JP2004503769A - ディスク形状物体の位置決め装置 - Google Patents
ディスク形状物体の位置決め装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004503769A JP2004503769A JP2002510916A JP2002510916A JP2004503769A JP 2004503769 A JP2004503769 A JP 2004503769A JP 2002510916 A JP2002510916 A JP 2002510916A JP 2002510916 A JP2002510916 A JP 2002510916A JP 2004503769 A JP2004503769 A JP 2004503769A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holder
- frame
- shaped
- fork
- axis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、基準平面に対する板状物体の異なるチルト角と、該物体の面に対して直角である軸周りの回転とを達成する装置に関する。この種の装置は、平らな物体の位置決めに用いられ得るものであり、特に、半導体ウェハ又は平面パネルの如き基板を検査する目的に用いられ得る。
【0002】
【従来技術】
これまでに知られている技術的な解決方法は、検査対象の半導体ウェハの三次元調整可能であって、該ウェハの保持を提供する真空吸引力が備えられている受容素子を基礎として実用化されていた。該受容素子は、検査プロセスの間に半導体ウェハを保持し、その構造上の効果によって照射ビーム経路、即ち検査方向に対して異なるチルト角での回転運動を可能としている。
【0003】
開示される如きこの種の既知の位置決めシステムは、例えば、米国特許5096291号において、関節構造の手法により設置されたホルダの使用によりなされ、かかる運動を実行可能としている。凸子(tappet)の形の作動素子は、チルト角が調整可能で、回転自在スピンドルと同心状に連結され得るリングから該ホルダに運動を伝達する。
【0004】
真空吸引力装置の助けにより作動する解決方法の全ては、その後方からの視界が厳しく制限されるという欠点に有する。
半導体ウェハをこれまでの如き大部分を表面タイプとする接触により保持される場合、意図されるウェハの性質に望ましくない破壊効果をかかる運動が有する場合がある。更に、より最近の技術的要求は、半導体ウェハが保持素子と狭められた画定縁部分で接触しなければならないことを意味する。また、後方の全体エリアも接触エリアのために不可視である。
【0005】
また、米国特許5096291号により知られるシステムでは、ホルダにより実現される運動を制限領域にだけ可能とする凸子の使用に起因する更なる制限を必然的に伴っている。
【0006】
【発明の目的及び概要】
本発明の主要な目的は、ディスク形状の物体の前及び後面の検査における生産性を高め、該ホルダとディスク形状の物体との間の広い接触による該物体の材料の性質におけるマイナス効果を低減することである。
本発明によれば、かかる目的はディスク形状の物体を位置決めする装置により達成される。
【0007】
調整面においてX−Y方向に調整可能であって、該調整面に対して直角である第1回転軸周りに回転自在且つプラットフォームの収容が意図されるテーブルを該装置は含む。フォーク形フレームは、その面に直角であり且つそのチルト角が該調整面に対して設定され得る第2回転軸周りに回転自在に該プラットフォーム上に設置される。その二股端において、フォーク形フレームは第3回転軸を有する。この第3回転軸は、該第2回転軸に対して直角であり、この軸周りにフレーム形物体ホルダが、該物体の調製目的で該フォーク形フレームにおいて回転自在なようにして設置される。該フレーム形物体ホルダ、即ち、該物体をその縁部分にて担うホルダは、該調整面に対して平行に配置され且つ該調整面に対して第2回転軸のチルト角を設定することが意図されるピボット軸が通過する中心を取り巻く。
【0008】
調整面でX−Y方向に調整可能なテーブルは、フレーム形物体ホルダへの物体の移動が支持素子における物体の変位を避けつつ精確な合わせ手法により可能なることを保証する。当該目的のための物体及び要求装置の事前配置の如き作業工程を除くことを可能とすることから、生産性においてプラス効果が更に発揮される。
【0009】
該物体の回転用の安定した土台が、該テーブルに対するチルト角を設定するためのプラットフォームが設置される湾曲ガイドを用いることにより作られる。該物体の下に良好に実現可能な設置は、支持物体の部分から単純なやり方で分離されることで粒子からの保護が可能である。湾曲ガイドのピボット軸、即ち該調整面に平行に配置されている軸が、フレーム形物体ホルダの中心を通っていることから、該プラットフォームの傾斜(tilting)が該物体の傾斜に同じく連動する。
【0010】
また、第1回転軸周りの回転は、該物体の下の長い道程で非常に安定したやり方で実行され得るし、高次のシステムの処置指令を該装置に単純に採用することを可能とする。
