JP2005120343A - 液晶表示素子用の配向膜を形成するためのポリイミド系ワニス、配向膜および該配向膜を有する液晶表示素子 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 液晶表示素子用の配向膜を形成するためのポリイミド系ワニスであって、次式(1)で表される液晶処理後の配向指数Δが1.3以上の配向膜を形成することができるポリイミド系ワニス。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度である。dは配向膜の膜厚(単位はnm)である。
Description
(1)ラビング処理により発生するマイクログループに起因する表面形状効果
(2)ラビング処理により一軸配向した配向膜と液晶との分子間相互作用
近年では(1)の表面形状効果の寄与は比較的小さく、(2)の分子間相互作用の寄与が支配的であることが確認されている。したがって、配向膜の一軸配向性を制御することにより、配向膜に接している液晶の配向状態、さらには液晶表示素子としての性能についても改善することが期待できる。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度である。dは配向膜の膜厚(単位はnm)である。
[1]液晶表示素子用の配向膜を形成するためのポリイミド系ワニスであって、次式(1)で表される液晶処理後の配向指数Δが1.3以上の配向膜を形成することができるポリイミド系ワニス。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度である。dは配向膜の膜厚(単位はnm)である。
[3]請求項1に記載の式(1)で表される液晶処理後の配向指数Δが、1.5〜10.0である前記[1]項または[2]項記載のポリイミド系ワニス。
[7]ジアミンが、式2−12、式2−13、式2−14、式2−15、式2−16、式2−17、式2−18、式2−19、式2−20、および式2−39のそれぞれで表されるジアミンから選択される少なくとも1種である前記[4]項記載のポリイミド系ワニス。ここに、これらの式中のnは2〜10の整数であり、ベンゼン環の任意の水素は、ハロゲンまたは炭素数1〜5のアルキルで置き換えられてもよい。
[9]配向膜の配向処理条件が毛足押し込み量0.2〜0.8mm、ステージ移動速度5〜250mm/sec、ローラー回転速度500〜2,000rpmでラビング処理することである前記[8]項に記載の配向膜。
[11]前記[8]項または[9]項記載の配向膜を有する横電界方式の液晶表示素子。
式中、A‖は配向処理方向に平行な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度であり、A⊥は配向処理方向に垂直な偏光成分を有する赤外光を配向膜に入射させたときのイミド環のC−N伸縮振動による吸光度である。dは配向膜の膜厚(単位はnm)である。
本来、液晶表示素子は配向膜と液晶が接触した状態で駆動するのであるが、配向膜と液晶が接触することにより配向膜の一軸配向性が変化することがあるため、液晶と接触した後の配向指数Δにより配向膜の一軸配向性を評価する必要がある。
本発明の液晶処理において用いる液晶は、特に制限は無いが本発明に係わる液晶表示素子において用いられるものを特に好ましく用いることができる。
式中、R2およびR3は独立して炭素数1〜3のアルキルまたはフェニルであり、R4はメチレン、フェニレンまたはアルキル置換されたフェニレンである。xは1〜6の整数であり、yは1〜10の整数である。
さらに、本発明に係るIPS型液晶表示素子は、薄膜トランジスタが形成された第1の透明基板、対向する第2の透明基板およびそれらの基板間に狭持される液晶からなる。第1の透明基板は、交互に櫛歯が延びるように形成された画素電極および共通電極を有する。従来の液晶表示素子と同様に第2の透明基板は、画素領域以外の光を遮断するブラックマトリクス、カラーフィルター、平坦化膜などを有する。櫛歯状の電極は、ガラスなどの透明基板上にCrなどの金属をスパッタリング法などを用いて堆積した後、所定の形状のレジストパターンをマスクとしてエッチングを行って形成される。
特に本発明のIPS型液晶表示素子において好適なプレチルト角は0.1〜5.0度であり、より好ましくは0.2〜3.0度である。IPS型液晶表示素子においては、駆動原理上あまり大きな液晶のプレチルト角は必要としない。プレチルト角が0.1〜5.0度の範囲であれば得られるIPS型液晶表示素子の視野角特性は良好である。
ピロメリット酸二無水物 :PMDA
