JP2006173446A - 極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置 - Google Patents
極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006173446A JP2006173446A JP2004365857A JP2004365857A JP2006173446A JP 2006173446 A JP2006173446 A JP 2006173446A JP 2004365857 A JP2004365857 A JP 2004365857A JP 2004365857 A JP2004365857 A JP 2004365857A JP 2006173446 A JP2006173446 A JP 2006173446A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical element
- oxidation
- extreme ultraviolet
- layer
- niobium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Landscapes
- Lenses (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
【課題】
長期間にわたって良好な反射特性を示す光学素子を提供する。また、特性を長期間にわたって維持することができる光学素子を投影光学系等として組み込んだ投影露光装置を提供する。
【解決手段】
耐酸化性金属を含有する層を、光学素子50の最表面である上部層32として備え、拡散防止性酸化物を含有する層を、光学素子50の最表面と多層膜20の表面層との間に位置する下部層31として備えることで、投影露光装置内において極端紫外線が照射されても光学素子50表面での酸化反応を抑制することができる。これにより、光学素子50の良好な反射特性を保つことができる。
【選択図】
図1
長期間にわたって良好な反射特性を示す光学素子を提供する。また、特性を長期間にわたって維持することができる光学素子を投影光学系等として組み込んだ投影露光装置を提供する。
【解決手段】
耐酸化性金属を含有する層を、光学素子50の最表面である上部層32として備え、拡散防止性酸化物を含有する層を、光学素子50の最表面と多層膜20の表面層との間に位置する下部層31として備えることで、投影露光装置内において極端紫外線が照射されても光学素子50表面での酸化反応を抑制することができる。これにより、光学素子50の良好な反射特性を保つことができる。
【選択図】
図1
Description
本発明は、保護層を備える極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置に関する。
近年、半導体集積回路の微細化に伴い、光の回折限界によって達成される光学系の解像度を向上させるために、従来の紫外線に代えてこれより短い波長(11〜14nm)となる極端紫外線を用いた露光技術が開発されている。これにより約5〜70nmのパターンサイズの露光が可能になるものと期待されているが、この領域の物質の屈折率は1に近いため、従来のように透過屈折型の光学素子を使用できず、反射型の光学素子が使用される。投影露光装置に用いられるマスクもまた、透過率確保の観点から、通常反射型の光学素子となる。この際、上記光学素子において高い反射率を達成するために、使用波長域において屈折率の高い物質と屈折率の低い物質とを基板上に交互に積層させて反射面を形成することが一般的である(特許文献1参照)。
特開2003−14893号公報
投影露光装置内において、極端紫外線下で上述のような光学素子が使用される場合、環境は真空であるが、光学素子の周囲から酸素及び水分を完全に排除することができない。一方、極端紫外線は非常に大きなエネルギーをもつ。この際、酸素及び水分などと光学素子表面の物質とが極端紫外線に照射されることで酸化反応を起こしてしまう。このような酸化が徐々に進むと、光学素子の反射特性が徐々に劣化してしまい、安定した性能を発揮させることができなくなる。よって、光学素子延いては投影露光装置の寿命が短くなるという問題が生じる。
従って、本発明は、長期間にわたって良好な反射特性を示す光学素子を提供することを目的とする。また、本発明は、特性を長期間にわたって維持することができる光学素子を投影光学系等として組み込んだ投影露光装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、第1の発明に係る光学素子は、支持用の基板と、基板上に支持されるとともに、極端紫外線を反射する多層膜と、多層膜の最表層上に設けられ、耐酸化性無機物を含有する下部層と下部層上に設けられ耐酸化性金属を含有する上部層とを含む複合保護層とを備える。ここで、「耐酸化性無機物」とは、水や酸素などによる酸化反応を抑制する性質を有する無機物を意味し、「耐酸化性金属」とは、水や酸素などによる酸化反応を抑制する性質を有する金属を意味する。
本発明においては、光学素子が、多層膜を有する反射型の素子であり、極端紫外線等に対して良好な反射特性を有する。また、本発明においては、光学素子が、耐酸化性を有する複合保護層を備える。これにより、複合保護層がバリアとなって、例えば、投影露光装置内において真空中に残留する水や酸素などが光学素子の表面で酸化反応を起こすのを抑制し、さらに、酸素及び水分、金属等が光学素子内部に侵入し多層膜を酸化したり、上部層の特性を劣化させたりすることをも抑制する。以上により、光学素子の酸化等による反射率低下を防止でき、結果として、光学素子全体の反射特性を保つことができる。つまり、複合保護層は、2重構造とすることにより、上部層及び下部層の双方が協働して光学素子の酸化防止膜として機能することで、より効果的な酸化防止が可能となっている。尚、「複合保護層」は、極端紫外線を所望の程度に透過させるべく十分に薄いか光吸収性が低いものとする。
さらに、本発明の光学系において、下層部に含有される耐酸化性無機物は、通常拡散防止性無機物でもある。ここで、「拡散防止性無機物」とは、ある物質(例えば、耐酸化金属中の金属等)が、他の物質中へ拡散していくのを防ぐ性質を有する酸化物その他の物質を意味する。下部層が拡散防止性無機物を含有することにより、上部層に含有される耐酸化性金属が多層膜中へ拡散することを抑制できる。これにより、光学素子の最表面に位置する上部層の耐酸化性の劣化を防ぐことができるだけでなく、耐酸化性金属が多層膜中へ拡散することによる光学素子の反射率低下を防止でき、結果として、光学素子全体の反射特性を保つことができる。
また、第2の発明は、第1の発明に係る光学素子において、耐酸化性無機物が、無機酸化物である。この場合、無機酸化物の選択により、当該保護層が十分な耐酸化性を有するバリアとなる。
また、第3の発明は、第2の発明に係る光学素子において、無機酸化物が、二酸化珪素、酸化ニオブ(NbO)、二酸化ニオブ(NbO2)、三酸化二ニオブ(Nb2O3)、五酸化二ニオブ(Nb2O5)、酸化クロム(CrO)、二酸化クロム(CrO2)、三酸化二クロム(Cr2O3)、三酸化クロム(CrO3)、アルミナ(Al2O3)及び二酸化ジルコニウム(ZrO2)からなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含む。尚、無機酸化物として同様の機能を示すものであれば、上記以外の組成を有する珪素、ニオブ、クロム、アルミニウム及びジルコニウムの酸化物も使用可能である。この場合、下部層が酸化物として安定したものとなりやすい。また、例えば、酸化ニオブ、二酸化ニオブ、三酸化二ニオブ、五酸化二ニオブ、酸化クロム、二酸化クロム、三酸化二クロム及び三酸化クロムは、薄いニオブ、クロムを成膜すれば、その自然酸化膜として生じることができる。また、下部層は、上部層の拡散防止を行う層としても機能する。尚、以上の酸化物は例示であり、同様の機能を示すものであれば、上述した珪素、ニオブ、クロム等以外の元素の酸化物の使用も可能である。
また、第4の発明は、第1の発明に係る光学素子において、耐酸化性無機物が、ボロン、窒化珪素(SiN、Si2N3、Si2N4)、窒化ボロン(BN、BN2)、フッ化ストロンチウム(SrF)、フッ化ニッケル(NiF2)、フッ化イットリウム(YF3)、炭化珪素(SiC)及び珪化モリブデン(MoSi2)からなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含み、拡散防止性を有する。尚、耐酸化性無機物として同様の機能を示すものであれば、上記以外の組成を有する珪素、ボロン、ストロンチウム、ニッケル、イットリウム、モリブデンのホウ化物(ボロン自身を除く)、窒化物、フッ化物、炭化物及び珪化物(珪素自身を除く)の使用も可能である。この場合、ボロン、窒化珪素、窒化ボロン、フッ化ストロンチウム、フッ化ニッケル、フッ化イットリウム、炭化珪素及び珪化モリブデンは、いずれも酸化物への反応熱が小さいので、酸化反応が進みにくい。従って、下部層は、耐酸化性を示す。また、下部層は、上部層の拡散防止を行う層としても機能する。尚、以上の耐酸化性無機物は例示であり、同様の機能を示すものであれば、上述した珪素、ボロン、ストロンチウム等以外の元素のホウ化物、窒化物、フッ化物、炭化物及び珪化物の使用も可能である。
また、第5の発明は、第1〜第4の発明に係る光学素子において、耐酸化性金属が、ルテニウム、ロジウム、白金及び金からなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含む。この場合、ルテニウム、ロジウム、白金、金、銀、ニオブ、パラジウム、オスミウム及びイリジウムは、いずれも良好な耐酸化性を有するので、投影露光装置内の酸素・水分による上述の酸化作用を抑制する上部層の作製が可能である。
尚、第1〜第5の発明に係る光学素子において、多層膜が、極端紫外線領域における真空の屈折率に対する屈折率差が小さい物質からなる第1層と、屈折率差が大きい物質からなる第2層とを基板上に交互に積層してなる。この場合、各多層膜を目的とする極端紫外線に適合させるよう所定の膜厚で数層から数百層の多層膜として交互に積層させることで、極端紫外線の反射率を高めることが可能となる。当該光学素子は、ガラス等から作製した基板上に、その反射特性を良好にするため、例えば、Mo/Siによる多層膜を有している。入射する極端紫外線に対し、Mo層は比較的小さい屈折率を持つ一方、Si層は比較的大きい屈折率を持つ。これらを所定の膜厚で数層から数百層の多層膜として交互に積層させることで極端紫外線の反射率を高めることが可能となる。
上記課題を解決するために、第6の発明に係る投影露光装置は、極端紫外光を発生させる光源と、光源からの極端紫外光を転写用のマスクに導く照明光学系と、マスクのパターン像を感応基板上に形成する投影光学系とを備え、マスク、照明光学系及び投影光学系のうち少なくともいずれか1つが第1〜第5の発明いずれかの光学素子を含む。
当該投影露光装置は、第1〜第5の発明のいずれかの光学素子を用いることにより、装置内において、酸素及び水分などと光学素子表面の物質とが極端紫外線に照射されることで酸化反応を起こすことが抑制されるので、光学素子の反射特性を長期間にわたって維持することができ、光学素子延いては投影露光装置が長寿命となる。
〔第1実施形態〕
図1は、第1実施形態に係る光学素子の構造を示す断面図である。本実施形態における光学素子50は、凹面反射鏡であり、多層膜構造を支持する基板10と、反射用の多層膜20と、表層となる複合保護層30とを有する。複合保護層30は、さらに、多層膜20の最表層上に設けられる下部層31と、下部層31上に設けられ、光学素子50の最表面として積層される上部層32とを有する2重構造に形成されている。
図1は、第1実施形態に係る光学素子の構造を示す断面図である。本実施形態における光学素子50は、凹面反射鏡であり、多層膜構造を支持する基板10と、反射用の多層膜20と、表層となる複合保護層30とを有する。複合保護層30は、さらに、多層膜20の最表層上に設けられる下部層31と、下部層31上に設けられ、光学素子50の最表面として積層される上部層32とを有する2重構造に形成されている。
多層膜20は、基板10上に屈折率が異なる2種類の物質を、例えば、交互に積層することで形成した数層から数百層の多層膜である。この多層膜20を構成する2種類の薄膜層L1、L2は、例えば、Mo層及びSi層とすることができる。
基板10は、例えば合成石英ガラスや低膨張ガラスを加工することによって形成されたものであり、その上面10aは、所定精度の鏡面に研磨されている。上面10aは、図示のような凹面とすることもできるが、光学素子50の用途に応じて凹面、平面、多面その他の形状とすることができる。
