JP2006153705A - 集積回路における回路ブロック試験方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 予め集積回路11内に、各アナログ回路12〜14の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路15〜17と、各電圧−周波数変換回路15〜17の出力を混合して端子19へ出力する混合回路18とを作成しておく。テスト時には、アナログ回路12〜14へ試験信号を加え、集積回路11の端子19から出力される交流信号をADC24においてディジタルデータに変換し、DSP26において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。そして、制御部28において、周波数成分を基準値と比較することによってアナログ回路12〜14の良否を判定する。
【選択図】 図1
Description
なお、従来の集積回路の試験装置として特許文献1に記載されるものが知られている。
まず、テスタ12からLSI・11への電源をオンとし、LSI・11を動作状態とする(ステップS1)。次に、テスト信号発生回路27から測定対象のアナログ回路12〜14へテスト信号を出力して各アナログ回路12〜14を所望の測定状態とする(ステップS2)。次に、VF変換回路15〜17が各々アナログ回路12〜14から出力される電圧を、対応する周波数の交流信号に変換し、ミキサー18へ出力する(ステップS3)。ミキサー18は、各VF変換回路15〜17の出力をミキシングし、ピン19へ出力する(ステップS4)。次に、ピン19から出力された信号がテスタ12に入力され、ディジタルデータに変換され、DSP26においてFFT演算が行われる。そして、FFT演算の結果得られたピン19の信号の周波数成分が制御部28へ出力される(ステップS5)。次に、制御部28が、DSP26から出力された各周波数成分を予め設定されているスレショルドレベルと比較することによって、アナログ回路12〜14の良否を判定し、その結果を表示部31に表示する(ステップS6)。
Claims (4)
- 集積回路内に作成された複数の回路ブロックを試験する回路ブロック試験方法において、
予め集積回路内に、各回路ブロックの試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路と、各電圧−周波数変換回路の出力を混合して端子へ出力する混合回路とを設ける第1のステップと、
前記回路ブロックへ試験信号を加える第2のステップと、
前記集積回路の端子から出力される交流信号に含まれる周波数成分を検出する第3のステップと、
前記周波数成分を基準値と比較することによって前記回路ブロックの良否を判定する第4のステップと、
を有することを特徴とする集積回路における回路ブロックの試験方法。 - 前記第3のステップは、前記集積回路の端子から出力される交流信号をディジタルデータに変換し、前記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って前記交流信号に含まれる周波数成分を検出する処理であることを特徴とする請求項1に記載の集積回路における回路ブロックの試験方法。
- 集積回路内に作成された複数の回路ブロックを試験する回路ブロック試験装置において、
予め前記集積回路内に作成された回路であって、前記各回路ブロックの試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路と、
予め前記集積回路内に作成された回路であって、前記各電圧−周波数変換回路の出力を混合して端子へ出力する混合回路と、
前記各回路ブロックへ試験信号を加える試験信号発生部と、
前記集積回路の端子から出力される交流信号に含まれる周波数成分を検出する周波数成分検出手段と、
前記周波数成分検出手段によって検出された周波数成分を基準値と比較することによって前記回路ブロックの良否を判定する良否判定手段と、
を具備することを特徴とする集積回路の回路ブロック試験装置。 - 前記周波数成分検出手段は、
前記集積回路の端子から出力される交流信号をディジタルデータに変換するアナログ−ディジタル変換回路と、
前記ディジタルデータを一時記憶するメモリと、
前記メモリ内のディジタルデータを読み出し、高速フーリエ変換演算を行って前記交流信号に含まれる周波数成分を検出する検出手段と、
を具備することを特徴とする請求項3に記載の集積回路の回路ブロック試験装置。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0580129A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Toshiba Corp | 信号出力装置 |
JPH06342028A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-12-13 | Matsushita Electron Corp | マトリクス回路の検査装置 |
JP2000028685A (ja) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 半導体装置の検査装置及びその方法 |
JP2000065890A (ja) * | 1998-08-26 | 2000-03-03 | Ando Electric Co Ltd | Lsiテストシステム |
JP2000266822A (ja) * | 1999-03-19 | 2000-09-29 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
JP2002296620A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Fujitsu Ltd | 液晶表示装置 |
JP2004095921A (ja) * | 2002-09-02 | 2004-03-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置およびその検査方法 |
-
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0580129A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Toshiba Corp | 信号出力装置 |
JPH06342028A (ja) * | 1993-04-09 | 1994-12-13 | Matsushita Electron Corp | マトリクス回路の検査装置 |
JP2000028685A (ja) * | 1998-07-14 | 2000-01-28 | Asahi Kasei Microsystems Kk | 半導体装置の検査装置及びその方法 |
JP2000065890A (ja) * | 1998-08-26 | 2000-03-03 | Ando Electric Co Ltd | Lsiテストシステム |
JP2000266822A (ja) * | 1999-03-19 | 2000-09-29 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
JP2002296620A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Fujitsu Ltd | 液晶表示装置 |
JP2004095921A (ja) * | 2002-09-02 | 2004-03-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体装置およびその検査方法 |
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