また、フォーク形フレームのための回転ドライブ、即ち、この補助の下に物体の半直角(mid−perpendicular)周りの物体の回転を駆動するドライブは、該物体下の長い道程に亘って且つ経済的なやり方で位置決めされ得る。上記の半直角は、フォーク形フレームの回転と、該プラットフォーム及び結果としての該物体の調整面に対する傾斜化と、これらの動きに基づくテーブル上で重ね合わされた回転とにより、空間上で全ての要求される角度に設定され得る。
【0011】
180度に亘って物体の向き変えるため備えられる単一のドライブが少しの費用で装着され得る。基本的に該物体は全ての位置に向き変え得るものであり、さらに該物体は回転さえされ得る。
フレーム形物体ホルダには複数の締め付け具が備えられ、それらの間には該物体の縁部分が保持時に締め付けられる。該締め付け具は、該縁部分のための複数の支持部と複数の接触押圧素子とを含み,これらは該物体の方向に調整され、該物体の縁部分を該支持部により押圧し、次いで該物体を解き放って該締め付け具を脱着することを可能とする。各接触押圧素子の調整を可能とするのに有利な点として、各接触押圧素子は、該フレーム形物体ホルダ上に備えられるバネ素子上に固定され、保持対象の物体の方向に予め撓みを与えられ、締め付け具を脱着するように作動可能な張力素子がこれに係合する。特に、加熱時に長さが短くなる形状記憶合金のからなる締め付け(clamped−in)ワイヤーが張力素子として適する。該ワイヤーを電気回路に接続することによる単純なやり方で該ワイヤーを加熱することが可能である。保持対象の物体との接触の面積を減らすのに有利な点として、該支持部と該接触押圧素子とは、湾曲した面を有し、これは締め付け状態において該物体の縁部分の面取りされた縁と係合する。 各締め付け措置には、該物体の締め付け又は非締め付け状態を検出するために、該フレーム形物体ホルダ上にセンサが備えられる。該フレーム形物体ホルダは、更に、物体を供給する又は外すための操作者のアクセスのための開口部分を含む。
【0012】
フレーム形状の物体ホルダのかかる利点は、検査ケースにおいて、物体の問題となるエリアを視認するのおいて照明上の影又は障害を何ら生じないことである。該物体は、どこにも面接触を作らないが、アーチ状の支持部の上にその斜行する縁においてのみ点接触をなす。該支持部は、不活性な材料から組成されて何らスクラッチ痕を残さない。該物体の製造工程において何ら加工が施されない領域で締め付け具が係合することから、該物体はほとんど完全に且つ両側から観察され得る。十分に大きい数の締め付け具を用いることにより、締め付け領域に偶然に現れる場合がある何らかの切り欠き或いは押し出し(flat)が何ら問題となる締め付け損失を招来することはない。
【0013】
本発明は、概略の図面を参照することにより、より完全に説明される。
【0014】
【好ましい実施例の説明】
運動の軸を示している図1は、例えば半導体ウェハ又はフラットパネルの如きディスク形状の物体1が検査目的上の考慮の下に該装置により空間的に如何に位置決めされ得るかを明らかにすることが意図されている。
前部及び後部の検査のために回転軸Wの周りに向きを変えられる物体1の場合、物体1の中心Mを通り物体1を半直角で示す検査位置に対応する回転軸δ周りの回転に合わせて準備が最初になされる。本例において用いられる半導体ウェハのケースにおいては、その直径に沿って該回転軸Wが伸長する。回転軸δは、基準系の垂直z軸に対して異なるチルト角にて、ピボット運動により円弧Bに沿って傾斜(tilting)され得る。これに関するピボット軸は、同様に中心Mを通り、基準系において水平位置を占有する調整面X−Yに平行に配置される。図1に示される位置において、そのピボット軸は、回転軸Wに一致する。考慮下の装置により、Z軸周りの回転及び調整面X−Yにおける並進X−Y運動が、更に回転軸W及び回転軸δ周りの調整と、垂直軸Zに対して且つ結果的に調整面X−Yに対するこれらの設定に基づいて重ね合わされ得る。
【0015】
以上の軸モデルにより示された位置決め装置の構造的な構成について説明する。
図2による位置決め装置において、位置決めされるべき半導体ウェハ形状の物体1は、その供給及び取り外しの両方が有り得る位置にある。物体1が調整面X−Yに平行に配置される水平位置においては、回転軸δと基準系のZ軸とは一致する。
【0016】
X−Y−φテーブル2、即ち、調整面X−Yにおいて調整され且つZ軸周りに回転せしめら得るテーブルは、プラットフォーム3を担い、調整面X−Yに対するそのチルト角は、ピポット軸S周りに湾曲ガイドの手段によるピポット運動により設定され得る。
この目的のために、プラットフォーム3をスライド6、7の助けにより導くガイドトラック4、5がX−Y−φテーブル2に固定される。プラットフォーム3の面に対して垂直であり且つδ軸に対応する軸周りに回転自在なやり方でプラットフォーム3に設置されるフォーク形フレーム8は、フレーム形物体ホルダ9のためのキャリアーとして働く。フォーク形状の物体ホルダ9は、考慮下の物体1のケースにおいて、その中心Mに一致する中心M’を取り巻く。その二股端において、フォーク形フレーム8は、ベアリング及びドライブ素子10、11を含み、この手段により、フレーム形物体ホルダ9は回転軸Wに対応する軸周りに回転自在に設置される。フレーム形物体ホルダ9の回転は、両側部の検査のために該物体の向きを変えられるように備えられる。フォーク形フレーム8は相応して広い。調整面X−Yに平行に配置されるピボット軸Sは、物体1が該ピボット運動により調整面X−Yに対しても傾斜するという結果により中心M’を通る。本例におけるように物体1が半導体ウェハであるならば、ピボット軸Sは半導体ウェハの直径に一致する。
