CN100547415C - 电子部件检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种电子部件检测系统，包括：供应电子部件的电子部件供应部；以无振动状态移送并对准电子部件的电子部件对准部；排列电子部件的玻璃圆盘；生成触发信号与编码值的电子部件位置检测部；拍摄电子部件的四面的电子部件拍摄部；喷射压缩空气而排出电子部件的电子部件排出部；及利用触发信号和编码值及拍摄影像判断电子部件的优劣情况，根据判断结果控制电子部件排出部的控制部。本发明以无振动状态对准电子部件，因此可实现稳定的电子部件对准，基于2次以上的拍摄影像进行优劣判断，因此其选择性提高，去除喷嘴而缩短了压缩空气的移动路径，因此提高了电子部件排出的应答速度。

Description

电子部件检测系统
技术领域
本发明涉及一种电子部件(electronic parts)检测系统，尤其是涉及自动对准电子部件，进行优劣判断，并根据判断结果排出、分类电子部件的电子部件对准装置、电子部件排出装置及电子部件检测系统。
背景技术
电子部件检测系统是对多层陶瓷电容器(MLCC：multilayer ceramiccapacitor)或类似的电子部件进行对准及摄影，并且利用拍摄的影像判断电子部件的优劣，之后根据判断结果，喷射压缩空气，自动分类电子部件的系统。
通常，如MLCC等电子部件都在上市之前必须进行尺寸、裂纹、镀金量、镀金面积等方面的优劣判断。
如上用于电子部件的质量判断的电子部件检测系统的现有技术已在韩国发明专利公开号2002-73957及2004-82564所公开。
但是，现有的电子部件检测系统的问题在于，在对电子部件进行对准的过程中电子部件一直都处于振动状态，因此电子部件很难在稳定的状态下对准。
并且，针对要检测的电子部件对象，根据一次性摄影影像就判断电子部件的优劣，因此还存在电子部件质量判断的可选性较低的问题。
为了在根据电子部件优劣判断结果排出电子部件而喷射压缩空气的情况下，需要使用喷嘴，而空气的移动路径较长，因此存在着从电磁(solenoid)阀门到电子部件为止所发生压缩空气的时间延迟的问题。
发明内容
为了解决上述问题，本发明提供一种电子产品对准装置及电子部件检测系统，在电子部件供应部和对准机(Aligner)之间形成无振动空间，使得电子产品在无振动状态下移送到对准机。
本发明的另一目的在于提供一种电子部件检测系统，根据在不同角度和照明条件下连续2次以上拍摄的同一电子部件的影像，判断该电子产品的优劣。
本发明的又一目的在于提供一种电子部件排出装置及电子部件检测系统，省略了喷射压缩空气的喷嘴，以缩短压缩空气从电磁阀门到电子部件的移动路径。
本发明的其他目的及优点将在以下进行说明，并通过实施例详细说明。并且，本发明的目的及优点也将能通过权利要求书中的装置及组合一一实现。
为了达到上述目的，本发明提供一种电子部件检测系统，其特点在于，包括：供应部，包括：容纳作为优劣判断的对象的多个电子部件的料斗；及至少一个依靠振动依次移送所述料斗提供的电子部件的送件部；对准部，依靠其他电子部件的移动力以无振动状态将所述供应部提供的电子部件移送并对准；玻璃圆盘，排列有通过所述对准部对准的电子部件，并依靠发动机旋转；位置检测部，在排列在所述玻璃圆盘上的电子部件通过时生成触发信号，实时生成随着所述玻璃圆盘的旋转而变化的编码值；摄像部，包括：摄像头，拍摄所述玻璃圆盘上的电子部件的上下左右四面；照明装置，安装在所述摄像头上，给拍摄对象电子部件提供照明；排出部，将形成有通孔的排出端相邻设置于所述电子部件，通过所述通孔选择性喷射压缩空气，分类并收集脱离玻璃圆盘的电子部件；控制部，利用所述电子部件位置检测部提供的触发信号和编码值，控制所述摄像头当所述电子部件到达电子部件摄像部的各个摄像头位置时依次拍摄电子部件的四面，获得电子部件四面的拍摄影像，通过拍摄影像判断电子部件的优劣状态，并根据判断结果控制所述排出部对所述电子部件进行分类。
所述电子部件对准部包括：无振动斜槽送件部(chute)，形成有接收所述电子部件供应部提供的电子部件的线形槽；对准机，包括在同一水平面上以一定间隔相对设置的两个夹具，以引导并对准所述无振动斜槽送件部移送的电子部件。
并且，所述夹具间间隔可根据所述电子部件的尺寸调整。
所述对准机的夹具包括：对准端，其相对面的弯曲度与玻璃圆盘的弯曲度相同；引导端，相对面的末端形成有间隔大于所述对准端间隔的引导面，将所述无振动斜槽送件部移送的电子部件引导到对准端。
所述电子部件摄像部的照明装置包括：半球形反射板，形成有中空；多个发光器件端，沿着围绕所述反射板内部的中空的同心圆设置。
上述设置在位于玻璃圆盘外圆周外侧的摄像头上的照明装置中，位于玻璃圆盘下方的反射板部分与玻璃圆盘上方的反射板部分相比靠后设置。
上述发光器件由组合红色LED、白色LED及蓝色LED的多个发光器件端组成。
并且，上述控制部具有2n种照明状态，n＝发光器件端数。
并且，所述控制部可以通过控制所述电子部件摄像部的各个摄像头，在不同的角度将所述旋转的玻璃圆盘上的电子部件连续拍摄2次以上。
并且，所述控制部通过控制所述电子部件摄像部的照明装置，使得每次连续拍摄时都呈现不同的照明状态。
所述排出部包括：至少一个电磁阀门，用于控制压缩空气的流动；送气管，连接于所述电磁阀门；排出端，入口连接于所述送气管，出口形成有向所述玻璃圆盘上的电子部件喷射压缩空气的通孔；及收纳盒，利用压缩空气收集脱离玻璃圆盘的电子部件。
为了达到上述目的，本发明提供一种电子部件对准装置，对准排列在电子部件检测系统中旋转的玻璃圆盘上的电子部件，该电子部件对准装置包括：无振动斜槽送件部，形成有接收所述电子部件供应部提供的电子部件的线形槽；对准机，包括在同一水平面上以一定间隔相对设置的两个夹具，以引导并对准所述无振动斜槽送件部移送的电子部件，位于所述线形槽内的电子部件依靠因振动而移动的其它电子部件的移动力，以无振动状态移送。
为了解决上述目的，本发明提供一种电子部件排出装置，用于在电子部件检测系统中根据电子产品的优劣判断结果排出排列板上的电子部件，该电子部件排出装置包括两个以上排出模块，该排出模块包括：至少一个电磁阀门，用于控制压缩空气的流动；送气管，连接于所述电磁阀门；排出端，入口连接于所述送气管，出口形成有向所述玻璃圆盘上的电子部件喷射压缩空气的通孔；及收纳盒，利用压缩空气收集脱离玻璃圆盘的电子部件，所述排出端上的通孔与所述排列板上的电子部件相邻，通过所述通孔选择性喷射压缩空气。
本发明的电子部件对准装置、电子部件排出装置及电子部件检测系统的功效如下：
第一，在电子部件供应部和对准机之间形成无振动区间，使得电子产品在无振动状态下移送到对准机，因此可以更稳定地实现对准，从而使得电子部件的摄像及排出等电子部件优劣判断更加容易。
第二，以在不同的角度和照明条件下连续2次拍摄同一电子部件的影像为根据，进行电子产品优劣的判断，从而可提高电子部件优劣判断的选择性。
第三，省略了喷射压缩空气的喷嘴，缩短了从电磁阀门到电子部件的压缩空气的移动路径，从而提高了排出反应速度，可稳定地排出并收集电子部件。
附图说明
图1为本发明中一实施例的电子部件检测系统的平面示意图；
图2为图1中电子部件检测系统的电子部件对准示意图；
图3为图2中电子部件对准中两个夹具(jig)的横向截面图；
图4为图1中电子部件检测系统的电子部件摄影部中的照明装置示意图；
图5为图4的照明装置当中设置在电子部件右侧方的照明装置示意图
图6为图1所示电子部件检测系统中电子部件排出部的示意图；
图7为图1所示电子部件检测系统的电子部件排出部的正面示意图；
图8为图7所示电子部件检测系统的电子部件排出部的A-A’截面图。
其中，附图标记：
100：电子部件供应部    200：电子部件对准部
300：玻璃圆盘          400：触发传感器(trigger sensor)
500：电子部件摄影部    600：电子部件排出部
具体实施方式
