JPH0744886A - 光ディスクドライブ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ユーザデータの記録領域を低下させることな
く、安価に適切な記録光量で情報を記録できることを目
的とする。 【構成】 半導体レーザの出力光を集光して光ディスク
上に照射する対物レンズと、前記半導体レーザの出力光
量を検出し、出力光量に応じて光量検出値を出力する光
量検出手段と、前記半導体レーザに与えられた記録電流
設定値に応じて記録電流を印加する記録電流印加手段
と、前記光量検出手段より得られた光量検出値を入力
し、記録電流設定値を出力する記録電流制御手段とを有
し、記録電流制御手段は情報の記録に先立ち、単一又は
複数の記録電流設定値を出力し、半導体レーザを記録電
流設定値に基づいて発光させ、それぞれの記録電流設定
値に対応した光量検出値を記憶し、情報の記録時には、
所望の記録光量と、記憶された光量検出値とから半導体
レーザを所望の記録光量で発光させるための記録電流設
定値を演算出力し、半導体レーザを最適記録光量で発光
させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスクドライブ装置
に関し、特に光ディスクドライブ装置の光源である半導
体レーザの光出力の制御装置に関する。

【０００２】

【従来技術】光ディスクは記録密度、アクセス速度等が
高く、また、信号記録面と非接触で情報を書き込み又は
読み取ることができるため、大量情報の記憶手段として
欠かすことのできないものとなっている。光ディスクド
ライブ装置では信号記録面から離れたところから非接触
でミクロン単位に絞り込んだ光スポットを光ディスクの
ピットに照射することにより信号の記録／再生を行って
いるため、光源より出射する光の光量が常に一定である
ことが望ましい。そのため、光源である半導体レーザの
温度特性或いは経時的特性変化の影響を受けずに適切な
記録光量で信号の記録／再生ができるように半導体レー
ザを制御することが要求される。

【０００３】前述したような半導体レーザの制御に関し
ては特開平３−３５４３４号により開示された技術があ
り、これは図１４に示すようなセクタフォーマットを有
する光ディスクを用い、光ディスク上に照射される光ス
ポットが”ＳＭ”、”ＩＤ”部を通過後、”ＡＬＰＣ”
部を通過中に半導体レーザをパルス発光させると共に、
該半導体レーザの発光出力を光量検出器により検出する
ことにより半導体レーザのパルス発光量に応じた検出レ
ベルをＡ／Ｄ変換後、ラッチする。一方、ＣＰＵでは光
スポットが”ＵＳＥＲ ＤＡＴＡ”部を通過している際
に、前記ラッチしたデータを取り込むことにより、半導
体レーザのパルス発光量が本来出すべき記録パワーであ
ったか否かを判定すると共に、所望の値の記録パワーを
得るために半導体レーザに印加すべき電流値を算出し、
該算出データはＤ／Ａ変換され電流駆動回路に与えられ
る。その後、次のセクタの”ＵＳＥＲ ＤＡＴＡ”部
で、前記算出されたデータに基づいた記録パワーにより
半導体レーザが発光し、信号の記録が行われる。

【０００４】しかしながら、上述したような従来の半導
体レーザ制御装置では、半導体レーザをパルス発光させ
るために、”ＩＤ部”、”ＤＡＴＡ部”とは別に各セク
タ毎に”ＡＬＰＣ部”を設ける必要があり、光ディスク
１枚当りにおけるユーザデータの記録可能容量が低下
し、更に、”ＡＬＰＣ部”における半導体レーザの発光
はパルス状のものであるため、発光量を正確に検出する
ためには高速なＡ／Ｄ変換器が必要であり、装置が高価
となるという問題点があった。

【０００５】

【発明の目的】本発明は上述したような従来の問題点に
鑑みなされたものであって、ユーザデータの記録領域を
低下させることなく、しかも高価な部品を必要とせず、
安価に半導体レーザの温度特性、経時的変化の影響を受
けずに適切な記録光量で情報を記録できるような半導体
レーザ制御装置を含む光ディスクドライブ装置を提供す
ることを目的とする。

