JP2005115297A - 多層相補型導線構造およびその製造方法 - Google Patents

多層相補型導線構造およびその製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 導電抵抗を大幅に低減させる多層相補型導線構造およびその製造方法を提供する。
【解決手段】 導線構造100は、幹線部200、複数本の枝線部202および幹線部200と枝線部202との間を接続する複数個のプラグ204を有する第1導線と、同様に幹線部250、複数本の枝線部252および幹線部250と枝線部252との間を接続する複数個のプラグ254を有する第2導線とを備えている。第1導線の幹線部200は第2導線の幹線部250と絶縁されるとともに交叉して配列され、第1導線の幹線部200は第2導線の枝線部252と絶縁されて同層の導線構造中に位置し、第2導線の幹線部250は第1導線の枝線部202と絶縁されるとともに別の同層導線構造中に位置する。
【選択図】 図6

Description

本発明は、導線構造およびその製造方法に関し、特に導電抵抗を大幅に低減させる導線構造およびその製造方法に関する。
マルチメディアの急速な発展により、周辺のオーディオ・ビジュアル機器に対するユーザの要求は徐々に高まっている。従来のブラウン管または陰極線管(Cathode Ray Tube:CRT)タイプの表示器は体積が大きすぎるため、軽薄短小が求められる現代においては、ニーズに応えることができない。そのため、近年においては液晶表示器(Liquid Crystal Display:LCD)、プラズマディスプレイパネル(Plasma Display Panel:PDP)および電界放出型表示装置(Field Emission Display:FED)など、平面表示器に関する多くの技術が相次いで開発されている。
図1は従来の表示器である薄膜トランジスタアレイ板の構造を示す斜視図である。図1に示すように、薄膜トランジスタアレイ板10はマトリクス状に配列された複数個の表示単位、すなわち画素(Pixel)18を含む。各画素18は薄膜トランジスタ16の他に、横向き且つ平行に配列された複数本のゲート線14および縦向き且つ平行に配列された複数本のデータ線が間隔をおいて配列されたものを含み、これらゲート線14およびデータ線12は薄膜トランジスタ16に接続される。
図2は従来の表示器における一画素の構造を示す斜視図である。図2に示すように、各画素18は薄膜トランジスタ16を一個ずつ有し、ゲート線14を薄膜トランジスタ16のゲート電極26に接続し、データ線12を薄膜トランジスタ16のソース電極20およびドレイン電極22に接続する。ゲート電極26およびソース電極20とドレイン電極22との間には絶縁層(図示せず)および活性層24がある。また、画素18は画素電極28をさらに有し、この画素電極28をドレイン電極22に接続し、薄膜トランジスタ16をスイッチ素子にする。
図3に示すように、一般にゲート線14とデータ線12は異なる金属層にあり、両者が交叉する箇所は互いに接触せず、周囲の絶縁層30により離隔されて絶縁される。現在、表示器の面積は大型化する傾向があり、ゲート導線とデータ導線の長さは次第に長くなっている。そのため、全体の抵抗が高まり抵抗−キャパシタンス遅延(Resistance Capacitance Delay=RC Delay)という重大な問題が発生した。そして、この問題は素子の設計および製造に制限を加えて、素子の動作速度に影響を与えた。
したがって、本発明の目的は導線構造およびその製造方法を提供し、少なくとも二層の導線構造により素子の導線抵抗を低減し、導線が重なる領域を相補型構造により線交叉に関する問題を解決することにある。
本発明のもう一つの目的は表示器マトリクス構造を提供し、ゲート線およびデータ線を多層相補型導線構造で構成することにより線幅を減らして表示単位の開口率を向上させることにある。
本発明の多層相補型導線構造は少なくとも、幹線部、複数本の枝線部および幹線部と枝線部との間を接続する複数個のプラグを有する第1導線と、同様に、幹線部、複数本の枝線部および幹線部と枝線部との間を接続する複数個のプラグを有する第2導線とを備える。そして、第1導線の幹線部は第2導線の幹線部と絶縁されるとともに交叉して配列され、第1導線の幹線部は第2導線の枝線部と絶縁されて同層導線構造中に位置し、第2導線の幹線部は第1導線の枝線部と絶縁されるとともに別の同層導線構造中に位置する。
本発明の多層相補型導線構造の製造方法は少なくとも、先ず第1導電材料層を基板上に形成してから、第1導電材料層中に第1幹線部および第1幹線部の両側にそれぞれ位置して同軸に配列された複数個の第1枝線部とを形成する。そして、この第1幹線部は第1導線の一部であり、第1枝線部は第2導線の一部であり、第1幹線部と第1枝線部は互いに絶縁する。そして、第1導電材料層と基板の上に絶縁層を形成し、絶縁層中に複数個の第1コンタクトホールおよび複数個の第2コンタクトホールを形成し、第1コンタクトホールからは第1幹線部の一部が露出し、第2コンタクトホールからは各第1枝線部の一部が露出する。続いて、絶縁層および第1導電材料層の上に第2導電材料層を形成し、上で述べた第1コンタクトホールおよび第2コンタクトホールを充填し、複数個の第1プラグおよび複数個の第2プラグを形成する。
続いて、第2導電材料層中に第2幹線部と、第2幹線部の両側にそれぞれ位置して同軸に配列された複数個の第2枝線部とを形成する。この第2幹線部は第2導線の一部であり、第2プラグに接続する。また、第2枝線部は第1導線の一部であり、第1プラグに接続する。また、第2幹線部と第2枝線部は互いに絶縁する。
第1導線は第1幹線部、第1プラグおよび第2枝線部から構成され、第2導線は第2幹線部、第2プラグおよび第1枝線部から構成される。このように多層相補型の導線構造を完成させる。
本発明の相補型導線構造および製造方法は、全体の導線抵抗値を低減させ、素子の動作速度を向上させる。また、表示単位の開口率を増大させることもできる。
本発明は多層相補型の特徴を備えた導線構造を提供する。次に、本発明を好適な実施形態により説明する。より完全で詳細な説明にするため、以下の説明では図4から図9を参照する。
図4は本発明の好適な実施例を示したものであり、ゲート線である導線の構造を示す。図4に示すように、本実施例において表示器のゲート線である導線構造100は、一本の細長い幹線部200および同一軸上に位置し、所定の間隔がおかれた複数本の枝線部202を含む。幹線部200および枝線部202は異なる層に位置するため、各枝線部202の両端部と幹線部200との間をプラグ204で接続し、複数個の凹槽206を有する歯状二層導電構造を形成する。
一般の電気抵抗の計算式は次の通りである。
R=ρ×L/A
このうち、Rは材料抵抗、ρは抵抗率、Lは導線長さ、Aは導線断面積である。
アルミニウム金属および銅金属によりそれぞれ従来長さの導線構造を製造した場合、導線の合計長さを10、断面積を1にすると、その結果は次の通りである。
Figure 2005115297
また、アルミニウム金属および銅金属によりそれぞれ本実施例の歯状二層導線構造を製造し、図4に示すように、幹線部200が凹槽206、枝線部202および二つのプラグ204により構成される場合、幹線部200の合計長さは10となり、枝線部長さはb、凹槽幅(即ち10−b)はa、そして幹線部200および枝線部202の断面積は1となる。枝線部202の長さと凹槽206の幅が異なった比率を有する時、全体の抵抗値はそれぞれ次の通りとなる。
Figure 2005115297
この表から分かるように、本実施例は二層歯状の導線構造を利用し、枝線部202の長さと凹槽206の幅がどのような比率を有したとしても、抵抗値は従来の導線構造より低くなる。そのため、本発明は上記の例に限定されない。本発明を適用した実施例の二層歯状の導線構造において、幹線部200と平行に配列された枝線部202が占める部分が大きいほど、b/aの比率は大きくなって、導線全体の抵抗値は低減する。
図5に示すのは本発明のゲート線の導線構造を表示器へ応用したもので、それはデータ線の導線構造を組合せたものである。直交に重ねて接続することを考慮し、データ線にする導線構造とゲート線にする導線構造を相補する。
図5に示すように、表示器中のデータ線である導線構造102は、一本の細長い幹線部250および同一軸上に位置して間隔がおかれた複数本の枝線部252を含む。各枝線部252の両端部と幹線部250との間をプラグ254により接続し、数個の凹槽256を有する歯状二層導電構造を形成する。図4と図5の構造を同時に比べると分かるように、図4の導線構造100と図5の導線構造102は対称構造である。
