JPS6146136B2 - - Google Patents
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- JPS6146136B2 JPS6146136B2 JP52021112A JP2111277A JPS6146136B2 JP S6146136 B2 JPS6146136 B2 JP S6146136B2 JP 52021112 A JP52021112 A JP 52021112A JP 2111277 A JP2111277 A JP 2111277A JP S6146136 B2 JPS6146136 B2 JP S6146136B2
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- Japan
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- radiation
- ray tube
- radiation source
- tomography apparatus
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 10
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は被写体の所定断面における放射線吸
収率分布の画像を得るいわゆるコンピユータ断層
撮影装置に関し、特に放射線源および放射線検出
部が一体となつて被写体のまわりを回転する型の
断層撮影装置の改良に関する。
収率分布の画像を得るいわゆるコンピユータ断層
撮影装置に関し、特に放射線源および放射線検出
部が一体となつて被写体のまわりを回転する型の
断層撮影装置の改良に関する。
この種の型の断層撮影装置は１つの平面上で扇
形に広がる放射線ビームを発生する放射線源と、
この放射線ビームを検出すべく一列に配置された
多数の放射線検出器から成る検出部とを有し、こ
の両者の間に被写体を配置し、この被写体を中心
として前記放射線源および検出部を前記平面上で
一体的に回転するように構成しており、各回転角
度ごとのそれぞれの放射線発生位置からのデータ
群を得て、これをコンボリユーシヨン法等により
データ処理してCRT等に前記断面における放射
線吸収率分布の画像として表示するようにしてい
る。ところで、この断層撮影装置において、１つ
のＸ線発生位置からのデータ数は検出器数と同一
であるから、従来の装置では得られる画像の精度
を向上させるため多数（約300個）の検出器が用
いられている。
形に広がる放射線ビームを発生する放射線源と、
この放射線ビームを検出すべく一列に配置された
多数の放射線検出器から成る検出部とを有し、こ
の両者の間に被写体を配置し、この被写体を中心
として前記放射線源および検出部を前記平面上で
一体的に回転するように構成しており、各回転角
度ごとのそれぞれの放射線発生位置からのデータ
群を得て、これをコンボリユーシヨン法等により
データ処理してCRT等に前記断面における放射
線吸収率分布の画像として表示するようにしてい
る。ところで、この断層撮影装置において、１つ
のＸ線発生位置からのデータ数は検出器数と同一
であるから、従来の装置では得られる画像の精度
を向上させるため多数（約300個）の検出器が用
いられている。
この発明は、１つの放射線発生位置からのデー
タ数を検出器数以上に増やすことによつて、得ら
れる画像の精度向上および検出器数の減少による
コストダウンを実現するよう改善した断層撮影装
置を提供することを目的とする。
タ数を検出器数以上に増やすことによつて、得ら
れる画像の精度向上および検出器数の減少による
コストダウンを実現するよう改善した断層撮影装
置を提供することを目的とする。
以下、本発明の実施例について図面を参照しな
がら説明する。第１図において、２つの焦点
F1，F2を持つＸ線管１からはその焦点F1，F2の
いずれかより１つの平面上で扇形に広がるＸ線ビ
ームが発射されるようになつている。このＸ線ビ
ームが入射されるようにｎ個の検出器２１，２
２，………２ｎが円周上に一列に配置されて検出
部２が構成されている。Ｘ線管１と検出部２との
間に被写体３が配置される。Ｘ線管１および検出
部２はこの被写体３の中心Ｏを回転中心として一
体に（同一角速度で）例えば矢印に示すように時
計廻り方向に回転させられる。各検出器２１，２
２，………２ｎはこの回転軌道上に配置されてお
りそれらの配列間隔をａとする。またＸ線管１の
２つの焦点F1，F2の間隔をａ／２としておく。
がら説明する。第１図において、２つの焦点
F1，F2を持つＸ線管１からはその焦点F1，F2の
いずれかより１つの平面上で扇形に広がるＸ線ビ
ームが発射されるようになつている。このＸ線ビ
ームが入射されるようにｎ個の検出器２１，２
２，………２ｎが円周上に一列に配置されて検出
部２が構成されている。Ｘ線管１と検出部２との
間に被写体３が配置される。Ｘ線管１および検出
