JP2005176368A - 直角位相クロックを生成する方法および装置 - Google Patents

直角位相クロックを生成する方法および装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 集積回路のある領域のクロックが別の領域のクロックと同相になるように調整する。
【解決手段】 本発明にかかる直角位相クロックを生成する方法および装置は、直角位相クロック発生装置が、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有する2倍クロックを提供するクロック発生器を含む。2倍クロックの半分の周波数を有するアライメント信号を提供するように分周器回路が結合される。アライメント信号に従って、リカバリ回路が、2倍クロックから第1のクロックと第2のクロックを回復させる。第1と第2のクロックは、実質的に90°の位相差を有する。
【選択図】図1

Description

本発明は、直角位相クロックを生成する方法および装置に関する。
ディジタル論理回路は、同期化、基準信号の導出、位相差の測定および他の機能をクロック信号にしばしば依存している。
いくつかの用途は、基準クロックと90°の位相差を有する直角位相クロック(quadrature clock)を必要とする。
例えば、ストローブ信号には直角位相クロックがよく使用される。
集中化した直角位相クロックを生成し、すべての構成要素に分配することができる。
詳細には、第1のクロックと、その第1のクロックから90°の位相差を有する第2のクロックを集中的に生成して分配することができる。
この手法の1つの欠点は、分配が比較的広い領域にわたったり比較的多数の構成要素を駆動するために使用されたりするときに、クロック信号が、分配中ずっと維持するのが困難な制約を有する傾向があることである。
例えば、集積回路用途において、両方のクロックのスキュー要件を満たすためには、チップ領域と配線資源をかなり消費しなければならない。
クロック分配バッファに使用される集積回路ロジックのタイプによっては、2つのクロックの分配によって消費電力が2倍になることもある。
直角位相クロックを生成するもう1つの技術は、集積回路のいくつかの領域に基準クロック信号を分配することを必要とする。
各領域は、基準クロック信号から直角位相クロック信号を得るための局部的な位相同期ループ(PLL)または遅延同期ループ(DLL)を有する。
この手法には、局部的なPLLまたはDLLが集積回路の設計を複雑にし、それにより設計および検証時間が長くなるという欠点がある。
さらに、ある領域の第1のクロックが別の領域の第1のクロックと同相になるように、すべての領域にわたって第1と第2のクロックと関連した固有の位相の基準クロックからの選択を調整することは問題が多い。
既知のシステムおよび方法の限界を鑑みて、直角位相クロックを生成する様々な方法および装置を示す。1つの実施形態において、直角位相クロック発生装置が、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有する2倍クロックを提供するクロック発生器を含む。
2倍クロックの半分の周波数を有するアライメント信号を提供するように分周器回路が結合される。
アライメント信号に従って、リカバリ回路が、2倍クロックから第1のクロックと第2のクロックを回復させる。
第1と第2のクロックは、実質的に90°の位相差を有する。
直角位相クロック発生装置の1つの実施形態は、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有する2倍クロックを提供するクロック発生器を含む。
2倍クロックの半分の周波数を有するアライメント信号を提供するために分周器回路が結合される。
この装置は、複数のリカバリ回路を含み、各リカバリ回路は、アライメント信号に従って2倍クロックから関連した第1のクロックおよび関連した第2のクロックを回復させる。
各リカバリ回路と関連した第1と第2のクロックは、実質的に90°の位相差を有する。
直角位相クロックを生成する方法の1つの実施形態は、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有する2倍クロックを生成する段階を含む。
2倍クロックの半分の周波数を有するアライメント信号が生成される。
アライメント信号に従って2倍クロックから第1のクロックが得られる。
第1のクロックから第2のクロックが得られる、第1と第2のクロックは、実質的に90°の位相差を有する。
本発明は、添付図面の図において制限ではなく例として示されており、図において同じ参照は類似の要素を示す。
図1は、第1のクロックCLK1 180と第2のクロックCLK2 190を生成する直角位相クロック発生回路の1つの実施形態を示す。
第2のクロックは、第1のクロックと直角位相の関係を有する。
1つの実施形態において、クロック発生回路は、集積回路チップ196上にある。
クロック発生器110は、基準クロックREFCLK112の周波数の倍数(m)の周波数を有する出力116を生成する。
示した実施形態において、クロック発生器110は、位相同期ループ(PLL)である。
位相同期グループは、反転器182、分周器170、およびフリップフロップ150を含むフィードバック経路を有する。
m分周器による分周の結果、PLL出力116の周波数は、REFCLK112の周波数のm倍になる。
分周器170の出力は、PLL出力の1/mの周波数を有する。
示した実施形態において、m=2であり、PLL出力は、REFCLKの周波数の2倍になる。
したがって、PLL110は、受け取った基準クロックREFCLKの2倍の周波数を有する2倍クロック(2×CLK116)を提供するクロック発生器である。
1つの実施形態において、この2×CLK116は、差動式にフリップフロップ150、160に分配される。
したがって、片側−差動変換器(single−sided−to−differential converter)120は、片側2×CLKを差動2×CLK信号に変換する。
フリップフロップの近くで、差動−片側コンバータ(differential−to−single−sided onverter)130が、差動2×CLKを片側2×CLKに変換する。
分周器170と反転器172は、PLL出力の1/mの周波数を有するアライメント信号1×ALIGNを提供する分周器回路を構成する。
詳細には分周器回路は、反転PLL出力をmで割ったものに対応する1XALIGNを提供する。
PLL出力が、REFCLKの周波数のm倍の周波数を有する場合、信号1XALIGN176は、REFCLKと同じ周波数を有する。
1XALIGNは、mの値に関係なく常に、REFCLKと同じ周波数を有することになる。
示した実施形態において、m=2であり、その結果、1XALIGNは、反転2倍クロックを2で割ったものに対応する。
示した実施形態では、反転器172が2倍クロックを反転させ、その結果分周器170が、反転2倍クロックを受け取る。
1XALIGN176は、フリップフロップ150へのデータ入力として提供される。
フリップフロップ150の出力は、第1のクロックCLK1 180である。
CLK1は、PLL110へのフィードバック入力として提供される。
2倍クロック(すなわち、2×CLK)は、フリップフロップ150をクロックするために使用される。
2倍クロックは、反転器140によって反転され、反転2倍クロック(すなわち、2×CLK)は、フリップフロップ160をクロックするために使用される。
フリップフロップ150は、第1のクロック信号CLK1 180を提供する。
フリップフロップ160は、第2のクロック信号CLK2 190を提供する。
第2のクロックは、第1のクロックから90°の位相差を有する。
1つの実施形態において、各フリップフロップ150、160は、D型フリップフロップである。

PLL110は、REFCLKとCLK1の位相差を最小にするようにPLL出力を駆動する。
したがって、最初にCLK1とREFCLKの位相がずれている場合でも、PLL110は、CLK1とREFCLKの位相を合わせるようにPLL出力を駆動する。
1つの実施形態において、クロック発生器、分周器回路、およびリカバリ回路は、同じ集積回路チップ上にある。
1つの実施形態において、クロック発生器、分周器回路、およびリカバリ回路は、金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)集積回路として構成される。
図2は、図1の直角位相クロック発生回路にある様々な信号の波形を示す。
2×CLK波形(b)は、波形(a)として示されたREFCLKの2倍の周波数を有する。
1XALIGN波形(c)は、2倍クロック2×CLKの波形の半分の周波数を有する。
したがって、1XALIGNとREFCLKは、同じ周波数を有する。
反転2×CLKが分周器に提供される結果、1XALIGN信号の立ち上がりが、2×CLK信号の立ち下がりと合わされる。
1XALIGN信号を受け取るフリップフロップをクロックすることによって波形(d)のCLK1信号が得られた場合、波形(d)のCLK1信号は、2×CLKの立ち上がりで1XALIGNの値に遷移する。
信号CLK2は、2×CLKの立ち上がりでCLK1の値に遷移する。
したがって、波形(e)の信号CLK2は、2×CLKの立ち下がりでCLK1の値に遷移する。
