JP2006153583A - データ発生装置 - Google Patents

データ発生装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006153583A
JP2006153583A JP2004342563A JP2004342563A JP2006153583A JP 2006153583 A JP2006153583 A JP 2006153583A JP 2004342563 A JP2004342563 A JP 2004342563A JP 2004342563 A JP2004342563 A JP 2004342563A JP 2006153583 A JP2006153583 A JP 2006153583A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
bit width
parallel
parallel data
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004342563A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4491587B2 (ja
Inventor
Yasumasa Fujisawa
泰全 藤沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Japan Ltd
Original Assignee
Tektronix Japan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Japan Ltd filed Critical Tektronix Japan Ltd
Priority to JP2004342563A priority Critical patent/JP4491587B2/ja
Priority to US11/264,985 priority patent/US7890679B2/en
Publication of JP2006153583A publication Critical patent/JP2006153583A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4491587B2 publication Critical patent/JP4491587B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/40Bus structure
    • G06F13/4004Coupling between buses
    • G06F13/4009Coupling between buses with data restructuring
    • G06F13/4018Coupling between buses with data restructuring with data-width conversion
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M9/00Parallel/series conversion or vice versa

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】データ発生装置をもっと高速動作可能にする。
【解決手段】並列データ供給回路18は、有効ビット幅が4又は5ビットの第1並列データを分周クロックDCLKに従って供給する。ビット幅調整回路20は、例えば、FIFOなどで構成され、第1並列データを受けて、そのビット幅に関わらず、4ビット幅の第2並列データを生成する。並直列変換回路12は、DCLKをより高速な基準クロックRCLKに従って第2並列データを直列データに変換する。このとき、第1並列データの有効ビット幅に関係なくDCLKの周波数は一定なので、遅延ロックループ等を用いて回路を容易に高速化できる。
【選択図】図1

Description

本発明は、任意の長さの直列データを高速に発生させるのに適したデータ発生装置に関する。
電子回路が正常に動作しているか試験する方法はいくつかあるが、その1つとしては、被測定電子回路に所望のデジタル・データ列(テスト・パターン)を供給し、回路の出力データが期待通りか確かめるものがある。この場合には、予め所望のデジタル・データ列をメモリに記憶しておき、これに対応する電気信号を発生させることで行われる。別の方法では、所望のアナログ信号を被測定電子回路に供給して試験を行う。この場合には、そのアナログ信号に対応するデジタル・データを用意して、これをデジタル・アナログ変換することによって、所望のアナログ信号が生成される。いずれにしても、所望のデジタル・データ列を生成することが必要であり、こうしたデータの生成及びデータを用いた電子回路の測定については、例えば、米国特許6032275号に記載されている。
デジタル・データ列を生成するには、メモリに予め記憶したデータを読み出すことによって行われているが、メモリからのデータ読み出し速度には限界がある。そこで、所定のビット幅で並列にデータを読み出して、これを直列に変換することで、所望の速度のデータ列を生成することが行われている。図1は、こうしたデータ生成例を示すもので、並列データ発生回路10は、分周クロックDCLKに従って並列データを供給し、並直列変換回路12は基準クロックRCLKに従ってこれを直列データに変換する。この例は、並列データが4ビット幅の場合を示す。並直列変換回路12は、基準クロックRCLKを受けて4分の1に分周した分周クロックDCLKを生成し、並列データ発生回路10に供給している。
図1に示す例では、生成されるデータ列の長さが4の倍数に制限される。しかし、必要とされるデータ列の長さは、一般に任意である。そこで、図2に示されるような任意長のデータ列を生成する方法が知られている。並列データ発生回路14は、1回につき有効ビット幅が4ビット又は5ビットの並列データを選択的に供給する。また、ビット幅識別信号BWIを出力する。並直列変換回路16は、ビット幅識別信号BWIを受けて、一回で並直列変換するビット幅を制御し、1回につき4ビット幅又は5ビット幅の第1並列データを直列データに変換し、基準クロックRCLKに従って出力する。このとき、基準クロックRCLKの周波数が一定であるのに対して、分周クロックDCLKの周波数は、並直列変換回路16で変換する第1並列データの有効ビット幅に応じて変更される。
米国特許6032275号
ロジック回路の高速動作を実現する手法として、位相ロックループ(PLL)回路や遅延ロックループ(DLL)回路を使用して、クロックの位相を最大で1クロック分遅延することで、見かけ上、クロック遅延をゼロにするといったことが行われている。ところが、図2に示す回路では、並直列変換回路16が1回で直列に変換するビット幅に応じて分周クロックDCLKの周期が変更されるので、この変更が原因でノイズが発生する。よって、PLLやDLLを用いることができず、データ発生回路高速化の妨げとなっている。
本発明のデータ発生回路は、より高速な直列データの生成に適している。並列データ供給手段は、メモリなどから構成され、有効ビット幅が選択的に変更される第1並列データを第1クロックに従って供給する。ビット幅調整手段は、例えば、FIFOなどで構成され、第1並列データを受けて、そのビット幅に関わらず、ビット幅が一定の第2並列データを生成する。並直列変換手段は、第1クロックをより高速な第2クロックに従って第2並列データを直列データに変換する。このとき、本発明では、有効ビット幅が変更されても第1クロックの周波数が一定であることを特徴とし、これ故に遅延ロックループ(DLL)等を用いて回路を容易に高速化できる。第1クロックは、例えば、第2クロックを分周して生成すると良い。
並列データ供給手段は、ビット幅識別信号をビット幅調整手段に供給し、これを受けてビット幅調整手段は、並列データの書き込み可否を応答するようにすると良い。これによって、もしビット幅調整手段に第1並列データを受ける容量が不足している場合には、一時的に書き込みが中止される。このため、並列データ供給手段は、第1クロック毎に供給する第1並列データのビット幅を常に一定の順番にすることができ、制御が容易になる。
図3は、本発明の実施に適したデータ発生回路の機能ブロック図である。従来例と対応するブロックには同じ符号を付して説明する。なお、図しないが、この回路は、周知のマイクロプロセッサ、ハードディスク、キーボード等から構成される制御手段と接続されている。また、制御のためのプログラムは、例えば、ハードディスクなどの記憶手段に記憶されている。
並列データ発生回路18は、例えば、所望のデータを記憶するためのメモリを有し、分周クロックDCLKに従って、1回につき有効ビット幅が4ビット又は5ビットの第1並列データを選択的に供給する。有効ビット幅が4ビットの場合には、第1並列データが5ビットであってもその内の4ビットのみが直列データとして使用される。第1並列データの有効ビット幅を4ビットにするか5ビットにするかは、上述の制御手段によって制御すれば良い。また、並列データ発生回路18は、ビット幅調整回路20に、有効ビット幅識別信号BWIを供給する。
ビット幅調整回路20は、例えばFIFOで構成され、第1並列データを受けて、これをビット幅が4ビットで一定の第2並列データに変換し、分周クロックDCLKに従って並直列変換回路12に供給する。並直列変換回路12は、4ビット幅の第2並列データを並直列変換し、基準クロックRCLKに従って直列データとして出力する。また、並直列変換回路12は、基準クロックRCLKを受けて、これを分周した分周クロックDCLKを出力する。図3の実施例では、4ビットの並列データを直列データに変換しているので、並直列変換回路12での分周比を4とし、分周クロックDCLKの周波数を基準クロックRCLKの周波数の4分の1とすれば良い。このとき、分周クロックDCLKの周波数は、一定のままで良い。
図4は、ビット幅調整回路20におけるビット幅調整動作を示すチャート図である。ここでは、分周クロックDCLKの8クロック分(8ステージ)の動作を示す。また、19データを1つのサイクルとする並列データを受け、これを直列データに変換する例である。このとき、19データを用意するには、第1並列データの有効ビット幅が5ビット又は4ビットであるので、例えば、5ビットの並列データを3つ、4ビットの並列データを1つ用いれば良い。ただし、1サイクルの長さは、19に限られるものでなく、並列データのビット幅の組み合わせによって、任意の長さに設定可能である。
ビット幅調整回路20は、例えば、8個のレジスタを有し、並列データ発生回路18から有効ビット幅識別信号BWIを受けて、第1並列データの書き込み可否信号(W−EN)を応答する。これによって、例えば、4個のレジスタしか空いていないのに、次の第1並列データの有効ビット幅が5ビットであれば、次の第1並列データの書き込みは中止する制御が行われる。
図4のステージ1は、初期状態を示し、このときビット幅調整回路20には有効なデータは書き込まれていない。分周クロックDCLKを受け、ステージ2に進むと、5ビットの並列データを受けて、5データD1〜D5がビット幅調整回路20に書き込まれる。ステージ3に進むと、4データD1〜D4が並直列変換回路12へ出力される一方、5データD6〜D10が新たにビット幅調整回路20に書き込まれる。この結果、先に書き込まれ出力されずに残ったデータD5と合わせて6個のデータがビット幅調整回路20に残る。ステージ4に進むと、4データD5〜D8が並直列変換回路12に出力される一方、5データD11〜D15が新たにビット幅調整回路20に書き込まれる。ステージ5に進むと、4データD9〜D12が並直列変換回路12に出力される一方、5データではなく、4データD16〜D19が新たにビット幅調整回路20に書き込まれる。
このように、ステージ2、3及び4の3つのステージでは5ビット幅の並列データ、ステージ5では4ビット幅の並列データがそれぞれ書き込まれ、合計で19個のデータがビット幅調整回路20に書き込まれることになる。一方、読み出される並列データの幅は、常に4ビットで一定である。
ステージ6に進むと、4データD13〜D16が並直列変換回路12に出力される一方、2サイクル目の5個のデータD1〜D5が新たにビット幅調整回路20に書き込まれる。ステージ7に進むと、このステージでは5個のデータを新たにビット幅調整回路20に書き込む順番に当たるが、4個しかレジスタが空いていないため、書き込みを中止する。ここで、4データだけ書き込むという方法も考えられるが、書き込むデータ幅が分周クロック毎に5・5・5・4という順番を維持した方が制御が容易であるため、書き込み中止という制御が行われる。ただし、制御の複雑さを問わなければ、書き込むデータ幅の分周クロック毎の順番を変更しても良い。ステージ8に進むと、4個のデータを読み出すとともに再び5個のデータが書き込まれる。以下、同様の動作が繰り返される。
このようにビット幅調整回路20は、並列データ発生回路18が出力する第1並列データの有効ビット幅に関係なく、常にビット幅が一定の第2並列データを出力する。このため、分周クロックDCLKの周波数を常に一定にできる。よって、DLL等を用いてロジック動作を容易に高速化することができる。
任意長の直列データを従来より高速に生成できるので、高速な直列データを用いた電子回路試験に適している。また、本発明に基いて生成した直列データを複数束ねることにより、高速な並列データを生成し、デジタル・アナログ変換してアナログ信号を生成することにも応用できる。
従来のデータ発生回路の一例のブロック図である。 従来のデータ発生回路の他の例のブロック図である。 本発明によるデータ発生回路の一例のブロック図である。 本発明によるビット幅調整回路の動作を模式的に示すチャート図である。
符号の説明
12 並直列変換回路
18 並列データ発生回路
20 ビット幅調整回路
BWI 有効ビット幅識別信号
DCLK 第1クロック(分周クロック)
RCLK 第2クロック(基準クロック)

