JPS6114814B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6114814B2 JPS6114814B2 JP51021712A JP2171276A JPS6114814B2 JP S6114814 B2 JPS6114814 B2 JP S6114814B2 JP 51021712 A JP51021712 A JP 51021712A JP 2171276 A JP2171276 A JP 2171276A JP S6114814 B2 JPS6114814 B2 JP S6114814B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- electron beam
- target
- subject
- generators
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は高速撮影可能な新規なＸ線体軸断層像
を得る装置に関するものである。
を得る装置に関するものである。
近時、人体の任意切面（横断面）においてＸ線
マイクロビームを走査し、且つ該走査方向を逐次
可変し、人体各点を透過したＸ線強度を測定し、
その信号をもとに前記切面の断層像を求め、人体
内部の軟組織を含む構造をより精確にとらえるこ
とのできる装置が開発された。
マイクロビームを走査し、且つ該走査方向を逐次
可変し、人体各点を透過したＸ線強度を測定し、
その信号をもとに前記切面の断層像を求め、人体
内部の軟組織を含む構造をより精確にとらえるこ
とのできる装置が開発された。
従来の斯種装置は一般にコリメーターの付いた
Ｘ線管と検出器とを対向せしめ、両コリメーター
間に被写体が持ち来されるよう配置し、該コリメ
ーター付Ｘ線管及び検出器を一体的に且つ間歇的
に被写体を横断する方向に移動させ、各停止位置
において被写体を透過したＸ線強度を測定してい
る。
Ｘ線管と検出器とを対向せしめ、両コリメーター
間に被写体が持ち来されるよう配置し、該コリメ
ーター付Ｘ線管及び検出器を一体的に且つ間歇的
に被写体を横断する方向に移動させ、各停止位置
において被写体を透過したＸ線強度を測定してい
る。
しかし乍ら、該装置ではＸ線マイクロビームの
走査及び該走査方向の変更は全て機械的に行なわ
れるため、撮影速度は極めて遅いものとなる。
走査及び該走査方向の変更は全て機械的に行なわ
れるため、撮影速度は極めて遅いものとなる。
本発明は斯様な問題を解決するために、電子線
走査型のＸ線発生装置と検出器を夫々複数個設
け、精密な断層像を必要としない場合にはＸ線発
生装置及び検出器に機械的な駆動を与えないで多
数方向におけるＸ線強度を測定し、又精密な断層
像を必要とする場合にはＸ線発生装置及び検出器
に回転を与えて被写体の全周におけるＸ線強度を
測定するようになすことにより断層像撮影の高速
化をはかるようにしたものであり、以下本発明の
一例を第１図に基づき詳説する。
走査型のＸ線発生装置と検出器を夫々複数個設
け、精密な断層像を必要としない場合にはＸ線発
生装置及び検出器に機械的な駆動を与えないで多
数方向におけるＸ線強度を測定し、又精密な断層
像を必要とする場合にはＸ線発生装置及び検出器
に回転を与えて被写体の全周におけるＸ線強度を
測定するようになすことにより断層像撮影の高速
化をはかるようにしたものであり、以下本発明の
一例を第１図に基づき詳説する。
図において１は被写体であり、該被写体の周り
には３個の電子線走査型のＸ線発生装置２ａ，２
ｂ，２ｃが夫々等間隔（120度おき）に設置さ
れ、又各Ｘ線発生装置に対向して検出器３ａ，３
ｂ，３ｃが夫々おかれている。又これらＸ線発生
装置及び検出器群は回転体４に夫々固定され、一
体となつて被写体１の体軸０を中心に高速に回転
できるように構成されている。前記３個のＸ線発
生装置２ａ，２ｂ，２ｃは第２図にその断面図を
示すように電子銃５ａ，５ｂ，５ｃと該電子銃か
ら発生した電子線を細く集束してターゲツト６
ａ，６ｂ，６ｃ上に照射するための集束レンズ７
ａ，７ｂ，７ｃとターゲツト上における電子線の
照射位置を移動させるための偏向系８ａ，８ｂ，
８ｃ及びビームガイド９ａ，９ｂ，９ｃとから構
成されている。前記ビームガイド９ａ，９ｂ，９
ｃには第１図に示すように複数ケのＸ線通過口１
０a1，１０a2，１０a3，……１０b1，１０b2，１
０b3，……１０c1，１０c2，１０c3，……が形成
してあり、これらＸ線通過口は各ターゲツトから
発生したＸ線が通過することにより、図中Xa１
で示すように薄い扇状Ｘ線ビームが得られるよう
に加工されている。該扇状Ｘ線ビームにより被写
体は切面全域が同時にＸ線で照射されるため、前
記３個の検出器群３ａ，３ｂ，３ｃは夫々例えば
数mm程度の大きさの検出器を多数組合わせて使用
し、被写体に対する異なつた照射角度におけるＸ
線を検出するように構成されている。
には３個の電子線走査型のＸ線発生装置２ａ，２
ｂ，２ｃが夫々等間隔（120度おき）に設置さ
れ、又各Ｘ線発生装置に対向して検出器３ａ，３
ｂ，３ｃが夫々おかれている。又これらＸ線発生
装置及び検出器群は回転体４に夫々固定され、一
体となつて被写体１の体軸０を中心に高速に回転
できるように構成されている。前記３個のＸ線発
生装置２ａ，２ｂ，２ｃは第２図にその断面図を
示すように電子銃５ａ，５ｂ，５ｃと該電子銃か
ら発生した電子線を細く集束してターゲツト６
ａ，６ｂ，６ｃ上に照射するための集束レンズ７
ａ，７ｂ，７ｃとターゲツト上における電子線の
照射位置を移動させるための偏向系８ａ，８ｂ，
８ｃ及びビームガイド９ａ，９ｂ，９ｃとから構
成されている。前記ビームガイド９ａ，９ｂ，９
ｃには第１図に示すように複数ケのＸ線通過口１
０a1，１０a2，１０a3，……１０b1，１０b2，１
０b3，……１０c1，１０c2，１０c3，……が形成
してあり、これらＸ線通過口は各ターゲツトから
発生したＸ線が通過することにより、図中Xa１
で示すように薄い扇状Ｘ線ビームが得られるよう
に加工されている。該扇状Ｘ線ビームにより被写
体は切面全域が同時にＸ線で照射されるため、前
記３個の検出器群３ａ，３ｂ，３ｃは夫々例えば
数mm程度の大きさの検出器を多数組合わせて使用
し、被写体に対する異なつた照射角度におけるＸ
線を検出するように構成されている。
而して今、Ｘ線発生装置２ａにおいて偏向系８
ａによりターゲツト６ａ上の電子線照射位置を
Pa1，Pa2，Pa3へと順次移動させると被写体１に
対して扇状Ｘ線ビームをXa1，Xa2，Xa3で示すよ
うに異なつた３方向から照射することができ、又
他のＸ線発生装置２ｂ及び２ｃにおいてもターゲ
ツト６ｂ及び６ｃ上の電子線照射位置をＸ線発生
装置２ａと同様に移動させることにより被写体１
に対して扇状Ｘ線ビームをXb1，Xb2，Xb3及び
Xc1，Xc2，Xc3で示すように夫々異なつた３方向
から照射することができる。このように各Ｘ線発
生装置２ａ，２ｂ，２ｃにおけるターゲツト上の
電子線照射位置を偏向移動させるだけで、９方向
における被写体各部を透過したＸ線強度を測定す
ることができる。そこで、精密な断層像を必要と
しない場合には３個のＸ線発生装置２ａ，２ｂ，
２ｃを任意な位置に停止させた状態で、各ターゲ
ツト６ａ，６ｂ，６ｃ上の電子線照射位置を変化
させることにより前述した９方向における被写体
各部を透過したＸ線強度を測定して電子計算器に
送り、仮想マトリツクス各点のＸ線吸収率を求め
ればよく、又精密な断層像を必要とする場合には
前記３個のＸ線発生装置２ａ，２ｂ，２ｃに検出
器群と共に回転を与えることにより被写体１の全
周にわたつてＸ線強度を測定すればよい。
ａによりターゲツト６ａ上の電子線照射位置を
Pa1，Pa2，Pa3へと順次移動させると被写体１に
対して扇状Ｘ線ビームをXa1，Xa2，Xa3で示すよ
うに異なつた３方向から照射することができ、又
他のＸ線発生装置２ｂ及び２ｃにおいてもターゲ
ツト６ｂ及び６ｃ上の電子線照射位置をＸ線発生
装置２ａと同様に移動させることにより被写体１
に対して扇状Ｘ線ビームをXb1，Xb2，Xb3及び
Xc1，Xc2，Xc3で示すように夫々異なつた３方向
から照射することができる。このように各Ｘ線発
生装置２ａ，２ｂ，２ｃにおけるターゲツト上の
電子線照射位置を偏向移動させるだけで、９方向
における被写体各部を透過したＸ線強度を測定す
ることができる。そこで、精密な断層像を必要と
しない場合には３個のＸ線発生装置２ａ，２ｂ，
２ｃを任意な位置に停止させた状態で、各ターゲ
ツト６ａ，６ｂ，６ｃ上の電子線照射位置を変化
させることにより前述した９方向における被写体
各部を透過したＸ線強度を測定して電子計算器に
送り、仮想マトリツクス各点のＸ線吸収率を求め
ればよく、又精密な断層像を必要とする場合には
前記３個のＸ線発生装置２ａ，２ｂ，２ｃに検出
器群と共に回転を与えることにより被写体１の全
周にわたつてＸ線強度を測定すればよい。
斯くすることにより、特別に精密な断層像を必
要としない場合には従来の様にＸ線発生装置を機
械的になんら回転させることなくターゲツト上の
電子線照射位置を移動させるだけですむため、高
速撮影が可能となる。又精密な断層像を得る場合
においても従来のようにＸ線発生装置を全周回転
させることなく、多くとも全周1/3以下程度回転
させるだけですむため、撮影時間を大巾に短縮さ
せることができる等、実用上大なる効果を有す
る。
要としない場合には従来の様にＸ線発生装置を機
械的になんら回転させることなくターゲツト上の
電子線照射位置を移動させるだけですむため、高
速撮影が可能となる。又精密な断層像を得る場合
においても従来のようにＸ線発生装置を全周回転
させることなく、多くとも全周1/3以下程度回転
させるだけですむため、撮影時間を大巾に短縮さ
せることができる等、実用上大なる効果を有す
る。
尚前述の説明ではＸ線発生装置を３個使用した
場合を示したが、２個或は４個以上使用してもよ
い。
場合を示したが、２個或は４個以上使用してもよ
い。
又、前述の説明ではビームガイドに３個のＸ線
通過口を設けたが、２個又は４個以上設けてもよ
い。更にビームガイドは固定した場合について述
べたが、単一又は複数Ｘ線通過口をもつビームガ
イドを移動可能となし、ビームガイドに設けたＸ
線通過口をターゲツト上における電子線照射位置
の移動に追随して移動させるように構成してもよ
い。更に又、前述の実施例では扇状Ｘ線ビームを
発生させるように構成したが、ピンホールレンズ
を使用してＸ線マイクロビームを発生させ、この
Ｘ線マイクロビームを扇状に走査するように構成
してもよい。この場合ピンホールレンズはＸ線通
過口と同様に複数個設けてもよく、又ターゲツト
上における電子線照射位置の移動に追随して移動
させても良く、更に検出器は前述の実施例のよう
に小さな検出器を複数個組合せることなく大きな
検出器を１個だけ用意すればよい。
通過口を設けたが、２個又は４個以上設けてもよ
い。更にビームガイドは固定した場合について述
べたが、単一又は複数Ｘ線通過口をもつビームガ
イドを移動可能となし、ビームガイドに設けたＸ
線通過口をターゲツト上における電子線照射位置
の移動に追随して移動させるように構成してもよ
い。更に又、前述の実施例では扇状Ｘ線ビームを
発生させるように構成したが、ピンホールレンズ
を使用してＸ線マイクロビームを発生させ、この
Ｘ線マイクロビームを扇状に走査するように構成
してもよい。この場合ピンホールレンズはＸ線通
過口と同様に複数個設けてもよく、又ターゲツト
上における電子線照射位置の移動に追随して移動
させても良く、更に検出器は前述の実施例のよう
に小さな検出器を複数個組合せることなく大きな
検出器を１個だけ用意すればよい。
第１図は本発明の一実施例を示す概略図、第２
図は本発明に使用されるＸ線発生装置の断面図で
ある。 図において、１は被写体、２ａ，２ｂ及び２ｃ
はＸ線発生装置、３ａ，３ｂ及び３ｃは検出器
群、４は回転体、５ａ，５ｂ及び５ｃは電子銃、
６ａ，６ｂ及び６ｃはターゲツト、７ａ，７ｂ及
び７ｃは集束レンズ、８ａ，８ｂ及び８ｃは偏向
系である。
図は本発明に使用されるＸ線発生装置の断面図で
ある。 図において、１は被写体、２ａ，２ｂ及び２ｃ
はＸ線発生装置、３ａ，３ｂ及び３ｃは検出器
群、４は回転体、５ａ，５ｂ及び５ｃは電子銃、
６ａ，６ｂ及び６ｃはターゲツト、７ａ，７ｂ及
び７ｃは集束レンズ、８ａ，８ｂ及び８ｃは偏向
系である。
Claims (1)
- １ 電子銃と、該電子銃からの電子線の照射によ
つてＸ線を発生するＸ線発生ターゲツトとを備え
た複数のＸ線発生装置と、該夫々のＸ線発生装置
に対向して配置された複数のＸ線検出器と、該複
数のＸ線発生装置及び検出器を一体化して被写体
のまわりに回転させるための手段とを備えてお
り、該各Ｘ線発生装置には被写体に対してＸ線ビ
ーム照射方位角を複数に変化させるために該ター
ゲツト上の電子線照射位置を移動させる電子線偏
向手段が設けられていることを特徴とするＸ線体
軸断層像を得る装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171276A JPS52104892A (en) | 1976-02-28 | 1976-02-28 | Body axis tomography apparatus using x-ray |
| GB5388/77A GB1568782A (en) | 1976-02-28 | 1977-02-09 | Apparatus for obtaining an x-ray image of a slice plane of an object |
| US05/770,659 US4135095A (en) | 1976-02-28 | 1977-02-22 | Apparatus for obtaining an X-ray image |
| DE19772708612 DE2708612A1 (de) | 1976-02-28 | 1977-02-28 | Vorrichtung zur gewinnung eines roentgenstrahlbildes in einer querschnittsebene eines objekts |
| NL7702106A NL7702106A (nl) | 1976-02-28 | 1977-02-28 | Inrichting voor het vormen van een twee-dimensio- naal beeld van de roentgenstraalabsorptieverdeling. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2171276A JPS52104892A (en) | 1976-02-28 | 1976-02-28 | Body axis tomography apparatus using x-ray |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS52104892A JPS52104892A (en) | 1977-09-02 |
| JPS6114814B2 true JPS6114814B2 (ja) | 1986-04-21 |
Family
ID=12062664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2171276A Granted JPS52104892A (en) | 1976-02-28 | 1976-02-28 | Body axis tomography apparatus using x-ray |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS52104892A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005270324A (ja) * | 2004-03-24 | 2005-10-06 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60168436A (ja) * | 1984-02-10 | 1985-08-31 | 横河メディカルシステム株式会社 | 計算機トモグラフイ装置 |
| US4672648A (en) * | 1985-10-25 | 1987-06-09 | Picker International, Inc. | Apparatus and method for radiation attenuation |
| JP2007068474A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Duel:Kk | 餌木 |
-
1976
- 1976-02-28 JP JP2171276A patent/JPS52104892A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005270324A (ja) * | 2004-03-24 | 2005-10-06 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS52104892A (en) | 1977-09-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4150293A (en) | Tomographic apparatus for producing transverse layer images | |
| US4002917A (en) | Sources of X-radiation | |
| US5841831A (en) | X-ray computed tomography apparatus | |
| US4045672A (en) | Apparatus for tomography comprising a pin hole for forming a microbeam of x-rays | |
| US4135095A (en) | Apparatus for obtaining an X-ray image | |
| US4203036A (en) | X-ray diagnostic apparatus for producing transverse layer images | |
| EP0467532B1 (en) | Computed tomography system | |
| JP4510754B2 (ja) | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 | |
| US5125012A (en) | Computer tomography apparatus | |
| JPS63501735A (ja) | 改良されたｘ線減衰方法および装置 | |
| US4193001A (en) | Tomographic apparatus for producing transverse layer images | |
| GB1598058A (en) | Apparatus for tomography using penetrating radiation | |
| US4345158A (en) | Tomographic apparatus for the production of transverse layer images | |
| GB2044985A (en) | X-ray tube | |
| US4126786A (en) | Radiography | |
| JPS6114814B2 (ja) | ||
| US4172978A (en) | Radiography | |
| JPS6283772A (ja) | Ｘ線像形成装置 | |
| JPS5829091B2 (ja) | 被検体断層の放射線吸収量測定装置 | |
| JPS6146136B2 (ja) | ||
| US5293416A (en) | Radiography apparatus for producing X-ray shadowgraphs | |
| JPS631698B2 (ja) | ||
| EP0049464A1 (en) | Apparatus for collecting X-ray absorption data in a computerized tomographic apparatus | |
| RU2164081C2 (ru) | Устройство для малоугловой рентгеновской томографии | |
| CN115356359B (zh) | 激光加速驱动的高能微焦点x射线大视野ct成像装置 |