JP2006229526A - レベルシフト回路 - Google Patents

レベルシフト回路 Download PDF

Info

Publication number
JP2006229526A
JP2006229526A JP2005040097A JP2005040097A JP2006229526A JP 2006229526 A JP2006229526 A JP 2006229526A JP 2005040097 A JP2005040097 A JP 2005040097A JP 2005040097 A JP2005040097 A JP 2005040097A JP 2006229526 A JP2006229526 A JP 2006229526A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
low
nmos transistor
circuit
inverter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005040097A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4583202B2 (ja
Inventor
Takeshi Shimatani
武 嶋谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kawasaki Microelectronics Inc
Original Assignee
Kawasaki Microelectronics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Microelectronics Inc filed Critical Kawasaki Microelectronics Inc
Priority to JP2005040097A priority Critical patent/JP4583202B2/ja
Publication of JP2006229526A publication Critical patent/JP2006229526A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4583202B2 publication Critical patent/JP4583202B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】 回路の動作スピードが低電位電源電圧の変動の影響を受けないようにしたレベルシフト回路を提供する。
【解決手段】 高電位電源HiVDDと接地VSS間に接続されるインバータ構成の高しきい値のトランジスタMP5,MN5のうちのMP5を駆動するNMOSトランジスタを低しきい値のトランジスタMN7とし、このトランジスタMN7を低電位電源LoVDDの電圧内で変化する入力電圧Vinで駆動することにより、そのトランジスタMN7が確実に駆動されるようにする。また、トランジスタMP4とMN7の間に高しきい値トランジスタMN4と低しきい値トランジスタMN6を直列接続することにより、トランジスタMP4がオフしているときにトランジスタMN6に印加する電圧が定格を超えないようにする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、低電圧の振幅信号を高電圧の振幅信号に変換するレベルシフト回路に関するものである。
図5に従来のレベルシフト回路を、図6にその動作波形図を示す。一般に低電圧動作のMOSトランジスタのしきい値は低く、高電圧動作のMOSトランジスタのしきい値は高い。図5において、Mp21〜MP23はPMOSトランジスタ、MN21〜MN23はNMOSトランジスタである。そのうち、MP21,MN21は低しきい値トランジスタ、MP22,MP23,MN22,MN23は高しきい値トランジスタである。LoVDD低電位電源電圧、HiVDDは高電位電源電圧、VSSは接地(0V)である。
