JP2004508728A - 多孔領域を有する静電チャック - Google Patents

多孔領域を有する静電チャック Download PDF

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Abstract

静電チャックは、チャック面と裏面とを有するチャック本体と、チャック本体内の電極と、裏面とチャック面との間を流体的に通じさせる少なくとも1つの管路とを有する。管路は、チャック本体と一体化される多孔領域を有する。作動中、多孔領域を通ってチャック面まで熱伝導流体を流通させることによって、静電チャックによって支えられるウェハーの温度を制御または調整することができる。多孔領域はプラズマの通過およびアーク放電を防止するか、またはこれらを最小限に抑制する。多孔領域を有する静電チャックの製造方法についても記載した。

Description

【0001】
関連出願
本願は、2000年9月5日に提出された米国特許出願第09/655,324号の継続出願であり、これに対する優先権を主張する。上記出願の教示全体が、参照により本願に組み込まれる。
【0002】
発明の背景
ウェハー製造は、しばしばウェハー温度の正確な制御を必要とする。例えば、蒸着またはエッチングなどのプラズマ施工中、一般に熱伝導ガスによって、ウェハーから熱が取り除かれる。最も一般的には、使用される熱伝導ガスはヘリウムである。
【0003】
従来の1つのやり方において、ウェハーはその上面の周囲から機械的に締め付けられ、ヘリウムの圧力がウェハーの下面から加えられる。この技法では、ウェハーが非均一になり且つ撓んでしまう可能性がある。
【0004】
他のやり方としては、静電ウェハー保持に依るものが挙げられる。ウェハー、または例えばフラットパネル・ディスプレイ等の他の工作物をチャック面に固定するために、処理中にクーロン型およびジョンソン・ラーベック型の静電チャックが使用される。この場合、静電チャックの多くは、電極と、この電極とチャック面との間の絶縁層または半導体材料層と、裏面からチャック面までヘリウムガスを通すための貫通孔とを有するような設計であるのが有用である。
【0005】
静電力は、チャック面全体に均等に分散でき、それによってウェハーの撓みを改善することができるが、プラズマはヘリウム用の貫通孔を通過し、時にはプラズマ自体が消滅してしまう。さらに、チャックの裏面と電極との間の直線経路を通じてヘリウム・アーク放電が生じてしまう可能性もある。
【0006】
利用可能な1つの設計においては、導電性チャック台座に熱伝導流体通路が設けられ、導電性チャック台座は一般的にはアルミニウム金属から製造され、且つアルミナまたはアルミナ/チタンなどのセラミック材料を吹付けコーティングすることによって形成される誘電層が重ねられる。この通路には、導電性台座を経路から絶縁することができる多孔性の誘電挿入体を設けられる。このような設計は、RF(高周波)プラズマ環境におけるヘリウムのアーク放電および絶縁破壊に関する問題に対処するものであるが、通路内に挿入体を固定するために機械的手段を利用している。例えば、挿入体は、誘電スリーブ内に保持されるか、圧入または締まりばめによって通路内部で固定される。このためには慎重な機械加工が必要とされる。また、アルミニウムと多孔性誘電面とを組合せたものに誘電層を吹付けコーティングする間、および誘電層を通る熱伝導ガス用溝を形成する間にも注意が必要である。チャックの製造または操作中における誘電層の望ましくないクラッキングの防止も厄介な問題である。
【0007】
従って、上記問題を最小限に抑えまたはこれを克服する静電チャックおよびこのような静電チャックを製造するための方法が必要とされる。
【0008】
発明の要約
本発明は、静電チャックおよび静電チャックを製造するための方法に関する。本発明の静電チャックは、裏面およびチャック面を有するチャック本体を有する。また、静電チャックは、前記チャック本体内に電極を有する。さらに、静電チャックは、裏面とチャック面とを流体に通じさせるために少なくとも1つの管路を有する。管路の少なくとも一部には、チャック本体と一体化される多孔領域が設けられる。
【0009】
本発明の1つの実施形態において、チャック本体はセラミック体である。別の実施形態において、多孔領域は、セラミック体の化学組成と本質的に同じ化学組成である。さらに別の実施形態においては、多孔領域は裏面からチャック面まで延びる。
【0010】
静電チャックを製造するための1つの方法は、静電チャック本体の未処理本体(素地)を形成する工程を具備する。未処理本体は、除去可能な粒子を含む少なくとも1つの領域を有する。さらに、この方法は、静電チャック本体を形成するために未処理本体を加熱して粒子を取り除くことによって、静電チャック本体に多孔領域を形成する工程を具備する。粒子は、例えば加熱によってまたは分解化学薬品による処理によって取り除くことができる。
【0011】
静電チャックを製造するための別の方法は、静電チャック本体の未処理本体に少なくとも1つの未処理領域を形成する工程を具備する。この未処理領域は、未処理本体の焼き締め後に多孔性となる。さらに、この方法は、未処理本体を焼き締めすることによって、少なくとも1つの多孔領域を含むセラミック製静電チャック本体を形成する工程を具備する。
【0012】
本発明の1つの実施形態において、未処理領域は焼結助剤を含む。本発明の別の実施形態において、未処理領域は、未処理本体の焼き締め中に分解することによって気孔を残して静電チャック本体の多孔領域を形成する高分子成分を有する。
【0013】
本発明は多くの利点を有する。例えば、本発明の静電チャックの電極はチャック本体内にあるので、プラズマ環境から充分に隔離される。熱伝導流体をチャック面まで流通させるための管路内の多孔領域は、管路へのプラズマの通過およびプラズマの消滅の可能性を最小限に抑える。また、多孔領域は、直線経路上にない溝と気孔とを相互に通じさせることによって、アーク放電の問題を最小限に抑える。同時に、多孔領域のコンダクタンスのおかげで、静電チャック上に載置される工作物の温度に影響を与えるのに充分な量の熱伝導流体を気孔および溝に流すことができる。さらに、多孔領域は、慎重な機械加工を必要とするスリーブなどの機械的手段または締まりばめまたは圧入によって所定の位置に保持されるのではなく、チャック本体と一体である。また、本発明は、本発明の静電チャックを単純に製造する方法も提供する。
【0014】
発明の詳細な説明
本発明の特徴およびその他の詳細を、本発明の各段階としてあるいは本発明の部分の組合せとして、添付図面を参照しながら以下にさらに明確に説明し、且つクレームにおいて指摘する。異なる図面に示した同じ参照番号は同一の物品または同等の物品を表す。本発明の特定の実施形態は、本発明を限定するものではなく例示として示されていることが分かるだろう。本発明の原理的な特徴は、本発明の範囲を逸脱することなく様々な実施形態において採用できる。
【0015】
本発明は、静電チャックおよび静電チャックの製造方法に関するものである。
【0016】
図1は、静電チャック10として示される本発明の1つの実施形態の断面図である。静電チャック10は、例えば、クーロン型またはジョンソン・ラーベック型とすることができるが、後者の方が好ましい。静電チャック10はチャック本体12とこのチャック本体12内の電極とを備える。
【0017】
電極14は、箔状部材、板状部材、有孔箔状部材または有孔板状部材、メッシュ状部材、スクリーン印刷層であってもよいし、あるいは静電チャックに一体化するのに適するその他の構成であってもよい。電極14は、チャック電極、プラズマ発生電極またはその両方として使用することができる。電極がチャック電極としてのみ作動する場合、電極の厚みは約10μm(マイクロメートルまたはミクロン)〜約50μmの範囲であるのが好ましい。また、一般的に、プラズマ発生電極の厚みは、この電極に加えられる無線周波数(RF)に耐えるのに充分な厚みである。プラズマ発生電極の厚みは、約50μm〜約1mm(ミリメートル)の範囲であるのが好ましい。また、メッシュ電極は、適切な例において、ワイヤ直径が約125μmであって、メッシュ間隔が1インチ当たりワイヤ50本である。1つの実施形態において、電極14は、1999年12月9日に提出された米国仮特許出願第60/169,859号「フラットフィルム電極を有する静電チャック」において説明されているようなフラットフィルム電極である。この仮特許出願の内容全体は参照することで本願の一部を構成する。当業者には公知なように、単極式電極構成も双極式電極構成も使用できる。
【0018】
電極14は、適切な金属から、または金属を組合せたもの(すなわち、合金)から製造される。好適な実施形態において、電極14は、モリブデン(Mo)、タングステン(W)またはモリブデンとタングステンとを組合せたものから形成される。Mo電極、W電極またはMo−W電極は、任意で、ニッケルおよびコバルトなどの付加的金属、または焼結活性剤など他の成分を含む。電極14の製造に適する他の金属としては、タンタル、プラチナ、ハフニウム、ロジウム、バナジウムおよびこれらの合金が挙げられるが、これらに限定されるものではない。1つの実施形態において、電極材料はグラファイトである。
【0019】
チャック本体12は、電極14の上面18に誘電層16を備え、電極14の下面22に基材20を含む。本発明の1つの実施形態において、電極14はチャック本体12内に完全に一体的に埋め込まれる。別の実施形態において、電極14は、誘電層16と基材20との間に挟まれる。接合部または継目(図示せず)は誘電層16を基材20に接合する。周囲環境を電極14と相互作用させないようにする接合部または継目が望ましい。本発明の1つの実施形態において、接合部または継目は適切なろう付け材料を使用することによって形成される。別の実施形態において、接合部または継目を形成するために使用されるろう付け材料は、電極14としても機能する。あるいは、誘電層16と基材20との間に接合部または継目がない場合もある。
