JP2006323947A - 光ディスク記録装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 記録速度やライトストラテジに応じて、レーザーパワーレベルをサンプルする位置を学習して、動的に再設定できる光ディスク記録装置を提供する。
【解決手段】 コントローラー３２がレーザーＡＰＣ制御回路２６を制御してレーザーパワーの制御をホールド状態にする。この状態で、マーク部とスペース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル位置を最小分解能単位で変えながら、マーク部検出系とスペース／イレース部検出系でレーザーパワーレベルを測定する。そして、測定結果からコントローラー３２が最適なサンプル位置を計算し、位置＆幅制御回路３３を制御して、最適なサンプル位置をＳＨタイミング発生回路２９に設定する。マーク部検出系及びスペース／イレース部検出系は、ＳＨタイミング発生回路２９からのＳＨ信号に基づいて、レザーパワーレベルをサンプルホールドする。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光ディスクに情報を記録する時に、レーザーパワーレベルを測定して、レーザーパワー制御を行う光ディスク記録装置に関する。

従来、光ディスク装置にはレーザーパワーを安定的に保つために、レーザーパワーを制御する手段が設けられていた。通常、光ディスクには２値化されたデータが高速で記録されるので、記録情報が１となるマーク部と、記録情報が０となるスペース部に対する２種類のレーザー発光がある。光ディスク装置は、各レーザー発光に対応するレーザーパワーを実現するために、マーク部とスペース部でのレーザーパワーを受光素子で電圧変換して、その電圧レベルをサンプルホールドし、それぞれのレーザーパワーレベルを測定していた。そして、その測定結果に基づいてレーザーの駆動電流を設定して、レーザーパワーを制御していた。

以下、レーザーパワーを制御する従来の光ディスク装置の具体例について説明する。
従来、レーザーパワーに対応する電圧レベルをサンプルホールドするサンプルホールド回路を用いて、レーザーに供給する電流を制御する光ディスク装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。この装置では、再生用と記録用のサンプルホールド回路を備え、レーザーパワーに対応する電圧レベルをそれぞれ所定の時間的位置、すなわち、所定のタイミングでサンプルホールドして、現在発光しているレーザーパワーを測定する。そして、レーザーパワーの目標値を得るための駆動制御電圧を生成し、この電圧に対応する駆動電流をレーザーに供給する。

また、レーザーパワーを１４Ｔマークまたは１４Ｔスペースの区間でサンプルホールドする光ディスク装置も提案されている（例えば、特許文献２参照）。この装置によれば、最長の記録時間単位である１４Ｔマークまたは１４Ｔスペースの区間でレーザーパワーをサンプルホールドすることで、光ディスクへの情報の書き込み速度（記録速度）の高倍速化に伴い、光ディスクへの書き込み周波数が高くなっても、レーザーパワー制御が容易になる。

また、光ディスクの種類に応じて記録時のレーザーパワーを変えると、受光素子の帯域が不足してレーザーパワーに誤差が生じることから、この誤差を補正する手段を有する光ディスク装置も提案されている（例えば、特許文献３参照）。この装置では、受光素子の帯域不足が原因で生じるレーザーパワーの疑似オフセットを打ち消すことで、レーザーパワーの誤差を補正する。
特開２０００−２１５４５１号公報 特開２００１−２６６３４８号公報 特開２００３−１４１７６７号公報

しかし、従来の光ディスク装置によるレーザーパワー制御では、以下のような問題が生じる。
まず、特許文献１の装置では、レーザーパワーを所定の時間的位置でサンプルホールドするため、レーザーパワーをサンプルホールドする時間的位置が固定される。しかし、近年、光ディスクの高倍速化が進み、さらにメディア特性等によって光ディスクに形成される記録波形（ライトストラテジ）が変化することがあるため、所定の時間的位置でレーザーパワーをサンプルホールドすると、記録速度やライトストラテジの形状によっては、安定したレベルのレーザーパワーをサンプルホールドできなくなるという問題が生じた。

また、特許文献２の装置では、光ディスクの高倍速化に対応して、１４Ｔマークまたは１４Ｔスペースの区間でレーザーパワーをサンプルホールドすることで、レーザーパワー制御を容易にしているが、記録速度がさらに高倍速化されたり、ライトストラテジがメディア特性等により変化したりすると、レーザーパワーレベルを安定して測定するのが困難になるという問題が生じた。

また、特許文献３の装置では、レーザーパワーに生じる疑似オフセットを打ち消すことで、レーザーパワーの誤差を補正しているが、記録速度が高倍速化されたり、ライトストラテジがメディア等特性により変化したりすると、回路自身のオフセットを測定しているのか、実際のレーザーパワーに生じる疑似オフセットを測定しているのかが判定できなくなる。このため、実際のレーザーパワーレベルをオフセットと判定して、レーザーパワー制御に誤差が生じるという問題があった。

本発明は、上記従来の課題を解決するためのもので、記録速度の高倍速化やライトストラテジの変化に応じて、レーザーパワーをサンプルする時間的位置や期間（時間幅）を学習し、再設定する光ディスク記録装置を提供することを目的とする。