部２はこの被写体３の中心Ｏを回転中心として一
体に（同一角速度で）例えば矢印に示すように時
計廻り方向に回転させられる。各検出器２１，２
２，………２ｎはこの回転軌道上に配置されてお
りそれらの配列間隔をａとする。またＸ線管１の
２つの焦点F1，F2の間隔をａ／２としておく。
まずＸ線管１および検出部２がそれぞれ第１図
の実線位置にあるものとする。そしてこのときＸ
線管１よりその焦点F1からのＸ線ビームが実線
で示すように発射されて各検出器２１，２２，…
……，２ｎよりｎ個のデータが得られる。つぎの
Ｘ線照射タイミングまでの間にＸ線管１および検
出部２が回転してそれぞれ距離ａ／２だけ進みＸ
線管１は点線で示す１′の位置に、検出器２１，
２２，………，２ｎはそれぞれ点線で示す２
１′，２２′，………，２n′の位置にあるものとす
る。このときＸ線管の焦点F2より点線で示すよ
うにＸ線ビームを照射する。このときの焦点F2
の位置は回転移動した距離ａ／２と焦点F1，F2
の距離ａ／２が等しいため、前回Ｘ線照射を行つ
た焦点F1の位置と等しい。したがつてこの２回
のＸ線照射により実効的に同一の焦点から発せら
れたＸ線ビームによるｎ×ｎ個のデータからなる
データ群（これをデータフアン；Data Fanと呼
ぶ）が得られることになる。つぎのデータフアン
を得るための焦点の位置はＸ線管１（および検出
部２）がさらにａ／２の距離だけ回転移動したと
きの焦点F1の位置、すなわち前回のデータフア
ンを得た焦点より距離ａだけ進んだ位置にあるこ
とになる。
の実線位置にあるものとする。そしてこのときＸ
線管１よりその焦点F1からのＸ線ビームが実線
で示すように発射されて各検出器２１，２２，…
……，２ｎよりｎ個のデータが得られる。つぎの
Ｘ線照射タイミングまでの間にＸ線管１および検
出部２が回転してそれぞれ距離ａ／２だけ進みＸ
線管１は点線で示す１′の位置に、検出器２１，
２２，………，２ｎはそれぞれ点線で示す２
１′，２２′，………，２n′の位置にあるものとす
る。このときＸ線管の焦点F2より点線で示すよ
うにＸ線ビームを照射する。このときの焦点F2
の位置は回転移動した距離ａ／２と焦点F1，F2
の距離ａ／２が等しいため、前回Ｘ線照射を行つ
た焦点F1の位置と等しい。したがつてこの２回
のＸ線照射により実効的に同一の焦点から発せら
れたＸ線ビームによるｎ×ｎ個のデータからなる
データ群（これをデータフアン；Data Fanと呼
ぶ）が得られることになる。つぎのデータフアン
を得るための焦点の位置はＸ線管１（および検出
部２）がさらにａ／２の距離だけ回転移動したと
きの焦点F1の位置、すなわち前回のデータフア
ンを得た焦点より距離ａだけ進んだ位置にあるこ
とになる。
この２焦点のＸ線照管としては、例えばステレ
オＸ線撮影装置に用いられる多焦点型Ｘ線管を用
いることができ、例えば第２図に示すように１個
のフイラメント４１と２個のグリツド４２，４３
と１個のターゲツト４４とからなる三極Ｘ線管に
より構成することができる。各グリツド４２，４
３を選択的に作動させることによりターゲツト４
４上で２つの焦点F1，F2を選択することができ
る。また、回転陽極型Ｘ線管を用いる場合には第
３図Ａ，Ｂに示すように回転陽極５１を回転中心
軸を通りかつこの軸に平行な平面で２分割して回
転中心軸方向にずらして、フイラメント５２から
の電子の衝突面の位置が回転に応じて異なるよう
に形成して２焦点のＸ線管を構成することもでき
る。
オＸ線撮影装置に用いられる多焦点型Ｘ線管を用
いることができ、例えば第２図に示すように１個
のフイラメント４１と２個のグリツド４２，４３
と１個のターゲツト４４とからなる三極Ｘ線管に
より構成することができる。各グリツド４２，４
３を選択的に作動させることによりターゲツト４
４上で２つの焦点F1，F2を選択することができ
る。また、回転陽極型Ｘ線管を用いる場合には第
３図Ａ，Ｂに示すように回転陽極５１を回転中心
軸を通りかつこの軸に平行な平面で２分割して回
転中心軸方向にずらして、フイラメント５２から
の電子の衝突面の位置が回転に応じて異なるよう
に形成して２焦点のＸ線管を構成することもでき
る。
この実施例では２焦点のＸ線管を用いたことに
より検出器数の２倍の数のデータから成るデータ
フアンを得ることができる。
より検出器数の２倍の数のデータから成るデータ
フアンを得ることができる。
さらに、多数のＸ線焦点を有するＸ線管を用い
れば検出器の数にその焦点の数を乗じた多数のデ
ータから成るデータフアンが得られる。すなわ
ち、第４図に示すようにＸ線管１の焦点がF1か
らF2の間（間隔ａとする）を連続的に移動でき
るようにしておく。そしてＸ線管１および検出部
２が回転してそれぞれ距離ａを進む間にＸ線焦点
をF1からF2へと回転方向とは逆方向にかつ同一
の移動速度で移動させるようにする。するとこの
距離ａを移動する間Ｘ線焦点は実効的に１つの位
置に固定されることになる。このとき各検出器は
隣の検出器の位置まで距離ａだけ進むから、この
間にｍ回のサンプリグを行えば、ｎ個の検出器か
らｍ×ｎ個のデータから成るデータフアンが得ら
れることになる。これは各検出器の間隔ａ内に
（ｍ−１）個の検出器を配置し、合計ｍ×ｎ個の
検出器を用いたのと等価である。
れば検出器の数にその焦点の数を乗じた多数のデ
ータから成るデータフアンが得られる。すなわ
ち、第４図に示すようにＸ線管１の焦点がF1か
らF2の間（間隔ａとする）を連続的に移動でき
るようにしておく。そしてＸ線管１および検出部
２が回転してそれぞれ距離ａを進む間にＸ線焦点
をF1からF2へと回転方向とは逆方向にかつ同一
の移動速度で移動させるようにする。するとこの
距離ａを移動する間Ｘ線焦点は実効的に１つの位
置に固定されることになる。このとき各検出器は
隣の検出器の位置まで距離ａだけ進むから、この
間にｍ回のサンプリグを行えば、ｎ個の検出器か
らｍ×ｎ個のデータから成るデータフアンが得ら
れることになる。これは各検出器の間隔ａ内に
（ｍ−１）個の検出器を配置し、合計ｍ×ｎ個の
検出器を用いたのと等価である。
連続的に焦点を移動し得るＸ線管は例えば第５
図Ａ，Ｂに示すように回転陽極６１の電子衝突面
６２をその回転軸方向に徐々にずらしてほぼ螺旋
形とした回転陽極型Ｘ線管により実現できる。こ
の回転陽極型Ｘ線管ではフイラメント６３から発
射された電子は回転陽極５１の回転に応じて異な
る位置の電子衝突面に衝突し焦点位置が回転軸方
向にF1からF2に連続的に変化する。
図Ａ，Ｂに示すように回転陽極６１の電子衝突面
６２をその回転軸方向に徐々にずらしてほぼ螺旋
形とした回転陽極型Ｘ線管により実現できる。こ
の回転陽極型Ｘ線管ではフイラメント６３から発
射された電子は回転陽極５１の回転に応じて異な
る位置の電子衝突面に衝突し焦点位置が回転軸方
向にF1からF2に連続的に変化する。
以上、実施例について説明したように、本発明
によれば、検出器数を増やすことなしにデータ数
を増やすことができ画像の精度向上に寄与すると
ともに検出器を減少させることによりコストダウ
ンを図ることができる。
によれば、検出器数を増やすことなしにデータ数
を増やすことができ画像の精度向上に寄与すると
ともに検出器を減少させることによりコストダウ
ンを図ることができる。
なお、複数個の焦点を持つためのＸ線管の構造
は上記に限られずフイラメントからの電子ビーム
を静電的あるいは磁界により偏向して複数個のＸ
線焦点を得る構成としてもよい。
は上記に限られずフイラメントからの電子ビーム
を静電的あるいは磁界により偏向して複数個のＸ
線焦点を得る構成としてもよい。
第１図は本発明の１実施例を示すブロツク図、
第２図Ａ，Ｂは第１図のＸ線管１の構造を示すた
めのもので第２図Ａは概略的な側面図、第２図Ｂ
は第２図Ａの矢印Ｂ方向から見た簡略的な正面
図、第３図Ａ，Ｂは第１図のＸ線管１の他の構造
を示すもので、第３図Ａは回転陽極の斜視図、第
３図Ｂは概略的な側面図、第４図は他の実施例を
示すブロツク図、第５図Ａ，Ｂは第４図のＸ線管
１の構造を示すためのもので第５図Ａは回転陽極
の斜視図、第５図Ｂは概略的な側面図である。 １……Ｘ線管、２……検出部、３……被写体、
４１，５２，６３……フイラメント、４２，４３
……グリツド、４４……ターゲツト、５１，６１
……回転陽極。
第２図Ａ，Ｂは第１図のＸ線管１の構造を示すた
めのもので第２図Ａは概略的な側面図、第２図Ｂ
は第２図Ａの矢印Ｂ方向から見た簡略的な正面
図、第３図Ａ，Ｂは第１図のＸ線管１の他の構造
を示すもので、第３図Ａは回転陽極の斜視図、第
３図Ｂは概略的な側面図、第４図は他の実施例を
示すブロツク図、第５図Ａ，Ｂは第４図のＸ線管
１の構造を示すためのもので第５図Ａは回転陽極
の斜視図、第５図Ｂは概略的な側面図である。 １……Ｘ線管、２……検出部、３……被写体、
４１，５２，６３……フイラメント、４２，４３
……グリツド、４４……ターゲツト、５１，６１
……回転陽極。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ １つの平面上で扇形に広がる放射線ビームを
発生する放射線源と、この放射線ビームを検出す
べく一列に配置された多数の放射線検出器からな
る検出部とを有し、この両者の間に被写体を配置
しこの被写体を中心として前記放射線源および検
出部を前記平面上で一体的に回転させるようにし
て成る断層撮影装置において、前記放射線源はそ
れ自身の内部に物理的に複数個の放射線発生位置
を持ち、これら複数個の放射線発生位置から順次
放射線照射するとき検出部の位置が前記検出器配
列間隔より短い距離だけ移動するよう放射線源お
よび検出部の一体的な回転と曝射との制御を行な
つて、被写体に対しては空間的に同一の放射線発
生位置を保ちながら前記の一体回転により移動し
た検出部の各放射線検出器の各々の位置での被写
体透過放射線量のデータを採取してデータ採取位
置を増加させるようにした断層撮影装置。 ２ 放射線源は、位置が異なりかつ選択的に作動
する複数のグリツドを有する３極Ｘ線管から成る
特許請求の範囲第１項記載の断層撮影装置。 ３ 放射線源は、電子衝突面の位置が回転に応じ
て異なるよう形成された回転陽極を有する回転陽
極型Ｘ線管から成る特許請求の範囲第１項記載の
断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2111277A JPS53105994A (en) | 1977-02-28 | 1977-02-28 | Tomograph device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2111277A JPS53105994A (en) | 1977-02-28 | 1977-02-28 | Tomograph device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53105994A JPS53105994A (en) | 1978-09-14 |
| JPS6146136B2 true JPS6146136B2 (ja) | 1986-10-13 |
Family
ID=12045787
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2111277A Granted JPS53105994A (en) | 1977-02-28 | 1977-02-28 | Tomograph device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS53105994A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01163014U (ja) * | 1988-04-26 | 1989-11-14 | ||
| JP2000139893A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-23 | Siemens Ag | Ｃｔ装置 |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53126892A (en) * | 1977-04-12 | 1978-11-06 | Toshiba Corp | Computer tomographic diagnosis apparatus |
| JPS61154544A (ja) * | 1984-12-26 | 1986-07-14 | 株式会社日立製作所 | 放射線断層表示装置及び方法 |
| US7529343B2 (en) * | 2006-05-04 | 2009-05-05 | The Boeing Company | System and method for improved field of view X-ray imaging using a non-stationary anode |
| US7496180B1 (en) * | 2007-08-29 | 2009-02-24 | General Electric Company | Focal spot temperature reduction using three-point deflection |
| WO2013140288A1 (en) * | 2012-03-19 | 2013-09-26 | Koninklijke Philips N.V. | Gradual x-ray focal spot movements for a gradual transition between monoscopic and stereoscopic viewing |
| JP7250532B2 (ja) * | 2019-01-21 | 2023-04-03 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置及び撮影計画装置 |
-
1977
- 1977-02-28 JP JP2111277A patent/JPS53105994A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01163014U (ja) * | 1988-04-26 | 1989-11-14 | ||
| JP2000139893A (ja) * | 1998-11-09 | 2000-05-23 | Siemens Ag | Ｃｔ装置 |
| JP4623785B2 (ja) * | 1998-11-09 | 2011-02-02 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | Ｃｔ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53105994A (en) | 1978-09-14 |
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