【0017】
図3による下からの位置決め装置の眺めは、X−Y−φテーブル2及びその駆動手段のコンポーネントを広範に示している。ローラベアリング13、14、15上でX及びY方向に変位せしめ得る位置決めプレート16が、台に固定されたベースプレート12上に備えられる。X及びY方向の各々のためのサーボモータ17及び18が位置決めプレート16上に固定される。動力伝達はドライブスピンドル19、20により備えられ、該スピンドルのスピンドルナットがサーボモータ17、18のロータにより形成される。ドライブスピンドル19、20が固定具21、22により固定され、板バネ接続具の助けによりベースプレート12に連結される。該板バネ接続具のうちで、X方向の調整のためのドライブスピンドル19上に置かれ符号23で記されているもののみが示される。最後に、テーブルプレート24が、ベアリング(図示せず)の手段によりZ軸周りに回転自在なやり方で位置決めプレート16に設置され、ドライブモータ25により発生されるパワーが、歯形ベルトドライブ(同様に図示せず)の手段により回転自在なテーブルプレート24に伝達される。サーボモータ17、18のうちの1つが動作状態に入れられると、位置決めプレート16及び各サーボモータ17又は18がベースプレート12に対して変位せしめられる。板バネ接続具の板バネの各々は、各々の変位方向に垂直な方向において安定効果を有する。
【0018】
位置決めプレート16が該板バネ接続具の制約から離れてベースプレート12に対して自由に動くことから、移転固定具26が移転のために備えられ、この手段より、プレート12、16の両方がお互いに連結され得る。
プラットフォーム3の下方に、フォーク形フレーム8のためのドライブモータ27(図4参照)と、湾曲ガイドのためのドライブモータ28(図2を参照、尚、図4においては簡明性のために図示されない)とがある。物体1は、付加的に、モータ27、28の両方に関して粒子から遮蔽される。これは、関連するギヤ及びガイド素子のように、椀型の部分29(図4を参照、尚、図2においては簡明性のために図示されない)により封じられる。
【0019】
部分29は、更に、物体1が該位置決め装置に供給されたとき、特に、処置アーム(図示せず)の助けにより該物体がフレーム形状の物体9に移転されたときに物体1の位置を検出するための6つのセンサ30、31、32、33、34及び35に対して固定素子として働く。部分29の対応する複数の開口部分が物体1の明瞭な認識を可能としている。これらのセンサのうちで30、31、34及び35で記される4つのセンサのみが図4において示されている。他のセンサ32及び33は、図5において基本的な図示が与えられる。この図の助けにより、供給されるべき物体1に対する位置決め装置の調節がより詳細に説明される。
【0020】
図5を参照すると、調節行程のために、X及びY方向の調整のためにX−Y−φテーブル2上に備えられるサーボモータ17及び18が制御装置36及び37に連結され、これらは位置決めベクトルを決定するためのユニット38の出力に接続される。ユニット38の入力は、センサ30、31、32、33、34及び35に接続される。
【0021】
物体1が水平位置にあるフレーム形物体ホルダ9の上に位置決めされたなら、要求供給位置に関する物体1の着座(deposition)点がセンサ30、31、32、33、34及び35の助けにより決定される。これらから、ユニット38は、制御装置36、37においてサーボモータ17及び18のための対応する操作変数を決定するために、各々の着座ポイントへの反対方向を指示する位置決めベクトルを計算する。これは、調整面X−YにおけるX−Y−φテーブル2の調整をもたらす。この行程は、センサ30、31、32、33、34及び35の何れもが各々の方向レンジにおいて何ら物体1の存在を検出することができなくなる迄継続する。該位置決め装置は、物体1に関する供給位置まで移動されたことになる。
【0022】
湾曲ガイドの助けによりプラットフォーム3を傾斜せしめるために、チルトドライブが図6に示されるように備えられ、このチルトドライブにおいて、ドライブモータ28がスピンドルドライブ39に連結される。これは、符号41で示される方向に線状のガイド42に沿ってスタッド(stud)40を調整する。スリーブ44がスタッド40の上に据えつけられ、矢印43の方向に垂直に変位し得る回転自在に設置されたドライブ素子45の手段によりプラットフォーム3に係合する。もしスタッド40が方向41に移動したならば、プラットフォーム3が湾曲したガイド上でピボット作動される。プラットフォーム3は、該湾曲したガイドへのその連結に帰して異なる垂直位置をピボット運動の間にとることから、高さ補償がリニアドライブのパワー伝達の間に要求される。その目的は、スタッド40にあってスリーブ44を変位可能とすることと、ドライブ素子45を回転自在に設置することである。
【0023】
