JP2003116833A - X線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents

X線コンピュータ断層撮影装置

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JP2003116833A JP2001320928A JP2001320928A JP2003116833A JP 2003116833 A JP2003116833 A JP 2003116833A JP 2001320928 A JP2001320928 A JP 2001320928A JP 2001320928 A JP2001320928 A JP 2001320928A JP 2003116833 A JP2003116833 A JP 2003116833A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明の目的は、X線コンピュータ断層撮影装
置において、被曝量の低減と高画質の確保とを両立する
ことにある。 【解決手段】略円環状の回転架台に搭載された第1X線
管球111と、開度可変の第1X線絞り装置112と、
第1X線検出器113と、回転架台上の第1X線管球か
ら円周方向に所定角度ずれた位置に搭載される第2X線
管装置121と、開度可変の第2X線絞り装置122
と、第2X線検出器123と、第2X線絞り装置122
の開度を第1X線絞り装置112の開度より狭く設定す
る制御部14と、第2X線検出器123による投影デー
タと第1X線検出器113による投影データとに基づい
て画像データを再構成する再構成ユニット24とを具備
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、X線コンピュータ
断層撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】周知のとおり、X線コンピュータ断層撮
影装置は、被検体を多方向からX線で走査することによ
り収集した投影データに基づいて断面の減弱係数分布、
つまり断層像を再構成することを実現した装置である。
【0003】近年、被検体を透過したX線をダイレクト
に電荷に変換する半導体検出器の開発が進み、その感度
向上に伴ってX線量の低減、つまり被曝量の低減化が進
行している。
【0004】しかし、被曝量の低減にも限界があり、あ
る一定量以下になると、濃度分解能が著しく下がり、診
断に耐えうるような画質を確保することができなくな
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、X線
コンピュータ断層撮影装置において、被曝量の低減と高
画質の確保とを両立することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のX線コンピュー
タ断層撮影装置は、略円環状の回転架台に搭載され、被
検体にX線を照射する第1X線管球と、前記被検体と前
記第1X線管球との間に配置される開度可変の第1X線
絞り装置と、前記回転架台上の前記第1X線管球に対向
する位置に搭載される第1X線検出器と、前記回転架台
上の前記第1X線管球から円周方向に所定角度ずれた位
置に搭載される第2X線管装置と、前記被検体と前記第
2X線管球との間に配置される開度可変の第2X線絞り
装置と、前記回転架台上の前記第2X線管装置に対向す
る位置に搭載される第2X線検出器と、前記第2X線絞
り装置の開度を前記第1X線絞り装置の開度より狭く設
定する制御部と、前記第2X線検出器による投影データ
と、前記第1X線検出器による投影データとに基づいて
画像データを再構成する再構成部とを具備することを特
徴とする。本発明のX線コンピュータ断層撮影装置は、
X線管球装置とX線検出器とのペアを複数装備するX線
コンピュータ断層撮影装置において、前記複数のペアの
中の少なくとも1つのペアのX線管球装置は他のペアの
X線管球装置よりもX線の広がり角が狭く設定され、前
記複数のペアにより収集された投影データに基づいて画
像データを再構成することを特徴とする。本発明のX線
コンピュータ断層撮影装置は、X線管球装置とX線検出
器とのペアを複数装備するX線コンピュータ断層撮影装
置において、前記複数のペアの中の少なくとも1つのX
線管球装置のX線広がり角は、他のペアのX線管球装置
のX線広がり角と相違することを特徴とする。本発明の
X線コンピュータ断層撮影装置は、X線管球装置とX線
検出器とのペアを複数装備するX線コンピュータ断層撮
