JPH08275937A

JPH08275937A - Ｘ線断層撮影方法および装置

Info

Publication number: JPH08275937A
Application number: JP7080367A
Authority: JP
Inventors: Natsuko Satou; 夏子佐藤; Eiji Yoshitome; 英二吉留
Original assignee: GE Yokogawa Medical System Ltd
Current assignee: GE Healthcare Japan Corp
Priority date: 1995-04-05
Filing date: 1995-04-05
Publication date: 1996-10-22

Abstract

(57)【要約】【目的】簡易な構成で高分解能の断層像が得られるＸ
線断層撮影方法および装置を実現することである。【構成】Ｘ線断層撮影装置において、Ｘ線発生手段１
の焦点からＸ線検出手段２までの距離を可変にする距離
可変手段１４と、Ｘ線発生手段１の焦点から検出手段２
までの距離に応じてＸ線検出手段２に入射するＸ線の指
向性を調節する指向性調節手段１３，２１とを具備する
ことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、Ｘ線断層撮影方法およ
び装置に関する。さらに詳しくは、本発明は、Ｘ線源の
焦点からある広がり角度で発散するＸ線を用いて断層撮
影を行なうに当たり、Ｘ線源の焦点とＸ線検出器との間
の距離を可変にすることにより、Ｘ線利用効率の良い高
分解能の画像が撮影できるＸ線断層撮影方法および装置
である。

【０００２】

【従来の技術】例えば扇状ビームＸ線のように焦点から
ある広がり角度で発散するＸ線を用いるＸ線断層撮影装
置においては、ＦＯＶ(field of view) 中心からＸ線の
焦点までの距離をＦＯＶ寸法に応じて変化させ、ＦＯＶ
が常に扇状ビームの開き角度の範囲一杯に収まるように
することがある。このようにした場合、扇状ビームＸ線
のほぼ全部がＦＯＶを通るようになるので、Ｘ線利用効
率の良い撮影を行うことができる。

【０００３】そのようなＸ線断層撮影装置の従来例とし
ては、例えば特開昭５３−９４９４号に記載されたもの
がある。図５は同従来例におけるＸ線源とＸ線検出器と
ＦＯＶの関係を示す模式図である。図５において、１は
Ｘ線源、１１はＸ線の焦点、２はＸ線検出器、３はＦＯ
Ｖ中心、３１，３２は大きさがそれぞれ異なるＦＯＶで
ある。

【０００４】Ｘ線源１は焦点１１から開き角度Ａの扇状
のＸ線ビーム(beam)を照射するものである。Ｘ線検出器
２はＸ線源１と対向し、開き角度Ａの扇状のＸ線ビーム
を受け止めるものである。

【０００５】Ｘ線源１とＸ線検出器２はこのような対向
関係を保ってガントリ(gantry)に組み込まれ、一体とな
ってＦＯＶ中心３の周りを回転し、ＦＯＶ３１または３
２に位置する被検体（図示しない）をスキャン(scan)で
きるようになっている。そして回転軌道上の例えば数百
個のビューポイント(view point)においてＸ線検出器２
に入射するＸ線量がそれぞれ測定される。

【０００６】Ｘ線源１とＸ線検出器２は、また、一体と
して回転の半径方向にも移動できるようになっており、
図５に示すように、大きなＦＯＶ３１に対してはＦＯＶ
中心３からＸ線源１の焦点１１までの距離をＤ１とし、
小さなＦＯＶ３２に対しては同距離をＤ２とする。これ
によって、それぞれのＦＯＶ３１，３２が扇状のＸ線ビ
ームの開き角度一杯に収まるようになり、Ｘ線利用効率
の良い撮影が行なえる。なお、このときＦＯＶ中心３か
らＸ線検出器２までの距離はそれぞれｄ１，ｄ２とな
る。

【０００７】Ｘ線検出器２は例えば数百個の検出素子の
１次元アレイ(array) で構成され、検出素子毎にＸ線測
定信号を生じる。各検出素子はＸ線を透過させない材
料、例えばモリブデン等からなる電極で仕切られた電離
箱になっており、各電極がＸ線の焦点に向かって放射状
に配列され、各検出素子に入射するＸ線をコリメート(c
ollimate) している。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】Ｘ線源１とＸ線検出器
２は、スキャン中および半径方向移動中も正確なコリメ
ーションを維持できるようにするため、精密でかつ頑丈
な支持機構を有するＸ線照射・検出系として構成され
る。このようなＸ線照射・検出系はかなり重いものとな
るから、これらを一体として半径方向に移動させるため
の駆動機構は、大きな駆動力を持つものが必要とされ
る。そのような駆動機構は大型なものになるか、あるい
は小型にするとしても高性能のものが要求されるので、
コスト高になる。

【０００９】これを避けるためには、Ｘ線源１のみをＦ
ＯＶの大きさに応じて動かすことが考えられる。すなわ
ち、小さなＦＯＶ３２を撮影するときは、例えば図５に
おいて、Ｘ線検出器２は距離ｄ１の位置に留めたまま
で、Ｘ線源１のみを距離Ｄ２の位置に動かすようにする
ものである。これによってコリメーションに合致したＸ
線がＸ線検出器２に照射されるが、しかしその反面、Ｘ
線検出器２の両端部の幾つかの検出素子はＦＯＶ３２を
通過したＸ線の検出に関わらなくなるので、測定データ
の数が減少し、そのような測定データに基づいて得られ
る断層像は分解能の低いものとなる。

【００１０】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、その目的は、簡易な構成で高分解能の
断層像が得られるＸ線断層撮影方法および装置を実現す
ることである。

【００１１】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決する第
１の手段は、Ｘ線源の焦点から発散するＸ線を被検体が
配置される測定空間に照射し、前記測定空間に配置され
た被検体を透過して入射するＸ線を複数の検出素子を有
するＸ線検出器で検出し、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出器
を前記被検体の周りを回転させ、回転軌道上の複数の位
置で得られるＸ線検出信号に基づいて被検体の断層像を
求めるＸ線断層撮影方法において、前記Ｘ線源の焦点か
ら前記Ｘ線検出器までの距離を可変にしたことを特徴と
するＸ線断層撮影方法である。

【００１２】前記の課題を解決する第１の手段におい
て、前記Ｘ線検出手段に照射されるＸ線の指向性を前記
Ｘ線発生手段の焦点から前記検出手段までの距離に応じ
て調節することが、照射Ｘ線の指向性を適正化する点で
好ましい。

【００１３】前記の課題を解決する第１の手段におい
て、Ｘ線発散の指向性を前記Ｘ線源の焦点から前記Ｘ線
検出器までの距離に応じて調節することが、Ｘ線の照射
範囲を適正化する点で好ましい。

【００１４】前記の課題を解決する第１の手段におい
て、前記Ｘ線検出器に入射するＸ線の指向性を前記Ｘ線
源の焦点から前記Ｘ線検出器までの距離に応じて調節す
ることが、Ｘ線の入射方向を適正化する点で好ましい。

【００１５】前記の課題を解決する第１の手段におい
て、Ｘ線発散の指向性と前記Ｘ線検出器に入射するＸ線
の指向性を前記Ｘ線源の焦点から前記Ｘ線検出器までの
距離に応じてそれぞれ調節することが、Ｘ線の照射範囲
とＸ線の入射方向をそれぞれ適正化する点で好ましい。

【００１６】前記の課題を解決する第２の手段は、焦点
から発散するＸ線を被検体が配置される測定空間に照射
するＸ線照射手段と、前記測定空間に配置された被検体
を透過して入射するＸ線を検出する複数の検出素子を有
するＸ線検出手段と、前記Ｘ線発生手段と前記Ｘ線検出
手段を前記被検体の周りを回転させる回転手段と、回転
軌道上の複数の位置で得られるＸ線検出信号に基づいて
被検体の断層像を形成する断層像形成手段とを有するＸ
線断層撮影装置において、前記Ｘ線発生手段の焦点から
前記検Ｘ線出手段までの距離を可変にする距離可変手段
を具備することを特徴とするＸ線断層撮影装置である。

【００１７】前記の課題を解決する第３の手段は、焦点
から発散するＸ線を被検体が配置される測定空間に照射
するＸ線照射手段と、前記測定空間に配置された被検体
を透過して入射するＸ線を検出する複数の検出素子を有
するＸ線検出手段と、前記Ｘ線発生手段と前記Ｘ線検出
手段を前記被検体の周りを回転させる回転手段と、回転
軌道上の複数の位置で得られるＸ線検出信号に基づいて
被検体の断層像を形成する断層像形成手段とを有するＸ
線断層撮影装置において、前記Ｘ線発生手段の焦点から
前記Ｘ線検出手段までの距離を可変にする距離可変手段
と、前記Ｘ線発生手段の焦点から前記検出手段までの距
離に応じて前記Ｘ線検出手段に照射されるＸ線の指向性
を調節する指向性調節手段とを具備することを特徴とす
るＸ線断層撮影装置である。

【００１８】前記の課題を解決する第３の手段におい
て、前記指向性調節手段は、Ｘ線発散の指向性を前記Ｘ
線源の焦点から前記Ｘ線検出器までの距離に応じて調節
するものであることが、Ｘ線の照射範囲を適正化する点
で好ましい。

【００１９】前記の課題を解決する第３の手段におい
て、前記指向性調節手段は、前記Ｘ線検出器に入射する
Ｘ線の指向性を前記Ｘ線源の焦点から前記Ｘ線検出器ま
での距離に応じて調節するものであることが、Ｘ線の入
射方向を適正化する点で好ましい。

【００２０】前記の課題を解決する第３の手段におい
て、前記指向性調節手段は、Ｘ線発散の指向性と前記Ｘ
線検出器に入射するＸ線の指向性を前記Ｘ線源の焦点か
ら前記Ｘ線検出器までの距離に応じてそれぞれ調節する
ものであることが、Ｘ線の照射範囲とＸ線の入射方向を
それぞれ適正化する点で好ましい。

【００２１】前記の課題を解決する第４の手段は、焦点
から発散するＸ線を被検体が配置される測定空間に照射
するＸ線照射手段と、前記測定空間に配置された被検体
を透過して入射するＸ線を検出する複数の検出素子を有
するＸ線検出手段と、前記Ｘ線発生手段と前記Ｘ線検出
手段を前記被検体の周りを回転させる回転手段と、回転
軌道上の複数の位置で得られるＸ線検出信号に基づいて
被検体の断層像を形成する断層像形成手段とを有するＸ
線断層撮影装置において、前記Ｘ線発生手段の焦点から
前記Ｘ線検出手段までの距離を可変にする距離可変手段
と、前記Ｘ線発生手段の焦点から前記Ｘ線検出手段まで
の距離を複数通りに設定して得られるＸ線検出信号に基
づいて被検体の断層像を形成する断層像形成手段とを具
備することを特徴とするＸ線断層撮影装置である。

【００２２】

【作用】課題を解決する第１の手段では、ＦＯＶの大き
さに応じてＸ線源の焦点からＸ線検出器までの距離を変
更し、ＦＯＶをＸ線検出器の有効検出範囲のほぼ全域に
わたって投影する。

【００２３】課題を解決する第２の手段では、距離可変
手段によりＦＯＶの大きさに応じてＸ線発生手段の焦点
からＸ線検出手段までの距離を変更し、ＦＯＶをＸ線検
出手段の有効検出範囲のほぼ全域にわたって投影する。

【００２４】課題を解決する第３の手段では、距離可変
手段によりＦＯＶの大きさに応じてＸ線発生手段の焦点
からＸ線検出手段までの距離を変更し、指向性調節手段
によりＸ線検出手段に照射されるＸ線の指向性を調節
し、これによってＦＯＶをＸ線検出手段の有効検出範囲
のほぼ全域にわたって投影する。

【００２５】課題を解決する第４の手段では、距離可変
手段によりＸ線発生手段の焦点からＸ線検出手段までの
距離を複数通り設定し、前記断層像形成手段により複数
通りの設定距離毎に得られるＸ線検出信号に基づいて被
検体の断層像を形成する。

【００２６】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１は本発明実施例の装置の要部の構成
図、図２は本発明実施例の装置の全体構成を示すブロッ
ク図である。なお、本発明実施例の方法は本発明実施例
の装置の動作で示される。

【００２７】図１において、１は例えばＸ線管等のＸ線
源、１２はＸ線源の両側の支持腕、１３はＸ線源のコリ
メータ、１４は一対の案内機構、２はＸ線検出器、２１
はＸ線検出器のコリメータ、３はＦＯＶ中心、４は回転
体である。

【００２８】回転体４は、駆動機構（図示しない）によ
って駆動され、ＦＯＶ中心３を中心として図の面内で回
転するものである。この回転体４上に、Ｘ線源１とＸ線
検出器２がＦＯＶ中心３を挟んで対向するように取り付
けられ、Ｘ線照射・検出系を構成する。Ｘ線源１は本発
明におけるＸ線照射手段の一例である。Ｘ線検出器２は
本発明におけるＸ線検出手段の一例である。回転体４は
本発明における回転手段の一例である。

【００２９】具体的には、ＦＯＶ中心３に関して回転体
４の一方の側に一対の案内機構１４が取り付けられ、こ
れら一対の案内機構１４にＸ線源１がその両側の支持腕
１２を利用して取り付けられる。

【００３０】Ｘ線源１は、案内機構１４に組み込まれた
駆動部によって駆動されて、案内機構１４に沿って平行
移動できるようになっている。図１ではＸ線源１がＦＯ
Ｖ中心３から最も遠い位置にある状態を実線で示し、Ｆ
ＯＶ中心３に最も近い位置にある状態を破線で示す。案
内機構１４は本発明における距離可変手段の一例であ
る。

【００３１】駆動部としては、例えば、案内機構１４に
スクリューネジが切られた案内軸を設け、このネジに適
合するネジ穴をＸ線源の両支持腕１２に設けて、これら
ネジとネジ穴で両者を組合せ、案内軸を電動機等によっ
て回転させるようにしたものが用いられる。この駆動部
は、簡単な機構で精密な移動が行なえる点で好ましい
が、これに限らず適宜のものを用いることができる。

【００３２】Ｘ線源１のＸ線出射窓の前面にはコリメー
タ１３が設けられる。このコリメータ１３によって扇状
のＸ線ビームが形成される。コリメータ１３は可変のも
のであり、Ｘ線ビームの開き角度を変えられるようにな
っている。コリメータ１３は本発明における指向性調節
手段の一例である。

【００３３】ＦＯＶ中心３に関して回転体４の他方の側
には、Ｘ線源１に対向してＸ線検出器２が取り付けられ
る。Ｘ線検出器２は、半導体例えばカドミウム・テルル
(CdTe)を用いた固体検出器であり、例えば数百個の検出
素子の１次元アレイで構成され、検出素子の数に対応し
たＸ線測定信号を生じるものである。

【００３４】Ｘ線検出器２のＸ線入射面にはコリメータ
２１が設けられる。このコリメータ２１は各検出素子毎
に入射Ｘ線の方向をＸ線焦点の方向に合わせるものであ
り、例えば鉛等のＸ線に不透過な材料からなる仕切板を
Ｘ線焦点の方向に放射状に並べて構成される。仕切板の
放射状の角度は調節できるようになっている。コリメー
タ２１は本発明における指向性調節手段の一例である。

【００３５】図２において、１００はガントリ、１１０
は被検体挿入孔、２００は被検体、３００は被検体支持
装置、３１０は天板、４００はデータ収集装置、５００
は画像再構成装置、６００は表示装置、７００は制御装
置、８００は操作装置である。

【００３６】ガントリ１００は、その内部に図１で説明
したＸ線照射・検出系を有する。ガントリ１００の被検
体挿入孔１１０には、被検体２００が被検体支持装置３
００の天板３１０に載置されて挿入される。ガントリ１
００の内部のＸ線照射・検出系は被検体２００の周りを
回転してスキャンし、回転軌道上の例えば数百個のビュ
ーポイントにおいてＸ線検出器２の各検出素子に入射す
る透過Ｘ線量をそれぞれ測定する。

【００３７】データ収集装置４００は、Ｘ線検出器２の
測定信号を収集し、得られたデータについて所定の前処
理や補正を施して画像再構成装置５００に入力するもの
である。画像再構成装置５００はデータ収集装置４００
から入力されたデータに基づいて被検体２００の断層像
を再構成するものである。これらデータ収集装置４００
と画像再構成装置５００は、本発明における断層像形成
手段の一例である。表示装置６００は再構成画像を可視
像として表示するものである。

【００３８】制御装置７００は、ガントリ１００、被検
体支持装置３００、データ収集装置４００、画像再構成
装置５００および表示装置６００にそれぞれ制御信号を
与えてそれらの動作を制御するものである。操作装置８
００は、操作者によって操作され制御装置７００に指令
を与えるものである。

【００３９】次に、本発明実施例の装置の動作を説明す
る。動作説明図を図３に示す。撮影に先立って、操作者
により操作装置８００を通じてＦＯＶの設定が行なわれ
る。ＦＯＶは被検体２００の体格や撮影部位に応じて例
えば直径２５ｃｍ〜４２ｃｍの範囲で適切なものが設定
される。

【００４０】ＦＯＶが設定されると、制御装置７００は
案内機構１４を制御してＦＯＶに対応したＸ線源１の位
置決めを行う。Ｘ線源１の位置決めは図３に示すよう
に、Ｘ線検出器２の有効検出範囲の両端からＦＯＶに外
接して延びる２つの直線を想定したとき、その交点にＸ
線の焦点１１が一致するように行なわれる。これによっ
て、大きいＦＯＶ３１が設定されたときは、焦点１１が
Ｘ線検出器２からＬ１の距離になるように位置決めさ
れ、小さいＦＯＶ３２が設定されたときは、Ｘ線検出器
２からＬ２の距離に位置決めされる。

【００４１】これによって、ＦＯＶは、それがどのよう
な大きさのものでも、Ｘ線検出器２の有効検出範囲一杯
に投影されるようになるので、小さなＦＯＶ３２につい
ても全ての検出素子からＦＯＶについての測定信号が得
られる。

【００４２】また、位置決めはＸ線源１だけを動かすこ
とによって行なわれるので、前記の従来例のようにＸ線
照射・検出系全体を動かすよりもはるかに簡易な機構で
行なうことができる。

【００４３】Ｘ線源１の位置決めにともなって、Ｘ線源
１のコリメータ１３が制御装置７００によって制御さ
れ、Ｘ線の焦点１１から見たＸ線検出器２の有効検出範
囲の視野角に適応したＸ線ビームの開き角度の調節が行
なわれる。なお、Ｘ線ビームの開き角度は、図示のよう
なＦＯＶに外接する２つの直線がなす角度よりも少し大
きめに設定し、ＦＯＶ外を通過したＸ線がＸ線検出器２
の有効検出範囲の外にあるＸ線強度測定用の検出素子、
すなわちいわゆるレファレンスチャネル(reference cha
nnel)（図示しない）に照射されるようにするのが実際
的である。

【００４４】制御装置７００は、また、Ｘ線源１の位置
決めにともなってＸ線検出器２のコリメータ２１を調節
し、焦点１１の位置に合わせた各検出素子の入射Ｘ線の
コリメーションを行なう。すなわち、例えば鉛等からな
る仕切板の放射状の向きを新たなＸ線焦点の方向に合わ
せる。

【００４５】このようなＸ線照射・検出系によって得ら
れた測定信号がデータ収集装置４００によって収集さ
れ、この収集データに基づいて画像再構成装置５００に
より画像再構成が行なわれる結果、ＦＯＶの小さな被検
体についても分解能の高い再構成画像が得られる。した
がって、表示装置６００には高分解能の画像が表示さ
れ、画像診断の精度を向上させることができる。

【００４６】また、小さいＦＯＶ３２についてさらに分
解能を高めた画像を得たいときは、距離Ｌ１の焦点位置
と距離Ｌ２の焦点位置でそれぞれスキャンを行い、これ
ら２つのスキャンで得られた測定データを組み合わせて
画像再構成を行なうようにすれば良い。

【００４７】すなわち、距離Ｌ１の焦点位置と距離Ｌ２
の焦点位置から同一のビューポイントでそれぞれＸ線を
照射すると、Ｘ線検出器２においては各検出素子のうち
両端部のいくつかを除いた大部分のものには、ＦＯＶ３
２を別々な２つ経路で通過したＸ線が入射する。このと
き、各焦点位置から各検出素子に入射するＸ線は、距離
Ｌ１の焦点位置から発するものと距離Ｌ２の焦点位置か
ら発するものとではその経路が相互に入り交じる。

【００４８】したがって、２つの焦点位置で得られた２
通りの測定データを例えばＸ線透過経路の入り交じりに
対応して並べ変えて１ビューの測定データとすると、１
ビュー当たりの実測データの数を増やすことができる。
つまりＸ線検出器の検出素子を細密化したのと同等の効
果が得られるから、そのような測定データに基づいて画
像再構成を行なうことにより、高分解能の断層像が得ら
れるのである。

【００４９】Ｘ線断層撮影装置の中には、錐状のＸ線ビ
ーム、いわゆるコーンビーム(cornbeam) Ｘ線を生じる
ものをＸ線源として用い、Ｘ線検出器として検出素子の
２次元アレイからなるものを用いたものがある。そのよ
うなＸ線断層撮影装置においては、前述の従来例のよう
にＸ線照射・検出系全体を動かすことはさらに困難にな
るが、本発明を適用すれば、そのような問題を回避する
ことができる。

【００５０】図４は、錐状のＸ線ビームを生じるものを
Ｘ線源として用い、Ｘ線検出器として検出素子の２次元
アレイをからなるものを用いたＸ線断層撮影装置に本発
明を適用した場合のＸ線照射・検出系の模式図である。

【００５１】図４において、Ｘ線の焦点１１から錐状の
Ｘ線ビームが、２次元アレイからなるＸ線検出器２に照
射される。Ｘ線検出器２に対するＸ線の焦点１１の距離
がＦＯＶの大きさに応じてＬ１，Ｌ２のように変更さ
れ、かつ、焦点位置に応じて錐状のＸ線ビームの広がり
とＸ線検出器２のＸ線入射面でのコリメーションがＸ線
源とＸ線検出器に設けられたコリメータ（図示しない）
によってそれぞれ調節される。

【００５２】すなわち、Ｘ線源に設けられたコリメータ
により、Ｘ線ビームの広がりがＸ線の焦点１１からＸ線
検出器２の有効検出範囲を見込む２次元の視野角に合わ
せて調節される。また、Ｘ線検出器２の入射面に設けら
れたコリメータでは、２次元配列の各検出素子を仕切る
Ｘ線不透過性の仕切板の配向がＸ線の焦点１１の方向に
合わせられる。

【００５３】なお、上記の実施例においては、Ｘ線源を
動かしてＸ線の焦点とＸ線検出器の間の距離を調節する
ようにしたが、この距離の調節は、Ｘ線検出器を動かし
て行なうか、または両者をそれぞれ動かして行なうよう
にしてもよい。両者をそれぞれ動かす場合でも、Ｘ線源
とＸ線検出器を個別に移動させるのであるから、Ｘ線照
射・検出系全体を動かすよりも簡易な移動機構で十分で
ある。

【００５４】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明は、
Ｘ線源の焦点から前記Ｘ線検出器までの距離を変更して
被検体をスキャンするようにしたので、簡易な構成で高
分解能の断層像が得られるＸ線断層撮影方法および装置
を実現できるという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明実施例の装置の要部の構成図である。

【図２】本発明実施例の装置のブロック図である。

【図３】本発明実施例の装置の要部の動作説明図であ
る。

【図４】本発明の他の実施例の装置の要部の模式図であ
る。

【図５】従来例の模式図である。

【符号の説明】

１Ｘ線源１１焦点１２支持腕１３コリメータ１４案内機構２Ｘ線検出器２１コリメータ３ＦＯＶ中心３１，３２ＦＯＶ４回転体１００ガントリ２００被検体３００被検体支持装置４００データ収集装置５００画像再構成装置６００表示装置７００制御装置８００操作装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】Ｘ線源の焦点から発散するＸ線を被検体
が配置される測定空間に照射し、前記測定空間に配置さ
れた被検体を透過して入射するＸ線を複数の検出素子を
有するＸ線検出器で検出し、前記Ｘ線源と前記Ｘ線検出
器を前記被検体の周りを回転させ、回転軌道上の複数の
位置で得られるＸ線検出信号に基づいて被検体の断層像
を求めるＸ線断層撮影方法において、前記Ｘ線源の焦点
から前記Ｘ線検出器までの距離を可変にしたことを特徴
とするＸ線断層撮影方法。
【請求項２】焦点から発散するＸ線を被検体が配置さ
れる測定空間に照射するＸ線照射手段と、前記測定空間
に配置された被検体を透過して入射するＸ線を検出する
複数の検出素子を有するＸ線検出手段と、前記Ｘ線発生
手段と前記Ｘ線検出手段を前記被検体の周りを回転させ
る回転手段と、回転軌道上の複数の位置で得られるＸ線
検出信号に基づいて被検体の断層像を形成する断層像形
成手段とを有するＸ線断層撮影装置において、前記Ｘ線
発生手段の焦点から前記Ｘ線検出手段までの距離を可変
にする距離可変手段を具備することを特徴とするＸ線断
層撮影装置。
【請求項３】焦点から発散するＸ線を被検体が配置さ
れる測定空間に照射するＸ線照射手段と、前記測定空間
に配置された被検体を透過して入射するＸ線を検出する
複数の検出素子を有するＸ線検出手段と、前記Ｘ線発生
手段と前記Ｘ線検出手段を前記被検体の周りを回転させ
る回転手段と、回転軌道上の複数の位置で得られるＸ線
検出信号に基づいて被検体の断層像を形成する断層像形
成手段とを有するＸ線断層撮影装置において、前記Ｘ線
発生手段の焦点から前記Ｘ線検出手段までの距離を可変
にする距離可変手段と、前記Ｘ線発生手段の焦点から前
記検出手段までの距離に応じて前記Ｘ線検出手段に照射
されるＸ線の指向性を調節する指向性調節手段とを具備
することを特徴とするＸ線断層撮影装置。
【請求項４】焦点から発散するＸ線を被検体が配置さ
れる測定空間に照射するＸ線照射手段と、前記測定空間
に配置された被検体を透過して入射するＸ線を検出する
複数の検出素子を有するＸ線検出手段と、前記Ｘ線発生
手段と前記Ｘ線検出手段を前記被検体の周りを回転させ
る回転手段と、回転軌道上の複数の位置で得られるＸ線
検出信号に基づいて被検体の断層像を形成する断層像形
成手段とを有するＸ線断層撮影装置において、前記Ｘ線
発生手段の焦点から前記Ｘ線検出手段までの距離を可変
にする距離可変手段と、前記Ｘ線発生手段の焦点から前
記Ｘ線検出手段までの距離を複数通りに設定して得られ
るＸ線検出信号に基づいて被検体の断層像を形成する断
層像形成手段とを具備することを特徴とするＸ線断層撮
影装置。