半導体ウェハの保持を考慮した特定のケースの場合には、図7及び図8において詳細に示されるフレーム形物体ホルダ9は、環状の構成からなり、物体1の供給又は取り外すための操作者のアクセスを可能とする開口部分46を含む。8つの締め付け具47が、互いに対向する4つの対をなすやり方で円状のリングに沿って分布せしめられる。個々のホルダの数は、締め付け具47の1つが物体1の特異な形状が故に動作しないままの時でさえ、物体1の信頼性のある保持を保証する。物体1を保持するために、共通着座平面に横たえられる垂直調整可能な支持部48が、円形のリングにより取り囲まれた空間内に突き出すようにして角度を与えられた支持体49に取り付けられる。支持部48は、不活性な材料からなり、アーチ状の表面を有し、結果としてそれらの支持部の上に静止する物体の縁部分はポイント接触のみが存在する。物体ホルダ9は、製造行程における加工エリアの形成が意図されない縁部分のおいてのみ該物体を保持する。該縁部分における互いに対向する2つの面取り部(chamfer)の1つに物体1が静止することは有利な点である。他の面取り部がボール形状の接触押圧素子50と接触するために備えられる、これは同様に不活性な材料、セラミックス又はサファイアから組成される。複数の接触押圧素子50は、ポイント支持部48で該物体1を押圧して、それらの直径以下のエリアにより物体1を動けなくする。必要な接触押圧素子の力は、第1の保持台座52上の1端に固定された板バネ51により発生され、支持部48と接触押圧素子50との間の締め付けにより移動不能なように物体1の方向に事前に荷重される。接触押圧素子50は、板バネ51の自由運動可能な他の端に固定される。移動不能状態を取り消すのに要求される反力は、締め付けられるべき物体1からずれるようにしてレバー53を介して板バネ51に係合する張力素子の助けにより発生される。該張力素子は、形状記憶合金から組成されるワイヤー54として構成される。安全性の面から、ワイヤー54は二重対構造として、結果として単一のワイヤーにある欠陥により締め付け具47の不具合を招来することはない。ワイヤー54各々の1端は、レバー53に締め付けられ、他端は第2保持台座55で締め付けられる。保持台座52及び55は、印刷された回路ボード56上に固定され、板バネ51及びワイヤー54のように、伝導体材料から製造される。清浄さの面から、角度を与えられた支持体49は、自身に設置された印刷された回路ボード56と共にその頂上で断面封鎖リング57により遮断される。断面封鎖リング57は、印刷された回路ボード56から物体1を別々に分けるために、支持部48及び接触押圧素子50のためにのみ開口を有する。
【0024】
電流供給により発生する加熱がワイヤー54で生じてワイヤー54が短くされることで張力が作出される。これにより、板バネ51が接触押圧素子50と共に物体1から引き戻される。この動作は何ら補助動作を必要とせず、故に物体1の付近の粒子の発生から全く制約を受けない。
図9は、ブロック図にて8つの締め付け具47の動作を示している。直列状に接続された回路部品58は、締め付け具47と、ワイヤー54のうちの1つに対するものを含む4つの抵抗の各々を表している。回路部品58から作り上げられる全体のユニットには電源60により定電流が供給される。増加する総電圧降下を測定するのに電圧計61が用いられ、この降下は機能不全の際に発生する。これは、ワイヤー54の1つに欠陥がある場合に発生する。もし、単一ワイヤーにおける欠損のこの許容ケースを越えて、ワイヤーの両対が断絶したなら、ダイオードシャント(shunt)62が導通機能を肩代わりし、結果的に、全ての締め付け具の全体的不具合が防がれ、締め付けを脱着する現在の動作が保証される。
【0025】
図8に示されるように、センサ63が板バネ51の自由可動端上の角度を与えられた板バネ端片64と協働して、締め付け具47の物体1の締め付け及び脱着の状態間の識別をするのに用いられる。板バネ端片64の2つの状態におげる異なる撓みに帰して、センサ63は、締め付け状態にあって非動作にされ、一方の脱着状態にあっては板バネ端片64はセンサ63の検出域に突出して信号を形成する。ボール形状の接触押圧素子50には付加的に安全化素子が備えられる。これは、本例においては、接触押圧素子50から物体1の方向に突出し、通常動作では物体1に触れない円柱ピン65の形で備えられる。円柱ピン65は、後部側の検査の間に規格にない衝突効果があって物体が脱落しまうような範囲までなって、ボール状のくさびを越えて物体1が板バネ51を押すのを防ぐ。板バネ51は、通常の上下動作が問題にならない大きさにされる。
【0026】
前述の説明及び図面は本発明を表すものであるが、当業者にとって多様な改変が本発明の思想及び範囲から逸脱することなくなされ得ることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】考慮される位置決め装置に用いられる運動軸の系を示している図である。
【図2】水平位置に配される物体が備えられる位置決め装置を示している斜視図である。
【図3】位置決め装置の下方から示している斜視図である。
【図4】物体が傾斜された場合における位置決め装置を背面から示している斜視図である。
【図5】物体の位置の検出に関わる基本的ブロック図である。
【図6】物体が傾斜された場合における位置決め装置を前及び上方から示している斜視図である。
【図7】全体を覆われたフレーム形物体ホルダを示している斜視図である。
【図8】開口状態の物体ホルダの詳細を示している斜視図である。
【図9】物体ホルダの動作を説明するための回路ブロック図である。
【簡単な符号の説明】
1 物体
2 調整面(X−Y−φテーブル)
3 プラットフォーム
4、5 湾曲ガイド
8 フォーク形フレーム
9 フレーム形物体ホルダー
30、31、32、33、34、35 センサ
47 締め付け具
48 支持部
50 接触押圧素子