Claims (1)

  1. 有効ビット幅が選択的に変更される第1並列データを第1クロックに従って供給する並列データ供給手段と、
    上記第1並列データを受けてビット幅が一定の第2並列データを生成するビット幅調整手段と、
    上記第1クロックより高速な第2クロックに従って上記第2並列データを直列データに変換する並直列変換手段とを具え、
    上記有効ビット幅が変更されても上記第1クロックの周波数が一定であることを特徴とするデータ発生装置。
JP2004342563A 2004-11-26 2004-11-26 データ発生装置 Expired - Fee Related JP4491587B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004342563A JP4491587B2 (ja) 2004-11-26 2004-11-26 データ発生装置
US11/264,985 US7890679B2 (en) 2004-11-26 2005-11-01 Data generator for generating data of arbitrary length

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004342563A JP4491587B2 (ja) 2004-11-26 2004-11-26 データ発生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006153583A true JP2006153583A (ja) 2006-06-15
JP4491587B2 JP4491587B2 (ja) 2010-06-30

Family

ID=36632084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004342563A Expired - Fee Related JP4491587B2 (ja) 2004-11-26 2004-11-26 データ発生装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7890679B2 (ja)
JP (1) JP4491587B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011015145A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Tektronix Internatl Sales Gmbh データ生成装置

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8504745B1 (en) 2009-04-02 2013-08-06 Xilinx, Inc. Method of and circuit for determining a shift pattern to generate an output data stream
JP2012257047A (ja) * 2011-06-08 2012-12-27 Fujitsu Ltd パラレルシリアル変換回路、情報処理装置及び情報処理システム

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4839866A (en) * 1987-05-29 1989-06-13 Texas Instruments Incorporated Cascadable first-in, first-out memory
US4876685A (en) * 1987-06-08 1989-10-24 Teradyne, Inc. Failure information processing in automatic memory tester
JPS6490621A (en) * 1987-09-30 1989-04-07 Nec Corp Decoder
JP3051223B2 (ja) * 1991-10-02 2000-06-12 富士通株式会社 セル送信回路
JP3384838B2 (ja) * 1992-06-29 2003-03-10 シャープ株式会社 インターフェース装置
US5388074A (en) * 1992-12-17 1995-02-07 Vlsi Technology, Inc. FIFO memory using single output register
US6032275A (en) * 1996-01-12 2000-02-29 Advantest Corp. Test pattern generator
US6087874A (en) * 1997-12-23 2000-07-11 Nortel Networks Corporation Variable delay circuit for delaying logic signals, characterized by a delay time that is a linear function of a control voltage
US6463092B1 (en) * 1998-09-10 2002-10-08 Silicon Image, Inc. System and method for sending and receiving data signals over a clock signal line
US6356158B1 (en) * 2000-05-02 2002-03-12 Xilinx, Inc. Phase-locked loop employing programmable tapped-delay-line oscillator
JP3888603B2 (ja) * 2000-07-24 2007-03-07 株式会社ルネサステクノロジ クロック生成回路および制御方法並びに半導体記憶装置
JP2002207692A (ja) 2001-01-12 2002-07-26 Ricoh Co Ltd 画像データ転送装置、プリンタおよび画像データ転送システム
JP3626105B2 (ja) * 2001-03-05 2005-03-02 Necマイクロシステム株式会社 疑似ランダム信号発生回路
US6658523B2 (en) * 2001-03-13 2003-12-02 Micron Technology, Inc. System latency levelization for read data
JP3577717B2 (ja) * 2001-05-18 2004-10-13 日本電気株式会社 通信装置、スクランブラ回路とデスクランブラ回路、そのスクランブル方法とデスクランブル方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011015145A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Tektronix Internatl Sales Gmbh データ生成装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4491587B2 (ja) 2010-06-30
US20060155898A1 (en) 2006-07-13
US7890679B2 (en) 2011-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102261670B1 (ko) 메모리 디바이스내 상이한 클럭 주파수들의 내부 클럭 신호들을 제공하기 위한 장치들 및 방법들
US8856410B2 (en) Semiconductor memory apparatus
US7957210B2 (en) Variable delay circuit, memory control circuit, delay amount setting apparatus, delay amount setting method and computer-readable recording medium in which delay amount setting program is recorded
US7368963B2 (en) Delay locked loop for use in semiconductor memory device and method thereof
JP4477425B2 (ja) レイテンシ回路を備える半導体メモリ装置及びそのデータ出力制御方法
US7518946B2 (en) Memory control device
US8143927B2 (en) Pulse control device
JP6313085B2 (ja) 半導体装置
US7181658B2 (en) Method for testing semiconductor memory device and test circuit for semiconductor memory device
JP2006275616A (ja) 半導体装置及びスキュー調整方法
JP2006238007A (ja) データ発生装置
JP2015103262A (ja) 半導体装置
KR100636676B1 (ko) 내부전압 생성 제어회로 및 이를 이용한 내부전압 생성회로
JP4491587B2 (ja) データ発生装置
US6944801B2 (en) Skew adjusting circuit and semiconductor integrated circuit
KR100507876B1 (ko) 로우 레이턴시 리드를 위한 데이터 스토로브 신호제어부를 포함하는 동기식 메모리장치
JP5760226B2 (ja) モジュール制御回路、半導体モジュール、及び半導体モジュールの制御方法
JP4192229B2 (ja) データ発生装置
JP4332327B2 (ja) データ遅延回路
JP3249671B2 (ja) 任意長データ列発生装置
KR101004686B1 (ko) 반도체 메모리 장치와 그의 구동 방법
JP2007155611A (ja) 半導体集積回路
JPH11232164A (ja) アドレス発生回路
KR100807116B1 (ko) 지연 고정 루프
KR20060135233A (ko) 디엘엘 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060705

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091002

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100309

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20100310

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100310

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20100310

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees