JP7267086B2 - スパッタリングターゲットの製造方法 - Google Patents

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本発明は、例えば、長さ3000mm以上の大型のスパッタリングターゲットの製造方法に関する。
近年、液晶ディスプレイや半導体装置などの製造分野において、焼結体で構成されたスパッタリングターゲットを備えたスパッタ装置が広く用いられている。また、近年における基板の大型化に伴い、スパッタリングターゲットの大型化が進められている。
焼結体ターゲットの製造方法として、熱間等方圧プレス法(HIP:hot isostatic pressing)と、冷間等方圧プレス(CIP:cold isostatic pressing)で作製された予備成形体を焼成する、いわゆるCIP&Sinter法が知られている。中でも、高融点金属を含む焼結体ターゲットにおいては、HIP法が採用されるのが一般的である。
ところが、HIP法は、原料粉末を缶へ充填する際にその充填率を高めるのが難しく、高密度の焼結体を製造することが困難である。特に、低充填率のものは高いガス脱離性があり、ガス成分が多い焼結品は、異常放電などスパッタリングの成膜特性において悪影響を及ぼす。そこで、例えば特許文献1には、原料粉末をHIP用の缶に充填した後、振動およびプレス圧力を充填した粉末に与え、充填密度の向上と均一化を図る技術が開示されている。
一方、HIP前に予備成形体を作成しておくことで、焼結体の高密度化を図ることが可能である。しかし、予備成形体をHIP用の缶に挿入する際に、予備成形体に割れや欠けなど欠陥が発生する可能性がある。この問題は、成形体が大型であるほど顕著に発生しやくなる。
なお、大型の焼結体ターゲットを製造するために、特許文献2のようにターゲットを複数のピースとして製造した後に、それらを接合させる方法が知られている。しかしこの方法では、焼結を複数回実施する必要があるとともに、複数のピースと接合部との間でスパッタリングの成膜特性が異なる問題がある。換言すると、大型のスパッタリングターゲットを一体的に製造することが不可能であった。
特開2002-167669公報 特開2011-89188号公報
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、高密度の大型ターゲットを割れや欠けを発生させることなく製造することができるスパッタリングターゲットの製造方法を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明の一形態に係るスパッタリングターゲットの製造方法は、変形可能な缶に原料粉末を充填し、前記原料粉末を前記缶とともに冷間等方圧プレスし、前記原料粉末を缶とともに熱間等方圧プレスする。
上記製造方法によれば、冷間等方圧プレスを施した原料粉末の成形体を缶から取り出すことなく熱間等方圧プレスを実施するため、成形体の缶への入れ替えに伴う割れや欠けを発生させることなく高密度の焼結体を製造することができ、大型ターゲットを安定かつ容易に製造することが可能となる。
前記缶は、一軸方向に長手の開口部を有する容器本体と、前記開口部を塞ぐ第1の蓋とを有してもよい。この場合、前記冷間等方圧プレスでは、治具によって容器本体の側面および底面を拘束した状態で、前記原料粉末が前記第1の蓋にかかる圧力でプレスされる。
これにより、反りや変形のない冷間等方圧プレス成形体を得ることができる。
前記熱間等方圧プレスは、前記開口部を塞ぐ第2の蓋を前記容器本体に一体固定した状態で実施されてもよい。
これにより、焼結体の高密度化を図ることができる。
前記容器本体の長辺の長さは、3000mm以上あってもよい。
前記原料粉末として、高融点材料を含む第1の金属粉末および第2の金属粉末が用いられてもよい。
本発明によれば、高密度の大型ターゲットを割れや欠けを発生させることなく製造することができる
本発明の一実施形態に係るスパッタリングターゲットの製造方法を説明する工程フローである。 CIP工程を説明する要部の概略断面図である。 HIP工程を説明する要部の概略断面図である。 HIP工程後の焼結体の部分概略斜視図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
図1は本発明の一実施形態に係るスパッタリングターゲットの製造方法を説明する工程フローである。本実施形態のスパッタリングターゲットの製造方法は、原料粉末の充填工程(S1)と、冷間等方圧プレス(CIP)工程(S2)と、熱間等方圧プレス(HIP)工程(S3)と、加工工程(S4)とを有する。
原料粉末には、主として、高融点金属を含む第1の金属粉末と第2の金属粉末とが用いられる。第1および第2の金属粉末は、特に限定されず、例えば、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、タングステン(W)およびタンタル(Ta)のうちのいずれかから選択され、本実施形態では、第1の金属粉末がMo、第2の金属粉末がTiである。Tiの含有量は特に限定されず、例えば、50原子%以上60原子%以下である。
第1の金属粉末及び第2の金属粉末の作製には、乾式法あるいは湿式法が用いられる。例えば水素(H2)、一酸化炭素(CO)、アンモニア(NH3)等の分解ガスを用いて酸化モリブデン(MoO3)を還元することで、金属モリブデンの微粉末を作製することができる。チタン粉末は、例えば、水素化チタン(TiH)を粉砕・脱水素して作製することもできるが、残留水素成分を嫌う場合は、アトマイズ法により作製することもできる。
本実施形態では、モリブデン粉末は、5.0μm以下の粒子サイズのものが用いられ、チタン粉末は、200μm以下のアトマイズ粉末が用いられる。アトマイズ粉末は、例えば、ノズルから流出する金属の溶湯に不活性ガス等を吹き付けることで、溶湯を粉砕し微細な液滴として凝固される。冷却ガスに不活性ガスを用いることで、金属の酸化を抑制し、比較的硬度の低い金属微粉末を容易に得ることができる。チタン粉末の硬度は、ビッカース硬度(Hv)で70以上250以下のものを用いることができる。
なお、上記第1及び第2の金属粉末は、ターゲットの製造前にあらかじめ作製されてもよいし、市販のものを用いてもよい。
(充填工程)
ステップS1として、原料粉末として準備された第1の金属粉末及び第2の金属粉末を所定の割合で秤量、混合し、所定構造の缶に充填される。金属粉末の混合には、種々の形態の混合機を用いることができる。
(CIP工程)
次にステップS2として、原料粉末に冷間等方圧プレス(CIP)を施して所定形状の予備成形体を作製する。図2は、CIP工程を説明する断面図である。図においてX軸、Y軸及びZ軸は相互に直交する3軸方向を示しており、X軸及びY軸は水平方向に相当する(図3及び図4についても同様)。
図2に示すように、原料粉末5は、変形可能な缶10に充填された後、CIP装置の加圧室20に設置される。缶10は、一軸方向(X軸方向)に長手の開口部11aを有する容器本体11と、開口部11aを塞ぐ蓋12(第1の蓋)とを有する。
容器本体11および蓋12はいずれも金属材料で構成され、本実施形態では、軟鋼で構成される。容器本体11は、4側面11bと、底面11cとを有する直方体形状に形成される。容器本体11の各部の大きさは特に限定されず、長手方向の長さが3000mm以上であってもよい。本実施形態では、X軸方向に沿った長さ寸法が約4000mm、Y軸方向に沿った幅寸法が約250mm、Z軸方向に沿った高さ寸法が約340mmである。蓋12は、容器本体11に対してZ軸方向に相対移動可能に開口部11aに嵌合される。
CIP工程では、図2に示すように、治具21~24によって容器本体11の4側面11bおよび底面11cを拘束した状態で、原料粉末5が蓋12にかかる圧力でプレスされる。本実施形態では、蓋12が容器本体11に対して高さ方向に相対移動可能に設置されているため、原料粉末5は蓋12で圧縮される方向にプレスされる。これにより、容器本体11の変形が抑制されるため、厚み方向や幅方向に反りや変形のないCIP成形体を得ることができる。
治具21~24のうち、治具21は、容器本体11の底面11cを被覆し、治具22は、容器本体11の4側面11bをそれぞれ被覆し、治具23は、缶10(容器本体11)及び治具21,22の全体を支持する。治具21~23は、典型的には、アルミ合金やステンレス鋼などの金属材料で構成される。特に、缶10の底部に配置される治具23は、治具21,22よりも高強度の材料で構成されてもよい。これにより成形時における缶10の水平軸方向の変形を抑制してX軸方向における平行度の高い成形体を製造することができる。なお、治具21~24は別個の金型で構成される例に限られず、少なくとも一部の治具が一体化されてもよい。
CIP工程では、加圧室20に所定圧の水圧が導圧されることで原料粉末5がプレスされる。容器本体11と蓋12との境界部からの水の浸入を防ぐため、缶10は蓋12の上からラバーシート等の変形可能なシート材24で覆われる。
CIP工程におけるプレス圧は特に限定されず、本実施形態では、100MPa以上150MPa以下である。CIP保持時間も特に限定されず、例えば、5分以上20分以下とすることができる。CIP工程では、相対密度が例えば65%以上の原料粉末5の予備成形体5Aが作製される。
(HIP工程)
続いて、ステップS3として、CIP工程で作成された原料粉末5の予備成形体5Aに熱間等方圧プレス(HIP)を施して所定形状の焼結体5Bを作製する。図3は、HIP工程を説明する断面図である。
HIP工程では、図3に示すように、予備成形体5Aが缶10(容器本体11)から取り出されることなく、缶10(容器本体11)とともに加圧焼結される。HIP工程は、缶10を治具治具21~24で被覆せずに実施される。
HIP工程では、容器本体11の開口部11aを塞ぐ蓋13(第2の蓋)を容器本体11に一体固定した状態で実施される。蓋13は、CIP工程で使用した蓋12が用いられてもよい。蓋13の容器本体11への固定方法は特に限定されず、典型的には、溶接である。図3において符号11wで示すように、缶10の上端と蓋13の上端とがスポット溶接等で接合される。蓋13は、脱気孔等を備えていてもよく、これにより予備成形体5Aの脱気性が向上し、高密度の焼結体を得ることができる。
HIP工程では、加圧室30に所定温度、所定圧力のガスが導入されることで、予備成形体5Aを加圧焼結する。HIP工程におけるプレス圧は特に限定されず、本実施形態では、100MPa以上200MPa以下である。焼結温度も特に限定されず、例えば、1000℃以上1400℃以下である。HIP工程に用いられるガスの種類も特に限定されず、例えば、アルゴンや窒素である。HIP保持時間も特に限定されず、例えば、1時間以上10時間以下とすることができる。HIP工程では、相対密度が例えば95%以上の焼結体5Bが作製される。
本実施形態によれば、CIPを施した原料粉末5の予備成形体5Aを缶10(容器本体11)から取り出すことなくHIPを実施するため、予備成形体5Aの缶への入れ替えに伴う割れや欠けが防止される。これにより、割れや欠けを生じさせることなく、大型あるいは長尺の高密度の焼結体5Bを安定に製造することができる。また、缶の入れ替えに伴う缶と成形体との間の隙間の発生が抑えられるため、脱ガス量が低減し、これによりHIP時における容器本体11の異常膨張を防ぐことができる。
(加工工程)
続いて、ステップS4として、HIP工程によって作製された焼結体5Bが所定形状に機械加工される。図4は、HIP工程後に缶10(容器本体11)から取り出された焼結体5Bの部分概略斜視図である。
加工工程では、焼結体5Bの表面が平坦に加工されるとともに、焼結体5BをXZ平面に平行な方向に切断することで、スパッタリングターゲットとして、X軸方向に長手の複数の板状のターゲット材5Cが作製される。ターゲット材5Cの厚みは特に限定されず、例えば、3mm以上30mm以下である。
本実施形態においては、上述したように、CIP工程が容器本体11の側面11b及び底面11cを拘束した状態で実施されるため、容器本体11の変形が規制される。したがって、加工工程においては、HIP工程で生じた容器本体11の変形の分だけ焼結体5Bの表面を加工すればよいため、当該表面に施す加工量を低減することができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されることはなく、本発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。
例えば以上の実施形態では、Ti-Mo系スパッタリングターゲットを説明したが、これに代えて、Ti-W系スパッタリングターゲットについても同様に適用可能である。
また、ターゲットの形状も矩形に限られず、円形であってもよい。さらに、ターゲットの大きさは上述の例に限られず、10.5世代(10.5G)以上の大型のターゲットの製造にも本発明は適用可能である。
5…原料粉末
5A…予備成形体
5B…焼結体
5C…ターゲット材
10…缶
11…容器本体
12,13…蓋
20,30…加圧室
21~23…治具

Claims (4)

  1. 変形可能な缶に原料粉末を充填し、
    前記原料粉末を前記缶とともに冷間等方圧プレスし、
    前記冷間等方圧プレスした原料粉末を、前記缶から取り出すことなく、前記缶とともに熱間等方圧プレスする
    スパッタリングターゲットの製造方法であって、
    前記缶は、一軸方向に長手の開口部を有する容器本体と、前記開口部を塞ぐ第1の蓋とを有し、
    前記冷間等方圧プレスする工程では、治具によって容器本体の側面および底面を拘束した状態で、前記原料粉末が前記第1の蓋にかかる圧力でプレスされる
    スパッタリングターゲットの製造方法
  2. 請求項に記載のスパッタリングターゲットの製造方法であって、
    前記熱間等方圧プレスする工程は、前記開口部を塞ぐ第2の蓋を前記容器本体に一体固定した状態で実施される
    スパッタリングターゲットの製造方法。
  3. 請求項1又は2に記載のスパッタリングターゲットの製造方法であって、
    前記容器本体の長辺の長さは、3000mm以上ある
    スパッタリングターゲットの製造方法。
  4. 請求項1~のいずれか1項に記載のスパッタリングターゲットの製造方法であって、
    前記原料粉末として、高融点材料をそれぞれ含む第1の金属粉末および第2の金属粉末が用いられ、前記高融点材料は、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、タングステン(W)およびタンタル(Ta)のうちのいずれかから選択され
    スパッタリングターゲットの製造方法。
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