Bが分離された混合体Dは、次に、プレ脱液部13からレジスト濃縮部14に供給され、もって、レジストAが濃縮されると共に、アルカリ溶液Bが分離されて液槽12へと回収される(図2,図3を参照)。
すなわち、プレ脱液部13の脱液ネット16上からレジスト濃縮部14に供給された混合体Dは、→液槽12中に立設されたレジスト濃縮部14の略逆円錐状の捕集ネット23内を、下方に向け吸引,流下される。
→もって、混合体D中から、かなりの量のアルカリ溶液Bが、捕集ネット23にて濾過,分離され、捕集ネット23外に流出して、→下方に向け吸引,流下され、もって配管26やポンプ28を介し、液槽12へと吸引,回収される。→そこで、混合体D中のレジストAが、捕集ネット23の内面、それから下部に向け順次引き込まれ,集められ,濃縮されて行く。
(3) Now, in this resist recovery apparatus 11, the mixture D from which a considerable amount of the alkaline solution B has been separated in the pre-liquid removal unit 16 is then supplied from the pre-liquid removal unit 13 to the resist concentration unit 14. Thus, the resist A is concentrated, and the alkaline solution B is separated and collected in the liquid tank 12 (see FIGS. 2 and 3).
That is, the mixture D supplied from the liquid removal net 16 of the pre-liquid removal unit 13 to the resist concentration unit 14 is a substantially inverted conical collection net of the resist concentration unit 14 erected in the liquid tank 12. The inside of 23 is sucked and flowed downward.
→ Therefore, a considerable amount of the alkaline solution B from the mixture D is filtered and separated by the collection net 23, flows out of the collection net 23, and is sucked and flowed downward → the piping. The liquid is sucked and collected into the liquid tank 12 via the pump 26 and the pump 28. → Therefore, the resist A in the mixture D is sequentially drawn, collected and concentrated toward the inner surface of the collection net 23 and then to the lower portion.

(4)又、このようなレジスト濃縮部14の略逆円錐状の捕集ネット23の外側には、円筒状の多孔カバー24が周設されている。
→そこで、液槽12内のアルカリ溶液Bが、多孔カバー24内に流入した後、→捕集ネット23の外面に沿って下方に向け吸引,流下され、→もって、上述により捕集ネット23内から外に流出,流下してきたアルカリ溶液Bと共に、液槽12へと配管26やポンプ28を介し吸引,回収される(図2,図3を参照)。(なお、このように配管26やポンプ28を経由して回収されるアルカリ溶液B中には、若干混入していた泡Gが潰され破壊された後の空気も、併存している。)
このようにして、レジスト濃縮部14の捕集ネット23の内外には、同方向かつ同圧の流れが形成される。→つまり、捕集ネット23の内部では、濃縮されたレジストAを含んだ混合体Dが、下方に吸引,流下される流れが形成され、外部では、アルカリ溶液Bが下方に吸引,流下される流れが形成される。→そこで、混合体D中のレジストAにて、捕集ネット23が目詰まりすることが防止される。
(4) Further, a cylindrical porous cover 24 is provided on the outer side of the substantially inverted conical collection net 23 of the resist concentrating portion 14.
-> Then, after the alkaline solution B in the liquid tank 12 flows into the porous cover 24, it is sucked and flowed downward along the outer surface of the collection net 23, and thus, the inside of the collection net 23 as described above. Together with the alkaline solution B that has flowed out and flowed out of the tank, it is sucked and collected into the liquid tank 12 through the pipe 26 and the pump 28 (see FIGS. 2 and 3). (In addition, in the alkaline solution B recovered through the pipe 26 and the pump 28 in this way, air after the slightly mixed foam G is crushed and destroyed also coexists.)
In this way, a flow of the same direction and the same pressure is formed inside and outside the collection net 23 of the resist concentration unit 14. In other words, inside the collection net 23, a flow is formed in which the mixture D containing the concentrated resist A is sucked and flowed downward, and outside, the alkaline solution B is sucked and flowed downward. A flow is formed. → Therefore, the collection net 23 is prevented from being clogged with the resist A in the mixture D.

