JP2006014822A - X線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents

X線コンピュータ断層撮影装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2006014822A
JP2006014822A JP2004193902A JP2004193902A JP2006014822A JP 2006014822 A JP2006014822 A JP 2006014822A JP 2004193902 A JP2004193902 A JP 2004193902A JP 2004193902 A JP2004193902 A JP 2004193902A JP 2006014822 A JP2006014822 A JP 2006014822A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
region
rays
interest
data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2004193902A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4619704B2 (ja
Inventor
Manabu Hiraoka
学 平岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Canon Medical Systems Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Medical Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Medical Systems Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP2004193902A priority Critical patent/JP4619704B2/ja
Publication of JP2006014822A publication Critical patent/JP2006014822A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4619704B2 publication Critical patent/JP4619704B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

【課題】本発明の目的は、画質劣化防止と被曝低減との両立をはかることができる。
【解決手段】本発明に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線を発生するX線管11と、被検体内の関心領域に比較的高線量でX線を照射し、関心領域以外の領域に比較的低線量でX線を照射するために構成されたコリメータ15と、被検体を透過したX線を検出して投影データを発生するX線検出器13と、投影データに基づいて画像データを再構成する画像再構成部25とを具備する。
【選択図】 図1

Description

本発明は、被検体の関心領域にX線の照射野を制限するX線コンピュータ断層撮影装置に関する。
関心領域に制限してX線を照射することは、被曝低減に最も効果的な方法の一つである。しかし、この方法では再構成画像にアーチファクトが必然的に生じる。これは、あるビューの投影データセットには、関心領域外の一部分の情報が含まれているが、その部分の情報は他のビューの投影データセットには含まれないことを原因として起こる。
特許文献1、2では、関心領域外の部分のデータを、事前に計測したデータで補充することにより、アーチファクトの発生を抑制している。
しかし、データ取得時刻の違いは、体動アーチファクトを発生させる。従って画質劣化防止と被曝低減との両立をはかることが困難であった。
特開平10−248835号公報 特開平11−28202号公報
本発明の目的は、画質劣化防止と被曝低減との両立をはかることができる。
本発明に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線を発生するX線管と、被検体内の関心領域に比較的高線量でX線を照射し、前記関心領域以外の領域に比較的低線量でX線を照射するために構成されたコリメータと、前記被検体を透過したX線を検出して投影データを発生するX線検出器と、前記投影データに基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを具備する。
本発明に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、第1X線管と、前記第1X線管から発生され、被検体を透過したX線を検出して第1投影データを発生する第1X線検出器と、第2X線管と、前記第1X線管からのX線より低線量で前記第2X線管から発生され、前記被検体を透過したX線を検出して第2投影データを発生する第2X線検出器と、前記第1X線管からのX線の照射野を前記被検体内の関心領域に制限するために構成されたコリメータと、前記第1、第2投影データに基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを具備する。