基板10上の多層膜20については、反射鏡である光学素子50の反射率を高めるために、吸収の少ない物質を多数積層させ、それぞれの反射波の位相が合うように光干渉理論に基づいて各層の膜厚の調整が行われている。つまり、投影露光装置等で使用される極端紫外線の波長領域に対して、比較的屈折率の小さい薄膜層L1(具体例ではMo層)と比較的屈折率の大きい薄膜層L2(具体例ではSi層)とを、基板10上に、反射波の位相が合うよう所定の膜厚で交互もしくは任意順序に積層させる多層膜作製工程によって多層膜20が作製されている。
尚、多層膜20が、薄膜層L1と薄膜層L2との間にさらに拡散防止膜(不図示)を備えてもよい。多層膜20を形成する薄膜層L1、L2として、特に金属やシリコン等を用いた場合には、薄膜層L1と薄膜層L2との境界付近においておのおのを形成する材料同士が混ざり合い、界面が曖昧になりやすい。これにより、反射特性が影響を受け、光学素子50の反射率が下がってしまうことがある。そこで、界面を明瞭化するために、多層膜20の形成にあたって、薄膜層L1と薄膜層L2との間に、さらに拡散防止膜を設ける。材料としては、例えばB4CやC、MoC、MoO2等が用いられる。このように界面を明確化することにより、光学素子50の反射特性が向上する。
本実施形態において、光学素子50は、多層膜20の最表層上にさらに複合保護層30を有する。複合保護層30は、下部層31と、下部層31上に設けられた上部層32とからなる2重構造を有する。
このうち、下部層31は、耐酸化性無機物を含む材料で形成される。より具体的には、耐酸化性無機物は、無機酸化物で形成されており、この無機酸化物は、二酸化珪素、酸化ニオブ、二酸化ニオブ、三酸化二ニオブ、五酸化二ニオブ、酸化クロム、二酸化クロム、三酸化二クロム、三酸化クロム、アルミナ及び二酸化ジルコニウムからなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含んでおり、拡散防止性酸化物でもある。これにより、下部層31は、酸化防止膜としての役割を果たすととともに、上部層32を構成する成分の多層膜20への拡散防止を行う。
上部層32は、耐酸化性金属を含む材料で形成される。より具体的には、この耐酸化性金属は、ルテニウム、ロジウム、白金、金、銀、ニオブ、パラジウム、オスミウム及びイリジウムからなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含む。これにより、上部層32は、酸化防止膜としての役割を果たす。すでに説明したように上部層32と多層膜20との間に挿入された下部層31は、上部層32を構成する成分金属の多層膜20への拡散防止膜としての機能を果たしている。これにより、光学素子50の最表面である上部層32の耐酸化性の劣化を防ぐことができる。即ち、光学素子50の反射特性の劣化を防ぐことができる。
以下、本実施形態である光学素子50の構成における各部の機能についてより詳しく説明する。ここでは、上部層32において、耐酸化性を示す金属としてルテニウム、ロジウム、白金、金、銀、ニオブ、パラジウム、オスミウム、イリジウムなどを挙げている。仮に、下部層31を設けず、これらの金属をSi層とMo層とが交互に積層された極端紫外線用の多層膜20の表面層に直接積層した場合、ルテニウム、ロジウム、白金、金、銀、ニオブ、パラジウム、オスミウム及びイリジウムは多層膜20中に拡散してしまい、上部層32の金属組成比が低下してしまう。これに伴い、上部層31の耐酸化性も劣化する。また、拡散が多くなると多層膜20の反射特性も劣化してしまう。
従って、このような最表面である上部層32中の耐酸化性金属の拡散、組成比低下を防ぐために、本実施形態では、上部層32の耐酸化性金属と多層膜20の表面層との間に拡散防止層として機能する下部層31を設けている。
さらに、下部層31は、拡散防止性を有するだけでなく、耐酸化性を示すことも重要である。一般に、酸化物は拡散防止、耐酸化性の観点で下部層31の材料として最も適している。この酸化物を構成するものとして、本実施形態では、例えば、無機酸化物である酸化ニオブ、二酸化ニオブ、三酸化二ニオブ、五酸化二ニオブ、酸化クロム、二酸化クロム、三酸化二クロム及び三酸化クロムを挙げている。これらは、薄いニオブ、クロムを成膜すれば自然酸化膜として生じる。
尚、所望の拡散防止性・耐酸化性を有するものであれば、他の酸化物であっても構わない。下部層31を形成する酸化物としては、シリコンやホウ素等の非金属元素の酸化物や、Sc、Tb、Pd、Ru、Rh、Ti、Mo、V、Ba、Be、Eu、Gd、La、Mo、Nd、Pr、Sm、Sr、Ti、Y、Zr、Rb等の金属元素の酸化物が使用可能である。
前者の非金属元素の酸化物の具体例は、SiO,B2O3等である。後者の金属元素の酸化物の具体例は、Sc2O3,Tb2O3,PdO,Pd2O3,PdO4,RuO2,RuO3,RuO4,Rh2O3,RhO2,TiO,Ti2O3,TiO2,MoO,Mo2O3,MoO2,Mo2O5,VO,V2O3,VO2,V2O5,BaO,BeO,Be2O,CaO,Eu2O3,Gd2O3,La2O3,Mo4O11,Mo8O23,MoO3,Mo9O24,NdO,Nd2O3,PrO1.778,PrO1.833,PrO1.8,PrO1.818,Sm2O3,SrO,Ti3O2,Ti2O,Ti3O,Ti1−xO,TinO2n−1(n=2〜9),VO1.76,VO1.57,VO1.80,VO1.84,VO1.86,V6O13,V8O,V4O,V2O,V3O5,V4O7,V5O9,V7O13,V6O13,Y2O3,ZrO2−x等である。
また、酸化物による下部層31の製造方法は、表面荒さを悪くせず緻密な膜ができれば蒸着、スパッタ法など成膜手法を問わない。表面荒さを悪くせず緻密な膜を形成するのを助けるため、当該膜即ち下部層31と多層膜20の表面層との間に別の材料を成膜しても構わない。