51 板バネ
54 ワイヤー
63 センサ
Claims (26)
- 実質的に平面状の物体を位置決めする装置であって、
プラットフォームに受容され、調整面上のX−Y方向に調整可能且つ前記調整面に対して直角である第1回転軸周りに回転自在であるテーブルと、
面及び前記面に対して直角であり且つ前記調整面に対して設定可能なチルト角の第2回転軸を有する前記プラットフォームと、
前記プラットフォーム上に設置され、前記第2回転軸に周りに回転自在であるフォーク形フレームと、
前記物体の縁部分にて前記物体を担い、前記調整面に平行に配置されるピボット軸を通る中心を取り巻き、前記第2回転軸の前記調整面に対するチルト角の設定が意図されるフレーム形物体ホルダと、
を含み、前記フォーク形フレームは、前記第2回転軸に対して直角である第3回転軸をその二股端に備え、前記フレーム形物体ホルダは、前記物体の調製をなす目的で、前記第3回転軸周りに回転自在に前記フォーク形フレームに設置されることを特徴とする装置。 - 請求項1記載の装置であって、前記プラットフォームは、湾曲ガイドに設置されて前記調整面に対してチルト角が設定され、そのピボット軸は、前記調整面に対して平行に配置され且つ前記フレーム形物体ホルダの前記中心を通り、前記プラットフォームの傾斜(tilting)が前記物体の傾斜に同じく連動することを特徴とする装置。
- 請求項2記載の装置であって、前記フレーム形物体ホルダは、複数の締め付け具を含み、それらの間で前記物体の前記縁部分が保持時に締め付けられることを特徴とする装置。
- 請求項3に記載の装置であって、前記締め付け具は、前記縁部分のための複数の支持部と、前記物体の方向に調整され前記物体の前記縁部分を前記支持部により加圧し、前記物体から離して前記締め付け具を脱着する接触押圧素子と、を含むことを特徴とする装置。
- 請求項4に記載の装置であって、各接触押圧素子の調整を可能とするために、各接触押圧素子は、前記フレーム形物体ホルダ上に備えられるバネ素子に固定され、前記バネ素子は、保持されるべき前記物体の方向に予め撓みが与えられて、前記締め付け具を脱着するために作動せしめられ得る張力素子がこれに係合することを特徴とする装置。
- 請求項5記載の装置であって、前記張力素子は、加熱時に長さが短くなる形状記憶合金製の締め付け(clamped−in)ワイヤーにより形成されることを特徴とする装置。
- 請求項6記載の装置であって、前記ワイヤーは加熱を可能とする回路に接続されることを特徴とする装置。
- 請求項7記載の装置であって、前記支持部及び前記接触素子は、前記物体の前記縁部分の面取りされた縁に、締め付け状態おいて係合する湾曲面を有し、保持されるべき前記物体との接触の面積を低減することを特徴とする装置。
- 請求項8記載の装置であって、前記フレーム形物体ホルダは、物体の供給及び脱着をなす操作者のアクセスのための開口部分を含むことを特徴とする装置。
- 請求項9記載の装置であって、前記締め付け具の各々は、前記フレーム形物体ホルダ上にセンサを備え、前記物体の締め付け及び非締め付け状態を検知することを特徴とする装置。
- 実質的に平面状の半導体物体を保持し運動せしめる半導体物体位置決め装置であって、
前記物体を受容するサイズ及び形状を有する中心貫通孔を備えることで、前記物体の反対側の平面が前記物体ホルダの反対側から実質的に全体として可視状態とする物体ホルダと、
前記物体に連結されるドライブを含み、前記物体ホルダと前記物体ホルダにより保持される物体とを約180度の方位に倒置して前記物体ホルダを運動せしめる運動機構と、
を含むことを特徴とする装置。 - 請求項11に記載の装置であって、該物体ホルダは、概ねリング形状からなり、前記リング形状を通る1つの開口部を備えることを特徴とする装置。
- 請求項11記載の装置であって、前記物体ホルダは、前記貫通孔の中を伸長する複数の支持部と、前記貫通孔の中又は外に移動可能な接触押圧素子と、を含み、前記支持部と前記接触押圧素子との間で前記物体の外周部において前記物体の部分を締め付けることを特徴とする装置。
- 請求項11記載の装置であって、前記運動機構は、フォーク形フレーム部材を含み、前記フォーク形フレーム部材は、前記フォーク形フレーム部材の対向する複数の腕の端に回転自在に連結される物体ホルダを有することを特徴とする装置。
- 実質的に平面状の半導体物体を保持し運動せしめる半導体物体位置決め装置であって、
前記物体を受容するサイズ及び形状を有する受容エリアを備えるフレームを含む物体ホルダと、
前記物体ホルダに連結され、前記物体ホルダを運動せしめる運動機構と、
前記物体ホルダの第1側部において前記運動機構に連結され、前記受容エリアを通るセンサ経路を有し、前記物体ホルダの反対側の第2側部上に保持されている物体の外周部を計測し且つ前記受容エリアの中への位置決めを待ち構えるセンサと、
を含み、前記運動機構は、前記物体ホルダを前記物体に関する所定位置に前記センサからの入力に基づいて運動せしめ、前記受容エリアの所定位置において前記物体を受容することを特徴とする装置。 - 請求項15に記載の装置であって、前記センサは、前記物体ホルダの下方に置かれた椀形状の部材の底側に連結される光学センサであり、前記センサ経路は、前記椀形状の部材にある孔を通して伸長することを特徴とする装置。
- 実質的に平面状の半導体物体を保持し運動せしめる半導体物体位置決め装置であって、
概ねリング形状の物体ホルダと、
前記物体ホルダに連結され、前記物体ホルダの方位を倒置するフォーク形フレーム部材と、
支持テーブルに対して前記フォーク形フレームを傾斜せしめるための湾曲ガイドと、
を含み、前記湾曲ガイドは、前記支持テーブルに連結される湾曲形状のガイドトラックと、前記フォーク形フレーム部材に連結され且つ前記ガイドトラックが摺動可能に置かれる凹部を有するスライドと、を含むことを特徴とする装置。 - 請求項17記載の装置であって、前記物体ホルダは、概ねリング形状のフレームを含み,前記リング形状のフレームは、その側断部(side section)を通る開口間隙を備えることを特徴とする装置。
- 請求項17記載の装置であって、前記フォーク形フレーム部材を回転せしめるモータを更に含むことを特徴とする装置。
- 実質的に平面状の半導体物体を保持し運動せしめる半導体物体位置決め装置であって、
前記物体を受容する受容エリアを有するフレームと、
前記受容エリ内への内側位置と前記受容エリアの外への外側位置と間で前記フレームに可動にて連結される複数の接触素子と、を含み、
前記接触素子がそれらの内側位置に位置した場合に、前記接触素子は、前記接触素子の底面と前記受容エリアにある前記フレーム上の支持部の頂上面との間で、前記物体の締め付け部分に取り付けられることを特徴とする装置。 - 請求項20に記載の装置であって、前記ホルダは、前記フレーム内に置かれる印刷された回路ボードを更に含むことを特徴とする装置。
- 請求項21に記載の装置であって、前記ホルダは、前記フレームと前記接触素子との間に連結される複数の可動部材を更に含み、前記可動部材は形状記憶合金を含むことを特徴とする装置。
- 請求項20に記載の装置であって、前記ホルダにおいて、前記接触素子は、板状バネにより前記フレームに連結されることを特徴とする装置。
- 請求項23に記載の装置であって、前記ホルダは、前記板状バネの部分より直接作動せしめられるセンサを更に含むことを特徴とする装置。
- 請求項20に記載の装置であって、前記ホルダにおいて、前記接触素子は、前記フレームに可動にて設置され、前記ホルダは、前記接触素子を運動せしめ且つ前記バネを撓ませる張力部材を更に含むことを特徴とする装置。
- 請求項25に記載の装置であって、前記ホルダにおいて、前記張力部材は、形状記憶合金を含み、前記ホルダは、前記張力部材を加熱する加熱器を更に含むことを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000128569 DE10028569A1 (de) | 2000-06-09 | 2000-06-09 | Vorrichtung zum Positionieren scheibenförmiger Objekte |
PCT/US2001/015193 WO2001096836A1 (en) | 2000-06-09 | 2001-05-10 | Device for positioning disk-shaped objects |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004503769A true JP2004503769A (ja) | 2004-02-05 |
JP2004503769A5 JP2004503769A5 (ja) | 2005-02-24 |
Family
ID=7645228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002510916A Pending JP2004503769A (ja) | 2000-06-09 | 2001-05-10 | ディスク形状物体の位置決め装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP1311826A1 (ja) |
JP (1) | JP2004503769A (ja) |
AU (1) | AU2001263048A1 (ja) |
DE (1) | DE10028569A1 (ja) |
WO (1) | WO2001096836A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013228214A (ja) * | 2012-04-24 | 2013-11-07 | Atel Corp | マクロ観察装置 |
KR101654844B1 (ko) * | 2016-02-12 | 2016-09-06 | (주)삼영엠아이텍 | 링형 검사대상물의 x-ray 검사용 지그장치 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10160521B4 (de) * | 2001-12-05 | 2004-09-30 | HSEB Heinze & Süllau Entwicklungsbüro Dresden GmbH | Positioniereinrichtungen für Halbleiterobjekte |
DE102004017114B4 (de) * | 2004-04-07 | 2012-03-15 | Integrated Dynamics Engineering Gmbh | Vorrichtung zur Handhabung eines scheibenartigen Elements, insbesondere zur Handhabung eines Wafers |
