JP2006130840A - 発熱抵抗体膜、記録ヘッド、および記録装置 - Google Patents

発熱抵抗体膜、記録ヘッド、および記録装置 Download PDF

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Abstract

【課題】パルス通電の繰り返しに対する耐久性が十分に高い発熱抵抗体膜、それを用いた記録ヘッド用基体、記録ヘッド、および記録装置を提供する。
【解決手段】記録ヘッド用基体のヒーター部17に、配線14を介して通電されることによって熱エネルギーを発生させる発熱抵抗体膜13が形成されている。発熱抵抗体膜13は、非晶質窒化珪素タンタルを主成分とし、その表面に形成された酸化膜13aの膜厚が2.5nm以下となっている。
【選択図】図1

Description

本発明は、紙、プラスティック、布などのシート状物に代表される物品を被記録部材として、それに文字などの画像を形成する記録装置、特にプリンタなどに用いられ、シリコン(Si)半導体基板などに形成された発熱抵抗体を有し、この発熱抵抗体を利用して記録を行うサーマル記録ヘッドやインクジェット記録ヘッドなどにおける発熱抵抗体として好適に用いられる発熱抵抗体膜、およびその製造方法と、そのような発熱抵抗体膜を有する記録ヘッドおよび記録装置に関する。
記録画像を形成するのに発熱手段を利用する記録装置として、サーマル記録ヘッドやインクジェット記録ヘッドを用いた記録装置が知られている。
このうち、インクジェット記録ヘッドを用いたインクジェット記録装置は、インクなどの液体(以下、単にインクと称する)を微小な液滴として吐出口から被記録部材に吐出することにより高精細な画像を記録することができる。インクジェット記録ヘッドとしては、電気エネルギーを熱エネルギーに変換し、その熱エネルギーによってインク中に気泡を発生させる構成のものが知られている。すなわち、この構成では、発生した気泡の圧力によって、インクジェット記録ヘッドに設けられた吐出口から液滴を噴出させる。そして、吐出口から噴出した液滴を被記録部材に付着させることによって画像が記録される。一般に、このようなインクジェット記録装置に用いられるインクジェット記録ヘッドは、電気エネルギーを熱エネルギーに変換するのに発熱抵抗体を用いている。
また、サーマル記録ヘッドは、感熱紙やインクリボンに、記録画像に応じて選択的に熱を加えることによって画像を形成するのに用いられる。このサーマル記録ヘッドにおいても発熱抵抗体が好適に用いられる。
発熱抵抗体を用いた記録ヘッドでは、所望の画像を被記録部材に記録するために、画像に対応した画素を選択的に形成するため、各発熱抵抗体には、繰り返しパルス電流が流される。すなわち、例えば、インクジェット記録ヘッドにおいては、発熱抵抗体に流す電流をオンオフすることによって、インクの吐出が制御され、それによって、所望の画素あるいはドットを形成する所定量のインクが、所望の記録画像に応じて所定のタイミングで選択的に吐出される。
このようにパルス電流を繰り返し流すと、一般に発熱抵抗体の抵抗値は次第に変化し、使用限度を超えてパルス電流を通電すれば、最終的には破断に至る。発熱抵抗体の抵抗値のこのような変化は、発熱抵抗体自体の結晶構造の変化や発熱抵抗体の表面酸化反応によるものと考えられている。
発熱抵抗体の抵抗値が変化すると、同一条件でパルス電流を通電した場合、発生する熱エネルギーが変化することになる。記録ヘッドにおいては、通常、このような発生する熱エネルギーの変化が過大にならないように、発熱抵抗体へのパルス電流の繰り返し通電回数などによって、使用限度が設定されているが、使用限度を超えた使用によって発生エネルギーの変化が過大なものとなると、記録画像に影響が生じる。特に、インクジェット記録ヘッドにおいて、発生する熱エネルギーが過小になると、吐出口からインクが吐出されなくなる。また、逆に、発生する熱エネルギーが過大になると、インクが被記録部材の広範囲に飛び散り、正常な画像を記録することができなくなる。