影装置において、前記複数のペアの中の少なくとも1つ
のX線管球装置のX線広がり角を、他のペアのX線管球
装置のX線広がり角と相違させることが可能である。
【0007】本発明のX線コンピュータ断層撮影装置
は、X線管球装置とX線検出器とのペアを複数装備する
X線コンピュータ断層撮影装置において、前記複数のペ
アのX線管球装置のX線広がり角は個別に調整可能であ
ることを特徴とする。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明によ
るX線コンピュータ断層撮影装置を好ましい実施形態に
より説明する。なお、X線コンピュータ断層撮影装置の
スキャン方式としては、X線管とX線検出器とが1体と
して被検体の周囲を回転するローテート/ローテートタ
イプ、リング状にアレイされた多数の検出素子が固定さ
れ、X線管のみが被検体の周囲を回転するステーショナ
リ/ローテートタイプ等様々なタイプがあり、いずれの
タイプでも本発明を適用可能であるが、ここではローテ
ート/ローテートタイプを例に説明する。また、1枚の
断層像データを再構成するには、被検体の周囲1周、約
360°分の投影データの1セットが、またハーフスキ
ャン法でも180°+ファン角分の投影データが必要と
される。ここでは、前者の例で説明する。なお、投影デ
ータとは、X線パス上の組織等の減弱係数(又は吸収係
数)の通過距離に関する積分データとして定義される。
【0009】図1に、本実施形態に係るX線コンピュー
タ断層撮影装置の主要部の構成を示している。本実施形
態のX線コンピュータ断層撮影装置は、スキャンガント
リ1とコンピュータ装置2と図示しない寝台とから構成
される。スキャンガントリ1は、被検体に関する投影デ
ータを収集するための構成要素であり、その投影データ
はコンピュータ装置2に取り込まれ、画像再構成等の処
理に供される。被検体は、寝台の天板に載置された状態
でスキャンガントリ1の撮影領域内に挿入される。
【0010】コンピュータ装置2は、中央制御ユニット
21と、それに対してデータ/制御バス22を介して接
続されたデータ補完ユニット23、画像再構成ユニット
24及び画像表示ユニット25から構成される。
【0011】スキャンガントリ1は、多管球型であり、
つまり円環状の回転架台に、X線管装置とX線検出器と
のペアが複数搭載されている。ここでは、2管球型とし
て説明する。第1ペア11は、第1X線管装置110
と、それに対向する多チャンネル型の第1X線検出器1
13とが回転架台に搭載されている。第2ペア12は、
第2X線管装置120と、それに対向する多チャンネル
型の第2X線検出器123とが、その中心軸が第1ペア
11の中心軸と回転軸RAで所定角度(ここでは90°
と仮定する)交差し、且つ第1ペア11と同じ断面(ス
ライス)を走査する位置関係で回転架台に搭載されてい
る。
【0012】第1X線管装置110は、第1X線管球1
11と、第1X線管球111と被検体との間に配置され
る、具体的には第1X線管球111のX線放射窓の直前
に取り付けられる第1X線絞り装置120等の周辺要素
とから構成される。この第1X線絞り装置120は、第
1X線管球111から放射されるX線の広がり角(ファ
ン角、視野角ともいう)を制限するための装置であり、
複数の可動式遮蔽板と、それらを個々に移動する駆動部
とを備えている。複数の可動式遮蔽板各々の位置を制御
することにより、開口の開度および開口の中心位置を任
意に調整することができるようになっている。
【0013】第2X線管装置120も同様に、第2X線
管球121と、第2X線絞り装置122等の周辺要素と
から構成される。また、第2X線絞り装置122も、第
1X線絞り装置112と同様に、第2X線管球121か
ら放射されるX線の広がり角(ファン角)を制限するた
めの装置であり、複数の可動式遮蔽板と、それらを個々
に移動する駆動部とを備え、複数の可動式遮蔽板各々の
位置を制御することにより、開口の開度および開口の中
心位置を任意に調整することができるようになってい
る。
【0014】X線制御部13は、管電圧及びフィラメン
ト電流(フィラメント電流により管電流が制御される)
を第1、第2X線管球111,121に対して個別に印
加及び供給することができるように、第1X線管球11
1と第2X線管球121とにそれぞれ対応する2系統の
高電圧発生器を装備している。これら2系統の高電圧発
生器から第1、第2X線管球111、121に印加され
る管電圧及びフィラメント電流は、スキャン制御部14
の制御のもとにある。このX線制御部13に対する制御
