JP2005290409A - スパッタリングターゲット材およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】 成分偏析がなく、しかも塑性加工性のよいMo合金スパッタリングターゲット材を提供する。
【解決手段】 Moを主体として、(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mを0.5〜50原子%含有するスパッタリングターゲット材において、スパッタ面に対して垂直方向の断面ミクロ組織における金属元素M粒の内部もしくは周囲に酸化物が形成されており、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の最大面積が5.0mm以下であるスパッタリングターゲット材である。
【選択図】 図1

Description

本発明は、平面表示装置等の電気配線、電極等に用いられるMo合金薄膜の形成に使用されるスパッタリングターゲット材およびその製造方法に関するものである。
現在、平面表示装置の一種である液晶ディスプレイ(Liquid Crystal Display、以下LCDという)等の薄膜電極および薄膜配線等には、電気抵抗の小さいMo等の高融点金属膜が広く利用されている。そして、これら薄膜電極および薄膜配線等には、薄膜形成の製造工程中での、耐熱性、耐食性の要求があるため、例えば、CrやWを添加したMo合金の適用が進んでいる。
上記のMo合金を配線として形成する方法としては、同一組成のターゲット材をスパッタリングによって形成する方法が一般的に利用されている。そして、Mo合金のスパッタリングターゲット材に関しては、成分構成やターゲット材に含まれる不純物の低減等に関して様々な提案がなされている。
例えば、Crを1〜5wt%含有したMo−Cr合金スパッタリングターゲット材が開示されているものがある(例えば、特許文献1参照)。また、Wを20〜70原子%含有したMo−Wターゲットが開示されているものがある(例えば、特許文献2参照)。さらに、Nbおよび/またはVを2〜50原子%含有したMo合金が開示されているものがある(例えば、特許文献3参照)。
特開平9−059768号公報 WO95−16797号公報 特開2002−327264号公報
融点の高いMoは溶解鋳造法による製造が困難なため、一般に粉末焼結法が利用されている。Mo合金を製造する場合においては、Mo粉末と添加元素の粉末を混合した混合粉末を焼結する方法が利用されるが、混合粉末中に添加元素同士の粉末が凝集するために、焼結後に大きな成分の偏在が発生し、スパッタによって成膜された薄膜の成分が不均一になるという問題がある。また、さらに、成分の偏在により焼結体を塑性加工した場合に割れ等の欠陥が発生しやすいという問題もある。
本発明の目的は、上記課題に鑑み成分の偏在が抑制されることにより、スパッタによって成膜される薄膜の成分均一性を向上させるMo合金スパッタリングターゲット材を提供することである。
本発明者等は、上記の問題点を種々検討した結果、添加する金属元素MとMoとで造粒粉末を形成した後に焼結することで、金属元素Mを著しく微細に分散でき、Mo中の酸素を固定可能な金属元素Mを微細に分散させ、その金属元素粒の周囲にMo中の酸素を固定させた金属組織とすることで解決できることを見出し、本発明に到達した。さらに、金属元素M粒の周囲にMo中の酸素を固定させたことで、塑性加工性をも向上させることを見出した。
すなわち、本発明は,Moを主体として、(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mを0.5〜50原子%含有するスパッタリングターゲット材において、スパッタ面に対して垂直方向の断面ミクロ組織における金属元素M粒の周囲に酸化物が形成されており、該金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の最大面積が1.0mm以下であるスパッタリングターゲット材である。また、Mo合金に含有される金属元素Mは、Nbであることが望ましい。
また、好ましくは、本発明は、スパッタ面の面積が1m以上であるスパッタリングターゲット材である。
また、好ましくは、本発明は、スパッタ面を構成する一辺の長さが1m以上であるスパッタリングターゲット材である。
また、本発明は、Mo原料粉末と(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mの原料粉末とを混合した後、圧縮成形した成形体を粉砕して再度粉末にした造粒粉末を、加圧容器に充填し、次いで加圧焼結を施すことで、スパッタ面に対して垂直方向の断面ミクロ組織における金属元素M粒の周囲に酸化物が形成されており、該金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の最大面積が1.0mm以下とするスパッタリングターゲット材の製造方法である。
また、好ましくは、加圧焼結後に塑性加工を施すスパッタリングターゲット材の製造方法である。
本発明のスパッタリングターゲット材は、成分の偏在が抑制され、スパッタによって成膜される薄膜の成分均一性を向上させることができるものとなる。さらに、塑性加工性がよいものとなる。
本発明における最大の特徴は、成分の偏在が抑制されたMo合金スパッタリングターゲット材として、Moを主体として、(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mを0.5〜50原子%含有するスパッタリングターゲット材において、断面ミクロ組織における金属元素M粒の周囲に存在する酸化物を結んで得られる金属元素M粒の面積が1.0mm以下という金属組織を見出したことにある。さらに、上記の金属組織にすることによって塑性加工性をも向上できるという特徴を有する。
以下に本発明の金属組織および限定理由を詳細に述べる。
本発明のスパッタリングターゲット材は、図1のMo−Cr合金の断面ミクロ組織の組織写真に示すように、Moマトリックスに金属元素M粒(Cr粒)が分散したミクロ組織を有する。図1の組織を模式的に示した図2により、さらに詳細に説明すると、本発明のスパッタリングターゲット材は、Moマトリックス1に、金属元素M粒2の内部もしくは周囲に酸化物3が形成さている。そして、金属元素M粒2の周囲に存在する酸化物3をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積とは、図2に示すように金属元素M粒の周囲に存在する酸化物3の中心を結ぶ線分で囲まれた面積4をいう。
(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mは、Moに添加することでMoの耐食性を向上できるため、Mo合金の含有元素として好ましいものである。さらに、金属元素Mは、Moと比較して酸化物生成エネルギー順位が低く、酸化物を生成しやすい元素である。そのため、Mo粉末と金属元素M粉末を使用して粉末焼結法によりMo合金ターゲット材を作製する際には、Moマトリックスに固溶あるいは化合物を形成して析出する酸素が、金属元素M粒の周囲に酸化物を形成して固定される。この酸素のMoマトリックスからの移動により、Moマトリックス自体の塑性加工性が向上すると同時に、酸化物が固定された金属元素M粒が微細に分散することで、焼結体全体としての塑性加工性も向上するものと考えられる。
本発明において、断面ミクロ組織における金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積は、成分の偏在を抑制する点および塑性加工性の点からより狭いものとすることが望ましい。本発明者らは、スパッタリングターゲット材の塑性加工性の点およびスパッタリングにより成膜した薄膜の特性の点から検討した結果、最大でも1.0mm以下である必要があることを確認した。さらに、好ましくは0.1mm以下である。
なお、金属元素Mの含有量を0.5〜50原子%とした理由は、下限が0.5原子%を下回る場合は、金属元素MがMoから酸素を吸収するという効果が極めて小さくなるためであり、50原子%より高くなるとベースとなるMo本来の性質を失うためである。
次に、本発明のスパッタリングターゲット材を作製するための好ましい方法を以下に説明する。
本発明のスパッタリングターゲット材の特徴は、前述の通り金属元素Mが、Mo原料粉末の表面付着酸素を吸収する点にある。金属元素Mの原料粉末は、比重、形状、粒径といった粉末性状がMoと異なるため、単純にMo原料粉末と混合しても均一な分散状態を得ることはできない。すなわち金属元素Mを添加したMo合金の特徴を最大限に活用する意味で成分の均一な分散性が重要となる。
金属元素Mの原料粉末とMo原料粉末の混合は、V型混合機、クロスロータリーミキサー等の一般的な混合機による混合をした後に、一度、冷間静水圧プレス(CIP)等で圧縮成形し、次いでその圧縮成形体を粉砕して再度粉末にする造粒方法をとることが、金属元素Mの均一な分散を実現する上で極めて重要である。それは、CIP等による圧縮成形の時点では、原料粉末の混合時の混合状態が反映されるが、次の圧縮成形体の粉砕工程で再び分離、細分散されることになり分散性が向上できるためである。また、造粒粉末の粒径が分散効果の点で重要である。造粒粉末の平均粒径が5mmを超えると再粉砕時の分散効果が小さいため、好ましくは5mm以下、より好ましくは3mm以下、さらに好ましくは1mm以下である。
さらに、上述の造粒粉末を加圧容器に充填後脱気封止して加圧焼結法により焼結した焼結体を作製し機械加工するか、前記焼結体に熱間圧延等の塑性加工を施した後に所望の寸法のターゲット材を得る。造粒粉末を焼結することで、加圧焼結前の粉末自身で成分の均一な分散を実現でき、ターゲット材においても金属元素MがMoマトリックス中に微細に分散できるため、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積を1.0mm以下とすることが可能となる。
また、本発明のスパッタリングターゲット材に含有される金属元素Mとしては、V、Nb、Crが、LCD等の薄膜配線、薄膜電極の形成に使用する場合に、耐食性を具備した低抵抗な薄膜が得られるために好ましい。さらに、その中でもより低抵抗な薄膜を得られるためNbが好ましい。また、Zr、Tiは、V、Nb、Crに比べMoに添加した場合に抵抗が大きくなるが、耐食性の向上効果が高いため、LCD等の主導電膜のバリヤ膜としての使用が望ましい。
また、現在、LCDのパネルサイズの大型化に伴い、LCDの薄膜配線、薄膜電極に使用されるスパッタリングターゲット材も、スパッタ面の面積が1m以上の大型品、あるいは1辺の長さが1m以上の長尺品のターゲット材が必要とされている。
これらの大型品、長尺品のターゲット材に対応するためには、焼結体等に塑性加工を施して対応する方法が考えられる。そのため、本発明の金属組織を有するスパッタリングターゲット材は塑性加工性が優れており、さらにスパッタ面の成分の均一性に優れているため、スパッタ面の面積が1m以上の大型品、あるいは1辺の長さが1m以上の長尺品のターゲット材に好適である。
本発明の実施例について以下に説明する。
平均粒径6μmのMo粉末、平均粒径100μmのNb粉末、Cr粉末、Ti粉末、Zr粉末、V粉末を準備した。表1に示すスパッタリングターゲット材を製造するために、Mo粉末および各添加元素の金属粉末を所定の原子%比率で秤量後、V型混合機で10分間混合して得られた原料粉末を冷間静水圧プレス(CIP)で圧縮成形した圧密体を作製した。その後、前記圧密体をジョークラッシャーおよびディスクミルを使用して粉砕し造粒粉末を作製した。その造粒粉末を再度V型混合機で10分間混合した後、内径寸法で厚さ100mm×幅1250mm×高さ1450mmの軟鋼製加圧容器に充填した。充填後、加圧容器の上蓋を溶接した後に450℃の温度下で真空脱気して封止し、次いで熱間静水圧プレス(HIP)で加圧焼結した。HIPは、1250℃、120MPaの条件下で5時間保持した。HIP後の焼結体を切断および機械加工して、厚さ16mm×幅980mm×長さ1150mmのスパッタリングターゲット材を得た。
また、比較例として、表1の試料No.7、8に示すスパッタリングターゲット材を下記の通り製造した。Mo粉末およびNb粉末を所定の原子%比率で秤量後、V型混合機で10分間混合して得られた原料粉末を圧縮成形せずに直接に上記と同一寸法の軟鋼製加圧容器に充填した。充填後、加圧容器の上蓋を溶接した後に450℃の温度下で真空脱気して封止し、次いで1250℃、120MPa、5時間保持するHIPを行い焼結体を作製した。その後、このHIP後の焼結体を切断および機械加工して、厚さ16mm×幅890mm×長さ980mmのターゲット材を得た。
上記で作製したスパッタリングターゲット材からスパッタ面と垂直の断面で6×10mmの試験片を採取し、走査型電子顕微鏡(SEM)によってミクロ組織観察を行った。前記の試験片は、図3に示すようにスパッタリングターゲット材5をスパッタ面6から見て対角線上端部7および中央部8の計5箇所から採取した。なお、SEMによるミクロ組織の観察は各試験片の全体を観察し、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積が最大のものを選択し、その試験片の代表金属元素M粒とした。そして、この各試験片の代表金属元素M粒周囲のミクロ組織写真を撮影し、酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積とそれ以外に二値化して画像解析法により面積を測定した。さらにこの5箇所の試験片の代表金属元素M粒の面積の中で最大のものを代表値として表1に示す。また、各スパッタリングターゲット材の相対密度をアルキメデス法により測定した結果を同様に表1に示す。
また、本発明例の試料No.4のスパッタリングターゲット材をSEMで500倍に拡大したミクロ組織を撮影した写真を図4に、図4と同一視野においてEPMA(Electron Probe Microanalyser)でNb粒をカラーマップ化したスケッチを図5に示す。図4および図5から図の中央部分にNb粒が5個存在することが確認できる。そして、図4からNb粒の周囲に黒色で識別できる酸化物が存在しており、そのNb粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られるNb粒の最大面積がいずれも1.0mm以下であることが分かる。なお、EPMAによるカラーマップによって図4のNb粒の周囲に存在する黒色の粒が酸化物であることを確認した。
表1に示した通り、本発明例の試料No.1〜6のスパッタリングターゲット材は、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積が1.0mm以下であることがわかる。
一方、比較例の試料No.7、8のスパッタリングターゲット材は、部位による金属元素Mの分布差が認められ、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積が1.0mmを超えるものであることを確認した。
実施例1で作製したと同様の組成、寸法の焼結体を同様の製法で作製し、さらに熱間圧延を実施した。熱間圧延は、HIPによる終了後に加圧容器を除去せずそのままの状態で、1150℃加熱と圧下率50%以下の圧延を5回実施した。目標圧下率は25%とした。熱間圧延後に切断および機械加工して、厚さ10mm×幅1130mm×長さ1200mmのスパッタリングターゲット材を得た。実施例1で評価したのと同様に、スパッタリングターゲット材からスパッタ面と垂直の断面で6×10mmの試験片を採取し、走査型電子顕微鏡(SEM)によってミクロ組織観察を行い、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積を測定した。その結果を表2に示す。また、各スパッタリングターゲット材の相対密度をアルキメデス法により測定した結果を同様に表2に示す。なお、試料No.17、18は、熱間圧延時に焼結体の周囲から割れが発生したため、スパッタリングターゲット材が作製できなかった。
また、本発明例の試料No.14のスパッタリングターゲット材をSEMで1500倍に拡大したミクロ組織を撮影した写真を図6に、図6と同一視野においてEPMAでNb粒をカラーマップ化したスケッチを図7に示す。図6および図7から図の中央部分にNb粒が存在することが確認できる。そして、図6からNb粒の周囲に黒色で識別できる酸化物が存在しており、そのNb粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られるNb粒の最大面積が1.0mm以下であることが分かる。なお、EPMAによるカラーマップによって図6のNb粒の周囲に存在する黒色の粒が酸化物であることを確認した。
表2に示した通り、金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の面積が1.0mm以下である本発明のスパッタリングターゲット材であれば、所望の形状に圧延が可能であった。また、これらのスパッタリングターゲット材は十分な相対密度が得られた。
本発明のスパッタリングターゲット材であるMo-Cr合金の断面ミクロ組織を示す走査型電子顕微鏡写真である。 図1の断面ミクロ組織を示す模式図である。 実施例における試験片の採取位置を示す模式図である。 実施例1の試料No.4のスパッタリングターゲット材の走査型電子顕微鏡で500倍に拡大したミクロ組織を撮影した組織写真である。 図4と同一視野においてEPMAでNb粒をカラーマップ化した際のスケッチである。 実施例2の試料No.14のスパッタリングターゲット材の走査型電子顕微鏡で1500倍に拡大したミクロ組織を撮影した組織写真である。 図6と同一視野においてEPMAでNb粒をカラーマップ化した際のスケッチである。
符号の説明
1 Moマトリックス、2 金属元素M粒、3 酸化物、4 面積、5 スパッタリングターゲット材、6 スパッタ面、7 対角線上端部、8 中央部

Claims (6)

  1. Moを主体として、(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mを0.5〜50原子%含有するスパッタリングターゲット材において、スパッタ面に対して垂直方向の断面ミクロ組織における金属元素M粒の周囲に酸化物が形成されており、該金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の最大面積が1.0mm以下であることを特徴とするスパッタリングターゲット材。
  2. 金属元素MがNbであることを特徴とする請求項1に記載のスパッタリングターゲット材。
  3. スパッタ面の面積が1m以上であることを特徴とする請求項1または2に記載のスパッタリングターゲット材。
  4. スパッタ面を構成する一辺の長さが1m以上であることを特徴とする請求項1または2に記載のスパッタリングターゲット材。
  5. Mo原料粉末と(Ti、Zr、V、Nb、Cr)から選択される金属元素Mの原料粉末とを混合した後、圧縮成形した成形体を粉砕して再度粉末にした造粒粉末を、加圧容器に充填し、次いで加圧焼結を施することで、スパッタ面に対して垂直方向の断面ミクロ組織における金属元素M粒の周囲に酸化物が形成されており、該金属元素M粒の周囲に存在する酸化物をネットワークで結んで得られる金属元素M粒の最大面積が1.0mm以下とすることを特徴とするスパッタリングターゲット材の製造方法。
  6. 加圧焼結後に塑性加工を施すことを特徴とする請求項5に記載のスパッタリングターゲット材の製造方法。
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