また、インクジェット記録装置においては、記録画像の高画質化に対する要求が高まるにつれ、画素の微細化が、したがって1ドット当りのインク吐出量を少なくすることが求められている。それに伴って、インクジェット記録ヘッドにおいては、それに用いられる発熱抵抗体の小型化が実施されてきており、さらに、吐出液滴サイズの制御および吐出液滴サイズの安定性に対する要求が高まってきている。このために、特にインクジェット記録ヘッドに用いられる発熱抵抗体に対しては、繰り返しパルス通電を行った場合において、インクが吐出されなくなったり霜降り印字が発生したりしないようにし、さらには、吐出液滴サイズを所定のサイズに制御して良好な画像を精度良く安定して形成可能とするために、抵抗の変化量を低減することが求められている。パルス通電の繰り返しに対する耐久性を高める構成として特許文献1に記載がある。
特開2003−127375号公報
特許文献1の構成によれば、金属珪化窒化物を主成分とし、シート抵抗を規定した発熱抵抗体膜においてその膜厚を定めるものである。本発明者らは、別の観点から、金属珪化窒化物を主成分として用いた発熱抵抗体膜において、その発熱抵抗体膜の上部に形成される酸化膜の膜厚が耐久性に影響を与えていることを見出した。すなわち、発熱抵抗体膜上に酸化物が規定値以上形成された場合に耐久性が低下するという技術課題を見出した。
したがって本発明の目的は、新たに見出した技術課題を元に、繰り返しパルス通電に対する抵抗変化率が十分に低く、すなわち耐久性が十分に高い発熱抵抗体膜、それを用いた記録ヘッド用基体、記録ヘッド、および記録装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の発熱抵抗体膜は、金属珪化窒化物を主成分とする発熱抵抗体膜において、表面の酸化膜の膜厚が2.5nm以下であることを特徴とする。
本発明によれば、発熱抵抗体膜を、1×109回の繰り返しパルス通電の前後での抵抗変化率が±3.0%以内と、繰り返しパルス通電に対する耐久性の高いものとすることができる。
本発明の一実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施形態による一例のインクジェット記録ヘッド用基体の断面図である。本実施形態のインクジェット記録ヘッド用基体が用いられるインクジェット記録ヘッドは、一例として、インクジェット記録ヘッド用基体に加え、その上に、インクが吐出される吐出口と、吐出口にインクを流通させるインク流路(液体流路)が形成された部材が配置されて構成される。この記録ヘッドにおいては、電気エネルギーを変換して熱エネルギーを発生させる熱変換体である発熱抵抗体膜13によって発生した熱エネルギーによりインク流路内のインクが熱せられ、インクに膜沸騰が生じさせられ、それに伴って生じる圧力によってインクが吐出口から吐出される。
図1に示すインクジェット記録ヘッド用基体は、Siの基板11を有している。基板11上には、SiO2などの酸化物絶縁体からなる層間膜12が形成されている。この層間膜12は適度に熱を蓄積するための蓄熱層として機能する。層間膜12上には、非晶質TaSiNのような金属珪化窒化物を主成分とする発熱抵抗体膜13が形成されている。
発熱抵抗体膜13上には、膜厚の規定されたシリコン酸化膜13aが形成されている。シリコン酸化膜13aが形成された発熱抵抗体膜13上のAlの配線14には、発熱抵抗体膜13上の一部において開口部が設けられている。配線14に電圧が印加されると、開口部を挟む配線間において発熱抵抗体膜13に電流が流れ、発熱する。すなわち、この部分が、電気エネルギーを熱エネルギーに変換する動作が行われる熱作用部あるいはヒーター部17となる。
さらに、発熱抵抗体膜13や配線14をインクから保護するための、プラズマCVDにより形成された窒化シリコン(P−SiN)などからなる保護層15が、開口部の発熱抵抗体膜13上に形成されている。またさらに、ヒーター部17においては、発熱に伴うインクによる化学的ダメージ、および気泡が消滅する際の物理的なダメージから保護層15を保護する、Taなどからなる耐キャビテーション膜16が保護膜15上に形成されている。
例えば、層間膜12の膜厚は、280nmであり、発熱抵抗体膜13の膜厚は20nm〜80nmの範囲から選択される厚さであり、配線14の膜厚は200nm〜600nm、保護層15の膜厚は300nm〜800nm、耐キャビテーション膜16の膜厚は230nmである。発熱抵抗体膜13は、Ta、Si、およびNの元素を所定の比率で有し、シート抵抗が50Ω/□〜400Ω/□の材料である。このシート抵抗を得るためには、例えば非晶質TaSiNの場合、Taが25原子%〜35原子%の範囲から選択され、Siが18原子%〜25原子%の範囲から選択され、Nが40原子%〜50原子%の範囲から選択される所定の組成比とすればよい。例えば、Siを約20原子%程度とし、TaとNの比を制御することにより、シート抵抗を所望の値とすることができる。Taを40原子%とし、Siを25原子%とし、Nを30原子%とした非晶質TaSiN(100原子%に満たない部分は、炭素など不本意に導入されてしまう原子または検出誤差であるが、酸素原子は3原子%未満または検出限界以下である)から発熱抵抗体膜13を形成した場合、そのシート抵抗は100Ω/□程度となる。また、Taを35原子%とし、Siを23原子%とし、Nを40原子%とした非晶質TaSiNからなる発熱抵抗体膜13を形成した場合、そのシート抵抗は200Ω/□程度となる。
次に、図1に示すようなヒーター部17を形成する方法の一例について説明する。
まず、基板11上に層間膜12および発熱抵抗体膜13を形成した後、発熱抵抗体膜13上にAl膜をスパッタリング法により形成し、フォトリソグラフィーによりパターニングし、一部のAl膜を取り除いて所定のパターンの配線14を形成する。そして、その上にプラズマCVD法によりSiNからなる保護層15を形成し、ヒーター部17にはスパッタリング法でTaからなる耐キャビテーション膜16を形成する。
また、図2は、本実施形態による他の例のインクジェット記録ヘッド用基体の断面図である。図2において、図1と同様の部分については同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
図2に示す例では、層間膜12上に所定のパターンの配線14が形成され、配線14上に発熱抵抗体膜13が形成されている。配線14の、発熱抵抗体膜13が形成された領域には、開口部が設けられており、この部分が、発熱抵抗体膜13に電流が流れるヒーター部17となっている。
この構成では、ヒーター部17を規定する配線14の加工を、ウエットエッチングによらずにドライエッチングによって加工することで寸法精度を向上させることができる。この構成において、ヒーター部17を形成する場合は、ヒーター部17の部分でAl膜を予め取り除いた後、発熱抵抗体膜13の成膜およびパターニングを行う。その後、その上にプラズマCVD法によりSiNの保護層15を形成し、ヒーター部17には、スパッタリング法でTaからなる耐キャビテーション膜16を形成する。
なお、上述した各膜あるいは層の形成方法は一例であり、本発明はそれらに限定されるものではなく、他の方法によって形成してもよいことは言うまでもない。