とともに、スキャン制御部14は、第1、第2X線絞り
装置112、122それぞれの開口の開度および開口の
中心位置、さらには回転架台の回転、天板のスライド等
スキャンに関わる全てのオペレーション制御を担当す
る。
【0015】第1、第2X線検出器113、123の出
力は、それぞれデータ収集部114、124、図示しな
いが連続回転を可能にするスリップリング及び前処理部
を介して投影データとしてコンピュータ装置2に供給さ
れる。コンピュータ装置2のデータ補完ユニット23で
は、詳細は後述するが、第2X線検出器123の投影デ
ータの欠落部分を第1X線検出器113の投影データで
補完する。この補完された投影データに基づいて再構成
ユニット24で断層像データが再構成され、画像表示ユ
ニット25に表示される。
【0016】図2には、スキャン制御部14により調整
された第1X線絞り装置112の開度と第2X線絞り装
置122の開度とを示している。第2X線絞り装置12
2の開度は、第1X線絞り装置112の開度よりも大き
く設定される。第1X線絞り装置112の開度A1は、
第1X線管球111からのX線が被検体断面の全域に照
射する程度に比較的広く設定され、一方、第2X線絞り
装置122の開度A2は、第2X線管球121からのX
線が被検体断面内の関心部位(関心領域)だけを限定的
に照射し、関心部位以外の部分には照射しない程度に比
較的狭く設定される。実際には、それぞれの開度A1,
A2は、被検体の体格及び関心部位の種類等のパラメー
タに応じた標準値に設定してもよいし、低曝射でプリス
キャンして得た断層像から被検体個別値に設定するよう
にしてもよい。
【0017】このように互いに相違する開度でスキャン
が行われる。スキャンに際しては、第1X線管球111
から曝射されるX線の線量は、第2X線管球121から
曝射されるX線の線量よりも低く設定される。具体的に
は、第1X線管球111に印加される管電圧TV1と、
第2X線管球121に印加される管電圧TV1とは等価
又は略等価に設定され、一方、第1X線管球111のフ
ィラメント電流(管電流:TC1)は、第2X線管球1
21のフィラメント電流(管電流:TC2)よりも低く
設定される。例えば第2X線管球121の管電流は25
0mAに、第1X線管球111の管電流は50mAに設
定される。このように管電圧は同じに、管電流を相違さ
せることにより、線量は相違するが、線質は同じに揃え
ることができる。
【0018】このような設定のもとでスキャンが行わ
れ、第1、第2X線検出器113、123で検出された
投影データは、コンピュータ装置2のデータ補完ユニッ
ト23に供給される。第2ペア12のX線は被検体断面
全域をカバーしていないので、その第2X線検出器12
3で検出した投影データだけでは断層像を実質的に再構
成することはできない。つまり、第2X線検出器123
のチャンネルのうち、狭い開度に起因して、一部のチャ
ンネルでデータ欠落を起こしている。この欠落している
チャンネルのデータを、第1X線検出器113の対応す
るチャンネルの投影データで補完する処理が、データ補
完ユニット23で行われる。
【0019】図3は、第1、第2のX線管球111,1
21それぞれの軌道を示している。第2X線管球121
は、第1X線管球111に対して90°遅れる位置に配
置されているので、その角度分だけ第1X線管球111
から遅れた軌道を描いている。ここで、回転角α°に注
目する。図4には、第2X線管球121が回転角α°に
あるときの第2X線検出器123により検出された投影
データ分布を示している。X線が照射されていない部分
のチャンネルのデータが欠落していることが伺える。こ
のデータ欠落を起こしているチャンネルの投影データ
を、第1X線管球111が同じ回転角α°にあるときに
第1X線検出器113により検出された同じチャンネル
の投影データにより補完する。
【0020】実際には、線量が相違し、それに応じて基
準レベルが相違するので、基準レベルを揃えるために、
加重加算する。回転角をθ、チャンネルをch、第1X
線検出器113で検出された投影データをPD1、第2
X線検出器123で検出された投影データをPD2と表
すと、補完ユニット23から出力される投影データPD
は、次のように表される。
【0021】PD(θ、ch)=a・PD1(θ、c
h)+b・PD2(θ、ch) a,bは重み係数であり、その関係は、a>bであっ
て、第2X線管球121に対する第1X線管球111の
線量比をcとすると、a=c・bを満たすように設定さ
れる。例えば上述した管電圧、管電流の条件と同様に、
