JP2005516187A - スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレンス干渉法(lci)及び光学コヒーレンス断層撮影法(oct)信号の雑音低減のための装置及び方法 - Google Patents
スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレンス干渉法(lci)及び光学コヒーレンス断層撮影法(oct)信号の雑音低減のための装置及び方法 Download PDFInfo
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Abstract
Description
本出願は、2002年1月24日に出願された同時係属出願中のUS仮特許出願第60/351,904号、表題“スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレンス干渉法(LCI)及び光学コヒーレンス断層撮影法(OCT)信号のショット雑音低減のための装置及び方法”と、2002年4月30日に出願された同時係属出願中のUS出願第10/136,813号、表題“焦点特性及びコヒーレンスゲーティングを制御するダイナミックフィードバックを用いて光学コヒーレンス断層撮影法の画像明瞭度及び感度を改善するための装置及び方法”と、の恩恵を主張するものであり、双方共、本出願の譲受人に共同譲渡され、これらの開示内容は、その全体を本明細書中において引用・参照する。
本発明の或る例示の実施形態には、参照アームが走査される場合のLCI及びOCTと、参照アーム走査が不要なスペクトルレーダとの側面を実現する複合の方法が含まれる。
時間ドメイン対スペクトルドメインOCT
ほとんど全ての従来のOCTシステムは、時間ドメイン走査に基づいている。このような従来のシステムでは、マイケルソン干渉計の参照アームの長さは、画像形成深度範囲に対応する距離で素早く走査される。参照アーム走査に対する代替の手順は、分光計を用いて、マイケルソン干渉計の検出アームでの相互スペクトル密度を測定するものである。スペクトルドメインOCTでは、参照アームの機械的でない(例えば、不動の)走査が要求されるが、位相シフトを生成するための装置を用い得る。相互スペクトル密度の直接測定によって、大幅な信号対雑音利得を実現し得ることが認識されたのはごく最近のことである。
雑音がショット雑音限定である場合、時間ドメインOCTシステムの最大の信号対雑音性能が得られる。ショット雑音は、単一の要素検出器を多要素アレイ検出器で置き換えることによって大幅に低減し得る。検出アーム光がアレイ検出器上でスペクトル的に分散されると、アレイの各要素は、光源のスペクトル幅におけるわずかな波長の一部を検出する。ショット雑音は、好適には、アレイの要素数に等しい係数だけ低減される。信号対雑音改善の原理は、ショット雑音に固有なホワイト雑音と、同じ波長の電磁波だけが干渉縞を生成するという観察とに基づく。
信号
時間ドメインOCTにおける信号対雑音比(SNR)の解析は、関連の発行物に記述されている。時間ドメインOCTにおける干渉縞ピーク振幅は、下式によって与えられる。
OCT信号の全雑音に対する3の影響は、熱雑音、ショット雑音及び相対強度雑音である。熱雑音は、フィードバック抵抗器によって生成され、ショット雑音は、電荷量が有限である性質に関連して、電流に統計的な変動を生じさせ、相対強度雑音は、古典的な光源の無秩序な性質による時間的な変動に関連する。雑音密度に対するこれら3つの影響は、単位[A2/Hz]で下式によって与えられる。
OCT信号は、空間ドメインで最も簡単に記述される。サンプルアーム中の単一の物体の場合、OCT信号の干渉項は、光源スペクトラムS(ω)のフーリエ変換の実数部に比例する。
検出アームにおいて、スペクトラムは、2等分できるが、この場合、2つの検出器は、各々、スペクトラムの半分を検出する。式(9)によれば、検出器1及び2における周波数スペクトルは、それぞれf<f0で|I1(f)|=S(πfc/v)、f>f0でI1(f)=0、f<f0でI2(f)=0、f>f0で|I2(f)|=S(πfc/v)である。時間ドメインOCTにおいて単一の検出器によって取得される周波数スペクトラムは、I1(f)とI2(f)の合計によって与えられ、I(f)=I1(f)+I2(f)となる。従って、スペクトル合成後、信号Sは、等しいが、f>f0でI1(f)=0、f<f0でI2(f)=0であり、検出器当たりの帯域幅BWは、2分の1に低減し得る。
本発明の例示の実施形態は、ショット雑音及び他の形態の雑音を低減し、これによって、現行のシステムより大幅に小さい光源パワー又は大幅に大きい取得レートを可能にする。検出感度が大きくなると、リアルタイムの画像形成が可能になる。このような画像形成速度は、胃腸、眼科及び動脈の画像形成環境等において、体動が継続的な問題である場合、開業医を支援し得る。信号対雑音比を維持又は改善しつつフレームレートを大きくすることによって、このような体動は、解消し得る。また、本発明によって、OCTで広い領域の組織を検診することが可能になり、また、この方法を用いて、臨床的に実行可能な検診手順が可能になる。
光源アーム203は、低コヒーレンス光で干渉計を照射するために用いられる光源202を少なくとも含む。光源の時間的なコヒーレンス長は、好適には、数ミクロンより短い(好適な範囲は、約0.5μm乃至30μm)。光源の例には、これらに限定しないが、半導体光増幅器、超発光性ダイオード、発光ダイオード、固体フェムト秒光源、増幅式自然発光連続光源、熱光源、及びそれらの組み合わせ等が含まれる。当業者に知られている他の適切な光源を用いてもよい。本明細書では、光は光源と呼ぶが、このことは、状況に依存して、他の電磁放射の範囲も適切に用い得ることを意図している。
サンプルアーム208は、組織サンプル130から反射した光を集光し、参照アーム206からの光と合成して干渉縞を形成する。参照アーム206は、光源アーム203と合成するために光を戻す。また、参照アームは、反射の無い透過性であってもよい。このビーム分割/再合成の実行は、ビームスプリッタ204(マイケルソン)又はサーキュレータ(1つ又は複数)(マッハ‐ツェンダ)、又はビーム間の干渉を検出し得るように、ビームを複数の経路に分離し、これら複数のビームを再合成するための当業者に知られている他の手段を用いて行ない得る。この分割は、自由空間において、又は受動的な光ファイバ構成要素を有するスプリッタ204を用いることによって実現し得る。
LCI用途の場合、サンプルアームは、劈開された(傾斜した、平坦な、又は研磨した)光ファイバを含む光学プローブ又は自由空間ビームによって終端し得る。(これらに限定しないが、非球面型、屈折率分布型、屈折性、ボール型、ドラム型等の)レンズを用いて、サンプル上又はサンプル内にビームを集光し得る。また、ビーム誘導要素(これらに限定しないが、プリズム、又は屈折性光学要素等)をプローブ内に含み、集光されたビームをサンプル上の所望の位置に誘導し得る。OCT用途の場合、ビーム位置は、時間の関数としてサンプル上で変更して、二次元画像を再構築し得る。サンプル上での集光ビームの位置変更は、(これらに限定しないが、検流計、圧電アクチュエータ等の)走査ミラー、光電アクチュエータ、又は光ファイバを動かす(例えば、光ファイバを回転又は光ファイバを直線的に並進させる)ことによって実現し得る。サンプルアームプローブは、内部で動く要素を有する光ファイバプローブであってよく、この場合、その運動がプローブの基端部で起動され、また、その運動は、(これらに限定しないが、ワイヤ、ガイドワイヤ、速度計ケーブル、ばね、及び光ファイバ等の)運動変換装置によって遠端部に伝達し得る。光ファイバプローブは、光学的に透明な静止外装中に密閉し得るが、この場合、光は、遠端部でプローブから出射する。図4は、(プローブの軸に沿って回転又は直線的に並進し得る)内部ケーブル260、外部透明又は半透明外装262、遠端光学部品264、及び(カテーテルの軸に対して任意の角度での)出射光266を有する詳細図を示す。
