JP2001174404A - 光断層像計測装置および計測方法 - Google Patents

光断層像計測装置および計測方法

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JP2001174404A
JP2001174404A JP35611599A JP35611599A JP2001174404A JP 2001174404 A JP2001174404 A JP 2001174404A JP 35611599 A JP35611599 A JP 35611599A JP 35611599 A JP35611599 A JP 35611599A JP 2001174404 A JP2001174404 A JP 2001174404A
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Takahisa Mitsui
隆久 三井
Koji Nakajima
浩二 中島
Masaichi Nakamura
正市 中村
Masahiro Kikuchi
雅博 菊地
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Skinos Co Ltd
Original Assignee
Skinos Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被計測物に照射されて反射された信号光と参
照光反射鏡によって反射された参照光との干渉光の電気
信号に含まれる雑音を除去することによって電気信号の
ダイナミックレンジを向上させることができ、虚像のな
い光断層像の計測を迅速かつ高感度に行うことができる
光断層像計測装置および光断層像計測方法を提供するこ
と。 【解決手段】 波長分散手段４１によって各波長ごとに
分散され検出手段４３によって検出された干渉光の電気
信号に含まれる雑音を除去する雑音除去手段４５を設け
たこと。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光断層像計測装置および
計測方法に係り、特に、被計測物に照射して反射させた
反射光を波長分散するとともに、この波長分散した反射
光のデータに基づいて被計測物の断層像を計測する光断
層像計測装置および計測方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、生体の内部断層像を得るため
のスキャン技術が多く開発されてきているが、その中で
も、近年、光を用いて生体の皮膚組織や眼球の網膜剥離
等の生体における比較的表面付近の内部断層像を得る技
術が開発されてきている。
【０００３】このようなスキャン技術として、被計測物
に反射された反射光に基づいてこの被計測物の内部を計
測する光断層像計測装置が従来から提案されている。
【０００４】図４は、このような従来の光断層像計測装
置の一例を示したものであり、この光断層像計測装置１
は、干渉時間の短い光を放出する、例えば、スーパール
ミネッセンスダイオード（ＳＬＤ）等の発光素子２を有
しており、この発光素子２の光の輻射方向には、発光素
子２から照射された光をほぼ直角に反射させるための反
射鏡３が配設されている。前記発光素子２と反射鏡３と
の間には、発光素子２から発光された光の逆行を防止す
るためのアイソレータ４が配設されており、前記反射鏡
３の光の反射方向には、前記反射鏡３により反射された
光の一部をその進行方向に透過させるとともに一部の光
をその進行方向に対してほぼ直角に反射させるための分
光手段としてのハーフミラー等の半透過板５が配設され
ている。以下、前記半透過板５により反射された光を参
照光ＥR （ｔ）とし、透過された光を信号光ＥS （ｔ）
とする。
【０００５】前記半透過板５の光の反射方向には、前記
参照光ＥR （ｔ）を集光させるための参照側集光レンズ
６が配設されており、この参照側集光レンズ６の光の透
過方向には、前記参照光ＥR （ｔ）の光路上を所定速度
で移動して前記参照光ＥR （ｔ）を前記半透過板５の方
向に所望の時間だけ遅延させて反射させるための可変遅
延装置７が配設されている。
【０００６】前記半透過板５の光の透過方向には、信号
光ＥS （ｔ）を集光する信号側集光レンズ８が配設され
ており、この信号側集光レンズ８の光の透過方向には、
被計測物９が、その表面と半透過板５との間の距離が、
この半透過板５と前記可変遅延装置７との間の距離と等
しくなるように配置されるようになっている。
【０００７】この被計測物９は、一般に、空間的に厚み
を有しているとともに各部分がそれぞれ異なる反射率を
有しており、照射された信号光ＥS （ｔ）をわずかに反
射できるものである。
【０００８】被計測物９によって反射された信号光（以
下、ＥBS（ｔ）とする）は、計測部位ごとに伝搬時間が
異なっている。すなわち、図４における下方向を被計測
物９の深さ方向とすると、信号光ＥBS（ｔ）が被計測物
９のうち深さ方向の大きい計測部位で反射された場合の
伝搬時間は長く、深さ方向の小さい計測部位で反射され
た場合は伝搬時間は小さい。
【０００９】前記被計測物９により反射された信号光Ｅ
BS（ｔ）は、被計測物９の各部分からの反射光の集まり
であり、この反射された信号光ＥBS（ｔ）は、前記信号
側集光レンズ８を通過した後、前記半透過板５の位置
で、可変遅延装置７により遅延された参照光ＥR （ｔ）
と重ね合って干渉されるようになっている。以下、参照
光ＥR （ｔ）と信号光ＥBS（ｔ）とを重ね合わせた光を
干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）とする。
【００１０】前記発光素子２から発する光は干渉時間の
短い光であるため、参照光ＥR （ｔ）と信号光Ｅ
BS（ｔ）とが干渉し、＜ＥR （ｔ）ＥBS（ｔ）＞に比例
した成分を生ずる条件は、参照光ＥR （ｔ）の遅延時間
と信号光ＥBS（ｔ）の遅延時間（被計測物９の体表面と
反射部位との間を光が往復する時間）とが等しいときの
みである。
【００１１】前記半透過板５の可変遅延装置７の配設側
と反対側であって干渉光ＥR（ｔ）＋ＥBS（ｔ）の光路
上には、干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）を電気信号に変
換して検出するための光検出器１０が配設されている。
【００１２】前記光検出器１０には、この光検出器１０
が検出した干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）のデータから
被計測物の光反射率を演算するための反射率演算部１１
が接続されている。
【００１３】さらに、前記反射率演算部１１には、演算
された反射率分布を画像情報として処理するための画像
処理部１２が接続されており、この画像処理部１２は、
処理した画像情報を図示しないモニタ上に被計測物９の
断層像として画像表示させるようになっている。
【００１４】そして、前記光断層像計測装置１を使用し
て被計測物の測定を行なう場合は、発光素子２から照射
される光を反射鏡３により反射させ、この反射光を半透
過板５により参照光ＥR （ｔ）と信号光ＥS （ｔ）とに
分散させる。
【００１５】そして、前記半透過板５により反射された
参照光ＥR （ｔ）を前記参照側集光レンズ６で集光させ
た後、前記可変遅延装置７により所望の遅延時間で反射
させる。
【００１６】一方、前記半透過板５を透過した信号光Ｅ
S （ｔ）は、信号側集光レンズ８により集光された後、
被計測物９の各部位に照射されて、被計測物９により反
射される。
【００１７】そして、被計測物９により反射された信号
光ＥBS（ｔ）は、半透過板５により光検出器１０に向け
て反射される。この場合に、反射された信号光Ｅ
BS（ｔ）のうち、参照光ＥR （ｔ）との遅延時間が等し
い成分のみが干渉されて＜ＥR （ｔ）ＥBS（ｔ）＞を生
ずる。すなわち、参照光ＥR （ｔ）の遅延時間の下で、
被計測物９の各部位のうち特定の部位（例えば、深さ方
向の大きさが一定の部位）から反射された信号光の成分
のみが参照光ＥR （ｔ）と干渉して＜ＥR （ｔ）Ｅ
BS（ｔ）＞を生ずる。そして、前記干渉光ＥR （ｔ）＋
ＥBS（ｔ）は、光検出器１０により検出される。
【００１８】前記光検出器１０により検出された干渉光
ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）のデータに基づいて、前記反射
率演算部１により参照光ＥR （ｔ）の遅延時間の下での
被計測物９の特定の計測部位（例えば、深さ方向が等し
い被計測物９の一層）の光反射率が演算される。なお、
可変遅延装置７の動作速度をあまり速くすると、光検出
器１０における露光時間が短くなり信号強度が弱くなる
ので、参照光ＥR （ｔ）の遅延時間の変化が緩やかにな
るように可変遅延装置７を動作させる必要がある。
【００１９】以上の操作を遅延時間を変化させて繰り返
すことにより、被計測物９の各部位からの干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）が検出され、被計測物９全体の光
反射率が演算されることになる。
【００２０】そして、この演算した光反射率は、前記画
像処理部１２により画像情報として処理された後、図示
しないモニタ上に被計測物９の断層像として画像表示さ
れる。
【００２１】これにより、被計測物９の計測部位に反射
された信号光ＥBS（ｔ）と前記可変遅延装置７によって
遅延されて反射された参照光ＥR （ｔ）との干渉光ＥR
（ｔ）＋ＥBS（ｔ）に基づいて被計測物９の光断層像を
得ることができるようになっていた。
【００２２】また、生体の内部断層像を得るためのスキ
ャン技術の他の一例として、本出願人は、図５に示す波
長分散を用いた光断層像計測装置１３を開発した。
【００２３】この光断層像計測装置１３は、前記可変遅
延装置７の代わりに、参照側集光レンズ６の光路上に参
照光反射鏡１４を有しており、この参照光反射鏡１４の
反射面の裏面には、前記参照光反射鏡１４を変位させる
ことにより参照光ＥR （ｔ）をその伝搬時間および位相
を変化させて反射させるための、例えば、ピエゾ素子
（ＰＺＴ）等の遅延素子１５が配設されている。
【００２４】前記参照光反射鏡１４によって反射された
参照光ＥR （ｔ）は、被計測物９の計測部位に照射され
て反射された信号光ＥBS（ｔ）と半透過板５の位置で干
渉されるようになっており、この干渉された干渉光ＥR
（ｔ）＋ＥBS（ｔ）の光路上には、この干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）を図５における下方に反射する干
渉光反射鏡２１が配設されており、この干渉光反射鏡２
１の反射方向には、前記干渉光ＥR（ｔ）＋ＥBS（ｔ）
を波長毎に分解するための波長分散手段としての回折格
子１６が配設されている。
【００２５】さらに、前記回折格子１６の反射方向に
は、回折格子１６により分光された干渉光ＥR （ｔ）＋
ＥBS（ｔ）の波長スペクトルのデータを光の強度として
光電流に変換して検出するための、例えば、ＣＣＤ等の
検出手段としてのリニアイメージセンサ１７が配設され
ており、このリニアイメージセンサ１７のセル表面側に
は、波長分散された干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の検
出素子である複数個のリニアイメージセンサ素子が整列
配置されている。前記リニアイメージセンサ１７と回折
格子１６との間には、回折格子１６から分散された干渉
光ＥR （ｔ）＋Ｅ BS（ｔ）をリニアイメージセンサに導
くためのシリンドリカルレンズ１８が介在されている。
【００２６】また、前記リニアイメージセンサ１７に
は、このリニアイメージセンサ１７が検出した光電流に
基づいて被計測物９の反射率を演算するための反射率演
算部１９が接続されている。前記反射率演算部１９に
は、演算された反射率分布を画像情報として処理するた
めの画像処理部２０が接続されており、この画像処理部
２０は、処理した画像情報を図示しないモニタ上に被計
測物９の断層像として画像表示させるようになってい
る。
【００２７】そして、この波長分散型の光断層像計測装
置１３によって計測を行う場合は、まず、前記発光素子
２を駆動することにより干渉時間の短い光が輻射され、
この輻射光は、反射鏡３により図５において下方に反射
され、さらに前記半透過板５により、下方に透過される
信号光ＥS （ｔ）と左方に反射される参照光ＥR （ｔ）
とに分光される。
【００２８】半透過板５を透過した前記信号光Ｅ
S （ｔ）は、信号側集光レンズ８により集光された後、
被計測物９に到達し、この被計測物９の物性に依存した
反射率で反射して上方の半透過板５まで戻り、この半透
過板５により反射される。
【００２９】一方、前記参照光ＥR （ｔ）は、前記参照
側集光レンズ６により集光された後、半透過板５の左方
に位置する参照光反射鏡１４により半透過板５に向けて
反射される。このとき、参照光ＥR （ｔ）は、遅延素子
１５を駆動することにより所定の時間および位相だけ変
化されて反射される。
【００３０】そして、前記参照光反射鏡１４により反射
された参照光ＥR （ｔ）は、半透過板５を透過する際に
前記被計測物９により反射された信号光ＥBS（ｔ）と干
渉することにより、干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）とし
て前記回折格子１６に照射され、この回折格子１６によ
り波長毎に分散された後、前記リニアイメージセンサ１
７に照射される。
【００３１】そして、リニアイメージセンサ１７により
検出した干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の波長スペクト
ルのデータに基づいて、前記反射率演算部１９により被
計測物９の反射率分布が演算され、続いて、前記反射率
演算部１９において演算された光反射率は、前記画像処
理部２０により画像処理された後、図示しないモニタ上
に、被計測物９の断層像として画像表示されるようにな
っている。
【００３２】この光断層像計測装置１３によれば、波長
分解により計測を行なうため、前記干渉光ＥR （ｔ）＋
ＥBS（ｔ）の干渉は、参照光ＥR （ｔ）の遅延時間と信
号光ＥBS（ｔ）の遅延時間とが等しくなくても生じる。
前記光断層像計測装置１３によれば、前記可変遅延装置
７を用いた光断層像計測装置１のように干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の検出を行なう際に遅延時間を緩
やかに変化させて計測する必要がなく、リニアイメージ
センサ１７により波長分解された干渉光ＥR （ｔ）＋Ｅ
BS（ｔ）を一度に検出させつつそのデータを蓄積させ、
干渉光ＥR （ｔ）＋Ｅ BS（ｔ）の波長スペクトルのデー
タから被計測物９全体の反射率分布を求めることができ
る。従って、可変遅延装置７を用いた前記光断層像計測
装置１よりも計測時間が大幅に短縮することができるも
のである。
【００３３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、可変遅延装置
７を用いた光断層像計測装置１においては、被計測物９
の一計測部位の光反射率を計測する際に、光検出器１０
における十分な露光時間を得る必要上、参照光Ｅ
R （ｔ）の遅延時間の変化が緩やかになるように可変遅
延装置７を動作させる必要があることから、被計測物９
全体の計測を行なう場合に多くの時間が必要となるとい
う問題を有している。また、光検出器１０によってノイ
ズ自体も検出していたため検出感度が低いという問題も
有している。
【００３４】一方、前記波長分散を用いた光断層像計測
装置１３においては、画像処理部２０によって得られる
断層像に虚像が含まれており、さらに、光源のモード揺
らぎによってリニアイメージセンサ１７に検出される干
渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の電気信号が雑音を含んで
いるため、理論限界ダイナミックレンジを達成すること
が困難であり、干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の情報を
高感度でとらえることができないといった問題を有して
いる。なお、信号光ＥBS（ｔ）の位相をずらして計測す
ることで虚像を除去することは可能であるが、計測中に
被計測物９が動くと信号も消えてしまう不都合がある。
【００３５】本発明はこのような問題点に鑑みなされた
もので、干渉光の電気信号に含まれる雑音を除去するこ
とによって電気信号のダイナミックレンジを向上させる
ことができ、虚像のない光断層像の計測を迅速かつ高感
度に行うことができる光断層像計測装置および光断層像
計測方法を提供することを目的とするものである。
【００３６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
本発明の請求項１に係る光断層像計測装置の特徴は、前
記波長分散手段によって各波長ごとに分散され前記検出
手段によって検出された前記干渉光の電気信号に含まれ
る雑音を除去する雑音除去手段を設けた点にある。
【００３７】この請求項１に係る発明によれば、前記検
出手段によって検出された電気信号の雑音を前記雑音除
去手段によって除去することができるため、干渉光の電
気信号のダイナミックレンジを向上させることができ、
被計測物の断層像の計測を迅速かつ高感度に行うことが
できる。
【００３８】請求項２に係る光断層像計測装置の特徴
は、請求項１において、前記分光手段と前記被計測物と
の間に、前記信号光を被計測物の焦点面に集光させるた
めの信号光集光レンズを設けるとともに、この信号光集
光レンズおよび前記参照光反射鏡を前記分光手段から被
計測物の焦点面までの信号光の光学距離と前記分光手段
から前記参照光反射鏡までの参照光の光学距離とが互い
に等しくなるように一体的に移動させるようにした点に
ある。
【００３９】この請求項２に係る発明によれば、被計測
物の焦点面のみに集光されて反射された信号光と前記参
照光反射鏡に反射された参照光との干渉光を得ることが
できるため、この干渉光に基づいてさらに高感度及び高
空間分解能の光断層像を得ることができる。
【００４０】請求項３に係る光断層像計測方法の特徴
は、各波長ごとに分散して検出した前記干渉光の電気信
号に含まれる雑音を除去する点にある。
【００４１】この請求項３に係る発明によれば、干渉光
の電気信号の雑音を除去することができるため、ダイナ
ミックレンジを大きくすることができ、虚像を含まない
断層像の計測を迅速かつ高感度に行うことができる。
【００４２】請求項４に係る光断層像計測方法の特徴
は、請求項３において、前記分光手段と前記被計測物と
の間に、前記信号光を被計測物の焦点面に集光させるた
めの信号光集光レンズを設けるとともに、この信号光集
光レンズおよび前記参照光反射鏡を前記分光手段から被
計測物の焦点面までの信号光の光学距離と前記分光手段
から前記参照光反射鏡までの参照光の光学距離とが互い
に等しくなるように一体的に移動させるようにする点に
ある。
【００４３】この請求項４に係る発明によれば、前記信
号光集光レンズによって、被計測物の焦点面のみに集光
されて反射された信号光と前記参照光反射鏡に反射され
た参照光との干渉光を得ることができるため、この干渉
光に基づいてさらに高感度及び高空間分解能の光断層像
の計測を行うことができる。
【００４４】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光断層像計測
装置の実施形態を図１乃至図３を参照して説明する。
【００４５】図１に示すように、本実施形態における光
断層像計測装置３０は、干渉時間の短い光を輻射するた
めの、例えばスーパールミネッセンスダイオード（ＳＬ
Ｄ）等の発光素子３１を有している。前記発光素子３１
の光の輻射方向には、この発光素子３１から輻射された
光をほぼ直角に反射させるための第１反射鏡３２が配設
されている。前記発光素子３１と前記第１反射鏡３２と
の間には、発光素子３１から輻射された光が逆行するこ
とを防止するためのアイソレータ３３が配設されてお
り、前記第１反射鏡３２の光の反射方向には、この第１
反射鏡３２によって反射された光の一部をその進行方向
に透過させるとともに、一部の光をその進行方向に対し
てほぼ直角に反射させるための分光手段としてのハーフ
ミラー等の半透過板３４が配設されている。以下、前記
半透過板３４により反射された光を信号光ＥS （ｔ）と
し、透過された光を参照光ＥR （ｔ）とする。
【００４６】前記半透過板３４の光の透過方向には、前
記参照光ＥR （ｔ）を進行方向に対してほぼ直角に反射
させるための第２反射鏡３５が配設されており、この第
２反射鏡３５の反射方向には、前記参照光ＥR （ｔ）を
この第２反射鏡３５の方向に反射させるための参照光反
射鏡３６が配設されている。
【００４７】一方、前記半透過板３４の光の反射方向に
は、前記信号光ＥS （ｔ）を集光させるための信号光集
光レンズ３７が配設されており、この信号光集光レンズ
３７の光の透過方向には、生体等の被計測物３８が配置
されるようになっている。
【００４８】前記信号光集光レンズ３７と前記参照光反
射鏡３６とは、ステージ３９の上に固定されており、前
記半透過板３４から被計測物３８の焦点面までの信号光
ＥS（ｔ）の光学距離と、前記半透過板３４から参照光
反射鏡３６までの参照光ＥR（ｔ）の光学距離とは互い
に等しくなっている。前記ステージ３９には、このステ
ージ３９を前記信号光集光レンズ３７による信号光ＥS
（ｔ）の透過方向に沿った図１に示すＸ方向すなわち被
計測物３８の深さ方向に移動させる駆動部４０が設けら
れており、この駆動部４０による前記ステージ３９の移
動にともなって前記信号光集光レンズ３７および前記参
照光反射鏡３６がＸ方向に一体的に同距離移動するよう
になっている。従って、前記半透過板３４から被計測物
３８の焦点面までの信号光ＥS （ｔ）の光学距離と前記
半透過板３４から参照光反射鏡３６までの参照光Ｅ
R （ｔ）の光学距離とを常に互いに等しくさせた状態
で、参照光反射鏡３６によって参照光ＥR （ｔ）をその
伝搬時間を変調させて反射させることができるようにな
っている。
【００４９】なお、前記駆動部４０によって前記ステー
ジ３９をＸ方向に直交するＹ方向およびＺ方向の少なく
とも一方に移動させるようにしてもよい。また、光断層
像計測装置３０全体をＹ方向およびＺ方向の少なくとも
一方に移動させる移動手段を設けるようにしてもよい。
この場合、被計測物３８に対する信号光ＥS （ｔ）の照
射範囲を、Ｙ方向およびＺ方向の少なくとも一方すなわ
ち被計測物３８の幅方向にわたって広くとることができ
る。このため、光断層像計測装置３０によって被計測物
３８の幅方向にわたって広範囲な光断層像の計測を行う
ことができる。
【００５０】また、前記半透過板３４と前記信号光集光
レンズ３７との間の信号光ＥS （ｔ）の光路上か、また
は前記信号光集光レンズ３７と被計測物３８との間の信
号光ＥS （ｔ）の光路上に、反射、屈折、または振動等
を利用することによって信号光ＥS （ｔ）の照射方向を
Ｙ方向およびＺ方向の少なくとも一方に走査する走査手
段を設けるようにしてもよい。この場合においても、前
記走査手段によって被計測物３８に対する参照光Ｅ
R （ｔ）の照射範囲を、Ｘ方向に直交する被計測物３８
の幅方向に広くとることができるため、被計測物３８の
幅方向にわたって広範囲な光断層の計測を行うことがで
きる。
【００５１】さらに、前記第２反射鏡３５と前記参照光
反射鏡３６との間の参照光ＥR （ｔ）の光路上であって
前記ステージ３９上に、参照光反射鏡３６の反射面に対
する参照光ＥR （ｔ）の焦点距離を得るためのレンズを
設けるようにしてもよい。この場合、参照光反射鏡３６
によって参照光ＥR （ｔ）を適正に反射することができ
る。
【００５２】前記被計測物３８は、一般に空間的に厚み
を有しているとともに各部分がそれぞれ異なる反射率Ｈ
（τ）を有しており、照射された信号光ＥＳ（ｔ）をわ
ずかに反射できるものである。ここで、τは反射光の伝
搬時間を示しており、基準点から被計測物３８の光の反
射部位（焦点面）までの距離lと、被計測物３８中の光
の速度ｃとの間に、
【００５３】
【数１】
【００５４】のような関係がある。
【００５５】信号光ＥＳ（ｔ）の一部は前記被計測物３
８により反射されるが、計測部位ごとに伝搬時間τが異
なっている。すなわち、図１における左方向を被計測物
３８の深さ方向とすると、信号光ＥＳ（ｔ）が被計測物
３８のうち深さの大きい計測部位で反射された場合の伝
搬時間τは長く、深さの小さい計測部位で反射された場
合は伝搬時間τは小さい。
【００５６】前記被計測物３８によって反射される信号
光（以下、ＥＢＳ（ｔ）とする）は、被計測物の各部分
からの反射光の集まりであるから、
【００５７】
【数２】
【００５８】と表すことができる。
【００５９】前記被計測物３８に照射された信号光ＥＳ
（ｔ）は、計測部位毎に異なる反射率で右方に反射さ
れ、前記信号光集光レンズ３７を通過した後前記半透過
板３４によって透過されるようになっている。また、前
記参照光反射鏡３６によって反射された参照光ＥＲ
（ｔ）は、前記第２反射鏡３５によって上方に反射され
た後、前記透過板３４によって前記信号光ＥＢＳ（ｔ）
の透過方向に反射されるようになっている。そして、前
記半透過板３４によって透過された前記信号光ＥＢＳ
（ｔ）と反射された前記参照光ＥＲ（ｔ）とは重ね合わ
されて干渉されるようになっている。
【００６０】この信号光ＥＢＳ（ｔ）と参照光ＥＲ
（ｔ）との干渉度を数式で表すと、
【００６１】
【数３】
【００６２】となる。
【００６３】ここでＧ（τ−τＲ）は、干渉度を示す関
数であり、多くの場合、
【００６４】
【数４】
【００６５】と表すことができる。ここでτ０は光の干
渉時間を示し、ω０は中心周波数を示す。
【００６６】また、τＲは参照光の遅延時間である。こ
こでは遅延時間を離散的に変化させる場合を考えるが、
連続的に変化させる場合も同様の結果になる。このとき
遅延時間τＲは、
【００６７】
【数５】
【００６８】のように表される。ここで、ｋ＝・・−
２，−１，０，１，２・・であり、ΔτＲは、ステージ
３９の１ステップの動きによって生じる参照光の遅延時
間である。
【００６９】前記参照光ＥＲ（ｔ）と前記信号光ＥＢＳ
（ｔ）との干渉光ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）の光路上に
は、この干渉光ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）を波長毎に分
散するための波長分散手段としての波長分散器４１が配
設されている。この波長分散器４１は、例えば光を反射
させて分散させる回折格子であってもよいし、また、光
を屈折させて分散させるプリズム等であってもよい。こ
の波長分散器４１と前記半透過板３４との間の光路上に
は、干渉光ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）を波長分散器４１
に導くためのシリンドリカルレンズ等の干渉光集光レン
ズ４２が配設されている。
【００７０】さらに、前記波長分散器４１の分散方向に
は、この波長分散器４１によって波長分散された干渉光
ＥＲ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）を光電流に変換して、前記干
渉光の波長スペクトラム検出するための検出手段として
の、例えばＭＯＳ等のリニアイメージセンサやフォトダ
イオードアレイ等の光検出器４３が配設されている。こ
の光検出器４３のセル表面側には、干渉光ＥＲ（ｔ）＋
ＥＢＳ（ｔ）を各波長毎の光電流に変換して検出するた
めの検出素子４４がＭ個整列配置されている。
【００７１】このとき、ｊ番目、ただし１≦ｊ≦Ｍ、の
検出素子４４に蓄積された光電流をＮｊとすると、
【００７２】
【数６】
【００７３】のように表すことができる。ここで、ηは
光検出器４３の光検出における量子効率であり、εは誘
電率、Ａは光検出器４３上の１素子当たりの受光面積で
ある。さらに、Ｅ（τＲ、Ω）は光検出器４３の露光時
間Ｔのあいだ観測される光の電場を周波数分解して表現
した関数であり、
【００７４】
【数７】
【００７５】のように表すことができる。ここで、Ｓｊ
（Ω）はｊ番目の検出素子４４の感度を周波数の関数と
して示しており、Ω＞０に対して０＜Ｓｊ（Ω）＜１の
範囲で定義され、光学系全体の相対感度特性をＤ（Ω）
とすれば
【００７６】
【数８】
【００７７】のように表すことができる。
【００７８】前記光検出器４３の後段には、電気信号に
含まれる雑音を除去する雑音除去手段としてのバンドパ
スフィルタ４５が前記各検出素子４４に対応するように
Ｍ個接続されている。
【００７９】前記バンドパスフィルタ４５には、雑音が
除去されたＭ個の波長毎の電気信号を加算して干渉光Ｅ
Ｒ（ｔ）＋ＥＢＳ（ｔ）全体の情報を得るための加算器
４６が接続されている。
【００８０】比較のため付記すると、前記バンドパスフ
ィルタ４５がない場合、本実施形態は、従来の波長分解
しないで光電変換を行う光断層像計測装置１と同じにな
る。なぜなら、波長分散器４１によって分光した信号を
直接足し合わせることにより分光情報を失うため、分光
しないで直接光電変換した場合と等しくなるからであ
る。
【００８１】本実施形態では、前記バンドパスフィルタ
４５を有するため以下のようになる。ｊ番目の検出素子
４４に対応するバンドパスフィルタ４５の周波数特性を
Ｆｊ（Ω）、ただし定義域は−∞＜Ω＜∞であり値域は
０≦｜Ｆｊ（Ω）｜≦１とする。このとき、このバンド
パスフィルタ４５によって帯域濾過されて前記加算器４
６によって足し合わされた光電流の信号は、
【００８２】
【数９】
【００８３】となる。ここで、Ωmax は、
【００８４】
【数１０】
【００８５】によってあたえられ、この制約はサンプリ
ング定理にもとづいてエリアジング効果を避けるために
必要となる。式９は、Ｎｊ（τＲ）をフーリエ変換によ
って周波数スペクトルに直し、Ｆｊ（ΩＦ）によって帯
域濾過した後、逆フーリエ変換によって遅延時間の関数
に戻したものである。
【００８６】本実施形態において観測される量は、前記
ＮＦ（τＦ）の平均値であが、厳密な解を単純な形で示
す事はできない。（近似解は式２２に示されている。）
しかしながら、式９から、周波数フィルターＦｊ（Ω）
を設計するうえで重要な指針が得られる。
【００８７】周波数フィルターＦｊ（Ω）には観測信号
の周波数スペクトラムを変える働きがあるが、フィルタ
ー処理された本装置の総合的な光学感度特性が、
【００８８】
【数１１】
【００８９】によってあたえられることが式９から導か
れる。フィルター処理により観測波形が歪むと正確な計
測を行うことができない。しかしながら、本装置では複
数の（Ｍ個）周波数フィルターを用いているため、最終
的な足し合わされた信号の観測波形を変えることなく雑
音のみを有効に抑圧することができる。周波数フィルタ
ーにより観測波形が歪まないための周波数フィルターに
対する条件は、
【００９０】
【数１２】
【００９１】である。ここで、Ｄ（Ω）は式８で用いら
れているように、フィルター処理がない場合の光学感度
特性である。さらに、不必要な混乱を避けるため、以後
の計算では、周波数フィルターに対する制約として、
【００９２】
【数１３】
【００９３】を付加する。
【００９４】本実施形態における光断層像計測装置３０
の有効性を示すため、本実施形態の計測に付随する雑音
を求める。光検出器４３から出力される光電子に含まれ
る不可避な雑音は、光電子に付随するいわゆるショット
雑音である。光電子の数は、ポアソン分布に従うため、
光電子数の揺らぎを
【００９５】
【数１４】
【００９６】とすれば、その統計性は、
【００９７】
【数１５】
【００９８】となる。さらに、｜ＥＲ（ｔ）｜＞＞｜Ｅ
ＢＳ（ｔ）｜と仮定した場合、Ｎｊ（ｋΔτＲ）は参照
光が生成する散射雑音のみからなり、ｋに依存しなくな
る。信号光による散射雑音を無視してＮｊ（ｋΔτＲ，
ＥＢＳ（ｔ）＝０）＝Ｎｊとすると、
【００９９】
【数１６】
【０１００】となる。光電子中に含まれるショットノイ
ズの一部は、前記バンドパスフィルタ４５によって減衰
し、信号に混入する。信号に混入する雑音は、
【０１０１】
【数１７】
【０１０２】によって与えられ、検出雑音の自乗平均
は、
【０１０３】
【数１８】
【０１０４】となる。式１８の値を式１１の条件を満た
したまま最小にする周波数フィルターの特性は、
【０１０５】
【数１９】
【０１０６】となる。従って、式１９にしたがった周波
数フィルターを用いることで、本実施形態における光断
層像計測装置３０は、最小の雑音量、もしくは最大のダ
イナミックレンジを達成できることが判る。
【０１０７】次に、本実施形態における光断層像計測装
置３０によって達成される計測可能な試料の反射率及び
ダイナミックレンジを求める。
【０１０８】前記光断層像計測装置３０によって観測さ
れる量は、ＮＦ（τＦ）の平均値であるが、上述したよ
うに厳密な値を単純な形で表すことができない。そこ
で、
【０１０９】
【数２０】
【０１１０】の近似を行う。この近似は光源のスペクト
ル幅が中心波長に比較して狭い時に成立し、ＳＬＤ光で
は成立している。さらに、
【０１１１】
【数２１】
【０１１２】の条件のもとで、
【０１１３】
【数２２】
【０１１４】が得られる。ここで、ｃ．ｃ．は複素共役
である。具体的に一つの計測環境を設定し、その条件下
における信号強度と雑音強度を求める。式２２にＥS ＝
ＥR，τF ＝０，Ｈ（τ）＝√Ｒδ（τ）を代入する。
０＜Ｒ≪１は試料の反射率であり、δはディラックのデ
ルタ関数である。試料が原点に置かれていることに対応
して、τF ＝０とした。このとき、式２２の値は、
【０１１５】
【数２３】
【０１１６】となる。観測可能な最小反射率を式１８で
定義された雑音と式２３で定義された信号の強度が等し
くなる場合、すなわち、
【０１１７】
【数２４】
【０１１８】として定義すると、観測可能な最小反射率
Ｒmin は、
【０１１９】
【数２５】
【０１２０】となる。反射率の最大値が１であることを
考えると、本実施形態における光断層像計測装置３０の
ダイナミックレンジは、１／Ｒmin によってあたえられ
る。
【０１２１】次に、二つの極端な場合を考え、前記光断
層像計測装置３０により改善されるダイナミックレンジ
の具体的な値を求める。
【０１２２】バンドパスフィルターがない場合には、Ｆ
j （Ω）＝１となる。これを式２５に代入すると、
【０１２３】
【数２６】
【０１２４】となる。ここで、Ｎは参照光によって生成
される光電子数であり、
【０１２５】
【数２７】
【０１２６】によって定義される。式２６からフィルタ
ーがない場合には、従来の方法と同じ値をあたえること
を証明することが可能である。
【０１２７】次に、本実施形態に最も適した形状の分光
系を用いた場合を考える。本実施形態は、光をスペクト
ル分解して計測することで雑音を抑圧する方法なので、
スペクトルの分解能が無限大の場合が理想的となる。ス
ペクトル分解された光の検出素子数がＭ個の条件下で理
想的な分光系は、
【０１２８】
【数２８】
【０１２９】となる。このとき、雑音を最小にするフィ
ルターは、式１９から、
【０１３０】
【数２９】
【０１３１】となる。式２５から、観測可能な最小反射
率は、
【０１３２】
【数３０】
【０１３３】となる。
【０１３４】従って、式２６、３０からバンドパスフィ
ルタ４５を有する本実施形態における光断層像計測装置
３０の方が、波長分解しない従来法よりも最大でＭ倍だ
け光反射率の検出感度が向上されている。
【０１３５】前記加算器４６には、雑音が除去された光
電流の電気信号に基づいて被計測物３８の光反射率を演
算する反射率演算部４７が接続されており、この反射率
演算部４７には演算された被計測物３８の光反射率に基
づいて被計測物３８の光断層像を得るための画像処理部
４８が接続されている。なお、本実施形態において前記
反射率演算部４７および前記画像処理部４８は、パソコ
ン４９に内蔵されている。
【０１３６】なお、本実施形態において、前記バンドパ
スフィルタ４５は、検出信号をアナログ的に処理するア
ナログフィルタであるが、これに限る必要はなく、検出
信号をデジタル化して処理するデジタルフィルタであっ
てもよい。デジタルフィルタにする場合は、バンドパス
フィルタ４５を加算器４６とともにパソコン４９内に内
蔵することが可能である。
【０１３７】次に、前記光断層像計測装置３０を用いた
本発明に係る光断層像計測方法の実施形態について説明
する。
【０１３８】まず、前記発光素子３１を駆動することに
より光が輻射され、この輻射光は、第１反射鏡３２によ
って下方に反射され、さらに前記半透過板３４により、
下方に透過される参照光ＥR （ｔ）と、左方に反射され
る信号光ＥS （ｔ）とに分光される。
【０１３９】前記半透過板３４を透過した前記参照光Ｅ
R （ｔ）は、前記第２反射鏡３５によって左方に反射さ
れた後、この第２反射鏡３５の左方に位置する前記参照
光反射鏡３６によってこの第２反射鏡３５に向けて反射
される。そして、前記参照光反射鏡３６によって反射さ
れた参照光ＥR （ｔ）は、前記第２反射鏡３５によって
上方に反射された後、前記半透過板３４によって右方に
反射される。
【０１４０】一方、前記半透過板３４によって左方に反
射された前記信号光ＥS （ｔ）は、前記信号光集光レン
ズ３７を透過した後、前記被計測物３８に照射される。
そして、被計測物３８に照射された信号光ＥS （ｔ）
は、この被計測物３８の物性に依存した反射率で反射し
て右方の半透過板３４まで戻り、この半透過板３４によ
って透過される。そして、この信号光ＥBS（ｔ）と前記
半透過板３４によって右方に反射された参照光Ｅ
R （ｔ）は干渉され、干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）と
して前記波長分散器４１に照射される。
【０１４１】このとき、前記ステージ３９上に固定され
た信号光集光レンズ３７および参照光反射鏡３６を駆動
部４０によって一体的に同距離移動させることにより、
記半透過板３４から被計測物３８の焦点面までの信号光
ＥS （ｔ）の光学距離と前記半透過板３４から前記参照
光反射鏡３６までの参照光ＥR （ｔ）の光学距離とを互
いに等しくすることができるため、常に信号光集光レン
ズ３７によって被計測物３８の焦点面のみに集光されて
反射された信号光ＥBS（ｔ）と前記参照光反射鏡３６に
よって反射された参照光ＥR （ｔ）との干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）を得ることができる。従って、前
記信号光集光レンズ３７の光の透過方向に直交する方向
の分解能を最大にした状態で干渉光ＥR （ｔ）＋Ｅ
BS（ｔ）を得ることができるため、この干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）に基づいて光断層像を高感度に計
測することができる。
【０１４２】そして、前記干渉光ＥR （ｔ）＋Ｅ
BS（ｔ）は前記波長分散器４１によって波長毎に分散さ
れ、前記光検出器４３に照射される。
【０１４３】前記光検出器４３は、前記干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の照射を受けてこの干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）を光電流に変換して各波長毎の電
気信号として検出するとともに、この干渉光ＥR （ｔ）
＋ＥBS（ｔ）の電気信号を雑音除去手段としての前記バ
ンドパスフィルタ４５に出力する。
【０１４４】前記バンドパスフィルタ４５は、入力され
た電気信号のうち雑音成分を各波長毎に除去するととも
に、これらの雑音を除去した信号を前記加算器４６に出
力する。
【０１４５】前記加算器４６は、各波長ごとの電気信号
を加算することによって雑音が除去された干渉光Ｅ
R （ｔ）＋ＥBS（ｔ）全体の信号を得る。そして、この
雑音が除去された信号に基づいて前記反射率演算部４７
により被計測物３８の反射率分布が演算され、続いてこ
の反射率演算部４７において演算された光反射率は、画
像処理部４８によって画像処理された後、図示しないモ
ニタ上に被計測物３８の断層像として画像表示される。
【０１４６】次に、従来の光断層像計測装置１および本
発明に係る光断層像計測装置３０を用いて計測した被計
測物の光反射率の計測結果について図２および図３を用
いて説明する。なお、本計測結果は、被計測物として図
示しないミラーを使用し、このミラーからの光反射率を
計測した計測結果である。
【０１４７】図２は、バンドパスフィルタ４５を有しな
い従来の可変遅延装置７を用いた光断層像計測装置１に
よってミラーの光断層像を計測した計測結果である。
【０１４８】図３は、本発明に係る光断層像計測装置３
０によってミラーの光断層を計測した計測結果である。
なお、図３の計測結果は、図１に示すバンドパスフィル
タ４５のようなアナログフィルタではなく、バンドパス
フィルタ４５をデジタルフィルタとして加算器４６とと
もにパソコン４９内に内蔵したものを用いて計測した計
測結果である。
【０１４９】図２および図３において、横軸はミラーの
表面から計測部位までの深さであり、縦軸は光反射率を
示す単位である。
【０１５０】図２に示すように、従来の光断層像計測装
置１によって計測された光反射率のデータは、ミラーの
光反射率の情報の他に雑音が多く含まれているため、ミ
ラーの正確な情報を得ることができない。
【０１５１】これに対して、図３に示すように、本実施
形態における光断層像計測装置３０によれば、バンドパ
スフィルタ４５によって干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）
の電気信号に含まれる雑音成分が低減されているため、
従来雑音に埋もれて検出することができなかった光反射
率の情報をも計測することができる。図２および図３か
ら分かるように、本実施形態における光断層像計測装置
３０の検出感度は、従来の光断層像計測装置１の検出感
度に比べてほぼ１００倍になっている。
【０１５２】なお、図示してはいないが、バンドパスフ
ィルタ４５としてアナログフィルタを用いて計測を行う
場合は、従来の光断層像計測装置１に比べて１０００倍
以上の検出感度を期待することができる。
【０１５３】従って、本実施形態によれば、干渉光ＥR
（ｔ）＋ＥBS（ｔ）の電気信号に含まれる雑音を除去す
ることによって、従来雑音に埋もれて検出できなかった
干渉光ＥR （ｔ）＋ＥBS（ｔ）の情報をも検出すること
ができ、電気信号のダイナミックレンジを大きくするこ
とができるため、被計測物３８の断層像を迅速かつ高感
度に計測することができる。これにともない、計測中に
被計測物が動いたとしても、適正に計測することができ
る。
【０１５４】なお、本発明は前記実施形態のものに限定
されるものではなく、必要に応じて種々変更することが
可能である。
【０１５５】例えば、前記実施形態では、発光素子３１
として干渉時間の短い光を放出するスーパールミネッセ
ンスダイオードを使用しているが、これに限る必要はな
く、例えば、ハロゲンランプ、タングステン、発光ダイ
オード等を用いるようにしてもよい。
【０１５６】
【発明の効果】以上述べたように本発明の請求項１に係
る光断層像計測装置によれば、波長分散手段によって干
渉光を波長ごとに分散し、この波長分散した干渉光を検
出手段によって電気信号に変換して検出するとともに、
前記干渉光の電気信号に含まれる雑音を雑音除去手段に
よって除去することができるため、電気信号のダイナミ
ックレンジを大きくすることができ、観測可能な干渉光
の反射率の範囲を広くすることができるため、被計測物
の光断層像を迅速かつ高感度に得ることができる。
【０１５７】請求項２に係る光断層像計測装置によれ
ば、被計測物の焦点面のみに集光されて反射された信号
光と前記参照光反射鏡に反射された参照光との干渉光を
得ることができるため、請求項１に係る光断層像計測装
置の効果に加えてさらに高感度および高空間分解能の光
断層像を得ることができる。
【０１５８】請求項３に係る光断層像計測方法によれ
ば、波長分散手段によって干渉光を波長ごとに分散し、
この波長分散した干渉光を検出手段によって電気信号に
変換して検出するとともに、前記干渉光の電気信号に含
まれる雑音を雑音除去手段によって除去することができ
るため、電気信号のダイナミックレンジを大きくするこ
とができ、観測可能な干渉光の反射率の範囲を広くする
ことができるため、被計測物の光断層像を迅速かつ高感
度に計測することができる。
【０１５９】請求項４に係る光断層像計測方法によれ
ば、被計測物の焦点面のみに集光されて反射された信号
光と前記参照光反射鏡に反射された参照光との干渉光を
得ることができるため、請求項３に係る光断層像計測方
法の効果に加えてさらに高感度および高空間分解能の光
断層像を計測することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係る光断層像計測装置の実施形態を
示す概略構成図
【図２】 本発明に係る光断層像計測装置の実施形態に
おいて、比較例として従来の光断層像計測装置を用いて
ミラーの光反射率を計測したデータ
【図３】 本発明に係る光断層像計測装置の実施形態に
おいて、ミラーの光反射率を計測したデータ
【図４】 従来の可変遅延装置を用いた光断層像計測装
置を示す概略構成図
【図５】 従来の波長分散を用いた光断層像計測装置を
示す概略構成図
【符号の説明】
３０ 光断層像計測装置 ３４ 半透過板 ３６ 参照光反射鏡 ３７ 信号光集光レンズ ３８ 被計測物 ３９ ステージ ４０ 駆動部 ４１ 波長分散器 ４３ 光検出器 ４５ バンドパスフィルタ ４６ 加算器 ４７ 反射率演算部 ４８ 画像処理部 ４９ パソコン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中村 正市 愛知県名古屋市千種区御棚町３−１−６ (72)発明者 菊地 雅博 埼玉県蓮田市大字黒浜3625−20 Ｆターム(参考） 2F065 AA51 BB05 CC16 DD04 DD06 FF51 GG07 HH13 JJ02 JJ03 JJ09 JJ18 JJ25 JJ26 LL00 LL04 LL08 LL12 LL42 LL46 LL67 NN08 PP02 QQ00 QQ14 QQ16 QQ17 QQ27 QQ33 QQ34 QQ42 2G059 AA05 BB12 CC16 DD13 EE01 EE02 EE09 FF08 GG06 GG10 JJ02 JJ05 JJ06 JJ11 JJ13 JJ22 JJ30 KK01 KK04 MM03 MM08 NN01 PP04

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光源から輻射された光を参照光と被計測
    物に照射する信号光とに分光する分光手段を設け、前記
    参照光を少なくともその伝搬時間を変調して前記分光手
    段側に反射させる参照光反射鏡を設け、前記被計測物に
    照射されて前記分光手段側に反射された信号光と前記参
    照光反射鏡によって反射された参照光との干渉光を波長
    ごとに分散する波長分散手段を設け、この波長分散手段
    によって分散された干渉光を各波長ごとの電気信号に変
    換して検出する検出手段を設け、この検出手段によって
    検出された干渉光の電気信号に基づいて前記被計測物の
    各被計測部位の光反射率を演算する反射率演算部および
    この反射率演算部が演算した被計測物の光反射率のデー
    タに基づいて前記被計測物の断層像を得る画像処理部を
    設けた光断層像計測装置において、 前記波長分散手段によって各波長ごとに分散され前記検
    出手段によって検出された前記干渉光の電気信号に含ま
    れる雑音を除去する雑音除去手段を設けたことを特徴と
    する光断層像計測装置。
  2. 【請求項２】 前記分光手段と前記被計測物との間に、
    前記信号光を被計測物の焦点面に集光させるための信号
    光集光レンズを設けるとともに、この信号光集光レンズ
    および前記参照光反射鏡を、前記分光手段から被計測物
    の焦点面までの信号光の光学距離と前記分光手段から前
    記参照光反射鏡までの参照光の光学距離とが互いに等し
    くなるように一体的に移動させるようにしたことを特徴
    とする請求項１に記載の光断層像計測装置。
  3. 【請求項３】 光源から輻射された光を分光手段によっ
    て参照光と被計測物に照射する信号光とに分光し、前記
    参照光を参照光反射鏡によってその伝搬時間および位相
    を変調して前記分光手段側に反射させ、前記被計測物に
    照射されて前記分光手段側に反射された信号光と前記参
    照光反射鏡によって反射された参照光との干渉光を波長
    ごとに分散し、この分散した干渉光を各波長ごとの電気
    信号に変換して検出し、この検出した干渉光の電気信号
    に基づいて前記被計測物の各被計測部位の光反射率を演
    算するとともに、この演算した被計測物の光反射率のデ
    ータに基づいて前記被計測物の断層像を得る光断層像計
    測方法において、 各波長ごとに分散して検出した前記干渉光の電気信号に
    含まれる雑音を除去することを特徴とする光断層像計測
    方法。
  4. 【請求項４】 前記分光手段と前記被計測物との間に、
    前記信号光を被計測物の焦点面に集光させるための信号
    光集光レンズを設けるとともに、この信号光集光レンズ
    および前記参照光反射鏡を、前記分光手段から被計測物
    の焦点面までの信号光の光学距離と前記分光手段から前
    記参照光反射鏡までの参照光の光学距離とが互いに等し
    くなるように一体的に移動させることを特徴とする請求
    項３に記載の光断層像計測方法。
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Cited By (70)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005516187A (ja) * 2002-01-24 2005-06-02 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレーション スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレンス干渉法（ｌｃｉ）及び光学コヒーレンス断層撮影法（ｏｃｔ）信号の雑音低減のための装置及び方法
JP2006132995A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Shiyoufuu:Kk 光コヒーレンストモグラフィー装置および計測ヘッド
JP2007010589A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Nidek Co Ltd 物体測定装置
JP2007037984A (ja) * 2005-07-01 2007-02-15 Nidek Co Ltd 眼科装置
JP2007151622A (ja) * 2005-11-30 2007-06-21 Nidek Co Ltd 眼科装置
CN1326492C (zh) * 2002-04-19 2007-07-18 维森盖特有限公司 小目标的变速运动光学层析成像技术
JP2007520291A (ja) * 2004-02-06 2007-07-26 カール ツアイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 眼の部分区間長測定のためのショートコヒーレンス干渉計
US7342659B2 (en) 2005-01-21 2008-03-11 Carl Zeiss Meditec, Inc. Cross-dispersed spectrometer in a spectral domain optical coherence tomography system
JP2008508068A (ja) * 2004-08-03 2008-03-21 カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 眼のフーリエ領域ｏｃｔレイ・トレーシング法
JP2008509403A (ja) * 2004-08-06 2008-03-27 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション 光学コヒーレンス断層撮影法を使用して試料中の少なくとも１つの位置を決定するための方法、システムおよびソフトウェア装置
US7391520B2 (en) 2005-07-01 2008-06-24 Carl Zeiss Meditec, Inc. Fourier domain optical coherence tomography employing a swept multi-wavelength laser and a multi-channel receiver
US7456957B2 (en) 2005-08-03 2008-11-25 Carl Zeiss Meditec, Inc. Littrow spectrometer and a spectral domain optical coherence tomography system with a Littrow spectrometer
JP2008302233A (ja) * 2008-07-07 2008-12-18 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
JP2008307397A (ja) * 2008-08-11 2008-12-25 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
JP2009014728A (ja) * 2008-07-07 2009-01-22 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
JP2009018173A (ja) * 2008-08-11 2009-01-29 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
JP2009515175A (ja) * 2005-11-10 2009-04-09 ハーグ−シュトライト アーゲー 物体上の幾何学量を求める方法及び装置
JP2010220774A (ja) * 2009-03-23 2010-10-07 Nidek Co Ltd 眼科撮影装置、及び眼科撮影装置のキャリブレーション方法
US7965392B2 (en) 2006-01-19 2011-06-21 Shofu Inc. Optical coherence tomography device and measuring head
US8289522B2 (en) 2005-09-29 2012-10-16 The General Hospital Corporation Arrangements and methods for providing multimodality microscopic imaging of one or more biological structures
US8351665B2 (en) 2005-04-28 2013-01-08 The General Hospital Corporation Systems, processes and software arrangements for evaluating information associated with an anatomical structure by an optical coherence ranging technique
US8369669B2 (en) 2004-07-02 2013-02-05 The General Hospital Corporation Imaging system and related techniques
US8416818B2 (en) 2003-06-06 2013-04-09 The General Hospital Corporation Process and apparatus for a wavelength tuning source
US8559012B2 (en) 2003-01-24 2013-10-15 The General Hospital Corporation Speckle reduction in optical coherence tomography by path length encoded angular compounding
JP5367196B1 (ja) * 2012-09-10 2013-12-11 株式会社シンクロン 測定装置及び成膜装置
US8804126B2 (en) 2010-03-05 2014-08-12 The General Hospital Corporation Systems, methods and computer-accessible medium which provide microscopic images of at least one anatomical structure at a particular resolution
US8838213B2 (en) 2006-10-19 2014-09-16 The General Hospital Corporation Apparatus and method for obtaining and providing imaging information associated with at least one portion of a sample, and effecting such portion(s)
US8922781B2 (en) 2004-11-29 2014-12-30 The General Hospital Corporation Arrangements, devices, endoscopes, catheters and methods for performing optical imaging by simultaneously illuminating and detecting multiple points on a sample
US8937724B2 (en) 2008-12-10 2015-01-20 The General Hospital Corporation Systems and methods for extending imaging depth range of optical coherence tomography through optical sub-sampling
US8965487B2 (en) 2004-08-24 2015-02-24 The General Hospital Corporation Process, system and software arrangement for measuring a mechanical strain and elastic properties of a sample
US9060689B2 (en) 2005-06-01 2015-06-23 The General Hospital Corporation Apparatus, method and system for performing phase-resolved optical frequency domain imaging
US9069130B2 (en) 2010-05-03 2015-06-30 The General Hospital Corporation Apparatus, method and system for generating optical radiation from biological gain media
US9087368B2 (en) 2006-01-19 2015-07-21 The General Hospital Corporation Methods and systems for optical imaging or epithelial luminal organs by beam scanning thereof
US9176319B2 (en) 2007-03-23 2015-11-03 The General Hospital Corporation Methods, arrangements and apparatus for utilizing a wavelength-swept laser using angular scanning and dispersion procedures
US9178330B2 (en) 2009-02-04 2015-11-03 The General Hospital Corporation Apparatus and method for utilization of a high-speed optical wavelength tuning source
US9186067B2 (en) 2006-02-01 2015-11-17 The General Hospital Corporation Apparatus for applying a plurality of electro-magnetic radiations to a sample
US9282931B2 (en) 2000-10-30 2016-03-15 The General Hospital Corporation Methods for tissue analysis
US9330092B2 (en) 2011-07-19 2016-05-03 The General Hospital Corporation Systems, methods, apparatus and computer-accessible-medium for providing polarization-mode dispersion compensation in optical coherence tomography
US9341783B2 (en) 2011-10-18 2016-05-17 The General Hospital Corporation Apparatus and methods for producing and/or providing recirculating optical delay(s)
US9364143B2 (en) 2006-05-10 2016-06-14 The General Hospital Corporation Process, arrangements and systems for providing frequency domain imaging of a sample
US9375158B2 (en) 2007-07-31 2016-06-28 The General Hospital Corporation Systems and methods for providing beam scan patterns for high speed doppler optical frequency domain imaging
US9415550B2 (en) 2012-08-22 2016-08-16 The General Hospital Corporation System, method, and computer-accessible medium for fabrication miniature endoscope using soft lithography
US9441948B2 (en) 2005-08-09 2016-09-13 The General Hospital Corporation Apparatus, methods and storage medium for performing polarization-based quadrature demodulation in optical coherence tomography
US9510758B2 (en) 2010-10-27 2016-12-06 The General Hospital Corporation Apparatus, systems and methods for measuring blood pressure within at least one vessel
US9516997B2 (en) 2006-01-19 2016-12-13 The General Hospital Corporation Spectrally-encoded endoscopy techniques, apparatus and methods
US9557154B2 (en) 2010-05-25 2017-01-31 The General Hospital Corporation Systems, devices, methods, apparatus and computer-accessible media for providing optical imaging of structures and compositions
US9615748B2 (en) 2009-01-20 2017-04-11 The General Hospital Corporation Endoscopic biopsy apparatus, system and method
US9629528B2 (en) 2012-03-30 2017-04-25 The General Hospital Corporation Imaging system, method and distal attachment for multidirectional field of view endoscopy
USRE46412E1 (en) 2006-02-24 2017-05-23 The General Hospital Corporation Methods and systems for performing angle-resolved Fourier-domain optical coherence tomography
US9733460B2 (en) 2014-01-08 2017-08-15 The General Hospital Corporation Method and apparatus for microscopic imaging
US9763623B2 (en) 2004-08-24 2017-09-19 The General Hospital Corporation Method and apparatus for imaging of vessel segments
US9784681B2 (en) 2013-05-13 2017-10-10 The General Hospital Corporation System and method for efficient detection of the phase and amplitude of a periodic modulation associated with self-interfering fluorescence
US9795301B2 (en) 2010-05-25 2017-10-24 The General Hospital Corporation Apparatus, systems, methods and computer-accessible medium for spectral analysis of optical coherence tomography images
US9897538B2 (en) 2001-04-30 2018-02-20 The General Hospital Corporation Method and apparatus for improving image clarity and sensitivity in optical coherence tomography using dynamic feedback to control focal properties and coherence gating
US9968261B2 (en) 2013-01-28 2018-05-15 The General Hospital Corporation Apparatus and method for providing diffuse spectroscopy co-registered with optical frequency domain imaging
US10058250B2 (en) 2013-07-26 2018-08-28 The General Hospital Corporation System, apparatus and method for utilizing optical dispersion for fourier-domain optical coherence tomography
US10117576B2 (en) 2013-07-19 2018-11-06 The General Hospital Corporation System, method and computer accessible medium for determining eye motion by imaging retina and providing feedback for acquisition of signals from the retina
US10228556B2 (en) 2014-04-04 2019-03-12 The General Hospital Corporation Apparatus and method for controlling propagation and/or transmission of electromagnetic radiation in flexible waveguide(s)
US10285568B2 (en) 2010-06-03 2019-05-14 The General Hospital Corporation Apparatus and method for devices for imaging structures in or at one or more luminal organs
US10426548B2 (en) 2006-02-01 2019-10-01 The General Hosppital Corporation Methods and systems for providing electromagnetic radiation to at least one portion of a sample using conformal laser therapy procedures
US10478072B2 (en) 2013-03-15 2019-11-19 The General Hospital Corporation Methods and system for characterizing an object
US10534129B2 (en) 2007-03-30 2020-01-14 The General Hospital Corporation System and method providing intracoronary laser speckle imaging for the detection of vulnerable plaque
US10736494B2 (en) 2014-01-31 2020-08-11 The General Hospital Corporation System and method for facilitating manual and/or automatic volumetric imaging with real-time tension or force feedback using a tethered imaging device
US10835110B2 (en) 2008-07-14 2020-11-17 The General Hospital Corporation Apparatus and method for facilitating at least partial overlap of dispersed ration on at least one sample
US10893806B2 (en) 2013-01-29 2021-01-19 The General Hospital Corporation Apparatus, systems and methods for providing information regarding the aortic valve
US10912462B2 (en) 2014-07-25 2021-02-09 The General Hospital Corporation Apparatus, devices and methods for in vivo imaging and diagnosis
US11179028B2 (en) 2013-02-01 2021-11-23 The General Hospital Corporation Objective lens arrangement for confocal endomicroscopy
US11452433B2 (en) 2013-07-19 2022-09-27 The General Hospital Corporation Imaging apparatus and method which utilizes multidirectional field of view endoscopy
US11490826B2 (en) 2009-07-14 2022-11-08 The General Hospital Corporation Apparatus, systems and methods for measuring flow and pressure within a vessel
US11490797B2 (en) 2012-05-21 2022-11-08 The General Hospital Corporation Apparatus, device and method for capsule microscopy

Cited By (92)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9282931B2 (en) 2000-10-30 2016-03-15 The General Hospital Corporation Methods for tissue analysis
US9897538B2 (en) 2001-04-30 2018-02-20 The General Hospital Corporation Method and apparatus for improving image clarity and sensitivity in optical coherence tomography using dynamic feedback to control focal properties and coherence gating
JP2005516187A (ja) * 2002-01-24 2005-06-02 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレーション スペクトル帯域の並列検出による測距並びに低コヒーレンス干渉法（ｌｃｉ）及び光学コヒーレンス断層撮影法（ｏｃｔ）信号の雑音低減のための装置及び方法
CN1326492C (zh) * 2002-04-19 2007-07-18 维森盖特有限公司 小目标的变速运动光学层析成像技术
US9226665B2 (en) 2003-01-24 2016-01-05 The General Hospital Corporation Speckle reduction in optical coherence tomography by path length encoded angular compounding
US8559012B2 (en) 2003-01-24 2013-10-15 The General Hospital Corporation Speckle reduction in optical coherence tomography by path length encoded angular compounding
US8416818B2 (en) 2003-06-06 2013-04-09 The General Hospital Corporation Process and apparatus for a wavelength tuning source
JP4746564B2 (ja) * 2004-02-06 2011-08-10 カール ツアイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 眼の部分区間長測定のためのショートコヒーレンス干渉計
JP2007520291A (ja) * 2004-02-06 2007-07-26 カール ツアイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 眼の部分区間長測定のためのショートコヒーレンス干渉計
US8369669B2 (en) 2004-07-02 2013-02-05 The General Hospital Corporation Imaging system and related techniques
US9664615B2 (en) 2004-07-02 2017-05-30 The General Hospital Corporation Imaging system and related techniques
US8676013B2 (en) 2004-07-02 2014-03-18 The General Hospital Corporation Imaging system using and related techniques
JP2008508068A (ja) * 2004-08-03 2008-03-21 カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 眼のフーリエ領域ｏｃｔレイ・トレーシング法
JP4734326B2 (ja) * 2004-08-03 2011-07-27 カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト 眼のフーリエ領域ｏｃｔレイ・トレーシング法
JP2008509403A (ja) * 2004-08-06 2008-03-27 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレイション 光学コヒーレンス断層撮影法を使用して試料中の少なくとも１つの位置を決定するための方法、システムおよびソフトウェア装置
US8965487B2 (en) 2004-08-24 2015-02-24 The General Hospital Corporation Process, system and software arrangement for measuring a mechanical strain and elastic properties of a sample
US9763623B2 (en) 2004-08-24 2017-09-19 The General Hospital Corporation Method and apparatus for imaging of vessel segments
JP2006132995A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Shiyoufuu:Kk 光コヒーレンストモグラフィー装置および計測ヘッド
US8922781B2 (en) 2004-11-29 2014-12-30 The General Hospital Corporation Arrangements, devices, endoscopes, catheters and methods for performing optical imaging by simultaneously illuminating and detecting multiple points on a sample
JP2008528953A (ja) * 2005-01-21 2008-07-31 カール ツァイス メディテック アクチエンゲゼルシャフト スペクトル領域光コヒーレンス断層放射線写真システムにおける交差分散分光計
US7342659B2 (en) 2005-01-21 2008-03-11 Carl Zeiss Meditec, Inc. Cross-dispersed spectrometer in a spectral domain optical coherence tomography system
US9326682B2 (en) 2005-04-28 2016-05-03 The General Hospital Corporation Systems, processes and software arrangements for evaluating information associated with an anatomical structure by an optical coherence ranging technique
US8351665B2 (en) 2005-04-28 2013-01-08 The General Hospital Corporation Systems, processes and software arrangements for evaluating information associated with an anatomical structure by an optical coherence ranging technique
US9060689B2 (en) 2005-06-01 2015-06-23 The General Hospital Corporation Apparatus, method and system for performing phase-resolved optical frequency domain imaging
JP2007010589A (ja) * 2005-07-01 2007-01-18 Nidek Co Ltd 物体測定装置
US7391520B2 (en) 2005-07-01 2008-06-24 Carl Zeiss Meditec, Inc. Fourier domain optical coherence tomography employing a swept multi-wavelength laser and a multi-channel receiver
JP2007037984A (ja) * 2005-07-01 2007-02-15 Nidek Co Ltd 眼科装置
US7456957B2 (en) 2005-08-03 2008-11-25 Carl Zeiss Meditec, Inc. Littrow spectrometer and a spectral domain optical coherence tomography system with a Littrow spectrometer
US9441948B2 (en) 2005-08-09 2016-09-13 The General Hospital Corporation Apparatus, methods and storage medium for performing polarization-based quadrature demodulation in optical coherence tomography
US8289522B2 (en) 2005-09-29 2012-10-16 The General Hospital Corporation Arrangements and methods for providing multimodality microscopic imaging of one or more biological structures
US9513276B2 (en) 2005-09-29 2016-12-06 The General Hospital Corporation Method and apparatus for optical imaging via spectral encoding
US9304121B2 (en) 2005-09-29 2016-04-05 The General Hospital Corporation Method and apparatus for optical imaging via spectral encoding
US8760663B2 (en) 2005-09-29 2014-06-24 The General Hospital Corporation Method and apparatus for optical imaging via spectral encoding
US8928889B2 (en) 2005-09-29 2015-01-06 The General Hospital Corporation Arrangements and methods for providing multimodality microscopic imaging of one or more biological structures
JP2009515175A (ja) * 2005-11-10 2009-04-09 ハーグ−シュトライト アーゲー 物体上の幾何学量を求める方法及び装置
JP2007151622A (ja) * 2005-11-30 2007-06-21 Nidek Co Ltd 眼科装置
US9646377B2 (en) 2006-01-19 2017-05-09 The General Hospital Corporation Methods and systems for optical imaging or epithelial luminal organs by beam scanning thereof
US9087368B2 (en) 2006-01-19 2015-07-21 The General Hospital Corporation Methods and systems for optical imaging or epithelial luminal organs by beam scanning thereof
US9516997B2 (en) 2006-01-19 2016-12-13 The General Hospital Corporation Spectrally-encoded endoscopy techniques, apparatus and methods
US10987000B2 (en) 2006-01-19 2021-04-27 The General Hospital Corporation Methods and systems for optical imaging or epithelial luminal organs by beam scanning thereof
US7965392B2 (en) 2006-01-19 2011-06-21 Shofu Inc. Optical coherence tomography device and measuring head
US10426548B2 (en) 2006-02-01 2019-10-01 The General Hosppital Corporation Methods and systems for providing electromagnetic radiation to at least one portion of a sample using conformal laser therapy procedures
US9186067B2 (en) 2006-02-01 2015-11-17 The General Hospital Corporation Apparatus for applying a plurality of electro-magnetic radiations to a sample
US9186066B2 (en) 2006-02-01 2015-11-17 The General Hospital Corporation Apparatus for applying a plurality of electro-magnetic radiations to a sample
USRE46412E1 (en) 2006-02-24 2017-05-23 The General Hospital Corporation Methods and systems for performing angle-resolved Fourier-domain optical coherence tomography
US9364143B2 (en) 2006-05-10 2016-06-14 The General Hospital Corporation Process, arrangements and systems for providing frequency domain imaging of a sample
US10413175B2 (en) 2006-05-10 2019-09-17 The General Hospital Corporation Process, arrangements and systems for providing frequency domain imaging of a sample
US9968245B2 (en) 2006-10-19 2018-05-15 The General Hospital Corporation Apparatus and method for obtaining and providing imaging information associated with at least one portion of a sample, and effecting such portion(s)
US8838213B2 (en) 2006-10-19 2014-09-16 The General Hospital Corporation Apparatus and method for obtaining and providing imaging information associated with at least one portion of a sample, and effecting such portion(s)
US9176319B2 (en) 2007-03-23 2015-11-03 The General Hospital Corporation Methods, arrangements and apparatus for utilizing a wavelength-swept laser using angular scanning and dispersion procedures
US10534129B2 (en) 2007-03-30 2020-01-14 The General Hospital Corporation System and method providing intracoronary laser speckle imaging for the detection of vulnerable plaque
US9375158B2 (en) 2007-07-31 2016-06-28 The General Hospital Corporation Systems and methods for providing beam scan patterns for high speed doppler optical frequency domain imaging
JP2008302233A (ja) * 2008-07-07 2008-12-18 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
JP2009014728A (ja) * 2008-07-07 2009-01-22 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
US10835110B2 (en) 2008-07-14 2020-11-17 The General Hospital Corporation Apparatus and method for facilitating at least partial overlap of dispersed ration on at least one sample
JP2008307397A (ja) * 2008-08-11 2008-12-25 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
JP2009018173A (ja) * 2008-08-11 2009-01-29 J Morita Tokyo Mfg Corp 歯科光診断装置用プローブ
US8937724B2 (en) 2008-12-10 2015-01-20 The General Hospital Corporation Systems and methods for extending imaging depth range of optical coherence tomography through optical sub-sampling
US9615748B2 (en) 2009-01-20 2017-04-11 The General Hospital Corporation Endoscopic biopsy apparatus, system and method
US9178330B2 (en) 2009-02-04 2015-11-03 The General Hospital Corporation Apparatus and method for utilization of a high-speed optical wavelength tuning source
JP2010220774A (ja) * 2009-03-23 2010-10-07 Nidek Co Ltd 眼科撮影装置、及び眼科撮影装置のキャリブレーション方法
US11490826B2 (en) 2009-07-14 2022-11-08 The General Hospital Corporation Apparatus, systems and methods for measuring flow and pressure within a vessel
US9642531B2 (en) 2010-03-05 2017-05-09 The General Hospital Corporation Systems, methods and computer-accessible medium which provide microscopic images of at least one anatomical structure at a particular resolution
US8804126B2 (en) 2010-03-05 2014-08-12 The General Hospital Corporation Systems, methods and computer-accessible medium which provide microscopic images of at least one anatomical structure at a particular resolution
US9408539B2 (en) 2010-03-05 2016-08-09 The General Hospital Corporation Systems, methods and computer-accessible medium which provide microscopic images of at least one anatomical structure at a particular resolution
US10463254B2 (en) 2010-03-05 2019-11-05 The General Hospital Corporation Light tunnel and lens which provide extended focal depth of at least one anatomical structure at a particular resolution
US8896838B2 (en) 2010-03-05 2014-11-25 The General Hospital Corporation Systems, methods and computer-accessible medium which provide microscopic images of at least one anatomical structure at a particular resolution
US9951269B2 (en) 2010-05-03 2018-04-24 The General Hospital Corporation Apparatus, method and system for generating optical radiation from biological gain media
US9069130B2 (en) 2010-05-03 2015-06-30 The General Hospital Corporation Apparatus, method and system for generating optical radiation from biological gain media
US10939825B2 (en) 2010-05-25 2021-03-09 The General Hospital Corporation Systems, devices, methods, apparatus and computer-accessible media for providing optical imaging of structures and compositions
US9795301B2 (en) 2010-05-25 2017-10-24 The General Hospital Corporation Apparatus, systems, methods and computer-accessible medium for spectral analysis of optical coherence tomography images
US9557154B2 (en) 2010-05-25 2017-01-31 The General Hospital Corporation Systems, devices, methods, apparatus and computer-accessible media for providing optical imaging of structures and compositions
US10285568B2 (en) 2010-06-03 2019-05-14 The General Hospital Corporation Apparatus and method for devices for imaging structures in or at one or more luminal organs
US9510758B2 (en) 2010-10-27 2016-12-06 The General Hospital Corporation Apparatus, systems and methods for measuring blood pressure within at least one vessel
US9330092B2 (en) 2011-07-19 2016-05-03 The General Hospital Corporation Systems, methods, apparatus and computer-accessible-medium for providing polarization-mode dispersion compensation in optical coherence tomography
US9341783B2 (en) 2011-10-18 2016-05-17 The General Hospital Corporation Apparatus and methods for producing and/or providing recirculating optical delay(s)
US9629528B2 (en) 2012-03-30 2017-04-25 The General Hospital Corporation Imaging system, method and distal attachment for multidirectional field of view endoscopy
US11490797B2 (en) 2012-05-21 2022-11-08 The General Hospital Corporation Apparatus, device and method for capsule microscopy
US9415550B2 (en) 2012-08-22 2016-08-16 The General Hospital Corporation System, method, and computer-accessible medium for fabrication miniature endoscope using soft lithography
JP5367196B1 (ja) * 2012-09-10 2013-12-11 株式会社シンクロン 測定装置及び成膜装置
US9968261B2 (en) 2013-01-28 2018-05-15 The General Hospital Corporation Apparatus and method for providing diffuse spectroscopy co-registered with optical frequency domain imaging
US10893806B2 (en) 2013-01-29 2021-01-19 The General Hospital Corporation Apparatus, systems and methods for providing information regarding the aortic valve
US11179028B2 (en) 2013-02-01 2021-11-23 The General Hospital Corporation Objective lens arrangement for confocal endomicroscopy
US10478072B2 (en) 2013-03-15 2019-11-19 The General Hospital Corporation Methods and system for characterizing an object
US9784681B2 (en) 2013-05-13 2017-10-10 The General Hospital Corporation System and method for efficient detection of the phase and amplitude of a periodic modulation associated with self-interfering fluorescence
US11452433B2 (en) 2013-07-19 2022-09-27 The General Hospital Corporation Imaging apparatus and method which utilizes multidirectional field of view endoscopy
US10117576B2 (en) 2013-07-19 2018-11-06 The General Hospital Corporation System, method and computer accessible medium for determining eye motion by imaging retina and providing feedback for acquisition of signals from the retina
US10058250B2 (en) 2013-07-26 2018-08-28 The General Hospital Corporation System, apparatus and method for utilizing optical dispersion for fourier-domain optical coherence tomography
US9733460B2 (en) 2014-01-08 2017-08-15 The General Hospital Corporation Method and apparatus for microscopic imaging
US10736494B2 (en) 2014-01-31 2020-08-11 The General Hospital Corporation System and method for facilitating manual and/or automatic volumetric imaging with real-time tension or force feedback using a tethered imaging device
US10228556B2 (en) 2014-04-04 2019-03-12 The General Hospital Corporation Apparatus and method for controlling propagation and/or transmission of electromagnetic radiation in flexible waveguide(s)
US10912462B2 (en) 2014-07-25 2021-02-09 The General Hospital Corporation Apparatus, devices and methods for in vivo imaging and diagnosis

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