【０００６】

【発明の構成】この目的を達成するために本発明に係る
光ディスクドライブ装置は、半導体レーザを光源として
用い、光ディスク上の情報の記録再生を行う光ディスク
ドライブ装置において、半導体レーザの出力光を集光し
て光ディスク上に照射する対物レンズと、前記半導体レ
ーザの出力光量を検出し、出力光量に応じて光量検出値
を出力する光量検出手段と、前記半導体レーザに与えら
れた記録電流設定値に応じて記録電流を印加する記録電
流印加手段と、前記光量検出手段より得られた光量検出
値を入力し、記録電流設定値を出力する記録電流制御手
段とを有し、前記記録電流制御手段は情報の記録に先立
ち、単一又は複数の記録電流設定値を出力し、前記半導
体レーザを前記記録電流設定値に基づいて発光させ、そ
れぞれの記録電流設定値に対応した光量検出値を記憶
し、情報の記録時には、所望の記録光量と、前記記憶さ
れた光量検出値とから前記半導体レーザを所望の記録光
量で発光させるための記録電流設定値を演算出力し、前
記半導体レーザを最適記録光量で発光させることによ
り、ユーザデータの記録領域を低下させることなく、安
価に適切な記録光量で情報を記録できることを特徴とす
る。

【０００７】

【実施例】以下、図面に示した実施例に基づいて本発明
を詳細に説明する。図１は本発明に係る光ディスクドラ
イブ装置の構成を示す図であって、１は記録媒体である
光ディスク、２は光ディスクを回転駆動するためのスピ
ンドルモータ、３は光ピックアップ、４は半導体レーザ
制御回路、５はサーボ制御回路、６は前記半導体レーザ
制御回路及びサーボ制御回路をコントロールするコント
ローラである。前記光ピックアップ３は光源である半導
体レーザ３ａと、該半導体レーザ３ａから出射した光線
を前記光ディスク１上に集光させるための対物レンズ３
ｂと、該対物レンズ３ｂを介して光ディスクから反射す
る反射光を検出する光検出器３ｃとからなる。また、前
記サーボ制御回路５はコントローラ６から供給される制
御信号に基づいて光ピックアップ３内の対物レンズ３ｂ
を駆動し、対物レンズ３ｂを透過して光ディスク１上に
集光する光線の位置決めを行う。

【０００８】図２は前記半導体制御回路４、半導体レー
ザ３ａ及び光検出器３ｃの構成を示した図である。同図
に示すようにバイアス電流駆動回路（ＩＢＤ）２１より
出力したバイアス電流Ｉｂと、記録電流駆動回路（ＩＷ
Ｄ）２２から出力した記録電流Ｉｗとを加算器２３で加
算し、該加算器２３出力により半導体レーザ３ａは駆動
される。また、前記記録電流Ｉｗは記録データ入力端子
より供給される情報に応じてＯＮ／ＯＦＦが行われる。
前記バイアス電流駆動回路２１及び記録電流駆動回路２
２より出力される各電流値Ｉｂ、ＩｗはＣＰＵ２４より
出力される信号ＤＩｂ及びＤＩｗをＤ／Ａコンバータ２
５及び２６を介して設定されている。また、前記半導体
レーザ３ａより出力される出力光は、対物レンズを介し
て光ディスクに集光すると共に、その一部は光検出器３
ｃに検出され、該検出出力は増幅器２７、Ａ／Ｄコンバ
ータ２８を介してＣＰＵ２４に取り込まれる。

【０００９】このように構成した光ディスクドライブに
おける半導体レーザの電流Ｉと出力光量Ｐとの関係を示
す特性図を図３に示す。同図において特性曲線（ａ）及
び（ｂ）は、それぞれ温度変化による特性の変動及び経
時的変化による特性の変動に基づく半導体レーザ電流Ｉ
と出力光量Ｐとの関係を示しており、このような特性を
有する半導体レーザを用いて所望の記録光量Ｐｗ及びバ
イアス光量Ｐｂを得るためには、特性（ａ）の状態では
バイアス電流及び記録電流はそれぞれＩｂ（ａ）、Ｉｗ
（ａ）であり、一方、特性（ｂ）の状態ではバイアス電
流及び記録電流はそれぞれＩｂ（ｂ）、Ｉｗ（ｂ）とな
るように半導体レーザ駆動電流が調整されなければなら
ないことが分かる。