いま、入力信号Vinがlレベル(VSS)のときは、MN21,MN22がオフし、MP21がオンし、MN23がオンし、Mp22がオンするので、MP23はオフする。よって、出力信号Voutはlレベル(VSS)となる。一方、入力信号Vinがhレベル(LoVDD)のときは、Mp21がオフ、MN21,mn22がオンし、MN23がオフし、MP23がオンする。よって、出力信号Voutはhレベル(HiVDD)となる。このようにして、LoVDDの振幅の入力信号Vinがより振幅の大きなHiVDDの振幅の出力信号Voutに変換されて出力する。
ところが、図5のレベルシフト回路では、トランジスタMP23を駆動する高しきい値トランジスタMN22のしきい値が低電位電源電圧LoVDDに近いとき、その電圧が変動して低下するとトランジスタMN22がオンしずらくなり、結果的に電圧LoVDDの変動に対してレベルシフト回路全体のスピードが大きな影響を受ける問題があった。
本発明の目的は、回路の動作スピードが低電位電源電圧の変動の影響を受けないようにして、上記問題を解決したレベルシフト回路を提供することである。
上記課題を解決するために、請求項1にかかる発明は、低電位電源と接地間に接続されるCMOS回路からなる低しきい値の第1のインバータ(MP1,MN1)と、高電位電源と接地間に接続されるCMOS回路からなる高しきい値の第2のインバータ(MP5,MN5)と、前記第1のインバータの出力がLレベルのとき前記第2のインバータのPMOSトランジスタをオンさせると共に前記第2のインバータのNMOSトランジスタをオフさせ、且つ前記第1のインバータの出力がHレベルのとき前記第2のインバータのPMOSトランジスタをオフさせると共に前記第2のインバータのNMOSトランジスタをオンさせる制御回路(MP2〜MP4、MN2〜MN4)とを具備するレベルシフト回路において、前記制御回路の内の前記第2のインバータの前記PMOSトランジスタ(MP5)の駆動部を、前記第1のインバータの出力がHレベルのときオンして前記第2のインバータの前記PMOSトランジスタ(MP5)をオフさせる高しきい値の第1のPMOSトランジスタ(MP4)と、前記第1のインバータの入力がHレベルのときオンして前記第2のインバータの前記PMOSトランジスタ(MP5)をオンさせる低しきい値の第1のNMOSトランジスタ(MN7)と、該第1のPMOSトランジスタ(MP4)と前記第1のNMOSトランジスタ(MN7)の間に接続された第1の電圧分担回路(MN4,MN6)と、により構成したことを特徴とする。
請求項2にかかる発明は、請求項1に記載のレベルシフト回路において、前記第1の電圧分担回路は、ゲートが前記高電位電源に接続されドレインが前記第1のPMOSトランジスタ(MP4)側に接続された高しきい値の第2のNMOSトランジスタ(MN4)と、ゲートが前記低電位電源に接続されソースが前記第1のNMOSトランジスタ(MN7)側に接続された低しきい値の第3のNMOSトランジスタ(MN6)の直列回路からなることを特徴とする。
ここで、請求項2に記載のレベルシフト回路において、前記第1のインバータの入力がLレベルのときオンして、前記第1のNMOSトランジスタ(MN7)と前記第3のNMOSトランジスタ(MN6)との共通接続点に前記低電位電源の電圧を印加する第2のPMOSトランジスタ(MP6)を接続することが望ましい。
請求項3にかかる発明は、低電位電源と接地間に接続される低しきい値のCMOSインバータからなる前段回路(MP11,MN11)と、該前段回路の出力がHレベルのとき出力をLレベルにし、前記第1のインバータの入力がHレベルのとき前記出力をHレベルにする後段回路(MP12,MP13,MN12〜MN17)とを具備するレベルシフト回路において、前記後段回路を、前記前段回路の出力がHレベルのときオンする低しきい値の第4のNMOSトランジスタ(MN17)と、該第4のNMOSトランジスタ(MN17)がオンするとオンする高しきい値の第3のPMOSトランジスタ(MP12)と、前記前段回路の入力がHレベルのときオンする低しきい値の第5のNMOSトランジスタ(MN15)と、該第5のNMOSトランジスタ(MN15)がオンするとオンする高しきい値の第4のPMOSトランジスタ(MP13)と、ゲートが高電位電源に接続された第6のNMOSトランジスタ(MN12)と、ゲートが高電位電源に接続された第7のNMOSトランジスタ(MN13)と、前記第6のNMOSトランジスタ(MN12)と前記第5のNMOSトランジスタ(MN15)の間に接続された第2の電圧分担回路(MN14)と、前記第7のNMOSトランジスタ(MN13)と前記第4のNMOSトランジスタ(MN17)の間に接続された第3の電圧分担回路(MN16)とにより構成し、前記第4のPMOSトランジスタ(MP13)と前記第7のNMOSトランジスタ(MN13)の共通接続点から出力を取り出すことを特徴とする。