以下参照附图将具体说明本发明的实施例。本说明书及权利要求书中使用的用语或单词并不限定在通用或词典中的意义，应在发明人以最佳方法说明技术方案并适当地定义各种用语的概念的原则下，解释为符合本发明的技术方案的意义和概念。
并且，本发明说明书中的实施例和附图中的各种结构仅为最佳实施例，并不能限定本发明的技术思想，而且可以进行各种变形和替换。
图1为本发明中一实施例的电子部件检测系统的平面示意图。如图所示，电子部件检测系统包括：电子部件供应部100、电子部件对准部200、玻璃圆盘300、电子部件位置检测部、电子部件摄像部500、电子部件排出部600及控制部(未图示)。
在此，电子部件为多层陶瓷电容器(MLCC：Multilayer ceramic capacitor)及类似的芯片类型的陶瓷零部件。检测则是根据芯片外露(chip outs)、裂纹(cracks)等陶瓷缺陷(ceramic defects)、刮痕(scratches)等端子缺陷(termination defects)及因长度、厚度、幅度误差而发生的尺寸缺陷(dimension defects)等电子部件上的各种缺陷，判断电子部件的优劣而进行分类的工作。
上述电子部件供应部100是依次提供(feeding)作为优劣判断的对象的多个电子部件的结构，包括：容纳多个电子部件的料斗(hopper)110；及至少一个利用振动依次移动由料斗110提供的电子产品的送件部(feeder)120、130。
在本实施例中提供的电子部件供应部100包括：根据磁铁的吸力及排斥力实现振动的碗状送件部(Bowl feeder)120和直线送件部(Linear feeder)130，但该供应部100的结构也并不限定于此，也可以利用可同时依次提供多个电子部件的其他提供手段。直线提供装置130包括盖体132，以防止部件在移动过程中因振动而脱离为佳。
上述电子部件对准部120是以无振动状态将电子部件供应部100提供的电子部件进行对准排列的结构，包括无振动斜槽送件部(chute)(如图2中的210)和由两个夹具(jig)构成地对准机(如图2中的220)。在本实施例中仅图示设置有一个电子部件对准机120的情况，但是如果电子部件对准的精确度较高，则也可以设置一个以上的电子部件对准部120。电子部件对准部的结构及动作将结合图2及图3进行具体说明。
上述玻璃圆盘300用于放置通过电子部件对准机120对准的电子部件，利用发动机(未图示)以一定的速度旋转。随着玻璃圆盘300的旋转，排列在玻璃圆盘300上的电子部件也随之旋转，玻璃圆盘300上的电子部件的上下左右四面的状态可以被设置在适当位置上的电子部件摄像部500拍摄。
电子部件的底面是指接触于玻璃圆盘300的一面，电子部件的顶面是与底面相反的一面，电子部件的左面是可从玻璃圆盘300的外圆周面外侧观察到的一面，电子部件的右面为左面的相反一面。
上述电子部件位置检测部用于生成可判断玻璃圆盘300上的电子部件位置的信号，传送给控制部，包括：生成触发信号的触发传感器400和实时生成编码值的编码(未图示)。
编码值是对应玻璃圆盘300的旋转速度提前分配的脉冲数，提供可以判断电子部件的位置、拍摄电子部件的摄像头的位置及排出电子部件的通孔的位置的信息。脉冲数可以以基准点(例如触发传感器400为基准)随着玻璃圆盘300的旋转角度的增加而逐渐增加。分配脉冲数的旋转角度可以根据电子部件的尺寸进行调节。
另一方面，电子部件摄像部500的摄像头位置及电子部件排出部600的通孔(出口)位置可以通过偏移脉冲(offset pulse)数来进行限定。例如，第一个摄像头的位置可以触发传感器400为准，赋予100个脉冲的偏移。
也就是说，触发传感器400在排列在玻璃圆盘300上的电子部件通过触发传感器400时生成触发信号，传送给控制部，编码实时向控制部传送相当于玻璃圆盘300的旋转角度的脉冲数。
上述电子部件摄像部500用于拍摄玻璃圆盘300上的电子部件的上下左右四面，包括：四个摄像头；及设置于各个摄像头上，给要拍摄的电子部件提供照明的照明装置(如图4中520)。电子部件摄像部500应设置在适合拍摄电子部件的上下左右四面的恰当位置上。