【００１０】以下、半導体レーザ駆動電流の調整につい
て前記図２と合わせて説明を行う。光ディスクドライブ
装置は情報の再生中若しくは待機中は記録データは入力
されず、記録電流駆動回路２２より出力される記録電流
Ｉｗは０となる。したがって、半導体レーザ３ａはバイ
アス電流駆動回路２１より出力されるバイアス電流Ｉｂ
のみにより駆動されるので、この時光検出器３ｃに検出
される検出光量が所望のバイアス光量となるようにバイ
アス電流を調整する。このバイアス電流調整方法は、前
記光検出器３ｃにより検出される光量を増幅器２７及び
Ａ／Ｄコンバータ２８を介してＣＰＵ２４に信号ＤＰと
して取り込み、該ＣＰＵ２４は検出光量に対応したバイ
アス電流が半導体レーザ３ａに印加されるようにＤ／Ａ
コンバータ２５に対しバイアス電流設定データＤＩｂを
出力する。

【００１１】図４は上述したバイアス電流調整方法のＣ
ＰＵ２４の処理シーケンスを示す図であって、半導体レ
ーザ３ａより発光した光線を光検出器３ｃ、増幅器２
７、Ａ／Ｄコンバータ２８を介して信号ＤＰとしてＣＰ
Ｕ２４に取り込み、前記半導体レーザ３ａより出射した
光線の光量が所望のバイアス光量より強いか又は弱いか
を判定し、強い場合にはバイアス電流駆動回路２１にＤ
／Ａコンバータ２５を介して供給するバイアス電流設定
データＤＩｂを変更し、前記バイアス電流駆動回路２１
より半導体レーザ３ａに供給するバイアス電流Ｉｂが低
下するように制御し、一方、弱い場合にはバイアス電流
駆動回路２１にＤ／Ａコンバータ２５を介して供給する
バイアス電流設定データＤＩｂを変更し、前記バイアス
電流駆動回路２１より半導体レーザ３ａに供給するバイ
アス電流Ｉｂが増大するように制御する（ステップ４１
乃至４５）。したがって、半導体レーザ３ａは設定され
たバイアス電流Ｉｂにより発光するが、この際、ＣＰＵ
２４を含む半導体レーザ制御回路４を制御するコントロ
ーラ６（図１参照）より供給されている制御モード信号
がバイアス電流調整モードであるか否かを判定し（ステ
ップ４６）、制御モードの場合には前述した各ステップ
を繰り返すことにより、所望のバイアス電流を設定し、
また、制御モードでない場合には前記バイアス電流設定
データＤＩｂを保持する（ステップ４７）。

【００１２】次に、記録電流調整電流Ｉｗの制御につい
て説明する。コントローラ６（図１参照）は半導体レー
ザ制御回路４に対して、情報の記録に先立ち、記録光量
検出・演算モードを設定し、該モードを検出したＣＰＵ
２４はＤ／Ａコンバータ２６にテスト用の記録電流設定
データＤＩｗ’を与えることにより記録電流駆動回路２
２からはテスト用の記録電流Ｉｗ’が半導体レーザ３ａ
に印加される。これによりＣＰＵ２４はテスト用記録光
量データＤＰｗ’をＡ／Ｄコンバータ２８より取り込
み、記憶すると共に、前記記録電流設定データＤＩｗ’
と記録光量データＤＰｗ’とを用いて所望の記録光量を
得るためにＤ／Ａコンバータ２６に出力する記録電流設
定データＤＩｗを算出する。

【００１３】図５は記録電流Ｉｗ、記録電流設定データ
ＤＩｗに対する半導体レーザ３ａの出力光量Ｐ、光量検
出データＤＰの関係を示す図であって、バイアス電流Ｉ
ｂは前述した動作により予め所望のバイアス光量Ｐｂが
得られるように調整されているため、記録電流Ｉｗ＝０
における半導体レーザ出力光量はＰｂである。また、記
録電流Ｉｗ＞０の領域における半導体レーザの特性カー
ブは直線と見做せるため、以下の関係が成り立つ。ＤＩ
ｗ＝｛（ＤＰｗ−ＤＰｂ）／（ＤＰｗ’−ＤＰｂ）｝＊
ＤＩｗ’‥‥（１） ＤＰｂ：バイアス光量Ｐｂに対応するデータ、 ＤＰｗ：所望の記録光量Ｐｗに対応するデータ、 ＤＰｗ’：テスト用電流印加時に検出、記憶された検出
光量データ、 ＤＩｗ：所望の記録光量Ｐを与えるために設定すべき記
録電流設定データ、 ＤＩｗ’：テスト用電流設定データ

【００１４】したがって、図６に示すようなシーケンス
を行い、各データを入力し、ＤＩｗを算出すると共に、
該記録電流設定データＤＩｗをＤ／Ａコンバータ２６に
設定することにより情報記録時に所望の記録光量Ｐｗを
得ることができる。以上説明した記録光量検出・演算動
作は、従来の方式のように短い”ＡＬＰＣ”部で行う必
要はなく、したがって、変換時間の比較的遅い安価なＡ
／Ｄコンバータ或いは安価なＣＰＵ等を用いて行うこと
ができ、安価に光ディスクドライブ装置を構成すること
ができる。尚、テスト用の記録電流設定データＤＩｗ’
は、ディスク上の情報の信頼性を維持するためにも半導
体レーザの発光量Ｐｗ’がディスク上の情報を変化させ
ることのないように選定する必要があることは言うまで
もない。

【００１５】次に、実際に情報の記録を行う際の動作に
ついて図７に示したフローチャート図に基づいて説明す
る。図１に示したコントローラ６は半導体レーザ制御回
路に対し、記録モードを設定することにより、ＣＰＵ２
４（図２参照）は前述した演算を行い、記録電流設定デ
ータＤＩｗを出力し、記録電流駆動回路２２は前記記録
電流設定データ及び記録データ入力端より入力する記録
データに基づいてＯＮ／ＯＦＦされた記録電流Ｉｗを半
導体レーザ３ａに印加する。したがって、半導体レーザ
３ａは記録データによって変調された記録光量Ｐｗをデ
ィスク上に照射し、情報の記録が行われる。

【００１６】上述したようなコントローラの制御モー
ド、バイアス電流Ｉｂ及び記録電流Ｉｗの設定並びに記
録光量の動作タイミングの関係を図８に示す。同図及び
上記説明から明らかなように、本発明に係る光ディスク
ドライブのコントローラは、先ず、バイアス電流調整モ
ードに於てバイアス光量Ｐｂに基づいてバイアス電流を
設定し、その後、記録光量検出・演算モードにおいてテ
スト用記録電流Ｉｗ’を半導体レーザに印加し、その発
光光量Ｐｗ’に基づいて最適記録光量Ｐｗを定め、記録
モードにおいて記録データのＯＮ／ＯＦＦに基づいて記
録電流Ｉｗを出力し、所望の記録光量Ｐｗにより情報の
書き込みを行うものである。

【００１７】図９及び図１０（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は
他の動作タイミングとＣＰＵの記録光量検出処理、演算
処理及び記録処理例を示した図であって、バイアス電流
調整モード処理及び記録モード処理は前述したものと同
様であって、前記実施例と異なる点は記録光量検出・演
算処理における記録電流設定データの算出を分離して行
っている。即ち、記録光量検出モードにおいて、ＣＰＵ
はテスト用電流印加時に検出、記憶された検出光量デー
タＤＰｗ’の記憶処理のみを行い、該検出光量データＤ
Ｐｗ’に基づいて異なる所望記録光量Ｐｗ１、Ｐｗ２を
得るために必要な記録電流設定データＤＩｗ１、ＤＩｗ
２を異なるタイミングで演算するものである。本実施例
では異なる記録光量Ｐｗ１、Ｐｗ２が要求されるディス
ク上の記録領域が存在する場合であっても、それぞれの
領域への記録を行う前に先に検出・記憶された検出光量
データＤＰｗ’を基に記録光量Ｐｗ１、Ｐｗ２を演算処
理を行うように設定してあるため、例えば、装置の電源
投入時に記録光量検出動作を１回行い、検出光量データ
ＤＰｗ’を記憶しておけば、復讐の所望記録光量を適切
に得ることが可能である。

【００１８】図１１は本発明の各実施例で用いられる光
ディスク或いは光磁気ディスクのセクタの構成を示す図
であって、セクタアドレス等の情報が記録されているＩ
Ｄ部はプリフォーマットされている。光磁気ディスクは
情報の消去・記録が可能であるが、前記プリフォーマッ
トされた情報は記録光量相当の半導体レーザ出力光の照
射があっても変化を生じなく、また、前記図１４に示し
た従来のフォーマットと比較して半導体レーザの発光出
力調整のために用いられる”ＡＬＰＣ”領域を必要とし
ないため、ユーザデータ領域を多く確保することができ
ることが分かる。

【００１９】図１２は本発明に係る光ディスクピックア
ップのコントローラの動作タイミングの他の実施例を示
した図であって、ＣＰＵにおけるバイアス電流調整、記
録光量検出、演算・記録の各シーケンスは前記図４、図
１０（ａ）〜（ｃ）に示したものと同様である。光ディ
スクドライブ装置のコントローラはディスク上のＩＤ部
において半導体レーザ制御回路に対して記録光量検出モ
ードを指示し、その結果、テスト用の記録光量発光がＩ
Ｄ部上で行われる。同図ではセクタＮ−２にてバイアス
電流調整モードが設定され、バイアス電流に基づくバイ
アス光量Ｐｂが半導体レーザより出射し、次にセクタＮ
−１のＩＤ部に於て記録光量検出モードが設定され、テ
スト用記録電流Ｉｗ’及び半導体レーザの発光量Ｐｗ’
を検出し、更に演算モードの設定により前記発光量Ｐ
ｗ’から検出光量データＤＰｗ’を求め、セクタＮに於
て最適記録パワーＰｗにて記録を行っている。尚、上述
した各実施例の制御において、テスト用電流印加時にコ
ントローラからサーボ制御回路に、半導体レーザの出力
光の集向状態を非合焦とする指示を与えることにより、
サーボ制御回路は所謂フォーカスサーボループを切る等
の動作を行い、半導体レーザの出力光はディスク上で非
合焦となるので、高出力のテスト用記録光量発光に対し
てディスク上の情報変化が生じる虞が低くなり、より精
度の高い記録光量検出・演算を行うことができる。

【００２０】更に本発明の他の実施例は、メディアが光
磁気ディスクの場合において、データの記録領域の消去
を行う際に記録光量検出モードを設定するものである。
即ち、光磁気ディスクでは一般に情報の記録に先立ち、
記録領域の消去を行い、該消去は記録光量と同等な光量
を記録情報による変調をかけずにＤＣ的に照射すること
により実施するものであるため、記録光量検出モードに
よる検出発光量Ｐｗ’を消去の際に照射される半導体レ
ーザ光量を用いて行うものである。

【００２１】図１３は上述した記録領域の消去の際に記
録光量検出モードを設定した場合の動作タイミングを示
した図であって、先ず、セクタＮにおいて、バイアス電
流調整モードがコントローラより設定され、図４に示し
たシーケンスによりバイアス光量Ｐｂを調整し、次に、
セクタＮのデータ領域”ＤＡＴＡ”において消去を行う
際に、記録光量検出モードを設定し、データの消去のた
めに照射された半導体レーザ光線を用いて記録光量Ｐ
ｗ’を検出する。更に、消去領域通過後、コントローラ
は半導体レーザ制御回路に対し、演算モードを指示し、
前記記録光量Ｐｗ’より得られた検出光量データＤＰ
ｗ’に基づいて最適記録パワーＰｗを算出する。その
後、コントローラは同領域に対し情報の記録を行うため
にサーボ制御回路に対しジャンプバックを指示し、前述
した消去済みの領域（セクタＮ）において記録モードが
指示され所望の記録光量Ｐｗによる情報の記録が行われ
る。

【００２２】また、上述したような消去動作中に記録光
量の検出を行うものにおいて、検出光量が消去用の光量
として不適切であった場合には前述した演算処理によ
り、必要な消去光量を得るために設定すべき記録電流設
定データを算出し、この設定データをテスト用電流設定
データとして再度同一領域の消去と、これに並行して記
録光量検出を行うようにしてもよい。この場合、消去光
量もより適切な値となるため、情報をより高品質に記録
することができる。更に、光ディスクのユーザ情報の記
録再生領域外に記録湖陵試験のための領域を用意し、前
述したシーケンスを用いて所望の記録光量を算出しても
よく、その場合、領域自体の消去動作中に並行して記録
光量の検出を行うことができる。

【００２３】

【発明の効果】本発明は上述した如く構成し且つ機能す
るものであるから、半導体レーザ特性の温度的、経時的
変化の影響を受けずに適切な記録光量で情報の記録を行
うことができ、情報の信頼性が向上するのみならず、デ
ィスクの各セクタにＡＬＰＣ部を設ける必要がないた
め、ディスク一枚当りのユーザデータの記録可能容量を
増加させることができる。また、記録光量検出、演算動
作等をＡＬＰＣのみで行う必要がないため、変換速度の
遅いＡ／Ｄコンバータや処理速度の遅いＣＰＵ等によっ
ても十分構成することができるため、安価な部品で構成
することができ、装置の価格を抑さえることが可能であ
る。

【００２４】更に、テスト用の記録光量発光時に半導体
レーザの出力光のディスク上での集光状態を非合焦とす
るためより大きいテスト用の記録光量を用いることが可
能となり、精度の高い記録光量を得ることができる。ま
た、光ディスクのＩＤ部を通過中、若しくは光磁気ディ
スクの消去動作中にテスト用の記録光量発光を行うこと
ができるため、サーボ動作を中断する必要がなく、処理
速度を高めることができ、更に、光磁気ディスクの場合
には消去に必要な光量をテスト用記録光量調整と共に調
整することができるため、より情報の信頼性を向上させ
るうえで著しい効果を発揮する。

【００２５】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスクドライブ装置の構成を
示す図。

【図２】半導体制御回路、半導体レーザ及び光検出器の
構成を示した図。

【図３】半導体レーザの電流Ｉと出力光量Ｐとの関係を
示す特性図。

【図４】バイアス電流調整方法のＣＰＵの処理シーケン
スを示す図。

【図５】記録電流Ｉｗ、記録電流設定データＤＩｗに対
する半導体レーザ３ａの出力光量Ｐ、光量検出データＤ
Ｐの関係を示す図。

【図６】記録光量検出・演算のシーケンスを示す図。

【図７】情報の記録を行う際の動作を示すフローチャー
ト図。

【図８】コントローラの制御モード、バイアス電流Ｉｂ
及び記録電流Ｉｗの設定並びに記録光量の動作タイミン
グの関係を示す図。

【図９】他の実施例における動作タイミングを示した
図。

【図１０】（ａ）（ｂ）及び（ｃ）は他の実施例におけ
るＣＰＵの記録光量検出処理を示した図、他の実施例に
おけるＣＰＵの演算処理を示した図及び他の実施例にお
けるＣＰＵの記録処理例を示した図。