請求項4にかかる発明は、請求項3に記載のレベルシフト回路において、前記第2の電圧分担回路は、ゲートが前記低電位電源に接続された低しきい値の第8のNMOSトランジスタ(MN14)からなり、前記第3の電圧分担回路は、ゲートが前記低電位電源に接続された低しきい値の第9のNMOSトランジスタ(MN16)からなることを特徴とする。
ここで、請求項4に記載のレベルシフト回路において、前記第8のNMOSトランジスタ(MN14)と前記第5のNMOSトランジスタ(MN15)との共通接続点に、前記前段回路の入力がLレベルのときオンして前記低電位電源の電圧を印加する低しきい値の第5のPMOSトランジスタ(MP15)を接続し、前記第9のNMOSトランジスタ(MN16)と前記第4のNMOSトランジスタ(MN17)との共通接続点に、前記前段回路の入力がLレベルのときオンして前記低電位電源の電圧を印加する低しきい値の第6のPMOSトランジスタ(MP14)を接続することが好ましい。
本発明によれば、高電位電源に接続される高しきい値のPMOSトランジスタを駆動するために、低電位電源電圧の範囲内で変化する信号を入力するNMOSトランジスタとして、低しきい値トランジスタを使用するので、低電位電源電圧の変動によってそのNMOSトランジスタが大きな影響を受けることはなく、回路の動作スピードが影響受けることは無くなる。また、この低しきい値のNMOSトランジスタには直列に電圧分担回路が接続されるので、その低しきい値NMOSトランジスタが高電位電源側に接続されていても、耐圧上で問題になることはない。
以下、本発明のレベルシフト回路の実施例を説明する。
図1は実施例1のレベルシフト回路の回路図である。MP1〜MP5はPMOSトランジスタであり、そのうちMP1は低しきい値、MP2〜MP5は高しきい値である。MN1〜MN7はNMOSトランジスタであり、そのうちMN1,MN6,MN7は低しきい値、MN2〜MN5は高しきい値である。LoVDDは低電位電源電圧(例えば、1.2V)、HiVDDは高電位電源電圧(例えば、3.3V)、VSSは接地(0V)である。
請求項との関係では、トランジスタMP1,MN1はCMOS回路からなる第1のインバータを、トランジスタMP5,MN5はCMOS回路からなる第2のインバータを、トランジスタMP2〜MP4,MN2〜MN4,MN6,MN7は制御回路を、それぞれ構成する。また、制御回路中のトランジスタMN4,MN6は第1の電圧分担回路を構成し、常時オンしている。
入力電圧VinがLレベル(VSS)のとき、トランジスタMP1,MN3,MP4,MN5がオンし、トランジスタMN1,MN2,MN7,MP3,MP5がオフする。よって、出力電圧VoutはLレベル(VSS)となる。このとき、トランジスタMN4,MN6はオンしているが、電流は流れない。また、直列のトランジスタMP4,MN4,MN6、MN7はそれぞれが電圧HiVDDの一部を分担するので、低しきい値のトランジスタMN7に印加する電圧はトランジスタMN4,MN6(第1の電圧分担回路)が無い場合と比較して低い電圧となり、定格を超えないようにすることができる。
入力電圧VinがHレベル(LoVDD)のとき、トランジスタMP1,MN3,MP4,MN5がオフし、トランジスタMN1,MN2,MN7,MP3,MP5がオンする。よって、出力電圧VoutはHレベル(HiVDD)となる。このとき、トランジスタMN7のオン動作によりトランジスタMP5が駆動されるが、そのトランジスタMN7のしきい値は低しきい値であり、入力電圧Vinである電圧LoVDDよりも低い電圧値に設定されるので、入力電圧Vinである電圧LoVDDが多少変動しても、そのオン動作が影響を受けることはない。
図2は図1のレベルシフト回路を一部改良したレベルシフト回路の回路図である。図1のレベルシフト回路では、トランジスタMN7がオフしているとき、電圧HiVDDと各トランジスタの特性が既知であれば、トランジスタMP4とMN4の共通接続点の電位は既知となる。しかし、トランジスタMN6とMN7の共通接続点はフローティングになってその電位が不確定であるので、場合によっては、トランジスタMN7のソース・ドレイン間に印加する電圧が定格を超える可能性がある。
