JP2005232188A - オキサシクロペンチル基をもつアクリル又はメタクリル酸エステルの製造方法 - Google Patents

オキサシクロペンチル基をもつアクリル又はメタクリル酸エステルの製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 ArFエキシマレーザーに対して良好な透明性を有し、優れた感度、レジストパターン形状、耐ドライエッチング性及び密着性を示し、アルカリに対し高い親和性を有する化学増幅型ホトレジスト組成物を得るため、アクリル系樹脂に、特定のブチロラクトン環をもつ構成単位を導入するが、その導入のために有用な単量体を効率よく製造するための新規な製造方法を提供する。
【解決手段】 アクリル酸若しくはメタクリル酸又はその官能的誘導体に、下記化学式
【化1】
Figure 2005232188

で表わされる化合物を反応させることにより、一般式
【化2】
Figure 2005232188

(R1は水素原子又はメチル基)
で表わされる化合物を製造する。
【選択図】 なし

Description

本発明は、化学増幅型ホトレジスト組成物の樹脂成分を製造するための単量体として好適なオキサシクロペンチル基をもつアクリル又はメタクリル酸エステルの新規な製造方法に関するものである。
これまで、化学増幅型レジストの樹脂成分としては、KrFエキシマレーザー(248nm)に対し高い透明性を有するポリヒドロキシスチレンやこのヒドロキシル基を酸解離性の溶解抑制基で保護したものが主に用いられてきた。
しかしながら、近年半導体素子の微細化に対する要求はますます高まり、その光源もKrFエキシマレーザーからより短波長のArFエキシマレーザー(193nm)を用いるプロセスに移行しつつある。
ところで、ArFエキシマレーザー(193nm)を光源とするプロセスにおいては、従来用いていたポリヒドロキシスチレンのような芳香族環をもつ樹脂では、このArFエキシマレーザーに対する透明性が不十分で使用できないため、これに代わるものとして芳香族環をもたないアクリル系樹脂が注目されるようになってきたが、このアクリル系樹脂は、耐ドライエッチング性が劣るという欠点を有している。
そして、このような耐ドライエッチング性を向上させるために、アクリル酸と脂環式アルキルとのエステルを樹脂中の構成単位に導入することが有効であることが知られ、これまでエステル部にアダマンタン骨格をもつアクリル酸エステルの重合体(特許文献1参照)や、エステル部にアダマンタン骨格をもつアクリル酸エステルとアクリル酸テトラヒドロピラニルエステルとの共重合体(特許文献2参照)などが提案されている。
しかしながら、このようなアダマンタン骨格をもつアクリル酸エステルを構成単位として導入すれば、透明性及び耐ドライエッチング性については、ある程度の向上効果が認められるが、その効果は必ずしも満足しうるものではない上に、アダマンタン骨格をもつアクリル酸エステル自体容易に入手しうるものではないためコスト高になるのを免れず、また感度の点でも不十分で、良好なパターン形状が得られないという欠点がある。
一方、ArFエキシマレーザーを用いるプロセスにおいては、0.2μm以下の超微細パターンを解像性よく形成させることが重要な目的となっているが、このような超微細パターンを形成させる場合、基板とレジスト層との密着性が不足し、パターン倒れを生じるという問題を伴う。
このため、アクリル酸の3‐オキソシクロヘキシルエステル(特許文献3参照)や、γ‐ブチロラクトン(特許文献4参照)のような含酸素複素環基をもつアクリル酸エステルを構成単位として導入したものが提案されている。
しかしながら、このような含酸素複素環基をもつアクリル酸エステル単位を導入したアクリル系樹脂をArFエキシマレーザーに対して使用すると、密着性の点では幾分改善が認められるものの、現像液として用いられるアルカリ水溶液に対する親和性が不十分で、半導体素子製造の主流となっているパドル現像においては、忠実なレジストパターンが形成できない。このため、基板に対する密着性が優れ、しかもパドル現像可能なアルカリ水溶液に対する親和性を有するArFエキシマレーザー用レジストを実現させることが、この分野における重要な課題となっている。
特開平4−39665号公報(特許請求の範囲その他) 特開平5−265212号公報(特許請求の範囲その他) 特開平5−346668号公報(特許請求の範囲その他) 特開平7−181677号公報(特許請求の範囲その他)
本発明者らは、ArFエキシマレーザー用の化学増幅型ホトレジスト組成物、特にポジ型ホトレジスト組成物について種々研究を重ね、アクリル系樹脂に、特定のブチロラクトン環をもつ構成単位を導入することにより、ArFエキシマレーザーに対して良好な透明性を有し、かつ優れた感度、レジストパターン形状、耐ドライエッチング性及び密着性を示す上に、アルカリに対し高い親和性を有する化学増幅型ホトレジスト組成物を提供することに成功したが、本発明は、上記のアクリル系樹脂に特定のブチロラクトン環をもつ構成単位を導入するために有用な単量体を効率よく製造するための新規な製造方法を提供することを目的としてなされたものである。
本発明者らは、特定のブチロラクトン環をもつアクリル系単量体を効率よく製造するための新規な方法を開発するために種々研究を重ねた結果、二重結合を含むブチロラクトン化合物を原料として用いることにより、簡単に該単量体が得られることを見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至った。
すなわち、本発明は、アクリル酸若しくはメタクリル酸又はその官能的誘導体に、化学式
Figure 2005232188
で表わされる化合物を反応させることを特徴とする、一般式
Figure 2005232188
(式中のR1は水素原子又はメチル基である)
で表わされる化合物の製造方法を提供するものである。
前記一般式(I)で表わされる化合物を用いて、前記一般式(II)で表わされる化合物を製造するには、例えば有機溶媒中、トリエチルアミンのような縮合剤の存在下、この化合物にアクリル酸若しくはメタクリル酸の官能的誘導体例えば酸クロリドを反応させる。
この反応に用いる有機溶媒としては、例えばテトラヒドロフラン、ジエチルエーテルなどがある。
このようにして得られた一般式(II)で表わされる化合物は、1H−NMRにおいて1.92ppm、2.30〜2.50ppm、3.90〜4.10ppm、5.20ppm、5.60ppm、6.12ppmにピークが認められるので、これによって同定することができる。
本発明方法によれば、オキサシクロペンタノン環をもつ単量体を簡単に得ることができる。
次に実施例により本発明を実施するための最良の形態を説明するが、本発明はこれによってなんら限定されるものではない。
3‐ヒドロキシ‐1‐オキサシクロペンタン‐2‐オン55.1g(0.54モル)、トリエチルアミン60g(0.60モル)をテトラヒドロフラン200ミリリットルに溶解し、十分撹拌した後、これにメタクリロイルクロリド62.4g(0.60モル)を25℃で1時間にわたって滴下した。
次いで、25℃にて24時間反応させた後、反応液をろ過した。そのろ液の溶媒を留去し、残存生成物をジエチルエーテル300ミリリットルに溶解し、10重量%水酸化ナトリウム溶液で10回洗浄した。次いで、n‐ヘプタンを溶媒としてカラムクロマトグラフィーにより精製し、無色の液体として、式
Figure 2005232188
で表わされる化合物のメタクリル酸エステルを得た。
この生成物のH−NMR(溶媒:アセトン−d)を測定した結果、1.92ppm、2.30〜2.50ppm、3.90〜4.10ppm、5.20ppm、5.60ppm、6.12ppmにピークが認められた。
参考例
実施例1で得たメタクリル酸エステル17.4g(0.094モル、全モノマーに対するモル%は75モル%)、メタクリル酸2‐テトラヒドロピラニル5.3g(0.031モル、全モノマーに対するモル%は25モル%)をテトラヒドロフラン560gに溶解し、反応開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル0.81gを加え、75℃で3時間重合反応させた。反応終了後、反応物をn‐ヘプタン5リットル中に注加して重合体を析出させ、得られた共重合体を室温下で減圧乾燥した。このようにして、上記のメタクリル酸エステルとメタクリル酸2‐テトラヒドロピラニルの共重合体を得た。この共重合体の収量は14.9gであり、重量平均分子量は13,500で、分散度は2.01であった。
次にこの重合体100重量部、ビス(p‐tert‐ブチルフェニル)ヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート2重量部をプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート680重量部に溶解してポジ型レジスト溶液を得た。
次いで、このレジスト溶液をスピンナーを用いてシリコンウエーハ上に塗布し、ホットプレート上で100℃で90秒間乾燥することにより、膜厚0.5μmのレジスト層を形成した。次いで、ArF露光装置(ニコン社製)により、ArFエキシマレーザー(193nm)を選択的に照射したのち、110℃90秒間PEB処理し、次いで2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で65秒間パドル現像し、30秒間水洗して乾燥した。
このような操作で形成された0.25μmのラインアンドスペースが1:1に形成される露光時間を感度としてmJ/cm2(エネルギー量)単位で測定したところ、6.0mJ/cm2であった。
また、このようにして形成された0.25μmのレジストパターンの断面形状をSEM(走査型電子顕微鏡)写真により、観察したところ、基板に対して垂直な矩形のレジストパターンであった。
また、このような操作で0.20μmのレジストパターンまで解像され、パターン倒れはなかった。
次いで、テトラフルオロメタンガスをエッチングガスとして、エッチング装置OAPM−406(東京応化工業株式会社製)でドライエッチングし、耐ドライエッチング性を単位時間当たりの膜減り量で評価し、ポリヒドロキシスチレンを1.0とした場合、1.1であった。
本発明方法により得られる化合物は、化学増幅型レジストの樹脂成分を製造するための単量体として有用である。

Claims (2)

  1. アクリル酸若しくはメタクリル酸又はその官能的誘導体に、下記化学式
    Figure 2005232188
    で表わされる化合物を反応させることを特徴とする、一般式
    Figure 2005232188
    (式中のR1は水素原子又はメチル基である)
    で表わされる化合物の製造方法。
  2. アクリル酸若しくはメタクリル酸の官能的誘導体が酸クロリドである請求項1記載の化合物の製造方法。
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