参照アーム206の機構270により、参照アーム206のグループ遅延を走査し得る。このグループ遅延は、これらに限定しないが、光ファイバを延長することによって、圧電トランスデューサを用いる自由空間並進走査によって、又は、回折格子ベースのパルス整形光学遅延ラインを介して等、当業者に知られている多数の手法の何れかによって生成し得る。好適には、この遅延は、非機械的な又は不動の構成によって導入される。“非機械的”によって、機械的に動く部品が一切利用されないことを意味する。機械的に動く部品が存在しないと、機械的な装置を用いて遅延を導入するという既知の欠陥が減少すると考えられている。文献に記載されている従来のLCI又はOCTシステムとは反対に、本発明における参照アーム206は、必ずしもサンプルの全測距深度に渡って走査する必要はなく、好適には、少なくとも検出器数分の1(1/N)に等しい一部の測距深度に渡って走査する。この走査の特徴は、基本的に、従来知られているLCI及びOCTシステムに用いられる既知の遅延走査方式とは異なる。参照アーム206は、オプションとして、これらに限定しないが、音響光学変調器、電気光学位相変調器等、搬送波周波数を生成するための(本明細書において、より詳細に記述する)位相変調器機構を有する。参照アーム206の走査範囲を低減するために、スペクトラムは、好適には、以下に説明する方法に基づき、複数のスペクトル帯域に分割する。
図2を参照すると、検出アーム110において、スペクトル分離ユニットは、スペクトル成分を分離し、信号は、別々の検出器114に転送される。検出器114は、好適には、(これらに限定しないが、シリコン、InGaAs、拡張InGaAs等の)受光ダイオードで構成し得る。他の選択肢として、(これらに限定しないが、受光ダイオードアレイ、CCD、CMOSアレイ、能動CMOSアレイ、CMOS“スマート画素”アレイ、及びそれらの組み合わせ等の)一次元又は二次元アレイ検出器114を検出に用い得る。各スペクトル帯域用の2つの検出器114は、再合成光を直交偏光固有状態に分離した後、偏光感受性検出に用い得る。検出器114アレイは、単純な強度測距及び画像形成及び/又はドップラ感受性検出の場合1xN、二重平衡検出の場合2xN、強度測距及び画像形成及び/又は偏光感受性及び/又はドップラ感受性検出の場合2xN、又は合成二重平衡及び強度測距及び/又はドップラ感受性及び/又は偏光感受性検出の場合4xNであってよい。他の選択肢として、MxNアレイを任意のMに対して用いて、サンプル40に関する横断的な空間情報を検出し得る。
各検出器114の信号は、FFT等によって、信号周波数を中心にして帯域通過フィルタ処理される。全ての検出器114の信号は、上述したように合成して、周波数ドメインにおける複素相互スペクトル密度を得ることができる。フーリエ変換によって、複素相互スペクトル密度は、組織中の深度プロファイルに変換し得る。参照アームにおいてπ/2の位相シフトの少なくとも2つの信号を得た後、これら2信号の何らかの線形合成により複素スペクトル密度を再構築することによって等、これらに限定しないが、複素スペクトル密度を処理して深度プロファイル情報を得るための幾つかの方法が、当業者に知られている。
多数の信号の処理は、数学的な画像再構築、表示、データ記憶を含む基本的な処理を行なう画像形成又は診断用のコンソールを用いて行ない得る。他の選択肢として、図6に示す他の実施形態は、既設のOCT及び/又はLCIシステムに接続し得るスタンドアロンの検出・処理システム300を示す。この場合、検出器302及びデジタル化は、スタンドアロンユニット中で実施し得る。スタンドアロンユニットへの入力は、上述したように、参照及びサンプルアーム双方からの合成光である。システムの出力は、先のOCT又はLCIコンソール入力と同様であるがSNRが大きくなった干渉計の信号である。スタンドアロンユニットには、波長をスペクトル帯域に分割するためのスプリッタ304、多数の検出器302、TIA306を含むアナログ回路、及び上述したように、干渉計の信号を再構築するための装置が含まれる。干渉計の信号を再構築するための装置には、アナログ又はデジタル装置が含まれ、この場合、アナログ装置には、帯域通過フィルタ(BPF)308と、各波長帯域からの個々の干渉図形を加算するためのアナログ構成とが含まれる。デジタル装置には、アナログーデジタル変換器と、各スペクトル帯域からの干渉図形を単一の全帯域幅干渉計信号に再合成し得るCPU310とが含まれる。そして、再構築された干渉図形は、スタンドアロンシステムの出力になり得る。あるいは、他の選択肢として、再構築された干渉図形復調信号を既設のシステムコンソールへの入力として用い得る。
サンプル130の測距深度は、それによって相互スペクトル密度を求め得る解像度によって求められる。単一の検出器を用いる方法では、複素スペクトル密度のスペクトル解像度は、参照アームの走査範囲によって求められる。走査範囲が広ければ広いほど、スペクトル解像度は大きくなり、また、サンプル中の測距深度が大きくなる。スペクトル分離ユニット及び多数の検出器を有するシステムでは、相互スペクトル密度の解像度は、参照アーム走査範囲とスペクトル分離特性の組み合わせである。
スペクトラムを分離又は分散するための幾つかの手法が知られている。1つの方法は、回折格子及びマイクロレンズアレイを用いて、スペクトル成分を個々の検出器に集光する。第2の方法は、回折格子の代わりにプリズムを用いる。第3の方法は、回折格子及びアドレス指定可能なミラーアレイ(これらに限定しないが、“MEMS”ミラー又はデジタル光処理(DLP)装置等)を用いて、スペクトル成分を個々の検出器に導く。第4の方法は、アレイ状の個別検出器の前に線形アレイの光学フィルタを用いる。第5の方法は、所望のフィルタ作用を有するパターンを生成するために、ある材料にエッチングされた又は光ファイバ成分から製造された導波路を用いる。一例として、図8において、スペクトラムを帯域に分割する導波路フィルタの例示の実施形態を示す。第6の方法は、インターリーブ処理された又は任意のスペクトル帯域を生成するためにアレイ状の導波路回折格子(AWG)を用いる。