そこで、図2のレベルシフト回路では、トランジスタMN7がオフのときにオンする低しきい値のトランジスタMP6を新たに追加して、トランジスタMN7がオフのときにトランジスタMN6とMN7の共通接続点の電位をLoVDDに固定して、トランジスタMN7のソース・ドレイン間に定格を超えた過大な電圧が印加しないようにした。
図3は実施例2のレベルシフト回路の回路図である。MP11〜MP13はPMOSトランジスタであり、そのうちMP11は低しきい値、MP12,MP13は高しきい値である。MN11〜MN17はNMOSトランジスタであり、そのうちMN11,MN14〜MN17は低しきい値、MN12,MN13は高しきい値である。
請求項との関係では、トランジスタMP11,MN11が前段回路を、トランジスタMP12,MP13,MN12〜MN17が後段回路を構成する。また、トランジスタMN14は第2の電圧分担回路を、トランジスタMN16は第3の電圧分担回路をそれぞれ構成し、常時オンしている。また、トランジスタMN12はトランジスタMN14と同様の機能を果たす。また、トランジスタMN13もトランジスタMN16と同様の機能を果たす。
入力電圧VinがLレベル(VSS)のとき、トランジスタMP11,MN17,MP12がオンし、トランジスタMN11,MN15,MP13がオフする。よって、出力電圧VoutはLレベル(VSS)となる。このとき、トランジスタMN12,MN14はオンしているが電流は流れない。また、直列のトランジスタMN12,MN14、MN15はそれぞれが電圧HiVDDの一部を分担するので、低しきい値のトランジスタMN15に印加する電圧はトランジスタMN12,MN14(第2の電圧分担回路)が無い場合と比較して低い電圧となり、定格を超えないようにすることができる。
入力電圧VinがHレベル(LoVDD)のとき、トランジスタMP11,MN17,MP12がオフし、トランジスタMN11,MN15,MP13がオンする。よって、出力電圧VoutはHレベル(HiVDD)となる。このとき、トランジスタMN13,MN16はオンしているが電流は流れない。また、直列のトランジスタMN13,MN16、MN17はそれぞれが電圧HiVDDの一部を分担するので、低しきい値のトランジスタMN17に印加する電圧はトランジスタMN13,MN16(第3の電圧分担回路)が無い場合と比較して低い電圧となり、定格を超えないようにすることができる。
図4は図3のレベルシフト回路を一部改良したレベルシフト回路の回路図である。図3のレベルシフト回路では、トランジスタMN15がオフしているとき、電圧HiVDDと各トランジスタの特性が既知であれば、トランジスタMN12とMN14の共通接続点の電位は既知である。しかし、トランジスタMN14とMN15の共通接続点はフローティングになってその電位が不確定であるので、場合によっては、トランジスタMN17のソース・ドレイン間に印加する電圧が定格を超える可能性がある。同様に、トランジスタMN17がオフしているとき、電圧HiVDDと各トランジスタの特性が既知であれば、トランジスタMN12とMN14の共通接続点の電位は既知である。しかし、トランジスタMN16とMN17の共通接続点はフローティングになってその電位が不確定であるので、場合によっては、トランジスタMN17のソース・ドレイン間に印加する電圧が定格を超える可能性がある。
そこで、図4のレベルシフト回路では、トランジスタMN15がオフのときにオンする低しきい値のトランジスタMP14を新たに追加して、トランジスタMN15がオフのときにトランジスタMN14とMN15の共通接続点の電位をLoVDDに固定して、トランジスタMN15のソース・ドレイン間に定格を超えた過大な電圧が印加しないようにした。また、トランジスタMN17がオフのときにオンする低しきい値のトランジスタMP15も新たに追加して、トランジスタMN17がオフのときにトランジスタMN16とMN17の共通接続点の電位をLoVDDに固定して、トランジスタMN17のソース・ドレイン間に定格を超えた過大な電圧が印加しないようにした。
本発明の実施例1のレベルシフト回路の回路図である。 実施例1の変形例のレベルシフト回路の回路図である。 本発明の実施例2のレベルシフト回路の回路図である。 実施例2の変形例のレベルシフト回路の回路図である。 従来のレベルシフト回路の回路図である。 図5のレベルシフト回路の動作波形図である。

