JP2006119347A - レーザ走査型顕微鏡 - Google Patents

レーザ走査型顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2006119347A
JP2006119347A JP2004306908A JP2004306908A JP2006119347A JP 2006119347 A JP2006119347 A JP 2006119347A JP 2004306908 A JP2004306908 A JP 2004306908A JP 2004306908 A JP2004306908 A JP 2004306908A JP 2006119347 A JP2006119347 A JP 2006119347A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser scanning
laser
light
optical system
scanning microscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2004306908A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuo Nakada
竜男 中田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2004306908A priority Critical patent/JP2006119347A/ja
Priority to US11/252,564 priority patent/US7417211B2/en
Publication of JP2006119347A publication Critical patent/JP2006119347A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0064Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • G02B21/0084Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

【課題】上下顕微鏡で画像を取得するときに、刺激を加えながら、細胞内の挙動を見るといったリアルタイムな画像取得が出来るレーザ走査型顕微鏡を提供すること。
【解決手段】 レーザ光源(3,4)からの光束を対物レンズ(126,226)で標本(1)面上に集光し、前記標本(1)からの透過光、反射光又は前記標本から発生する蛍光を検出するレーザ走査型顕微鏡において、少なくとも1つのレーザ光源(3,4)から出力されたコヒーレント光を標本面上に対して走査する、前記標本の一方側と他方側にそれぞれ配置された観察用及び刺激用のレーザ走査光学系と、観察用のレーザ走査光学系に対する刺激用のレーザ走査光学系からの光の侵入を防止する手段(191,291)とを備えた。
【選択図】 図1

Description

本発明は、レーザ光源から出力されたコヒーレント光で標本面を走査したときの標本からの透過光や反射光又は標本から発生する蛍光を検出するレーザ走査型顕微鏡に関する。
レーザ走査型顕微鏡は種々の標本の観察に使用されている。例えば、生物標本を観察する場合には、標本に蛍光染色を施して蛍光観察を行う場合が多い。一般的なレーザ顕微鏡においては、蛍光の光が非常に弱いので、レーザ光をカットするためにレーザカットフィルタもしくは、蛍光のバンドパスフィルタにレーザカットが可能な波長特性を有するフィルタを入れるのが普通である。このレーザカット用のフィルタは、OD(消光比)4以上の特性が実用上で必要である。
また、特許文献1には、標本の上下にレーザ走査光学系を配置したレーザ顕微鏡(以下、「上下顕微鏡」と称する場合もある)が提案されている。
特開平10−206742号公報
刺激用のレーザは、励起用のレーザに比較して、パワーが強いことが多い。例えば、FRAPなどの測定では、蛍光が出なくなるまで、蛍光を褪色させる目的でレーザを利用することがある。そのときのパワーは、励起時のパワーより高くなっている。このため、従来技術の光学系の構成だけでは、観察系にレーザ光が漏れこみ、正確なデータ取りが難しく、正確なデータを取得するには、時系列にデータを取得する必要があった。このために、例えば、刺激を加えて、その後に観察用のレーザ走査光学系でデータを取得する、といった具合に時間差をつけてデータを取得すること等の制約条件があった。また、特に上下顕微鏡では、上下どちらかのレーザ光が他方の検出光学系に対物レンズを通して直接に導入されるため、レーザ走査系が片側にしかない通常のレーザ顕微鏡よりも高いレーザカットを行なう能力が必要である。
本発明は、上下顕微鏡で画像を取得するときに、刺激を加えながら、細胞内の挙動を見るといったリアルタイムな画像取得が出来るレーザ走査型顕微鏡を提供することを目的とする。
本発明の局面に係るレーザ走査型顕微鏡は、レーザ光源からの光束を対物レンズで標本面上に集光し、前記標本からの透過光、反射光又は前記標本から発生する蛍光を検出するレーザ走査型顕微鏡において、少なくとも1つのレーザ光源から出力されたコヒーレント光を標本面上に対して走査する、前記標本の一方側と他方側にそれぞれ配置された観察用及び刺激用のレーザ走査光学系を備え、観察用のレーザ走査光学系に対する刺激用のレーザ走査光学系からの光の侵入を防止する光侵入防止手段とを具備したことを特徴とする。
本発明によれば、上下顕微鏡の他方の励起光もしくは刺激光の影響を受けずに観察画像の取得が可能である。
図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
(第1の実施の形態)
図1を参照して、第1の実施形態を説明する。図1は、本発明の第1の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図である。
本実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡は、標本1に対して、上側と下側に同様のレーザ走査光学系が配置されている。なお、上側と下側のレーザ走査光学系とが同様の構成であるので、本実施形態の説明では、上側のレーザ走査光学系のみについて説明する。なお、以下の実施形態においても、特に断らない限り、上側のレーザ走査光学系のみについて説明するものとする。
レーザユニット3は、異なる波長のレーザ光を出力するレーザ光源101から103と、ダイクロイックミラー111及び112とミラー113を備えている。レーザ光源101から出力されたレーザ光は、ダイクロイックミラー111を透過してレーザユニット3から出力される。レーザ光源102から出力されたレーザ光は、ダイクロイックミラー112及び111で反射されてレーザユニット3から出力される。レーザ光源103から出力されたレーザ光は、ミラー113で反射され、ダイクロイックミラー112を透過し、その後ダイクロイックミラー111で反射されて、レーザユニット3から出力される。このようにして、レーザ光源101から103からのレーザ光或いは、それらのいずれか2つ或いは3つの合成光が、レーザユニットから出力される。
レーザユニット3から出力されたコヒーレント光は、ダイクロイックミラー121を通過した後に、レーザ光をXY方向に偏向するためのミラー122a及び122bを有する走査光学系122で偏向される。なお、走査光学系122は制御ユニット5で制御される。走査光学系122で偏向されたレーザ光は、瞳投影レンズ123で対物レンズ126の瞳径にビーム径を変更された後に、ミラー124、結像レンズ125を介して、対物レンズ126に入射して、対物レンズ126にて、標本1の焦点位置に集光される。
標本1は、集光した光により励起されて蛍光を発する。この蛍光は、光路を逆に進み、ダイクロイックミラー121まで戻る。ダイクロイックミラー121が、レーザ光の励起波長を通過し、蛍光波長を反射することにより、励起波長と蛍光波長が分離される。ダイクロイックミラー121で反射された蛍光は、フィルタ191を介してコンフォーカルレンズ131に入射し、その後ピンホール141にて対物レンズ126の焦点位置と共役な位置で焦点のあった光だけが通過して、ダイクロイックミラー151に導かれる。ダイクロイックミラー151は、2波長蛍光の標本の波長を分離するためのものであって、このダイクロイックミラー151で2つの波長成分に分割された光は、おのおのフィルタ161、162及びフィルタ171、172で必要な蛍光波長域が選択されて検出器181、182に入力する。検出器181、182は入射した光を光電変換する。検出器181、182で光電変換された電気信号は、図示しないA/Dコンバータにより、デジタルデータ化され、図示しないパソコン上のモニターに共焦点画像として表示される。
この場合において、標本1を通過した光は、下側の光路に入ることになる。本実施形態では、フィルタ291を上側レーザ光カット機構として使用している。すなわち、上側から来たレーザ光は、フィルタ291まで到達するが、フィルタ291は、標本1からの蛍光は透過するが、上側から来たレーザ光を遮断して、上側から来たレーザ光が検出器281、282に到達する(すなわち、観察系に侵入する)のを防止するようにしている。これにより、標本1からの蛍光を、検出器281、282で検出する場合に、上側から来たレーザ光が、検出器281、282に到達することはない。なお、下側から標本1を通過して上側の光路に入ったレーザ光についても同様に、フィルタ191をレーザ光カット機構として使用することにより、下側からのレーザ光がカットされる。ここで、フィルタ191として、OD値の高いものを使用することが好ましく。OD値が4以上、好ましくは、6以上のものが好ましい。この場合において、2波長蛍光のようなサンプルの場合には、図2のようにレーザ光だけをカットするには、図3のような特性ダブルバンドのバリアフィルタを配置する。また、3波長蛍光のようなサンプルの場合には、トリプルバンドフィルタを配置することになるが、ダブルバンドやトリプルバンドのフィルタは、製作難易度が高いので、フィルタホイールにして、単一波長のバリアフィルタを切り変える方式でも構わない。
(第2の実施の形態)
図4を参照して、第2の実施形態を説明する。図4は、本発明の第2の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図である。図4において、図4の(a)は全体の概略構成を示す図、(b)は0次方向からレーザ光が音響光学素子等のAOTF135(及び235)に入力する場合の図、(c)は1次方向からレーザ光がAOTF135に入力する場合の図である。また、図4の(a)において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
図4の(a)に示すように、本実施形態では、ダイクロイックミラー121及びフィルタ191に替えてAOTF135を(図4の(b)の場合)、又はダイクロイックミラー121に替えてAOTF135を(図4の(c)の場合)使用している。AOTF135は、第1の実施形態でフィルタ191としてフィルタホイールを用いた場合よりも高速に切り替えることができる。また、AOTF135は、バリアしたい波長だけを複数同時にバリアすることも可能である。
図4の(b)では、0次方向からAOTF135にレーザ光が入射し、AOTF135の1次方向に蛍光が出力されている。このような構成によれば、0次方向では、波長選択ができないが、1次方向に対しては波長選択で可能であるので、レーザ光に対する波長選択はできないが、蛍光波長の選択ができる。従って、第1の実施形態におけるフィルタ191及び291が不要になる。一方、図4の(c)のように、レーザ光が1次方向からAOTF135に入射する場合には、レーザ光の波長選択は可能になるが、蛍光の波長選択ができないので、第1の実施形態と同様に、フィルタ191及び291が必要である。
(第3の実施の形態)
図5を参照して、第3の実施形態を説明する。図5は、本発明の第3の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図である。図5において、図5の(a)は全体の概略構成を示す図であり、(b)はサーキュレータ136の動作を示す図である。また、図5の(a)において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
図5の(b)に示すように、サーキュレータ136(236)は3つの接続端を備えており、接続端Aは対物レンズ側の接続端、接続端Bはレーザ側の接続端、接続端Cは検出器側の接続端である。各接続端への光の入出力は以下のようになっている。
接続端A:レーザ光の出力と蛍光の入力
接続端B:レーザ光の入力
接続端C:蛍光の出力
このように、接続端Bから入射したレーザ光は接続端Aから出射され、接続端Aから入力した蛍光は接続端Cから出射される。従って、本実施形態の構成においても、第1の実施形態に示すダイクロイックミラー121(221)と同様の機能が得られる。
(第4の実施の形態)
図6を参照して、第4の実施形態を説明する。図6は、本発明の第4の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図である。図6において、図1と同じ部分には同じ符号を付している。
本実施形態において、ピンホール141を介して、ダイクロイックミラー151で2波長蛍光の標本の波長が分離されるまでの動作は第1の実施形態と同様であるので、説明を省略する。本実施形態では、分光によって、必要な波長域のスペクトルを取得してから、レーザ波長のデータを無視している。そのため、平面グレーティング165及び166を備えている。これらの平面グレーティング165及び166は、光軸を含む平面(グレーティングによる反射前後の光の光軸を含む)に垂直な軸を中心として回動可能になっており、それにより、入射した蛍光が分光(スペクトル分解)される。
具体的には、ダイクロイックミラー151を通過した蛍光は、結像レンズ163を介して平面グレーティング165に入射して、スペクトル分解される。このとき、平面グレーティング165の入射光軸に対する角度を変化させると、可変スリット167を通過する蛍光の中心波長を調整することができる。なお、可変スリット167のスリット幅を変化させることによって、中心波長に対する検出波長幅を調整することができる。そして、スペクトル分解された蛍光は、可変スリット167に入射して、可変スリット167を通過することにより、蛍光のスペクトル範囲が制限され、可変スリット167を通過した蛍光だけが検出器181で検出される。なお、ダイクロイックミラー151で反射された蛍光は、上記と同様に、結像レンズ164を介して平面グレーティング166に入射して、スペクトル分解される。そして、スペクトル分解された蛍光は、可変スリット168に入射して、可変スリット168を通過することにより、蛍光のスペクトル範囲が制限され、可変スリット168を通過した蛍光だけが検出器182で検出される。
(第5の実施の形態)
上記の各実施形態の構成において、光学素子によるレーザ光カット機構を設けない場合におけるレーザ光のカット方法について説明する。なお、本実施形態の構成は、上記の各実施形態において、レーザカット機構としての光学素子を設けていない場合と同様であるので、図示及び説明を省略する。このように光学素子によるレーザカット機構を設けない場合には、レーザ走査光学系122、222によるレーザ光の走査ポイントが標本1の同一ポイントに来たときには、反対側の検出器、すなわち、下側の検出器281,282には上側からのレーザ光、上側の検出器181,182には下側からのレーザ光が入ってきてしまう。すなわち、図7に示すように上側の走査領域と下側の走査領域が重なる場合は、上側と下側の走査ポイントが同一になる可能性がある。
この場合には、上側の走査領域と下側の走査領域とが重ならないように走査制御を変えることにより、この問題を回避することができる。例えば、図7において、下側の走査領域を矢印方向に走査し、上側の走査領域を矢印と逆方向に走査すると、上側と下側の走査領域の重なり合った部分で走査ポイントが同じポイントになる可能性がある。そこで、上側の走査領域と下側の走査領域を同時に矢印方向に走査すれば、下側のレーザ走査光学系による走査が走査領域の重なり部分を走査しているときには、上側のレーザ走査光学系による走査は走査領域の重なり部分の走査を終了しているので、走査ポイントが重なることがない。このように、走査方向を制御することにより、走査ポイントが重なることを回避することが可能である。従って、本実施の形態によれば、レーザ光カット用の光学素子を設けない場合でも。他方の刺激用のレーザ走査光学系からのレーザ光が観察用のレーザ走査光学系に侵入することを防止できる。
(第6の実施の形態)
図8を参照して、第6の実施形態を説明する。図8は、本発明の第6の実施形態の動作例を示す図である。図8において、(a)はXガルバノミラーの動作波形、(b)は片道スキャンの場合の画像取得タイミング、(c)は往復スキャンの場合の画像取得タイミング、(d)は刺激のタイミングをそれぞれ示す図である。なお、第6の実施形態の構成は、図1と同様であるので、図示及び説明を省略する。
画像を取得するためにXY走査する場合に、画像を取得したい領域よりやや広い領域まで、レーザ走査光学系で偏向することが一般的である。ここで、画像を取得する場合には、図8の(b)及び(c)に示すようにリニアリティの良い部分だけで画像を取得するようにしている。すなわち、片道スキャンの場合には、(a)の波形において、立ち上がりの部分で1ライン分の走査を行い、往復スキャンの場合には、立ち上がりと立下りの部分についてそれぞれ1ライン分の走査を行うようにしている。ここで、(b)又は(c)において、画像を取得しない部分(時間)は、標本を励起する必要がないので、レーザ光が標本にあたらないように、AOTFなどの音響光学素子や直接レーザをOFFするなどして、標本に光をあてないようにしている。従って、(d)に示すように、この画像を取得していない時間を利用して、画像を取得していない側の走査光学系で、1回或いは複数回(図では2回)の刺激を加えれば、取得画像に影響させずに、刺激を加えることが可能である。
以上の説明はライン走査(主走査)におけるライン端部の折り返し期間を刺激用期間として利用する例であるが、同じように1フレーム走査後に次のフレームを走査する際に、走査点が走査開始点に戻るための帰線期間を刺激用期間として用いることができる。この場合は、フレームとフレームの間に刺激光を照射することができる。
本実施形態では、一方の走査光学系で画像を取得していない時間に他方の走査光学系で刺激を与えるようにしているが、励起波長と刺激波長の種顆が多いために、対応するバリアフィルタを全て用意することが困難な場合が考えられる。このような場合に、上下の2つの走査光学系をフレーム毎もしくは、ライン毎、もしくはピクセル毎に交互に切り替えて走査をするようにしても良い。これにより、上下の走査光学系に対して、ともに他方の影響を受けないでデータの取得が可能である。これは、上下の走査光学系の走査タイミングが重ならないように制御ユニット5にて制御することで、可能になる。なお、2つのレーザ顕微鏡を上下に配置するのみでなく、制御を集中して行なえば、制御ユニットを1つにできるので、低価格とスペースの向上が図れる。また、制御ユニットをPCなどのマンマシンインターフェイスを介して行なえば制御がしやすいばかりか、ユーザーの操作性の向上が図れる。
上記の各実施形態は単独で適用しても良いし、適宜組み合わせて適用しても良い。また、本発明は、上記各実施の形態に限ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。
例えば、上記の実施形態では、バリアフィルタ191をフィルタ161、171、162、172等と別に設けた例について説明をしたが、フィルタ161、171、162、172がバリアフィルタ191の性能を有するように構成すれば、バリアフィルタ191は必要がなくなる。また、ダイクロイックミラー121や151がバリアフィルタ191の性能を有するようにしても構わない。
レーザは、一般的に偏光方向を有している。このことから、上下の走査光学系の一方の走査光学系(例えば、上側の走査光学系とする)に係るレーザ光をP偏光、他方の走査光学系(例えば、下側の走査光学系とする)に係るレーザ光をS偏光にしても良い。この場合において、下側の走査光学系にはP偏光を通さない偏光フィルタを、上側の走査光学系にはS偏光を通さない偏光フィルタを、それぞれ標本から検出器の間に入れれば、他方のレーザ光の影響を受けないでデータを取得することが可能である。
上記の実施形態では、レーザ走査型顕微鏡について説明したが、上側もしくは下側に全反射顕微鏡を配置した場合も、上記の構成により、同じ効果が得られる。
また、上記の実施形態では、シングルフォトンのレーザ走査型顕微鏡について説明をしたが、レーザ走査型顕微鏡として、マルチフォトン・レーザ走査型顕微鏡が知られている。マルチフォトン・レーザ走査型顕微鏡を使用する場合は、マルチ光子による標本の励起のため、対物レンズの焦点位置と共役な位置にピンホ一ルを配置する必要がない。よって、この場合には、検出器を対物レンズの近傍(例えば、走査光学系122に戻る手前で分岐させた光路)に配置することができる。そして、検出器の前に、上記の実施形態と同様にレーザ光カット機構を配置すれば、マルチフォトン・レーザ顕微鏡においても同じ効果が得られる。
なお、レーザ走査顕微鏡では、ステージ2を光軸方向に動かすことによって、標本1の光軸方向(Z方向)における任意の位置における像を観察できる。ここで、上下にそれぞれレーザ走査光学系を配置したレーザ走査顕微鏡では、例えば、上側の走査光学系における観察位置を変えるためにステージ2を動かすと、下側の走査光学系での観察位置も動いてしまう。そこで、ステージ2を移動させないで、観察位置を変更するために、対物レンズからの焦点位置を変えることが好ましい。これにより、ステージ2を移動させることなく、Z方向の焦点位置を変更して、観察位置を変更することができる。この焦点位置の変更は、例えば、レーザユニット3、4からのコヒーレント光を、図9に示すように平行光(実線で表記)から収束光(破線で表記)に変えることによって、対物からの焦点位置を変えることが可能である。このように、ステージ2を動かさないで焦点位置を変えることが出来るので、一方の走査光学系の焦点位置を変えても、他方の走査光学系の焦点位置は変わらない。
このような、焦点位置を変更する方法として、デフォーマルミラーによって、波面制御することによって、焦点位置を変えても良い。構成例を図10に示す。図10において、図1と同じ部分には、同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
図10に示すように、光源3からのレーザ光はコリメータレンズ31を介してダイクロイックミラー121に入射する。ダイクロイックミラー121で反射されたレーザ光は波面変換素子としての形状可変ミラー(デフォーマラブルミラー)142に入射して、波面が調整される。波面調整されたレーザ光は、リレー光学系144、146を介して、ジンバルミラー147(XY走査光学系)で偏向され、リレー光学系148、結像レンズ125を介して、対物レンズ126に入射して、対物レンズ126にて、標本1の焦点位置に集光される。
標本1からの蛍光は、光路を逆に進み、ダイクロイックミラー121まで戻り、検出器181、182に入力して、光電変換されて、図示しないA/Dコンバータにより、デジタルデータ化され、図示しないパソコン上のモニターに共焦点画像として表示される。なお、検出器181、182の出力は、制御ユニット5に出力され、これにより、形状可変ミラー142が制御されて、光束の形状が所望の形状になる。形状可変ミラー142を高速に制御することにより、1フレーム単位で、又は1フレーム画像取得中に焦点位置を変更することができる。
さらに、上記各実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組合せにより種々の発明が抽出され得る。
また、例えば各実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
上記のように本発明の実施形態によれば、上下顕微鏡で画像を取得するときに、刺激を加えながら、細胞内の挙動を見るといったリアルタイムな画像取得が出来る。
また、観察用の画像は、刺激用の光が標本にあたっている部位及び同じタイミングでデータを取得したいこともあるが、一般的には、刺激前後のデータを取得したい。しかし、刺激用と観察用のレーザ波長が同じ時に、刺激用と観察用のスキャン位置が同一になるタイミングでは、本来取得したい刺激前後のデータにならないが、本発明の実施形態では、刺激用と観察用のスキャン位置が同一にならようにデータを取得することもできる。
また、従来技術においては、標本の焦点を合わせるために、上側のレーザ走査光学系の対物レンズと標本を上下動させるステージにより刺激用と観察用の焦点を別々に設定するようにしているが、標本を動かしてしまえば、上側の対物レンズの焦点位置も変わってしまうので、上側が刺激用で、下側が観察用の場合に観察部位をステ一ジで変えてしまうと、刺激部位も変わってしまうが、本発明の実施形態によれば、標本の位置を動かさずに観察部位と刺激部位を変えられるようにして、自在な刺激と観察が可能になる。
本発明の第1の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図。 カットするレーザ光の波長分布例を示す図。 図2の示すレーザ光をカットするためのフィルタの特性を示す図。 本発明の第2の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図。 本発明の第3の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図。 本発明の第4の実施形態に係るレーザ走査型顕微鏡の構成図。 光学素子によるレーザ光カット機構を設けない場合におけるレーザ光のカット方法について説明するための図。 本発明の第6の実施形態の動作例を示す図。 光学的に焦点移動させる例を示す図。 デフォーマルミラーによって焦点位置を変更させる例を示す図。
符号の説明
1…標本
2…ステージ
3、4…レーザユニット
5…制御ユニット
31、41…コリメータレンズ
101、102、103、201、202、203…レーザ光源
111、112、211、212…ダイクロイックミラー
113、213…ミラー
121、221…ダイクロイックミラー
122、222…レーザ走査光学系
123、223…瞳投影レンズ
124、224…ミラー
125、225…結像レンズ
126、226…対物レンズ
131、231…コンフォーカルレンズ
135、235…AOTF
136…サーキュレータ
141、241…ピンホール
142、242…形状可変ミラー
144、146、244、246…リレー光学系
147、247…ジンバルミラー
148、248…リレー光学系
151、251…ダイクロイックミラー
161、162、261、262…フィルタ
161、171、261、271…フィルタ
163、164、263、264…結像レンズ
165、166、265、266…平面グレーティング
167、168、267、268…可変スリット
171、271…フィルタ
181、182、281、282…検出器
185、285…集光レンズ
191、291…フィルタ

Claims (13)

  1. レーザ光源からの光束を対物レンズで標本面上に集光し、前記標本からの透過光、反射光又は前記標本から発生する蛍光を検出するレーザ走査型顕微鏡において、
    少なくとも1つのレーザ光源から出力されたコヒーレント光を標本面上に対して走査する、前記標本の一方側と他方側にそれぞれ配置された観察用及び刺激用のレーザ走査光学系と、
    観察用のレーザ走査光学系に対する刺激用のレーザ走査光学系からの光の侵入を防止する光侵入防止手段とを具備したことを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  2. 請求項1に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記光侵入防止手段は、前記観察用のレーザ走査光学系に設けられ、刺激用のレーザ走査光学系からの光をカットするレーザカット機構であることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  3. 請求項2に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記カット機構は、バリアフィルタ、AOTF、分光器、又はサーキュレータのいずれかを含むことを特徴するレーザ走査型顕微鏡。
  4. 請求項1または請求項3に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記光侵入防止手段は、観察用のレーザ走査光学系と刺激用のレーザ走査光学系とが同時に走査するスキャンポイントが同一にならないように制御する制御手段であることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  5. 請求項1または請求項3に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記光侵入防止手段は、刺激用のレーザ走査光学系からの光を検出しないように、刺激用のレーザ走査光学系がレーザ光を照射する刺激用期間と観察用のレーザ走査光学系が蛍光を検出する観察期間とが異なる期間になるように制御する制御手段を具備することを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  6. 請求項5に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記制御手段は、前記観察用のレーザ走査光学系のフレーム走査において、1フレーム終了から次フレーム開始までの帰線期間中に前記刺激用期間を設けることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  7. 請求項5に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記制御手段は、観察用のレーザ走査光学系のライン走査において、ライン端部の走査点折り返し期間中に前記刺激用期間を設けることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  8. 請求項2または請求項3に記載のレーザ走査型顕微鏡において、蛍光分離用及び励起分離用のダイクロイックミラーが、刺激用のレーザ走査光学系からの光に対するバリア性能を有するカット機構として機能することを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  9. 請求項1に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記光侵入防止手段は、標本の一方側および他方側に配置されたレーザ走査光学系の偏光方向を直交するようにしたことを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  10. 請求項1から請求項9のいずれか1項に記載のレーザ走査型顕微鏡において、標本の一方側および他方側に配置されたレーザ走査系の一方のレーザ走査系が全反射顕微鏡に係る走査系であることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡
  11. 請求項1から請求項10のいずれか1項に記載のレーザ走査型顕微鏡において、標本の一方側および他方側に配置されたレーザ走査系の少なくとも1つの走査系がマルチフォトン・レーザ走査型顕微鏡に係る走査系であることを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  12. 請求項1から請求項11のいずれか1項に記載のレーザ走査型顕微鏡において、標本の一方側および他方側に配置されたレーザ走査光学系の少なくとも一方の焦点位置を、光学的に移動させる光学手段を更に具備することを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
  13. 請求項12に記載のレーザ走査型顕微鏡において、前記光学手段は、デフォーマラブルミラーを含むことを特徴とするレーザ走査型顕微鏡。
JP2004306908A 2004-10-21 2004-10-21 レーザ走査型顕微鏡 Withdrawn JP2006119347A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004306908A JP2006119347A (ja) 2004-10-21 2004-10-21 レーザ走査型顕微鏡
US11/252,564 US7417211B2 (en) 2004-10-21 2005-10-18 Laser scanning microscope having a mechanism which prevents stimulation light from reaching a light detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004306908A JP2006119347A (ja) 2004-10-21 2004-10-21 レーザ走査型顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006119347A true JP2006119347A (ja) 2006-05-11

Family

ID=36205367

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004306908A Withdrawn JP2006119347A (ja) 2004-10-21 2004-10-21 レーザ走査型顕微鏡

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7417211B2 (ja)
JP (1) JP2006119347A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008004336A1 (fr) * 2006-07-03 2008-01-10 Nikon Corporation Microscope à balayage laser
JP2008116756A (ja) * 2006-11-06 2008-05-22 Olympus Corp 光学装置
WO2008072365A1 (ja) * 2006-12-13 2008-06-19 Nikon Corporation 蛍光検出装置及び蛍光観察システム
JP2008216996A (ja) * 2007-02-05 2008-09-18 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡および観察方法
JP2013152484A (ja) * 2007-07-17 2013-08-08 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡システム
JP2015018037A (ja) * 2013-07-09 2015-01-29 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5083325B2 (ja) * 2007-12-13 2012-11-28 株式会社ニコン 走査型レーザ顕微鏡
DE102008005337B4 (de) * 2008-01-17 2019-01-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Laser-Scanning-Mikroskop mit variabler Lichtintensität und Steuerverfahren für ein solches
US8939966B2 (en) * 2008-08-21 2015-01-27 University Of Florida Research Foundation, Inc. Differential laser-induced perturbation (DLIP) for bioimaging and chemical sensing
JP5452180B2 (ja) 2009-11-13 2014-03-26 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
JP2011163787A (ja) * 2010-02-05 2011-08-25 Sony Corp 微小粒子分析装置及び微小粒子分析方法
DE102010047237B4 (de) * 2010-08-13 2021-07-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Trennen von Detektionssignalen im Strahlengang einer optischen Einrichtung
JP5926966B2 (ja) * 2012-01-30 2016-05-25 オリンパス株式会社 蛍光観察装置
DE102012023024B4 (de) * 2012-11-07 2023-05-04 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Lichtmikroskop und Mikroskopieverfahren
CN112427410B (zh) * 2020-10-30 2022-07-26 厦门理工学院 一种多方位激光清洗机

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5142132A (en) * 1990-11-05 1992-08-25 Litel Instruments Adaptive optic wafer stepper illumination system
US5682038A (en) * 1995-04-06 1997-10-28 Becton Dickinson And Company Fluorescent-particle analyzer with timing alignment for analog pulse subtraction of fluorescent pulses arising from different excitation locations
JP3917731B2 (ja) 1996-11-21 2007-05-23 オリンパス株式会社 レーザ走査顕微鏡
JP4468507B2 (ja) 1999-03-24 2010-05-26 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡
US6449039B1 (en) * 1999-07-28 2002-09-10 Thermo Noran Inc. Laser scanning fluorescence microscopy with compensation for spatial dispersion of fast laser pulses
US6844963B2 (en) * 2000-03-23 2005-01-18 Olympus Optical Co., Ltd. Double-resonance-absorption microscope
US6850317B2 (en) * 2001-01-23 2005-02-01 Schlumberger Technology Corporation Apparatus and methods for determining velocity of oil in a flow stream

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008004336A1 (fr) * 2006-07-03 2008-01-10 Nikon Corporation Microscope à balayage laser
US7639357B2 (en) 2006-07-03 2009-12-29 Nikon Corporation Laser scanning microscope
JP4992898B2 (ja) * 2006-07-03 2012-08-08 株式会社ニコン レーザ走査顕微鏡及び観察方法
JP2008116756A (ja) * 2006-11-06 2008-05-22 Olympus Corp 光学装置
WO2008072365A1 (ja) * 2006-12-13 2008-06-19 Nikon Corporation 蛍光検出装置及び蛍光観察システム
US7943909B2 (en) 2006-12-13 2011-05-17 Nikon Corporation Fluorescence detecting apparatus and fluorescence observation system
JP5218064B2 (ja) * 2006-12-13 2013-06-26 株式会社ニコン 蛍光検出装置及び蛍光観察システム
JP2008216996A (ja) * 2007-02-05 2008-09-18 Olympus Corp 走査型レーザ顕微鏡および観察方法
JP2013152484A (ja) * 2007-07-17 2013-08-08 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡システム
JP2015018037A (ja) * 2013-07-09 2015-01-29 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡

Also Published As

Publication number Publication date
US7417211B2 (en) 2008-08-26
US20060086887A1 (en) 2006-04-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4869734B2 (ja) 多光子励起走査型レーザ顕微鏡
US7274446B2 (en) Method and arrangement for the deep resolved optical recording of a sample
US7417211B2 (en) Laser scanning microscope having a mechanism which prevents stimulation light from reaching a light detector
JP4747243B2 (ja) 試料の光学的深部分解による光学的把握のための方法および装置
JP5712342B2 (ja) 光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法
JP4817356B2 (ja) 光学顕微鏡
JP2000199855A (ja) 走査型光学顕微鏡装置
US20070051869A1 (en) Scanning microscope and method for examining a sample by using scanning microscopy
JPH10206742A (ja) レーザ走査顕微鏡
JP4270884B2 (ja) 顕微鏡システム
US20150304552A1 (en) Confocal microscope
WO2007141903A1 (ja) スペクトル観察方法及びスペクトル観察システム
JP2019529999A (ja) 光学顕微鏡
EP1265092B1 (en) Method and Apparatus for ROI-Scan with High Temporal Resolution
JP4331454B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡
US10795138B2 (en) Fluorescence microscope instrument comprising an actively switched beam path separator
JP2004354937A (ja) レーザ顕微鏡
JP4869562B2 (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP2003185927A (ja) 走査型レーザー顕微鏡
JP2001255463A (ja) 走査型光学装置
JP4987233B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP4874012B2 (ja) レーザ走査型顕微鏡およびレーザ走査型顕微鏡の画像取得方法
JP4885685B2 (ja) 光学装置および顕微鏡
JP4869749B2 (ja) 走査型顕微鏡
JP2006003747A (ja) 光走査型観察装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20080108