GB0423399D0 (en) * | 2004-10-22 | 2004-11-24 | Hamilton & Royce Ltd | Display device |
DE102005035199A1 (de) | 2005-07-27 | 2007-02-08 | Mattson Thermal Products Gmbh | Verfahren zum Ermitteln der Ist-Lage einer Drehachse eines Transportmechanismus |
KR102003729B1 (ko) * | 2017-11-15 | 2019-07-29 | 주식회사 고영테크놀러지 | 검사 장치 |
CN114054397B (zh) * | 2021-11-26 | 2023-07-07 | 山东融跃肉制品有限公司 | 一种猪头清洗传送装置 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63299354A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-06 | Tokyo Electron Ltd | ウエハプローバ |
JPH0325949A (ja) * | 1989-06-15 | 1991-02-04 | Wacker Chemitronic Ges Elektron Grundstoffe Mbh | 薄板状の物体を受容するための保持装置および半導体ウェーハを処理する方法 |
JPH03101247A (ja) * | 1988-11-30 | 1991-04-26 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH04372150A (ja) * | 1991-06-20 | 1992-12-25 | Toshiba Corp | ウェーハシールリング着脱装置 |
US5372612A (en) * | 1993-06-28 | 1994-12-13 | Motorola, Inc. | Semiconductor material contacting member |
JPH07288276A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-10-31 | Nikon Corp | 基板の位置決め装置 |
JPH10247680A (ja) * | 1997-03-04 | 1998-09-14 | Tokyo Electron Ltd | 高温炉への搬送用フォークおよび熱処理装置 |
JPH10249782A (ja) * | 1997-02-14 | 1998-09-22 | Applied Materials Inc | 機械的にクランプするロボットリスト |
JPH1197515A (ja) * | 1997-09-22 | 1999-04-09 | Toshiba Corp | ウエハ支持用回転テーブル |
JP2000028538A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Nidek Co Ltd | ウェーハ検査装置 |
JP2000049098A (ja) * | 1998-07-27 | 2000-02-18 | Super Silicon Kenkyusho:Kk | エピタキシャル成長炉 |
WO2000026943A1 (en) * | 1998-10-30 | 2000-05-11 | Tokyo Electron Limited | Vacuum processing apparatus with low particle generating wafer holder |
WO2000033359A2 (en) * | 1998-12-02 | 2000-06-08 | Kensington Laboratories, Inc. | Specimen holding robotic arm end effector |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5096291A (en) * | 1990-05-16 | 1992-03-17 | Irvine Optical Corporation | Inspection systems having rotating motion |
US5880828A (en) * | 1996-07-26 | 1999-03-09 | Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. | Surface defect inspection device and shading correction method therefor |
JPH11142126A (ja) * | 1997-04-15 | 1999-05-28 | Matsushita Seiki Kk | フォトマスク等の表面検査装置 |
US6204917B1 (en) * | 1998-09-22 | 2001-03-20 | Kla-Tencor Corporation | Backside contamination inspection device |
-
2000
