JP2005138143A - レーザ光線を利用する加工装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】2個の集光点の一方の変質が他方におけるパルスレーザ光線の照射を阻害することを回避して、被加工物の厚さ方向に変位せしめられている少なくとも2個の集光点において夫々所要とおりの変質を生成せしめ、被加工物に所要厚さの変質領域を高能率で生成することが可能である、レーザ加工装置を提供する。
【解決手段】パルスレーザ光線14の光軸方向、すなわち被加工物2の厚さ方向に変位せしめられた少なくとも2個の集光点34a、34bに若干の時間差(dt、dt1、dt2)を与えてパルスレーザ光線を集光せしめることによって、一方の集光点における変質が他方の集光点におけるパルスレーザ光線の照射を阻害するのを回避する。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ光線を利用する加工装置、更に詳しくは被加工物を保持するための保持手段とこの保持手段に保持された被加工物にこれを透過し得るパルスレーザ光線を照射して被加工物を変質せしめるためのレーザ光線照射手段とを具備する加工装置に関する。
例えば半導体デバイスの製造においては、周知の如くシリコン基板、サファイア基板、炭化珪素基板、リチウムタンタレート基板、ガラス基板或いは石英基板の如き適宜の基板を含むウエーハの表面上に多数の半導体回路を形成し、しかる後にウエーハを分割して個々の半導体回路即ち半導体デバイスにせしめている。そして、ウエーハを分割するための方法としては、レーザ光線を利用する種々の様式が提案されている。
下記特許文献1及び2には、ウエーハの厚さ方向中間部にパルスレーザ光線を集光させてパルスレーザ光線とウエーハとを分割ラインに沿って相対的に移動せしめ、これによって分割ラインに沿ってウエーハの厚さ方向中間部に変質領域を生成し、しかる後にウエーハに外力を加えてウエーハを変質領域に沿って破断せしめる、ウエーハ分割方法が開示されている。
米国特許第6,211,488号明細書 特開2001−277163号公報
而して、ウエーハの厚さ方向中間部に変質領域を生成することのみならず、ウエーハの厚さ方向中間部に代えて或いはこれに加えて裏面から所定深さまでの部分或いは表面から所定深さの部分に分割ラインに沿って変質領域を成形することも意図され得るが、いずれの場合においても、ウエーハに外力を加えて分割ラインに沿って充分精密に破断せしめるためには、変質領域の厚さ、即ちウエーハの厚さ方向における変質領域の寸法、を比較的大きくすることが必要である。そして、変質領域の厚さを増大せしめるためには、変質領域はパルスレーザ光線の集光点近傍において生成される故に、パルスレーザ光線の集光点の位置をウエーハの厚さ方向に変位せしめて、パルスレーザ光線とウエーハとを分割ラインに沿って繰り返し相対的に移動せしめることが必要である。従って、特にウエーハの厚さが比較的厚い場合、ウエーハを充分精密に破断するのに必要な厚さの変質領域の生成に比較的長時間を要する。
上述したとおりの問題を解決せんとして、本出願人の出願にかかる特願2003−273341の明細書及び図面には、パルスレーザ光線を光軸方向に変位せしめられた少なくとも2個の集光点に集光せしめるように構成した加工装置が開示されている。かような加工装置によれば、被加工物即ちウエーハの厚さ方向に変位せしめられている少なくとも2個の部位にて変質領域を同時に生成することができる。しかしながら、かかる加工装置も未だ充分に満足することができるものではなく、次のとおりの解決すべき問題が存在する。即ち、2個の集光点の一方、更に詳しくはパルスレーザ光線発振手段からの距離が短い方、における変質が集光点の他方、更に詳しくはパルスレーザ光線発振手段からの距離が長い方、における集光点におけるパルスレーザ光線の照射を阻害し、所望とおりの変質の生成を阻害する。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術的課題は、2個の集光点の一方の変質が他方におけるパルスレーザ光線の照射を阻害することを巧みに回避して、被加工物の厚さ方向に変位せしめられている少なくとも2個の集光点において夫々所要とおりの変質を生成せしめ、かくして被加工物に所要厚さの変質領域を高能率で生成することが可能である、新規且つ改良されたレーザ光線を利用する加工装置を提供することである。
本発明者等は、鋭意検討及び実験の結果、パルスレーザ光線の光軸方向に変位、従って被加工物の厚さ方向に変位、せしめられた少なくとも2個の集光点に若干の時間差を生成せしめてパルスレーザ光線を集光せしめることによって、一方の集光点における変質が他方の集光点におけるパルスレーザ光線の照射を阻害するのを回避することができ、従って上記主たる技術的課題を達成することができることを見出した。
即ち、本発明によれば、上記主たる技術的課題を達成するレーザ光線を利用した加工装置として、被加工物を保持するための保持手段と、該保持手段に保持された被加工物に該被加工物を透過し得るパルスレーザ光線を照射して被加工物を変質せしめるためのレーザ光線照射手段とを具備し、該レーザ光線照射手段はパルスレーザ光線発振手段と該パルスレーザ光線発振手段が発振するパルスレーザ光線を伝送し集光せしめる伝送・集光手段とを含んでいる、レーザ光線を利用する加工装置において、
該伝送・集光手段は、パルスレーザ光線を光軸方向に変位せしめられた少なくとも2個の集光点に、時間差を生成せしめて集光せしめる、ことを特徴とするレーザ光線を利用する加工装置が提供される。
好ましくは、該伝送・集光手段は該パスルレーザ光線発振手段からの距離が近い集光点よりも該パスルレーザ光線発振手段からの距離が遠い集光点に先にレーザ光線を集光せしめる。光軸方向に隣接する集光点での集光時間差はパルスレーザ光線の1パルス持続時間以上であり、引き続くパルスレーザ光線の間隔時間以下であるのが好ましい。好適実施形態においては、該伝送・集光手段は、該パルスレーザ光線発振手段からのパルスレーザ光線を第一のパルスレーザ光線と第二のパルスレーザ光線とに分割するスプリッタと、該第二のパルスレーザ光線の光軸を該第一のパルスレーザ光線の光軸と合致せしめるための複数個のミラーと、該第一のパルスレーザ光線と該第二のパルスレーザ光線との一方の径を変更せしめる径変更手段と、共通集光レンズとを含んでいる。好適には、該伝送・集光手段は、該第一のパルスレーザ光線と該第二のパルスレーザ光線との一方の光路長を増大せしめる光路長増大手段を含む。該光路長増大手段は光ファイバ或いは複数個のミラーを含んでいるのが好適である。
本発明のレーザ光線を利用する加工装置においては、少なくとも2個の集光点の夫々におけるパルスレーザ光線の集光に時間差が存在せしめられ、それ故に一方の集光点に生成された変質が他方の集光点におけるパルスレーザ光線の照射を阻害することが回避され、少なくとも2個の集光点において所要とおりの変質を生成せしめることができる。
以下、添付図面を参照して、本発明に従って構成されたレーザ光線を利用する加工装置の好適実施形態について、更に詳細に説明する。
図1は本発明に従って構成された加工装置の好適実施形態を簡略に図示している。図示の加工装置は、被加工物2を保持するための保持手段4と全体を番号6で示すレーザ光線照射手段とを具備している。
保持手段4は、例えば多孔質部材から形成され或いは複数個の吸引孔又は溝が形成された保持部材8とかかる保持部材8に付設された吸引手段(図示していない)から構成され、例えばウエーハである被加工物2を保持部材8の表面に吸着する形態のものでよい。
レーザ光線照射手段6は、パルスレーザ光線発振手段10とこのパルスレーザ光線発振手段10が発振するパルスレーザを伝送し集光せしめる伝送・集光手段12とを含んでいる。パルスレーザ光線発振手段10は、被加工物2を透過し得るパルスレーザ光線14を発振するものであることが重要であり、被加工物2がシリコン基板、サファイア基板、炭化珪素基板、リチウムタンタレート基板、ガラス基板或いは石英基板を含むウエーハである場合、例えば波長が1064nmであるパルスレーザ光線14を発振するYVO4パルスレーザ発振器或いはYAGパルスレーザ発振器から好都合に形成することができる。
図1を参照して説明を続けると、レーザ光線照射手段6における伝送・集光手段12は、パルスレーザ光線発振手段10と保持手段4上に保持された被加工物2との間に介在せしめられている。図示の実施形態における伝送・集光手段12は、スプリッタとして機能するハーフミラー16、ミラー18、ミラー20、ハーフミラー22、ハーフミラー16とハーフミラー22との間に配設された径変更手段24、及びミラー18とミラー20との間に配設された光路長増大手段26を含んでいる。径変更手段24は2個の凸レンズ28及び30を有するエキスパンダから構成されている。ミラー18とミラー20との間の光路を例えば数メートル増大せしめるための光路長増大手段26は、例えば数メートルに渡って延在する光ファイバから構成することができる。或いは、これに代えて又はこれに加えて複数個のミラーから構成することができる。伝送・集光手段12は、更に、パルスレーザ光線14を集光せしめるための集光レンズ32を含んでいる。
上述したとおりの加工装置においては、パルスレーザ光線発振手段10から発振されるパルスレーザ光線14は、ハーフミラー16によって2本のパルスレーザ光線14a及び14bに、即ちハーフミラー16を透過して直進する第一のパルスレーザ光線14aとハーフミラー16によって反射されて実質上直角に方向変換される第二のパルスレーザ光線14bとに分離される。第一のパルスレーザ光線14aは径変更手段24を通過することによってその径が変更、更に詳しくは径変更手段24から遠ざかるに従って径が漸次増大する形態にせしめられ、しかる後にハーフミラー22を透過し、そして集光レンズ32によって被加工物2中の集光点34aに集光せしめられる。一方、第二のパルスレーザ光線14bは、ミラー18、ミラー20及びハーフミラー22に反射されて夫々実質上直角に方向変換されて、その光軸が第一のパルスレーザ光線14aの光軸に合致する状態にせしめられる。そして、集光レンズ32によって被加工物2中の集光点34bに集光せしめられる。図1に明確に図示する如く、集光点34aと集光点34bとは第一及び第二のパルスレーザ光線14a及び14bの光軸方向に変位せしめられており、集光点34aは集光点34bよりもパルスレーザ光線発振手段6からより離れて位置せしめられている。集光点34aの位置は、径変更手段24を構成するエキスパンダを光軸方向に移動せしめることによって或いはエキスパンダの凸レンズ28又は30を光軸方向に移動せしめることによって適宜に調整することができる。
図示の実施形態においては、第二のパルスレーザ光線14bの光路はハーフミラー16からミラー18、光路長増大手段26及びミラー20を介してハーフミラー22に至ることに起因して、第二のパルスレーザ光線14bの光路長は第二のパルスレーザ光線14aの光路長よりも例えば数メートル増大せしめられる。従って、第一のパルスレーザ光線14aが集光点34aに到達した時点から、増大された光路長を通過するのに要する時間だけ遅れて、第二のパルスレーザ光線14bが集光点34bに到達する。図2に図示する如く、第一のパルスレーザ光線14aが集光点34aに到達した時点と第二のパルスレーザ光線14bが集光点14bに到達する時点との時間差dtは、パルスレーザ光線14a(或いは14b)の1パルス持続時間(パルス幅)Δt以上であり、そして引き続くパルスレーザ光線14a(或いは14b)間の間隔時間gt以下であり、第一のパルスレーザ光線14aの各パルス間に第二のパルスレーザ光線14bの各パルスが位置するのが好適である。例えば、パルスレーザ光線14a及び14bの各パルス持続時間がΔt(秒)であり、パルスレーザ光線14a及び14bの繰り返し周波数がW(Hz)であり、第一のパルスレーザ光線14aの光路長(L1)と第二のパルスレーザ光線14bの光路長(L2)との差をDLとすると、光の速さはc(=3×10m/秒)であるので、上記時間差dtは(L2−L1)÷cとなり、従ってΔt×c≦(L2−L1)≦(1/W−Δt)×cを満足するように第二の光路長L2を増大せしめればよい。例えば、パルス持続時間Δtが10nsでパルス繰り返し周波数Wが100k(Hz)である場合、第一のパルスレーザ光線14aの光路長L1よりも第二のパスルレーザ光線14bの光路長L2を3m程度増大せしめればよい。
