JP2005071586A - 回路装置、メモリ装置及びクロックスキュー補償方法 - Google Patents

回路装置、メモリ装置及びクロックスキュー補償方法 Download PDF

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Abstract

【課題】センタリングエラーを起こすクロックスキューを補償するメモリ装置及びそのクロックスキュー補償方法を提供する。
【解決手段】外部クロック信号と出力データ信号とのセンタリングエラーを起こすクロックスキューを補償するために、メモリ装置の内部に出力データ信号と外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する位相検出部と、スキュー補償を指令するカリブレーション信号によってイネーブルされ、アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生させるアップダウンカウンターを含む。オフセットコードは、DLL回路にフィードバックされて、これによって外部クロック信号のエッジが出力データ信号の中間点がセンタリングされる。これにより、コントローラとメモリ装置との通信なしにオフセットコードを発生させうる。
【選択図】図8

Description

本発明は、半導体メモリ装置、それに好適な回路装置及びクロックスキュー保証方法に係り、例えば、外部クロック信号と出力データ信号とのセンタリングエラーを起こすクロックスキューを補償する遅延ロッキング回路(Delay Locked Loop:DLL)を含む回路装置及び半導体メモリ装置及びそのクロックスキュー補償方法に関する。
コンピュータシステムバスの速度が100MHz以上に高まることによって現存するクロッキング方式にも変化が必要となった。特に、最近は、クロック伝送方式は、既存の共通クロック方式からソースシンクロナス方式変更された。
図1は、共通クロック方式を説明する図面である。これを参照すれば、クロック信号CLKはデータ経路とは別途に提供され、ドライバ110は、クロックCLKに応答してデータを伝送し、レシーバー130はクロックCLKに応答してデータを受信する。
図2は、図1の共通クロック方式のタイミング図である。これを参照すれば、クロックCLKのエッジから第1遅延時間t1後にドライバ110によるデータ伝送が行われ、ドライバ110のデータ伝送時点から第2遅延時間t2と第3遅延時間t3とを加算した時間後にレシーバー130でデータが受信される。第1遅延時間t1は、ドライバ110により遅延される時間であり、第2遅延時間t2は、伝送ライン120を通過しながら遅延される時間であり、第3遅延時間t3は、レシーバー130により遅延される時間である。
このような共通クロック方式において、データ受信をクロックCLKに同期させるための最小クロック周期tCLKminは、次のように定義される。
tCLKmin=t1+t2+t3
共通クロック方式では、最小クロック周期の制限のためにクロックCLKを高速化させることが不可能である。これに対して、最小クロック周期tCLKminのt2成分を減らすための方法として、ソースシンクロナス方式では、図3のようなソースシンクロナス方式が導入された。図3に示すように、データ経路に存在する伝送ライン120と同様にクロック経路にも伝送ライン220をおいて、最小クロック周期tCLKminでt2成分をなくすことによって、データとクロックCLKとの間の伝送ラインによるタイミング不一致を減らす。レシーバー130で受信されるデータは、図4のように、クロックCLKのエッジに同期して伝送される。
クロックCLKは、クロックバッファ210、230を通じて内部回路(図3)に供給される。クロックCLKがクロックバッファ210、230を通過するのにかかる遅延時間t1、t3は、クロックスキューを起こす。クロックスキューは、高速データ伝送を阻害する成分になる。クロックスキューを除去するための方法として、PLLまたはDLL回路が使われる。PLLまたはDLL回路は、クロック信号が入出力される入力バッファまたは出力バッファの遅延時間を相殺したクロック信号を発生する。このクロック信号に同期したデータを出力バッファを通じて送り出すことによって、クロック信号と出力データが整列及び同期される。
同期式メモリ装置、例えばSDRAMは、DLL回路を使用してクロック信号のエッジと出力データのエッジとが同期するように設計された。特に、ラムバスDRAM(Rambus DRAM:以下"RDRAM")のようなパケット単位DRAMは、データ伝送時間の中間点でクロック信号CTM(Clock−To−Master)によるデータサンプリングが起こるように設計される(図5)。
図6は、RDRAMにおける出力データ信号の発生のための回路構成を説明する図面である。これを参照すれば、CTMクロック信号と出力ドライバ複写部620の出力クロック信号を入力するDLL回路610が、90゜の位相差を有するtCLK0クロック信号とtCLK90クロック信号とが発生する。tCLK0クロック信号は、第1経路630を通じて出力マルチプレクサ(MUX)671、672、673、674を駆動するtCLKクロック信号を発生させる。tCLK90クロック信号は、第1経路630と同様に構成される第2経路640を経由してMUX部660と第2経路のバッファ640と出力ドライバ681、682、683、684の時間遅延を補償する出力ドライバ複写部620を通じてDLL回路610に提供される。tCLK0クロック信号は、第1経路630と同じ第3経路650を通じて発生する出力信号によりデューティーが調節され、tCLK90クロック信号は、第2経路640の出力信号によりデューティーが調節される。