検出器に存在する雑音項の1つは、相対強度雑音(RIN)又はボーズ・アインシュタイン雑音である。RIN雑音は、数ナノメータ未満のスペクトル幅の場合、ショット雑音に対して支配的になる可能性がある。数多くの検出器構成の場合、各検出器におけるスペクトル幅は、数ナノメータより小さい可能性があり、相対強度雑音は、全体的なシステム雑音を支配し得る。従って、好適には、平衡検出を実現して、RINを排除し得る。当分野において知られている幾つかの方法が、平衡検出を実現するために存在している。1つのこのような方法について、更に詳細に以下論ずる。例えば、限定はしないが、図9に示すように、参照アーム400及びサンプルアーム402からの光は、若干異なる角度で回折格子404に入射して反射され、線形NxM光検出器アレイ406に集光される。アレイのN方向(列)に沿って、波長が符号化される。アレイのM方向(行)に沿って、特定の波長におけるサンプル及び参照アームの干渉パターンが記録される。サンプル及び参照アーム光は、若干異なる角度で入射したため、干渉の極大及び極小のパターンが、列方向に存在する。平衡検出は、極大及び極小パターンに対して厳密に位相がずれているダイオード信号を減算することによって実現し得る。他の選択肢として、平衡検出は、列方向の干渉パターンの振幅を測定することによって実現し得るが、このことは、極大又は干渉パターンを列に沿う干渉パターンの極小から減算することによって実現し得る。平衡検出のための他の実施形態は、参照及びサンプルアーム光400、402を合成して、双方の間の位相シフトがπである干渉信号を有する2つの出力を生成することである。このことは、ビームスプリッタ又は他のビーム再合成要素の両出力ポートを利用することによって実現し得る。そして、2つの信号は、別々に検出され減算し得る。干渉項を含む信号は、位相がπだけシフトしているため、これらの項は、減算の演算時強め合うように加算される。RINを含む信号部分は、しかしながら、減算時相殺される。減算の演算は、全てのM要素に対して行なうことができ、また、アナログ又はデジタルドメインで行なうことができる。減算がアナログドメインで行なわれる場合、信号の帯域幅は、2分の1に低減され、好適には、指定されたデジタル化のパラメータやコンピュータバス上でのデータ転送が
減少する。
本発明の例示の実施形態の非限定的例示として、2つの事例、最初に、連続スペクトル帯域(ブロック)の事例、2番目に、図7に示す櫛状スペクトル帯域の事例について以下に議論する。
検出アーム光は、Nスペクトルブロックに分割され、この場合、各スペクトルブロックは、2つの光周波数間の強度を含む。
多数のスペクトル帯域N>=L/λの限界において、参照アームの光学的経路長変化は、波長λのそれに近づく。この限界において、1つの波長全体の位相変化のみが、長さL上での全軸方向の走査を再構築するために必要である。この場合、参照アーム経路遅延は、参照アーム遅延を走査するための上記方法のいずれかを用いることによって実現し得る。本発明による他の好適な方法は、電気光学変調器、音響光学変調器、又は位相制御の挿入を含み、参照アーム経路における光学遅延ライン(RSOD)を迅速に走査して1つの波長の経路長遅延を与える。また、この場合、波長分離ユニットは、波長を櫛パターンに分離しないが、スペクトラムを固有の光周波数に分離し、各周波数が単一の検出器で検出される。
時間又は空間ドメインにおけるLCI又はOCT信号の再構築と対照的に、信号は、各波長帯域の複素スペクトル成分を加算することによって、フーリエドメインにおいて再構築してLCI又はOCT信号のフーリエ変換を構成し得る。各フーリエ成分の位相変更は、参照アーム遅延長を補正するために、或る選択された状況では好まれることがある。
実数ドメインにおけるLCI又はOCT信号の再構築に続き、軸方向の反射率は、再構築されたLCI又はOCT信号を復調することによって求め得る。復調の構成には、正弦波・低域通過フィルタ処理、包絡線検出を用いる包絡線復調、2乗復調・低域通過フィルタ処理、FIRに続く直角復調、IIRフィルタ処理、又は低域通過フィルタ処理による乗算を含み得る。更に、ストークスベクトル(偏光)及びこれらのLCI又はOCT信号からのフローの再構築は、当業者に公知である。再構築及び復調に続き、データは、一次元又は二次元フォーマット(画像)で表示され解釈されて最終的に組織の状態や媒体中の欠陥の診断を行ない得る。フーリエドメインにおいてLCI又はOCT信号が再構築される場合、フーリエドメインにおけるこのような再構築された信号は、フーリエスペクトラムをシフトし、また、逆フーリエ変換を行なうことによってフーリエドメインで復調し得る。その結果、実数ドメイン(直角信号)における複素信号は、次に、直角信号の実数部の振幅を算出することによって、軸方向の反射率情報に再構築される。複素成分は、偏光又はフロー情報を算出するために用いられる。他の選択肢として、信号がフーリエドメインで再構築される場合、これは、実数ドメインに直接逆フーリエ変換して、再構築された実数ドメイン信号に対して述べた上記処理を受けることができる。
図13において、スペクトルドメインOCTの中心は、多要素アレイ114への検出アーム光のスペクトル分離である。検出アームビーム520は、回折格子520によってスペクトル的に分離され、レンズ522によって多要素アレイ114上に集光される。
二重平衡検出は、好適には、本発明によって用いられ、これは、好適には、以下の理由で利用される。第1に、ほとんどの光源が、相対的に低い周波数で1/f雑音(f=周波数)を生成する。平衡検出は、1/f光源雑音を解消する。第2に、サンプルアーム光のそれ自体との干渉項(自己相関項)が、実際の信号項上に存在するが、これは、サンプルと参照アームとの間の干渉である。この自己相関項は、差分法によって除去し得る。平衡検出は、この自己相関項を測定信号から除去し得る。第3に、RINは、低減し得る。
2000検出器要素及び8乃至10ビット解像度(ほとんどのライン走査カメラのダイナミックレンジ)で、1秒間当たり20、000スペクトルプロファイルのデータレートは、40乃至80MB/秒である。PCIバス上で維持可能な最大データ転送速度は、100MB/秒である。コンピュータシステムメモリへの2つの独立PCIブリッジを有するコンピュータでは、同時に2つのライン走査カメラから約200MB/秒のデータを転送してデータのリアルタイム処理を行ない得る。デジタル化の前にライン走査カメラ信号を減算することによるアナログでの二重平衡検出の実現によって、データレートは2分の1だけ低減し得る。12乃至14ビットの解像度で、100Mサンプル/秒までの速度の高速データ取得ボードが入手可能である。2.5GHzペンティアム(登録商標)4プロセッサ上で単一の2048点高速フーリエ変換は、50μ秒要する。これらの数値は、20、000スペクトルプロファイル/秒でのスペクトルドメインOCTデータのリアルタイム処理が、デュアルプロセッサPCの現在のデータ取得・処理能力の到達範囲内であることを示す。分光計によって収集されたデータは、等しい波長増分でサンプリングし得る。しかしながら、フーリエ変換は、z及びk空間(又は、t及びw)をリンクする。kとλとの間の関係が非線形的であることから、分光計からのスペクトラムを補間して、kドメインにおいて均等に分散配置されたサンプルを生成すべきである。最適な点分散関数を実現するために、干渉計のサンプル及び参照アームの分散は、平衡状態にすべきである。分散不平衡は、デジタル処理によって補正でき、個人の目の長さに対して正しい分散補正が可能になり得ることを示した。
また、本発明は、スペクトルドメイン(SD)OCTにおける位相追跡のための装置及び方法を提供する。
完全に並行なSDOCTの特徴の1つは、これに限定しないが、積分装置(例えば、CCD)等、検出アーム光の多要素アレイへのスペクトル分散と、高速での実数又は複素スペクトル密度の測定である。検出アームビームは、スペクトル分離ユニット(例えば、回折格子)によって分離され、アレイ上に集光される。当分野で知られている従来のスペクトルドメインOCT設計に対して、後述する2つの差異が明らかである。即ち、1)平衡検出の実現、及び2)位相追跡の実現である。
二重平衡検出は、少なくとも3つの理由により有利である。第1に、ほとんどの光源は、相対的に低周波数(数十キロヘルツ範囲)で1/f雑音を生成する。時間ドメイン(TD)OCTシステムにおいて、1/f雑音は、信号搬送波が、一般的に、1/f雑音が重要ではないメガヘルツ範囲にあることから、問題ではない。SDOCTでは、平衡検出は、1/f光源雑音を除去する可能性がある。第2に、サンプルアーム光のそれ自体との干渉(自己相関項)が、実際の信号上に存在する。この自己相関項は、差分法によって除去し得る。平衡検出を用いて、この自己相関項を測定信号から除去し得る。第3に、平衡検出は、相対強度又はボーズ・アインシュタイン雑音を低減し得る。
位相追跡は、干渉計における位相不安定性を除去するために好ましい。位相の不安定性は、個々の干渉計の干渉縞が位置をシフトする原因になり得る。検出が干渉縞のシフト動作に対して遅い場合、その結果生じる平均化により、測定された干渉縞振幅は、人為的に減少する。高速検出アレイは、相互スペクトル密度を20乃至40kHzのレートで捕獲でき、それぞれ、積分時間が50乃至25μ秒になる。時間フレームがアレイの積分時間より短いと生じる位相不安定性は、補正すべきである。
干渉縞パターンの単一の振動内における任意の瞬間の検出器での強度I(t)は、I(t)=cos[φ(t)]で与えられる。ここで、位相φは、干渉縞における位置を与える。φ=0の場合、信号は、干渉縞の最大値であり、φ=πの場合、信号は、干渉縞の最小値である。任意の瞬間tにおいて、位相φ(t)は、φ(t)=α+βsin(ωt)で与えられる。ここで、αは、干渉縞パターンの単一の振動内における位置を示し、β*sin(ωt)は、位相変調器によってもたらされた位相変調であり、βは位相変調の振幅、ωは位相変調信号の周波数である。光検出器における強度I(t)は、周波数ω及び2ωで搬送波とミキシングされ、ミキサ信号、MixerC(t)、MixerS(t)、Mixer2ωC(t)及びMixer2ωS(t)になり得る。即ち、MixerC(t)=cos(ωt)*cos(α+βsin(ωt))、MixerS(t)=sin(ωt)*cos(α+βsin(ωt))、Mixer2ωC(t)=cos(2ωt)*cos(α+βsin(ωt))、Mixer2ωS(t)=sin(2ωt)*cos(α+βsin(ωt))である。MixerC、MixerS、Mixer2ωC及びMixer2ωSの搬送波周波数ωの単一の振動における時間平均は、下式によって与えられる。
一般的に、分光計によって収集されるデータは、等波長増分によってサンプリングされる。フーリエ変換は、しかしながら、z及びk空間(又は、t及びw)をリンクする。Kとλとの間の非線形的な関係のために、取得されたスペクトラムは、補間されて、kドメインにおいて均等に離間したサンプルを生成する。他の選択肢として、補間を用いる必要がなくなるように光がk空間において等間隔でサンプリングされるように、光は、検出アレイ上で分散し得る。他の選択肢として、検出アレイ間隔は、補間を用いる必要がなくなるように、kドメインにおいて均等に分散された光をサンプリングするように設計できる。最適な点分散関数を実現するために、干渉計のサンプル及び参照アームにおける分散は、好適には、平衡状態にすべきである。分散の不平衡は、デジタル処理によって補正し得る。
本発明による方法は、研究室での以下の実験によって検証された。
スペクトルドメインOCTにおける雑音低減を実証するために、高速走査光学遅延ライン(RSOD)を含むOCTシステムを参照アームに用いて、スペクトラムの幾つかの部分を遮蔽した。検出器信号を2.5Mサンプル/秒でデジタル化し、干渉縞情報のデジタル処理を行なった。まず、検出器への全ての光を遮蔽することによって、検出器の熱雑音密度を周波数の関数として測定した。第2に、参照アームパワーだけを検出器に入射させて、参照アームパワーのショット雑音密度を測定した。第3に、サンプル及び参照アーム光双方を検出器に入射させた。サンプルは、模型眼に搭載した単一の散乱面であり、2秒間で512の深度プロファイルを取得した。スペクトル密度の2乗に比例する(式(9)参照)パワー密度I(f)2を測定した。その後、参照アームにおけるスペクトラムの半分を遮蔽して、再度、サンプルアームを遮蔽することによって参照アームのショット雑音密度を測定し、サンプル及び参照アーム光が検出器に入射する時、パワー密度I(f)2を測定した。減算によって、ショット雑音及びパワー密度の熱雑音を補正した。熱雑音は、最低ショット雑音レベルより少なくとも3分の1小さい。
Claims (102)
- 光学的画像形成のための装置であって、
a)干渉計と、
b)前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
c)複数の検出器であって、各検出器が前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出可能な前記複数の検出器と、
が含まれる装置。 - 請求項1に記載の装置であって、前記干渉計は、
d)電磁放射の光源から受信されたエネルギを参照信号及びサンプル信号に分割するための手段と、
e)参照アーム光を提供する参照アームと、
f)サンプルアーム光を提供するサンプルアームと、
g)前記参照アーム光及び前記サンプルアーム光を再合成するための手段と、
が含まれる装置。 - 前記複数の各検出器は、それに付随する少なくとも1つのトランスインピーダンス増幅器を有する請求項1に記載の装置。
- 前記各検出器は、それに付随する少なくとも1つの帯域通過フィルタを有する請求項1に記載の装置。
- 請求項1に記載の装置であって、更に、電磁放射の少なくとも1つの光源を含み、前記電磁放射の前記光源は、時間的なコヒーレンスが所定の閾値より小さい装置。
- 電磁放射の前記光源は、時間的なコヒーレンスが約30μmより小さい請求項5に記載の装置。
- 前記各検出器は、ショット雑音を制限するように平衡状態になっている請求項1に記載の装置。
- 前記各検出器は、相対強度雑音を低減するように平衡状態になっている請求項1に記載の装置。
- 請求項1に記載の装置であって、前記発光源は、半導体光増幅器、超発光性ダイオード、発光ダイオード、固体フェムト秒光源、増幅式自然発光連続光源、熱光源、及びそれらの組み合わせから構成されるグループから選択される装置。
- 分割のための前記手段は、ビームスプリッタである請求項2に記載の装置。
- 分割のための前記手段は、サーキュレータである請求項2に記載の装置。
- 分割のための前記手段は、自由空間スプリッタ又はサーキュレータを用いて、自由空間で利用される請求項2に記載の装置。
- 分割のための前記手段は、少なくとも1つの受動光ファイバ成分を用いて利用される請求項2に記載の装置。
- 前記分割する手段及び前記再合成する手段は、互いに一体化される請求項2に記載の装置。
- 請求項12に記載の装置であって、更に、前記複数の検出器から受信された信号を処理するように、また、前記干渉計の少なくとも1つのアーム内から縦方向の情報を再構築するように構成された信号処理ユニットを含む装置。
- 更に、アナログ−デジタル変換器を含む請求項15に記載の装置。
- 前記処理ユニットは、更に、デジタル帯域通過フィルタを含む請求項15に記載の装置。
- 前記処理ユニットは、更に、少なくとも1つのアナログ帯域通過フィルタを含む請求項15に記載の装置。
- 前記処理ユニットは、更に、少なくとも1つのアナログ・トランスインピーダンス増幅器を含む請求項15に記載の装置。
- 更に、位相変調器を含む請求項1に記載の装置。
- 更に、復調器を含む請求項1に記載の装置。
- 前記参照アームは、単一の参照経路のみを有する請求項1に記載の装置。
- 前記サンプルアームは、単一のサンプル経路のみを有する請求項1に記載の装置。
- 更に、自動側距のための手段を含む請求項1に記載の装置。
- 請求項24に記載の装置であって、前記自動側距のための手段は、
a)第1走査ラインを取得し、
b)サンプルの表面位置“S”を特定し、
c)サンプルの最適な走査範囲“R”を特定し、
d)出力を提供するために参照アーム遅延波形を修正し、
e)参照アームに前記出力を出力し、
f)前記画像が完全であるかどうか判断し、
g)前記画像が完全でない場合、次の走査ラインに移動し、又は前記画像が完全である場合、前記メモリ記憶装置に記憶された前記表面Sデータ及び前記波形データを用いて、前記画像を再マッピングするためのプロセッサユニットを含む装置。 - 更に、参照アーム遅延を導入するための不動の非機械的構成を含む請求項1に記載の装置。
- 前記参照アーム遅延構成は、周波数依存の位相変化を導入するための手段を含む請求項26に記載の装置。
- 前記複数の検出器は複数の受光ダイオードを含む請求項2に記載の装置。
- 前記複数の検出器は、検出器アレイを含む請求項2に記載の装置。
- 前記検出器アレイは、一次元アレイである請求項29に記載の装置。
- 前記検出器アレイは、二次元アレイである請求項29に記載の装置。
- 請求項29に記載の装置であって、前記検出器アレイは、受光ダイオードアレイ、CCD、CMOSアレイ、能動CMOSアレイ、又はそれらの組み合わせである装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、光を直交偏光固有状態に分割する請求項2に記載の装置。
- 前記複数の各検出器は、2つの検出器を含む請求項33に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、少なくとも1つの回折格子を含む請求項1に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、少なくとも1つのプリズムを含む請求項1に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、少なくとも1つのレンズを含む請求項1に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、少なくとも1つの回折格子と、少なくとも1つのアドレス指定可能なミラーアレイとを含む請求項1に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、光学フィルタの線形アレイを含む請求項1に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、少なくとも1つの導波管フィルタを含む請求項1に記載の装置。
- 前記スペクトル分離ユニットは、複数の導波管回折格子のアレイを含む請求項1に記載の装置。
- 請求項1に記載の装置であって、前記スペクトル分離ユニットは、前記信号を複数の帯域に分割し、これによって、各帯域は、櫛状構造の一組の狭いスペクトルを含む装置。
- 請求項1に記載の装置であって、前記処理ユニットは、複数の検出器から取得した複数の各信号の数学的な処理によって時間ドメインにおいて前記複数の検出器からの信号を再構築する装置。
- 請求項1に記載の装置であって、前記処理ユニットは、複数の検出器から取得した複数の各信号の数学的な処理によってフーリエドメインにおいて前記複数の検出器からの信号を再構築する装置。
- 前記処理ユニットは、再構築された信号を復調することによって縦方向の情報を判断する請求項1に記載の装置。
- 前記複数の検出器は、個々のチャネルにおける処理を可能にする請求項1に記載の装置。
- 請求項46に記載の装置であって、更に、
a)第1走査ラインを取得し、
b)サンプルの表面位置“S”を特定し、
c)サンプルの最適な走査範囲“R”を特定し、
d)出力を提供するために参照アーム遅延波形を修正し、
e)参照アームに前記出力を出力し、
f)前記画像が完全かどうかを判断し、
g)前記画像が完全でない場合、次の走査ラインに移動し、又は、前記画像が完全である場合、前記メモリ記憶装置に記憶された前記表面Sデータ及び前記波形データを用いて、前記画像を再マッピングするための自動測距プロセッサユニットを含む装置。 - 更に、干渉縞の位相を追跡するための手段を含む請求項1に記載の装置。
- 光学的画像形成のための装置であって、
a)干渉計と、
b)参照アーム遅延を生成するための手段と、
c)前記参照アーム遅延を生成するための前記手段から受信された信号を利用する前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
d)複数の検出器であって、各検出器が前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出可能な前記複数の検出器と、
が含まれる装置。 - 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、光ファイバを拡張するための手段を含む請求項49に記載の装置。
- 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、自由空間並進走査を行うように構成された圧電トランスデューサを含む請求項49に記載の装置。
- 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、位相制御光遅延ラインを含む請求項49に記載の装置。
- 前記参照アームは、少なくとも検出器数分の1に等しい測距深度の一部を走査する請求項49に記載の装置。
- 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、更に、搬送波周波数発生器を含む請求項49に記載の装置。
- 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、音響光学変調器を含む請求項49に記載の装置。
- 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、電気光学変調器を含む請求項49に記載の装置。
- 参照アーム遅延を生成するための前記手段は、位相制御RSODを含む請求項49に記載の装置。
- 前記参照アーム遅延は、距離“Z”が前記サンプルアームの範囲より小さい請求項49に記載の装置。
- 干渉縞の不安定性による信号減衰を低減するために位相を追跡するための装置であって、
a)少なくとも1つの位相変調器と、
b)干渉計と、
c)少なくとも1つの光源と、
d)少なくとも1つの検出器と、
e)フィードバック・ループを生成するための信号処理装置と、
が含まれる装置。 - 前記位相変調器は、位相遅延を誘発する請求項59に記載の装置。
- 前記位相変調器は、経路遅延を誘発する請求項59に記載の装置。
- 画像形成システムにおける位相を追跡するための方法であって、
a)前記サンプルアームから受信された信号を測定する段階と、
b)前記信号の位相を大きくする段階と、
c)前記信号の少なくとも1つのピークでx1と定義された前記信号の第1信号部分を測定する段階と、
d)一定量だけ前記信号の位相を大きくするか又は小さくするか判断する段階と、
e)段階(d)の後、段階d)に続き前記信号の第2信号部分を測定する段階と、
f)前記信号がそのピークである場合、前記信号を再測定し、前記信号がそのピークでない場合、段階d)及びe)を繰り返す段階と、
が含まれる方法。 - 段階(a)乃至(f)は、他の画像形成処理と並行して行われる請求項62に記載の方法。
- 位相“φ”の前記調整は、“A”を定数として、A(X2−X1)と定義される請求項63に記載の方法。
- 請求項64に記載の方法であって、段階d)は、更に、A(X2−X1)が、前記位相変調器の範囲内であるかどうか判断する下位段階d1)と、A(X2−X1)が前記範囲内である場合、A(X2−X1)に等しい量だけφを変更し、又は、A(X2−X1)が前記範囲外である場合、Mを1より大きい整数として、A(X2−X1)−m2πに等しい量だけφを変更する下位段階d2)を含む方法。
- 更に、信号X1を再測定する下位段階d3)を含む請求項65に記載の方法。
- ロック範囲を拡張した位相を追跡するための装置において、
a)位相追跡下位組立体であって
i)位相変調器ドライバと、
ii)位相変調器からの変調周波数を用いて少なくとも1つの検出器からの信号を混合するように、また、それからエラー信号を生成するように構成されたミキサと、
iii)前記エラー信号を処理するように、また、オフセット電圧を生成するように構成された処理ユニットと、
が含まれる前記位相追跡下位組立体を含む装置。 - 前記少なくとも1つの検出器は、2つの検出器アレイを含む請求項67に記載の装置。
- 位相追跡によるスペクトルドメイン光学コヒーレンス断層撮影法画像形成のための装置であって、
a)複数の検出器と、位相変調器ドライバと、位相変調器からの変調周波数で前記検出器からの信号をミキシングし、また、そこからエラー信号を生成するためのミキサと、前記エラー信号を処理するように、また、オフセット電圧を生成するように構成された処理ユニットと、を含む位相追跡構成が含まれる装置。 - OCT及びLCI画像形成において感度及び信号対雑音比を大きくするための方法であって、
a)電磁放射光源を提供する段階と、
b)前記光源をビームスプリッタを介して導く段階であって、前記光の一部が、参照アーム遅延機構に導かれ、また、前記光の一部が、サンプルに導かれるように前記光源を導く前記段階と、
c)前記サンプルから反射されて戻った前記光の前記部分及び前記参照アーム遅延機構からの前記光の前記部分をスペクトル多重処理組立体を通過させる段階と、
d)前記スペクトル多重処理組立体からの前記光を複数の固有周波数スペクトル帯域信号に分割する段階と、
e)前記各帯域信号を少なくとも1つの検出器に導く段階と、
f)前記光信号を処理する段階と、
g)前記処理された光信号に基づき、干渉計の少なくとも1つの前記アーム内からの縦方向の情報を再構築する段階と、
が含まれる方法。 - 光学コヒーレンス断層撮影法画像形成に有用なプローブであって、
a)干渉計と、
b)前記干渉計から受信された信号を複数の固有周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
c)複数の検出器であって、各検出器が前記スペクトル分離ユニットから受信されたそれぞれの周波数信号を検出可能であり、前記複数の各検出器は、それらに付随した少なくとも1つのトランスインピーダンス増幅器を有し、また、前記複数の各検出器は、それらに付随した少なくとも1つの帯域通過フィルタを有する前記複数の検出器と、
d)前記複数の検出器から受信された信号を処理するための処理構成と、
e)前記処理された信号を表示するための表示構成と、
が含まれる装置。 - 光学コヒーレンス断層撮影法画像形成のための装置であって、
a)可撓性カテーテル本体であって、それを貫通する少なくとも1つの孔と、基端部及び遠端部とを有する前記可撓性カテーテル本体と、
b)患者の体内に配置された時、前記組織の表面から離れて保持されるように、前記カテーテル本体中を延在する光学プローブであって、その基端部において電気光学画像解析システムに接続するように構成され、
i)少なくとも1つの光ファイバと、
ii)レンズ要素と、
iii)前記光ファイバからの光を前記組織表面に透過し、また、前記組織表面からの反射光を受光し得るプリズムと、を含む前記光学プローブと、
が含まれる装置。 - 請求項72に記載の方法であって、更に、
前記プリズムをその縦軸を中心にして機械的に回転させるための前記プリズムに付随するケーブルが含まれる方法。 - 光学コヒーレンス断層撮影法画像形成を行なうための装置であって、
a)干渉計と、
b)複数の検出器であって、各検出器が、それらに付随した少なくとも1つのトランスインピーダンス増幅器を有し、また、それらに付随した少なくとも1つの帯域通過フィルタを有する前記複数の検出器と、
c)前記複数の検出器から受信された信号を処理するための処理構成と、
d)前記処理された信号を表示するための表示構成と、
が含まれる装置。 - 1の装置であって、前記サンプルのほぼ全領域の一連の同時照射で前記サンプルが走査される装置。
- サンプルの少なくとも1つの部分を光学的に画像形成するための装置であって、
a)干渉計からの少なくとも1つの電磁気信号を受信するように、また、前記少なくとも1つの電磁気信号を複数のスペクトル帯域に分離するように構成されたスペクトル分離構成であって、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記スペクトル分離構成と、
b)前記スペクトル分離構成から受信された少なくとも1つのスペクトル帯域を検出するように構成され、また、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の少なくとも1つの部分を画像形成するために用いられる合成信号を生成するように構成された検出構成と、が含まれる装置。 - 請求項76に記載の装置であって、前記検出構成は複数の検出器を含み、各検出器は、それぞれの1つのスペクトル帯域を受信するように構成されている装置。
- 請求項77に記載の装置であって、前記検出器は、検出されたスペクトル帯域をデジタル信号にデジタル化し、また、更に、
a)前記デジタル信号を受信するように、また、前記デジタル信号を帯域通過フィルタ処理するように構成された複数のフィルタを含む装置。 - 請求項78に記載の装置であって、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分における内部の少なくとも1つの部分に関する情報を含み、また、更に、
a)前記デジタル信号を受信するように、また、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分における内部の前記少なくとも1つの部分に関連するデータを生成するように構成された処理構成を含む装置。 - 請求項76に記載の装置であって、前記検出構成は、更に、前記検出されたスペクトル帯域に基づき信号を生成し、また、更に、処理構成であって、前記更なる信号を受信するように、また、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分に沿って延在する縦方向の情報に関連するデータを生成するように構成された前記処理構成が含まれる装置。
- 請求項76に記載の装置であって、前記干渉計は、電磁気光源によって生成される前記電磁気信号を受信する装置。
- サンプルの少なくとも1つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する論理構成において、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階は、
a)検出構成からの前記少なくとも1つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記少なくとも1つの電磁気信号を受信し、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる論理構成。 - サンプルの少なくとも1つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する方法であって、
a)検出構成からの前記少なくとも1つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記少なくとも1つの電磁気信号を受信し、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる方法。 - サンプルの少なくとも1つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
a)検出構成からの前記少なくとも1つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記少なくとも1つの電磁気信号を受信し、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる記憶媒体。 - その干渉縞の不安定性による少なくとも1つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも1つの信号の位相を追跡するための装置において、
a)処理構成であって、
b)前記少なくとも1つの信号に関連する情報を受信する段階と、
c)前記少なくとも1つの信号の前記位相を調整する段階と、
d)前記少なくとも1つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
e)前記信号部の前記位置が、前記少なくとも1つの信号のピークから所定の距離を越えて提供される場合、前記少なくとも1つの信号の少なくとも1つの特性を修正する段階と、
f)前記少なくとも1つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階(d)及び(e)を繰り返す段階と、
に対応するように構成された前記処理構成が含まれる装置。 - 請求項85に記載の装置であって、前記情報は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域の少なくとも1つの組み合わせに対応する装置。
- その干渉縞の不安定性による少なくとも1つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも1つの信号の位相を追跡するための論理構成において、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
a)前記少なくとも1つの信号に関連する情報を受信する段階と、
b)前記少なくとも1つの信号の前記位相を調整する段階と、
c)前記少なくとも1つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
d)前記信号部の前記位置が、前記少なくとも1つの信号のピークから所定の距離より離れている場合、前記少なくとも1つの信号の少なくとも1つの特性を修正する段階と、
e)前記少なくとも1つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階(d)及び(e)を繰り返す段階と、
が含まれる論理構成。 - その干渉縞の不安定性による少なくとも1つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも1つの信号の位相を追跡するための方法であって、
a)前記少なくとも1つの信号に関連する情報を受信する段階と、
b)前記少なくとも1つの信号の前記位相を調整する段階と、
c)前記少なくとも1つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
d)前記信号部の前記位置が、前記少なくとも1つの信号のピークから所定の距離より離れている場合、前記少なくとも1つの信号の少なくとも1つの特性を修正する段階と、
e)前記少なくとも1つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内にある位置より遠い位置に到達するまで段階(d)及び(e)を繰り返す段階と、
が含まれる方法。 - その干渉縞の不安定性による少なくとも1つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも1つの信号の位相を追跡するための実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
a)前記少なくとも1つの信号に関連する情報を受信する段階と、
b)前記少なくとも1つの信号の前記位相を調整する段階と、
c)前記少なくとも1つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
d)前記信号部の前記位置が、前記少なくとも1つの信号のピークから所定の距離だけ離れている場合、前記少なくとも1つの信号の少なくとも1つの特性を修正する段階と、
e)前記少なくとも1つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階(d)及び(e)を繰り返す段階と、
が含まれる記憶媒体。 - サンプルの少なくとも1つの部分に関連する少なくとも1つの電磁気信号の位相を追跡するための装置であって、
a)前記少なくとも1つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも1つの第1信号を取得する検出構成と、
b)変調周波数を有する位相変調器ドライバであって、少なくとも1つの第2信号を生成するように前記変調周波数に基づき、前記少なくとも1つの第1信号を変調するように構成された前記位相変調器ドライバと、
c)合成信号を生成するように前記少なくとも1つの第1信号と前記少なくとも1つの第2信号とをミキシングするように構成されたミキサと、
d)前記合成信号に基づき、オフセット電圧を生成するように構成された処理構成と、が含まれる装置。 - サンプルの少なくとも1つの部分に関連する少なくとも1つの電磁気信号の位相を追跡するための論理構成であって、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
a)前記少なくとも1つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも1つの第1信号を取得する段階と、