摄像头每秒可获取120帧的影像，可连续2次高速拍摄电子部件的所需拍摄面为佳。此时，通过连续拍摄可以提供排列在旋转的玻璃圆盘300上的电子部件的需拍摄面在其他角度上的拍摄效果。即，连续拍摄的影像可以提高对电子部件优劣性的判断效果。
摄像头可以为640x480像素(pixels)的电荷耦合器件(CCD：chargecoupled device)。但是，摄像头并没有限定于此，根据电子部件的尺寸及玻璃圆盘300的旋转速度适当选择。照明装置的结构及运行将在以下结合图4及图5具体说明。
上述电子部件排出部600用于根据控制部的优劣判断结果，利用压缩空气排出并分类电子部件，包括：控制压缩空气的流动的电磁阀门(如图7中612)；送气管(图7中614)；形成由通孔的排出端616及收集被排出的电子部件的收纳盒(图6中618)。电子部件排出部的结构及运行情况将结合图6至图8具体说明。
上述控制部(未图示)基于电子部件位置检测部发送的信号，控制电子部件摄像部500的摄像头、照明装置及电子部件排出部600的电磁阀门，可以是包括：控制摄像头而获取拍摄影像的影像处理器；接收触发信号，旋转玻璃圆盘300的发动机(未图示)；送件部(120、130)；控制照明装置及电磁阀门的输入/输出(I/O)控制器；接收并处理编码发送的编码值的编码前台部；及提供使用者接口的显示器的计算机。
控制部利用电子部件位置检测部发送的触发信号和编码值控制电子部件摄像部500的各个摄像头，使得要拍摄的电子部件到达电子部件摄像部500的各个摄像头位置后依次拍摄电子部件的四面，根据拍摄影像判断电子部件的优劣情况，并根据判断结果控制电子部件排出部600的电磁阀门，将电子部件收集到收纳盒内进行分类。
更具体地说明摄像头控制，则控制部将接收电子部件位置检测部发送的触发信号时的编码值设定为要拍摄的电子部件的编码值，在设定的该编码值基础上，如果增加了相当于分配给电子部件摄像部500的各个摄像头位置上的偏移编码值的数值，则控制电子部件摄像部500进行拍摄。
利用相同的方法也可以控制电磁阀门。即，在相应电子部件的编码值基础上，增加相当于分配给电子部件排出部600的各个通孔出口位置的偏移(offset)编码值，则控制部控制电子部件排出部600的电磁阀门，从相应通孔的出口喷射压缩空气。
以下将具体说明电子部件对准部的结构及运行情况。
图2为本发明一实施例的电子部件对准部示意图。如图所示，电子部件对准部200位于玻璃圆盘上方，无振动斜槽送件部210可与对准机220相邻设置。对准机220的夹具221、222的设置位置低于(靠近玻璃圆盘面)无振动斜槽送件部210的直线槽212为佳。
无振动斜槽送件部210和对准机220可在XYZ 3轴向上移动并选择位置，为此还可以包括可调整3轴向移动的调节螺钉。
无振动斜槽送件部210的直线槽212接收由电子部件供应部利用振动移送过来的电子部件。此时，位于无振动斜槽送件部210的直线槽212内的电子部件与电子部件供应部不同，是以无振动状态被移送。
也就是说，位于直线槽212的电子部件根据从电子部件供应部依次移送的其他电子部件，即位于电子部件供应部的电子部件的移动力，以无振动状态被移送。与振动状态下的电子部件移送相比，无振动状态的电子部件移送更能稳定地将电子部件供应给对准机220。
电子部件受到后方电子部件的推力通过无振动斜槽送件部210的直线槽212之后，落在低于直线槽212的玻璃圆盘上，随着玻璃圆盘的旋转而通过对准机220。
对准机220包括在同一水平面上具有一定间隔、相对设置的两个夹具(jig)221、222，引导并对准从无振动斜槽送件部210移送过来的电子部件。夹具221、222之间的间隔可以根据要检测的电子部件的尺寸进行调整。
以下将更具体地说明对准机的结构及电子部件通过对准机后被对准的过程。
图3为构成对准机的两个夹具的横向截面图。如图所示，对准机的夹具221、222包括：引导降落的电子部件10的引导端225、226和对准电子部件的对准端223、224。