tCLKクロック信号によりスイッチングされる、例えば1つのMUX674と出力ドライバ684とを通じて発生する出力データDQ0は、CTMクロック信号に対して90゜の位相差を有するクロック信号に同期して出力されるために、出力データDQ0は、理想的にCTMクロック信号のエッジにその中間点が一致するようになる。
ところが、バッファ、第1ないし第3経路部630、640、650のインターコネクションライン、出力ドライバ複写部620などの遅延時間による差、信号経路の差、工程変化依存率の差などによって、出力データDQとCTMクロック信号とが正確に90゜の位相差を有しなくなるという問題が発生する。これを出力データとCTMクロック信号とのセンタリングエラーという。センタリングエラーを解決する方案として、ヘイスティングDLL回路が図7に示されている。
図7に示すヘイスティングDLL回路700では、CTMクロック信号と出力ドライバ複写部620の出力クロック信号との位相差を検出する位相検出部(Phase Detector:PD)710、PD 710の出力を受信する最終ステートマシン(Final State Machine:FSM)720、FSM 720の出力とオフセットコードを受信する合算部730、合算部730の出力に応答してtCLK0クロック信号を発生する第1位相ミキサー740とFSM 720の出力に応答してtCLK90クロック信号を発生する第2位相ミキサー750を含む。
オフセットコードは、CTMクロック信号と出力データDQ0のセンタリングエラーに相当するものであって、出力データDQ0発生のタイミング信号として使われるtCLK0クロック信号に追加して補償する。ところが、このオフセットコードは、コントローラとRDRAMとの間の通信を通じて最適値を探す過程を必要とする短所がある。
したがって、RDRAM自体が自己の出力データをモニタリングし、その位相とCTMクロック信号との位相を比較してオフセットコードを定める方法が存在するならば、コントローラとRDRAMとの間の通信が必要でなくなる。
本発明の目的は、外部クロック信号と出力データ信号とのセンタリングエラーを起こすスキューを補償する回路装置及びメモリ装置を提供するところにある。
本発明の他の目的は、外部クロック信号エッジに出力データ信号の中間点が一致するようにセンタリングさせるクロックスキュー補償方法を提供するところにある。
前記目的を解決するために、本発明の第1の側面に係る出力データ信号と外部クロック信号との間のスキューを補償する回路装置は、出力データ信号と外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する位相検出部と、スキュー補償を指令するキャリブレーション信号によってイネーブルされ、アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生するアップダウンカウンターと、キャリブレーション信号に応答してオフセットコードを受信し、外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生するDLL回路と、第1クロック信号に応答して出力データ信号を発生する出力ドライバと、を含む。
望ましくは、DLL回路は、外部クロック信号に対して0゜の前記第1位相差を有する第1クロック信号と、外部クロック信号に対して90゜の第2位相差を有する第2クロック信号を発生させるために、DLL回路が発生した第1クロック信号が通る伝送ラインと同じ伝送ラインを通る第2クロック信号と外部クロック信号との位相差を検出する位相検出部と、位相検出部により検出された位相差に応答して可変遅延量を調整するステートマシンと、キャリブレーション信号に応答してアップダウンカウンターから提供されるオフセットコードを受信する第1合算部と、第1合算部の出力とステートマシンの出力とを受信する第2合算部と、第2合算部の出力に応答して第1クロック信号を発生する第1位相ミキサー部と、ステートマシンの出力に応答して第2クロック信号を発生する第2位相ミキサー部と、を含む。
前記目的を解決するために、本発明の第2の側面に係るメモリ装置は、出力データ信号と外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する位相検出部と、スキュー補償を指令するキャリブレーション信号によってイネーブルされ、アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生するアップダウンカウンターと、キャリブレーション信号に応答してオフセットコードを受信し、外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生するDLL回路と、第1クロック信号が通る伝送ラインを含む第1経路部と、第1経路部と同一に構成され、前記第2クロック信号が通る第2経路部と、第1クロック信号によってトグルされ、キャリブレーション信号に応答して出力データ信号を発生させる出力ドライバと、出力ドライバと同一に構成され、第2経路部を通過した前記第2クロック信号を入力してDLL回路にフィードバックする出力ドライバ複写部と、を含む。
前記他の目的を解決するために、本発明の第3の側面に係る出力データ信号と外部クロック信号間のスキューを補償する方法は、出力データ信号と外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する段階と、スキュー補償を指令するキャリブレーション信号とアップまたはダウン信号とに応答して所定のオフセットコードを発生する段階と、DLL回路を通じて外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生する段階と、DLL回路が発生した第1クロック信号が通る伝送ラインと同じ伝送ラインを通る第2クロック信号と外部クロック信号との位相差を検出する段階と、前記検出された位相差に応答して可変遅延量を調整する段階と、キャリブレーション信号に応答してアップダウンカウンターから提供されるオフセットコードを受信して第1クロック信号と第2クロック信号とを発生する段階と、を含む。
前記他の目的を解決するために、本発明の第3の側面に係るメモリ装置の出力データ信号と外部クロック信号との間のスキューを補償する方法は、外部クロック信号と第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号と第2クロック信号とを発生させる段階と、出力データ信号と外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する段階と、スキュー補償を指令するキャリブレーション信号を活性化し、アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生する段階と、活性化されたキャリブレーション信号に応答してオフセットコードを受信し、第1クロック信号のエッジと第1クロック信号によってトグルされる出力データ信号のエッジとを一致させる段階と、キャリブレーション信号の非活性化に応答してオフセットコードをリセットする段階と、オフセットコードのリセットに応答して外部クロック信号のエッジに出力データ信号の中間点を一致させる段階と、を含む。
本発明によれば、例えば、コントローラとメモリ装置との通信なしにオフセットコードを発生させうる。
本発明とその動作上の利点及び本発明の実施によって解決される目的を十分に理解するためには、本発明の望ましい実施形態を例示する図面及びそれに関連する記載内容を参照する必要がある。
以下、図面を参照して本発明の望ましい実施形態を説明することによって、本発明を詳細に説明する。各図面に提示された同じ参照符号は同じ構成要素を表す。
図8は、本発明の一実施形態のメモリ装置を説明する図面である。これを参照すれば、メモリ装置800は、DLL回路810、第1経路部820、第2経路部830、第3経路部840、出力ドライバ複写部850、MUX部860、871、872、873、874、出力ドライバ881、882、883、884、位相検出部890、そしてアップダウンカウンター895を含む。
DLL回路810は、CTMクロック信号と出力ドライバ複写部850の出力クロック信号との間の位相差を検出する第1位相検出部811、第1位相検出部811の出力に応答するステートマシン812、アップダウンカウンター895から提供されるオフセットコード(OFFSET CODE)とキャリブレーション信号CALとを受信する第1合算部813、ステートマシン812の出力と第1合算部813の出力とを受信する第2合算部814、第2合算部814の出力に応答して第1クロック信号tCLK0を発生する第1ミキサー部815、そしてステートマシン812の出力に応答して第2クロック信号tCLK90を発生する第2ミキサー部816を含む。
第1経路部820は、DLL回路810が発生する第1クロック信号tCLK0が出力ドライバ881、882、883、884と連結されたMUX871、872、873、874に提供されるまでに通る物理的な伝送ラインを意味する。第1クロック信号tCLK0は、第1経路部820を通じて内部クロック信号tCLKとして出力される。
第2経路部830は、第1経路部820と同じ物理的な伝送ラインで構成され、第2クロック信号tCLK90を受信してその伝送ラインによる遅延時間を考慮して第2クロック信号tCLK90のデューティーを調整する。
第3経路部840は、第1経路部820と同じ物理的な伝送ラインで構成されて、第1クロック信号tCLK0が第1経路部820を通過しながら生じる遅延時間を考慮して第1クロック信号tCLK0のデューティーを調整する。
第2経路部830を通過した第2クロック信号tCLK90は、MUX部860と出力ドライバ複写部850を通じてDLL回路810の第1位相検出部811に提供される。MUX部860と出力ドライバ複写部850とは、内部クロック信号tCLKと連結されるMUX部871、872、873、874と出力ドライバ881、882、883、884との負荷及び遅延時間を第2クロック信号tCLK90に反映するために使われ、その出力は、DLL回路810に提供される。
内部クロック信号tCLKは、出力ドライバ881、882、883、884と連結されるMUX部871、872、873、874をトグルさせる。メモリ装置800の内部回路ブロック(図示せず)から出力される内部データDATAと内部クロック信号tCLKとに応答するMUX部871、872、873、874の出力は、出力ドライバ881、882、883、884をスイッチングさせる。そして、MUX部871、872、873、874のうち1つの第4MUX部874は、キャリブレーション信号CALに応答して第4出力ドライバ884を駆動して出力データパッドDQxにデータを出力させる。