一方、酸化物は、耐酸化性を示すものが多く、厚く積層させることで、下部層31単独でも酸化防止の保護膜として機能しうる。しかし、酸化物の膜である下部層31は、極端紫外線の吸収が大きいため、厚いと光学素子50の反射特性の劣化を招く可能性がある。逆に、下部層31が薄いと単独では耐酸化性が不十分なものとなる可能性がある。また、下部層31中の酸化物(例えば、二酸化珪素)は水の拡散速度が大きく、多層膜中に水が浸入しやすい場合もある。これらは多層膜20の酸化の原因となる。そこで、耐酸化性金属を含有する上部層32を最表面に積層することで、酸化の原因となる水の浸入を防ぎ、耐酸化性も更に向上させることができる。従って、耐酸化性金属を含有する層を、光学素子50の最表面である上部層32として備え、拡散防止性酸化物や耐酸化性無機物を含有する層を、光学素子50の最表面と多層膜20の表面層との間に位置する下部層31として備えることが重要である。こうすることで、耐酸化性金属が多層膜20へ拡散すること、あるいは、酸素及び水分が多層膜20に侵入することを、反射特性の劣化を抑えつつより確実に防ぐことができる。
尚、本実施形態において、下層部31に含まれる耐酸化性無機物は、無機酸化物によって形成されるとしたが、当該耐酸化性無機物は、これら酸化物に限られない。酸化物の他にも、例えば、B、SiN、Si2N3、Si3N4、BN、SrF2、NiF2、YF3、SiC及びMoSi2からなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分としても耐酸化性及び拡散防止性に関して同様の効果が期待される。
この他にも、例えば、シリコンのホウ化物やホウ素の炭化物といった自身以外の非金属元素のホウ化物、珪化物、炭化物、窒化物、フッ化物及びベリリウム化合物を用いて下部層31を形成することも可能である。また、Be、Ca、Sc、Gd、Ti、Zr、Ta、Cr、Mo、W、Ga、Sr、Nb、Eu、Nd、Pr、Rh、Ru、Sm、Tb、V、Y、La、Dy、Hf、Mn、Re、Fe、Pd、Th、Al、Ba、Rb等の金属元素のホウ化物、珪化物、炭化物、窒化物、フッ化物及びベリリウム化合物(ベリリウム自身を除く)を用いて下部層31を形成することも可能である。
具体的には、下部層31を構成する耐酸化性無機物として、SiB、SiB6、SiBx等の非金属ホウ化物が使用可能である。また、BeB2,CaB6,ScB2,ScB12,GdB6,TiB2,ZrB2,TaB2,Cr4B,CrB,Cr3B4,CrB2,Mo2B5,W2B3,W2B5,GaB6,SrB6,NbB,Nb3B4,NbB2,BeB12,BeB9,BeB6,BeB4,Be2B,Be4B,EuB6,GdB2,Gd2B5,GdB4,GdB66,Mo2B,MoB,Mo3B2,MoB2,MoB4,Nb3B2,Nd2B5,NdB4,NdB6,NdB66,Pr2B5,PrB4,PrB6,RhB1.1,Rh7B3,RuB,Ru7B3,Ru2B3,RuB2,Sm2B5,SmB4,SmB6,SmB66,TbB2,TbB4,TbB6,TbB12,TbB66,TiB,Ti3B4,V3B2,VB,V5B6,V3B4,V2B3,VB2等の金属ホウ化物も使用可能である。
また、下部層31を構成する耐酸化性無機物として、BaSi2,LaSi2,DySi2,ZrSi,ZrSi2,HfSi2,CrSi2,MoSi2,MnSi2,ReSi2,FeSi2,PdSi,ThSi2,CaSi,Ca2Si,CaSi2,V2Si,VSi2,RuSi,RhSi2,TbSi2,BaSi,Mo3Si,Mo5Si3,Nb5Si3,NbSi2,Pd3Si,Pd2Si,Pd9Si4,Ru2Si,Ru2Si3,Sr2Si,SrSi2,SrSi,TiSi,Ti3Si,Ti5Si3,Ti3Si,Ti5Si4,TiSi2,Ti6Si5,V3Si,V5Si3,V6Si5,Y5Si3,Y5Si4,YSi,Y3Si5,Zr2Si,Zr4Si,Zr5Si3,Zr3Si2,Zr5Si4等の金属珪化物が使用可能である。
下部層31を構成する耐酸化性無機物として、B4C等の非金属炭化物が使用可能である。また、LaC2,Be2C,Mo2C,MoC,VC,V4C3,V5C,TiC,ZrC,Eu4C2,Eu2C3,EuC2,EuC6,Gd2C,Gd4C2,Gd2C3,GdC2,La2C3,MoC1−x,Nb2C,NbC,Nd2C3,NdC2,Sc2C,Sc4C3,Sc13C10,Sc15C19,Sm3C,Sm2C3,SmC2,Tb4C2,Tb2C,Tb2C3,TbC2,Ti2C,V2C,V4C3−x,V6C5,V8C7,Y2C,Y4C2,Y15C19,Y2C3,YC2等の金属炭化物も使用可能である。
下部層31を構成する耐酸化性無機物として、YN,Ca3N2,ScN,ZrN,Zr3N2,Sr3N2,TiN,Ti3N4,NbN,NdN,Be3N2,Ba3N2,VN,MoN,Mo2N,LaN,AlN,Nb2N,Ti2N,V2N1−x,VN1−x,V32N28等の金属窒化物が使用可能である。
以上の化合物以外にも、下部層31を構成する耐酸化性無機物として、BaBe13,CaBe13,EuBe13,GdBe13,LaBe13,Mo3Be,MoBe2,MoBe12,NbBe12,Nb2Be17,NbBe3,NbBe2,Nb3Be2,NdBe13,PdBe12,PdBe5,Pd2Be,Pd3Be,PdBe,Pd3Be2,Pd4Be3,PrBe13,Ru3Be17,Ru3Be10,RuBe2,Ru2Be3,ScBe5,Sc2Be17,ScBe13,SmBe13,SrBe13,TbBe13,TiBe2,TiBe3,Ti2Be17,TiBe12,VBe12,VBe2,YBe13,ZrBe13,Zr2Be17,ZrBe5,ZrBe2等のベリリウム化合物が使用可能である。
以上の下部層31及び上部層32を含む複合保護層30の形成において、耐酸化性を最大限に利用するためには、緻密な膜形成に必要な膜厚、酸素・水分の拡散が遅くなる膜厚、つまり、厚い膜厚が望まれる。しかし、極端紫外線は各構成物質により少なからず吸収されるので、上部層32の厚みは2〜5nmとなる。また、下部層31における酸化物は、酸素による極端紫外線の吸収が大きいので1〜3nmとなる。個々の厚みは、望まれる光学素子50の反射特性によって決められる。
尚、上部層32の製造方法も、表面荒さを悪くせず緻密な膜ができれば蒸着、スパッタ法など成膜手法を問わない。
以上、本実施形態に即して本発明を説明したが、下部層31及び上部層32に用いた各成分は上記本実施形態に限定されるものではない。例えば、例示した成分以外に微量の成分を添加したものであっても所望の効果を得られるものであればよい。
〔第2実施形態〕