Claims (4)

  1. 低電位電源と接地間に接続されるCMOS回路からなる低しきい値の第1のインバータと、高電位電源と接地間に接続されるCMOS回路からなる高しきい値の第2のインバータと、前記第1のインバータの出力がLレベルのとき前記第2のインバータのPMOSトランジスタをオンさせると共に前記第2のインバータのNMOSトランジスタをオフさせ、且つ前記第1のインバータの出力がHレベルのとき前記第2のインバータのPMOSトランジスタをオフさせると共に前記第2のインバータのNMOSトランジスタをオンさせる制御回路とを具備するレベルシフト回路において、
    前記制御回路の内の前記第2のインバータの前記PMOSトランジスタの駆動部を、前記第1のインバータの出力がHレベルのときオンして前記第2のインバータの前記PMOSトランジスタをオフさせる高しきい値の第1のPMOSトランジスタと、前記第1のインバータの入力がHレベルのときオンして前記第2のインバータの前記PMOSトランジスタをオンさせる低しきい値の第1のNMOSトランジスタと、該第1のPMOSトランジスタと前記第1のNMOSトランジスタの間に接続された第1の電圧分担回路と、により構成したことを特徴とするレベルシフト回路。
  2. 請求項1に記載のレベルシフト回路において、
    前記第1の電圧分担回路は、ゲートが前記高電位電源に接続されドレインが前記第1のPMOSトランジスタ側に接続された高しきい値の第2のNMOSトランジスタと、ゲートが前記低電位電源に接続されソースが前記第1のNMOSトランジスタ側に接続された低しきい値の第3のNMOSトランジスタの直列回路からなることを特徴とするレベルシフト回路。
  3. 低電位電源と接地間に接続される低しきい値のCMOSインバータからなる前段回路と、該前段回路の出力がHレベルのとき出力をLレベルにし、前記第1のインバータの入力がHレベルのとき前記出力をHレベルにする後段回路とを具備するレベルシフト回路において、
    前記後段回路を、前記前段回路の出力がHレベルのときオンする低しきい値の第4のNMOSトランジスタと、該第4のNMOSトランジスタがオンするとオンする高しきい値の第3のPMOSトランジスタと、前記前段回路の入力がHレベルのときオンする低しきい値の第5のNMOSトランジスタと、該第5のNMOSトランジスタがオンするとオンする高しきい値の第4のPMOSトランジスタと、ゲートが高電位電源に接続された第6のNMOSトランジスタと、ゲートが高電位電源に接続された第7のNMOSトランジスタと、前記第6のNMOSトランジスタと前記第5のNMOSトランジスタの間に接続された第2の電圧分担回路と、前記第7のNMOSトランジスタと前記第4のNMOSトランジスタの間に接続された第3の電圧分担回路とにより構成し、
    前記第4のPMOSトランジスタと前記第7のNMOSトランジスタの共通接続点から出力を取り出すことを特徴とするレベルシフト回路。
  4. 請求項3に記載のレベルシフト回路において、
    前記第2の電圧分担回路は、ゲートが前記低電位電源に接続された低しきい値の第8のNMOSトランジスタからなり、前記第3の電圧分担回路は、ゲートが前記低電位電源に接続された低しきい値の第9のNMOSトランジスタからなることを特徴とするレベルシフト回路。
JP2005040097A 2005-02-17 2005-02-17 レベルシフト回路 Expired - Fee Related JP4583202B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005040097A JP4583202B2 (ja) 2005-02-17 2005-02-17 レベルシフト回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005040097A JP4583202B2 (ja) 2005-02-17 2005-02-17 レベルシフト回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006229526A true JP2006229526A (ja) 2006-08-31
JP4583202B2 JP4583202B2 (ja) 2010-11-17