【0020】
1つの実施形態において、誘電層16の厚みは約10μm〜約5mmの範囲である。別の実施形態において、誘電層16の絶縁抵抗は、チャックの使用温度において、1013Ω・cmより大きい。これは、クーロン型静電チャックを用いた場合に特に適している。さらに別の実施形態において、誘電層16の絶縁抵抗は、チャックの使用温度において、約10〜約1013Ω・cmの範囲であり、これはジョンソン・ラーベック型静電チャックを用いた場合に特に適している。
【0021】
チャック本体12、誘電層16および(または)基材20を製造するために使用できる材料は、酸化アルミニウム(Al)、酸化アルミニウム−酸化チタン(Al−TiO)、窒化アルミニウム(AlN)、窒化珪素(Si)、炭化珪素(SiC)、窒化ホウ素(BN)、酸化イットリウムまたはイットリア(Y)、アルミン酸イットリウム(例えば、YAl12、YAlO、Al)およびこれらを任意に組合せたものを含むが、これらに限定されるものではない。なお、AlNが好ましい。本発明の1つの実施形態において、チャック本体12の化学組成は均一である。あるいは、チャック本体12は異なる材料から構成してもよい。例えば、基材20の化学組成は誘電層16の化学組成と異なってもよい。
【0022】
また、チャック本体12、誘電層16および(または)基材20は、付加的な成分、例えば焼結助剤、結合剤および当業者には公知のその他の材料を有してもよい。付加的成分の例としては、酸化イットリウム(Y)、カルシウム塩および酸化物、例えばフッ化カルシウム(すなわちCaF)、塩化カルシウム(すなわちCaCl)、酸化カルシウム(すなわちCaO)、炭酸カルシウム(すなわちCaCO)、硝酸カルシウム(すなわちCa(NO)、酸化クロム(Cr)、シリカ(SiO)、窒化ホウ素(BN)およびこれらを任意に組合せたものが挙げられ、さらにイットリウム・アルミニウムと酸素とを含む化合物(例えばYAl12、YAlO、Alまたはこれらを組合せたもの)等、セラミック材と付加的成分との間の反応によって形成される二次相が挙げられるが、これらに限定されるものではない。イットリウム・アルミニウムおよび酸素を含む化合物は、本願においてはアルミン酸イットリウムとも呼ばれる。1つの実施形態において、AIN製のチャック本体12、誘電層16および(または)基材20は、Al、酸窒化アルミニウム(例えばALON)、Y、CaF、CaCl、CaO、CaCO、Ca(NO、Cr、SiO、BN、YAl12、YAlO、Alまたはこれらを組合せたものも有してもよい。
【0023】
静電チャック10は、任意で、加熱素子(図示せず)をさらに有してもよい。埋め込み加熱素子を含む静電チャックの1つの適切な構成が、1999年12月9日に提出された米国特許出願第09/457,968号「静電チャック、サセプタおよび製造方法」において説明されており、当該米国特許出願の内容全体は参照することで本願の一部を構成する。
【0024】
静電チャック10は、裏面24およびチャック面26を有する。チャック面26は、任意で、突起28および溝30を備える。例えば突出する窪みまたは突起を備えるような表面パターンは、工作物32とチャック面26との間の接触面積を大幅に減少させて、熱伝導流体が工作物32の下を循環できるようにする。また、例えば耐食性を強化するために、チャック面26を任意でコーティングすることができる。チャック面26に施すことができるコーティングとしては、パイロリティックBN、イットリア、アルミン酸イットリウム、三フッ化アルミニウム(AlF)、ダイアモンド、および例えば化学蒸着(CVD)法によって施されるコーティング等、ダイアモンドの様なコーティングが挙げられるが、これらに限定されるものではない。例えば、厚みが約1マイクロメートル(μm)〜約100μmの範囲のコーティングなど薄いコーティングが好ましい。
【0025】
作動中、電気コネクタ34を通じて電力が供給される。電気コネクタ34は、当業者には公知の手段によって電極14に取り付けられる。例えば、電気コネクタ34を電極14にろう付けすることができる。本発明の1つの実施形態において、接触プラグ(図示せず)が電極と同時焼結され、且つ電気コネクタ34に接合される。導電性が良くRFインピーダンスが低く簡単に電極14に接合できる接点および(または)電気コネクタが好ましい。本発明の1つの実施形態において、電気コネクタ34は、1999年12月9日に提出された米国特許出願第09/457,968号「静電チャック、サセプタおよび製造方法」において説明されるような電気接点を電極14部分に有し、当該米国特許出願の内容全体は参照することで本願の一部を構成する。
【0026】
静電チャック10は、また、一般に工作物32をチャック面26から上げ下げするために使用されるリフトピンを収める1つまたはそれ以上のリフトピン孔36を備える。一般的に、リフトピン孔36は、裏面24から基材20、電極14、誘電層16を通ってチャック面26まで延びる。電極14は、リフトピン孔36と整合しつつ好ましくはリフトピン孔36よりも直径が大きい開口を有し、これによりリフトピンが電極14と接するのが防止される。一般的に、リフトピン孔36の数はチャックの設計およびその用途に依存する。
【0027】
静電チャック10は、裏面24とチャック面26との間で流体的に通じる管路38を少なくとも1つ有する。一般的に、管路38は、裏面24から基材20、電極14、誘電層16を通ってチャック面26まで延びる。管路38を通じさせるために、電極14は、管路38と整合し且つ好ましくは管路38よりも直径が大きい開口を有し、これにより管路38を流れる熱伝導ガスが電極14と接するのが防止される。管路38の断面は、例えば、円形、楕円形、環状またはその他の適切な形状である。
【0028】
管路38の断面の形状または寸法のいずれかまたはその両方は、静電チャック10の厚み方向全長に亘って本質的に一定である。あるいは、管路38の断面の形状または寸法のいずれかまたはその両方を裏面24とチャック面26との間で変えてもよい。
【0029】
管路38には、チャック本体12内に一体化される多孔ゾーンまたは多孔領域40が設けられる。多孔領域40は、例えば、AlN、Si、Al、Al−TiO、SiC等のセラミック材料を有する。さらに、多孔領域40は、例えば添加剤、焼結助剤または結合剤等の1つまたはそれ以上の成分を任意に有してもよい。付加的成分の例としては、酸化イットリウム(Y)、カルシウム塩、および酸化物、例えばフッ化カルシウム(すなわちCaF)、塩化カルシウム(すなわちCaCl)、酸化カルシウム(すなわちCaO)、炭酸カルシウム(すなわちCaCO)、硝酸カルシウム(すなわちCa(NO)、酸化クロム(Cr)、シリカ(SiO)、窒化ホウ素(BN)およびこれらを任意に組合せたものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。また、多孔領域40は、セラミック材料と付加的成分との間の反応によって形成される反応生成物(本願においては二次相とも呼ばれる)を有してもよい。好適な実施形態において、多孔領域40は、AlNおよび例えばYAl12、YAlO、Alまたはこれらを組合せたもの等のアルミン酸イットリウムを有する。また、多孔領域40は、Alまたは酸窒化アルミニウム、例えばAlONを有してもよい。別の実施形態において、多孔領域40は、AlNおよびY、CaF、CaCl、CaO、CaCO、Ca(NO、Cr、SiO、BNまたはこれらを組合せたものを含む。多孔領域40は、誘電層16またはチャック本体12を製造するために使用されるのと同じ材料から製造することができる。
【0030】
一般的に、多孔領域40は、チャック面に必要なガスが流れるようにするために充分な気孔率を有する。また、管路38へのプラズマ通過を抑制するために充分に小さい気孔が好ましい。さらに、工作物32の裏側(静電チャック10に載っている側)と、電極14と、静電チャック10を支えるカソード台座42との間で直接視界が通じることのないような気孔が望ましい。
【0031】
用いられる気孔率および平均気孔サイズを、各チャックの設計および(または)用途に応じて変えてもよい。1つの実施形態においては、多孔領域40の気孔率は、約10%〜約60%の範囲であり、約30%〜約50%の範囲であるのが好ましい。別の実施形態においては、平均気孔サイズは、約5μm〜約500μmの範囲であり、約20μm〜約100μmの範囲であるのが好ましい。
【0032】
多孔領域40は、チャック本体に一体化されるか、またはチャック本体に一体的に接合される。本願において使用される場合、「一体化される」または「一体的に接合される」という用語は、多孔領域40がチャック本体12の一部であることを意味する。例えば、多孔領域40とチャック本体12との間の境界面は、隙間、継目、結合部またはその他の欠損を呈しない。好適な実施形態においては、多孔領域40は、周囲のチャック本体12に拡散接合される。別の好適な実施形態においては、多孔領域40は、周囲のチャック本体12に化学的に接合される。また、多孔領域40を、周囲のチャック本体12に焼結してもよい。
【0033】
本発明の好適な実施形態において、多孔領域40を含む複数の管路38が使用される。多孔領域40の数、寸法および配列を、各チャックの設計および(または)用途に応じて変えてもよい。また、多孔領域40は、同じ気孔率を持つ必要はない。本発明の1つの実施形態において、チャック本体12のほとんどまたは全ては多孔性である。あるいは、誘電層のほとんどまたは全てが多孔性であってもよい。
【0034】
1つの実施形態においては、全ての多孔領域40は同じ形状を有する。別の実施形態においては、全ての多孔領域は同じ寸法を有する。さらに別の実施形態においては、静電チャック10は、異なる形状を有する多孔領域を有する。多孔領域40の適切な断面形状のいくつを図3に示した。
【0035】
好適な実施形態において、多孔領域40は、例えば円筒形等の多孔プラグである。例えば各チャックの設計および(または)用途に応じて、多孔プラグの数、寸法および配列を変えてもよい。1つの実施形態において、多孔プラグの直径は、約0.5ミリメートル(mm)〜約20mmの範囲である。別の好適な実施形態においては、静電チャック10は、1個〜約100個の多孔プラグを有し、約20個〜約50個の多孔プラグを有するのが好ましい。
【0036】
別の好適な実施形態においては、静電チャック10は、同心リング状である多孔領域40を有する。さらに別の実施形態においては、チャック面において露出する1つのリング状の多孔領域の表面積は、別のリング状の多孔領域の表面積より大きい。さらに別の実施形態においては、表面積が大きい方のリング状の多孔領域の気孔率は、表面積が小さい方のリング状の多孔領域の気孔率より小さい。
【0037】
多孔領域40は、工作物32(特に静電チャック10に載っている工作物32の側)から電極14およびカソード台座42へ直接視界が通じることが防止されることが望ましい。本発明の1つの実施形態において、チャック本体12に一体的に接合される多孔領域40は、図1に示したように裏面24からチャック面26まで延びる。その代わりに、同じくチャック本体12に一体的に接合される多孔領域40は、管路38を通って部分的に延びる。
【0038】
図3Aは、静電チャック44として示される本発明の1つの実施形態の断面図である。静電チャック44は、裏面24とチャック面26との間を流体的に通じさせるために管路38を有する。管路38には、裏面24において露出するように多孔領域40が設けられる。多孔領域40は、多孔プラグの形状であり、基材20に一体的に接合される。多孔領域40は、裏面24から管路38を通ってチャック面26に向かって(且つチャック面26に達しないように)部分的に延びる。また、管路38は、多孔材料を有さず且つ多孔領域40からチャック面26まで延びる開口46を有する。多孔領域40の気孔率およびその他の気孔関係の特性、多孔領域40のの数および体積、開口46の直径および数は、用途および熱伝導流体の好適な体積流量に応じてチャックの設計毎に変えることができる要素である。
【0039】
図3Bは、静電チャック48として示した本発明の別の実施形態の断面図である。静電チャック48は、裏面24において露出するように多孔領域40を有する。多孔領域40は、基材20に一体的に接合される。多孔領域は、裏面24からある程度の距離だけチャック面26に向かって(且つチャック面26に達しないように)部分的に延びる。多孔領域40の断面は、例えば、楕円形、環状または図2に示した形状等、他の適切な形状とすることができる。あるいは、裏面24からチャック面26に向かって(且つチャック面まで達しないように)延びる裏面24からのチャック本体の体積全体またはそのほとんどを多孔性にしてもよい。また、静電チャック48は、多孔材料を有さず且つ多孔領域40からチャック面26まで延びる開口46を有する。上述したように、多孔領域の気孔率およびその他の気孔関係の特性、多孔領域の数および体積、開口46の直径および数は、用途および熱伝導流体の好ましい体積流量に応じてチャックの設計毎に変えることができる要素である。
【0040】
さらに別の実施形態(図示せず)において、多孔領域は、チャック面に露出し、チャック本体の誘電層に一体的に接合される。多孔領域はチャック面からチャック本体を通って裏面に向かって(且つ裏面まで達しないように)延びる。例えば、多孔領域はチャック面から電極を通って延びる。そして、熱伝導流体を通すための1つまたはそれ以上の開口が多孔領域から裏面まで延びる。
【0041】
裏面とチャック面との間で管路を通って部分的に延び且つチャック本体に一体的に接合される多孔領域を、例えば裏面およびチャック面の両方から離すなど、管路内の他の区間に配置してもよい。さらに、裏面からチャック面まで延びる多孔領域と管路を通って部分的に延びる多孔領域とを兼ね備える静電チャックを製造することもできる。
【0042】
図1に示した静電チャック10の作動中、熱伝導流体は裏面24から多孔領域40を通ってチャック面まで流通せしめられる。同様に、それぞれ図3Aおよび3Bに示した静電チャック44および48の場合、熱伝導流体は、裏面24から多孔領域40、開口46を通ってチャック面26まで流通せしめられる。
【0043】
熱伝導流体は、チャック面26から放出されると、溝22を通って任意に循環し、これにより工作物32の温度を調整する。熱伝導流体は、図示していないが供給源から供給され、例えばカソード台座42の開口を通って多孔領域40まで流通せしめられる。熱伝導流体は、管組織、配管、レギュレータ、付属品、バルブ、プレナム・リザーバ、これらを任意に組合せたもの、または当業者には公知の適切な他の手段を通って多孔領域40に供給せしめられることができる。
【0044】
熱伝導流体の例としては、ヘリウム、アルゴンまたはその他の不活性ガス、並びに静電チャックが使用される特定の運転状態、環境、および条件において不活性なガス、およびその混合ガスが挙げられるが、これらに限定されるものではない。熱伝導流体は、工作物の温度を好ましく調整するのに適する温度とされる。当業者には公知なように、例えば、熱交換器で熱伝導流体を加熱または冷却することによって、または極低温流体を使用することによって、好ましい温度範囲内にある熱伝導流体をチャック10に供給することができる。また、管路38に送られる熱伝導流体の圧力を、当業者には公知なように制御することができる。熱伝導流体は、チャック面26から放出される熱伝導流体の流れが工作物32に加えられる静電力および静電チャックの作動を妨害しないような圧力で供給されることが好ましい。
【0045】
上述したように、例えば、多孔領域の気孔率、気孔サイズおよび体積などの設計パラメータは、好ましい体積流量を得られるように選択される。好ましいガス・コンダクタンスは、多孔領域40の気孔のサイズおよび気孔率に応じて左右される。なお、ガス・コンダクタンスは、所定の圧力のときに流れることができるガスの体積である。例えば、小さい多孔プラグのガス・コンダクタンスと等しくなるように、大きい多孔領域の気孔率を調節することができる。
【0046】
また、本発明は、静電チャックを生産するための方法に関するものである。
【0047】
本発明の生産方法の1つの実施形態の諸段階を図4A〜4Eに示す。図4Aに示したように、未処理チャック本体の第一部分50は凹部52を有する。本願において使用される場合、「未処理」とは、セラミック前駆物質を事前焼き締めした状態を意味する。未処理チャック本体は、例えば、焼き締めるとセラミック体を形成する粉末またはスラリーなど前駆物質の締め固められた(例えばコールド・プレスされた)非焼き締め体である。好適な実施形態において、第一部分50は、AlN粉末を締め固めることによって形成される。使用可能なその他の適切な材料としては、AlN、Si、Al、Al−TiOまたはSiC、BN、Y、アルミン酸イットリウム、またはこれらを任意に組合せたものが挙げられるが、これらに限定されるものではない。
【0048】
プラグ54は、図4Bに示したように凹部52に配置される。プラグ54は、上述したように、適切であればどのような形状であってもよい。未処理本体には複数のプラグ54を組み込むことができる。任意に、プラグ54は、プラグ54周りに同時に焼結される高密度のスリーブで包囲されている。
【0049】
1つの実施形態において、プラグ54は、予め生産された多孔プラグ、例えば既に焼き締めおよび(または)熱処理を受けた多孔プラグであり、凹部52に挿入される。あるいは、プラグ54は、凹部52に詰めることのできる未処理形態であってもよい。例えば、その未処理形態のプラグ54は凹部52に詰められる粉末であってもよいし、凹部52にぴったりとはまるように成形されたコールド・プレスされた未処理ペレットであってもよい。プラグ54が未処理形態である場合、当業者には公知なように、未処理の第一部分の収縮と共に焼き締め中の収縮が見込まれる。未処理形態の場合、プラグ54は焼き締め時に、または別の処理工程(例えば熱処理中またはソーキング中)において、または以下に説明する薬品による処理によって多孔性にせしめられる。
【0050】
未処理形態のプラグ54を形成するために使用できる適切な材料としては、AlN、Si、Al、Al−TiOまたはSiCが挙げられるが、これらに限定されるものではない。特に、AlN、BN、Y、アルミン酸イットリウムまたはこれらを組合せたものが好ましい。未処理本体と未処理形態のプラグ54とを同じ材料を使用して形成してもよい。
【0051】
1つの実施形態において、プラグ54は、未処理形態において、除去可能な粒子を有する。除去可能な粒子は、粉末、ビーズ、顆粒、球状、切断ファイバー、フィラメントの形態、またはその他の適切な形状である。当業者には公知なように、等しいサイズを有する粒子を使用してもよい。使用される量、形状および粒度は、粒子が取り除かれたときに多孔領域の気孔率および気孔サイズが、上述したような好ましい気孔率および好ましい気孔サイズとなるように選択される。
【0052】
除去可能な粒子としては、静電チャックの製造において使用される温度で分解または消散する化合物が考えられる。例えば、除去可能な粒子としては、例えば熱処理、ソーキング、焼結または加熱プレス中に、分解または消散する有機化合物、重合体、錯塩、有機金属化合物およびその他の不安定な物質が考えられる。望ましくない排出物を生じないクリーンに燃える不安定化合物が好ましい。特に好ましいのは、アクリル酸またはメタアクリル酸の重合体、例えばポリメタクリル酸メチル(PMMA)である。ポリスチレン、ポリエチレン、アクリル樹脂、酢酸セルロース、硬化エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂は、未処理本体に含有させることのできるその他の材料の例である。また、共重合体、三元重合体並びにその架橋変性を使用してもよい。
【0053】
別の実施形態において、除去可能な粒子は、化学薬品による処理によって取り除かれる。例えば、未処理形態のプラグ54は、好ましくは未処理本体の焼き締め後、適切な化学薬品、例えばHFおよびHNOの混合物によるエッチングによって除去できる金属粒子を有する。例えばモリブデン(MO)、タングステン(W)、ロジウム(Rh)、バナジウム(V)、ニオビウム(Nb)、ハフニウム(Hf)、およびその他の超硬合金またはこれらの合金等の金属の連続相を使用することが好ましい。
【0054】
また、未処理形態のプラグ54は、1つまたはそれ以上の付加的成分を有してもよい。好適な実施形態においては、未処理形態のプラグ54は、結合剤および(または)焼結助剤として作用する1つまたはそれ以上の成分を含有する。未処理状態において含有される付加的成分としては、Y、CaF、CaCl、CaO、CaCO、Ca(NO、Cr、SiO、BN、これらを組合せたもの、並びに一般的に使用されるその他の焼結助剤が挙げられるが、これらに限定されるものではない。別の好適な実施形態においては、付加的成分は、焼結中に液相を形成する。あるいは、未処理形態のプラグ54は焼結助剤および(または)結合剤を含有しなくてもよい。
【0055】
また、未処理形態のプラグ54は、焼き締めによって上述したような多孔領域を生じる粗粉末から形成されてもよい。
【0056】
本発明の1つの実施形態において、酸化マグネシウム(MgO)、シリカ(SiO)、例えば珪酸アルミニウムまたは珪酸マグネシウム等のケイ酸塩、炭素(酸素還元のために必要な炭素量を超える)など焼結抑制剤、またはその他の適切な焼結抑制剤を、未処理本体の所望の領域に付加してもよい。焼結抑制剤は、その領域での完全焼き締めを防止し、焼き締め状態のとき不完全に焼き締められた領域が気孔を形成する。
【0057】
図4Cに示したように、電極14は、未処理チャック本体の未処理の第一部分50上に配置される。電極14は、例えばメッシュ電極であり、この場合、メッシュ開口をプラグ54の周りに同心状に配列する。あるいは、電極14は、スクリーン印刷層、箔状部材または板状部材であってもよく、この場合、これら電極材料にはプラグ54と同心でその直径より大きい開口部が設けられ、これにより電極材料がプラグ54に接するのが防止される。また、プラグ54の周りに同時に焼結される高密度のスリーブが使用される場合、スリーブはプラグ54と電極14との間の防壁として作用するので、電極14への穿孔を単純に行うことができるようになる。
【0058】
そして、未処理チャック本体の第二部分56が電極の上に重ねられる。第二部分56は誘電物質を有する。第一部分50を形成するのに適するセラミック前駆物質および付加的成分は、第二部分56を形成するためにも使用できる。好適な実施形態において、第一部分50および第二部分は両方とも同じ組成である。
【0059】
結果として得られる組立体は、例えば、多孔領域40(この場合には多孔プラグ)を有する高密度の構造を得るために焼結することによって焼き締められる。多孔領域40は、図4Dに示したように、チャック本体12に一体的に接合される。焼結は、圧力をかけない(常圧焼結)ものでも加熱プレスによるものでもよい。焼結温度は、静電チャックの製造に使用されるそれぞれの材料によって決まる。AlN締め固め粉末の場合、焼結温度は約1500℃〜2000℃の範囲である。焼結が加圧下で行なわれる場合、圧力は、約10MPa(メガパスカル)〜約40MPaの範囲とされる。本発明の1つの実施形態において、プラグと同時に焼結される高密度なスリーブが上述したように使用され、それによって、加熱プレス中にプラグが崩壊してしまう可能性を低減する。
【0060】
焼結は、1999年12月9日に提出された米国特許出願第09/458,278号「高純度低抵抗静電チャック」において説明されるように不活性環境で行なわれる。当該米国特許出願の内容全体が参照により本願に組み込まれる。当業者には公知の熱処理工程を行ってもよい。
【0061】
多孔領域40の端は、例えば機械加工して図4Eに示した静電チャック10を形成することによって、裏面24およびチャック面26において露出する。
【0062】
例えば、裏面26から部分的に延びる多孔領域またはプラグを有する静電チャックを得るための方法は、図4Aおよび4Bに示される工程を有する。次に、プラグ54を有する未処理チャック本体の第一部分50が、例えば上述した方法によって焼き締められ、その後、電極14および第二部分56が上に重ねられる。結果として得られる組立体は、例えば加熱プレスまたは常圧焼結などの条件に曝され、その結果第二部分が焼き締められる。チャック面26から多孔領域40まで延びる開口は、例えば機械加工によって形成される。あるいは、焼き締め前に未処理形態の第二部分56に挿入されるピンを焼き締め後に取り除いて、所望の開口を残すようにしてもよい。多孔プラグ40の端は上述したように裏面24において露出される。
【0063】
静電チャックを生産するための別の方法は、多孔プラグを高密度なチャック本体に一体化する工程を有する。チャック本体および多孔プラグは、例えば上述の材料から上述の方法によって別個に製造される。本発明の1つの実施形態において、多孔プラグ自体は、不安定物質を有する未処理形態のプラグを焼き締めることによって製造される。プラグは、上述した結合剤等を有するかこれによってコーティングされる。AlNチャック本体およびAlN多孔プラグの場合、Y、YAl12、YAlO、Alおよびこれらを組合せたものが好ましい。AlまたはAlの酸窒化物を結合剤として使用してもよい。多孔領域に対する結合剤の量は、一般的に、約0.5重量%〜約10重量%の範囲である。高純度の静電チャックが好ましい場合には、プラグをチャック本体に接合するために必要な最小限の結合剤を用いることが好ましい。
【0064】
そして、多孔プラグとチャック本体との間で拡散接合するために充分な温度まで加熱することによって、多孔プラグが周囲のチャック本体と一体化される。あるいは、結合剤を軟化するまたは液化するのに充分な高さの温度にして、それによって多孔プラグをチャック本体に接合してもよい。
【0065】
例証
例1:不安定物質をベースとする技法による多孔プラグの製造
焼結助剤として3重量%のYを含有する噴霧乾燥されたAlN粉末80gが、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)20g、すなわち20重量%のPMMAと乾式混合させた。PMMAは、直径約50μmの球形ビーズの形態とした。次に、上記混合物を210MPaでコールド・プレスして、直径約12.5mm(0.5インチ)および長さ22mm(0.86インチ)の「未処理」の数個の円筒形プラグを形成させた。また、「未処理」の多孔プラグ前駆物質の第二群を、50μmのPMMAの重量比が30%であることを除いて同様に組合せた。さらに、「未処理」の多孔プラグ前駆物質の第三群を、PMMAビーズのサイズが約100μm(−120/+170メッシュ)でありPMMA重量比が30%であることを除いて同様に組合せた。未処理本体から結合剤を取り除くために、未処理プラグ前駆物質の各群をオーブンに入れ、0.4℃/分の加熱速度で600℃まで空気雰囲気中において過熱し、600℃に1時間保持し、そして室温にまで冷却した。その後、焼結多孔プラグを得るために、これらプラグを窒素雰囲気中において1850℃に1時間程焼結した。
【0066】
各群から作られる1つの多孔プラグは、水銀気孔率測定法によって特徴付けられた。その結果を表1に示した。
【表1】
Figure 2004508728
【0067】
表1から分かるように、気孔率27%〜42%のAlNをベースとする多孔プラグが得られた。
【0068】
例2:多孔プラグの一体化および特性
加熱プレスされた高純度のAlNの直径75mmの本体に、120°間隔を開けて配置された大きさの等しい三つの孔を機械加工によって形成した。例3から得られる3つのAlN多孔プラグを、その外径がAlN本体の孔の直径に合致するように加工した。次に、AlN本体の各孔に1つの多孔プラグを挿入した。この組立体を炉の中で1850℃まで加熱し、1850℃で1時間曝し、その後室温にまで冷却した。検査時に、3つの多孔プラグ全てがAlN本体に融合したことが分かった。プラグが適切なコンダクタンスを有することを確認するために多孔プラグに空気を通した。
【0069】
プラグをAlN本体に接合し且つAlN本体の抵抗を調節するために、AlN本体において同様な別の多孔プラグの組立体に関して同じ実験を繰り返した。組立体を、1750℃で4時間アルゴンの中で熱処理した後、室温にまで冷却した。この場合にも、多孔プラグはAlN本体に接合されており、適切な(ガス)コンダクタンスを備えていた。さらに、AlN本体の抵抗は(室温で500V/mmの電界で測定して)5×1010Ω・cmであった。
【0070】
均等物
本発明については、特に本発明の好適な実施形態に関して図示し且つ説明したが、特許請求の範囲に含まれる本発明の範囲から逸脱することなく形態および細部に様々な変更を加えることができることは、当業者には分かるであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】
図1は、本発明の1つの実施形態における静電チャックの垂直断面図である。
【図2】
図2A〜2Fは、本発明の静電チャックの水平断面図である。
【図3】
図3Aおよび3Bは、本発明の別の実施形態における静電チャックの垂直断面図である。
【図4】
図4A〜4Bは、本発明の1つの方法によって使用される工程の概略図である。

Claims (46)

  1. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記チャック本体内の電極と、
    c) 前記裏面と前記チャック面との間を流体的に通じさせる少なくとも1つの管路とを備え、該管路に前記チャック本体と一体化される多孔領域が設けられる静電チャック。
  2. 前記チャック本体がセラミック製チャック本体である請求項1に記載の静電チャック。
  3. 前記多孔領域が該静電チャックの前記裏面から前記チャック面まで延びる請求項2に記載の静電チャック。
  4. 前記多孔領域が前記管路を通って部分的に延びる請求項2に記載の静電チャック。
  5. 前記多孔領域が前記裏面に露出する請求項3に記載の静電チャック。
  6. 前記多孔領域が前記チャック面に露出する請求項3に記載の静電チャック。
  7. 前記チャック本体の化学組成と前記多孔領域の化学組成とが本質的に同一である請求項2に記載の静電チャック。
  8. 前記多孔領域が結合成分を含む請求項7に記載の静電チャック。
  9. 前記結合成分がアルミン酸イットリウムまたはイットリアを含む請求項8に記載の静電チャック。
  10. 前記アルミン酸イットリウムがYAl12、YAlOおよびAlのうちの少なくとも一つを含む請求項9に記載の静電チャック。
  11. 前記セラミック製チャック本体が結合成分を含む請求項8に記載の静電チャック。
  12. 前記電極が上面および下面を有し、前記チャック本体が、
    a) 前記上面と前記チャック面との間の第一誘電層と、
    b) 前記下面と前記裏面との間の基材とを有し、
    前記多孔領域が前記第一誘電層または前記基材のうちの一方またはその両方に一体的に接合される請求項1に記載の静電チャック。
  13. 前記誘電層が約10μm〜約5mmの範囲にある請求項12に記載の静電チャック。
  14. 前記セラミック製チャック本体および前記多孔領域が、窒化アルミニウム、Al、Al−TiO、Si、SiC、BN、Yおよびアルミン酸イットリウムのうちの少なくとも一つを含む請求項1に記載の静電チャック。
  15. 前記多孔領域の気孔率が約10〜約60%である請求項1に記載の静電チャック。
  16. 少なくとも2つの多孔領域があり、該少なくとも二つの多孔領域の気孔率が異なる請求項15に記載の静電チャック。
  17. 前記多孔領域が円筒形である請求項1に記載の静電チャック。
  18. 前記多孔領域が少なくとも1つのリング状である請求項1に記載の静電チャック。
  19. 前記多孔領域が同心リング状である請求項1に記載の静電チャック。
  20. 前記チャック面における第一リングの表面積が第二リングの表面積より大きく、前記第一リングの気孔率が前記第二リングの気孔率より小さい請求項19に記載の静電チャック。
  21. リフトピン孔をさらに有する請求項1に記載の静電チャック。
  22. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記裏面から前記チャック面まで延びる少なくとも1つの多孔性流体通過可能領域とを備える静電チャック。
  23. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記チャック本体内の電極とを備え、
    前記チャック本体が、本体裏面と前記チャック面との間を流体的に通じさせるための多孔構造を有する静電チャック。
  24. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記チャック本体内の電極とを備え、
    前記チャック本体が、前記チャック本体と一体化され且つ前記裏面から前記チャック面まで延びる少なくとも1つの多孔領域を有する静電チャック。
  25. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記チャック本体内の電極とを備え、
    前記チャック本体が、前記チャック本体と一体化され且つ前記裏面において露出する少なくとも1つの多孔領域と、前記多孔領域と前記チャック面との間の少なくとも1つの管路とを有する静電チャック。
  26. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記チャック本体内の電極とを備え、
    前記チャック本体が、前記チャック本体と一体化され且つ前記裏面において露出する少なくとも1つの多孔領域と、前記多孔領域と前記チャック面との間の少なくとも2つの管路とを有する静電チャック。
  27. a) 裏面とチャック面とを有するチャック本体と、
    b) 前記チャック本体内の電極とを備え、
    前記チャック本体が、前記チャック本体と一体化され且つ前記チャック面において露出する少なくとも1つの多孔領域と、前記多孔領域と前記裏面との間の少なくとも1つの管路を有する静電チャック。
  28. 前記多孔領域が前記電極を通って延びる請求項27に記載の静電チャック。
  29. 多孔領域を含む静電チャックにおいて、該静電チャックの前記多孔領域と非多孔領域との間の一体的接合を具備する改良。
  30. a) 静電チャック本体の未処理本体を形成する工程であって、前記未処理本体が除去可能な粒子を含む少なくとも1つの領域を有する、工程と、
    b) 前記静電チャック本体を形成するために前記未処理本体を加熱する工程と、
    c) 前記粒子を取り除いて、前記静電チャック本体に多孔領域を形成する工程とを具備する静電チャックの生産方法。
  31. 前記除去可能な粒子が加熱によって取り除かれる請求項30に記載の生産方法。
  32. 前記除去可能な粒子が分解化学薬品による処理によって取り除かれる請求項30に記載の生産方法。
  33. 前記除去可能な粒子が超硬合金である請求項30に記載の生産方法。
  34. a) 静電チャック本体の未処理本体に該未処理本体の焼き締め後に多孔質となる少なくとも1つの未処理領域を形成する工程と、
    b) 前記未処理本体を焼き締めて、セラミック製静電チャック本体を形成する工程とを具備し、前記セラミック製静電チャック本体が少なくとも1つの多孔領域を有する静電チャックの生産方法。
  35. 前記形成された未処理領域が焼結助剤を含む請求項34に記載の生産方法。
  36. 前記形成された未処理領域が、Y、ハロゲン化カルシウム、酸化カルシウム、硝酸カルシウム、Cr、SiOおよびBNのうちの少なくとも1つの焼結助剤を含む請求項35に記載の生産方法。
  37. 前記形成された未処理領域がYを含む請求項36に記載の生産方法。
  38. 前記形成された未処理領域が重合体成分を含み、該重合対成分は該未処理本体の焼き締め中に分解され、それによって気孔が残されて前記静電チャック本体の多孔領域が形成される請求項34に記載の生産方法。
  39. 前記形成された未処理領域が、ポリメタクリル酸メチル、ポリスチレン、ポリエチレン、アクリル樹脂、ビニル樹脂、酢酸セルロース、硬化エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、共重合体、三元重合体およびこれらの架橋変性のうちの少なくとも1つの重合体を含む請求項38に記載の生産方法。
  40. 前記形成された未処理領域が、Al、Al−TiO、Si、SiC、BN、Yおよびアルミン酸イットリウムのうちの少なくとも1つを含む請求項34に記載の生産方法。
  41. 前記形成された未処理領域が、少なくとも1つの事前焼き締め部分を含む請求項34に記載の生産方法。
  42. 前記未処理本体が常圧焼結によって焼き締められる請求項34に記載の生産方法。
  43. 前記未処理本体が加熱プレスによって焼き締められる請求項34に記載の生産方法。
  44. a) 静電チャックの高密度なセラミック本体に少なくとも1つの多孔プラグを形成する工程を具備し、前記多孔プラグが結合剤を含み、
    b) 前記多孔プラグを加熱して、前記多孔プラグを前記静電チャックの前記高密度なセラミック本体と一体化する工程をさらに具備する静電チャックの生産方法。
  45. ウェハーの工程温度を調整する調整方法であり、
    a) ウェハーをセラミック製静電チャックのチャック面で支える工程を具備し、前記静電チャックが該静電チャックの裏面から前記チャック面まで延びる多孔管路を有し、
    b) 前記多孔管路を通って前記チャック面まで熱伝導流体を流通させて、ウェハーの処理温度を調整する工程をさらに具備する調整方法。
  46. ウェハーの工程温度を調整する調整方法であり、
    a) ウェハーを静電チャックのチャック面で支える工程を具備し、前記静電チャックが前記裏面から前記チャック面まで延びる管路を有し、該管路に多孔領域が設けられ、
    b) 前記管路を通って前記チャック面まで熱伝導流体を流通させて、ウェハーの処理温度を調整する工程をさらに具備する調整方法。
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Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006173631A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Siltronic Ag 被覆された半導体ウェハ及び半導体ウェハを製造する方法及び装置
WO2007081032A1 (ja) * 2006-01-11 2007-07-19 Ngk Insulators, Ltd. プラズマ放電用電極装置
JP2008172255A (ja) * 2008-01-25 2008-07-24 Ngk Spark Plug Co Ltd 静電チャック
JP2009218607A (ja) * 2001-11-30 2009-09-24 Tokyo Electron Ltd 処理装置及びガス放電抑制部材
WO2010053648A2 (en) * 2008-11-06 2010-05-14 Asm America, Inc. Substrate holder with varying density
JP2012209499A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Ngk Insulators Ltd 静電チャックの製法及び静電チャック
JP2013534695A (ja) * 2010-06-08 2013-09-05 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド パルス状の熱伝導流体の流れを用いたプラズマ処理装置における温度制御
JP2013232641A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Ngk Insulators Ltd 半導体製造装置用部材
WO2016080502A1 (ja) * 2014-11-20 2016-05-26 住友大阪セメント株式会社 静電チャック装置
KR20160145816A (ko) * 2014-04-25 2016-12-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고온 애플리케이션을 위한 플라즈마 부식 저항성 박막 코팅
JP2017218352A (ja) * 2016-06-09 2017-12-14 新光電気工業株式会社 焼結体及びその製造方法と静電チャック
JP2018011007A (ja) * 2016-07-15 2018-01-18 東京エレクトロン株式会社 プラズマエッチング方法、プラズマエッチング装置、および基板載置台
JP2018162205A (ja) * 2017-03-17 2018-10-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 原子層堆積による多孔質体の耐プラズマ性コーティング
JP2019029384A (ja) * 2017-07-25 2019-02-21 新光電気工業株式会社 セラミックス混合物、多孔質体及びその製造方法、静電チャック及びその製造方法、基板固定装置
US10274270B2 (en) 2011-10-27 2019-04-30 Applied Materials, Inc. Dual zone common catch heat exchanger/chiller
WO2024135380A1 (ja) * 2022-12-21 2024-06-27 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び静電チャック

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SI1341524T1 (sl) * 2000-12-07 2012-02-29 Nycomed Gmbh Farmacevtski pripravek v obliki paste, ki obsega kislinsko labilno učinkovino
TWI234417B (en) * 2001-07-10 2005-06-11 Tokyo Electron Ltd Plasma procesor and plasma processing method
US6490145B1 (en) * 2001-07-18 2002-12-03 Applied Materials, Inc. Substrate support pedestal
US20030219986A1 (en) * 2002-05-22 2003-11-27 Applied Materials, Inc. Substrate carrier for processing substrates
KR100457833B1 (ko) * 2002-05-24 2004-11-18 주성엔지니어링(주) 플라즈마 식각 장치
JP4095842B2 (ja) * 2002-06-26 2008-06-04 日本特殊陶業株式会社 静電チャック
JP2004306191A (ja) * 2003-04-07 2004-11-04 Seiko Epson Corp テーブル装置、成膜装置、光学素子、半導体素子及び電子機器
US7235139B2 (en) * 2003-10-28 2007-06-26 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier for growing GaN wafers
US7245357B2 (en) * 2003-12-15 2007-07-17 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7220497B2 (en) * 2003-12-18 2007-05-22 Lam Research Corporation Yttria-coated ceramic components of semiconductor material processing apparatuses and methods of manufacturing the components
US20060023395A1 (en) * 2004-07-30 2006-02-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Systems and methods for temperature control of semiconductor wafers
US7544251B2 (en) * 2004-10-07 2009-06-09 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling temperature of a substrate
US7731798B2 (en) * 2004-12-01 2010-06-08 Ultratech, Inc. Heated chuck for laser thermal processing
JP4350695B2 (ja) * 2004-12-01 2009-10-21 株式会社フューチャービジョン 処理装置
WO2006088448A1 (en) * 2005-02-16 2006-08-24 Veeco Instruments Inc. Wafer carrier for growing gan wafers
US20080009417A1 (en) * 2006-07-05 2008-01-10 General Electric Company Coating composition, article, and associated method
WO2008082978A2 (en) * 2006-12-26 2008-07-10 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Electrostatic chuck and method of forming
US8108981B2 (en) * 2007-07-31 2012-02-07 Applied Materials, Inc. Method of making an electrostatic chuck with reduced plasma penetration and arcing
US7848076B2 (en) * 2007-07-31 2010-12-07 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for providing an electrostatic chuck with reduced plasma penetration and arcing
US9202736B2 (en) * 2007-07-31 2015-12-01 Applied Materials, Inc. Method for refurbishing an electrostatic chuck with reduced plasma penetration and arcing
US8681472B2 (en) * 2008-06-20 2014-03-25 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Platen ground pin for connecting substrate to ground
US8218284B2 (en) * 2008-07-24 2012-07-10 Hermes-Microvision, Inc. Apparatus for increasing electric conductivity to a semiconductor wafer substrate when exposure to electron beam
US8094428B2 (en) * 2008-10-27 2012-01-10 Hermes-Microvision, Inc. Wafer grounding methodology
US9218997B2 (en) * 2008-11-06 2015-12-22 Applied Materials, Inc. Electrostatic chuck having reduced arcing
US20100177454A1 (en) * 2009-01-09 2010-07-15 Component Re-Engineering Company, Inc. Electrostatic chuck with dielectric inserts
US20110024049A1 (en) 2009-07-30 2011-02-03 c/o Lam Research Corporation Light-up prevention in electrostatic chucks
US9338871B2 (en) 2010-01-29 2016-05-10 Applied Materials, Inc. Feedforward temperature control for plasma processing apparatus
US8880227B2 (en) 2010-05-27 2014-11-04 Applied Materials, Inc. Component temperature control by coolant flow control and heater duty cycle control
US8608852B2 (en) 2010-06-11 2013-12-17 Applied Materials, Inc. Temperature controlled plasma processing chamber component with zone dependent thermal efficiencies
US9728429B2 (en) 2010-07-27 2017-08-08 Lam Research Corporation Parasitic plasma prevention in plasma processing chambers
US8906164B2 (en) 2010-08-05 2014-12-09 Lam Research Corporation Methods for stabilizing contact surfaces of electrostatic chucks
KR102032744B1 (ko) 2012-09-05 2019-11-11 삼성디스플레이 주식회사 기판 고정장치 및 이의 제조방법
CN104748574A (zh) * 2013-12-27 2015-07-01 北京思能达节能电气股份有限公司 一种用于监测自焙电极焙烧状态的系统和方法
JP6497761B2 (ja) 2015-02-23 2019-04-10 エム キューブド テクノロジーズ, インコーポレーテッドM Cubed Technologies, Inc. 静電チャック用薄膜電極
US20180025931A1 (en) * 2016-07-22 2018-01-25 Applied Materials, Inc. Processed wafer as top plate of a workpiece carrier in semiconductor and mechanical processing
JP7052735B2 (ja) * 2017-09-29 2022-04-12 住友大阪セメント株式会社 静電チャック装置
KR102039802B1 (ko) * 2017-12-19 2019-11-26 한국세라믹기술원 정전척용 세라믹 본체
US10411380B1 (en) 2018-05-24 2019-09-10 Microsoft Technology Licensing, Llc Connectors with liquid metal and gas permeable plugs
US11456161B2 (en) * 2018-06-04 2022-09-27 Applied Materials, Inc. Substrate support pedestal
CN111668148B (zh) * 2019-03-05 2024-09-03 Toto株式会社 静电吸盘及处理装置
US11794296B2 (en) 2022-02-03 2023-10-24 Applied Materials, Inc. Electrostatic chuck with porous plug
US20240112939A1 (en) * 2022-09-30 2024-04-04 Applied Materials, Inc. Soft-chucking scheme for improved backside particle performance
US20240158308A1 (en) * 2022-11-11 2024-05-16 Applied Materials, Inc. Monolithic substrate support having porous features and methods of forming the same

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08274151A (ja) * 1995-01-12 1996-10-18 Applied Materials Inc ポリマー含浸静電チャックおよび製造方法
JPH0917770A (ja) * 1995-06-28 1997-01-17 Sony Corp プラズマ処理方法およびこれに用いるプラズマ装置
JPH09289201A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JPH1050813A (ja) * 1996-04-26 1998-02-20 Applied Materials Inc 静電チャック面への熱伝達流体の流れのための導管
JPH11260899A (ja) * 1998-03-10 1999-09-24 Nippon Steel Corp 静電チャック
WO1999065136A1 (en) * 1998-06-10 1999-12-16 Delsys Pharmaceutical Corporation Chuck apparatus for clamping a planar substrate in an electrostatic coating method
JP2001308075A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Toshiba Ceramics Co Ltd ウェーハ支持体

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62155517A (ja) * 1985-12-27 1987-07-10 Canon Inc パターン描画装置及び方法
US5542559A (en) 1993-02-16 1996-08-06 Tokyo Electron Kabushiki Kaisha Plasma treatment apparatus
JP3457477B2 (ja) 1995-09-06 2003-10-20 日本碍子株式会社 静電チャック
US6022807A (en) * 1996-04-24 2000-02-08 Micro Processing Technology, Inc. Method for fabricating an integrated circuit
US5835334A (en) 1996-09-30 1998-11-10 Lam Research Variable high temperature chuck for high density plasma chemical vapor deposition
US6004752A (en) * 1997-07-29 1999-12-21 Sarnoff Corporation Solid support with attached molecules
US6045753A (en) * 1997-07-29 2000-04-04 Sarnoff Corporation Deposited reagents for chemical processes

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08274151A (ja) * 1995-01-12 1996-10-18 Applied Materials Inc ポリマー含浸静電チャックおよび製造方法
JPH0917770A (ja) * 1995-06-28 1997-01-17 Sony Corp プラズマ処理方法およびこれに用いるプラズマ装置
JPH09289201A (ja) * 1996-04-23 1997-11-04 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JPH1050813A (ja) * 1996-04-26 1998-02-20 Applied Materials Inc 静電チャック面への熱伝達流体の流れのための導管
JPH11260899A (ja) * 1998-03-10 1999-09-24 Nippon Steel Corp 静電チャック
WO1999065136A1 (en) * 1998-06-10 1999-12-16 Delsys Pharmaceutical Corporation Chuck apparatus for clamping a planar substrate in an electrostatic coating method
JP2001308075A (ja) * 2000-04-26 2001-11-02 Toshiba Ceramics Co Ltd ウェーハ支持体

Cited By (36)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009218607A (ja) * 2001-11-30 2009-09-24 Tokyo Electron Ltd 処理装置及びガス放電抑制部材
JP2006173631A (ja) * 2004-12-16 2006-06-29 Siltronic Ag 被覆された半導体ウェハ及び半導体ウェハを製造する方法及び装置
WO2007081032A1 (ja) * 2006-01-11 2007-07-19 Ngk Insulators, Ltd. プラズマ放電用電極装置
JPWO2007081032A1 (ja) * 2006-01-11 2009-06-11 日本碍子株式会社 プラズマ放電用電極装置
JP4808222B2 (ja) * 2006-01-11 2011-11-02 日本碍子株式会社 プラズマ放電用電極装置
JP2008172255A (ja) * 2008-01-25 2008-07-24 Ngk Spark Plug Co Ltd 静電チャック
WO2010053648A2 (en) * 2008-11-06 2010-05-14 Asm America, Inc. Substrate holder with varying density
WO2010053648A3 (en) * 2008-11-06 2010-07-15 Asm America, Inc. Substrate holder with varying density
US9214315B2 (en) 2010-01-29 2015-12-15 Applied Materials, Inc. Temperature control in plasma processing apparatus using pulsed heat transfer fluid flow
JP2013534695A (ja) * 2010-06-08 2013-09-05 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド パルス状の熱伝導流体の流れを用いたプラズマ処理装置における温度制御
US9650302B2 (en) 2011-03-30 2017-05-16 Ngk Insulators, Ltd. Method for producing electrostatic chuck and electrostatic chuck
JP2012209499A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Ngk Insulators Ltd 静電チャックの製法及び静電チャック
US10928145B2 (en) 2011-10-27 2021-02-23 Applied Materials, Inc. Dual zone common catch heat exchanger/chiller
US10274270B2 (en) 2011-10-27 2019-04-30 Applied Materials, Inc. Dual zone common catch heat exchanger/chiller
JP2013232641A (ja) * 2012-04-27 2013-11-14 Ngk Insulators Ltd 半導体製造装置用部材
JP7175289B2 (ja) 2014-04-25 2022-11-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 高温アプリケーション用プラズマ耐食性薄膜コーティング
JP2017514991A (ja) * 2014-04-25 2017-06-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 高温アプリケーション用プラズマ耐食性薄膜コーティング
KR102493316B1 (ko) * 2014-04-25 2023-01-27 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고온 애플리케이션을 위한 플라즈마 부식 저항성 박막 코팅
KR20220051276A (ko) * 2014-04-25 2022-04-26 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고온 애플리케이션을 위한 플라즈마 부식 저항성 박막 코팅
KR102388784B1 (ko) * 2014-04-25 2022-04-19 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고온 애플리케이션을 위한 플라즈마 부식 저항성 박막 코팅
KR20160145816A (ko) * 2014-04-25 2016-12-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 고온 애플리케이션을 위한 플라즈마 부식 저항성 박막 코팅
JP2020080412A (ja) * 2014-04-25 2020-05-28 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 高温アプリケーション用プラズマ耐食性薄膜コーティング
CN107004626A (zh) * 2014-11-20 2017-08-01 住友大阪水泥股份有限公司 静电卡盘装置
WO2016080502A1 (ja) * 2014-11-20 2016-05-26 住友大阪セメント株式会社 静電チャック装置
CN107004626B (zh) * 2014-11-20 2019-02-05 住友大阪水泥股份有限公司 静电卡盘装置
JPWO2016080502A1 (ja) * 2014-11-20 2017-04-27 住友大阪セメント株式会社 静電チャック装置
US10475687B2 (en) 2014-11-20 2019-11-12 Sumitomo Osaka Cement Co., Ltd. Electrostatic chuck device
US10998216B2 (en) 2016-06-09 2021-05-04 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Sintered body and electrostatic chuck
TWI756228B (zh) * 2016-06-09 2022-03-01 日商新光電氣工業股份有限公司 燒結體、其製造方法及靜電夾頭
KR20170139457A (ko) 2016-06-09 2017-12-19 신꼬오덴기 고교 가부시키가이샤 소결체, 그 제조 방법, 및 정전 척
JP2017218352A (ja) * 2016-06-09 2017-12-14 新光電気工業株式会社 焼結体及びその製造方法と静電チャック
JP2018011007A (ja) * 2016-07-15 2018-01-18 東京エレクトロン株式会社 プラズマエッチング方法、プラズマエッチング装置、および基板載置台
JP2018162205A (ja) * 2017-03-17 2018-10-18 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 原子層堆積による多孔質体の耐プラズマ性コーティング
JP7093192B2 (ja) 2017-03-17 2022-06-29 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 原子層堆積による多孔質体の耐プラズマ性コーティング
JP2019029384A (ja) * 2017-07-25 2019-02-21 新光電気工業株式会社 セラミックス混合物、多孔質体及びその製造方法、静電チャック及びその製造方法、基板固定装置
WO2024135380A1 (ja) * 2022-12-21 2024-06-27 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び静電チャック

Also Published As

Publication number Publication date
KR100557695B1 (ko) 2006-03-07
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