図2は、第1実施形態に係る光学素子を光学部品として組み込んだ、第2実施形態に係る投影露光装置の構造を説明するための図である。
〔第2実施形態〕
図2は、第1実施形態に係る光学素子を光学部品として組み込んだ、第2実施形態に係る投影露光装置の構造を説明するための図である。
この投影露光装置は、主に、極端紫外線光源S、コンデンサC、照明光学系IR1〜IR4、マスクMを支持するステージMST、投影光学系PR1〜PR4、感応基板(ウエハ)WAを支持するステージWST等により構成されている。
極端紫外線光源Sには、プラズマ励起用レーザ光を発生するレーザ光源Lと、ターゲット材料であるキセノン等のガスを筐体SC中に供給するチューブTとが付設されている。チューブTの先端から出射するキセノンにレーザ光源Lからのレーザ光を集光させることにより、その部分のターゲット材がプラズマ化して極端紫外線を発する。コンデンサCは、チューブTの先端で発生した極端紫外線を集光する。コンデンサCを経た極端紫外線は、収束されつつ筐体SC外に射出し、コリメータミラーCMに入射する。尚、以上のようなレーザプラズマ光源に代えて、放電プラズマ光源、SOR光源からの放射光等を使用することができる。
照明光学系IR1〜IR4は、反射型のオプティカルインテグレ一夕IR1、IR2、コンデンサミラーIR3等により構成されている。この照明光学系IR1〜IR4によって、マスクM上の所定領域を所望の波長の極端紫外線で均一に照明することができる。
極端紫外線の波長域で完全に透明な物質は存在しないので、マスクMには透過型のマスクではなく反射型のマスクが使用される。
投影光学系PR1〜PR4は、通常複数の多層膜ミラー等により構成されている。マスクM上に形成された回路パターンは、このような投影光学系PR1〜PR4によってレジストが塗布されたウエハWA上に結像してこのレジストに転写される。尚、極端紫外線は大気に吸収されて減衰するが、装置全体を真空チャンバVCによって覆って、極端紫外線の光路を所定の真空度(例えば、1.3×10−3Pa以下)に維持することで、極端紫外線の減衰を低減している。
以下、本実施形態における投影露光装置の動作について説明する。この投影露光装置では、照明光学系IR1〜IR4からの照明光によってマスクMが照明され、マスクMのパターン像が投影光学系PR1〜PR4によってウエハWA上に投影される。これにより、マスクMのパターン像がウエハWAに転写される。
以上の投影露光装置において、コンデンサC、コリメータミラーCM、照明光学系IR1〜IR4、マスクM、若しくは投影光学系PR1〜PR4として、図1に例示される光学素子50を用いる。この際、光学素子50の光学面の形状は、凹面に限らず、平面、凸面、多面等組み込む場所によって適宜調整する。
以上説明した投影露光装置では、高反射率で高精度に制御された光学素子C、CM、IR1〜IR4、M、PR1〜PR4が用いられているので、投影露光装置内の光学素子表面での酸化反応を抑制することができ、光学素子の反射特性が劣化するのを防ぎ、延いては投影露光装置の寿命を長くすることができる。
上記実施形態では、露光光として極端紫外線を用いる投影露光装置について説明したが、露光光として極端紫外線以外の紫外線を用いる投影露光装置においても、図1に示すような光学素子50を組み込むことができ、光学素子の反射特性の劣化を抑制することができる。
また、投影露光装置以外にも、例えば、軟X線顕微鏡や、軟X線分析装置といった軟X線光学機器を含む様々な光学機器についても同様に図1に示すような光学素子50を組み込むことができる。
50…光学素子、 10…基板、 20…多層膜、 30…複合保護層、 31…下部層、 32…上部層、 L1、L2…薄膜層、 S…極端紫外線光源、 C…コンデンサ、 IR1〜IR4…照明光学系、 M…マスク、 MST、WST…ステージ、 PR1〜PR4…投影光学系、 WA…ウエハ
Claims (6)
- 支持用の基板と、
前記基板上に支持されるとともに、極端紫外線を反射する多層膜と、
前記多層膜の最表層上に設けられ、耐酸化性無機物を含有する下部層と前記下部層上に設けられ耐酸化性金属を含有する上部層とを含む複合保護層と、
を備える光学素子。 - 前記耐酸化性無機物は、無機酸化物であることを特徴とする請求項1記載の光学素子。
- 前記無機酸化物は、二酸化珪素、酸化ニオブ、二酸化ニオブ、三酸化二ニオブ、五酸化二ニオブ、酸化クロム、二酸化クロム、三酸化二クロム、三酸化クロム、アルミナ及び二酸化ジルコニウムからなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含むことを特徴とする請求項2記載の光学素子。
- 前記耐酸化性無機物は、ボロン、窒化珪素、窒化ボロン、フッ化ストロンチウム、フッ化ニッケル、フッ化イットリウム、炭化珪素及び珪化モリブデンからなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含み、拡散防止性を有することを特徴とする請求項1記載の光学素子。
- 前記耐酸化性金属は、ルテニウム、ロジウム、白金、金、銀、ニオブ、パラジウム、オスミウム及びイリジウムからなる群から選ばれる少なくとも1種を主成分として含むことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項記載の光学素子。
- 極端紫外光を発生させる光源と、
前記光源からの極端紫外光を転写用のマスクに導く照明光学系と、
前記マスクのパターン像を感応基板上に形成する投影光学系とを備え、
前記マスク、前記照明光学系及び前記投影光学系のうち少なくともいずれか1つが請求項1から請求項5のいずれか一項記載の光学素子を含むことを特徴とする投影露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004365857A JP2006173446A (ja) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | 極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004365857A JP2006173446A (ja) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | 極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006173446A true JP2006173446A (ja) | 2006-06-29 |
Family
ID=36673845
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004365857A Withdrawn JP2006173446A (ja) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | 極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006173446A (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008090988A1 (ja) * | 2007-01-25 | 2008-07-31 | Nikon Corporation | 光学素子、これを用いた露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP2009071126A (ja) * | 2007-09-14 | 2009-04-02 | Toppan Printing Co Ltd | 極端紫外線用反射型フォトマスク及び半導体素子の製造方法 |
JP2009526387A (ja) * | 2006-02-10 | 2009-07-16 | フラウンホーファー−ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシュング エー ファウ | 極紫外線スペクトル領域(euv)用の熱安定多層ミラー及び当該多層ミラーの使用 |
WO2011068223A1 (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-09 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用光学部材およびeuvリソグラフィ用反射層付基板の製造方法 |
WO2011071123A1 (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-16 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用反射層付基板、euvリソグラフィ用反射型マスクブランク、euvリソグラフィ用反射型マスク、および該反射層付基板の製造方法 |
CN102193121A (zh) * | 2010-03-17 | 2011-09-21 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 反射光学元件、投射系统和投射曝光设备 |
KR20120030996A (ko) * | 2009-05-28 | 2012-03-29 | 코비오 인코포레이티드 | 확산 방지 코팅된 기판상에 형성된 반도체 장치 및 그 제조방법 |
KR20150004168A (ko) * | 2013-07-02 | 2015-01-12 | 삼성전자주식회사 | 반사형 포토마스크 블랭크 및 반사형 포토마스크 |
KR20150064087A (ko) * | 2012-10-04 | 2015-06-10 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 가혹 환경 광학 소자 보호 |
JP2015142083A (ja) * | 2014-01-30 | 2015-08-03 | Hoya株式会社 | 反射型マスクブランク、反射型マスクの製造方法、及び半導体装置の製造方法 |
JP2015222783A (ja) * | 2014-05-23 | 2015-12-10 | 凸版印刷株式会社 | 反射型マスクブランクおよび反射型マスク |
JP2022521373A (ja) * | 2019-02-26 | 2022-04-07 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リフレクタ製造方法及び関連するリフレクタ |
WO2023037980A1 (ja) * | 2021-09-07 | 2023-03-16 | Hoya株式会社 | 多層反射膜付き基板、反射型マスクブランク、反射型マスク、及び半導体装置の製造方法 |
US11742363B2 (en) | 2018-10-22 | 2023-08-29 | Ensurge Micropower Asa | Barrier stacks for printed and/or thin film electronics, methods of manufacturing the same, and method of controlling a threshold voltage of a thin film transistor |
-
2004
- 2004-12-17 JP JP2004365857A patent/JP2006173446A/ja not_active Withdrawn
Cited By (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009526387A (ja) * | 2006-02-10 | 2009-07-16 | フラウンホーファー−ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシュング エー ファウ | 極紫外線スペクトル領域(euv)用の熱安定多層ミラー及び当該多層ミラーの使用 |
US8121254B2 (en) | 2007-01-25 | 2012-02-21 | Nikon Corporation | Optical element, exposure apparatus using this, and device manufacturing method |
WO2008090988A1 (ja) * | 2007-01-25 | 2008-07-31 | Nikon Corporation | 光学素子、これを用いた露光装置、及びデバイス製造方法 |
JP2009071126A (ja) * | 2007-09-14 | 2009-04-02 | Toppan Printing Co Ltd | 極端紫外線用反射型フォトマスク及び半導体素子の製造方法 |