第一のパルスレーザ光線14aが集光点34aに集光せしめられると、これに起因して集光点34a近傍、通常は集光点34aから上方に向かって幾分かの幅W1を有する領域、で被加工物2に変質が生成される。そしてまた、第二のパルスレーザ光線14bが集光点34bに集光せしめられると、集光点34b近傍、通常は集光点34bから上方に向かって幾分かの幅W2を有する領域、で被加工物に変質が生成される。第一のパルスレーザ光線14aが集光点34aに到達するのと第二のパルスレーザ光線14bが集光点34bに到達するのが実質上同時である場合には、集光点34bに生成された変質によって集光点34aに集光される第一のパルスレーザ光線14aが悪影響を受けて、集光点34a近傍における所望とおりの変質の生成が阻害される傾向がある。これに対して、第一のパルスレーザ光線14aが集光点34aに集光されて集光点34a近傍において変質の生成が開始され、しかる後に時間差をおいて第二のパルスレーザ光線14bが集光点34bに集光されて集光点34b近傍で変質の生成が開始される場合には、集光点34a近傍における変質の生成によって第一のパスルレーザ光線14aが集光点34aにおける第一のパルスレーザ光線14aの集光が阻害されてしまうことが充分に回避され、集光点34a近傍と集光点34b近傍との双方において所望とおりの変質を生成せしめることができる。被加工物2における上述した変質は被加工物2の材質或いは集光せしめられるパルスレーザ光線14a及び14bの強度にも依存するが、通常は溶融再固化(即ちレーザ光線14a及び14bが集光されている時に溶融されパルスレーザ光線14a及び14bの集光が終了した後に固化される)、ボイド或いはクラックである。レーザ光線照射手段6と保持手段4とを、例えば図1において左右方向に延びる分割ラインに沿って相対的に移動せしめると、被加工物2には、幅W1及び幅W2で分割ラインに沿って連続的に延びる(相対的移動方向に隣接する、レーザ光線14a及び14bの集光点34a及び34bにおけるスポットが部分的に重なる場合)2個の変質部、或いは幅W1及び幅W2で分割ラインに沿って間隔をおいて位置する(相対的移動方向に隣接する、レーザ光線14a及び14bの集光点34a及び34bにおけるスポットが間隔をおいて位置する場合)多数の変質部が形成される。かくして、本発明に従って構成された加工装置の第一の実施形態によれば、単一のレーザ光線発生手段6によって、被加工物2にその厚さ方向に変位せしめられた2個の領域に幅W1と幅W2との変質部を同時に所要とおりに生成することができる。
幅W1及び幅W2の変質部では分割ラインに沿って被加工物2を充分精密に分割するには不充分である場合には、レーザ光線照射手段6と保持手段4とを光軸方向、即ち図1において上下方向に相対的に所定距離移動せしめ、これによって集光点14a及び14bを光軸方向、従って被加工物2の厚さ方向に変位せしめ、更にレーザ光線照射手段6と保持手段4とを分割ラインに沿って相対的に移動せしめ、かくして先の変質部の形成に加えて、被加工物2の厚さ方向に変位した部位にて幅W1及び幅W2で分割ラインに沿って連続的に延びる2個の変質部、或いは幅W1及び幅W2で分割ラインに沿って間隔をおいて位置する多数の変質部を形成すればよい。
図3は本発明に従って構成された加工装置の他の実施形態を図示している。図3に図示する加工装置は、被加工物102を保持するための保持手段104、レーザ光線照射手段106を具備している。保持手段104は図1に図示する実施形態における保持手段4と同一の形態でよい。
図3に図示する実施形態におけるレーザ光線照射手段106はパルスレーザ光線発振手段110とこのパルスレーザ光線発振手段110が発振するパルスレーザ光線114を伝送し集光せしめる伝送・集光手段112を含んでいる。パルスレーザ光線発振手段110は図1に図示するパルスレーザ光線発振手段10と実質上同一でよい。図3に図示する実施形態における伝送・集光手段112は、第一のスプリッタとして機能するハーフミラー116、第二のスピリッタとして機能するハーフミラー117、ミラー118、ミラー119、ミラー120、ミラー121、ハーフミラー122、ハーフミラー123、第一の径変更手段124、第二の径変更手段125、第一の光路長増大手段126、第二の光路長増大手段127及び共通集光レンズ132から構成されている。第一の径変更手段124及び第二の径変更手段125の各々は図1に図示する径変更手段24と実質上同一でよく、第一の光路長増大手段126及び第二の光路長増大手段127の各々は図1に図示する光路長増大手段26と実質上同一の構成でよい(但し、後に更に言及する如く、第一の光路長増大手段126による光路長増大長さと第二の光路長増大手段127により光路長増大長さは所要長さだけ異なっていることが必要である)。
図3に図示する実施形態においては、パルスレーザ光線発振手段110からのパルスレーザ光線114は、ハーフミラー116を透過して直行する第一のパルスレーザ光線114aとハーフミラー116によって反射されて実質上直角に方向変換される第二のパルスレーザ光線114bとに分離される。第一のパルスレーザ光線114aはハーフミラー117を通過して進行せしめられるが、この際にハーフミラー117によって実質上直角に反射される第三のパルスレーザ光線114cが第一のレーザ光線114aから分離される。第一のパルスレーザ光線114aは径変更手段124を通過することによってその径が変更、更に詳しくは径変更手段124から遠ざかるに従って径が漸次増大する形態にせしめられ、しかる後にハーフミラー122及び123を透過し、そして集光レンズ132によって被加工物102中の集光点134aに集光せしめられる。第二のパルスレーザ光線114bは、ミラー118及びミラー119によって反射されて夫々実質上直角に方向変換され、次いで径増大手段125を通過することによって径が変更、更に詳しくは径増大手段125から遠ざかるに従って径が漸次増大する形態にせしめられ、しかる後にハーフミラー123によって反射されて実質上直角に方向変更され、その光軸が第一のパルスレーザ光線114aの光軸に合致する状態にせしめられる。そして集光レンズ132によって被加工物102中の集光点134bに集光せしめられる。第三のパルスレーザ光線114cは、ミラー120、ミラー121及びハーフミラー122によって反射されて夫々実質上直角に方向変換されて、その光軸が第一のレーザ光線114aの光軸に合致する状態にせしめられ、ハーフミラー123を通過し、そして集光レンズ132によって被加工物102中の集光点134cに集光せしめられる。集光点134a、集光点134b及び134cは第一のパルスレーザ光線114a、第二のパルスレーザ光線114b及び第三のパルスレーザ光線114cの光軸方向に変位せしめられている。加えて、第二のパルスレーザ光線114bは、第一の光路長増大手段126を通ることによって第一のパルスレーザ光線114aが集光点134aに集光せしめられるのに対して所要時間差dt1だけ遅れて集光点134bに集光せしめられ、第三のパルスレーザ光線114cは、第二の光路長増大手段127を通ることによって第一のパルスレーザ光線114aが集光点134aに集光せしめられるのに対して所要時間差dt2だけ遅れて集光点134cに集光せしめられる。上記時間差dt1及びdt2は、図4に図示する如く、集光点134aに集光せしめられる第一のパルスレーザ光線114a、第二の集光点134bに集光せしめられる第二のパルスレーザ光線114b及び第三の集光点134cに集光せしめられる第三のパルスレーザ光線114cが時間的に相互に重なり合うことなく順次に集光せしめられるようになすものであるのが好適である。
図3に図示する加工装置においては、集光点134a、134b及び134cの近傍、通常は集光点134a、134b及び134cの各々から上方に向かって幾分かの幅W1、幅W2及び幅W3を有する領域において、被加工物102に変質部が所要とおりに生成される。第一のパルスレーザ光線114aが集光点134aに集光せしめられた後に第二のパルスレーザ光線114bが集光点134bに集光せしめられる故に幅W2を有する領域における変質が第一のパルスレーザ光線114aの集光を阻害することがなく、そしてまた第ニのパルスレーザ光線114bが集光点134bに集光せしめられた後に第三のパルスレーザ光線114cが集光点134cに集光せしめられる故に幅W3を有する領域における変質が第二のパルスレーザ光線114bの集光を阻害することがなく、幅W1、W2及びW3を有する各領域において所要とおりの変質を生成することができる。