b)少なくとも1つの第2信号を生成するように変調構成の変調周波数に基づき、前記少なくとも1つの第1信号を変調する段階と、
c)合成信号を生成するように前記少なくとも1つの第1信号と前記少なくとも1つの第2信号とをミキシングする段階と、
d)前記合成信号に基づき、オフセット電圧を生成する段階と、が含まれる方法。 - サンプルの少なくとも1つの部分に関連する少なくとも1つの電磁気信号の位相を追跡するための方法であって、
a)前記少なくとも1つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも1つの第1信号を取得する段階と、
b)少なくとも1つの第2信号を生成するように変調構成の変調周波数に基づき、前記少なくとも1つの第1信号を変調する段階と、
c)合成信号を生成するように前記少なくとも1つの第1信号と前記少なくとも1つの第2信号とをミキシングする段階と、
d)前記合成信号に基づき、オフセット電圧を生成する段階と、が含まれる方法。 - その干渉縞の不安定性による少なくとも1つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも1つの信号の位相を追跡するための実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
a)前記少なくとも1つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも1つの第1信号を取得する段階と、
b)少なくとも1つの第2信号を生成するように変調構成の変調周波数に基づき、前記少なくとも1つの第1信号を変調する段階と、
c)合成信号を生成するように前記少なくとも1つの第1信号と前記少なくとも1つの第2信号とをミキシングする段階と、
d)前記合成信号に基づき、オフセット電圧を生成する段階と、が含まれる記憶媒体。 - サンプルの少なくとも1つの部分に関連するデータを提供するための装置であって、
a)干渉計からの少なくとも1つの電磁気信号を受信するように、また、前記少なくとも1つの電磁気信号を複数のスペクトル帯域に分離するように構成されたスペクトル分離構成であって、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記スペクトル分離構成と、
b)前記スペクトル分離構成から受信された少なくとも1つのスペクトル帯域を検出するように構成され、また、前記データに用いるための合成信号を生成するように構成された検出構成と、が含まれる装置。 - サンプルの少なくとも1つの部分に関連するデータを提供する論理構成において、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階は、
a)検出構成からの前記少なくとも1つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記少なくとも1つの電磁気信号を受信し、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる論理構成。 - サンプルの少なくとも1つの部分に関連するデータを提供する方法であって、
a)検出構成からの前記少なくとも1つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記少なくとも1つの電磁気信号を受信し、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる方法。 - サンプルの少なくとも1つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
a)検出構成からの前記少なくとも1つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも1つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記少なくとも1つの電磁気信号を受信し、前記少なくとも1つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも1つの部分の特性に関連する前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる記憶媒体。 - その干渉縞の不安定性による少なくとも1つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも1つの信号の位相を追跡するための装置において、
a)処理構成であって、
b)前記少なくとも1つの信号に関連する情報を受信する段階と、
c)前記少なくとも1つの信号の前記位相を調整する段階と、
d)前記少なくとも1つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
e)前記信号部の前記位置が、前記少なくとも1つの信号のピークから所定の距離だけ離れている場合、前記少なくとも1つの信号の少なくとも1つの特性を修正する段階と、
f)前記少なくとも1つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階(d)及び(e)を繰り返す段階と、
に対応するように構成された前記処理構成が含まれる装置。 - 光学コヒーレンス断層撮影法画像形成を行なうための装置であって、
a)少なくとも1つの第1信号を提供する干渉計と、
b)前記少なくとも1つの第1信号を受信する少なくとも1つの検出器であって、少なくとも1つの第2信号を生成するように、それに付随する少なくとも1つのトランスインピーダンス増幅器及びそれに付随する少なくとも1つの帯域通過フィルタを有する前記少なくとも1つの検出器と、
c)前記少なくとも1つの第2信号を処理するように構成された第1構成と、
d)前記少なくとも1つの第2の処理された信号を表示するように構成された第2構成と、が含まれる装置。 - 請求項99に記載の装置であって、前記干渉計には、前記少なくとも1つの第1光源を参照信号及びサンプル信号に分割するようになっている構成が含まれる装置。
- 血管中のアテローム硬化症斑点を特定するためのプローブであって、
a)干渉計と、
b)前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
c)前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出できる検出器構成と、が含まれるプローブ。 - 治療薬を投与するための装置であって、
a)前記ハウジングに配置されたプローブであって、
i)干渉計と、
ii)前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
iii)前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出できる検出器構成と、を含む前記プローブと、
b)前記プローブと協働する導管であって、前記治療薬を受け入れるための基端部と、所定の位置において前記治療薬を投与するための遠端部とを有し、前記位置は、前記プローブを用いて前記遠端部に近接する環境を画像化することによって決定される前記導管と、が含まれる装置。
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