引导端225、226在相对一面的末端形成其间隔大于对准端223、224之间的间隔的引导面，以将电子部件10引导到对准端223、224。从无振动斜槽送件部降落到玻璃圆盘300的电子部件10随着玻璃圆盘300的旋转到达对准端的引导端225、226，引导端225、226的引导面起到将降落时脱离正常轨迹的电子部件正确引导到对准端223、224的作用。
并且，对准端223、224的相对面具有与玻璃圆盘300的弯曲度相同的弯曲度。这样，电子部件10在通过对准端223、224时随着与玻璃圆盘300具有相同弯曲度的轨迹对准排列在玻璃圆盘300上。
以下具体说明电子部件摄像部中照明装置的结构及运行原理。
图4为图1中电子部件检测系统的电子部件摄像部照明装置的示意图。如图所示，照明装置520包括：形成有中空部528的半球形反射板527和设置在反射板527内部的多个发光器件端(521至526)。在此，发光器件端(521至526)是沿着反射板527内部的围绕中空528的同心圆设置有如LED的多个发光器件。
发光器件端(521至526)可以为多个，发光器件端(521至526)的LED可以是红色、白色或蓝色LED。之所以以红色、白色、蓝色LED构成发光器件端(521至526)使得各个发光器件端(521至526)呈现不同的照明效果，是因为检测对象电子部件的颜色及缺点在特定颜色的照明下会更加明显。
例如，电子部件10的本体颜色为白色或者灰色系，则在红色照明状态下其缺陷会更加明显，如果电子部件10的本体颜色为黑色系，则在白色照明状态下其缺陷更加明显。
在本实施例中例举了从外圆周到中空部528为止而形成由1端到6端的发光器件端(521至526)的情况。如果照明装置具有六端发光器件端(521至526)，则各个发光器件端(521至526)可以开关(ON/OFF)而组合的照明状态有26＝64(2n，n＝发光器件端数)种。在此，照明状态是指通过各个发光器件端(521至526)的开关(ON/OFF)组合呈现的照明的量度、色度等状态。
照明装置的照明状态可以通过可调型(volume type)的手动调节方式和利用控制部的自动调节方式进行控制，根据测试值和检测对象电子部件10，选择最佳状态。
另一方面，控制部可以控制摄像头在不同的角度将排列在旋转的玻璃圆盘300上的电子部件10分别连续拍摄2次以上，控制照明装置在每个拍摄时期都呈现不同的照明状态。
以下对电子部件摄像部照明装置中位于玻璃圆盘外圆周面外侧(电子部件右侧)的照明装置进行说明。此时，照明装置以玻璃圆盘为准，位于玻璃圆盘下方的反射板部分相对玻璃圆盘上方的反射板部分靠后设置为佳。这是为了校正玻璃圆盘下方的反射板部分的照明透过玻璃圆盘照射电子部件时产生的透射光折射现象。图5示出了电子部件摄像部的照明装置中位于玻璃圆盘外圆周外侧(电子部件右侧)的照明装置。在这里，L是下方反射板部分与上方反射板部分靠后设置的距离。
以下具体说明电子部件排出部的结构及运行原理。
图6为本发明一实施例中电子部件排出部的示意图；图7为电子部件排出部的正面示意图；图8为图7所示电子部件排出部的A-A’截面图。参照图6至图8，电子部件排出部600可以包括2个以上的排出模块610，分别分配给优良品或不良品。排出模块610包括：电磁阀门612、排出端616、送气管614及收纳盒618。
电磁阀门612控制由外部提供的压缩空气(air)的流量。排出端616形成由通孔617，通孔617的入口通过送气管614连接于电磁阀门612，通孔617的出口与排列在玻璃圆盘300上的电子部件10相邻。通孔617的出口设置有收集电子部件的收纳盒618。
控制部(未图示)根据分配给相应电子部件10的编码值、分配给通孔617的出口的编码偏移值(offset encoder value)及对该电子部件10的优劣判断结果，选择性地控制电磁阀门612。通过控制部的控制开放电磁阀门612的瞬间，压缩空气随着送气管614流入通孔616的入口，从出口喷射出来。压缩空气喷射时，设置于通孔的出口前的电子部件10被收集到收纳盒618。
并且在本实施例中，排出端616与现有技术不同，并不是通过另外设置的喷嘴喷射压缩空气，通过形成在排出端616的通孔617直接喷射压缩空气。通孔617的出口与玻璃圆盘300上的电子部件10相邻，则与现有技术相比，压缩空气移动的路径缩短相当于包括喷嘴的长度的距离。即，可以缩短从电磁阀门612到对象电子部件10的压缩空气到达时间。
如上情况下，电磁阀门612一打开，则压缩空气被喷射可立即排出电子部件10，因此可以提高排出速度及排出的准确性。
形成于排出端616的通孔617的尺寸可以根据电子部件10的尺寸适当选择，考虑到通孔的钻孔工作的方便性，通孔617的出口侧末端可以与玻璃圆盘300形成小于20度的角度。
排出模块610的数量应适合根据控制部对象电子部件10的判断结果，即重新检查(1个排出模块)、不良(2个排出模块)、优良(1个排出模块)情况，分别分配一个以上排出模块。并且，根据使用者的选择，还可以设置强制排出所需的排出模块。
并且，为了顺利排出被判断为不良或优良的电子部件，分配给不良或优良的排出模块可以具备一个以上的电磁阀门。如果排出模块具有两个电磁阀门，则可以通过选择性地控制一个或两个电磁阀门调整喷射空气的压力，并且可以维持稳定的空气压力。
如上所述，虽然仅利用几个实施例和附图进行了说明，但是本发明并不限定于此，本发明所属技术领域的普通技术人员可以在本发明的技术思想和权利要求保护的范围内进行一定的修改及变形。

Claims (4)

1、一种电子部件检测系统，其特征在于，包括：
供应部，包括：料斗，容纳作为优劣判断的对象的多个电子部件；及至少一个送件部，依靠振动依次移送所述料斗提供的电子部件；
对准部，包括：无振动斜槽送件部，接收所述供应部提供的电子部件，形成有直线槽，依靠其他电子部件的移动力以无振动状态移送；对准机，具有两个以一定距离相对设置的夹具，以引导所述无振动斜槽送件部移送的电子部件进行对准；其中，该夹具包括对准端和引导端；
玻璃圆盘，排列有通过所述对准部对准的电子部件，并依靠发动机旋转；
位置检测部，当排列在所述玻璃圆盘上的电子部件通过时生成触发信号，实时生成随着所述玻璃圆盘旋转而变化的编码值；
摄像部，包括：摄像头，拍摄所述玻璃圆盘上的电子部件的上下左右四面；照明装置，安装在所述摄像头上，具有形成中空状的反射板和围绕所述反射板内部的中空设置的多种颜色发光器件，以给被连续拍摄的电子部件提供不同颜色的照明；
排出部，其形成有通孔的排出端与所述电子部件相邻设置，通过所述通孔选择性喷射压缩空气，分类并收集脱离玻璃圆盘的电子部件；所述排出部包括至少一个电磁阀门，送气管，排出端，以及收纳盒；所述至少一个电磁阀门，用于控制压缩空气的流动；所述送气管，连接于所述电磁阀门；所述排出端，入口连接于所述送气管，出口形成有向所述玻璃圆盘上的电子部件喷射压缩空气的通孔；所述收纳盒，利用压缩空气收集脱离玻璃圆盘的电子部件；
控制部，利用所述电子部件位置检测部提供的触发信号和编码值，控制所述摄像头，当所述电子部件到达电子部件摄像部的各个摄像头位置时，依次拍摄电子部件的四面，并从不同角度将所述电子部件的各个面连续拍摄两次以上；控制所述照明装置，在连续拍摄时变更发光器件的颜色组合呈现不同的照明状态，根据电子部件各个面在不同角度和不同照明下连续拍摄的影像判断电子部件的优良状态之后，根据判断结果控制所述排出部对所述电子部件进行分类。
2、根据权利要求1所述的电子部件检测系统，其特征在于，所述摄像头设置在玻璃圆盘外圆周外侧，所述摄像头上的所述照明装置中，玻璃圆盘下方的反射板部分相对于玻璃圆盘上方的反射板部分靠后设置。
3、根据权利要求2所述的电子部件检测装置，其特征在于，所述发光器件包括红色LED、白色LED及蓝色LED组合的多个发光器件端。
4、根据权利要求3所述的电子部件检测装置，其特征在于，所述控制部具有2n种照明状态，n＝发光器件端数。
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