図6に示すのは、図4の導線構造と図5の導線構造とを交叉させて配列した時の斜視図である。図6は一般の表示器中においてゲート線とデータ線を直交させた構造を示し、これはマトリクス状に配列された表示単位により構成される。本実施例において、ゲート線にする導線構造100およびデータ線にする導線構造102を、図4の凹槽206と図5の凹槽256を基板300上で相対に交叉させて形成する。つまり導線構造100の幹線部200と導線構造102の枝線部252は同一層の構造中に位置するということであり、枝線部252は幹線部200の両側にそれぞれ位置するということである。また、導線構造102の幹線部250および導線構造100の枝線部202は、もう一つの同層構造中に位置する。
図7aから図8cは、本発明の好適な実施例における導線構造の工程を示す断面図であり、図6も併せて参照する。図7aから図7cは、図6のI−I部分の断面図であり、図8aから図8cは、図6のII−II部分の断面図である。図7aおよび図8aに示すように、本実施例の導線構造の形成は、堆積方式などにより基板300上に導電材料層320を形成し、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより導電材料層320をパターニングして導線構造100の幹線部200および導線構造102の枝線部252を形成する。
また、堆積方式などにより導電材料層320および基板300上に絶縁層350を形成する。図7bおよび図8bに示すように、さらにフォトリソグラフィーおよびエッチングにより絶縁層350を定義し、絶縁層350中に複数個のコンタクトホール354および複数個のコンタクトホール356を形成する。各コンタクトホール354からは導線構造102の枝線部252の一部が露出し、コンタクトホール356からは導線構造100の幹線部200の一部が露出する。
その後、さらに堆積方式などにより絶縁層350上およびコンタクトホール354、コンタクトホール356中へ導電材料層360を形成する。図7cおよび図8cに示すように、フォトリソグラフィーおよびエッチングにより導電材料層360をパターニングし、導線構造102の幹線部250および導線構造100の枝線部202を形成する。
図7cおよび図8cに示すように、プラグ254およびプラグ204にコンタクトホール354およびコンタクトホール356中の導電材料をそれぞれ形成することにより、基板300上に図6が示すような二層相補型の導線構造を完成させる。これらのプラグ204およびプラグ254は、導線構造100の幹線部200および導線構造102の枝線部252にそれぞれ位置合わせするとともに、間隔を適当におくことが望ましい。また、導線構造100の枝線部202をプラグ204に位置合わせする以外に、導線構造100の幹線部200に対しても位置合わせをすることが望ましい。そして、導線構造102の幹線部250をプラグ254に位置合わせする以外に、導線構造102の枝線部252に対しても位置合わせをすることが望ましい。そのため、導線構造100の幹線部200、プラグ204と導線構造100の枝線部202とを接続する第1導線および導線構造102の幹線部250、プラグ254と導線構造102の枝線部252とを接続する第2導線を得ることができる。
図9に示すのは、本発明の導線構造を表示器に応用したときの平面図である。図9の平面図から分かるように、下方に位置して縦向き且つ平行に配列された複数本の幹線部200と、上方に位置して横向き且つ平行に配列された複数本の幹線部250とを有し、幹線部200と幹線部250は、平面図では直交した網状構造に見えるように形成され、各格子は表示単位400を示し、各表示単位400は薄膜トランジスタ402を有する。幹線部200および幹線部250は重なる部分以外は全て二層導線構造を有する。
例を挙げると、幹線部200は交わる部分以外に、上方(幹線部250と同層構造)において数本の枝線部202を有し、プラグ204により枝線部202と接続する。同様に、幹線部250は交わる部分以外に、下方(幹線部200と同層構造)において数本の枝線部252を有し、プラグ254により枝線部252と接続する。
ここで注意が必要なことは、図9の平面図が示す上方の導線構造において、幹線部250および枝線部204の幅が、下方の幹線部200および枝線部252の幅よりも広く描かれているが、これは単に本発明の導線構造を容易に理解できるようにするためである。本発明の好適な実施例においては幹線部250、枝線部204、幹線部200および枝線部252を含む上述の導線の幅は同じであることが好ましい。しかし、本発明はこれだけに限定されるわけではない。
本発明の好適な実施例では、単に二層相補型導線構造およびその製造方法を開示したが、ほかに二層以上の多層導線構造により本発明の精神および概念を応用して、電気抵抗を低減する目的を達成してもよい。
本発明において多層相補型導線構造およびその製造方法を開示したが、絶縁層材料、導線の材料、形状および長さなどを含むその他の構造条件は、産品素子の必要に応じて変えることができる。一般にはアルミニウム、クロムまたはモリブデン金属を導線材料とすることができる。また、表示単位の応用に必要な薄膜トランジスタ構造には多くの種類があるが、本発明は薄膜トランジスタ構造にその種類を限定するものではない。
上で述べた好適な実施例から分かるように、本発明の長所は導線抵抗値の低減にある。また、同様の電気抵抗値を達成する効果からいうと、本発明の多層相補型導線構造により導線断面積を縮小することができるため、表示単位の開口率をさらに増大することができる。つまり、従来20μmの導線構造により達成していた抵抗値を、本発明では導線幅が12μmの二層相補型導線構造により達成することができる。長さが60μmで、幅が140μmの開口領域にとって、従来の開口面積は、60×140=8400(μm2)であった。
しかし、本発明の相補型導線構造を利用すると、その開口面積は、
(60+8)×(140+8)=10064(μm2)となる。
そして、増大する開口率は次の通りである。
(10064−8400)/8400×100=19.8%
これは、表示器の製造技術にとって非常に大きなメリットである。
本発明の多層相補型導線構造は表示器の分野だけでなく、他の分野にも応用することができる。他の分野に応用するときには、図6に示す導線構造100および導線構造102をゲート線またはデータ線にすることのみに限定するわけではない。そして、集積回路製造技術などの分野に応用しても、抵抗値および線幅を低減することができる長所を有するため、本発明は表示器の分野だけに使用を限定するものではない。
本発明では好適な実施形態を前述の通り開示したが、これらは決して本発明を限定するものではなく、当該技術を熟知するものなら誰でも、本発明の精神と領域を脱しない範囲内で各種の変動や潤色を加えることができる。従って本発明の保護の範囲は、特許請求の範囲で指定した内容を基準とする。
従来の表示器における薄膜トランジスタアレイ板の構造を示す図である。 従来の表示器における一画素の構造を示す図である。 従来の技術にかかるゲート線とデータ線とが異なる金属層にある構造を示す斜視図である。 本発明の好適な実施例による、ゲート線にする導線構造を示す断面図である。 図4のゲート線に組合せるデータ導線構造を示す斜視図である。 図4の導線構造と図5の導線構造を交叉して配列したときの斜視図である。 本発明の好適な実施例による導線構造の製造手順を示す図であって、図6のI−I部分の断面図である。 本発明の好適な実施例による導線構造の製造手順を示す図であって、図6のI−I部分の断面図である。 本発明の好適な実施例による導線構造の製造手順を示す図であって、図6のI−I部分の断面図である。 本発明の好適な実施例による導線構造の製造手順を示す図であって、図6のII−II部分の断面図である。 本発明の好適な実施例による導線構造の製造手順を示す図であって、図6のII−II部分の断面図である。 本発明の好適な実施例による導線構造の製造手順を示す図であって、図6のII−II部分の断面図である。 本発明の好適な実施例による導線構造を表示器に応用した平面図である。
符号の説明
100 導線構造、102 導線構造、200 幹線部、202 枝線部、204 プラグ、206 凹槽、250 幹線部、252 枝線部、254 プラグ、256 凹槽、300 基板、320 導電材料層、350 絶縁層、360 導電材料層、354 コンタクトホール、356 コンタクトホール、400 表示単位、402 薄膜トランジスタ

Claims (11)

  1. 少なくとも第1導線と第2導線とを備える多層相補型導線構造であって、
    前記第1導線は、少なくとも第1幹線部と、複数個の第1枝線部と、前記第1幹線部と前記第1枝線部とを接続する複数個の第1コンタクトホールとを有し、
    前記第2導線は、少なくとも第2幹線部と、複数個の第2枝線部と、前記第2幹線部と前記第2枝線部とを接続する複数個の第2コンタクトホールとを有し、
    前記第1幹線部は前記第2幹線部と絶縁して交叉配列され、前記第1幹線部は前記第2枝線部と絶縁して第1層導線構造中に位置し、前記第2幹線部は前記第1枝線部と絶縁して第2層導線構造中に位置することを特徴とする多層相補型導線構造。
  2. 前記第1幹線部と前記第2幹線部とは、直交して配列されることを特徴とする請求項1記載の多層相補型導線構造。
  3. 前記第1枝線部は、二つの前記第1コンタクトホールにより前記第1幹線部と接続することを特徴とする請求項1記載の多層相補型導線構造。
  4. 前記第2枝線部は、二つの前記第2コンタクトホールにより前記第2幹線部と接続することを特徴とする請求項1記載の多層相補型導線構造。
  5. マトリクス状に配列された複数個の表示単位部が基板上に位置し、前記表示単位部は縦向き且つ平行で間隔をおいて配列された複数本のゲート線および横向き且つ平行で間隔をおいて配列された複数本のデータ線により分けられて形成された基板を備え、
    前記ゲート線は、少なくとも第1幹線部と、前記第1幹線部に平行な複数個の第1枝線部と、前記第1幹線部と前記第1枝線部とを接続し互いに平行な複数個の第1コンタクトホールとを有し、
    前記データ線は、少なくとも第2幹線部と、前記第2幹線部に平行な複数個の第2枝線部と、前記第2幹線部と前記第2枝線部とを接続し互いに平行な複数個の第2コンタクトホールとを有し、
    前記第1幹線部は前記第2幹線部と絶縁されて交叉配列され、前記第1幹線部は前記第2枝線部と絶縁されて第1層導線構造中に位置し、前記第2幹線部は前記第1枝線部と絶縁されて第2層導線構造中に位置することを特徴とする表示器マトリクス構造。
  6. 前記表示単位は薄膜トランジスタ構造を有することを特徴とする請求項5記載の表示器マトリクス構造。
  7. 前記ゲート線と前記データ線とは直交して配列されることを特徴とする請求項5記載の表示器マトリクス構造。
  8. 前記第1枝線部は、二つの前記第1コンタクトホールにより前記第1幹線部と接続することを特徴とする請求項5記載の表示器マトリクス構造。
  9. 前記第2枝線部は、二つの前記第2コンタクトホールにより前記第2幹線部と接続することを特徴とする請求項5記載の表示器マトリクス構造。
  10. 基板上に第1導電材料層を形成するステップと、
    前記第1導電材料層をパターニングし、第1幹線部および前記第1幹線部の両側にそれぞれ位置し同軸配列された複数個の第1枝線部を形成し、前記第1幹線部と前記第1枝線部とを絶縁し、前記第1幹線部を第1導線の第1部分にし、前記第1枝線部を第2導線の第1部分にするステップと、
    前記第1導電材料層および前記基板上に絶縁層を形成するステップと、
    前記絶縁層をパターニングして複数個の第1コンタクトホールおよび複数個の第2コンタクトホールを形成し、前記第1コンタクトホールから前記第1幹線部の一部を露出させ、前記第2コンタクトホールから前記第1枝線部の一部を露出させるステップと、
    前記絶縁層および前記第1導電材料層上に第2導電材料層を形成して前記第1コンタクトホールおよび前記第2コンタクトホールの内部を充填するステップと、
    前記第2導電材料層をパターニングし、第2幹線部および前記第2幹線部の両側にそれぞれ位置して同軸に配列された複数個の第2枝線部を形成し、前記第2幹線部および前記第2枝線部を絶縁して、前記第2幹線部を前記第2導線の第2部分とし、前記第2枝線部を第1導線の第2部分とし、前記第2幹線部を前記第1枝線部上方に位置させ、前記第2枝線部を前記第1幹線部上方に位置させるステップと、
    を含むことを特徴とする多層相補型導線構造の製造方法。
  11. 前記第1幹線部および前記第2幹線部は、直交して配列することを特徴とする請求項10記載の多層相補型導線構造の製造方法。
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