本発明の光ディスク記録装置は、光ディスクに対してレーザー光を出射するレーザー光源と、前記レーザー光源を駆動するレーザードライバーと、前記レーザー光を前記光ディスクに集光する集光手段と、前記集光手段を駆動することでフォーカス制御を行うフォーカス駆動手段と、前記レーザードライバーから前記レーザー光源に供給される電流量を制御して、再生時の前記レーザー光源のパワーと、記録時の前記レーザー光源のパワーを制御するレーザーパワー制御手段と、前記光ディスクのマーク部に対するレーザー発光時のレーザーパワーレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定するマーク部検出手段と、前記光ディスクのスペース部に対するレーザー発光時のレーザーパワーレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定するスペース部検出手段と、前記マーク部及びスペース部に対するレーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を設定するサンプル位置設定手段と、前記マーク部及びスペース部に対するレーザーパワーレベルをサンプルする時間幅を設定するサンプル幅設定手段と、任意のマーク長とスペース長とが繰り返される記録波形信号を出力する記録波形生成手段と、前記記録波形生成手段からの信号に基づいて、記録時のレーザー発光のライトストラテジを生成するライトストラテジ生成手段と、前記各手段を制御するコントローラーとを備え、記録開始前に、前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段と前記フォーカス駆動手段を制御して、レーザーパワー制御をホールド状態に、かつ、フォーカス制御をオフの状態にし、前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、記録中に、前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段を制御してレーザーパワー制御をホールド状態にし、前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、前記光ディスクの回転速度一定にして、前記光ディスクに情報を記録し、記録中に、前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段を制御してレーザーパワー制御をホールド状態にし、前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、記録領域が複数のゾーンに分かれている光ディスクに線速度一定で情報を記録し、記録中、ゾーンが変わるとき、前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段と前記フォーカス駆動手段とを制御して、レーザーパワー制御をホールド状態に、かつ、フォーカス制御をオフの状態にするか、または、前記レーザーパワー制御手段を制御してレーザーパワー制御をホールド状態にし、前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段と前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果が最小値になる時間的位置に設定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、前記ライトストラテジが、マーク部の波形に角だし部分を有する非マルチパルスストラテジのとき、前記コントローラーは、前記マーク部のレーザーパワーレベルの測定結果と、前記マーク部の波形のボトム部分に対応するレーザーパワーレベルの測定結果とを比較して、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルを前記サンプルする時間的位置が正しいかを判定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、前記ライトストラテジが、複数のピークとボトムとを繰り返して１つのマーク部を形成するマルチパルスストラテジのとき、前記マーク部検出手段はレーザーパワーレベルの平均レベルを測定し、前記コントローラは、１つのマーク部の時間に対する１つのマーク部に出現するピーク時間の割合をＤＵＴＹ比とし、予め設定されたＤＵＴＹ比で測定したレーザーパワーレベルと、前記平均レベルとを比較して、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置が正しいかを判定することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が予め設定した範囲内になる期間が、予め設定したしきい値より短くなる場合、前記コントローラーは、前記サンプル位置設定手段を制御して、前記マーク部検出手段がサンプルを実行するマーク長と、前記スペース部検出手段がサンプルを実行するスペース長とを変更することを特徴とする。

また、本発明の光ディスク記録装置は、前記光ディスク記録装置において、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が予め設定した範囲内になる期間が、予め設定したしきい値より長くなる場合、前記コントローラーは、前記サンプル幅設定手段を制御して、前記マーク部検出手段及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間幅を変更することを特徴とする。

本発明の光ディスク記録装置によれば、フォーカス制御をオフに、かつ、レーザーパワー制御をホールドした状態にし、この状態でレーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、各サンプル位置での前記レベルを測定し、測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になるレベル安定領域を探索し、その領域の中から最適なサンプル位置を設定するようにした。これにより、記録パワーでレーザー発光していても、光ディスクへの情報の記録が行われることなく、最適なサンプル位置を学習して、安定してレーザーパワーレベルを測定できるサンプル位置を設定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、光ディスクに情報を記録している際中でも、フォーカス制御をしながら、レーザーパワー制御をホールドした状態にし、この状態で、サンプル位置を最小分解能単位で変えながら、各サンプル位置での前記レベルを測定し、最適なサンプル位置を設定するようにした。これにより、記録中に記録速度やライトストラテジが変化しても、記録を中断することなく、最適なサンプル位置を学習して、安定してレーザーパワーレベルを測定できるサンプル位置を再設定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、複雑なライトストラテジタイプ（キャッスルストラテジ、マルチパルスストラテジ）でのレーザーパワーレベルを測定して、最適なサンプル位置を設定するとき、ライトストラテジタイプが単純な波形（ブロックストラテジ）で測定したレベルと複雑なライトストラテジタイプで測定したレベルを比較して、複雑なライトストラテジタイプでのサンプル位置が最適な時間的位置であるかを判定するようにした。これにより、ライトストラテジの波形によっては一定レベルのサンプル位置を検索できないときでも、安定してレーザーパワーレベルを測定できるサンプル位置を設定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、サンプルするマーク長やスペース長を予め設定し、サンプル位置を最小分解能単位で変えながら、レーザーパワーレベルを測定し、測定結果に応じて、サンプル動作を実行するマーク長及びスペース長を再設定するようにした。これにより、記録速度やライトストラテジが変化しても、レーザーパワーレベルを安定して測定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、サンプルする時間幅を予め設定し、サンプル位置を最小分解能単位で変えながら、レーザーパワーレベルを測定し、測定結果に応じて、サンプル幅を再設定するようにした。これにより、記録速度やライトストラテジが変化しても、レーザーパワーのレベルを安定して測定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、最適なサンプル位置学習において、レベル安定領域の中からレベル測定値が最も小さくなるサンプル位置を算出して、最適なサンプル位置として再設定するようにした。これにより、記録速度が高倍速化して、レーザーパワーの波形になまりが発生したとしても、最適なサンプル位置をさらに安定した時間的位置に再設定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、ＣＬＶ記録を実行する場合でも、ゾーンが変わる毎に、レーザーパワーレベルをサンプルする位置を学習して、最適なサンプル位置を再設定するようにしたので、ＣＬＶ記録を中断することなくサンプル位置を最適な時間的位置に再設定することができる。

また、本発明の光ディスク記録装置によれば、ＣＡＶ記録を実行する場合でも、記録中に、レーザーパワー制御をホールド状態にして、レーザーパワーレベルをサンプルする位置を学習して、最適なサンプル位置を再設定するようにしたので、記録を中断することなくサンプル位置を最適な時間的位置に再設定することができる。

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
図１に示すように、光ディスク記録装置は、光ディスク３９にレーザーを出射し、光ディスク３９に対する情報の書き込み及び読み出しを行うピックアップ１０を有する。ピックアップ１０では、ＬＤドライバ１１によって電流駆動するレーザーダイオード（ＬＤ）１２がレーザーを光ディスク３９に出射し、その反射光を受光素子であるレーザーフロントモニター１３が受光する。レーザーフロントモニター１３は、受光した光の強度を電圧レベルに変換して出力する。
電圧レベルに変換された光は、後段の回路にて、以下のようにして電気的処理され、レベル検出される。

レーザーフロントモニター１３により出力される電圧レベルが高い場合、アッテネーター（ＡＴＴ）１４によりその電圧レベルを下げる。近年の光ディスクの高倍速化に伴い、大きなパワーでＬＤ１２を発光する場合、ＡＴＴ１４で電圧レベルを下げる。ＡＴＴ１４の出力信号は、マーク部検出系と、スペース／イレース部検出系に分岐される。

マーク部検出系はマーク部へのレーザー発光時のレーザーパワーレベル（電圧レベル）をサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。ＡＴＴ１４の出力信号がマルチパルス波形のときは、周波数調整付ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１５にその信号を通して、マルチパルスの平均パワーレベルを検出する。検出された平均パワーレベルはサンプルホールド（ＳＨ）回路１７によりサンプルされホールドされる。一方、ＡＴＴ１４の出力信号が非マルチパルス波形のときは、電圧レベルを直接検出するため、コントローラー３２の制御に基づいて切替スイッチ１６を切り替えて、信号がＬＰＦ１５をスルーするようにする。これにより、ＡＴＴ１４の出力信号がＳＨ回路１７に直接入力される。その後、記録速度や記録時のレーザーパワーに応じてＶＧＡ１８が信号をゲイン調整し、ＬＰＦ１９がゲイン調整された信号からノイズを除去し、ＡＤ変換回路２０がノイズ除去された信号をＡＤ変換する。

スペース／イレース部検出系はスペース部／イレース部へのレーザー発光時のレーザーパワーレベル（電圧レベル）をサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。スペース部に対するレーザーパワーはイレース部やマーク部に対するレーザーパワーと比較して小さいので、スペース部に対するレーザーパワーレベル（電圧レベル）の信号についてはＶＧＡ２１によりゲインをあげる。一方、イレース部に対するレーザーパワーは十分大きなレベルであるので、ゲインを上げる必要はない。ＶＧＡ２１の出力信号（レベル）はＳＨ回路２２によってサンプルされホールドされる。その後、記録速度や記録時のレーザーパワーに応じてＶＧＡ２３が信号をゲイン調整し、ＬＰＦ２４がゲイン調整された信号のノイズを除去し、ＡＤ変換回路２５がノイズ除去された信号をＡＤ変換する。

以上のように、マーク部検出系と、スペース／イレース部検出系とで検出されたＡＤ変換値を、レーザーＡＰＣ（Ａｕｔｏ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御回路２６が入力して、ＬＤ１２の駆動電流を演算し、ＬＤドライバ１１に駆動電流を供給する。

マーク部検出系のＳＨ回路１７と、スペース／イレース部検出系のＳＨ回路２２とが行う電圧レベルのサンプルホールドについて、以下詳細に説明する。なお、イレース部に対するレーザーパワーレベルのサンプルホールドは、スペース部のそれと同様であるので、説明を省略する。ＳＨ回路１７はＳＨタイミング生成回路２９からのマーク用サンプルホールド（ＳＨ）信号４１に基づいて、ＳＨ回路２２はＳＨタイミング生成回路２９からのスペース用ＳＨ信号４２に基づいて、レーザーパワーレベルに対応する電圧レベルをサンプルしてホールドする。ＳＨタイミング生成回路２９はマーク用ＳＨ信号４１とスペース用ＳＨ信号４２を個別に出力することができる。サンプルする時間的位置はＳＨ位置設定回路２７により、サンプルする期間（時間幅）はＳＨ幅設定回路２８により設定される。ＳＨタイミング生成回路２９は、マーク長とスペース長が任意の時間幅で繰り返される記録波形ＮＲＺＩ（Ｎｏｎ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔ）信号を記録波形ＮＲＺＩ生成回路３０から入力し、基準クロックを用いてマーク部とスペース部が切替わるタイミングからカウントを開始し、所定のタイミングでＳＨ信号をＬｏｗにし、ＳＨ信号を所定の期間（時間幅）カウントすると、ＳＨ信号をＨｉｇｈにする。ＳＨ回路１７及びＳＨ回路２２は、ＳＨ信号がＬｏｗのとき、電圧レベルをサンプルし、ＳＨ信号がＨｉｇｈの期間、サンプルしたレベルをホールドする。ＳＨ信号をＬｏｗにするタイミングはＳＨ位置設定回路２７が、ＳＨ信号をＬｏｗにする時間幅はＳＨ幅設定回路２８が、位置＆幅制御回路３３の制御に基づいて設定する。なお、位置＆幅制御回路３３はサンプルする時間的位置と時間幅の数値を示す設定信号をコントローラー３２から入力し、この信号に基づいてＳＨ位置設定回路２７とＳＨ幅設定回路２８を制御する。

なお、ＳＨ回路１７、及びＳＨ回路２２はＳＨ信号がＬｏｗのときにレベルをサンプルし、Ｈｉｇｈのときにレベルをホールドすると説明したが、本発明はこれに限るものではなく、ＳＨ信号がＨｉｇｈのときにレベルをサンプルし、Ｌｏｗのときにレベルをホールドするようにしても良い。

次に、ＬＤ１２の駆動に必要なライトストラテジを生成する回路について詳細に説明する。記録波形ＮＲＺＩ生成部３０の出力である記録波形ＮＲＺＩ信号が論理回路４０で外部装置（図示せず）からのＷＴＧＴ（Ｗｒｉｔｅ Ｇａｔｅ）信号４４と論理積されて、ライトストラテジ生成部３１に入力される。なお、前記外部装置は記録タイミングを設定するもので、ＷＴＲＴ信号がイネーブル状態で記録波形がライトストラテジに伝達される。ライトストラテジ生成回路３１は論理回路４０からの信号を入力して、光ディスクの特性、記録速度等に応じて、光ディスク３９への記録に最適なライトストラテジを生成する。このライトストラテジに基づいてＬＤドライバ１１はＬＤ１２を発光させる。

以上のような、レーザーＡＰＣ制御、電圧レベルをサンプルする時間的位置や時間幅の設定、ライトストラテジの生成は、コントローラー３２によって制御される。コントローラー３２は、ＤＳＰやＣＰＵ等で構成されており、データの保持のためにＲＡＭ４３と接続している。コントローラー３２は、ＡＤ変換回路２０、２５からのＡＤ変換値を読み取って、電圧レベルをサンプルする時間的位置及び時間幅の設定を制御する。また、レーザーＡＰＣ制御回路２６にホールド制御信号３５を出力してレーザーパワー制御をホールドする。また、記録波形の方法を指示する記録波形生成方法設定信号３４を記録波形ＮＲＺＩ生成回路３０に出力する。
さらに、コントローラー３２は、フォーカス設定信号３６によってフォーカス駆動アクチュエータ３７を動作させ、レンズ３８を上下させて、光ディスク３９の記録層での焦点を変える。

以上のように構成された光ディスク記録装置のレーザーパワー制御について説明する。なお、イレース部に対するレーザーパワーレベルのサンプル及びホールドの動作は、スペース部のそれと同様であるので、説明を省略する。
まず、光ディスクの情報を再生するときのＬＤ１２のパワー制御について説明する。光ディスクの情報を再生するために必要な再生パワーにＬＤ１２をループ制御するために、レーザーＡＰＣ制御回路２６が初期の電流値をＬＤドライバ１１に設定し、ＬＤドライバ１１がその電流値に基づいてＬＤ１２を発光させる。その後、レーザーフロントモニター１３の出力信号がＡＴＴ１４を通りスペース／イレース部検出系でＡＤ変換される。そして、ＡＤ変換値が目標のレーザーパワーになるように、レーザーＡＰＣ制御回路２６が駆動電流の値を制御する。再生時には、このフィルタループによってレーザーパワーが所定の目標値になるように制御する。

次に、光ディスクに情報を記録するときのＬＤ１２のパワー制御について説明する。記録時にレーザーフロントモニター１３から出力される信号の波形としては、例えば、図２に示す、角出し部を有する非マルチパルス（キャッスル）波形、図３に示すブロック波形、図４に示すマルチパルス波形がある。

マーク部検出系は、角だし波形、ブロック波形またはマルチパルス波形を示すマーク部のレーザーパワーレベルをサンプルしてホールドし、レベルを測定する。なお、非マルチパルス波形の場合、マーク部検出系は、信号がＬＰＦ回路１５をスルーするように切替スイッチ１６を切替えて、レベルを測定する。

一方、マーク部の波形が複数のパルスからなるマルチパルスの場合、マーク部検出系は、切替スイッチ１６を、信号がＬＰＦ１５を通過するように切替え、ＬＰＦ１５で信号のレベルを平均化し、平均化したレベルをサンプルしてホールドし、そのレベルを測定する。
なお、切替スイッチ１６の切替えはコントローラー３２が制御する

これに対し、スペース部検出系は、再生時と同様に、スペース部のレーザーパワーレベルをサンプルしてホールドし、測定する。
通常、図２〜図４に示すように、記録波形ＮＲＺＩはマーク部の波形とスペース部の波形が繰り返される。しかし、メディアの材質や特性または記録速度に応じて、記録波形ＮＲＺＩからライトストラテジを生成し、このライトストラテジによりレーザーを出射するため、レーザーの発光波形は様々である。このため、マーク部とスペース部のレーザーパワーを目的のパワーになるように制御するためには、それぞれのレーザーパワーレベルを測定して、フィードバックする必要がある。

図１に示すように、レーザーフロントモニター１３で電圧変換されたレーザパワーレベルは、マーク部検出系とスペース／イレース部検出系で測定する。マーク部検出系では、ＳＨ回路１７でマーク部に対するレーザーパワーレベルを所定の時間的位置でサンプルしてホールドする。スペース部検出系では、ＳＨ回路２２でスペース部に対するレーザーパワーレベルを所定の時間的位置でサンプルしてホールドする。このサンプルホールドされたレベルを測定することで、目的のマーク部とスペース部に対して現在発光しているレーザーパワーのレベルを測定することができる。測定した結果は、レーザーＡＰＣ制御回路２６にフィードバックされ、レーザーＡＰＣ制御回路２６は、マーク部とスペース部の各レーザーパワーが所定の目標値になるように駆動電流の値を制御する。

以下、本実施の形態１に係る光ディスク記録装置が、レーザーパワーレベルに対応する電圧レベルをサンプルする時間的位置（ＳＨ位置）を設定する動作について詳細に説明する。
本実施の形態１に係る光ディスク記録装置は、図１２に示すように、記録開始前に、ＳＨ位置学習区間を設け、この区間に最適なＳＨ位置を設定する。最初のＳＨ位置学習区間がＨＩＧＨとなるアクティブ区間での記録発光は、フォーカス設定信号３６によってフォーカス制御をオフにし、ホールド制御信号３５によってレーザーパワー制御をホールド状態にする。この状態で、任意のマーク長（例えば、１４Ｔ）とスペース長（例えば、１４Ｔ）を繰り返す記録波形生成方法によりＬＤ１２を繰り返し発光する。そして、位置＆幅制御回路３３がＳＨ位置設定回路２７を制御して、ＳＨ回路１７がマーク部のレーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置（ＳＨ位置）と、ＳＨ回路２２がスペース部のレーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置（ＳＨ位置）とを、最小分解能単位で変化させる。すなわち、マーク用ＳＨ信号４１とスペース用ＳＨ信号４２のＬｏｗにするタイミングを変えることで、ＳＨ位置を変える。そして、ＳＨ位置を変えながら、各ＳＨ位置でのレーザーパワーレベルを、マーク部検出系とスペース部検出系が測定する。測定結果は、ＲＡＭ４３に格納され、保持される。

以下、ＳＨ位置を最小分解能単位で変えながら、レーザーパワーレベルを測定する手順について図５に示すフロー図を用いて説明する。図５に示すように、ＳＨ位置を設定後、ＡＤ変換を所定の回数行い、その平均値をＳＨ位置での測定レベルとする。
まず、ステップＳ５０１で変数を初期化する。変数とは、ＡＤ変換回数（ｎ）、ＡＤ変換値（ａｄ）、ＡＤ変換加算値（ｓｕｍ）、ＳＨ位置変数（ＳＨ）である。

次に、ステップＳ５０２で、サンプルしてホールドしたレベルをＡＤ変換する。
次に、ステップＳ５０３で、ＡＤ変換値をそれまでの値と加算して、合計値を求める。

次に、ステップＳ５０４で、ＡＤ変換回数をインクリメントして、ステップＳ５０５で、ＡＤ変換回数が所定の測定回数（例えば、Ｎｕｍ＝１０）に達したかを判定する。ＡＤ変換回数が所定の回数に達していれば、ステップＳ５０６に処理を移行し、達していなければ、ステップＳ５０２に戻る。

次に、ステップＳ５０６で、ＡＤ変換値の平均値を求める。ＳＨ位置のＡＤ変換平均値の測定結果は、例えば、図６（ａ）（ｂ）の表のようになる。
次に、ステップＳ５０７で、ＳＨ位置変数をインクリメントし、ステップＳ５０８で、ＳＨ位置の変更回数が所定の回数（例えば、ＳＨ_-Ｎｕｍ＝２８）に達したかを判定し、所定回数に達していれば処理を終了し、所定回数に達していなければステップＳ５０１に戻る。

以上の測定結果をグラフ化したものを図７〜図９に示す。図７〜９に示すグラフは、記録波形ＮＲＺＩ信号が１４Ｔマークと１４Ｔスペースの繰り返しで、１４Ｔマーク部でＳＨ位置を０．５Ｔ刻みで変えながら、レベルを測定した結果と、１４Ｔスペース部でＳＨ位置を０．５Ｔ刻みで変えながら、レベルを測定した結果を示している。測定された結果はＲＡＭ４３に格納される。そして、コントローラー３２が測定結果から時間的変化量を計算して、予め設定されたレベル安定判断範囲内に時間的変化量が収まった領域をレベル安定領域とする。図７はブロックストラテジに対するレーザーパワーレベルの測定結果とレベル安定領域の探索結果を、図８はキャッスルストラテジに対するレーザーパワーレベルの測定結果とレベル安定領域の探索結果を、図９はマルチパルスストラテジに対するレーザーパワーレベルの測定結果とレベル安定領域の探索結果を示す。

なお、マーク部とスペース部の長さは、１４Ｔに限るものではなく、その他、８Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔなどの組み合わせでもよい。
また、ＳＨ位置を０．５Ｔ刻みで変えながらレベルを測定すると説明したが、本発明はこれに限るものではなく、さらに小さい刻みで変えるようにしても良い。

次に、レベル安定領域を探索して、最適ＳＨ位置を求めて再設定する処理について図１０のフローを用いて説明する。
まず、ステップＳ１００１で、変数を初期化する。変数とは、ＡＤ変換回数（ｎ）、ＳＨ位置変数（ｓｈ）、安定領域開始ＳＨ位置（ＳＨ_-ｓｔａｒｔ）、安定領域終了ＳＨ位置（ＳＨ_-ｅｎｄ）である。

次に、ステップＳ１００２で、レベル測定値の変化量を微分により求め、ステップＳ１００３で、その微分の結果が、予め設定されたレベル安定判断範囲内であればステップＳ１００４に進む。
次に、ステップＳ１００４で、フラグを設定すると同時に安定領域開始ＳＨ位置を保持し、ステップＳ１００５で、ＳＨ位置変数をインクリメントして、ＳＨ位置を変化させる。

一方、ステップＳ１００３で、微分の結果がレベル安定判断範囲内でなければ、ステップＳ１００６で、安定領域開始フラグを設定されているかを判別し、フラグが設定されている場合は、ステップＳ１００７で安定領域終了ＳＨ位置を保持し、ステップＳ１００５に処理を移行する。

次に、ステップＳ１００８で、ＳＨ位置変数が予め設定された位置降り回数に達したかを判定する。位置振り回数に達していればステップＳ１００９に処理を移行し、達していなければステップＳ１００２に戻る。

次に、ステップＳ１００９で、安定領域開始フラグが設定されているかを判別し、設定されていなければ、ステップＳ１０１０で、レベル安定判断範囲を変更する。例えば、レベル安定判断範囲の上限レベルを上げる。

一方、安定領域開始フラグが設定されていればステップＳ１０１１で、ＳＨ位置を計算する。具体的には、図１１に示すように、ステップＳ１１０１で、安定領域開始ＳＨ位置と安定領域終了ＳＨ位置との中間位置を計算して、最もレベルが安定しているＳＨ位置とする。

以上のようにして算出されたＳＨ位置は、ステップＳ１０１２で再設定される。
同様に、記録中のスペース部についても、ＳＨ位置を最小分解能単位で変えながら、それぞれのＳＨ位置でのスペース部のレザーパワーレベルを測定して、最適ＳＨ位置を計算して設定する。

以上のようにして、最初のＳＨ学習期間で最適ＳＨ位置を学習して設定するが、その後の通常記録中に、再度、最適ＳＨ位置を学習して再設定しても良い。この場合、ＬＤ１２の発光をレーザーＡＰＣ制御回路２６が制御していても、コントローラー３２がホールド制御信号３５をレーザーＡＰＣ制御回路２６に出力することで、レーザーパワー制御を停止させ、ＬＤ１２への駆動電流を一定とする。これにより、記録中に、ＡＤ変換回路２０やＡＤ変換回路２５が出力するＡＤ変換値が変化していてもＬＤ１２のレーザーパワー制御をホールド状態にして、ＳＨ位置学習を実行することができる。

さらに、コントローラー３２は、記録時に、フォーカス設定信号３６をフォーカス駆動アクチュエータ３７に出力することで、光ディスク３９の記録層への焦点を任意に変えて、ＬＤ１２の記録パワーを発散させて光ディスク３９の記録層にマークが記録されないようにすることもできる。これにより、再度、図１２に示す最初のＳＨ位置学習を実行できる。

ライトストラテジがブロックストラテジの場合は、以上のようにして、最適ＳＨ位置を設定できる。しかし、図２に示すキャッスルストラテジでレーザー発光する場合、角だし部分があるので、図８のレベル測定結果に示されるように山ができ、ＳＨ信号をＬｏｗにする時間的位置を最適ＳＨ位置に設定しても、測定しているレベルが不安定になる場合がある。そこで、まず、マーク部のボトム部分（図２に示すフロントモニター時の波形の凹んだ部分）のレベルをマーク部のレベルとして測定する。これにより、ブロックストラテジに相当する単純な波形に対するレーザーパワーレベルを測定することになる。その後、再度、角だし部分を含むマーク部のレーザーパワーレベルを測定し、両者のレベルに相関関係があれば、最適ＳＨ位置が正しいと判定するようにしても良い。

また、マルチパルスストラテジのレーザー発光の場合は、図４に示すようにマーク部のレーザーパワーレベルをＬＰＦ１５により平均化し、１つのマーク部の時間に対する１つのマーク部に出現するピーク時間の割合をＤＵＴＹ比とし、予め設定されたＤＵＴＹ比で測定したレーザーパワーレベルと、平均したレベルとを比較して、最適ＳＨ位置が正しいかを判定するようにしても良い。

例えば、ＤＵＴＹ比が１００％の場合の波形を測定し、それを基準として、ＤＵＴＹ比が５０％のマルチパルスならば、基準×５０％を測定レベルとして、基準レベルと測定レベルが同じであれば最適位置が正しいと判定する。
以上のような、最適ＳＨ位置が正しいか否かの判定は、コントローラー３２が行う。

続いて、コントローラー３２によるレベル安定領域の幅の算出について、図１３、１４を用いて詳細に説明する。図１３はレベル安定領域の幅計算のフローを示す。図１４は計算結果例を表す。

まず、図１３に示すステップＳ１３０１でレベル安定領域を探索する。このステップＳ１３０１は、図１０に示すステップＳ１００１〜Ｓ１０１２と同様の処理を行うので説明を省略する。
次に、ステップＳ１３０２で、安定領域終了ＳＨ位置から安定領域開始ＳＨ位置を減算して、レベル安定領域の幅を算出する。

以上のようにして算出したレベル安定領域の幅が予め設定されたしきい値を超えるか否かを判定する。例えば、図１４（ａ）に示すように、レベル安定領域の幅（Ｔ）を予め設定したしきい値（３）と比較し、しきい値より大きければＯＫ、小さければＮＧとする。

コントローラー３２は、位置＆幅制御回路３３を制御して、このＯＫとなる対象マーク長及び対象スペース長（レーザーパワーレベルをサンプルする対象となるマーク部及びスペース部の長さ）のときのマーク部及びスペース部に対してのみ、ＳＨタイミング生成回路２９がＳＨ信号を出力するようにさせる。ここで、コントローラー３２は、この対象マーク長及び対象スペース長を変更することができる。対象マーク長及び対象スペース長を長くすると、レベル安定領域の幅も長くなり、ＯＫになりやすくなる。例えば、図１４（ａ）に示すように、レベル安定領域の幅がしきい値（３）より小さい場合、対象マーク長及びスペース長を１０Ｔより長くなるように設定する。

また、図１２に示すように、ＳＨ幅は予め設定した固定値であるが、図１４（ｂ）に示すように、レベル安定領域の幅を計算した結果、レベル安定領域の幅が予め設定したしきい値より十分大きい場合、レベル安定領域がＳＨ幅に対して十分長いといえるので、コントローラー３２は位置＆幅制御回路３３を制御して、ＳＨ幅を長く再設定し、精度が良い最適ＳＨ位置を再度探索するようにしても良い。

なお、上述した、ＳＨ位置学習結果とレベル測定結果を、工場出荷検査時の工程調整等に反映させても良く、不揮発性メモリ等にＳＨ位置学習結果を保持し、次回起動時には、この学習結果を用いて、ＳＨ位置学習にかかる時間を短縮しても良い。

以上のように本実施の形態１に係る光ディスク記録装置によれば、フォーカス制御をオフに、かつ、レーザーパワー制御をホールドにし、この状態でレーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置（ＳＨ位置）を最小分解能単位で変えながら、各ＳＨ位置でのレベルを測定し、測定結果の時間的変化量が、予め設定したレベル安定判断範囲内に収まるレベル安定領域を探索し、その領域の中から最適なＳＨ位置を設定するようにした。これにより、記録パワーでレーザー発光していても光ディスクへの記録が行われることなく、最適なＳＨ位置を学習して、記録時のレーザーパワーを安定して測定できるＳＨ位置を設定することができる。

また、本実施の形態１に係る光ディスク記録装置は、光ディスクへ情報を記録している際中でも、フォーカス制御しながら、レーザーパワー制御をホールドしてＬＤへの電流を一定にした状態で、ＳＨ位置を最小分解能単位で変えながら、レーザーパワーレベルを測定して、最適なＳＨ位置を設定するようにした。これにより、記録中に記録速度やライトストラテジが変更しても、記録を中断することなく、最適なＳＨ位置を学習して、記録時のレーザーパワーを安定して測定できるＳＨ位置を再設定することができる。

また、本実施の形態１に係る光ディスク記録装置は、複雑なライトストラテジタイプ（キャッスルストラテジ、マルチパルスストラテジ）のレーザーパワーレベルを測定して、最適ＳＨ位置を設定するとき、ライトストラテジタイプがシンプルな波形（ブロックストラテジ）で測定したレベルと複雑なライトストラテジタイプで測定したレベルを比較して、複雑なライトストラテジタイプでのＳＨ位置が最適位置であるかを判定するようにした。これにより、ライトストラテジによっては、一定レベルのＳＨ位置が検索できない場合でも、安定してレベルを測定できるＳＨ位置を設定することができる。

また、本実施の形態１に係る光ディスク記録装置は、サンプルするマーク長やスペース長を予め設定し、ＳＨ位置を最小分解能単位で変えながら、レーザーパワーレベルを測定し、測定結果に応じて、サンプル動作を実行するマーク長及びスペース長を再設定するようにした。これにより、記録速度やライトストラテジが変化しても、レーザーパワーレベルを安定して測定することができる。

また、本実施の形態１に係る光ディスク記録装置は、サンプルする時間幅を予め設定し、ＳＨ位置を最小分解能単位で変えながら、レーザーパワーレベルを測定し、測定結果に応じて、ＳＨ幅を再設定するようにした。これにより、記録速度やライトストラテジが変化しても、レーザーパワーレベルを安定して測定することができる。

（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２に係る光ディスク記録装置について図１５を用いて説明する。図１５は、図１０におけるＳＨ位置計算を、最小レベル位置で行うフローを表している。図１１のフローで示したＳＨ位置を計算するステップでは、安定領域開始ＳＨ位置と安定領域終了ＳＨ位置の中間位置を最もレベルが安定しているＳＨ位置として計算したが、図１５では、安定領域開始ＳＨ位置と安定領域終了ＳＨ位置の間で、レベル測定値が最も小さかったＳＨ位置を計算する。その他の動作については、実施の形態１と同様であるので、説明を省略する。

ステップＳ１５０１で、変数を初期化する。なお、変数とは、ＳＨ位置のＡＤ変換平均値（ｓｈ）、ＡＤ変換平均値の最小値（ｍｉｎ）、及びＳＨ位置変数（ｓｈ）である。
次に、ステップＳ１５０２で、安定領域開始ＳＨ位置から順に測定済みのＡＤ変換平均値をコントローラー３２のＲＡＭ４３から読み出す。

次に、ステップＳ１５０３で、読み出したＡＤ変換平均値が最小値（ｍｉｎ）より小さいかを判別し、小さければ、ステップＳ１５０４で、最小値（ｍｉｎ）を更新し、ＳＨ位置を取得しておく。
次に、ステップＳ１５０５で、ＳＨ位置変数をインクリメントして、ステップＳ１５０６で、ＳＨ位置が安定領域終了ＳＨ位置かを判別する。安定領域終了ＳＨ位置まで検索したら、最小値（ｍｉｎ）をＳＨ位置とする。

以上のように本実施の形態２に係る光ディスク記録装置によれば、最適なＳＨ位置学習において、レベル安定領域の中からレベル測定値が最も小さくなるＳＨ位置を計算して、それを最適なＳＨ位置として再設定するようにした。これにより、記録速度を高倍速化したときに、レーザーフロントモニター１３の帯域等が悪くなり、波形のなまりが発生したとしても、最適なＳＨ位置を安定した時間的位置に再設定することができる。

（実施の形態３）
以下、本実施の形態３に係る光ディスク記録装置について説明する。本実施の形態３に係る光ディスク記録装置は、光ディスクの記録領域をいくつかのゾーンに分けて、各ゾーンごとに、線速度一定で情報を記録するＣＬＶ記録中に、レーザーパワーレベルの最適ＳＨ位置を設定することを特徴とする。

ＣＬＶ記録では、ゾーンが変わるときに、一旦記録が中断して記録速度が上がる。このため、ゾーンが変わり、記録時のレーザーパワーやライトストラテジをメディアに応じて変化させるときに、ＳＨ位置学習を実行する。

ＳＨ位置の学習は、フォーカス制御をオフにし、かつ、レーザーパワー制御をホールド状態にして、実行しても良いし、フォーカス制御をした状態で、レーザーパワー制御をホールド状態にして、実行しても良い。ＳＨ位置学習の詳細は、前記実施の形態１、２で説明したので、省略する。ＳＨ位置学習後、マーク部とスペース部に対する最適なＳＨ位置を再設定する。最適ＳＨ位置は、前記実施の形態１のように、レベル安定領域の中間位置に設定しても良いし、前記実施の形態２のように、レーザーパワーレベルの測定値が最小になる位置に設定しても良い。

以上のように、本実施の形態３に係る光ディスク記録装置によれば、ＣＬＶ記録を実行する場合でも、ゾーンが変わる毎に、ＳＨ位置学習を実行して、最適なＳＨ位置を再設定するようにしたので、ＣＬＶ記録を中断することなく、ＳＨ位置を最適な時間的位置に再設定することができる。

（実施の形態４）
以下、本実施の形態４に係る光ディスク記録装置について説明する。本実施の形態４に係る光ディスク記録装置は、光ディスクの回転速度を一定して情報を記録するＣＡＶ記録中に、レーザーパワーレベルの最適ＳＨ位置を設定する。

回転速度一定のＣＡＶ記録を行う場合、記録発光中に、光ディスク３９のフォーカス制御を行い、光ディスク３９の記録層にマークを記録するが、徐々に記録速度が上がり、ライトストラテジの時間的方向が短くなる。このため、マーク用ＳＨ信号４１とスペース用ＳＨ信号４２をＬｏｗにするタイミングも最適ＳＨ位置からずれる可能性がある。

よって、本実施の形態４に係る光ディスク記録装置では、まず、図１２の最初のＳＨ位置学習を実行して、最適なＳＨ位置を設定する。最適なＳＨ位置の学習及び設定方法の詳細は、前記実施の形態１、２で説明したので、省略する。

次に、記録速度が上がり、記録パワーやライトストラテジがメディアに応じて変化するので、図１２に示すように、通常記録中に、レーザーパワー制御をホールド状態にして、２回目のＳＨ位置学習を実行して、マーク部とスペース部に対する最適なＳＨ位置を再設定する。その後、さらに、記録速度の上昇に応じて、ＳＨ位置学習を実行するようにしても良い。

また、最適ＳＨ位置は、前記実施の形態１のように、レベル安定領域の中間位置に設定しても良いし、前記実施の形態２のように、レーザーパワーレベルの測定値が最小になる位置に設定しても良い。

以上のように、本実施の形態４に係る光ディスク記録装置によれば、ＣＡＶ記録を実行する場合でも、通常記録中に、レーザーパワー制御をホールド状態にして、ＳＨ位置学習を実行して、最適なＳＨ位置を再設定するようにしたので、記録を中断することなく、ＳＨ位置を最適な時間的位置に再設定することができる。

本発明は、記録速度の高倍速化、ＣＡＶ記録、またはＣＬＶ記録に対応して、レーザーパワー制御を行う光ディスク記録装置として有用である。また、ドライブのバラツキ、光ディスクの材質やメディア特性によるライトストラテジの変更に対応して、レーザーパワー制御を行う光ディスク記録装置としても有用である。

本発明の実施の形態１に係る光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。 ライトストラテジがキャッスルストラテジのときの、レーザーパワーの波形と、マーク用ＳＨ信号及びスペース用ＳＨ信号の波形を示す図である。 ライトストラテジがブロックストラテジのときの、レーザーパワー波形と、マーク用ＳＨ信号及びスペース用ＳＨ信号の波形を示す図である。 ライトストラテジがマルチパルスストラテジのときの、レーザーパワー波形と、マーク用ＳＨ信号及びスペース用ＳＨ信号の波形を示す図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるレーザーパワーのレベル測定手順を示すフロー図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるレーザーパワーのレベル測定結果を示す図である。 ライトストラテジがブロックストラテジのときの、各ＳＨ位置でのレベル測定結果とレベル安定領域の探索結果を示す図である。 ライトストラテジがキャッスルストラテジのときの、各ＳＨ位置でのレベル測定結果とレベル安定領域の探索結果を示す図である。 ライトストラテジがマルチパルスストラテジのときの、各ＳＨ位置でのレベル測定結果とレベル安定領域の探索結果を示す図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるレーザーパワーのレベル安定領域の探索手順と、最適ＳＨ位置の再設定の手順を示すフロー図である。 図１０に示すＳＨ計算の詳細な処理内容を示すフロー図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるＳＨ位置学習動作と、ＳＨ位置の設定動作を説明するためのタイムチャート図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるレベル安定領域の幅計算フロー図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるレベル安定領域の幅計算結果例を表す図である。 本実施の形態１に係る光ディスク記録装置におけるレベル安定領域の幅計算結果例を表す図である。 本実施の形態２に係る光ディスク記録装置における最適ＳＨ位置の計算手順を示すフロー図である。

符号の説明

１０ ピックアップ
１１ レーザードライバ（ＬＤドライバ）
１２ レーザー（ＬＤ）
１３ レーザーフロントモニター
１４ アッテネーター（ＡＴＴ）
１５ ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
１６ ＬＰＦスルー切替スイッチ
１７ サンプルホールド回路（ＳＨ回路）
１８ 電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
１９ ローパスフィルタ
２０ ＡＤ変換回路
２１ 電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
２２ サンプルホールド回路（ＳＨ回路）
２３ 電圧ゲインアンプ（ＶＧＡ）
２４ ローパスフィルタ
２５ ＡＤ変換回路
２６ レーザーＡＰＣ制御回路
２７ ＳＨ位置設定回路
２８ ＳＨ幅設定回路
２９ ＳＨタイミング生成回路
３０ 記録波形ＮＲＺＩ生成回路
３１ ライトストラテジ生成回路
３２ コントローラー
３３ 位置＆幅制御回路
３４ 記録波形生成方法設定信号
３５ ホールド制御信号
３６ フォーカス設定信号
３７ フォーカス駆動アクチュエータ
３８ レンズ
３９ 光ディスク
４０ 論理回路
４１ マーク用サンプルホールド信号（マーク用ＳＨ信号）
４２ スペース用サンプルホールド信号（スペース用ＳＨ信号）
４３ ＲＡＭ
４４ ＷＴＧＴ信号

Claims (9)

1. 光ディスクに対してレーザー光を出射するレーザー光源と、
   前記レーザー光源を駆動するレーザードライバーと、
   前記レーザー光を前記光ディスクに集光する集光手段と、
   前記集光手段を駆動してフォーカス制御を行うフォーカス駆動手段と、
   前記レーザードライバーから前記レーザー光源に供給される電流量を制御して、再生時の前記レーザー光源のパワーと、記録時の前記レーザー光源のパワーを制御するレーザーパワー制御手段と、
   前記光ディスクのマーク部に対するレーザー発光時のレーザーパワーレベルをサンプルホールドし、そのレベルを測定するマーク部検出手段と、
   前記光ディスクのスペース部に対するレーザー発光時のレーザーパワーレベルをサンプルホールドし、そのレベルを測定するスペース部検出手段と、
   前記マーク部、及びスペース部に対するレーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を設定するサンプル位置設定手段と、
   前記マーク部、及びスペース部に対するレーザーパワーレベルをサンプルする時間幅を設定するサンプル幅設定手段と、
   任意のマーク長と、スペース長とが繰り返される記録波形信号を出力する記録波形生成手段と、
   前記記録波形生成手段からの信号に基づいて、記録時のレーザー発光のライトストラテジを生成するライトストラテジ生成手段と、
   前記各手段を制御するコントローラーとを備え、
   記録開始前に、
   前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段と、前記フォーカス駆動手段を制御して、レーザーパワー制御をホールド状態に、かつ、フォーカス制御をオフの状態にし、
   前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
2. 請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
   記録中に、
   前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段を制御して、レーザーパワー制御をホールド状態にし、
   前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
3. 請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
   前記光ディスクの回転速度を一定にして、前記光ディスクに情報を記録し、
   記録中に、
   前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段を制御して、レーザーパワー制御をホールド状態にし、
   前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
4. 請求項１に記載の光ディスク記録装置において、
   記録領域が複数のゾーンに分かれている光ディスクに、線速度一定で情報を記録し、
   記録中、前記光ディスクのゾーンが変わるとき、
   前記コントローラーは、前記レーザーパワー制御手段と、前記フォーカス駆動手段とを制御して、レーザーパワー制御をホールド状態に、かつ、フォーカス制御をオフの状態にするか、または、前記レーザーパワー制御手段を制御してレーザーパワー制御をホールド状態にし、
   前記マーク部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記スペース部検出手段は、前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を最小分解能単位で変えながら、前記レベルを測定し、
   前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が、予め設定した範囲内になる時間的位置に設定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
5. 請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク記録装置において、
   前記サンプル位置設定手段は、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置を、前記レーザーパワーレベルの測定結果が最小値になる時間的位置に設定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
6. 請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク記録装置において、
   前記ライトストラテジが、マーク部の波形に角だし部分を有する非マルチパルスストラテジのとき、
   前記コントローラーは、前記マーク部のレーザーパワーレベルの測定結果と、前記マーク部の波形のボトム部分に対応するレーザーパワーレベルの測定結果とを比較して、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルを前記サンプルする時間的位置が正しいかを判定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
7. 請求項１から４のいずれかに記載の光ディスク記録装置において、
   前記ライトストラテジが、複数のピークとボトムとを繰り返して１つのマーク部を形成するマルチパルスストラテジのとき、
   前記マーク部検出手段は、レーザーパワーレベルの平均レベルを測定し、
   前記コントローラーは、１つのマーク部の時間に対する１つのマーク部に出現するピーク時間の割合をＤＵＴＹ比とし、予め設定されたＤＵＴＹ比で測定したレーザーパワーレベルと、前記平均レベルとを比較して、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間的位置が正しいかを判定する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
8. 請求項１から請求項４のいずれかに記載の光ディスク記録装置において、
   前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が予め設定した範囲内になる期間が、予め設定したしきい値より短くなる場合、
   前記コントローラーは、前記サンプル位置設定手段を制御して、前記マーク部検出手段がサンプルを実行するマーク長と、前記スペース部検出手段がサンプルを実行するスペース長とを変更する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。
9. 請求項１から請求項４のいずれかに記載の光ディスク記録装置において、
   前記レーザーパワーレベルの測定結果の時間的変化量が予め設定した範囲内になる期間が、予め設定したしきい値より長くなる場合、
   前記コントローラーは、前記サンプル幅設定手段を制御して、前記マーク部検出手段、及び前記スペース部検出手段が前記レーザーパワーレベルをサンプルする時間幅を変更する、
   ことを特徴とする光ディスク記録装置。

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