示したように、CLK2は、CLK1と90°の位相差を有する。
波形(b)〜(e)の間の同期は、PLLがロックされていないときでも維持される。
REFCLKとCLK1に関して180°の位相差が示されているが、PLLは、REFCLKとCLK1の位相を合わせるように適応し、PLLは、CLK1とREFCLK間のアライメントを維持するように「ロック」する。
従って、CLK1とREFCLKの間に示されている位相差は、初期状態だけである。
波形(a)とその他の波形(b)〜(e)の間の同期は、波形(d)が波形(a)と同期し同相になるポイントにPLLがロックするまで変化する。
図3は、直角位相クロックの複数の実例(instance)を作成する1つの実施形態を示す。
図3の直角位相クロック分配は、前述のどちらのアーキテクチャの欠点もなしに、複数のPLL/DLLを使用することによる集中生成と分散生成の両方の利点を含む。
直角位相クロックの集中生成と関連した所要電力は、得られた直角位相クロックを局部的領域に分配するために局部的なフリップフロップを使用することによって回避される。
1XALIGN信号は、すべての局部的領域に分配されるが、1XALIGN信号は、アライメントのためにのみ使用され、CLK1とCLK2のどちらを駆動するためにも使用されない。
2×CLK信号は、集積回路の全体にわたるすべてのクロック動作構成要素ではなく、それぞれの局部的領域内のいくつかの構成要素をクロックするだけでよい。
分散型PLL/DLLアーキテクチャと違い、1つのアライメント信号が、CLK1信号とCLK2信号のそれぞれと関連した2×CLK信号の固有のエッジの選択を可能にする。
さらに、2×CLKのどのエッジを選択するかを識別するために1XALIGNを使用するので、1XALIGNのかなりのスキューまたはドリフトは許容可能である。
CLK2を1XALIGNから独立に得らるのではなくCLK1から得る場合、1XALIGN信号は、2×CLKの同じエッジをCLK1またはCLK2と関連付けている限りはどちらの方向に約90°ずれてもよい。
したがって、1XALIGNの分配は、通常のクロックスキューの検討が実質的に免除される。
1XALIGN376は、リカバリ回路と関連付けられた各局部的領域に分配される。
同様に、2倍クロック316(2×CLK)は、各局部的領域に分配される。
示した実施形態において、2倍クロックは、各局部的領域において片側2倍クロックに戻された差動2倍クロックとして分配される。
詳細には、片側−差動変換器320は、片側2×CLKを、分配ブロック322に提供される差動2×CLK信号に変換する。
フリップフロップの近くで、局部的領域と関連付けられた差動−片側変換器330、332は、差動2×CLKを片側2×CLKに変換する。
各局部的領域は、分配された2×CLKおよび1XALIGN信号からCLK1とCLK2を回復させるリカバリ回路398Bを含む。
示した実施形態において、リカバリ回路398Bは、フリップフロップ350B、360Bと、クロックCLK1 380BとCLK2 390Bを回復または再生する反転器340Bとを含む。
1つの実施形態において、集積回路は、分配された2倍クロックとアライメント信号からの直角位相クロックの局所的生成を必要とする複数の局部的領域を有する。
CLK1 380AとCLK1 380Bは、同じクロック信号CLK1の明瞭に生成された実例である。
同様に、CLK2 390AとCLK2 390Bは、同じクロック信号CLK2の生成された明瞭な実例である。
したがって、CLK1 380AとCLK1 380Bは、信号2×CLKと1XALIGNから別個に得られた場合でも、CLK1 380A=CLK1 380Bである。
同様に、CLK2 390AとCLK2 390Bは、信号2×CLKと1XALIGNから別個に得られた場合でも、CLK2 390A=CLK2 390Bである。
PLL310は、フィードバックに第1のクロックの1つの実例だけを必要とする。
従って、フィードバックのために、CLK1 380A...380Bのうちの1つだけがPLL310に提供される。
図4は、直角位相クロックを生成する方法の1つの実施形態を示す。
段階410で、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有する2倍クロックが生成される。
段階420で、反転2倍クロックを2で割ったものに対応するアライメント信号が生成される。
段階430で、アライメント信号に従って2倍クロックから第1のクロックを得る。
アライメント信号は、2倍クロックのどのエッジが第1のクロックと関連しているかを識別する。
また、アライメント信号から第2のクロックを得る。
図1と図3において、第1のクロックは、反転2倍クロックに従って第2のクロックを提供するようにラッチされる。
こうして、段階440で、第2のクロックが、第1のクロックから得られる。
第1と第2のクロックは、実質的に90°の位相差を有する。
直角位相クロックを停止(halt)させ段階的に進める機能は、図1と図3の直角位相クロックを採用する集積回路を試験するのに役立つ。
直角位相クロックを特定のレベルに停止し続いて段階的に進める機能は、別の回路を必要とする。
図5は、直角位相クロックを停止させ段階的に進める回路を含む直角位相クロック発生器の1つの実施形態を示す。
直角位相クロックをそのように制御することは、通常動作モードと対照的な試験動作モードで実現することができる。
ロック状態では、PLL510を単純にストップさせ再開させることはできない。
ロジック530、560、および550は、試験モードで直角位相クロックを特定のレベルまたは位相で停止させ段階的に進めることが必要なときに、PLL510とゲート制御クロック520の間で分周器とリカバリ回路を接続したり切り離したりする「クラッチ」機構として有効に働く。
停止制御部540は、2倍クロックの選択とPLLフィードバック経路の選択を制御するために使用される停止マルチプレクサ制御546を生成する。
マルチプレクサ530は、2倍クロック516(2×CLK)を、停止マルチプレクサ制御546に従って、PLL出力514かゲート制御クロック520として選択する。
ゲート制御クロック520は、ステップ信号522に従ってPLL出力514をゲート制御する。
マルチプレクサ530が、ゲート制御クロック520を選択して2倍クロック516を提供するとき、PLL510が、CLK1を得る2倍クロックを直接駆動しなくなる場合に、信号CLK1 580は、PLL510へのフィードバック信号として不適切である。
したがって、マルチプレクサ550と分周器560は、CLK1 580の代わりにPLL出力514の半分の周波数を有するフィードバッククロック信号をPLLに提供する。
この代替のフィードバック経路は、バイパスフィードバック経路または試験フィードバック経路と呼ばれることがある。
ゲート制御クロック520は、試験モードにおいて2倍クロックの変化がPLL出力514と同期するようにする。
停止制御546は、試験モードにおける停止状態と「自走(“free−running")」状態の間の遷移が、PLL出力状態514の遷移と同期するようにする。
したがって、図5は、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有するクロック出力を提供するクロック発生器を示す。
停止マルチプレクサ制御に従って2倍クロックとしてクロック出力とゲート制御クロック出力の一方を選択するために、マルチプレクサが結合される。
分周器回路は、2倍クロックの半分の周波数有するアライメント信号を提供するために2倍クロックを分割する。
リカバリ回路は、アライメント信号によって2倍クロックから第1のクロックと第2のクロックを回復させ、第1と第2のクロックは、実質的に90°の位相差を有する。
通常動作では、停止制御はディスエーブルされなければならない。
これは、1つの実施形態において、通常動作モードで停止マルチプレクサ制御546が必ずPLL出力514を選択するようにする論理レベルにHALT542を拘束することによって達成される。
マルチプレクサ550は、信号TEST552に従って、PLL510までの通常フィードバック経路または試験フィードバック経路のうちの選択された一方を提供する。
通常動作では、PLLのフィードバッククロック信号として、CLK1 580による通常のフィードバック経路が選択される。
しかしながら、試験しているとき、CLK1 580は、PLLによって直接駆動されておらず、適切なフィードバック信号ではない。
したがって、試験しているとき、試験フィードバック経路からのフィードバッククロック信号として、分割されたPLL出力(分周器560により)が選択される。
TEST552は、通常動作モードでマルチプレクサ550がPLL510のフィードバッククロックとしてCLK1 580を選択するようにする論理レベルに拘束される。
TEST552は、試験モードにおいてPLLへの試験フィードバック経路を提供する。
図6は、図5の停止制御540の1つの実施形態を示す。
停止制御回路は、入力ストップレベル644、1XALIGN676、停止642、およびPLL出力614から停止マルチプレクサ制御646を生成する。
1XALIGN676とSTOP LEVEL644は、排他的NORゲート692への入力として提供される。