Family

ID=36990487

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005040097A Expired - Fee Related JP4583202B2 (ja) 2005-02-17 2005-02-17 レベルシフト回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4583202B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8143916B2 (en) 2006-12-08 2012-03-27 Fujitsu Semiconductor Limited Level shift circuit, method for driving the same, and semiconductor circuit device having the same
CN108400784A (zh) * 2017-02-06 2018-08-14 晶豪科技股份有限公司 位准移位电路及整合电路

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0254615A (ja) * 1988-08-18 1990-02-23 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 出力バッファ回路
JPH05308274A (ja) * 1992-04-30 1993-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Cmosレベルシフト回路
JPH1041806A (ja) * 1996-05-16 1998-02-13 Lsi Logic Corp レベルシフトと電圧保護を行う出力ドライバ
JPH10294662A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Nec Corp 出力バッファ回路
JP2000228628A (ja) * 1999-02-05 2000-08-15 Sony Corp レベル変換回路
JP2001068978A (ja) * 1999-08-27 2001-03-16 Nec Ic Microcomput Syst Ltd レベルシフタ回路
JP2002118457A (ja) * 2000-08-25 2002-04-19 Texas Instruments Inc 集積レベル・シフティング・ラッチの回路と方法
JP2002300025A (ja) * 2001-03-30 2002-10-11 Fujitsu Ltd レベルシフト回路

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0254615A (ja) * 1988-08-18 1990-02-23 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 出力バッファ回路
JPH05308274A (ja) * 1992-04-30 1993-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Cmosレベルシフト回路
JPH1041806A (ja) * 1996-05-16 1998-02-13 Lsi Logic Corp レベルシフトと電圧保護を行う出力ドライバ
JPH10294662A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Nec Corp 出力バッファ回路
JP2000228628A (ja) * 1999-02-05 2000-08-15 Sony Corp レベル変換回路
JP2001068978A (ja) * 1999-08-27 2001-03-16 Nec Ic Microcomput Syst Ltd レベルシフタ回路
JP2002118457A (ja) * 2000-08-25 2002-04-19 Texas Instruments Inc 集積レベル・シフティング・ラッチの回路と方法
JP2002300025A (ja) * 2001-03-30 2002-10-11 Fujitsu Ltd レベルシフト回路

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8143916B2 (en) 2006-12-08 2012-03-27 Fujitsu Semiconductor Limited Level shift circuit, method for driving the same, and semiconductor circuit device having the same
KR101139105B1 (ko) * 2006-12-08 2012-04-30 후지쯔 세미컨덕터 가부시키가이샤 레벨 시프트 회로, 레벨 시프트 회로의 구동 방법, 및 레벨 시프트 회로를 갖는 반도체 회로 장치
CN108400784A (zh) * 2017-02-06 2018-08-14 晶豪科技股份有限公司 位准移位电路及整合电路
CN108400784B (zh) * 2017-02-06 2022-02-25 晶豪科技股份有限公司 位准移位电路及整合电路

Also Published As

Publication number Publication date
JP4583202B2 (ja) 2010-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8378739B2 (en) Semiconductor chip
JP6643157B2 (ja) 半導体装置
US10454466B1 (en) Biasing cascode transistors of an output buffer circuit for operation over a wide range of supply voltages
JP2010258928A (ja) 半導体集積回路
JP3764135B2 (ja) レベルシフタ
JP2017112537A (ja) インバータ回路
JP2008211707A (ja) 入力回路
JP5389762B2 (ja) レベルシフト回路
JP2009105848A (ja) 論理ゲート及びこれを用いた半導体集積回路装置
JP4583202B2 (ja) レベルシフト回路
JP2005277554A (ja) コンパレータ回路
JP2015070527A (ja) ヒステリシスコンパレータ回路
JP2007174251A (ja) レベルシフト回路
JP6417781B2 (ja) 半導体装置
JP4753663B2 (ja) 出力回路
JP2006295252A (ja) レベルシフト回路及びレベルシフト装置
JP3565067B2 (ja) Cmosロジック用電源回路
JPH09172365A (ja) トライステート回路
JP2006352204A (ja) 電位検出回路及びそれを備える半導体集積回路
KR101147358B1 (ko) 레벨 시프팅 인버터 회로
JP2006148640A (ja) スイッチ回路
JP4821954B2 (ja) アナログバッファ回路
JP2010041062A (ja) レベルシフト回路
KR101120941B1 (ko) 시스템 안정화 회로
JP4578432B2 (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071122

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100420

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100428

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100625

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100713

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100809

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100831

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100831

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4583202

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees