JP4481865B2 - Method and apparatus for removing scum in developing machine - Google Patents
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Description
この発明は、特にDSR現像機の現像槽で発生するスカムを除去する現像機におけるスカム除去方法およびその装置に関する。 The present invention relates to a scum removing method and an apparatus therefor, particularly in a developing machine for removing scum generated in a developing tank of a DSR developing machine.
ポリイミド(PI)に銅(Cu)の電気回路作るための基板は、この基板上にラミネート工程でDSRのフィルムを熱圧着機でラミネートし、露光工程でネガフィルムを使用して露光処理を施し、次に、現像工程で現像処理を施し、その後、エッチング工程でエッチング処理が行われる。 A substrate for making an electrical circuit of copper (Cu) on polyimide (PI) is obtained by laminating a DSR film on this substrate with a thermocompression bonding machine and performing an exposure process using a negative film in the exposure process. Next, a development process is performed in a development process, and then an etching process is performed in an etching process.
すなわち、上記のDSRとはドライフィルムソルダーレジストの略であり、回路が形成された後のプリント基板の表面を、実装部品を載せる部分や製品用の端子部分を除いて絶縁するためのものである。DSRはUV光を照射すると固まる特性を持ち、UV光が照射されていない部分にアルカリ性の薬液(一般的にはNa2CO3)をつけると溶けてなくなる。このUV光を照射する工程をDSR露光工程といい、UV光が照射されていない部分を溶かして取り除く工程をDSR現像工程という。実装部品を載せる部分や製品用の端子部分を除いてDSRで絶縁するために、その部分をマスクで覆い、マスクで覆われていない部分にUV光を照射するDSR露光工程を経た基板がDSR現像工程には来る。 That is, the above-mentioned DSR is an abbreviation for dry film solder resist, and is used to insulate the surface of the printed circuit board after the circuit is formed, excluding a part on which a mounting component is placed and a terminal part for a product. . DSR has a characteristic that it hardens when irradiated with UV light, and it disappears when an alkaline chemical (generally Na 2 CO 3 ) is applied to a portion not irradiated with UV light. This process of irradiating with UV light is referred to as a DSR exposure process, and the process of dissolving and removing a portion not irradiated with UV light is referred to as a DSR development process. In order to insulate with DSR except for mounting parts and product terminal parts, the part is covered with a mask, and the substrate that has undergone the DSR exposure process that irradiates UV light to the part not covered with the mask is DSR developed. Come to the process.
前記現像工程では、露光処理を施した基板に複数の噴射ノズルから現像液を吹き付けて、前記基板から紫外線硬化していないドライソルダレジストを溶解して除去する手段が施される。 In the development step, means for spraying a developer from a plurality of jet nozzles onto the substrate subjected to the exposure process to dissolve and remove the dry solder resist not cured by ultraviolet rays from the substrate is applied.
従来の現像機は、現像槽とこの現像槽の下方に設けられた現像液貯留槽とからなる現像部で現像処理が施された後、複数の洗浄槽で洗浄処理が行われ、さらに乾燥槽で乾燥処理が行われている。 In a conventional developing machine, after a developing process is performed in a developing unit including a developing tank and a developer storage tank provided below the developing tank, a cleaning process is performed in a plurality of cleaning tanks, and a drying tank The drying process is performed.
そして、従来の現像機における現像部では、図6に示されているように、現像槽101とこの現像槽101の下方に連通管103を介して設けられた現像液貯留槽105とからなっている。前記現像槽101内の前後図6において左右端には一対の送り出しローラ107、109が設けられている。この一対の送り出しローラ107、109には例えばメッシュなどからなる搬送コンベア111が挟み込まれ、この搬送コンベア111上に露光処理された基板Kが載置されて一対の送り出しローラ107、109を同期して回転されることで搬送コンベア111が図6において矢印で示したごとく例えば右から左へ走行されるようになっている。前記現像槽101内の走行される搬送コンベア111の上下には複数の噴射ノズル113、115を備えたヘッダ117、119が設けられている。
As shown in FIG. 6, the developing unit in the conventional developing machine includes a developing
一方、前記現像液貯留槽105内には、例えば炭酸ナトリゥム(Na2CO3)などの現像液Eが貯留されている。前記現像液貯留槽105の図6において左側壁には排出槽121が設けられている。この排出槽121の右側上部と前記現像液貯留槽105の左側壁とが連通されている。前記排出槽121の例えば下部には排出口123が設けられている。
On the other hand, a developer E such as sodium carbonate (Na 2 CO 3 ) is stored in the
前記現像液貯留槽105の例えば図6において右側壁には配管125の一端が接続されていると共に前記配管125の他端が前記ヘッダ117に接続されている。しかも、前記配管125の途中から分岐して配管127の一端が接続されていると共に配管127の他端が前記ヘッダ119に接続されている。配管127に分岐される手前の配管125には前記現像液貯留槽105側からポンプ129、電磁バルブ131が順に設けられている。
For example, in FIG. 6, one end of a
上記構成により、露光処理された基板Kが搬送コンベア111上に載置され、一対の送り出しローラ107、109を同期して回転して図6において矢印で示したごとく走行させて、露光処理された基板Kが現像槽101内を図6において右側から左側に向けて一定の速度で通過される。
With the above configuration, the exposed substrate K is placed on the
この状態でポンプ129を作動させると共に電磁バルブ131を開かせると、現像液Eが現像液貯留槽105より配管125、127を経てヘッダ117、119に送られる。すると、このヘッダ117、119より現像液Eが複数の噴射ノズル113、115へ送られ、この複数の噴射ノズル113、115より現像液Eが常時露光処理された基板Kの表、裏の両面に吹き付けられて露光処理された基板Kから紫外線硬化していないドライソルダレジスト(DSR)を溶解して、溶解された液内部に含まれるドライソルダレジスト(DSR)のスカムSが現像液Eと共に連通管103を経て流れて現像液貯留槽105に落ちてくる。その結果、スカムSの一部は現像液貯留槽105の底部に沈殿物Tとして貯まると共に現像液貯留槽105内に貯留している現像液Eの表面に浮上している泡133に付着する。
When the
この泡133に付着されたスカムSは現像液Eがオーバーフローしたときに、泡133と共に排出槽121へと排出されることになる。
ところで、上述した従来のスカムSの除去方法では、DSRの現像を続けると現像液Eに混じってスカムSが浮遊してくる。このスカムSは最初、泡133の上にのるくらい軽いもので、泡133の上や上部に塊になってくると塊のまま現像槽101内に沈んでいく。現像処理後の現像液Eをオーバーフローさせて廃液しているので現像液Eの上部は廃液されるが、泡133は廃液されずに残ってしまうため、泡133に付着したスカムSは取り除くことができず、塊になっていく。
By the way, in the conventional method for removing the scum S, when the development of DSR is continued, the scum S floats in the developer E. The scum S is initially light enough to be placed on the
塊になったスカムSが沈んでいく過程でポンプ129に吸い上げられると現像液Eと一緒にスカムSを噴射ノズル113、115で噴射することになり、一度基板KにスカムSが付着すると水洗を通っても取り除くのが難しく、スカムSが付着したままの製品ができてしまい、不良を発生させる原因となってしまう。また、スカムSが現像液貯留槽105内壁に固着してしまうため、現像液貯留槽105内部の清掃が大変であるという問題があった。
When the scum S that has become a lump is sucked up by the
この発明は上述の課題を解決するためになされたものである。 The present invention has been made to solve the above-described problems.
上記発明が解決しようとする課題を達成するためにこの発明の現像機におけるスカム除去方法は、露光処理を施した基板に現像槽内で複数の第1噴射ノズルにより現像貯留槽からの現像液を吹き付けて、前記基板から紫外線硬化していないドライソルダレジストを溶解して除去すると、前記現像槽の下方に設けられた現像液貯留槽内に現像液と共にドライソルダレジストのスカムが排出され、前記現像液貯留槽内に貯留された現像液の表面に浮上している前記スカムが付着した泡を複数の第2噴射ノズルから現像液を吹き付けて前記現像液貯留槽より除去して排出することを特徴とするものである。 In order to achieve the problem to be solved by the above invention, the scum removing method in the developing machine of the present invention is such that the developer from the developer storage tank is supplied to the substrate subjected to the exposure process by the plurality of first injection nozzles in the developing tank. When the dry solder resist that has not been UV cured is dissolved and removed from the substrate by spraying, the scum of the dry solder resist is discharged together with the developer into the developer storage tank provided below the developer tank, and the development The bubbles adhering to the scum floating on the surface of the developer stored in the liquid storage tank are sprayed from a plurality of second spray nozzles, removed from the developer storage tank, and discharged. It is what.
この発明の現像機におけるスカム除去装置は、露光処理を施した基板に複数の第1噴射ノズルにより現像液を吹き付けて、前記基板から紫外線硬化していないドライソルダレジストを溶解して除去するための現像槽と、現像液と共にドライソルダレジストのスカムが排出されるための前記現像槽の下方に設けられた現像液貯留槽と、この現像液貯留槽内に貯留された現像液の表面に浮上している前記スカムが付着した泡に現像液を吹き付けて前記現像液貯留槽より除去して排出するための複数の第2噴射ノズルと、で構成されていることを特徴とするものである。 A scum removing device in a developing machine according to the present invention is for spraying a developing solution to a substrate subjected to an exposure process by a plurality of first spray nozzles to dissolve and remove a dry solder resist not cured by ultraviolet rays from the substrate. A developer tank, a developer storage tank provided below the developer tank for discharging the scum of the dry solder resist together with the developer, and the surface of the developer stored in the developer storage tank And a plurality of second spray nozzles for spraying the developer onto the bubbles to which the scum is attached, removing the developer from the developer storage tank, and discharging the developer.
この発明の現像機におけるスカム除去装置は、前記現像機におけるスカム除去装置において、前記複数の第2噴射ノズルが、前記現像液貯留槽の上壁に下方へ向けて設けられた泡誘導カバー内に設けられていることが好ましい。 In the scum removing device in the developing machine according to the present invention, in the scum removing device in the developing machine, the plurality of second injection nozzles are provided in a foam guide cover provided downward on the upper wall of the developer storage tank. It is preferable to be provided.
この発明の現像機におけるスカム除去装置は、前記現像機におけるスカム除去装置において、前記複数の第2噴射ノズルは、前記現像液貯留槽内に貯留された現像液がオーバーフローされたときに作動されることが好ましい。 In the scum removing device in the developing machine according to the present invention, in the scum removing device in the developing machine, the plurality of second injection nozzles are operated when the developer stored in the developer storage tank overflows. It is preferable.
以上のごとき課題を解決するための手段の説明から理解されるように、この発明の現像機におけるスカム除去方法およびその装置によれば、現像液貯留槽内に貯留された現像液の表面に浮上している前記スカムが付着した泡に複数の第2噴射ノズルから現像液を吹き付けて前記現像液貯留槽より除去して排出されるから、スカムが現像液貯留槽に滞留しないので、現像液貯留槽の側壁に蓄積することはなくなり、スカムの処理を容易に行うことができると共に現像液貯留槽内の清掃が容易になる。しかも、スカムが現像液貯留槽に滞留しないので、スカムが吸い上げられてスカムが基板に吹き付けられることがなくなる。それにより、基板にスカムが付着することがなくなるので、製品の不良を減らすことができる。 As can be understood from the description of the means for solving the problems as described above, according to the scum removing method and apparatus in the developing machine of the present invention, the surface of the developer stored in the developer storage tank floats. Since the developer is sprayed from the plurality of second injection nozzles to the bubbles to which the scum is attached and removed from the developer storage tank and discharged, the scum does not stay in the developer storage tank. Accumulation on the side wall of the tank is eliminated, scum can be easily processed, and cleaning of the developer storage tank is facilitated. In addition, since the scum does not stay in the developer storage tank, the scum is not sucked up and sprayed onto the substrate. As a result, no scum adheres to the substrate, so that product defects can be reduced.
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
この発明の現像機は、現像槽とこの現像槽の下方に設けられた現像液貯留槽とからなる現像部で現像処理が施された後、複数の洗浄槽で洗浄処理が行われ、さらに乾燥槽で乾燥処理が行われている。 In the developing machine according to the present invention, after a developing process is performed in a developing unit including a developing tank and a developer storage tank provided below the developing tank, a cleaning process is performed in a plurality of cleaning tanks, and further drying is performed. Drying is performed in the tank.
そして、この現像機における現像部では、図5に示されているように、現像槽1とこの現像槽1の下方に連通管3を介して設けられた現像液貯留槽5とからなっている。前記現像槽1内の前後図5において左右端には一対の送り出しローラ7、9が設けられている。この一対の送り出しローラ7、9には例えばメッシュなどからなる搬送コンベア11が挟み込まれ、この搬送コンベア11上に露光処理された基板Kが載置されて一対の送り出しローラ7、9を同期して回転されることで搬送コンベア1が図5において矢印で示したごとく例えば右から左へ走行されるようになっている。前記現像槽1内の走行される搬送コンベア1の上下には複数の第1噴射ノズル13、15を備えたヘッダ17、19が設けられている。
As shown in FIG. 5, the developing unit in the developing machine includes a developing tank 1 and a
一方、前記現像液貯留槽5内には、例えば炭酸ナトリゥム(Na2CO3)などの現像液Eが貯留されている。
On the other hand, a developer E such as sodium carbonate (Na 2 CO 3 ) is stored in the
前記現像液貯留槽5の例えば図5において右側壁には配管21の一端が接続されていると共に前記配管21の他端が前記ヘッダ17に接続されている。しかも、前記配管21の途中から分岐して配管23の一端が接続されていると共に配管23の他端が前記ヘッダ119に接続されている。配管21に分岐される手前の配管21には前記現像液貯留槽5側からポンプ25、電磁バルブ27が順に設けられている。
For example, in FIG. 5, one end of a
上記構成により、露光処理された基板Kが搬送コンベア11上に載置され、一対の送り出しローラ7、9を同期して回転して図5において矢印で示したごとく走行させて、露光処理された基板Kが現像槽1内を図5において右側から左側に向けて一定の速度で通過される。
With the above configuration, the substrate K subjected to the exposure process is placed on the
この状態でポンプ25を作動させると共に電磁バルブ27を開かせると、現像液Eが現像液貯留槽5より配管21、23を経てヘッダ17、19に送られる。すると、このヘッダ17、19より現像液Eが複数の第1噴射ノズル13、15へ送られ、この複数の第1噴射ノズル13、15より現像液Eが常時露光処理された基板Kの表、裏の両面に吹き付けられて露光処理された基板Kから紫外線硬化していないドライソルダレジスト(DSR)を溶解して、溶解させた液内部に含まれるドライソルダレジスト(DSR)のスカムSが現像液Eと共に連通管3を経て流れて現像液貯留槽5に落ちてくることになる。スカムSの一部は現像液貯留槽5の底部に沈殿物Tとして溜まることになる。
When the
前記現像液貯留槽5は、図1、図2および図3を参照するに、例えば矩形形状をしており、前壁5F、後壁5B、左壁5L、右壁5Rおよび底壁5Sとで構成されていて、上部が開口されている。しかも、前記左壁5Lの高さ方向における中央よりやや高い位置には開口部29が形成されている。この左壁5Lの上側部には上開口調整板31が上下方向へ調整可能に取り付けられていると共に左壁5Lの下側部には下開口調整板33が上下方向へ調整可能に取り付けられている。したがって、この上開口調整板31と下開口調整板33とをそれぞれ上下方向に調整することで前記開口部29の開口を調整できるようになっている。
As shown in FIGS. 1, 2 and 3, the
前記左壁5Lの外側図1において左側には泡オーバーフロー槽35が設けられている。この泡オーバーフロー槽35内の下部には支持板37が設けられており、この支持板37上には図1において紙面に対して直交する方向へオーバーフロードレン39が設けられている。また、前記泡オーバーフロー槽35の上部には噴射ノズル40が設けられている。この噴射ノズル40は泡をオーバーフロードレン39に落とすため、泡をたたく役割を果たしている。図3に示されているように、例えば図3において後壁5B内の前記現像液貯留槽5には基準水面41を検出する水位センサ43が前記現像液貯留槽5の上部に取り付けられて下方へ向けて垂れ下がっている。
A
図4も併せて参照するに、前記現像液貯留槽5の右壁5Rの基準水面41より上方には前記現像槽1から連通管3を経て現像に使用された現像液が前記現像液貯留槽5に戻される戻り連通管45が取り付けられている。この戻り連通管45は図4によく示されているように、内部を空間にした矩形形状の第1管47とこの管47に一体化された下部が左斜めに下方へ傾斜した傾斜面49Kを備えた内部を空間にした矩形形状の第2管49とで構成されている。しかも、前記傾斜面49Kにより戻されてきた使用済みの現像液が前記現像液貯留槽5内に容易に貯留されるようになっている。
Referring also to FIG. 4, above the
前記現像液貯留槽5の左壁5L内には逆U字形状をした支持フレーム51が取り付けられている。この支持フレーム51と前記戻り連通管45との間に逆U字形状をした泡誘導カバー53が設けられる。しかも、この泡誘導カバー53の右端部が前記戻り連通管45における第2管49の左端部に被せられると共に泡誘導カバー53の左端部が前記支持フレーム51の右端部に被せられる。
A
前記泡誘導カバー53における左右の中央部よりやや右側寄りには前後方向へ延伸された例えばU字形状の切り欠き溝55が形成されている。この切り欠き溝55内には前後方向図2において上下方向に延伸されたヘッダ57が設けられ、図2において上端にはジョイント59を介して配管61の左端が接続されていると共に配管61の右端が前記ポンプ25より分岐された図示省略の配管に接続されている。この配管の途中には電磁バルブが設けられている。前記ヘッダ57の前後方向には図2示されているように、適宜な間隔で複数の第2噴射ノズル63が連結されている。
For example, a
前記現像槽3で使用された現像液EとスカムSとが連通管3を経て戻り連通管45を通り、現像液貯留槽5内に貯留される。この現像液貯留槽5内にはすでに貯留されている現像液E内に加えて貯まっていく。このとき、泡誘導カバー53が現像液貯留槽5内に設けられているから、戻ってきた現像液Eが現像液貯留槽5内に貯留されて表面に泡65が泡誘導カバー53内に発生する。この泡65にはスカムSが付着されている。
The developer E and the scum S used in the developer tank 3 pass through the communication pipe 3, return through the
そして、現像液貯留槽5内の現像液Eが基準水面41に達したことを水位センサ43により検出されると、図示省略の電磁バルブがオンして現像液Eが配管61をとおってヘッダ57に送られる。このヘッダ57に送られた現像液Eが複数の第2噴射ノズル63に送られ、この各第2噴射ノズル63から表面に発生している泡65に向けて噴射される。
When the
その結果、泡65が噴射された現像液Eにより図1により左側に飛ばされて泡オーバーフロー槽35内に排出される。この泡オーバーフロー槽35内に排出された泡65とスカムSとが噴射ノズル40からのエアによりスカムSが付着した泡65をたたき落としてオーバーフロードレン39をとおり外部へ排出することができる。
As a result, the
したがって、従来のように現像液貯留槽5内の例えば図1において左壁5Lに取り付けられた下開口調整板33にへばり付いて蓄積されるようなことをなくすることができる。その結果、蓄積されたスカムSを除去する作業がなくなり、作業の改善を図ることができて、スカムSの処理を容易に行うことができると共に、現像液貯留槽5内の清掃を容易に行うことができる。しかも、スカムSが現像液貯留槽5に滞留しないので、スカムSが吸い上げられてスカムSが基板Kに吹き付けられることがなくなる。それにより、基板KにスカムSが付着することがなくなるので、製品の不良を減らすことができる。
Therefore, it is possible to eliminate the occurrence of sticking to the lower
前記現像液貯留槽5内の現像液Eが少なくなってきた場合には図示省略の現像液供給槽より逐次補充することができる。
When the developing solution E in the developing
前記複数の第2噴射ノズル63が、現像液貯留槽5の全幅にわたるのでなく、前記現像液貯留槽5の上壁に下方へ向けて設けられた泡誘導カバー53に設けられているから、現像液Eの噴射能力を上げることができる。
Since the plurality of
前記複数の第2噴射ノズル63は、前記現像液貯留槽5内に貯留された現像液Eがオーバーフローされたときに作動されるようになっているから、効率よく泡65とスカムSを除去することができる。
Since the plurality of
1 現像槽
3 連通管
5 現像液貯留槽
7、9 送り出しローラ
11 搬送コンベア
13、15 第1噴射ノズル
17、19 ヘッダ
21、23 配管
25 ポンプ
27 電磁バルブ
29 開口部
31 上開口調整板
33 下開口調整板
35 泡オーバーフロー槽
37 支持板
39 オーバーフロードレン
41 基準水面
43 水位センサ
45 戻り連通管
47 第1管
49 第2管
51 支持フレーム
53 泡誘導カバー
55 切り欠き溝
57 ヘッダ
59 ジョイント
61 配管
63 第2噴射ノズル
65 泡
K 基板
E 電解液
S スカム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Developing tank 3
Claims (4)
4. The scum removing device in the developing device according to claim 2, wherein the plurality of second ejection nozzles are operated when the developer stored in the developer storage tank overflows.
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