線量比cが、(50mA/250mA)=1/5と仮定
すると、a=5、b=1に設定される。
【0022】なお、実際には、第2ペア12でデータ欠
落を起こしているチャンネルでは、a=5、b=0に、
第2ペア12でデータ欠落を起こしてないチャンネルで
は、a=0、b=1に変化させ、データ欠落を起こして
いるチャンネルだけを第1ペア11で収集した投影デー
タで補完する処理が典型的である。
【0023】このようにファン角が狭いが線量の高いX
線と、ファン角が広いが線量の低いX線とを併用するこ
とにより、必要な部分、つまり関心部位に対しては高分
解能で高画質を提供しながら、それと共に関心部位及び
それ以外の部分全体に線量の高いX線を照射するのに比
べて被曝量を低く抑えることができる。
【0024】実際の撮影手順では、いずれか一方のペア
11又は12を使って、低い線量のX線を被検体断面全
域に照射する条件のもとでプリスキャンを行い、それに
より取得した比較的低分解能の断層像から関心部位を同
定し、その大きさから第2X線絞り装置122の開口開
度を設定するとともに、図5に示すように、寝台天板の
左右上下動の調整により回転軸RA上に関心部位を配置
した状態を確保することが必要と考えられる。この状態
では、第2X線絞り装置122の開口位置は、回転中、
固定的で良い。
【0025】しかし、図6に示すように、回転軸RA上
に関心部位を配置した状態を確保することが不可能又は
困難な場合がまったくないとは言えない。この場合に
は、第2X線管球121が1周の中のどの回転角にあっ
ても常に関心部位をそのX線の視野内に捕らえるように
広い開口に設定する必要がある。しかし、この設定で
は、被曝量を最小限に抑えることはできない。そのた
め、第2X線絞り装置122の開口を関心部位の大きさ
に絞った狭い開度に設定した上で、第2X線管球121
が1周の中のどの回転角にあっても常に関心部位をその
X線の狭い視野内に捕らえるように、第2X線絞り装置
122の開口位置を回転角に同期させて移動させること
が有効である。第2X線絞り装置122の開口位置と、
回転角との関係は、プリスキャンで取得した断層像上で
の関心部位の位置と、回転軸RAの位置と、第2X線管
球121の焦点の位置との3者の位置関係から幾何学的
に求めることができる。この第2X線絞り装置122の
開口位置と回転角との関係に従って、スキャン制御部1
4では、第2X線絞り装置122の開口位置を回転角に
同期させて移動させるために第2X線絞り装置122を
制御することができる。
【0026】本発明は上述した実施形態に限定されず、
種々変形して実施可能である。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、X線コンピュータ断層
撮影装置において、被曝量の低減と高画質の確保とを両
立することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るX線コンピュータ断層
撮影装置の主要部の構成図。
【図2】図1の第1、第2X線絞り装置それぞれの開度
を示す図。
【図3】図1の第1、第2のX線管球それぞれの軌道を
示す図。
【図4】図1の第1、第2ペアそれぞれの投影データを
概略的に示す図。
【図5】本実施形態において、回転軸上に関心部位が存
在する場合、回転中の第2X線絞り装置の開度及び開口
位置が変化しない様子を示す図。
【図6】本実施形態において、回転軸からずれた位置に
関心部位が存在する場合、回転に伴って第2X線絞り装
置の開度及び開口位置が変化する様子を示す図。
【符号の説明】
1…スキャンガントリ、 11…第1ペア、 110…第1X線管装置、 111…第1X線管球、 112…第1X線絞り装置、 113…第1検出器、 114…第1データ収集部、 12…第2ペア、 120…第2X線管装置、 121…第2X線管球、 122…第2X線絞り装置、 123…第2検出器、 124…第2データ収集部、 13…X線制御部、 14…スキャン制御部、 2…コンピュータ装置、 21…中央制御ユニット、 22…データ/制御バス、 23…データ補間ユニット、 24…再構成ユニット、 25…画像表示ユニット。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中島 成幸 栃木県大田原市下石上字東山1385番の1 株式会社東芝那須工場内 Fターム(参考) 4C093 AA22 BA03 CA02 CA34 EA02 EA06 EA14 EB18 FF28