KR101716655B1 (ko) * | 2009-05-28 | 2017-03-15 | 씬 필름 일렉트로닉스 에이에스에이 | 확산 방지 코팅된 기판상에 형성된 반도체 장치 및 그 제조방법 |
KR20120030996A (ko) * | 2009-05-28 | 2012-03-29 | 코비오 인코포레이티드 | 확산 방지 코팅된 기판상에 형성된 반도체 장치 및 그 제조방법 |
US8927179B2 (en) | 2009-12-04 | 2015-01-06 | Asahi Glass Company, Limited | Optical member for EUV lithography, and process for production of reflective layer-equipped substrate |
WO2011068223A1 (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-09 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用光学部材およびeuvリソグラフィ用反射層付基板の製造方法 |
JP5696666B2 (ja) * | 2009-12-04 | 2015-04-08 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用光学部材およびeuvリソグラフィ用反射層付基板の製造方法 |
CN102640021A (zh) * | 2009-12-04 | 2012-08-15 | 旭硝子株式会社 | Euv光刻用光学构件及带反射层的euv光刻用衬底的制造方法 |
JPWO2011068223A1 (ja) * | 2009-12-04 | 2013-04-18 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用光学部材およびeuvリソグラフィ用反射層付基板の製造方法 |
JPWO2011071123A1 (ja) * | 2009-12-09 | 2013-04-22 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用反射層付基板、euvリソグラフィ用反射型マスクブランク、euvリソグラフィ用反射型マスク、および該反射層付基板の製造方法 |
WO2011071126A1 (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-16 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用多層膜ミラーおよびその製造方法 |
JP5673555B2 (ja) * | 2009-12-09 | 2015-02-18 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用反射層付基板、euvリソグラフィ用反射型マスクブランク、euvリソグラフィ用反射型マスク、および該反射層付基板の製造方法 |
US8993201B2 (en) | 2009-12-09 | 2015-03-31 | Asahi Glass Company, Limited | Reflective layer-equipped substrate for EUV lithography, reflective mask blank for EUV lithography, reflective mask for EUV lithography, and process for production of the reflective layer-equipped substrate |
WO2011071123A1 (ja) * | 2009-12-09 | 2011-06-16 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用反射層付基板、euvリソグラフィ用反射型マスクブランク、euvリソグラフィ用反射型マスク、および該反射層付基板の製造方法 |
JP5699938B2 (ja) * | 2009-12-09 | 2015-04-15 | 旭硝子株式会社 | Euvリソグラフィ用多層膜ミラーおよびその製造方法 |
US8580465B2 (en) | 2009-12-09 | 2013-11-12 | Asahi Glass Company, Limited | Multilayer mirror for EUV lithography and process for its production |
CN102193121B (zh) * | 2010-03-17 | 2015-06-17 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 反射光学元件、投射系统和投射曝光设备 |
CN102193121A (zh) * | 2010-03-17 | 2011-09-21 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 反射光学元件、投射系统和投射曝光设备 |
JP2015533253A (ja) * | 2012-10-04 | 2015-11-19 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 苛酷環境光学要素保護 |
KR20150064087A (ko) * | 2012-10-04 | 2015-06-10 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 가혹 환경 광학 소자 보호 |
US10185234B2 (en) | 2012-10-04 | 2019-01-22 | Asml Netherlands B.V. | Harsh environment optical element protection |
KR102129384B1 (ko) * | 2012-10-04 | 2020-07-03 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 가혹 환경 광학 소자 보호 |
KR20150004168A (ko) * | 2013-07-02 | 2015-01-12 | 삼성전자주식회사 | 반사형 포토마스크 블랭크 및 반사형 포토마스크 |
KR102109129B1 (ko) * | 2013-07-02 | 2020-05-08 | 삼성전자주식회사 | 반사형 포토마스크 블랭크 및 반사형 포토마스크 |
JP2015142083A (ja) * | 2014-01-30 | 2015-08-03 | Hoya株式会社 | 反射型マスクブランク、反射型マスクの製造方法、及び半導体装置の製造方法 |
JP2015222783A (ja) * | 2014-05-23 | 2015-12-10 | 凸版印刷株式会社 | 反射型マスクブランクおよび反射型マスク |
US11742363B2 (en) | 2018-10-22 | 2023-08-29 | Ensurge Micropower Asa | Barrier stacks for printed and/or thin film electronics, methods of manufacturing the same, and method of controlling a threshold voltage of a thin film transistor |
JP2022521373A (ja) * | 2019-02-26 | 2022-04-07 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リフレクタ製造方法及び関連するリフレクタ |
JP7330279B2 (ja) | 2019-02-26 | 2023-08-21 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リフレクタ製造方法及び関連するリフレクタ |
WO2023037980A1 (ja) * | 2021-09-07 | 2023-03-16 | Hoya株式会社 | 多層反射膜付き基板、反射型マスクブランク、反射型マスク、及び半導体装置の製造方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2109134B1 (en) | Optical element, exposure apparatus employing the optical element, and device manufacturing method | |
JP2006170916A (ja) | 光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
JP2006173446A (ja) | 極端紫外線用の光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
US11520087B2 (en) | Reflective optical element | |
RU2410732C2 (ru) | Термостабильное многослойное зеркало для крайнего ультрафиолетового спектрального диапазона | |
JPWO2008065821A1 (ja) | 光学素子、これを用いた露光装置、及びデバイス製造方法 | |
US20070128528A1 (en) | Mask blank and photomask having antireflective properties | |
US20060066940A1 (en) | Reflective optical element and EUV lithography appliance | |
WO2006030627A1 (ja) | Euvリソグラフィ用反射型マスクブランクスおよびその製造方法 | |
US10061204B2 (en) | Mirror, in particular for a microlithographic projection exposure apparatus | |
US20090009858A1 (en) | Thermally Stable Multilayer Mirror for the EUV Spectral Range | |
JP2007198782A (ja) | 多層膜反射鏡及び露光装置 | |
JP2006173490A (ja) | 光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
JP2006171577A (ja) | 光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
US6920199B2 (en) | Mirror element for the reflection of x-rays | |
JP2006170911A (ja) | 光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
JP2014116498A (ja) | 光学素子、露光装置、及びデバイスの製造方法 | |
JP2006080478A (ja) | 光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
JP2005302860A (ja) | 極短紫外線光学系用光学素子及び極短紫外線露光装置 | |
JP2008152037A (ja) | 光学素子、露光装置、及びデバイス製造方法 | |
JP4343895B2 (ja) | 軟x線用多層膜ミラー | |
JP2006173497A (ja) | 光学素子及びこれを用いた投影露光装置 | |
JP2006258650A (ja) | 多層膜反射鏡および露光装置 | |
JP2006049761A (ja) | 光学素子、光学素子の製造方法及び投影露光装置 | |
JP2006029915A (ja) | 反射素子、露光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071024 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20091028 |