レーザ光線照射手段106と保持手段104とを、例えば図3において左右方向に延びる分割ラインに沿って相対的に移動せしめると、被加工物102には、幅W1、幅W2及び幅W3で分割ラインに沿って連続的に延びる3個の変質部、或いは幅W1、幅W2及び幅W3で分割ラインに沿って間隔をおいて位置する多数の変質部が形成される。幅W1、幅W2及びW3の変質部では分割ラインに沿って被加工物202を充分精密に分割するには不充分である場合には、レーザ光線照射手段106と保持手段104とを光軸方向、即ち図3において上下方向に相対的に所定距離移動せしめ、これによって集光点134a、134b及び134cを光軸方向、従って被加工物102の厚さ方向に変位せしめ、更にレーザ光線照射手段106と保持手段104とを分割ラインに沿って相対的に移動せしめ、かくして先の変質部の形成に加えて、被加工物102の厚さ方向に変位した部位にて幅W1、幅W2及び幅W3で分割ラインに沿って連続的に延びる2個の変質部、或いは幅W1、幅W2及び幅W3で分割ラインに沿って間隔をおいて位置する多数の変質部を形成すればよい。
本発明に従って構成された加工装置の好適実施形態を示す簡略図。 図1の加工装置における第一のパルスレーザ光線及び第二のパルスレーザ光線の集光時間差を示す線図。 本発明に従って構成された加工装置の他の実施形態を示す簡略図。 図3の加工装置における第一のパルスレーザ光線、第二のパルスレーザ光線及び第三のパルスレーザ光線の集光時間差を示す線図。
符号の説明
2、102:被加工物
4、104:保持手段
6、106:レーザ照射手段
10、110:パルスレーザ光線発振手段
12,112:伝送・集光手段
14、14a、14b、14c:パルスレーザ光線
16、106、107:ハーフミラー(スプリター)
18、20、118、119、120、121:ミラー
22、122、123:ハーフミラー
24、124、125:径変更手段
26、126、127:光路長増大手段
32、132:集光レンズ
34a、34b、134a、134b、134c:集光点

Claims (7)

  1. 被加工物を保持するための保持手段と、該保持手段に保持された被加工物に該被加工物を透過し得るパルスレーザ光線を照射して被加工物を変質せしめるためのレーザ光線照射手段とを具備し、該レーザ光線照射手段はパルスレーザ光線発振手段と該パルスレーザ光線発振手段が発振するパルスレーザ光線を伝送し集光せしめる伝送・集光手段とを含んでいる、レーザ光線を利用する加工装置において、
    該伝送・集光手段は、パルスレーザ光線を光軸方向に変位せしめられた少なくとも2個の集光点に、時間差を生成せしめて集光せしめる、ことを特徴とするレーザ光線を利用する加工装置。
  2. 該伝送・集光手段は該パスルレーザ光線発振手段からの距離が近い集光点よりも該パスルレーザ光線発振手段からの距離が遠い集光点に先にレーザ光線を集光せしめる、請求項1記載のレーザ光線を利用する加工装置。
  3. 光軸方向に隣接する集光点での集光時間差はパルスレーザ光線の1パルス持続時間以上であり、引き続くパルスレーザ光線の間隔時間以下である、請求項2記載のレーザ光線を利用する加工装置。
  4. 該伝送・集光手段は、該パルスレーザ光線発振手段からのパルスレーザ光線を第一のパルスレーザ光線と第二のパルスレーザ光線とに分割するスプリッタと、該第二のパルスレーザ光線の光軸を該第一のパルスレーザ光線の光軸と合致せしめるための複数個のミラーと、該第一のパルスレーザ光線と該第二のパルスレーザ光線との一方の径を変更せしめる径変更手段と、共通集光レンズとを含んでいる、請求項1から3までのいずれかに記載のレーザ光線を利用する加工装置。
  5. 該伝送・集光手段は、該第一のパルスレーザ光線と該第二のパルスレーザ光線との一方の光路長を増大せしめる光路長増大手段を含む、請求項4記載のレーザ光線を利用する加工装置。
  6. 該光路長増大手段は光ファイバを含む、請求項5記載のレーザ光線を利用する加工装置。
  7. 該光路長増大手段は複数個のミラーを含んでいる、請求項5記載のレーザ構成を利用する加工装置。
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