JP2006242952A - 電子部品検査システム - Google Patents
電子部品検査システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006242952A JP2006242952A JP2006051224A JP2006051224A JP2006242952A JP 2006242952 A JP2006242952 A JP 2006242952A JP 2006051224 A JP2006051224 A JP 2006051224A JP 2006051224 A JP2006051224 A JP 2006051224A JP 2006242952 A JP2006242952 A JP 2006242952A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- electronic
- glass disk
- unit
- electronic components
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 59
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 6
- 208000028659 discharge Diseases 0.000 claims description 40
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 37
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 29
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007599 discharging Methods 0.000 abstract description 8
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000036632 reaction speed Effects 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/0882—Control systems for mounting machines or assembly lines, e.g. centralized control, remote links, programming of apparatus and processes as such
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Immunology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明の電子部品検査システムは、電子部品を供給する電子部品供給部、電子部品を無振動状態で移送して整列する電子部品整列部、電子部品が配置されるガラス円板、トリガー信号とエンコーダ値を生成する電子部品位置検出部、電子部品の4面を撮影する電子部品撮影部、圧縮空気を噴射して電子部品を排出する電子部品排出部及びトリガー信号とエンコーダ値及び撮影映像を用いて、電子部品の良否判定を行った後、判定された結果に基づいて、電子部品排出部を制御する制御部を含む。本発明によれば、電子部品の安定的な整列、選別性能の向上、電子部品の排出反応速度の向上という効果がある。
【選択図】図2
Description
200:電子部品整列部
300:ガラス円板
400:トリガーセンサ
500:電子部品撮影部
600:電子部品排出部
Claims (5)
- 良否判定の対象となる多数の電子部品を収容するホッパーと、前記ホッパーから供給される電子製品を振動によって順次移送させる少なくとも一つのフィーダーとを含む供給部と、
前記供給部から電子部品を供給され、ライン溝が形成され、他の電子部品の移動力によって無振動状態で移送する無振動シュートと、前記無振動シュートから移送される電子部品をガイドして整列するように、間隔を置いて対向する二つの治具で形成された整列機とを含む整列部と、
前記整列部を通じて整列される電子部品が配置され、モータによって回転するガラス円板と、
前記ガラス円板に配置された電子部品が通過する時にトリガー信号を生成し、前記ガラス円板の回転に従って変化するエンコーダ値を実時間で生成する位置検出部と、
前記ガラス円板に配置された電子部品の上下左右の4面を撮影するカメラと、中空に形成された反射板と、前記反射板の内部の中空を取り囲む複数の色相の発光素子を備え、連続撮影される電子部品に異なる色相の照明を提供するように前記カメラに取り付けられる照明手段とを含む撮影部と、
貫通孔が形成された排出段を電子部品に隣接させ、圧縮空気を前記貫通孔から選択的に噴射して、ガラス円板から離脱する電子部品を分類して収集する排出部と、
前記電子部品位置検出部から受信されるトリガー信号とエンコーダ値を用いて、当該電子部品が電子部品撮影部の各カメラの位置に到達すると、電子部品の4面を順次撮影できるように前記カメラを制御し、当該電子部品を各面に対して相違した角度から連続して2回以上撮影するように前記カメラを制御し、連続撮影時、前記発光素子の色相の組合せを変更して相違した照明状態を有するように前記照明手段を制御し、電子部品の各面に対して相違した角度及び相違した照明状態で連続撮影された映像に基づいて電子部品の良否判定を行った後、判定された結果に基づいて前記排出部を制御して電子部品を分類する制御部とを含むことを特徴とする電子部品検査システム。 - 前記照明手段のうち、ガラス円板の外周の外側に位置されたカメラに取り付けられる照明手段において、ガラス円板を基準にして下段に位置する反射板部分が上段に位置する反射板部分よりも後方に位置することを特徴とする請求項1に記載の電子部品検査システム。
- 前記発光素子は、赤色LED、白色LED及び青色LEDを組み合わせた複数の発光素子段で構成されることを特徴とする請求項2に記載の電子部品検査システム。
- 前記制御部は、2n通り(n=発光素子段の数)の照明状態を有するように、前記照明手段を制御することを特徴とする請求項3に記載の電子部品検査システム。
- 前記排出部は、
圧縮空気の流れを断続する少なくとも一つのソレノイド弁と、
前記ソレノイド弁に連結されるエアホースと、
入口は前記エアホースに連結され、出口は前記ガラス円板に配置された電子部品に圧縮空気を噴射する貫通孔が形成される排出段と、
前記圧縮空気によってガラス円板から離脱する電子部品を収集する収納筒とを含むことを特徴とする請求項1に記載の電子部品検査システム。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050016383A KR100527211B1 (ko) | 2005-02-28 | 2005-02-28 | 전자부품 검사 시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006242952A true JP2006242952A (ja) | 2006-09-14 |
JP4282675B2 JP4282675B2 (ja) | 2009-06-24 |
Family
ID=36946812
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006051224A Active JP4282675B2 (ja) | 2005-02-28 | 2006-02-27 | 電子部品検査システム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4282675B2 (ja) |
KR (1) | KR100527211B1 (ja) |
CN (1) | CN100547415C (ja) |
TW (1) | TWI293365B (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008292359A (ja) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ワーク検査方法 |
CN102749333A (zh) * | 2011-04-18 | 2012-10-24 | 久元电子股份有限公司 | 用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统 |
KR101340196B1 (ko) | 2011-03-28 | 2013-12-10 | 영텍 일렉트로닉스 코포레이션 | 복수의 전자 소자의 외관을 검출하기 위한 다중 채널 검출 시스템 |
KR20180138128A (ko) | 2017-06-19 | 2018-12-28 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | 진동 반송 장치 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100691455B1 (ko) | 2006-04-14 | 2007-03-12 | (주)알티에스 | 듀얼 전자부품 검사 장치에서의 부품 정렬 장치 |
ATE540568T1 (de) * | 2009-02-03 | 2012-01-15 | Ismeca Semiconductor Holding | Verfahren und vorrichtung zum füllen von trägerbändern mit elektronischen bauteilen |
CN102590224A (zh) * | 2012-01-18 | 2012-07-18 | 肇庆市宏华电子科技有限公司 | 一种片式电子元件外观检测机 |
CN103398654A (zh) * | 2013-08-13 | 2013-11-20 | 天津三星电机有限公司 | 一种检测轮线性度的测量装置 |
KR101592901B1 (ko) * | 2014-05-30 | 2016-02-11 | 세계정밀(주) | 주사기 조립장치 |
CN104076225B (zh) * | 2014-07-12 | 2017-09-01 | 东莞市瑾耀精密设备有限公司 | 一种片状元器件短时过载的测试方法和测试机 |
CN106370666A (zh) * | 2015-07-23 | 2017-02-01 | 台达电子工业股份有限公司 | 电子元件外观检测装置及其检测方法 |
CN105118698A (zh) * | 2015-09-18 | 2015-12-02 | 益阳市和天电子有限公司 | 一种电容器全自动检测裁脚机 |
CN105817431B (zh) * | 2016-05-07 | 2019-03-08 | 肇庆市宏华电子科技有限公司 | 一种智能外观缺陷高速检测机 |
KR102590329B1 (ko) * | 2022-11-21 | 2023-10-17 | 주식회사 에스엠에스 | 엠엘시시(mlcc)의 양품과 불량품 선별용 핸들러 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0654226B2 (ja) * | 1988-03-31 | 1994-07-20 | ティーディーケイ株式会社 | チップ状部品の自動外観検査機 |
JP3020089U (ja) * | 1995-06-30 | 1996-01-19 | 武士 寺田 | 製品検査用光源装置 |
JP2000283924A (ja) * | 1999-03-29 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | ワーク検査方法および装置 |
JP2002048731A (ja) * | 2000-08-01 | 2002-02-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装基板の外観検査装置および外観検査方法 |
JP2002296198A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-09 | Omron Corp | 曲面性状検査装置の照明装置 |
JP2003139516A (ja) * | 2001-10-30 | 2003-05-14 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の外観検査装置および外観検査方法 |
JP2004279236A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Nec Semiconductors Kyushu Ltd | 外観検査装置および検査方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0777882B2 (ja) * | 1991-06-24 | 1995-08-23 | ティーディーケイ株式会社 | 収納ケースに対する電子部品の自動装填方法及びその装置 |
KR100504334B1 (ko) * | 2003-03-19 | 2005-07-27 | (주)바른기술 | 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 및 방법 |
KR20040089798A (ko) * | 2003-04-15 | 2004-10-22 | (주)바른기술 | 연속 영상취득을 이용한 전자부품 검사장치 및 방법 |
KR100529404B1 (ko) * | 2003-04-22 | 2005-11-17 | 윈텍 주식회사 | 전자부품 검사장치 |
-
2005
- 2005-02-28 KR KR1020050016383A patent/KR100527211B1/ko active IP Right Review Request
-
2006
- 2006-02-23 TW TW095106160A patent/TWI293365B/zh not_active IP Right Cessation
- 2006-02-27 JP JP2006051224A patent/JP4282675B2/ja active Active
- 2006-02-28 CN CNB2006100582436A patent/CN100547415C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0654226B2 (ja) * | 1988-03-31 | 1994-07-20 | ティーディーケイ株式会社 | チップ状部品の自動外観検査機 |
JP3020089U (ja) * | 1995-06-30 | 1996-01-19 | 武士 寺田 | 製品検査用光源装置 |
JP2000283924A (ja) * | 1999-03-29 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | ワーク検査方法および装置 |
JP2002048731A (ja) * | 2000-08-01 | 2002-02-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 実装基板の外観検査装置および外観検査方法 |
JP2002296198A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-10-09 | Omron Corp | 曲面性状検査装置の照明装置 |
JP2003139516A (ja) * | 2001-10-30 | 2003-05-14 | Murata Mfg Co Ltd | 電子部品の外観検査装置および外観検査方法 |
JP2004279236A (ja) * | 2003-03-17 | 2004-10-07 | Nec Semiconductors Kyushu Ltd | 外観検査装置および検査方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008292359A (ja) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Ngk Spark Plug Co Ltd | ワーク検査方法 |
KR101340196B1 (ko) | 2011-03-28 | 2013-12-10 | 영텍 일렉트로닉스 코포레이션 | 복수의 전자 소자의 외관을 검출하기 위한 다중 채널 검출 시스템 |
CN102749333A (zh) * | 2011-04-18 | 2012-10-24 | 久元电子股份有限公司 | 用于检测多个电子元件外观的多轨式检测系统 |
KR20180138128A (ko) | 2017-06-19 | 2018-12-28 | 신포니아 테크놀로지 가부시끼가이샤 | 진동 반송 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1828321A (zh) | 2006-09-06 |
JP4282675B2 (ja) | 2009-06-24 |
TWI293365B (en) | 2008-02-11 |
CN100547415C (zh) | 2009-10-07 |
TW200636756A (en) | 2006-10-16 |
KR100527211B1 (ko) | 2005-11-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4282675B2 (ja) | 電子部品検査システム | |
KR100725485B1 (ko) | 전자부품 검사 시스템 | |
JP2005214751A (ja) | ネジの検査装置 | |
JP2018533842A (ja) | 構成部品の受け取り装置 | |
KR100899361B1 (ko) | 나사검사선별장치 | |
JP2005233730A (ja) | 部品検査装置 | |
JP3774893B2 (ja) | 検査装置 | |
US20030089184A1 (en) | Feeder for polyhedron inspection, and polyhedron inspector | |
CN1439873A (zh) | 零件外观检查装置 | |
JP2009276093A (ja) | ネジの検査装置 | |
JP2005172608A (ja) | 外観検査装置 | |
JP6491000B2 (ja) | ねじ検査装置 | |
IL156150A (en) | Feon test feeder and Faun test device | |
TW593973B (en) | Exterior inspection apparatus for workpieces and exterior inspection method | |
KR100575896B1 (ko) | 전자부품 검사 방법 | |
JP4350553B2 (ja) | 錠剤検査システム | |
JP2010019731A (ja) | 外観検査装置 | |
KR100402253B1 (ko) | 비젼 시스템을 이용한 전자부품 검사장치 | |
KR100646863B1 (ko) | 선별율을 향상하는 조명 장치, 전자부품 검사 장치 및전자부품 검사 방법 | |
RU2468872C1 (ru) | Устройство для сортировки зерна | |
JPH10170446A (ja) | 錠剤の姿勢変換機構及び錠剤の外観検査装置 | |
JP2000157935A (ja) | 部品の検査方法及びその装置 | |
JP2004045097A (ja) | 外観検査装置 | |
WO2011056976A1 (en) | High speed optical inspection system with adaptive focusing | |
TWI338130B (en) | Part align apparatus and electronic part discharge method of in a apparatus for dual electronic part inspection |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080303 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080603 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080826 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081021 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090217 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090317 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4282675 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120327 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130327 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140327 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |