JP2005164338A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2005164338A5
JP2005164338A5 JP2003402159A JP2003402159A JP2005164338A5 JP 2005164338 A5 JP2005164338 A5 JP 2005164338A5 JP 2003402159 A JP2003402159 A JP 2003402159A JP 2003402159 A JP2003402159 A JP 2003402159A JP 2005164338 A5 JP2005164338 A5 JP 2005164338A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern signal
control device
inspection
creating
project
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003402159A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2005164338A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2003402159A priority Critical patent/JP2005164338A/ja
Priority claimed from JP2003402159A external-priority patent/JP2005164338A/ja
Priority to PCT/JP2004/017970 priority patent/WO2005054883A1/ja
Priority to US10/596,118 priority patent/US20080281549A1/en
Publication of JP2005164338A publication Critical patent/JP2005164338A/ja
Publication of JP2005164338A5 publication Critical patent/JP2005164338A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

JP2003402159A 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置 Pending JP2005164338A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003402159A JP2005164338A (ja) 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置
PCT/JP2004/017970 WO2005054883A1 (ja) 2003-12-01 2004-11-26 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置
US10/596,118 US20080281549A1 (en) 2003-12-01 2004-11-26 Test Apparatus for Control Unit, Pattern Signal Creating Apparatus, and Test Program Generating Apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003402159A JP2005164338A (ja) 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005164338A JP2005164338A (ja) 2005-06-23
JP2005164338A5 true JP2005164338A5 (https=) 2007-01-25

Family

ID=34650002

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003402159A Pending JP2005164338A (ja) 2003-12-01 2003-12-01 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20080281549A1 (https=)
JP (1) JP2005164338A (https=)
WO (1) WO2005054883A1 (https=)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4619941B2 (ja) * 2005-12-26 2011-01-26 富士通テン株式会社 信号パターン作成装置
JP5052519B2 (ja) * 2006-09-29 2012-10-17 富士通テン株式会社 シミュレーション装置、シミュレーションシステム及びシミュレーション方法
US20120192013A1 (en) * 2010-11-22 2012-07-26 Certon Software Inc. Verification of Signal Processing Using Intelligent Points
JP6263163B2 (ja) * 2015-12-21 2018-01-17 アンリツ株式会社 シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法
JP6765554B2 (ja) * 2018-12-12 2020-10-07 三菱電機株式会社 ソフトウェア試験装置、ソフトウェア試験方法、および、ソフトウェア試験プログラム
CN112131063B (zh) * 2020-09-29 2023-10-24 中国银行股份有限公司 重试方法及装置、计算机设备及计算机可读存储介质

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4954948A (en) * 1986-12-29 1990-09-04 Motorola, Inc. Microprocessor operating system for sequentially executing subtasks
JPH0224584A (ja) * 1988-07-13 1990-01-26 Nec Corp テストパターン作成方法
US5307290A (en) * 1988-10-18 1994-04-26 Fiat Auto S.P.A. System for the automatic testing, preferably on a bench, of electronic control systems which are intended to be fitted in vehicles
JPH0416782A (ja) * 1990-05-11 1992-01-21 Fujitsu Ltd Ｌｓｉ試験方法とその試験装置
JPH0432784A (ja) * 1990-05-29 1992-02-04 Mitsubishi Electric Corp テストプログラムジエネレータ
DE4121637C2 (de) * 1991-06-29 1997-04-24 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Prüfung von Steuergeräten und Prüfeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens
JPH07129645A (ja) * 1993-10-29 1995-05-19 Nec Corp タイムチャートの波形表示方法
US5438513A (en) * 1993-11-19 1995-08-01 Chrysler Corporation Automotive electronics test system
US5442738A (en) * 1993-12-03 1995-08-15 Motorola, Inc. Computer display representing structure
JP4439046B2 (ja) * 1999-10-22 2010-03-24 クラリオン株式会社 オーディオ機器自動測定装置、ネットワークシステム、オーディオ機器自動測定用データ処理・制御装置、自動測定処理・制御用プログラムの記録媒体
JP2003114254A (ja) * 2001-10-04 2003-04-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 検査方法および検査装置
JP2003270300A (ja) * 2002-03-14 2003-09-25 Ricoh Co Ltd 検査装置および方法
JP4247517B2 (ja) * 2002-11-15 2009-04-02 富士通テン株式会社 波形編集用プログラム、波形編集装置、及び波形編集方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5469433B2 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法
CN103597346A (zh) 使用合成信号的真实条件下无损检测操作的模拟方法
JP2002063050A (ja) 制御プログラム開発支援装置
JP2006244073A (ja) 半導体設計装置
CN114281624B (zh) 一种i2c信号完整性的测试方法、系统、装置及设备
US7031899B2 (en) System for characterizing simulated circuit logic and behavior
KR20100108582A (ko) 프로그램 테스트 장치 및 프로그램
JP2005164338A5 (https=)
CN114675614B (zh) 汽车的仿真测试系统及方法
JP2012248055A (ja) シミュレーション装置及びシミュレーション方法
JP2003044114A (ja) 検査システム
JP3873137B2 (ja) 被検査デバイスの入出力信号波形の再表示方法およびシステム
JP2004145685A (ja) シミュレ−ション装置、及び操作情報記憶方法
JP2005164338A (ja) 制御装置の検査装置、パターン信号作成装置及び検査プログラム生成装置
JPWO2024166239A5 (https=)
JP2008065555A (ja) 画像処理装置の機能診断方法及び機能診断システム
US7027070B2 (en) Systems and methods for manipulating a graphical display of a printed circuit board model for an automated x-ray inspection system
JP2014059805A (ja) モデルベースの制御装置用のテストケース生成装置およびテストケース生成方法
JP2001350646A (ja) 半導体試験システム
JP2000276224A (ja) 制御プログラムの検査方法および装置ならびにその検査プログラムの自動生成方法および装置
JP7781871B2 (ja) 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
JP2021124968A (ja) 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
JP7531746B1 (ja) 表示制御装置、画面表示方法及びプログラム
US20250260405A1 (en) Programmable gate array and method of generating configuration data for programming a gate array
JP2001255357A (ja) テストパターン妥当性検証方法及びその装置