STOP LEVEL644は、CLK1を高レベルと低レベルのどちらでストップすべきかを示す。
NANDゲート694は、停止信号642と排他的NORゲート692の出力を受け取る。
排他的NORゲート692の出力は、フリップフロップ690へのデータ入力として提供される。
1つの実施形態において、フリップフロップ690はD型フリップフロップである。
交差結合されたNANDゲート696と698は、停止マルチプレクサ制御646を提供するラッチを構成する。
HALT642を低論理レベルに拘束すると、停止マルチプレクサ制御も必ず低論理レベルになる。
図5を参照すると、停止制御回路540は、PLL出力514が2倍クロックのときの直角位相クロック発生器の通常動作中にディスエーブルされなければならない。
マルチプレクサ530は、Aが停止マルチプレクサ制御546のときにゲート制御クロック520を選択し、またはBが停止マルチプレクサ制御のときにPLL出力を選択する。
図6の停止制御回路の場合、これは、ディスエーブルされたときに停止マルチプレクサ制御が0なのでB=0とA=1であることを意味する。
HALTがイネーブルされたとき、停止マルチプレクサ制御は、1XALIGN676とSTOP LEVEL644が一致したときに2倍クロックとしてゲート制御クロックを選択する。
STOP LEVELは、ストップすべきクロックレベル(すなわち、低、高)を示す。
図6の組み合わせロジックにおいてCLK1信号ではなく1XALIGNが使用されることに注意されたい。
2×CLKの高い周波数とリカバリ回路の複数の実例までの経路の電気的長さのために、CLK1信号ではなく1XALIGNを使用しなければならない。
図7は、直角位相クロックを生成し制御する方法の1つの実施形態を示す。
段階710で、停止マルチプレクサ制御に従って、生成されたクロック(例えば、PLL出力514)とゲート制御され生成されたクロック(例えば、ゲート制御クロック520)のどちらかが、2倍クロックとして選択される。
2倍クロックは、受け取った基準クロックの2倍の周波数を有する。
段階720で、反転2倍クロックを2で割ったものに対応するアライメント信号が生成される。
段階730で、アライメント信号に従って、第1のクロックおよび関連した第2のクロックの複数の実例が、2倍クロックから得られる。
第1のクロックおよび関連した第2のクロックの各実例は、相対的に90°の位相差を有する。
段階740で、アライメント信号が所定のクロックレベルと一致するとき、停止マルチプレクサ制御は、ゲート制御生成クロック信号を選択するように制御される。
停止マルチプレクサ制御は、生成クロックと同期するために生成クロックによってクロックされる。
従って、停止マルチプレクサ制御を利用して、ユーザは、直角位相クロックのすべての実例を、生成クロックと同期させて特定のレベルでストップさせることができる。
ゲート制御生成クロックが選択された後、ユーザは、直角位相クロックの実例が互いに同期するように直角位相クロックの実例を直角位相クロックサイクルで段階的に進めることができる。
図8は、集積回路チップの全体にわたる直角位相クロックの生成と分配の1つの実施形態を示す。
クロック発生器は、集積回路チップ830の所定の領域850上に作成される。
1XALIGNと2倍クロック(2×CLK)は、複数の局部的領域840A、840B、840C,...840Dのそれぞれに分配される。
各局部的領域は、信号2×CLKおよび1XALIGNからCLK1とCLK2の局部的な実例を得るリカバリ回路を有する。
CLK1の実例は、CLK1A=CLK1B=CLK1C.. .=CLK1Dとなるように相対的に位相が合わされる。
同様に、CLK2の実例は、CLK2A=CLK2B=CLK2C...=CLK2Dとなるように相対的に位相が合わされる。
各CLK2の実例は、(CLK1の他の実例と同様に)その関連したCLK1の実例と90°の位相差を有する。
集積回路チップ830は、集積回路パッケージ820内にある。
集積回路パッケージ820の外部ピン822を介して、REFCLKがクロック発生器830に提供される。
特許請求の範囲で説明したような本発明の幅広い趣旨および範囲から逸脱することなく様々な修正および変更を行うことができる。
したがって、明細および図面は、限定の意味でなく例示の意味とみなされるべきである。
直角位相クロック発生回路の1つの実施形態を示す図である。 図1のクロック発生回路と関連した波形の1つの実施形態を示す図である。 直角位相クロックの複数の実例を提供する直角位相クロック発生回路の1つの実施形態を示す図である。 直角位相クロックを生成する方法の1つの実施形態を示す図である。 直角位相クロックを生成し制御する装置の1つの実施形態を示す図である。 直角位相クロックを制御可能に停止させ段階的に進める停止制御回路の1つの実施形態を示す図である。 直角位相クロックを生成し制御する方法の1つの実施形態を示す図である。 集積回路パッケージ内の集積回路の全体にわたる直角位相クロックの生成と分配の1つの実施形態を示す図である。
符号の説明
110・・・クロック発生器(位相同期ループ;PLL),
112・・・基準クロック,
116・・・2倍クロック,
120・・・片側−差動変換器
130・・・差動−片側変換器
140,150,160・・・リカバリ回路(フリップフロップ),
170,172・・・分周器回路(分周器),
176・・・アライメント信号,
180・・・第1のクロック,
190・・・第2のクロック,
310・・・位相同期ループ,
320・・・片側−差動変換器,
322・・・分配ブロック,
332・・・差動−片側変換器,
330・・・差動−片側変換器,
370・・・分周器,
350A,350B,360A,360B・・・フリップフロップ,
550・・・マルチプレクサ,
510・・・位相同期ループ,
520・・・ゲート制御クロック,
530・・・マルチプレクサ,
540・・・停止制御部,
690・・・フリップフロップ,

Claims (10)

  1. 受け取った基準クロック(112)の2倍の周波数を有する2倍クロック(116)を提供するクロック発生器(110)と、
    前記2倍クロックの半分の周波数を有するアライメント信号(176)を提供するように結合された分周器回路(170、172)と、
    前記アライメント信号に従って前記2倍クロックから第1のクロック(180)と、前記第1のクロックと実質的に90°の位相差を有する第2のクロック(190)とを回復させるリカバリ回路(140、150、160)と
    を有する直角位相クロック発生装置。
  2. 前記リカバリ回路は、
    前記アライメント信号を受け取る第1のフリップフロップ(150)であって、前記2倍クロックによってクロックされて前記第1のクロックを提供する第1のフリップフロップと、
    前記第1のクロックを受け取る第2のフリップフロップ(160)であって、反転2倍クロックによってクロックされて前記第2のクロックを提供する第2のフリップフロップと
    を含む
    請求項1に記載の装置。
  3. 前記第1のフリップフロップおよび第2のフリップフロップは、それぞれD型フリップフロップである
    請求項2に記載の装置。
  4. 前記クロック発生器は、
    位相同期ループ回路である請求項1に記載の装置。
  5. 前記分周器回路は、
    反転2倍クロックを提供するように結合された反転器(172)と、
    前記反転2倍クロックを分割して前記アライメント信号を提供するように結合された分周器(170)と
    をさらに有する
    請求項1に記載の装置。
  6. 前記クロック発生器、分周器およびリカバリ回路は、同じ集積回路チップ(196)上にある
    請求項1に記載の装置。
  7. 前記クロック発生器、分周器およびリカバリ回路は、金属酸化物半導体電界効果トランジスタ(MOSFET)集積回路として形成される
    請求項6に記載の装置。
  8. 受け取った基準クロック(312)の2倍の周波数を有する2倍クロックを提供するクロック発生器(310)と、
    前記2倍クロックの半分の周波数を有するアライメント信号を提供するように結合された分周器回路(370、380)と、
    前記アライメント信号に従って前記2倍クロックから、関連した第1のクロック(380A)と、関連した第2のクロック(390A)とをそれぞれ回復させる複数のリカバリ回路(398A)と
    を有し、
    各リカバリ回路と関連した前記第1のクロックと第2のクロックとは、実質的に90°の位相差を有する
    直角位相クロック発生装置。
  9. 任意のリカバリ回路と関連した前記第1のクロックは、任意の他のリカバリ回路と関連付けられた前記第1のクロックと実質的に同期される
    請求項8に記載の装置。
  10. 各リカバリ回路は、
    前記アライメント信号を受け取る第1のフリップフロップ(350A)であって、前記2倍クロックによってクロックされて前記第1のクロックを提供する第1のフリップフロップと、
    前記第1のクロックを受け取る第2のフリップフロップ(360A)であって、反転2倍クロックによってクロックされて前記第2のクロックを提供する第2のフリップフロップと
    を含む
    請求項8に記載の装置。
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