【図１１】本発明の各実施例で用いられる光ディスク或
いは光磁気ディスクのセクタの構成を示す図。

【図１２】本発明に係る光ディスクピックアップのコン
トローラの動作タイミングの他の実施例を示した図。

【図１３】記録領域の消去の際に記録光量検出モードを
設定した場合の動作タイミングを示した図。

【図１４】従来のセクタフォーマットを示す図。

【符号の説明】

１‥‥‥光ディスク、 ２‥‥‥スピンドルモータ、
３‥‥‥光ピックアップ、 ３ａ‥‥‥半導体レー
ザ、３ｂ‥‥‥対物レンズ、 ３ｃ‥‥‥光検出器、
４‥‥‥半導体レーザ制御回路、５‥‥‥サーボ制御回
路、６‥‥‥コントローラ、 ２１‥‥‥バイアス電
流駆動回路、２２‥‥‥記録電流駆動回路、 ２３‥
‥‥加算器、２４‥‥‥ＣＰＵ、 ２５、２６‥‥‥
Ｄ／Ａコンバータ、２７‥‥‥増幅器、 ２８‥‥‥
Ａ／Ｄコンバータ

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体レーザを光源として用い、光ディ
   スク上の情報の記録再生を行う光ディスクドライブ装置
   において、 半導体レーザの出力光を集光して光ディスク上に照射す
   る対物レンズと、前記半導体レーザの出力光量を検出
   し、出力光量に応じて光量検出値を出力する光量検出手
   段と、前記半導体レーザに与えられた記録電流設定値に
   応じて記録電流を印加する記録電流印加手段と、前記光
   量検出手段より得られた光量検出値を入力し、記録電流
   設定値を出力する記録電流制御手段とを有し、 前記記録電流制御手段は情報の記録に先立ち、単一又は
   複数の記録電流設定値を出力し、前記半導体レーザを前
   記記録電流設定値に基づいて発光させ、それぞれの記録
   電流設定値に対応した光量検出値を記憶し、情報の記録
   時には、所望の記録光量と、前記記憶された光量検出値
   とから前記半導体レーザを所望の記録光量で発光させる
   ための記録電流設定値を演算出力し、前記半導体レーザ
   を最適記録光量で発光させたことを特徴とする光ディス
   クドライブ装置。
2. 【請求項２】 前記情報の記録に先立つ半導体レーザの
   記録光量による発光期間中は、前記対物レンズによる光
   ディスク上への半導体レーザの出力光の集光状態を非合
   焦とすることを特徴とする請求項１記載の光ディスクド
   ライブ装置。
3. 【請求項３】 前記光ディスクはプリフォーマットされ
   たＩＤ部と、情報の記録が可能なデータ部とからなるセ
   クタに分割され、情報の記録に先立つ半導体レーザの記
   録光量による発光を前記光ディスク上のＩＤ部にて行っ
   たことを特徴とする請求項１記載の光ディスクドライブ
   装置。
4. 【請求項４】 前記光ディスクが情報の消去が可能なも
   のである場合、情報の記録に先立つ半導体レーザの記録
   光量による発光を消去動作中に行ったことを特徴とする
   請求項１記載の光ディスクドライブ装置。
5. 【請求項５】 前記光ディスクが情報の消去可能なもの
   である場合、ユーザ上方の記録再生領域外に記録光量試
   験のための領域を用意し、前記情報の記録に先立つ半導
   体レーザの記録光量による発光を、前記記録光量試験調
   整領域の消去中に行ったことを特徴とする請求項１記載
   の光ディスクドライブ装置。
6. 【請求項６】 前記情報の記録に先立つ半導体レーザの
   記録光量による発光中、記録電流制御手段は半導体レー
   ザを消去動作に必要な光量で発光させるための記録電流
   設定値を出力したことを特徴とする請求項４又は請求項
   ５記載の光ディスクドライブ装置。
7. 【請求項７】 前記情報の記録に先立つ半導体レーザの
   記録光量による発光中、記録電流制御手段は検出される
   光量検出値から半導体レーザの出力光量が消去動作に必
   要な光量であるか否かを判定し、半導体レーザの出力光
   量が消去動作に必要な光量でないと判定した場合、前記
   記録電流制御手段は消去動作に必要な光量と記憶された
   光量検出値とから半導体レーザを消去に必要な光量で発
   光させるための記録電流設定値を演算、出力する共に、 再度ディスク上の同一領域で消去動作と情報の記録に先
   立つ半導体レーザの記録光量による発光を行ったことを
   特徴とする請求項６記載の光ディスクドライブ装置。