出力ドライバのうち代表的に第4出力ドライバ884を説明すれば、MUX部874の出力がゲートに連結され、接地電圧VSSがそのソースに連結され、データ出力パッドDQxにそのドレインが連結されるNMOSトランジスタで構成される。データ出力パッドDQxは、外部的にターミネ−ション電圧Vterm(図示せず)に連結されるターミネ−ション抵抗Rterm(図示せず)と連結されて、初期にロジックハイレベルを有し、出力ドライバ884の駆動如何によってロジックローレベルに変化する。
第2位相検出部890は、データ出力パッドDQxに出力されるデータとCTMクロック信号との位相差を検出してその結果によってアップ信号またはダウン信号を発生する。データ出力パッドDQxのデータとCTMクロック信号との位相差は、センタリングエラーを意味する。アップダウンカウンター895は、アップまたはダウン信号を受信し、キャリブレーション信号CALによってイネーブルされてオフセットコードOFFSET CODEを発生する。オフセットコードは、前述したDLL回路810内部の第1合算部813に提供されて、これによってデータ出力パッドDQxのデータとCTMクロック信号とのセンタリングエラーが直ちにDLL回路810にフィードバックされて第1クロック信号tCLK0の発生に反映される。
本発明の望ましい実施形態のメモリ装置800の動作は、図9のように行われる。
(a)キャリブレーション信号CALがロジックローレベルであれば、内部クロック信号tCLKにトグルされ、内部データDATAに応答して出力データパッドDQxにデータが載せられる。内部クロック信号tCLKを発生させる基準クロックであるCTMクロック信号と出力データパッドDQxに載せられたデータとの間にセンタリングエラー△Eが生じる。
(b)キャリブレーション信号CALがロジックハイレベルに遷移されれば、内部クロック信号tCLKとキャリブレーション信号CALとに応答する第4MUX部874と第4出力ドライバ884とを通じて出力データパッドDQxがトグルされる。この時、出力データパッドDQxのデータとCTMクロック信号との位相差を検出する第2位相検出部890によりアップまたはダウン信号が発生する。アップまたはダウン信号とキャリブレーション信号CALとに応答するアップダウンカウンター895により所定(例えば2ビット)のオフセットコードOFFSET CODEが発生する。
(c)キャリブレーション信号CALがロジックハイレベルに維持され続け、オフセットコードOFFSET CODEがDLL回路810の第1合算部813に提供されて、内部クロック信号tCLKの発生時に、CTMクロック信号と出力データパッドDQxのデータとのセンタリングエラーが反映される。それにより、出力データパッドDQxのデータとCTMクロック信号との位相差が補償されて、内部クロック信号tCLKにトグルされる出力データパッドDQxのデータとCTMクロック信号との位相が一致する。
(d)この後、キャリブレーション信号CALがロジックローレベルに遷移すれば、アップダウンカウンター895のオフセットコードは00にリセットされる。これにより、DLL回路810は、第1内部クロック信号tCLK0の発生を正確に90゜遅延させる。これによって第1内部クロック信号tclk0の基準信号であるCTMクロック信号のエッジは出力データパッドDQxのデータ中間点に一致する。
本発明は、図面に示された一実施形態に基づいて説明されたが、これは例示的なものに過ぎず、本技術分野の当業者であれば、これに基づいて多様な変形及び均等な他の実施形態の採用が可能である点を理解することができる。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は、特許請求の範囲の技術的思想により定められねばならない。
本発明は、クロック信号と出力データとのセンタリングエラーを起すクロックスキューを補償する半導体メモリ装置に好適である。
共通クロック方式を説明する図面である。 図1の共通クロック方式のタイミング図である。 ソースシンクロナス方式を説明する図面である。 図3のソースシンクロナス方式のタイミングダイヤグラムを説明する図面である。 RDRAMのデータ伝送方式を説明する図面である。 RDRAMでの出力データ信号発生のための回路構成を説明する図面である。 ヘイスティングDLL回路を説明する図面である。 本発明の一実施形態のメモリ装置を説明する図面である。 図8のメモリ装置の動作タイミングダイヤグラムを説明する図面である。
符号の説明
800 メモリ装置
810 DLL回路
811 第1位相検出部
812 ステートマシン
813 第1合算部
814 第2合算部
815 第1ミキサー部
816 第2ミキサー部
820 第1経路部
830 第2経路部
840 第3経路部
850 出力ドライバ複写部
860、871、872、873、874 MUX部
881、882、883、884 出力ドライバ
890 位相検出部
895 アップダウンカウンター
CTM クロック信号
CAL キャリブレーション信号
FSM 最終ステートマシン
DQx 出力データパッド

Claims (14)

  1. 出力データ信号と外部クロック信号との間のスキューを補償する回路装置において、
    前記出力データ信号と前記外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する位相検出部と、
    前記スキューの補償を指令するキャリブレーション信号によってイネーブルされ、前記アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生するアップダウンカウンターと、
    前記キャリブレーション信号に応答して前記オフセットコードを受信し、前記外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生するDLL回路と、
    前記第1クロック信号に応答して前記出力データ信号を発生する出力ドライバと、
    を具備することを特徴とする回路装置。
  2. 前記DLL回路は、
    前記外部クロック信号に対して0゜の前記第1位相差を有する前記第1クロック信号と、前記外部クロック信号に対して90゜の前記第2位相差を有する前記第2クロック信号とを発生することを特徴とする請求項1に記載の回路装置。
  3. 前記DLL回路は、
    前記第2クロック信号と前記外部クロック信号との位相差を検出する位相検出部と、
    前記位相検出部により検出された前記位相差に応答して遅延を調整するステートマシンと、
    前記キャリブレーション信号に応答して前記アップダウンカウンターから提供されるオフセットコードを受信する第1合算部と、
    前記第1合算部の出力と前記ステートマシンの出力とを受信する第2合算部と、
    前記第2合算部の出力に応答して前記第1クロック信号を発生する第1位相ミキサー部と、
    前記ステートマシンの出力に応答して前記第2クロック信号を発生する第2位相ミキサー部と、
    を具備することを特徴とする請求項2に記載の回路装置。
  4. 出力データ信号と外部クロック信号との間のスキューを補償するメモリ装置において、
    前記出力データ信号と前記外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する位相検出部と、
    前記スキュー補償を指令するキャリブレーション信号によってイネーブルされ、前記アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生するアップダウンカウンターと、
    前記キャリブレーション信号に応答して前記オフセットコードを受信し、前記外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生するDLL回路と、
    前記第1クロック信号によってトグルされ、前記キャリブレーション信号に応答して前記出力データ信号を発生する出力ドライバと、
    前記出力ドライバと同一に構成され、前記第2クロック信号を入力して前記DLL回路にフィードバックする出力ドライバ複写部と、
    を具備することを特徴とするメモリ装置。
  5. 前記DLL回路は、
    前記外部クロック信号に対して0゜の前記第1位相差を有する前記第1クロック信号と、前記外部クロック信号に対して90゜の前記第2位相差を有する前記第2クロック信号とを発生することを特徴とする請求項4に記載のメモリ装置。
  6. 前記メモリ装置は、
    前記第1クロック信号が通る伝送ラインを含む第1経路部と、
    前記第2クロック信号が通る伝送ラインを含み、前記第2クロック信号のデューティーを調節する第2経路部と、
    前記第1クロック信号のデューティーを調節する第3経路部と、
    を具備することを特徴とする請求項4に記載のメモリ装置。
  7. 前記メモリ装置は、
    前記第1クロック信号、前記キャリブレーション信号及び内部データ信号に応答して前記出力ドライバを制御するマルチプレクサを具備することを特徴とする請求項4に記載のメモリ装置。
  8. 前記DLL回路は、
    前記外部クロック信号と前記出力ドライバ複写部の出力とを入力して前記外部クロック信号と前記出力ドライバ複写部出力との間の位相差を検出する位相検出部と、
    前記位相検出部により検出された前記位相差に応答して可変遅延量を調整するステートマシンと、
    前記キャリブレーション信号に応答して前記アップダウンカウンターから提供されるオフセットコードを受信する第1合算部と、
    前記第1合算部の出力と前記ステートマシンの出力とを受信する第2合算部と、
    前記第2合算部の出力に応答して前記第1クロック信号を発生する第1位相ミキサー部と、
    前記ステートマシンの出力に応答して前記第2クロック信号を発生する第2位相ミキサー部と、
    を具備することを特徴とする請求項4に記載のメモリ装置。
  9. 前記メモリ装置は、
    前記外部クロック信号と前記出力データ信号との間のセンタリングエラーを前記第1クロック信号に反映させるために、前記オフセットコードを前記第1合算部に提供することを特徴とする請求項8に記載のメモリ装置。
  10. 出力データ信号と外部クロック信号との間のスキューを補償する方法において、
    前記出力データ信号と前記外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する段階と、
    前記スキュー補償を指令するカリブレーション信号と前記アップまたはダウン信号とに応答して所定のオフセットコードを発生する段階と、
    DLL回路を通じて前記外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生する段階と、
    前記第2クロック信号と前記外部クロック信号との位相差を検出する段階と、
    前記検出された位相差に応答して遅延を調整する段階と、