本発明に係るX線コンピュータ断層撮影装置は、X線を発生するX線管と、被検体内の関心領域にX線の照射野を制限するために構成されたコリメータと、前記被検体を透過したX線を検出して投影データを発生するX線検出器と、前記投影データと、前記関心領域以外の領域に対応するサンプルデータとに基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを具備する。
本発明によれば、画質劣化防止と被曝低減との両立をはかることができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。周知のとおり、X線コンピュータ断層撮影装置には、X線管と放射線検出器とが1体として被検体の周囲を回転する回転/回転(ROTATE/ROTATE)タイプと、リング状に多数の検出素子がアレイされ、X線管のみが被検体の周囲を回転する固定/回転(STATIONARY/ROTATE)タイプ等様々なタイプがあり、いずれのタイプでも本発明を適用可能である。ここでは、現在、主流を占めている回転/回転タイプとして説明する。また、1スライスの断層像データを再構成するには、被検体の周囲1周、約360°分の投影データが、またハーフスキャン法でも180°+ビュー角分の投影データが必要とされる。いずれの再構成方式にも本発明を適用可能である。ここでは、ハーフスキャン法を例に説明する。また、入射X線を電荷に変換するメカニズムは、シンチレータ等の蛍光体でX線を光に変換し更にその光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形と、X線による半導体内の電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形とが主流である。X線検出素子としては、それらのいずれの方式を採用してもよい。
(第1実施形態)
図1は第1実施例に係るX線コンピュータ断層撮影装置の主要部の構成を示している。X線管11は、多チャンネル型のX線検出器13とともに図示しないリング状の回転フレームに搭載される。X線管11には、被検体PへのX線照射野を制限するための上部コリメータ15が取り付けられる。図2、図3に示すように、上部コリメータ15は、X線管11から発生されるX線を透過しない性質、つまりX線を完全に遮蔽する性質を有する典型的には4枚のコリメータ板33,35,37,39を備える。
上部コリメータ15は、4枚のコリメータ板33,35,37,39とともに、X線管11から発生されるX線の一部を透過する性質(半透過性)を有する典型的には2枚のコリメータ板41,43を備える。X線透過率を、入射するX線の線量Iinに対する透過X線の線量Ioutの比率(Iout/Iin)と定義するとき、4枚のコリメータ板33,35,37,39は、ゼロ又はその近似値を示すX線透過率を有する。一方、2枚のコリメータ板41,43は、4枚のコリメータ板33,35,37,39のX線透過率より高いX線透過率を有する。
4枚のコリメータ板33,35,37,39は、ゼロ又はその近似値のX線透過率を得るために必要な厚さを有する典型的には鉛又は鉛を含む合金で構成される。一方、半透過性の2枚のコリメータ板41,43は、鉛より減弱係数の低い例えばMoで構成される。しかし、半透過性の2枚のコリメータ板41,43は、コリメータ板33,35,37,39と同じ鉛又は鉛を含む合金で構成されてもよい。この場合、コリメータ板41,43は、コリメータ板33,35,37,39より薄い。
コリメータ板33,35は、スライス方向(Z)に関してそれぞれ個別に移動可能に支持される。コリメータ板33,35によりスライス方向のX線の幅(スライス厚)が決定される。コリメータ板37,39はチャンネル方向(X)に関してそれぞれ個別に移動可能に支持される。コリメータ板37,39によりチャンネル方向のX線の広がり角度(ファン角)αが決定される。
なお、典型的には、コリメータ板37,39はX線検出器13の全幅に対応して全開されている。上部コリメータ15は、コリメータ板37,39を備えていなくても良い。
半透過性のコリメータ板41,43はチャンネル方向(X)に関してそれぞれ個別に移動可能に支持される。また、半透過性のコリメータ板41,43の移動は、コリメータ板37,39の移動に対して完全に独立している。半透過性のコリメータ板41,43により、比較的高線量のX線の広がり角度βが決定される。比較的高線量範囲の両側は、半透過性のコリメータ板41,43により減衰された比較的低線量のX線が被検体に照射される。高線量範囲の角度幅β及び、Y軸に対する高線量範囲の中心線の交差角(照射角)はコリメータ板41,43各々の位置により決まる。
X線管11からのX線はコリメータ板33,35,37,39で完全に遮蔽される。従って、X線はコリメータ板33,35,37,39により形成された矩形の開口を通過して被検体Pを照らす。そのX線照射範囲の一部範囲のX線は、半透過性コリメータ板41,43により減衰され、低線量で照射される。X線照射範囲の残りの範囲のX線は、半透過性コリメータ板41,43を透過しないので、高線量で照射される。
上部コリメータ15には、第1、第2の参照検出器17,19が設けられている。第1参照検出器17は、X線管11とコリメータ板33,35,37,39,41,43との間に配置される。第1参照検出器17により高線量範囲のX線の照射線量が検出される。第2参照検出器19は、コリメータ板41又は43と被検体との間に配置される。第2参照検出器19により低線量範囲のX線の照射線量が検出される。
図1に戻る。一般的にDAS(data acquisition system) と呼ばれているデータ収集部21は、検出器13からチャンネルごとに出力される信号を電圧信号に変換し、増幅し、さらにディジタル信号に変換して、データ(生データ)を出力する。対数変換部22は、ロウデータ(raw data)を、対数変換する。データ補正部23は、第1、第2の参照検出器17,19の出力に基づいて、対数変換されたロウデータを補正する。この補正は、周知の通り、X線線量の変動に起因するデータの変動を軽減するために、実際に検出したX線線量に従ってデータを規格化する処理である。データ補正部23では、第1の参照検出器17の出力に基づいて、高線量範囲に対応するチャンネルのデータが補正され、第2の参照検出器19の出力に基づいて、低線量範囲に対応するチャンネルのデータが補正される。それにより、X線線量の相違に起因するデータ値の相違を是正することができる。高線量範囲に対応するチャンネルと、低線量範囲に対応するチャンネルとは、コリメータ制御部31により制御される半透過性コリメータ板41,43のそれぞれの位置により区別されることができる。画像再構成部25は、補正されたデータに基づいて画像データを再構成する。画像は表示部27の画面に表示される。入力デバイス29は、キーボードと、マウス等のポインティングデバイスとを有し、主に、表示された画像上に関心領域(ROI)を設定するために設けられている。コリメータ制御部31は、上部コリメータ15を制御して、コリメータ板33,35,37,39,41,43の位置を調整する。特に、コリメータ制御部31は、設定された関心領域(ROI)に従って、X線管11の角度と半透過性のコリメータ板41,43の位置との関係を決定するとともに、決定した関係に従ってX線管11の回転中にコリメータ板41,43の位置を動的に変化させる。
次に、本実施形態の動作を説明する。図4に示すように、まず、スキャノグラムが撮影される(S1)。周知のとおり、X線管11が特定角度で固定される。天板が被検体とともに連続移動される。X線が連続的に発生され、透過X線が繰り返し検出される。それによりスキャノグラムが撮影される。スキャノグラムは図5(a)に示すように表示部27に表示される。入力デバイス29から入力された操作者の指令に従って、スキャノグラム上で所望のスライスが設定される。設定されたスライスに対してプレスキャンが実行される(S2)。プレスキャンでは、コリメータ制御部31の制御により、チャンネル方向に関するコリメータ板37,39,41,43は全開され、スライス方向に関するコリメータ板33,35の位置はプレスキャン用の所定のスライス厚に応じて調整される。スライス位置で天板が停止され、X線管11が回転される。X線が連続的に発生され、透過X線が繰り返し検出される。それにより多方向の投影データが収集される。多方向の投影データに基づいて画像データ(断層画像データ)が再構成され、図5(b)に示すように表示部27に表示される。断層画像上で関心領域(ROI)が入力デバイス29を介して設定される(S3)。関心領域(ROI)は、断面内の所望の部位を収容するように楕円、多角形又は任意形状に設定される。
コリメータ制御部31では、図1に示すように、設定された関心領域(ROI)にX線の高線量範囲が限定されるように、半透過性のコリメータ板41,43の位置がX線管11の角度ごと、例えば5°ごとに計算される。この計算結果に従って本スキャン(S5)で半透過性のコリメータ板41,43の位置がX線管11の回転に伴って動的に変化される。それにより、関心領域(ROI)にはX線が高線量で照射され、関心領域(ROI)以外の部位にはX線が低線量で照射される。
本スキャンによりデータ収集部21で収集されたデータは、対数変換部22を経由してデータ補正部23に送られる。データ補正部23では、半透過性のコリメータ板41,43の位置に基づいて、X線管11の角度ごとに高線量領域に対応するチャンネルと、低線量領域に対応するチャンネルとを特定する(S6)。データ補正部23では、第1の参照検出器17の出力に基づいて、高線量範囲に対応するチャンネルのデータが補正され、第2の参照検出器19の出力に基づいて、低線量範囲に対応するチャンネルのデータが補正される(S7)。それにより、X線線量に対するデータの依存性は軽減され、データは規格化される。
補正された高線量範囲のデータと低線量範囲のデータとに基づいて画像再構成部25により画像データが再構成され(S8)、表示部27の画面に表示される。
本実施形態でよれば、関心領域以外の部位には低線量でX線が照射されるので、関心領域以外の部位を含めて高線量でX線が照射される場合に比べて、被曝低減を図ることができる。また、関心領域のデータは高線量のX線で収集し、また関心領域以外の部位のデータは低線量のX線により関心領域のデータと並行して収集するので、画質の劣化を防止することができる。
(第2実施形態)
上記第1実施形態と同様の効果は、2管球システムで実現することができる。図6に示すように、例えば90°シフトした位置に第1、第2のX線管11−1,11−2が設けられる。それぞれに対向する位置に第1、第2のX線検出器13−1,13−2が設けられる。第1、第2のX線管11−1,11−2には、それぞれ上部コリメータ15−1,15−2が取り付けられる。上部コリメータ15−1,15−2は、図7に示すように、遮蔽性を有する4枚のコリメータ板33,35,37,39から構成される。半透過性のコリメータ板は装備されていない。上部コリメータ15−1,15−2それぞれの開口は、コリメータ制御部47により完全に個別に制御され得る。第1、第2のX線検出器13−1,13−2にはデータ収集部21−1,21−2をそれぞれ経由してデータ補正部45が接続する。データ補正部45は、上部コリメータ15−1,15−2に取り付けられている図示しない参照検出器の出力に従ってデータを補正(線量補正)する。
第1実施形態と同様に、スキャノグラム撮影及びプレスキャンが実行され、その断層画像上で関心領域(ROI)が入力デバイス29を介して設定される。コリメータ制御部47では、設定された関心領域(ROI)に限定して第1X線管11−1からのX線が照射されるように、X線管11の角度ごと、例えば5°ごとに上部コリメータ15−1の開口とその中心位置とを計算する。一方、コリメータ制御部47では、設定された関心領域(ROI)を含めて全域に第2X線管11−2からのX線が照射されるように、上部コリメータ15−2を全開する。
本スキャンでは、上部コリメータ15−1の開口とその中心位置とが第1X線管11−1の回転に伴って動的に変化される。他方の上部コリメータ15−2は、第2X線管11−2の回転に関わらず、チャンネル方向に関して全開で固定される。本スキャンでは、第1X線管11−1からは比較的高線量でX線が発生される。第2X線管11−2からは比較的低線量でX線が発生される。本スキャンによりデータ収集部21−1,21−2で収集されたデータは、データ補正部45において、それぞれの参照検出器の出力に従って補正(線量補正)される。
第1X線検出器13−1から出力されるデータは、関心領域以内に対応するチャンネルで有効で、関心領域外に対応するチャンネルは無効、つまり被検体の減衰情報(吸収係数情報)を含んでいない。関心領域外に対応するチャンネルのデータは、第2X線検出器13−2からデータ収集部21−2を経由して出力され、データ補正部45で線量補正を受けたデータで補填される。補填により全チャンネルにわたる一揃いの投影データが生成され、そのデータに基づいて画像再構成部25により画像データが再構成され、表示部27の画面に表示される。
本実施形態でよれば、関心領域以外の部位には低線量でX線が照射されるので、関心領域以外の部位を含めて高線量でX線が照射される場合に比べて、被曝低減を図ることができる。また、関心領域のデータは高線量のX線で収集し、また関心領域以外の部位のデータは低線量のX線により関心領域のデータと並行して収集するので、画質の劣化を防止することができる。
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
例えば、第1,第2実施形態では、関心領域以外のチャンネルのデータは、関心領域のデータの収集と並行して低線量のX線で収集したデータが使われている。それにより、画質劣化防止を効果的に奏するものである。しかし、画質劣化防止が重大ではない局面では、高線量のX線を使って関心領域のデータだけを収集し、関心領域以外にはX線を照射しないでそのチャンネルのデータは収集しないで、関心領域以外のチャンネルのデータを、検査部位と同じ部位に関する標準的なサンプルデータにより補填するようにしてもよい。
本発明の第1実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置の構成図。 図1の上部コリメータの斜視図。 図1の上部コリメータの断面図。 第1実施形態の動作手順を示す図。 図4のS3のROI設定時の画面例を示す図。 本発明の第2実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置の構成図。 図6の上部コリメータの斜視図。
符号の説明
11…X線管、13…X線検出器、15…上部コリメータ、17…第1リファレンス検出器、19…第2リファレンス検出器、21…データ収集部、22…対数変換部、23…データ補正部、25…画像再構成部、27…表示部、29…入力デバイス、31…コリメータ制御部。

Claims (11)

  1. X線を発生するX線管と、
    被検体内の関心領域に比較的高線量でX線を照射し、前記関心領域以外の領域に比較的低線量でX線を照射するために構成されたコリメータと、
    前記被検体を透過したX線を検出して投影データを発生するX線検出器と、
    前記投影データに基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。
  2. 前記コリメータは、前記X線管からのX線を比較的低線量のX線に変換するための半透過性コリメータ板を有することを特徴とする請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  3. 前記半透過性コリメータ板の位置は、前記関心領域の位置にしたがって決定されることを特徴とする請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  4. 前記半透過性コリメータ板の位置は、前記X線管の回転に伴って動的に変動されることを特徴とする請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  5. 前記関心領域に対応する投影データと前記関心領域以外の領域に対応する投影データとをそれぞれの領域に照射されるX線の線量に基づいて補正するデータ補正部を更に備えることを特徴とする請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  6. 前記関心領域に照射されるX線の線量を検出する第1リファレンス検出器と、前記関心領域以外の領域に照射されるX線の線量を検出する第2リファレンス検出器とをさらに備えることを特徴とする請求項5記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  7. 第1X線管と、
    前記第1X線管から発生され、被検体を透過したX線を検出して第1投影データを発生する第1X線検出器と、
    第2X線管と、
    前記第1X線管からのX線より低線量で前記第2X線管から発生され、前記被検体を透過したX線を検出して第2投影データを発生する第2X線検出器と、
    前記第1X線管からのX線の照射野を前記被検体内の関心領域に制限するために構成されたコリメータと、
    前記第1、第2投影データに基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。
  8. 前記第1、第2投影データをそれぞれ前記第1、第2X線管からのX線線量に基づいて補正するデータ補正部を更に備えることを特徴とする請求項7記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  9. 前記第1X線管からのX線線量を検出する第1リファレンス検出器と、前記第2X線管からのX線線量を検出する第2リファレンス検出器とをさらに備えることを特徴とする請求項8記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  10. 前記第2投影データを前記第1投影データに基づいて補正するデータ補正部を更に備えることを特徴とする請求項7記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  11. X線を発生するX線管と、
    被検体内の関心領域にX線の照射野を制限するために構成されたコリメータと、
    前記被検体を透過したX線を検出して投影データを発生するX線検出器と、
    前記投影データと、前記関心領域以外の領域に対応するサンプルデータとに基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを具備することを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。
JP2004193902A 2004-06-30 2004-06-30 X線コンピュータ断層撮影装置 Expired - Fee Related JP4619704B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004193902A JP4619704B2 (ja) 2004-06-30 2004-06-30 X線コンピュータ断層撮影装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004193902A JP4619704B2 (ja) 2004-06-30 2004-06-30 X線コンピュータ断層撮影装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006014822A true JP2006014822A (ja) 2006-01-19
JP4619704B2 JP4619704B2 (ja) 2011-01-26

Family

ID=35789591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004193902A Expired - Fee Related JP4619704B2 (ja) 2004-06-30 2004-06-30 X線コンピュータ断層撮影装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4619704B2 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012525903A (ja) * 2009-05-05 2012-10-25 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線画像を取得する方法及び自動的なウェッジの位置決めを有するx線画像取得装置
CN101277574B (zh) * 2007-01-05 2013-01-23 西门子公司 成像方法与装置
JP2013052232A (ja) * 2011-09-01 2013-03-21 General Electric Co <Ge> 計算機式断層写真法(ct)撮像での投与線量低減の方法、及び該方法を実装した装置
JP2014176515A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Toshiba Corp X線ct装置
WO2014192831A1 (ja) * 2013-05-28 2014-12-04 株式会社東芝 医用画像診断装置及び制御方法
EP2862517A1 (en) * 2013-09-13 2015-04-22 Samsung Electronics Co., Ltd Computed tomography apparatus and method of controlling x-ray by using the same
JP2016152909A (ja) * 2015-02-02 2016-08-25 パロデックス グループ オイPaloDEx Group Oy 小照射野x線撮影システム及び方法
KR101685005B1 (ko) * 2015-06-05 2016-12-13 한국과학기술원 저선량 엑스선 콘빔 ct 영상 장치 및 이를 이용한 영상 생성 방법
WO2016175386A3 (ko) * 2015-04-29 2017-05-18 (주)바텍이우홀딩스 엑스선 촬영 장치 및 방법
JP7495318B2 (ja) 2020-09-28 2024-06-04 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線ct装置

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01299536A (ja) * 1988-05-30 1989-12-04 Toshiba Corp X線撮影装置
JPH0443209Y2 (ja) * 1985-01-11 1992-10-13
JPH08275937A (ja) * 1995-04-05 1996-10-22 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd X線断層撮影方法および装置
JPH09224927A (ja) * 1996-02-22 1997-09-02 Toshiba Corp X線診断装置
JPH10248835A (ja) * 1997-03-12 1998-09-22 Hitachi Medical Corp 照射範囲限定式x線ct装置
JPH1119078A (ja) * 1997-07-09 1999-01-26 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JPH1128202A (ja) * 1997-07-10 1999-02-02 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2000107162A (ja) * 1998-10-01 2000-04-18 Toshiba Corp 放射線撮像装置
JP2000175903A (ja) * 1998-12-16 2000-06-27 Toshiba Corp X線ct装置
JP3090400B2 (ja) * 1994-04-05 2000-09-18 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 コンピュータ断層撮影装置
JP2001198118A (ja) * 2000-01-24 2001-07-24 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2002505903A (ja) * 1998-03-12 2002-02-26 クウォンタ ビジョン インコーポレイティド 微小角度x線断層撮影装置
JP2003116833A (ja) * 2001-10-18 2003-04-22 Toshiba Corp X線コンピュータ断層撮影装置
JP2003116844A (ja) * 2001-10-18 2003-04-22 Toshiba Corp X線コンピュータ断層撮影装置
JP2004065815A (ja) * 2002-08-09 2004-03-04 Toshiba Medical System Co Ltd 放射線量推定装置および放射線診断装置
JP2004073405A (ja) * 2002-08-14 2004-03-11 Toshiba Corp 集中照射型放射線治療装置
JP2004073406A (ja) * 2002-08-14 2004-03-11 Toshiba Corp 集中照射型放射線治療装置
JP2004136021A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Toshiba Corp 集中照射型放射線治療装置

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0443209Y2 (ja) * 1985-01-11 1992-10-13
JPH01299536A (ja) * 1988-05-30 1989-12-04 Toshiba Corp X線撮影装置
JP3090400B2 (ja) * 1994-04-05 2000-09-18 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 コンピュータ断層撮影装置
JPH08275937A (ja) * 1995-04-05 1996-10-22 Ge Yokogawa Medical Syst Ltd X線断層撮影方法および装置
JPH09224927A (ja) * 1996-02-22 1997-09-02 Toshiba Corp X線診断装置
JPH10248835A (ja) * 1997-03-12 1998-09-22 Hitachi Medical Corp 照射範囲限定式x線ct装置
JPH1119078A (ja) * 1997-07-09 1999-01-26 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JPH1128202A (ja) * 1997-07-10 1999-02-02 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2002505903A (ja) * 1998-03-12 2002-02-26 クウォンタ ビジョン インコーポレイティド 微小角度x線断層撮影装置
JP2000107162A (ja) * 1998-10-01 2000-04-18 Toshiba Corp 放射線撮像装置
JP2000175903A (ja) * 1998-12-16 2000-06-27 Toshiba Corp X線ct装置
JP2001198118A (ja) * 2000-01-24 2001-07-24 Hitachi Medical Corp X線ct装置
JP2003116833A (ja) * 2001-10-18 2003-04-22 Toshiba Corp X線コンピュータ断層撮影装置
JP2003116844A (ja) * 2001-10-18 2003-04-22 Toshiba Corp X線コンピュータ断層撮影装置
JP2004065815A (ja) * 2002-08-09 2004-03-04 Toshiba Medical System Co Ltd 放射線量推定装置および放射線診断装置
JP2004073405A (ja) * 2002-08-14 2004-03-11 Toshiba Corp 集中照射型放射線治療装置
JP2004073406A (ja) * 2002-08-14 2004-03-11 Toshiba Corp 集中照射型放射線治療装置
JP2004136021A (ja) * 2002-10-21 2004-05-13 Toshiba Corp 集中照射型放射線治療装置

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101277574B (zh) * 2007-01-05 2013-01-23 西门子公司 成像方法与装置
US8956044B2 (en) 2009-05-05 2015-02-17 Koninklijke Philips N.V. Method of acquiring an X-ray image and X-ray acquisition device comprising automatic wedge positioning
JP2012525903A (ja) * 2009-05-05 2012-10-25 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線画像を取得する方法及び自動的なウェッジの位置決めを有するx線画像取得装置
JP2013052232A (ja) * 2011-09-01 2013-03-21 General Electric Co <Ge> 計算機式断層写真法(ct)撮像での投与線量低減の方法、及び該方法を実装した装置
JP2014176515A (ja) * 2013-03-14 2014-09-25 Toshiba Corp X線ct装置
WO2014192831A1 (ja) * 2013-05-28 2014-12-04 株式会社東芝 医用画像診断装置及び制御方法
US10709408B2 (en) 2013-05-28 2020-07-14 Canon Medical Systems Corporation Medical image diagnosis apparatus and control method
US9655584B2 (en) 2013-09-13 2017-05-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Computed tomography apparatus and method of controlling X-ray by using the same
EP2862517A1 (en) * 2013-09-13 2015-04-22 Samsung Electronics Co., Ltd Computed tomography apparatus and method of controlling x-ray by using the same
JP2016152909A (ja) * 2015-02-02 2016-08-25 パロデックス グループ オイPaloDEx Group Oy 小照射野x線撮影システム及び方法
US10695008B2 (en) 2015-04-29 2020-06-30 Vatech Co. Ltd. X-ray imaging device and method
CN107708567A (zh) * 2015-04-29 2018-02-16 以友技术有限公司 X 射线成像装置和方法
WO2016175386A3 (ko) * 2015-04-29 2017-05-18 (주)바텍이우홀딩스 엑스선 촬영 장치 및 방법
CN107708567B (zh) * 2015-04-29 2021-11-05 以友技术有限公司 X射线成像装置和方法
KR101685005B1 (ko) * 2015-06-05 2016-12-13 한국과학기술원 저선량 엑스선 콘빔 ct 영상 장치 및 이를 이용한 영상 생성 방법
JP7495318B2 (ja) 2020-09-28 2024-06-04 キヤノンメディカルシステムズ株式会社 X線ct装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4619704B2 (ja) 2011-01-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111435120B (zh) X射线成像系统的使用和校准
US8199883B2 (en) X-ray flux management device
US9204852B2 (en) Systems and methods for increased energy separation in multi-energy X-ray imaging
US9380987B2 (en) X-ray CT device
JP2004180715A (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
US20150146844A1 (en) Method and system for spectral computed tomography (ct) with inner ring geometry
JP2009201885A (ja) X線ct装置
JPWO2008096813A1 (ja) X線ct装置
JP2009125250A (ja) X線ct装置
US20160038108A1 (en) X-ray ct apparatus
US8792610B2 (en) Method and apparatus for X-ray CT imaging
JP4619704B2 (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
JP4041040B2 (ja) 放射線断層撮影装置
JP3977624B2 (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
JPH05305077A (ja) X線ct装置
KR101954644B1 (ko) 셔터 스캔을 이용하는 단층영상합성 장치 및 그것의 제어 방법
JP2010284325A (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
JP2007044496A (ja) X線ct装置
JP7233865B2 (ja) X線ct装置及び補正方法
JP3265035B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置
JP2006075339A (ja) 放射線撮影装置およびその放射線スキャン装置
US9784694B2 (en) X-ray computed tomography apparatus and reconstruction processing method
WO2014189048A1 (ja) X線コンピュータ断層撮影装置、天板制御装置、および天板制御方法
JP4430987B2 (ja) 放射線断層撮影装置およびその断層撮影方法、補正データ算出方法
JP2024048724A (ja) 医用画像処理装置及び医用画像処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070622

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100309

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100311

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100928

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101027

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131105

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees