JP2005011390A - 光ディスク装置およびレーザ出力制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】半導体レーザに供給する駆動電流を制御するレーザ出力制御手段と、光ディスクへの情報の再生時に、少なくとも任意の2つのレーザ出力設定値と該レーザ出力を得るための駆動電流との相関値を測定する測定手段と、該測定した相関値を記憶する記憶手段と、該記憶された相関値から、単位電流あたりのレーザ出力の変化量を算出するとともに、該変化量および前記記憶された任意の相関値から、光ディスクへの情報の記録時に用いられる他のレーザ出力値を得るための駆動電流値を算出する演算手段とを備えることにより、簡易な構成で、様々な値のレーザ出力値を正確に制御する光ディスク装置を提供する。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置および光ディスクへの情報の記録、再生、消去を行う半導体レーザのレーザ出力制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ディスクに情報の記録を行うための半導体レーザのレーザ出力は、多値にわたり、しかも、幅の狭いパルス波形が要求されることから、従来のサンプルホールド方式では、サンプルホールド部とAPC(APC:Auto Power Control)制御部がいくつも必要となるといった問題があった。また、パルス幅がある程度狭い波形の場合には、サンプルホールド方式では、正しいサンプリングができない等の問題があった。
【0003】
こうした問題に対応するために、サンプルホールド方式に加え、半導体レーザのレーザ出力を検出するFPD(FPD:Front Monitor Photo Diode)の出力をピークホールドあるいはボトムホールドして、この値に基づいてAPC制御を行う方法やFPDの出力の平均値を測定し、ライトストラテジ(パルスデューティ)から目標のレーザ出力の相当値を算出して、APC制御を行う方法が提案されている。また、APC制御部を簡略化する方法として、APC制御部をCD−RWとCD−Rとで兼用する技術も提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
【0004】
【特許文献1】
特開平10−312570号公報(第2−5頁、第3図)
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、前者の方法では、FPD出力のリンキングやノイズ等の影響でサンプリングに誤動作が生じやすく、こうした問題を回避するために適当なLPF(LPF:Low Pass Filter)を通すと、パルス幅の短い部分が正しくピークホールドあるいはボトムホールドできないという問題がある。一方、後者の方法では、用いるライトストラテジにより、計算式をその都度、変更する必要がある。さらに、記録するマークの前後のスペース長によりライトストラテジをダイナミックに変更する場合は、目標のレーザ出力を求めるための計算式の策定が非常に困難であるという問題がある。また、特許文献1には、CD−Rの再生パワー、標準パワー、補正パワーをCD−RWの再生パワー、消去パワー、記録パワーに割り当てることが記載されているが、その適切な値をどのように算出し、環境の変化等に対して、どのような手法で適切な制御を行うのかについては記載がない。さらに、光ディスク装置に用いられる半導体レーザは、温度により特性が変化することから、半導体レーザを使用する環境状態を的確に把握し、制御することも必要である。
【0006】
そこで、本発明は、上述した問題点に鑑みてなされたものであって、簡易な構成で、光ディスクの記録、再生、消去に必要な様々な値のレーザ出力値を正確に制御する光ディスク装置およびレーザ出力制御方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するため、本発明は、以下の手段を提案している。
請求項1に係る発明は、光ディスクへの情報の記録、再生あるいは消去を行う半導体レーザと、予め設定されたレーザ出力を得るために、前記半導体レーザに供給する駆動電流を制御するレーザ出力制御手段と、光ディスクの情報の再生時に、少なくとも任意の2つのレーザ出力設定値と該レーザ出力を得るための駆動電流との相関値を測定する測定手段と、該測定した相関値を記憶する記憶手段と、該記憶された相関値から、単位電流あたりのレーザ出力の変化量を算出するとともに、該変化量および前記記憶された任意の相関値から、光ディスクへの情報の記録時に用いられる他のレーザ出力値を得るための駆動電流値を算出する演算手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【0008】
請求項5に係る発明は、光ディスクの情報の再生時に、少なくとも任意の2つのレーザ出力設定値と該レーザ出力を得るための駆動電流との相関値を測定するステップと、該測定した相関値を記憶し、該記憶された少なくとも2つの相関値から、単位電流あたりのレーザ出力の変化量を算出するステップと、該変化量および前記記憶された任意の相関値から、光ディスクへの情報の記録時に用いられる他のレーザ出力値を得るための駆動電流値を算出するステップとを備えたことを特徴とするレーザ出力制御方法を提案している。
【0009】
これらの発明によれば、測定手段の作動により、光ディスクの情報の再生時に、少なくとも任意の2つのレーザ出力設定値と該レーザ出力を得るための駆動電流との相関値が測定し、記憶手段に記憶される。ここで、駆動電流とレーザ出力とは、リニアな特性となっているため記憶した複数の相関値に基づいて、演算手段の作動により、これらの相関値から単位電流あたりのレーザ出力の変化量が算出される。さらに、変化量および記憶された任意の相関値から、光ディスクへの情報の記録時に用いられる他のレーザ出力値を得るための駆動電流値が算出される。
【0010】
請求項2に係る発明は、請求項1に記載された光ディスク装置について、記録動作を制御する記録動作制御手段と、前記半導体レーザの周囲温度を測定する温度測定手段とを備え、前記光ディスクへの情報の記録時に、該温度測定手段が前記半導体レーザの周囲温度の変化が所定値以上になったことを検出したときに、前記記録動作制御手段が、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、前記測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、前記演算手段により該測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【0011】
この発明によれば、温度測定手段の作動により、半導体レーザの周囲温度が測定される。記録動作制御手段は、温度測定手段により測定された温度の変化が所定値以上になったことを検出したときは、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、演算手段により測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開させる。
【0012】
請求項3に係る発明は、請求項2に記載された光ディスク装置について、記録動作を制御する記録動作制御手段と、前記半導体レーザの駆動電流を監視する駆動電流監視手段とを備え、前記光ディスクへの情報の記録時に、前記駆動電流監視手段が前記半導体レーザの駆動電流値の変化が所定値以上になったことを検出したときに、前記記録動作制御手段が、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、前記測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、前記演算手段により該測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【0013】
この発明によれば、駆動電流監視手段の作動により、半導体レーザの駆動電流値が測定される。記録動作制御手段は、駆動電流監視手段により測定された半導体レーザの駆動電流の変化が所定値以上になったことを検出したときは、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、演算手段により測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開させる。
【0014】
請求項4に係る発明は、請求項2に記載された光ディスク装置について、記録動作を制御する記録動作制御手段と、光ディスクへの情報の記録時間を検出する記録時間検出手段とを備え、該記録時間検出手段が記録動作が所定時間以上連続したと判断したときに、前記記録動作制御手段が、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、前記測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、前記演算手段により該測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【0015】
この発明によれば、この発明によれば、記録時間検出手段の作動により、記録動作の継続時間が測定される。記録動作制御手段は、記録時間検出手段により測定された記録動作の継続時間が予め定められた所定値以上になったことを検出したときは、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、演算手段により測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開させる。
【0016】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第1の実施形態に係る光ディスク装置およびレーザ出力制御方法について図1から図7を参照して詳細に説明する。
本発明の実施形態に係る光ディスク装置のレーザ出力制御部は、図1に示すように、半導体レーザ(LD)1と、フロントモニタダイオード(FPD)2と、電流電圧変換抵抗3a、3bと、増幅器4a、4b、4c、4dと、サンプルホールド回路(S/H)5a、5bと、LDドライバ6と、LDドライバ6内に備えられたスイッチ7a、7b、7c、7d、7eと、エンコーダ8、A/Dコンバータ9a、9bと、CPU10と、D/Aコンバータ11a、11b、11c、11d、11eと、温度検出部13とを備えている。なお、本実施形態においては、レーザ出力制御部は2系統設けられている。
【0017】
半導体レーザ1は、所定の電流を供給することにより、レーザ発光する半導体素子であり、光ディスク装置においては、ディスク上への情報の記録あるいはディスクに記録された情報の再生、消去を行うために用いられ、光ディスク装置の光ピックアップ内に備えられている。フロントモニタダイオード(FPD)2は、光ピックアップ内において、半導体レーザ1に対向して設けられ、半導体レーザ1から発せられたレーザ光を受光し、これを電流値に変換する。この電流値をモニターすることによりレーザパワーを監視できる。
【0018】
電流電圧変換抵抗3a、3bは、フロントモニタダイオード(FPD)2から出力された電流を次段の増幅器4a、4bで電圧増幅するために、電流を電圧に変換する抵抗器である。増幅器4a、4bは、次段のサンプルホールド回路(S/H)5a、5bを有効に機能させるために、電圧に変換されたフロントモニタダイオード(FPD)2からの出力を増幅する。サンプルホールド回路(S/H)5a、5bは、電圧に変換されたレーザ出力を所定の間隔でサンプルホールドして、その結果を出力する。この出力値と設定値を比較制御することにより、半導体レーザ1のレーザ出力を制御する。増幅器4c、4dは、サンプルホールド回路(S/H)5a、5bの出力値とD/Aコンバータ11a、11bの出力値との差分を増幅する。
【0019】
LDドライバ6は、増幅器4c、4dの出力を入力して、半導体レーザ1に供給するための電流を生成する。なお、本実施形態においては、LDドライバが5系統備えられており、それぞれの出力が結合されている。したがって、後述するスイッチ7a、7b、7c、7d、7eをエンコーダ8でコントロールし、スイッチがONとなったLDドライバの出力が加算されて半導体レーザ1に出力される。LDドライバ内に備えられたスイッチ7a、7b、7c、7d、7eは、エンコーダ8からのON/OFF信号に従って動作し、本実施形態においては、5系統備えられたLDドライバの出力をそれぞれ制御する。
【0020】
A/Dコンバータ9a、9bは、LDドライバ6の入力電圧をデジタル値に変換してCPU10に入力する。CPU10は、制御プログラムを格納し、光ディスク装置の全体を制御するとともに、レーザ出力制御部においては、A/Dコンバータ9a、9bからの入力値を格納し、この値をもとに、他のレーザ出力を制御するための電流値を演算し、所望の値をD/Aコンバータ11a、11b、11c、11d、11eに出力する。
【0021】
温度検出部13は、半導体レーザ1の近傍に設けられており、半導体レーザ1の温度を検出するために、例えば、サーミスタと抵抗等から構成された温度センサーが備えられている。その出力は、CPU10の所定のポートに入力され、半導体レーザ1の周囲温度が適宜監視されている。したがって、記録動作開始時の温度を測定し、この値を初期値として所定の記憶装置に格納し、所定間隔ごとに温度を逐次測定して初期値と比較することで、その間の温度変化を測定することができる。
【0022】
また、CPU10には、タイマが内蔵されており、時間の計測が行えるようになっている。したがって、装置内部の発熱量を予め把握することにより、記録時間を計測して、温度変化を推定することができる。
【0023】
次に、図2を用いて、レーザ出力のタイミングについて説明する。
図2は、ブロックパルスライトストラテジと呼ばれるCD−Rに情報を記録する際に、用いられるレーザ出力パターンである。この出力パターンは、ディスクの組成等を考慮し、品質の高いピットを形成するために定められたものであり、5つの異なるレーザ出力Ph、Pp、Pw、Pc、Prが設定されている。したがって、これらの値がレーザ出力を制御する上での所定の値となる。また、Prcは記録直前の再生区間(Latency)において、Prの設定値をPr→Prcとした際のレーザ出力を示す。
【0024】
Write Gateは、記録モードを示す信号であり、Write GateがHiレベルになると記録モードになる。S/H Pwは、Pwを制御するためのサンプルホールドのタイミング信号であり、S/H Prは、Prを制御するためのサンプルホールドのタイミング信号である。PcEN、PrEN、PwEN、PpEN、PhENは、エンコーダ8からの出力信号を示しており、各信号がHiレベルのときは、対応するLDドライバ6内のスイッチ7a、7b、7c、7d、7eが閉じられる。
【0025】
具体的には、Phは、PcENとPhEN、PrENとがHiレベルになって、これらに対応するスイッチが閉じられることで、これらのスイッチに接続されるLDドライバの出力が加算されて生成される。同様に、Ppは、PcENとPrEN、PhEN、PwEN、PpENがHiレベルになり、Pwは、PcENとPrEN、PhEN、PwENとがHiレベルになり、Pcは、PcENがHiレベルになり、Prは、PcENとPrENとがHiレベルになることにより生成される。
【0026】
次に、図3および図4を用いて、レーザ駆動電流とレーザ光出力との関係について説明する。
光ディスク装置に用いられる半導体レーザ1は、所定の電流値を供給することにより発光する。レーザ駆動電流とレーザ光出力との関係は、図3および図4に示すように、リニアな特性になっており、レーザ駆動電流を定めれば、一義的にレーザ光出力が決定する関係にある。半導体レーザ1は、また、負の温度特性をもっており、半導体レーザ1の温度が上昇すると、発光させるためのレーザ駆動電流が増加し、レーザ駆動電流とレーザ光出力との関係を示す直線の傾きも緩やかになる。
【0027】
図3および図4の横軸は、レーザ駆動電流の値を、縦軸は、レーザ出力の値を示しており、半導体レーザ1の温度の高低により、2つの特性が描かれている。図3からPc1のレーザ出力を得るためには、Ic1あるいは、Ic2の電流が必要である。また、Prのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ir1あるいはIc2+Ir2の電流が、Prcのレーザ出力を得るためには、Ic1+Irc1あるいはIc2+Irc2の電流が、Phのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ir1+Ih1あるいは、Ic2+Ir2+Ih2の電流が、Pwのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ir1+Ih1+Iw1あるいはIc2+Ir2+Ih2+Iw2の電流が、Ppのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ir1+Ih1+Iw1+Io1あるいはIc2+Ir2+Ih2+Iw2+Io2の電流が必要である。
【0028】
なお、実際の制御においては、レーザ出力に対する駆動電流値を用いるのではなく、LDドライバ6の入力電圧値により各レーザ出力を制御している。したがって、Pwは、光ディスクに情報を記録している時のサンプルホールド回路S/H5a、5bによる通常のAPC制御においてLDドライバ6に入力する電圧値Vwが求められる。また、Prは、光ディスクに情報を記録している時のサンプルホールド回路S/H5a、5bによる通常のAPC制御においてLDドライバ6に入力する電圧値Vrが求められる。PhおよびPpについては、先に求めたPwおよびPrに対する電圧値Vw、Vrとレーザ出力との関係から定まる単位電圧あたりのレーザ出力の変化量と、例えば、Vrとから演算によってVhおよびVoを求める。また、Pcについては、光ディスクの記録エリアの直前にある再生区間(Latency)で、Vrを測定し、この結果からVcを算出する。
【0029】
各レーザ出力に対応したLDドライバ6の入力電圧を図3の関係を用いて、数式で表すと、以下のようになる。
すなわち、半導体レーザ1の温度が低い場合には、
Vh1=(Vh10+Vw1)*(Ph−Pr)/(Pw−Pr)
Vo1=(Vh1+Vw1)*(Pp−Pw)/(Pw−Pr)
Vc1=(Vr1−Vrc1)*(Pc−Pr)/(Pr−Prc)+Vco+Vr1
となる。
【0030】
また、半導体レーザ1の温度が高い場合には、
Vh2=(Vh20+Vw2)*(Ph−Pr)/(Pw−Pr)
Vo2=(Vh2+Vw2)*(Pp−Pw)/(Pw−Pr)
Vc2=(Vr2−Vrc2)*(Pc−Pr)/(Pr−Prc)+Vco+Vr2
となる。
ここで、Vw1、Vw2は、APCの結果を記録中にA/D2:9bにより測定した値であり、Vh10およびVh20は、Vhの仮設定値あるいは前回求めたVh1あるいはVh2の演算結果であり、Vcoは、Vcの仮設定値、Pp、Pw、Ph、Pr、Pcは、レーザ出力の目標値である。また、Vrc1およびVrc2は、Latency中にレーザ出力をPrcとした時のAPCの結果をA/D1:9aにより測定した値である。
【0031】
次に、図4から図7を用いて、再生区間(Latency)で再生中にVcの演算および設定を行う場合の処理フローについて説明する。
まず、CPU10は、光ディスクの記録開始アドレスに向けて、図示しないドライバを駆動させてピックアップを移動させてシーク動作を実行させる(ステップ101)。そして、Latencyエリアにピックアップが到達したか否かの判断を行い、まだ、Latencyエリアに到達していないと判断したときは、シーク動作を続行する(ステップ102)。一方で、Latencyエリアに到達したと判断したときは、Vcの算出処理を行い(ステップ103)、算出したVcの値をD/A3:11cに設定する(ステップ104)。
【0032】
Vcの算出処理は、図7に示すように、まず、VrをA/D1:9aから測定する(ステップ151)。次に、Prの値をPrとは異なるPrcとして設定する(ステップ152)。次に、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボのゲイン設定をPr/Prcだけ補正して(ステップ153)、VrcをA/D1:9aから測定する(ステップ154)。Vrcの測定が完了すると、先程、設定したPrcの設定値をPrcから測定したPrに戻す(ステップ155)。ついで、サーボゲイン設定をもとに戻すとともに(ステップ156)、VrとVrcとの関係からVcを演算する(ステップ157)。Vcの算出処理が終了すると、Pwの目標値、Vh、Voの仮設定値をそれぞれD/A1:11a、D/A4:11d、D/A5:11eに設定し(ステップ105から107)、ついで、そのときの半導体レーザ1の周囲温度T0を測定し、CPU10内の記憶装置に格納する(ステップ108)。
【0033】
上記の設定が完了すると、CPU10は、ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達したか否かの判断を行う(ステップ109)。このとき、ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達していないと判断したときは、ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達するまで処理を続行する。ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達したと判断したときは、CPU10は、Write GateをHiレベルにして記録動作を開始する(ステップ110)。
【0034】
次に、VwをA/D2:9bの値から測定し(ステップ111)、測定されたVwを用いて、Vo、Vhの値が演算される(ステップ112)。演算されたVo、Vhは、それぞれ、D/A4:11d、D/A5:11eに設定される(ステップ113、114)。これらの値の設定が終了すると、現在のピックアップの位置が記録終了アドレスか否かが判断され、記録終了アドレスでない場合には、このときの半導体レーザ1の周囲温度T1が測定され(ステップ118)、先に測定した記録動作前の温度との温度変化が求められる。ここで、求めた温度変化が予め定めた規定値の範囲内である場合には、ステップ111に戻って、記録動作を続行する(ステップ119)。一方で求めた温度上昇が予め定めた規定値の範囲を越えている場合には、記録動作が中断され(ステップ120)、記録開始アドレスを記録再開アドレスに書き換えて(ステップ121)、目的のアドレスにシーク動作を行う。この後、再度Vcの算出(ステップ103)およびVcの設定(ステップ104)が行われ、以降、フローに従って記録が再開される。また、半導体レーザ1は図15に示すような温度特性を持つが、記録中の温度変化が規定値を越えた場合はVcが再度設定されるため、温度によらず、常に正しいPcが得られる。なお、VhやVoは記録中に逐次設定が更新されるため、温度変化が発生した場合にも正しい値が設定される。
【0035】
なお、Vo、Vhの仮設定値は、初回記録時には、予めCPU10内の記憶装置にテーブルデータとして記憶されている代表値あるいはOPC時の結果が使用され、2回目以降は、説明したように、初回の演算値が使用される。また、Vcの仮設定値についても、記録開始前には、予めCPU10内の記憶装置にテーブルデータとして記憶されている代表値が使用され、初回記録のLatencyエリア内でVcを再設定して、それ以降は、記録が終了して再生動作中も再設定された値が使用される。なお、2回目記録時以降は、Latencyエリア内でVcが再設定される。また、上記の実施形態においては、温度により、記録の中断および再開を行っているが、Vwの変化や連続記録時間等から記録動作を制御することもできる。
【0036】
次に、本発明の第2の実施形態に係る光ディスク装置およびレーザ出力制御方法について図8から図14を参照して詳細に説明する。なお、第2の実施形態に係る光ディスク装置のレーザ出力制御部は、図8に示すように、第1の実施形態に係る光ディスク装置のレーザ出力制御部とほぼ同様の構成であるが、第2の実施形態においては、記録中にPbの制御を行うため、D/A2:11bの出力に、再生時あるいは記録時でそれぞれ出力先を切換える切換スイッチSW1:13が設けられている。なお、このスイッチSW1:13は、Write Gate信号により制御される。
【0037】
第2の実施形態に係るレーザ出力のタイミングは、図9に示すようになっている。このレーザ出力のタイミングは、マルチパルスライトストラテジと呼ばれるCD−RWに情報を記録する際に、用いられるレーザ出力パターンである。この出力パターンは、ディスクの組成等を考慮し、品質の高いピットを形成するために定められたものであり、6つの異なるレーザ出力Pr、Pe、Ppt、Ppm、Pb、Pcが設定されている。また、Prcは記録直前の再生区間(Latency)において、Prの設定値をPr→Prcとした際のレーザ出力を示す。
【0038】
Write Gateは、記録モードを示す信号であり、Write GateがHiレベルになると記録モードになる。S/H Prは、Prを制御するためのサンプルホールドのタイミング信号であり、S/H Peは、Peを制御するためのサンプルホールドのタイミング信号である。PcEN、PrEN、PeEN、PpEN、PptENは、エンコーダ8からの出力信号を示しており、各信号がHiレベルのときは、対応するLDドライバ6のスイッチ7a、7b、7c、7d、7eが閉じられる。
【0039】
具体的には、Prは、PrENとPcENとがHiレベルになって、これらに対応するスイッチが閉じられることで、これらのスイッチに接続されるLDドライバの出力が加算されて生成される。同様に、Peは、PcENとPrEN、PeENがHiレベルになると、Pptは、PcENとPrEN、PeEN、PpEN、PptENとがHiレベルになると、Ppmは、PcENとPrEN、PeEN、PpENがHiレベルになると、Pbは、PcENとPrENとがHiレベルになると、Pcは、PcENがHiレベルになることにより生成される。
【0040】
次に、図10および図11を用いて、レーザ駆動電流とレーザ光出力との関係について説明する。
図10および図11の横軸は、レーザ駆動電流の値を、縦軸は、レーザ出力の値を示しており、半導体レーザ1の温度の高低により、2つの特性が描かれている。図10からPcのレーザ出力を得るためには、Ic1あるいは、Ic2の電流が必要である。また、Pbのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ib1あるいはIc2+Ib2の電流が、Peのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ib1+IeまたはIc2+Ib2+Ie2の電流が、Ppmのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ib1+Ie1+Ipm1あるいはIc2+Ib2+Ie2+Ipm2の電流が、Pptのレーザ出力を得るためには、Ic1+Ib1+Ie1+Ipm1+Ipt1あるいはIc2+Ib2+Ie2+Ipm2+Ipt2の電流が必要である。また、Prのレーザ出力を得るためにはIc1+Ir1またはIc2+Ir2の電流が、Prcのレーザ出力を得るためにはIc1+Irc1またはIc2+Irc2の電流が必要である。
【0041】
なお、実際の制御においては、レーザ出力に対する駆動電流値を用いるのではなく、LDドライバ6の入力電圧値により各レーザ出力を制御している。したがって、Peは、光ディスクに情報を記録している時のサンプルホールド回路5a、5bによる通常のAPC制御においてLDドライバ6に入力する電圧値Veが求められ、Prは、光ディスクに記録されている情報を再生している時のサンプルホールド回路による通常のAPC制御においてLDドライバ6に入力する電圧値Vrが求められる。Ppm、Pptについては、先に求めたPeに対する電圧値Veから演算によって求める。また、PcおよびPbについては、光ディスクの記録エリアの直前にある再生区間(Latency)で、Vrを測定し、この結果からVcを算出する。
【0042】
各レーザ出力に対応したLDドライバ6の入力電圧を図10の関係を用いて、数式で表すと、以下のようになる。
すなわち、半導体レーザ1の温度が低い場合には、
Vpm1=Ve1*(Ppm−Pe)/(Pe−Pb)
Vpt1=Ve1*(Ppt−Ppm)/(Pe−Pb)
Vc1=(Vr1−Vrc1)*(Pc−Pr)/(Pr−Prc)+Vco+Vr1
Vb1=(Vr1−Vrc1)*(Pb−Pr)/(Pr−Prc)+Vbo+Vr1
となる。
【0043】
また、半導体レーザ1の温度が高い場合には、
Vpm2=Ve2*(Ppm−Pe)/(Pe−Pb)
Vpt2=Ve2*(Ppt−Ppm)/(Pe−Pb)
Vc2=(Vr2−Vrc2)*(Pc−Pr)/(Pr−Prc)+Vco+Vr2
Vb2=(Vr2−Vrc2)*(Pb−Pr)/(Pr−Prc)+Vbo+Vr2
となる。
ここで、Ve1およびVe2は、APCの結果を記録中にA/D2:9bにより測定した値であり、Vbo、Vcoは、Vb、Vcの仮設定値あるいは前回求めたVb、Vcの演算結果であり、Vrc1、Vrc2は、Latency中にレーザ出力をPrcとした時のAPCの結果をA/D1:9aにより測定した結果であり、Pc、Pb、Pe、Pr、Ppm、Pptは、レーザ出力の目標値である。
【0044】
次に、図12から図14を用いて、再生区間(Latency)で再生中に、VcおよびVbの演算および設定を行う場合の処理フローについて説明する。
まず、CPU10は、光ディスクの記録開始アドレスに向けて、図示しないドライバを駆動させてピックアップを移動させてシーク動作を実行させる(ステップ201)。そして、Latencyエリアにピックアップが到達したか否かの判断を行い、まだ、Latencyエリアに到達していないと判断したときは、シーク動作を続行する(ステップ202)。一方で、Latencyエリアに到達したと判断したときは、VcおよびVbの算出処理を行う(ステップ203)。
【0045】
Vc、Vbの算出処理は、図14に示すように、まず、VrをA/D1:9aから測定する(ステップ251)。次に、Prの値をPrcとして設定する(ステップ252)。次に、トラッキングサーボおよびフォーカスサーボのゲイン設定をPr/Prcだけ補正して(ステップ253)、VrcをA/D1:9aから測定する(ステップ254)。Vrcの測定が完了すると、先程、設定したPrcの設定値をPrcから測定したPrに戻す(ステップ255)。ついで、ゲイン設定をもとに戻すとともに(ステップ256)、VrとVrcとの関係からVc、Vbを演算する(ステップ257)。Vcの算出処理が終了すると、Vcの設定値、Peの目標値、Vpm、Vptの仮設定値をそれぞれD/A3:11c、D/A1:11a、D/A4:11d、D/A5:11eに設定し(ステップ204から207)、ついで、そのときの半導体レーザ1の周囲温度T0を測定し、CPU10内の記憶装置に格納する(ステップ208)。
【0046】
上記の設定が完了すると、CPU10は、ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達したか否かの判断を行う(ステップ209)。このとき、ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達していないと判断したときは、ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達するまで処理を続行する。ピックアップが光ディスクの記録開始アドレスに到達したと判断したときは、CPU10は、Write GateをHiレベルにして記録動作を開始する(ステップ210)。
【0047】
Write GateをHiレベルにすると、SW1を再生モードから記録モードに切換える(ステップ211)次に、D/A2:11bの出力をPrの設定値からVbに変更する(ステップ212)。さらに、Veの値をA/D2:9bから測定し(ステップ213)、求めたIeからVpm、Vptを演算する(ステップ214)。求めたVpm、Vptは、それぞれD/A4:11d、D/A5:11eに設定される(ステップ215、216)。
【0048】
上記各設定が終了すると、現在のピックアップの位置が記録終了アドレスか否かが判断され(ステップ217)、記録終了アドレスでない場合には、このときの半導体レーザ1の周囲温度が測定される(ステップ222)。測定した温度は、記録動作開始前に測定した温度との間で温度変化が求められ、これが規定値の範囲内であるか否かが判断される(ステップ223)。このとき、温度変化が規定値の範囲内であれば、ステップ213に戻って、再び、Veの測定が実行される。一方で、温度上昇が規定値の範囲を越えている場合には、記録動作を中断する(ステップ224)。
【0049】
次に、SW1を記録モードから再生モードに切り替え(ステップ225)、D/A2:11bの値をVbの設定値からPrの設定値(Vr)に変更するとともに(ステップ226)、記録開始アドレスを記録再開アドレスに変更して(ステップ227)、ステップ201に戻り、ピックアップのシーク動作を実行する。この後、再度、Vc、Vbの算出処理(ステップ203)が行われ、以降はフローに従って記録が再開される。このように、記録中の温度変化が規定値を越えた場合は、VbおよびVcが再度設定されるため、常に正しい設定が可能となる。
【0050】
一方、上記各設定が終了後、現在のピックアップの位置が記録終了アドレスである場合には、Write GateをLowレベルにして記録動作を終了する(ステップ218)。このとき、SW1:13を記録モードから再生モードに変更し、D/A2:11bの値をVbの設定値からPrの設定値(Vr)に変更するとともに(ステップ219)、演算で求められたVpm、Vptの値は、次回の記録動作時に仮設定値として用いるために、図示しないCPU10内部の記憶装置に格納される(ステップ221)。
【0051】
なお、Vpm、Vptの仮設定値は、初回記録時には、予めCPU10内の記憶装置にテーブルデータとして記憶されている代表値あるいはOPC時の結果が使用され、2回目以降は、説明したように、初回記録中の値が使用される。また、Vcの仮設定値についても、記録開始前には、予めCPU10内の記憶装置にテーブルデータとして記憶されている代表値が使用され、初回記録のLatencyエリア内でVcを再設定して、それ以降は、記録が終了して再生動作中も再設定された値が使用される。なお、2回目記録時以降は、Latencyエリア内でVcが再設定される。また、上記の実施形態においては、温度により、記録の中断および再開を行っているが、Vwの変化や連続記録時間等から記録動作を制御することもできる。
【0052】
以上、図面を参照して本発明の実施形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。例えば、本実施形態においては、CD−R、CD−RWを例にとって説明を行ったが、他の形態の光ディスクにおいても同様に適用することができる。
【0053】
また、本実施形態においては、記録時および再生時に求められる少なくとも2つの設定値を正確に測定することにより、他の設定値を演算により求める方法を説明したが、これに限らず、設定値以外の任意の2点を測定して、これらか他の設定値を演算により求めてもよい。特に、CD−RWの記録時に必要なバイアスパワーPbは、形成するピットの品質を高める上で、極めて低レベルであることが望ましいが、光ディスクの記録時にこの値を的確に制御するのは難しい。そこで、バイアスパワーPbを求める場合には、バイアスパワーPbの設定値に対して、その近傍にある任意の2点の駆動電流と出力パワーとを測定して、これらの値に基づいて、Pbの設定値を演算により求めてもよい。
【0054】
【発明の効果】
以上のように、この発明によれば、簡易な構成で、光ディスクの記録、再生、消去に必要な様々な値のレーザ出力値を正確に制御することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施形態に係る構成図である。
【図2】第1の実施形態に係るレーザ出力の出力パターンを示した図である。
【図3】第1の実施形態に係るレーザ出力と駆動電流の関係を示した図である。
【図4】第1の実施形態に係るレーザ出力と駆動電流の関係を示した図である。
【図5】第1の実施形態において記録時に設定値を演算および設定するための処理フロー図である。
【図6】第1の実施形態において記録時に設定値を演算および設定するための処理フロー図である。
【図7】第1の実施形態におけるVcの算出処理フローである。
【図8】第2の実施形態に係る構成図である。
【図9】第2の実施形態に係るレーザ出力の出力パターンを示した図である。
【図10】第2の実施形態に係るレーザ出力と駆動電流の関係を示した図である。
【図11】第2の実施形態に係るレーザ出力と駆動電流の関係を示した図である。
【図12】第2の実施形態において、PrおよびPeの算出方法を示した図である。
【図13】第2の実施形態において、PrおよびPeの算出方法を示した図である。
【図14】第2の実施形態におけるVc、Vbの算出処理フローである。
【図15】半導体レーザの温度特性を示す図である。
【符号の説明】
1・・・半導体レーザ(LD)、2・・・フロントモニタダイオード(FPD)、3a、3b・・・電流電圧変換抵抗、4a、4b、4c、4d・・・増幅器、5a、5b・・・サンプルホールド回路(S/H)、6・・・LDドライバ、7a、7b、7c、7d、7e・・・スイッチ、8・・・エンコーダ、9a、9b・・・A/Dコンバータ、10・・・CPU、11a、11b、11c、11d、11e・・・D/Aコンバータ、12・・・SW1、13・・・温度検出部、
Claims (5)
- 光ディスクへの情報の記録、再生あるいは消去を行う半導体レーザと、
予め設定されたレーザ出力を得るために、前記半導体レーザに供給する駆動電流を制御するレーザ出力制御手段と、
光ディスクの情報の再生時に、少なくとも任意の2つのレーザ出力設定値と該レーザ出力を得るための駆動電流との相関値を測定する測定手段と、
該測定した相関値を記憶する記憶手段と、
該記憶された相関値から、単位電流あたりのレーザ出力の変化量を算出するとともに、該変化量および前記記憶された任意の相関値から、光ディスクへの情報の記録時に用いられる他のレーザ出力値を得るための駆動電流値を算出する演算手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。 - 記録動作を制御する記録動作制御手段と、
前記半導体レーザの周囲温度を測定する温度測定手段とを備え、
前記光ディスクへの情報の記録時に、該温度測定手段が前記半導体レーザの周囲温度の変化が所定値以上になったことを検出したときに、前記記録動作制御手段が、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、前記測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、前記演算手段により該測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開することを特徴とする請求項1に記載された光ディスク装置。 - 記録動作を制御する記録動作制御手段と、
前記半導体レーザの駆動電流を監視する駆動電流監視手段とを備え、
前記光ディスクへの情報の記録時に、前記駆動電流監視手段が前記半導体レーザの駆動電流値の変化が所定値以上になったことを検出したときに、前記記録動作制御手段が、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、前記測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、前記演算手段により該測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開することを特徴とする請求項1に記載された光ディスク装置。 - 記録動作を制御する記録動作制御手段と、
光ディスクへの情報の記録時間を検出する記録時間検出手段とを備え、
該記録時間検出手段が記録動作が所定時間以上連続したと判断したときに、前記記録動作制御手段が、一旦、記録動作を中断させ、再生動作を行うとともに、前記測定手段により再度少なくとも2つの任意の相関値を測定し、前記演算手段により該測定した相関値から所望のレーザ出力値を得るための駆動電流値を演算して、記録動作を再開することを特徴とする請求項1に記載された光ディスク装置。 - 光ディスクの情報の再生時に、少なくとも任意の2つのレーザ出力設定値と該レーザ出力を得るための駆動電流との相関値を測定するステップと、
該測定した相関値を記憶し、該記憶された少なくとも2つの相関値から、単位電流あたりのレーザ出力の変化量を算出するステップと、
該変化量および前記記憶された任意の相関値から、光ディスクへの情報の記録時に用いられる他のレーザ出力値を得るための駆動電流値を算出するステップとを備えたことを特徴とするレーザ出力制御方法。
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