1,2,3,4−シクロブタンテトラカルボン酸二無水物 :CBDA
1,3,3a,4,5,9b−ヘキサヒドロー5−(テトラヒドロ−2,5−ジオキソ−3−フラニル)−ナフト[1,2−c]フラン−1,3−ジオン:TDA
●ジアミン
1,3−ビス(4−(4−アミノベンジル)フェニル)プロパン:BZ3
4,4’−ジアミノジフェニルエタン :DDE
●溶剤成分
N−メチル−2−ピロリドン :NMP
γ―ブチロラクトン :GBL
ブチルセロソルブ :BC
1)ポリイミド系ワニスA1の調製
温度計、攪拌機、原料投入仕込み口および窒素ガス導入口を備えた200mlの四つ口フラスコにBZ3を2.7760g、DDEを0.3624g、脱水NMPを30.00g入れ、乾燥窒素気流下攪拌溶解した。反応系の温度を5℃に保ちながらPMDAを1.8616g添加し、30時間反応させた後、BCを35.00g、GBLを30.00g加えて高分子成分の濃度が5重量%のポリアミック酸のワニスを調製した。原料の反応中に反応温度により温度が上昇するときは、反応温度を約70℃以下に抑えて反応させた。なお、本発明の実施例では、反応中の粘度をチェックしながら反応を行い、BCを添加後のワニスの粘度が30〜35mPa・s(E型粘度計を使用。25℃)になった時点で反応を終了とし、低温にて保存した。得られたポリアミック酸の重量平均分子量は70,000であった。なお、重量平均分子量は、島津製作所製GPC測定装置(クロマトパックC−R7A)を用いてカラム温度50℃にて測定した。
前記のようにして得られたワニスA1をNMPとBCの1対1の混合溶剤で希釈して全高分子成分の濃度が3重量%となるように調整し塗布用ワニスとした。
得られた塗布用ワニスをシリコン基板上にスピンナーにて塗布した。塗布条件は2300rpm、15秒であった。塗膜後、80℃にて約5分間乾燥した後、210℃にて30分間加熱焼成処理を行い膜厚およそ80nmの配向膜を形成した。得られたポリイミド膜を株式会社飯沼ゲージ製作所製のラビング処理装置を用いて、ラビング布(毛足長1.9mm:レーヨン)の毛足押し込み量0.40mm、ステージ移動速度を60mm/sec、ローラー回転速度を1000rpmの条件で、ラビング処理した。
得られた配向膜(約13mm角)を直径30mmの時計皿の中央に置き、ポリイミド膜の表面を覆うようにして液晶(4−シアノ−4−ペンチルビフェニル)を乗せた。これを110℃のオーブン中で30分間加熱した後、取り出して室温(22〜24℃)まで放冷した。次いで、n−ヘキサンを約20ml入れたビーカーにポリイミド膜を静かに入れて、時々攪拌しながら15min間浸漬した。n−ヘキサンを捨て、新たに約20mlのn−ヘキサンを入れて15分間浸漬した。次いで、ポリイミド膜をn−ヘキサンから取り出し、表面のn−ヘキサンを室温で乾燥させてからデシケーター中で12時間以上放置した。なお、液晶(4−シアノ−4−ペンチルビフェニル)がポリイミド膜から除去されたことについては、以下の配向膜の赤外線吸収スペクトルの測定においてシアノ基のピークが検出されないことから確認した。
得られた配向膜の赤外線吸収スペクトルの測定は、パーキンエルマー(Perkin Elmer)製FT−IR装置(Paragon1000)を用いて、分解能4cm−1、積算144回の条件で測定した。また、水蒸気のノイズを除去するために乾燥窒素または空気(露点−60℃以下)を使用して試料室10リッター/分、分光室5リッター/分で各々の室をパージした。
偏光子を透過した赤外光を配向膜に対して垂直に配向膜側から入射した。サンプルのラビング方向(配向処理方向)と偏光方向とが平行で測定したときの吸光度をA‖とし、垂直で測定したときの吸光度をA⊥とした。平行と垂直で測定した赤外光スペクトルの差スペクトルを吸光度で計算し、C−N伸縮振動に相当するピーク高さを(A‖−A⊥)とした。また、吸光度で表示した平行と垂直とのスペクトルのC−N伸縮振動に相当するピーク高さの和(A‖+A⊥)を計算した。さらに、配向膜の膜厚(d)を、株式会社溝尻光学工業所製のエリプソメータ(Ellipsometer;DVA−FL3G)を用いて測定したところ82.2nmであった。
次いで、次式(1)に従い、得られた(A‖−A⊥)、(A‖+A⊥)および膜厚(d)の値より計算すると、液晶処理後の配向膜の配向指数Δは2.62であった。
図1に示すIPS用櫛歯状電極付きガラス基板および電極のないガラス基板の2枚のガラス基板を用いる以外は、シリコン基板を用いた方法に準じた方法で配向膜を形成した。
上記のようにして得られた配向膜をエタノール中で5分間超音波洗浄後、純水にて表面を洗浄してからオーブン中120℃で30分間乾燥した。前記IPS用櫛歯状電極付きガラス基板に4μmのギャップ材を散布し、配向膜を形成した面を内側にして電極のないガラス基板を対向させた後、エポキシ硬化剤でシールし、ギャップ4μmのパラレルセルを作成した。前記セルに液晶組成物Aを注入し、注入口を光硬化剤で封止した。次いで、110℃で30分間加熱処理を行って、黒表示特性および電圧保持率測定用セルとした。なお、対向するIPS用櫛歯状電極付きガラス基板および電極のないガラス基板のラビング方向は互いに同方向とした。液晶材料として使用した液晶組成物Aの組成を下記に示す。この組成物のNI点は100.0℃であり、複屈折は0.093であった。
また、ラビング筋のような配向むらや配向欠陥は全く認められず、非常に均一な表示が得られた。
一対のITO透明電極付きガラス基板、20μm用のギャップ材を用いて作成し、ラビング方向をアンチパラレルとしたこと以外は、黒表示特性および電圧保持率測定用セルと同様の方法によってプレチルト角測定用セルを作成した。なお、プレチルト角測定における液晶材料も黒表示特性測定時と同じものを用いた。このセルを用いてクリスタルローテーション法にて液晶のプレチルト角を測定したところ、1.7度であった。
実施例1におけるワニスA1の代わりに、ワニスA2〜A6およびワニスB1〜B3をそれぞれ後記の表1の原料組成で調製し、これを用いて配向指数Δ、黒表示特性、電圧保持率およびプレチルト角の評価を実施例1と同様に行なった。
ワニスA2〜A6およびワニスB1〜B3の調製については、ワニスA1と同様の方法で調製した。反応中に反応熱により温度が上昇するときは、反応温度を約70℃以下に抑えて反応させた。なお、ポリアミック酸の合成は、反応混合物の粘度をチェックしながら反応を行い、BCおよびGBLを添加後のポリアミック酸の粘度が30〜35mPa・s(E型粘度計を使用。25℃)になった時点で反応を終了とし、ポリアミック酸を低温にて保存した。
すなわち、当初のポリアミック酸をNMPのみで合成し、次いでBCおよびGBLを加えて最終的にポリアミック酸濃度を5重量%に調整した。
各実施例および比較例の原料モル比および重量平均分子量を表1に示した。
なお、本発明の実施例の試験方法において、優れた黒表示特性とは0.005%以下の値を、IPS液晶表示素子における好ましいプレチルト角とは0.1〜5.0度の範囲を、好ましい電圧保持率とは97.0%以上の値を意味する。
Claims (11)
- 液晶表示素子が、基板の表面に対し支配的に平行な電界が形成されることにより表示を行う横電界方式のものである請求項1記載のポリイミド系ワニス。
- 請求項1に記載の式(1)で表される液晶処理後の配向指数Δが、1.5〜10.0である請求項1または2記載のポリイミド系ワニス。
- テトラカルボン酸二無水物が、式1−1、式1−2、式1−13、式1−17、式1−18、式1−19、式1−20、式1−27、式1−28、および式1−29のそれぞれで表されるテトラカルボン酸二無水物から選択される少なくとも1種である請求項4記載のポリイミド系ワニス。
- ジアミンが、式2−5、式2−6、式2−9、式2−10、式2−11、式2−12、式2−13、式2−14、式2−15、式2−16、式2−17、式2−18、式2−19、式2−20、式2−30、式2−35、式2−39、式2−40、式2−41、式2−42、式2−43、および式2−56のそれぞれで表されるジアミンから選択される少なくとも1種である請求項4記載のポリイミド系ワニス。ここに、これらの式中のnは2〜10の整数であり、ベンゼン環の任意の水素は、ハロゲンまたは炭素数1〜5のアルキルで置き換えられてもよい。
- ジアミンが、式2−12、式2−13、式2−14、式2−15、式2−16、式2−17、式2−18、式2−19、式2−20、および式2−39のそれぞれで表されるジアミンから選択される少なくとも1種のジアミンである請求項4記載のポリイミド系ワニス。ここに、これらの式中のnは2〜10の整数であり、ベンゼン環の任意の水素は、ハロゲンまたは炭素数1〜5のアルキルで置き換えられてもよい。
- 請求項1〜7のいずれか1項記載のポリイミド系ワニスを用いて形成される配向膜。
- 配向膜の配向処理条件が毛足押し込み量0.2〜0.8mm、ステージ移動速度5〜250mm/sec、ローラー回転速度500〜2,000rpmでラビング処理することである請求項8に記載の配向膜。
- 請求項8または9記載の配向膜を有する液晶表示素子。
- 請求項8または9記載の配向膜を有する横電界方式の液晶表示素子。
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