本実施形態のインクジェット記録ヘッド用基体において、発熱抵抗体膜13には、その表面、すなわち上部および側面に、製造プロセスにおいて酸化膜13aが形成される場合がある。この酸化膜13aは、例えば、自然酸化膜であってよく、あるいは、O2プラズマ処理等により生成される酸化膜であってよい。このO2プラズマ処理は、一般に、パターニングの際にマスク材として使用するフォトレジストと呼ばれる有機物の除去、あるいは密着性向上を目的とする表面改質処理等に用いられる。そして、本発明者は、この酸化膜13aの膜厚を制御することによって、発熱抵抗体膜13の耐久性を向上させ、すなわち、繰り返しパルス電流を通電した時の抵抗変化率を低減することができることを見出し、本発明に至ったものである。酸化膜13aの膜厚の制御は、例えば、酸化膜13aに対してフッ素系ガスなどを用いてエッチングを行うことによって実行できる。特に図2に示した構成の場合には、発熱抵抗体膜上にフォトレジストが形成され、このフォトレジストの除去時に酸化膜が形成されやすい。したがって、図2の構成に対して酸化膜の膜厚を制御することは特に有効となる。以下図2の構成の製造プロセスに関して図3,4を参照して説明する。
まず、基板11としてSiウエハを使用し、このSiウエハを熱酸化により、数μm程度のSiO2膜である酸化層12を形成する。次に、酸化層12上に、配線となる導電膜14を200nm程度成膜する。(図3(A))この導電膜14には、Al-Cuを用いているが、Al、Al-Si、Al-Si-Cuなどを用いてもよい。
そして、マスクを使用して、発熱部17となる箇所をドライエッチングもしくは、ウェットエッチングにより形成する(図3(B))。
該発熱部17となる箇所をドライエッチングで形成すれば、発熱抵抗素子の寸法精度を向上させることができ、ウェットエッチングで形成すれば、低コスト化が可能である。
次にスパッタリングにより、発熱抵抗体膜13を50nm程度の膜厚で形成する。(図3(C))この発熱抵抗体膜13は、TaSiN膜を使用しているが、TaN、HfB2などを用いてもよい。
次にレジスト等により形成したマスクを用い、配線となる箇所を、発熱抵抗体膜13とAlを一括エッチングすることにより、画素(ドット)ごとに素子分離する。(図4(A))この一括エッチングは、ドライエッチングにより形成する。その後レジスト等により形成したマスクをO2プラズマ処理により除去する。この際に発熱抵抗体膜上に酸化膜が形成される。この酸化膜をフッ素を含むガス雰囲気でエッチングを行うことによって所定の厚さとし、酸化膜13aを得る。
次にP−SiNによる保護膜15をCVD法により成膜する。この保護膜15の膜厚は、300nm程度とする。その後、保護膜15上にスパッタリング法によりTaの耐キャビテーション膜16を成膜する。この耐キャビテーション膜16の膜厚は230nmとする。(図4(B))
こうして得られた回路基板の上に吐出口を形成することにより、液体吐出ヘッドを製造することができる。具体的には、ノズル壁や天板等を回路基板上に設けて、吐出口及びインク流路を備えた吐出部を作ればよい。
図5,6は、発熱抵抗体膜13の上部および側面に形成される酸化膜13aの膜厚を変化させたサンプルに対して耐久性試験を行った時の抵抗変化率の測定値を示すグラフである。ここで、本明細書において、酸化膜13aの膜厚とは、表面から、酸素の比率が最大値の半分になる地点までの距離と定義する。
図5においては、膜厚が約450nm、シート抵抗が100Ω/□の発熱抵抗体膜13を有するインクジェット記録ヘッド用基体を作製した。この際、発熱抵抗体膜13を形成した後に、O2プラズマ処理を実施し、発熱抵抗体膜13表面に意図的に酸化膜13aを形成し、適宜、酸化膜13aをエッチングし、所定の膜厚にした。そして、各膜厚の酸化膜13aが形成された発熱抵抗体膜13を有する各サンプルに対して、耐久性試験を行った。
耐久性試験の条件としては、駆動周波数を15kHzとし、パルス幅を1μmとし、駆動電圧を発泡電圧の1.3倍とし、パルス通電繰り返し回数を1.0×109回とした。この際、発泡電圧とは、インクジェット記録ヘッド用基体によりインクの発泡が始まる駆動電圧である。そして、各サンプルについて繰り返しパルス通電の前後の抵抗値を測定し、抵抗変化率を算出した。この際、抵抗変化率は、パルス通電前の抵抗値をAとし、パルス通電後の抵抗値をA′として、(A′−A)/Aとして求めた。
図5を参照すると、シート抵抗が100Ω/□の発熱抵抗体膜13を用いた場合において、発熱抵抗体膜13表面に形成される酸化膜13aの膜厚を2.5nm以下とした場合に、1.0×109回の繰り返しパルス通電による耐久性試験において、抵抗変化率を±3.0%以内の範囲とできていることが分かる。このように、繰り返しパルス通電した際における抵抗変化率を小さく抑えることによって、良好な記録が可能な記録ヘッドを構成することが可能となる。特に、インクジェット記録ヘッドにおいては、インク吐出量を精度良く制御することが可能となり、それによって、近年のインクジェット記録ヘッドにおいて求められている高精細な画像記録を、長期に亘って精度良く実行可能な記録ヘッドを構成することができる。
図6においては、膜厚が約450nm、シート抵抗が200Ω/□の発熱抵抗体膜13を有するインクジェット記録ヘッド用基体を作製した。この際、発熱抵抗体膜13を形成した後に、O2アッシングにより酸化膜13aを約5nmの膜厚に形成したもの、および、それからフッ素系ガスを用いてエッチングを行い、酸化膜13aを所定の膜厚とした各サンプルについて耐久試験を行った。耐久試験の条件、抵抗変化率の算出は、図5の場合と同様である。
図6を参照すると、この場合にも、酸化膜13aの膜厚を2.5nm以下に抑えることで、1.0×109回の繰り返しパルス通電による耐久性試験において抵抗変化率を±3.0%以内の範囲とすることができていることが分かる。
本実施形態のインクジェット記録ヘッド用基体は、発熱抵抗体膜13の側面および上部に形成される酸化膜13aの膜厚を2.5nm以下に抑えたものであり、これによれば、1.0×109回の繰り返しパルス通電による耐久性試験における抵抗変化率を±3.0%以内の範囲とすることができる。すなわち、発熱抵抗体膜13の側面および上部に形成される酸化膜13aの膜厚が2.5nm以下の範囲にある本実施形態のインクジェット記録ヘッド用基体を用いれば、低消費電力で長期間にわたって高画質の画像記録を安定して行うことが可能となる。
次に、上記のインクジェット記録ヘッド用基体を用いたインクジェット記録ヘッド41を搭載する一例のインクジェット記録装置42の構成について図7を参照して説明する。図7は、このインクジェット記録装置42の外観図である。
このインクジェット記録装置42は、インクジェット記録ヘッド41が搭載されるキャリッジ43を有している。キャリッジ43は、リードスクリュー47の螺旋溝48に係合しており、リードスクリュー47が正逆回転することによって、ガイド49に沿って矢印a,bの方向に往復移動する。リードスクリュー47は、正逆回転する駆動モータ44の駆動力が駆動力伝達ギア45,46を介して伝達されることによって正逆回転させられる。
キャリッジ43の往復移動経路の一端は、ホームポジションに設定されており、この一端部には、ホームポジション検出手段が設けられている。ホームポジション検出手段は発光部と受光部を有するホトカプラ412,413を有し、キャリッジ43から突出したレバー414がホトカプラ412,413に入ることによってホームポジションを検出する。ホームポジションの検出信号は、駆動モータ44の回転方向の切り替えなどに利用される。
また、インクジェット記録装置42は、不図示の被記録部材給送装置を有している。この被記録部材給送装置によって、被記録部材としての記録用紙Pが、キャリッジ43によって往復移動させられるインクジェット記録ヘッド41のインク吐出面に対面する位置に設けられたプラテン410上に搬送される。プラテン410上に搬送された記録用紙Pは、インクジェット記録ヘッド41のインク吐出面に対面する位置において、紙押さえ板411によってプラテン410上に押圧される。
また、インクジェット記録装置42は、インクジェット記録ヘッド41の吐出性能を良好に保つための機構として、ホームポジションにおいてインクジェット記録ヘッド41のインク吐出面をキャッピングするキャップ部材415を有している。さらに、キャップ部材415には、吸引手段416が接続されており、インクジェット記録ヘッド41内のインクを吸い出す吸引回復を適宜実行可能である。この吸引回復を開始するためにレバー420が設けられている。すなわち、このレバー420は、キャリッジ43と係合するカム421の移動に伴って移動し、それにより駆動モータ44による駆動力の伝達経路が、クラッチ切り替えなどの公知の手段によって切り替えられて、駆動モータ44による駆動力が吸引回復動作に適宜利用される。
また、インクジェット記録ヘッド41の吐出口面に付着したインクを拭き取るクリーニングブレード417も設けられている。クリーニングブレード417は、移動部材418によってインクジェット記録ヘッド41の往復移動経路側およびそれから離れる側に移動可能に支持されている。クリーニングブレード417および移動部材418は、本体支持板419に支持されている。
このインクジェット記録装置による記録動作においては、不図示の記録制御部によってインクジェット記録ヘッド41の発熱抵抗体膜13にパルス電流が適宜流され、また上述した駆動モータ44、被記録部材給送装置などが適宜駆動される。それによって、記録用紙Pが、プラテン410上の所定の位置に搬送された後、キャリッジ43が往復移動させられつつ、インクジェット記録ヘッド41の発熱抵抗体膜13に、記録画像に応じて選択的に通電が行われる。発熱抵抗体膜13に通電が行われることによって、インクジェット記録ヘッド41からインクが吐出させられて、記録用紙P上に付着させられ、それによって記録用紙P上に所定幅の画像が形成される。その後、形成された画像の幅に対応する所定量だけ記録用紙Pが搬送され、再びキャリッジ43が往復移動させられつつ、インクジェット記録ヘッド41が選択的に駆動されて所定幅の画像が形成される。これを繰り返して、記録用紙Pの所望の領域に所望の画像が形成される。
このようなインクジェット記録装置42に対して、上述したような本実施形態のインクジェット記録ヘッド41を用いることによって、インクジェット記録装置42を、長期間にわたって高画質の画像を高速で記録可能なものとすることができる。
なお、以上の説明では、発熱抵抗体膜の構成材料として、非晶質窒化珪素タンタルを例に挙げたが、本発明はこれに限定されるものではなく、非晶質窒化珪素チタン、非晶質窒化珪素タングステンのような他の金属窒化珪化物の非晶質材料を用いてもよい。また、本発明の発熱抵抗体膜は、高品位の画像記録を可能とするために、繰り返し多数回の電流パルス通電を行っても、それによる抵抗の変化が小さいことが求められるインクジェット記録ヘッドにおいて特に有効であるが、サーマルヘッドに用いることもできる。詳細には説明しないが、本発明の発熱抵抗体膜をサーマルヘッドに用いた場合にも、発熱抵抗体膜の耐久性の高さ、すなわち、電流パルスの繰り返し通電に対する抵抗の変化率の低さは、良好な画像記録を行う上で有利である。
シリコン基板の表面を熱酸化して、厚さが280nm程度の酸化シリコン膜を形成した。その上にアルミニウム銅からなる金属をスパッタリングにより約600nm厚ほど形成した。そして、このアルミニウム銅の膜をスパッタエッチングによって発熱抵抗体膜の形状にパターニングした。
その後、上述した反応性スパッタリングにより非晶質窒化珪素タンタルの膜を約50nmの厚さで形成した。この時の条件は以下のとおりである。
ターゲット:Ta/Si=60/40のTaSiターゲット、圧力:0.5Pa、電極の直径:約200mm、投入電力:1KW、アルゴン流量:63sccm、窒素流量:19sccm
形成された非晶質窒化珪素タンタル(TaSiN)の組成はTaが35.0原子%、Siが23.0原子%、Nが40.0原子%、酸素が1.5原子%(残部は分析せず)であり、シート抵抗は約200Ω/□であった。その後、非晶質TaSiN膜のヒーター部として作用する部分以外をスパッタエッチングにより除去した。このパターニングに使用したレジストを除去した後に発熱抵抗体膜の表面および側面に形成された酸化膜を、フッ素系ガスを酸素で希釈したガスでエッチングして除去した。
そしてその上に、プラズマCVD法により窒化シリコン膜を約600nm厚ほど形成した。さらにその上にタンタルをスパッタリングにより230nm厚ほど形成し、それをパターニングした。こうして得られた発熱抵抗体膜の試料に、上述した耐久性試験を施したところ、抵抗変化率はほぼ0%であった。
本発明の一実施形態の一例のインクジェット記録ヘッド用基体の断面図である。 本発明の一実施形態の他の例のインクジェット記録ヘッド用基体の断面図である。 図2の構成の製造プロセスを説明するための断面図である。 図2の構成の製造プロセスを説明するための断面図である。 発熱抵抗体膜の上部および側面に形成される酸化膜の膜厚を変化させた複数のサンプルについての耐久性試験における抵抗変化率の測定値を示すグラフである。 発熱抵抗体膜の上部および側面に形成される酸化膜の膜厚を変化させた他の複数のサンプルについての耐久性試験における抵抗変化率の測定値を示すグラフである。 本発明の一実施形態のインクジェト記録ヘッドを搭載する記録装置の外観図である。
符号の説明
13 発熱抵抗体膜
13a 酸化膜

Claims (11)

  1. 金属珪化窒化物を主成分とする発熱抵抗体膜において、
    表面の酸化膜の膜厚が2.5nm以下であることを特徴とする発熱抵抗体膜。
  2. 前記金属珪化窒化物が非晶質窒化珪素タンタルを主成分とする、請求項1に記載の発熱抵抗体膜。
  3. 請求項1または2に記載の発熱抵抗体膜と、該発熱抵抗体膜に通電するための配線とが基板上に形成されている記録ヘッド用基体。
  4. 請求項3に記載の記録ヘッド用基体を有し、前記発熱抵抗体膜に前記配線を介してパルス電流を通電することによって発生する熱エネルギーを画像記録に利用する記録ヘッド。
  5. 前記発熱抵抗体膜上に液体を流通させる液体流路と、該液体流路に連通し、前記発熱抵抗体膜の発生する熱エネルギーにより前記液体流路中の液体が膜沸騰するのに伴って発生する圧力によって液体が吐出される吐出口とが形成された、前記記録ヘッド用基体上に配置された部材をさらに有する、請求項4に記載の記録ヘッド。
  6. 請求項4または5に記載の記録ヘッドと、被記録部材を、前記記録ヘッドに対面する位置を通して搬送する手段とを有する記録装置。
  7. 金属珪化窒化物を主成分とする発熱抵抗体膜の製造方法において、
    前記発熱抵抗体膜を形成した後、該発熱抵抗体膜の表面の酸化膜の少なくとも一部を除去することを特徴とする、発熱抵抗体膜の製造方法。
  8. 前記酸化膜を除去する工程は、フッ素を含むガスを用いたエッチング処理である、請求項7に記載の発熱抵抗体膜の製造方法。
  9. 前記発熱抵抗体膜を、非晶質窒化珪素タンタルを主成分として形成する、請求項7に記載の、発熱抵抗体膜の製造方法。
  10. 基板上に発熱抵抗体膜と、該発熱抵抗体膜に電流を流すための配線が形成された、記録ヘッド用基体の製造方法であって、
    前記基板上に前記配線を形成するための導電膜を形成する工程と、該導電膜をパターニングして発熱部を形成する工程と、該導電膜上に前記発熱抵抗体膜を形成する工程と、前記発熱抵抗体膜を画素ごとに分離するためのレジストマスクを形成する工程と、前記導電膜と発熱抵抗体膜をエッチングして画素ごとに分離する工程と、前記レジストマスクを除去する工程と、前記発熱抵抗体膜上に形成された酸化膜の一部を除去する工程と、を含むことを特徴とする記録ヘッド用基体の製造方法。
  11. 前記酸化膜を除去する工程がフッ素を含むガスによるエッチングである、請求項10に記載の記録ヘッド用基体の製造方法。
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