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 略円環状の回転架台に搭載され、被検体
    にX線を照射する第1X線管球と、 前記被検体と前記第1X線管球との間に配置される開度
    可変の第1X線絞り装置と、 前記回転架台上の前記第1X線管球に対向する位置に搭
    載される第1X線検出器と、 前記回転架台上の前記第1X線管球から円周方向に所定
    角度ずれた位置に搭載される第2X線管装置と、 前記被検体と前記第2X線管球との間に配置される開度
    可変の第2X線絞り装置と、 前記回転架台上の前記第2X線管装置に対向する位置に
    搭載される第2X線検出器と、 前記第2X線絞り装置の開度を前記第1X線絞り装置の
    開度より狭く設定する制御部と、 前記第2X線検出器による投影データと、前記第1X線
    検出器による投影データとに基づいて画像データを再構
    成する再構成部とを具備することを特徴とするX線コン
    ピュータ断層撮影装置。
  2. 【請求項2】 前記第2X線管球のX線量を前記第1X
    線管球のX線量よりも高く設定するX線制御部をさらに
    備えることを特徴とする請求項1記載のX線コンピュー
    タ断層撮影装置。
  3. 【請求項3】 前記第2X線管球の管電流を前記第1X
    線管球の管電流よりも高く設定するX線制御部をさらに
    備えることを特徴とする請求項1記載のX線コンピュー
    タ断層撮影装置。
  4. 【請求項4】 前記第1、前記第2X線管球の管電圧を
    略等価に設定するX線制御部をさらに備えることを特徴
    とする請求項3記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  5. 【請求項5】 前記第2X線検出器のチャンネルのう
    ち、狭い開度に起因してデータ欠落を起こしたチャンネ
    ルの投影データを、前記第1X線検出器の対応するチャ
    ンネルの投影データで補完するデータ補完部をさらに備
    えることを特徴とする請求項1記載のX線コンピュータ
    断層撮影装置。
  6. 【請求項6】 前記制御部は、前記第2X線絞り装置の
    開口の位置を回転に伴って変化させることを特徴とする
    請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
  7. 【請求項7】 X線管球装置とX線検出器とのペアを複
    数装備するX線コンピュータ断層撮影装置において、前
    記複数のペアの中の少なくとも1つのペアのX線管球装
    置は他のペアのX線管球装置よりもX線の広がり角が狭
    く設定され、前記複数のペアにより収集された投影デー
    タに基づいて画像データを再構成することを特徴とする
    X線コンピュータ断層撮影装置。
  8. 【請求項8】 前記X線の広がり角が狭く設定されてい
    るペアは、前記他のペアよりも、前記X線管球の管電流
    が高く設定されることを特徴とする請求項7記載のX線
    コンピュータ断層撮影装置。
  9. 【請求項9】 前記X線の広がり角が狭く設定されてい
    るペアは、前記他のペアと、前記X線管球の管電圧が略
    等価に設定されることを特徴とする請求項8記載のX線
    コンピュータ断層撮影装置。
  10. 【請求項10】 X線管球装置とX線検出器とのペアを
    複数装備するX線コンピュータ断層撮影装置において、
    前記複数のペアの中の少なくとも1つのX線管球装置の
    X線広がり角は、他のペアのX線管球装置のX線広がり
    角と相違することを特徴とするX線コンピュータ断層撮
    影装置。
  11. 【請求項11】 X線管球装置とX線検出器とのペアを
    複数装備するX線コンピュータ断層撮影装置において、
    前記複数のペアの中の少なくとも1つのX線管球装置の
    X線広がり角を、他のペアのX線管球装置のX線広がり
    角と相違させることが可能であることを特徴とするX線
    コンピュータ断層撮影装置。
  12. 【請求項12】 X線管球装置とX線検出器とのペアを
    複数装備するX線コンピュータ断層撮影装置において、
    前記複数のペアのX線管球装置のX線広がり角は個別に
    調整可能であることを特徴とするX線コンピュータ断層
    撮影装置。
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