(5)さて、濃縮されたレジストAを含んだ混合体Dは、それから、レジスト濃縮部14の捕集ネット23下部から、→配管26やポンプ27を介し、レジスト回収部15に供給される。(なお、このように配管26やポンプ27を経由して供給される混合体D中には、若干混入していた泡Gが潰され破壊された後の空気も、併存している。)
→そして、レジスト回収部15に供給された混合体Dは、大部分のレジストAが、濾過ネット29にて濾過,捕集,回収されると共に、→アルカリ溶液Bが、配管26を介し液槽12へと回収される(図3を参照)。
(5) Now, the mixture D containing the concentrated resist A is supplied from the lower part of the collection net 23 of the resist concentrating unit 14 to the resist collecting unit 15 via the pipe 26 and the pump 27. (In the mixture D supplied through the pipe 26 and the pump 27 in this way, air after the bubbles G that have been slightly mixed are crushed and destroyed also coexists.)
→ And, the mixture D supplied to the resist recovery unit 15 is filtered, collected and recovered by the filter net 29 in the majority of the resist A, and the alkaline solution B is supplied to the liquid tank via the pipe 26. To 12 (see FIG. 3).

(6)なお、目詰まり防止に関しては、混合体Dやアルカリ溶液Bを吸引するポンプ27,28について、間欠駆動タイプを採用することにより、より確実に実現される(図3を参照)。
すなわち、間欠駆動タイプのポンプ27,28を採用して、→混合体Dを、レジスト回収部15に向け間欠的に吸引することにより、又、アルカリ溶液Bを、液槽12に向け間欠的に吸引することにより、→レジスト濃縮部14の捕集ネット23やレジスト回収部15の濾過ネット29が、吸引波動,吸引衝撃を受け、→もって、混合体D中のレジストAにて目詰まりすることが、より確実に防止される。
(6) It should be noted that the prevention of clogging is more reliably realized by adopting an intermittent drive type for the pumps 27 and 28 for sucking the mixture D and the alkaline solution B (see FIG. 3).
That is, by adopting intermittent drive type pumps 27 and 28, the mixture D is intermittently sucked toward the resist recovery unit 15, and the alkaline solution B is intermittently directed toward the liquid tank 12. By suction, the collection net 23 of the resist concentration unit 14 and the filtration net 29 of the resist collection unit 15 are subjected to suction waves and suction impacts, and thus clogged with the resist A in the mixture D. Is more reliably prevented.

(7)ところで、現像機1又は剥離機2において、現像液や剥離液として噴射使用されたアルカリ溶液Bは、アルカリ性で苛性ソーダ等を含有した薬液よりなると共に、加温されている。そこで噴射に伴い、多量の気泡つまり泡Gが生じているので、→現像機1又は剥離機2からレジスト回収装置11に供給された混合体Dも、アルカリ溶液Bの多量の泡Gを伴っている(図1を参照)。
→そこで、このレジスト回収装置11には、泡回収部30が配設されている(図2,図3を参照)。→そして、アルカリ溶液Bの泡Gは、気泡なので混合体D上部上に位置しており、→レジスト濃縮部14上において、泡回収部30の泡回収ボックス33にて吸引された後、→配管26やポンプ37を介し、液化ノズル34に供給され、→液化ノズル34から消泡ネット31へと噴射され,吹き付けられる。→もって、消泡ネット31上にて、泡Gが潰され破壊されて液化され、アルカリ溶液Bに戻されて、→液槽12に落下,回収される。
なお、泡Gを吸引するポンプ37について、間欠駆動タイプを採用することによっても、泡Gの潰し,液化が助長される。又、混合体D中に混入されてレジスト濃縮部14に流入した泡Gは、捕集ネット23を通過する際に潰され破壊されて、アルカリ溶液Bに戻されると共に、空気となってアルカリ溶液Bや混合体D中に併存する。
→このようなプロセスにより、→混合体Dの液面にレジストAを浮かせてしまう泡G、もってレジストAの分離,回収を不確実化させてしまう泡Gが、解消,消滅せしめられる。→そしてこれは、基板材Cの処理に悪影響を及ぼす虞のある消泡剤を使用することなく、実現される。
(7) By the way, in the developing machine 1 or the peeling machine 2, the alkaline solution B sprayed and used as a developing solution or a peeling solution is made of an alkaline chemical solution containing caustic soda and is heated. Therefore, since a large amount of bubbles, that is, bubbles G are generated with the injection, the mixture D supplied from the developing device 1 or the peeling device 2 to the resist recovery device 11 also includes a large amount of bubbles G of the alkaline solution B. (See FIG. 1).
→ Therefore, the foam recovery unit 30 is disposed in the resist recovery device 11 (see FIGS. 2 and 3). → And the bubble G of the alkaline solution B is a bubble and is located above the mixture D. → After being sucked in the foam collection box 33 of the foam collection unit 30 on the resist concentrating unit 14, 26 is supplied to the liquefying nozzle 34 via the pump 37 and the pump 37, and then injected from the liquefying nozzle 34 to the defoaming net 31 and sprayed. → As a result, the foam G is crushed and destroyed on the defoaming net 31 to be liquefied, returned to the alkaline solution B, and then dropped into the liquid tank 12 and collected.
In addition, about the pump 37 which attracts | sucks the bubble G, squashing and liquefaction of the bubble G are promoted also by employ | adopting an intermittent drive type. Further, the bubbles G mixed in the mixture D and flowing into the resist concentrating portion 14 are crushed and destroyed when passing through the collection net 23 and returned to the alkaline solution B, and become air as the alkaline solution. It coexists in B and mixture D.
→ By such a process, the bubbles G that float the resist A on the liquid surface of the mixture D, and the bubbles G that make the separation and recovery of the resist A uncertain, are eliminated and eliminated. → And this is realized without using an antifoaming agent that may adversely affect the processing of the substrate material C.

(8)さて、このレジスト回収装置11は、このようなプレ脱液部13,レジスト濃縮部14,泡回収部30等を採用してなる。
→そこで、レジストAとアルカリ溶液Bとが、確実に分離,回収され、→もって、レジストAの回収効率が向上し、アルカリ溶液Bのライフ寿命が長くなり、→アルカリ溶液Bが、現像機1や剥離機2において、繰り返し循環再使用可能となる(図1を参照)。
(8) Now, the resist recovery apparatus 11 employs such a pre-liquid removal unit 13, the resist concentration unit 14, the bubble recovery unit 30, and the like.
→ Therefore, the resist A and the alkaline solution B are reliably separated and recovered, thereby improving the recovery efficiency of the resist A and extending the life life of the alkaline solution B. In the peeling machine 2, it becomes possible to repeatedly circulate and reuse (see FIG. 1).

(9)又、プレ脱液部13で、予め、かなりの量のアルカリ溶液Bを、混合体D中から分離,回収してしまうので、→事後その分だけ、レジスト濃縮部14に運んで供給する混合体Dの量が、削減される。
→これに加え、レジスト濃縮部14でも、かなりの量のアルカリ溶液Bを、混合体D中から分離,回収するので、→更にその分だけ、レジスト回収部15に運び供給することが必要な混合体Dの量が、削減される。
→そこで、レジスト濃縮部14やレジスト回収部15が、小型化でき、→レジスト回収装置11も、全体的に小型化される。
(9) Since a considerable amount of the alkaline solution B is separated and recovered from the mixture D in advance in the pre-liquid removal unit 13, the subsequent amount is carried to the resist concentration unit 14 and supplied. The amount of mixture D to be reduced is reduced.
→ In addition to this, the resist concentrating unit 14 also separates and recovers a considerable amount of the alkaline solution B from the mixture D. → Further, it is necessary to carry and supply the resist collecting unit 15 by that amount. The amount of body D is reduced.
→ Therefore, the resist concentrating unit 14 and the resist collecting unit 15 can be downsized, and the resist collecting apparatus 11 is also downsized as a whole.

本発明に係るレジスト回収装置について、発明を実施するための最良の形態の説明に供し、正断面説明図である。The resist recovery apparatus according to the present invention is a front cross-sectional explanatory diagram for explaining the best mode for carrying out the invention. 同発明を実施するための最良の形態の説明に供し、要部の側断面説明図である。It is a side cross-sectional explanatory drawing of the principal part for description of the best mode for carrying out the invention. 同発明を実施するための最良の形態の説明に供し、全体の側断面説明図である。FIG. 2 is an explanatory side sectional view of the whole for explaining the best mode for carrying out the invention. この種従来例の説明に供し、正断面説明図である。It is a front cross-sectional explanatory drawing for description of this kind of conventional example. 基板(基板材)の模式化した平面説明図である。It is plane explanatory drawing which modeled the board | substrate (board | substrate material).

符号の説明Explanation of symbols

1 現像機
2 剥離機
3 レジスト回収装置(従来例)
4 フィルター
5 チャンバー
6 液槽(従来例)
7 ポンプ(従来例)
8 配管(従来例)
9 スプレーノズル
10 ローラーコンベヤ
11 レジスト回収装置(本発明)
12 液槽(本発明)
13 プレ脱液部
14 レジスト濃縮部
15 レジスト回収部
16 脱液ネット
17 多孔プレート
18 突起
19 仕切床
20 排出口
21 供給管
22 受入口
23 捕集ネット
24 多孔カバー
25 下ボックス部
26 配管(本発明)
27 ポンプ(本発明)
28 ポンプ(本発明)
29 濾過ネット
30 泡回収部
31 消泡ネット
32 ポンプ(本発明)
33 泡回収ボックス
34 液化ノズル
35 泡回収壁
36 開口
37 ポンプ(本発明)
A レジスト
B アルカリ溶液
C 基板材
D 混合体
E 回路基板
F 回路
G 泡
H 回収室
1 Developing Machine 2 Peeling Machine 3 Resist Collection Device (Conventional Example)
4 Filter 5 Chamber 6 Liquid tank (conventional example)
7 Pump (conventional example)
8 Piping (conventional example)
9 Spray nozzle 10 Roller conveyor 11 Resist collection device (present invention)
12 Liquid tank (present invention)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 13 Pre liquid removal part 14 Resist concentration part 15 Resist collection | recovery part 16 Liquid removal net 17 Porous plate 18 Protrusion 19 Partition floor 20 Outlet 21 Supply pipe 22 Inlet 23 Collection net 24 Porous cover 25 Lower box part 26 Piping (this invention) )
27 Pump (present invention)
28 Pump (present invention)
29 Filtration net 30 Foam recovery part 31 Defoaming net 32 Pump (present invention)
33 Foam recovery box 34 Liquefaction nozzle 35 Foam recovery wall 36 Opening 37 Pump (present invention)
A Resist B Alkaline Solution C Substrate Material D Mixture E Circuit Board F Circuit G Foam H Recovery Chamber

Claims (8)

回路基板の製造工程において使用され、供給された噴射後のアルカリ溶液と除去された感光性のレジストとの混合体から、該レジストを回収するレジスト回収装置であって、液槽,プレ脱液部,レジスト濃縮部,レジスト回収部を有しており、
該プレ脱液部は、該混合体から該アルカリ溶液を分離して、該液槽へと回収させ、
該レジスト濃縮部は、該プレ脱液部から供給された該混合体について、該レジストを濃縮すると共に、該アルカリ溶液を分離して該液槽へと回収させ、
該レジスト回収部は、該レジスト濃縮部から供給された該混合体について、該レジストを捕集,回収すると共に、該アルカリ溶液を該液槽へと分離,回収させること、を特徴とするレジスト回収装置。
A resist recovery apparatus for recovering a resist from a mixture of a jetted alkaline solution and a removed photosensitive resist used in a circuit board manufacturing process, comprising a liquid tank and a pre-liquid removal unit , A resist concentrating part, a resist collecting part,
The pre-liquid removal part separates the alkaline solution from the mixture and collects it in the liquid tank.
The resist concentration unit concentrates the resist with respect to the mixture supplied from the pre-liquid removal unit and separates and recovers the alkaline solution into the liquid tank.
The resist recovery unit collects and recovers the resist from the mixture supplied from the resist concentration unit, and separates and recovers the alkaline solution into the liquid tank. apparatus.
請求項1に記載したレジスト回収装置において、該プレ脱液部は、脱液ネットを備えており、供給された該混合体は、まず該脱液ネット上を流れることにより、かなりの該アルカリ溶液が、分離,落下されて該液槽へと回収され、
該レジスト濃縮部は、該液槽中に立設された略逆円錐状の捕集ネットを備えており、該プレ脱液部の脱液ネット上から供給された該混合体は、該捕集ネット内で下方に向け吸引,流下されることにより、かなりの該アルカリ溶液が、該捕集ネット外に流出し下方に向け吸引,流下されて該液槽へと吸引,回収されると共に、該レジストが、該捕集ネット内下部に向け順次濃縮され、
該レジスト回収部は、濾過ネットを備えており、該レジスト濃縮部の捕集ネット内下部から供給され濃縮された該レジストを含んだ該混合体は、該レジストが、該濾過ネットにて捕集,回収されると共に、該アルカリ溶液が、該液槽へと回収されること、を特徴とするレジスト回収装置。
2. The resist recovery apparatus according to claim 1, wherein the pre-liquid removal unit includes a liquid removal net, and the supplied mixture first flows over the liquid removal net, whereby a considerable amount of the alkaline solution is obtained. Is separated, dropped and collected into the liquid tank,
The resist concentrating unit includes a substantially inverted conical collection net standing in the liquid tank, and the mixture supplied from the liquid removal net of the pre-liquid removal unit is the collection unit. By sucking and flowing downward in the net, a considerable amount of the alkaline solution flows out of the collection net and sucks and flows downward to be sucked and collected into the liquid tank. The resist is sequentially concentrated toward the lower part of the collection net,
The resist collection unit includes a filtration net, and the mixture containing the resist supplied and concentrated from the lower portion of the collection net of the resist concentration unit is collected by the filtration net. , And the alkali solution is recovered into the liquid tank.
請求項2に記載したレジスト回収装置であって、回路基板の製造工程の現像機に付設され、該アルカリ溶液は現像液よりなること、を特徴とするレジスト回収装置。   3. The resist recovery apparatus according to claim 2, wherein the resist recovery apparatus is attached to a developing machine in a circuit board manufacturing process, and the alkaline solution is made of a developer. 請求項2に記載したレジスト回収装置であって、回路基板の製造工程の剥離機に付設され、該アルカリ溶液は剥離液よりなること、を特徴とするレジスト回収装置。   3. The resist recovery apparatus according to claim 2, wherein the resist recovery apparatus is attached to a peeling machine in a circuit board manufacturing process, and the alkaline solution is made of a peeling liquid. 請求項3又は4に記載したレジスト回収装置において、更に、泡回収ボックス,液化ノズル,消泡ネットを備えた、泡回収部が配設されており、
該泡回収ボックスは、該レジスト濃縮部上に間隔を存して配設され、下面が開放されており、該混合体上部の該アルカリ溶液の泡を吸引し、
該液化ノズルは、該泡回収ボックスから供給された該泡を該消泡ネットへと噴射し、
該消泡ネットは、噴射された該泡を液化し該アルカリ溶液に戻して、該液槽へ回収させること、を特徴とするレジスト回収装置。
In the resist recovery apparatus according to claim 3 or 4, further, a foam recovery unit including a foam recovery box, a liquefaction nozzle, and a defoaming net is provided,
The foam recovery box is disposed on the resist concentrating part with a gap, the lower surface is opened, and sucks the foam of the alkaline solution at the top of the mixture,
The liquefaction nozzle sprays the foam supplied from the foam recovery box onto the defoaming net,
The defoaming net liquefies the jetted bubbles, returns them to the alkaline solution, and collects them in the liquid tank.
請求項3又は4に記載したレジスト回収装置において、該プレ脱液部は、下降傾斜して配設された該脱液ネットと、該脱液ネット下に上下間隔を存して配設された多孔プレートと、該多孔プレート上に立設された各突起と、を備えた構造よりなり、
該脱液ネット下に落下した該アルカリ溶液は、該多孔プレートと該突起にてバウンド,浮沈運動され、もって該脱液ネットを下から揺らすと共に、該多孔プレート上から該液槽へと落下,回収されること、を特徴とするレジスト回収装置。
5. The resist recovery apparatus according to claim 3, wherein the pre-liquid removal portion is disposed at a vertical interval below the liquid removal net disposed at a downward inclination and below the liquid removal net. It comprises a structure comprising a perforated plate, and each protrusion standing on the perforated plate,
The alkaline solution dropped under the drainage net is bound and floated by the perforated plate and the protrusions, so that the drainage net is shaken from below and dropped from the perforated plate to the liquid tank. A resist collecting apparatus characterized by being collected.
請求項3又は4に記載したレジスト回収装置において、該レジスト濃縮部の捕集ネットの外側に、間隔を存して多孔カバーが周設されており、
該液槽内の該アルカリ溶液は、該多孔カバー内に流入すると共に、該捕集ネットの外面に沿って下方に向け吸引,流下され、もって該液槽へと吸引,回収されること、を特徴とするレジスト回収装置。
In the resist recovery apparatus according to claim 3 or 4, a porous cover is provided around the collection net of the resist concentrating portion with a gap therebetween,
The alkaline solution in the liquid tank flows into the porous cover, and is sucked and flowed downward along the outer surface of the collection net, and is sucked and collected into the liquid tank. A featured resist recovery device.
請求項5又は7に記載したレジスト回収装置において、該混合体,該アルカリ溶液,又は該泡を吸引するポンプは、間欠駆動タイプよりなること、を特徴とするレジスト回収装置。   8. The resist recovery apparatus according to claim 5, wherein the pump for sucking the mixture, the alkaline solution, or the bubbles is of an intermittent drive type.
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