    前記キャリブレーション信号に応答して前記アップダウンカウンターから提供されるオフセットコードを受信して前記第1クロック信号と前記第2クロック信号とを発生する段階と、
    を具備することを特徴とするクロックスキュー補償方法。
  11. 前記外部クロック信号に対して0゜の前記第1位相差を有するように前記第1クロック信号を発生し、前記外部クロック信号に対して90゜の前記第2位相差を有するように前記第2クロック信号を発生することを特徴とする請求項10に記載のクロックスキュー補償方法。
  12. メモリ装置の出力データ信号と外部クロック信号との間のスキューを補償する方法において、
    前記外部クロック信号に対して第1及び第2位相差をそれぞれ有する第1クロック信号及び第2クロック信号を発生する段階と、
    前記出力データ信号と前記外部クロック信号との位相差を検出してアップまたはダウン信号を発生する段階と、
    前記スキューの補償を指令するキャリブレーション信号を活性化し、前記アップまたはダウン信号に応答して所定のオフセットコードを発生する段階と、
    前記活性化されたキャリブレーション信号に応答して前記オフセットコードを受信し、前記第1クロック信号のエッジと前記第1クロック信号によってトグルされる前記出力データ信号のエッジとを一致させる段階と、
    前記キャリブレーション信号の非活性化に応答して前記オフセットコードをリセットする段階と、
    前記オフセットコードのリセットに応答して前記外部クロック信号のエッジに前記出力データ信号の中間点を一致させる段階と、
    を具備することを特徴とするメモリ装置のクロックスキュー補償方法。
  13. 前記外部クロック信号に対して0゜の前記第1位相差を有するように前記第1クロック信号を発生し、前記外部クロック信号に対して90゜の前記第2位相差を有するように前記第2クロック信号を発生することを特徴とする請求項12に記載のメモリ装置のクロックスキュー補償方法。
  14. 前記メモリ装置は、
    位相検出部と、
    アップダウンカウンターと、
    を具備し、前記位相検出部及び前記アップダウンカウンターは前記クロックスキューに相当する前記オフセットコードを発生させることを特徴とする請求項12に記載のメモリ装置のクロックスキュー補償方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007149059A (ja) * 2005-07-29 2007-06-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
KR100915387B1 (ko) * 2006-06-22 2009-09-03 삼성전자주식회사 병렬 인터페이스의 데이터 신호와 클럭 신호 간의 스큐를보상하는 방법 및 장치
KR101293509B1 (ko) * 2005-07-29 2013-08-06 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7469354B2 (en) * 2005-04-21 2008-12-23 Infineon Technologies Ag Circuit including a deskew circuit for asymmetrically delaying rising and falling edges
US7668524B2 (en) * 2005-12-23 2010-02-23 Intel Corporation Clock deskewing method, apparatus, and system
EP1819050B1 (en) * 2006-02-09 2009-05-27 Infineon Technologies AG Delay line calibration circuit comprising asynchronous arbiter element
KR100832021B1 (ko) * 2006-06-29 2008-05-26 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자 및 그 구동방법
KR100763849B1 (ko) * 2006-08-10 2007-10-05 삼성전자주식회사 멀티 위상 클럭 신호들간의 위상 스큐를 감소시키는 위상보정 회로, 그 방법 및 상기 회로를 구비하는 반도체 장치
TWI311326B (en) * 2006-12-01 2009-06-21 Realtek Semiconductor Corp Memory controller and signal synchronizing method thereof
KR101358853B1 (ko) 2007-07-11 2014-02-05 삼성전자주식회사 클럭 신호의 위상 변경 방법 및 그 방법을 이용한 메모리칩
KR101036922B1 (ko) * 2008-04-11 2011-05-25 주식회사 하이닉스반도체 쿼드러쳐 위상 보정회로
KR101046730B1 (ko) * 2008-12-30 2011-07-05 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 구동 방법
JP5600049B2 (ja) * 2010-11-11 2014-10-01 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル 半導体装置
KR102077684B1 (ko) 2013-01-09 2020-02-14 삼성전자주식회사 내부 스큐를 보상하는 반도체 장치 및 그것의 동작 방법
TWI489482B (zh) * 2014-04-25 2015-06-21 群聯電子股份有限公司 取樣電路模組、記憶體控制電路單元及資料取樣方法
US10581417B2 (en) * 2017-09-29 2020-03-03 International Business Machines Corporation Skew sensor with enhanced reliability

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09512966A (ja) * 1994-02-15 1997-12-22 ランバス・インコーポレーテッド 遅延ロック・ループ
JP2000124795A (ja) * 1998-10-13 2000-04-28 Nec Corp デジタルdll回路
JP2001118385A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Nec Corp 遅延同期ループの同期方法、遅延同期ループ及び該遅延同期ループを備えた半導体装置
JP2004531981A (ja) * 2001-06-25 2004-10-14 ランバス・インコーポレイテッド 同期式チップーチップシステムのデータリカバリ装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1086521C (zh) * 1997-04-25 2002-06-19 松下电器产业株式会社 减小时钟信号和数据信号间失真的集成电路、系统和方法
JP3429977B2 (ja) * 1997-05-16 2003-07-28 富士通株式会社 スキュー低減回路及び半導体装置
US6327318B1 (en) * 1998-06-30 2001-12-04 Mosaid Technologies Incorporated Process, voltage, temperature independent switched delay compensation scheme
US6622255B1 (en) * 2000-09-13 2003-09-16 Intel Corporation Digital clock skew detection and phase alignment
US6738922B1 (en) * 2000-10-06 2004-05-18 Vitesse Semiconductor Corporation Clock recovery unit which uses a detected frequency difference signal to help establish phase lock between a transmitted data signal and a recovered clock signal
US7076377B2 (en) * 2003-02-11 2006-07-11 Rambus Inc. Circuit, apparatus and method for capturing a representation of a waveform from a clock-data recovery (CDR) unit
US7046060B1 (en) * 2004-10-27 2006-05-16 Infineon Technologies, Ag Method and apparatus compensating for frequency drift in a delay locked loop

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09512966A (ja) * 1994-02-15 1997-12-22 ランバス・インコーポレーテッド 遅延ロック・ループ
JP2000124795A (ja) * 1998-10-13 2000-04-28 Nec Corp デジタルdll回路
JP2001118385A (ja) * 1999-10-19 2001-04-27 Nec Corp 遅延同期ループの同期方法、遅延同期ループ及び該遅延同期ループを備えた半導体装置
JP2004531981A (ja) * 2001-06-25 2004-10-14 ランバス・インコーポレイテッド 同期式チップーチップシステムのデータリカバリ装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007149059A (ja) * 2005-07-29 2007-06-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
KR101293509B1 (ko) * 2005-07-29 2013-08-06 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
KR100915387B1 (ko) * 2006-06-22 2009-09-03 삼성전자주식회사 병렬 인터페이스의 데이터 신호와 클럭 신호 간의 스큐를보상하는 방법 및 장치

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