- 2000-06-09 DE DE2000128569 patent/DE10028569A1/de not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-05-10 JP JP2002510916A patent/JP2004503769A/ja active Pending
- 2001-05-10 AU AU2001263048A patent/AU2001263048A1/en not_active Abandoned
- 2001-05-10 WO PCT/US2001/015193 patent/WO2001096836A1/en active Application Filing
- 2001-05-10 EP EP01937297A patent/EP1311826A1/en not_active Withdrawn
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63299354A (ja) * | 1987-05-29 | 1988-12-06 | Tokyo Electron Ltd | ウエハプローバ |
JPH03101247A (ja) * | 1988-11-30 | 1991-04-26 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
JPH0325949A (ja) * | 1989-06-15 | 1991-02-04 | Wacker Chemitronic Ges Elektron Grundstoffe Mbh | 薄板状の物体を受容するための保持装置および半導体ウェーハを処理する方法 |
JPH04372150A (ja) * | 1991-06-20 | 1992-12-25 | Toshiba Corp | ウェーハシールリング着脱装置 |
US5372612A (en) * | 1993-06-28 | 1994-12-13 | Motorola, Inc. | Semiconductor material contacting member |
JPH07288276A (ja) * | 1994-02-22 | 1995-10-31 | Nikon Corp | 基板の位置決め装置 |
JPH10249782A (ja) * | 1997-02-14 | 1998-09-22 | Applied Materials Inc | 機械的にクランプするロボットリスト |
JPH10247680A (ja) * | 1997-03-04 | 1998-09-14 | Tokyo Electron Ltd | 高温炉への搬送用フォークおよび熱処理装置 |
JPH1197515A (ja) * | 1997-09-22 | 1999-04-09 | Toshiba Corp | ウエハ支持用回転テーブル |
JP2000028538A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Nidek Co Ltd | ウェーハ検査装置 |
JP2000049098A (ja) * | 1998-07-27 | 2000-02-18 | Super Silicon Kenkyusho:Kk | エピタキシャル成長炉 |
WO2000026943A1 (en) * | 1998-10-30 | 2000-05-11 | Tokyo Electron Limited | Vacuum processing apparatus with low particle generating wafer holder |
WO2000033359A2 (en) * | 1998-12-02 | 2000-06-08 | Kensington Laboratories, Inc. | Specimen holding robotic arm end effector |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013228214A (ja) * | 2012-04-24 | 2013-11-07 | Atel Corp | マクロ観察装置 |
KR101654844B1 (ko) * | 2016-02-12 | 2016-09-06 | (주)삼영엠아이텍 | 링형 검사대상물의 x-ray 검사용 지그장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1311826A1 (en) | 2003-05-21 |
DE10028569A1 (de) | 2001-12-13 |
AU2001263048A1 (en) | 2001-12-24 |
WO2001096836A1 (en) | 2001-12-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6986636B2 (en) | Device for positioning disk-shaped objects | |
US6214692B1 (en) | Method and apparatus for the aligned joining of disk-shaped semiconductor substrates | |
JPH081922B2 (ja) | ウェハ−保持装置 | |
KR950034662A (ko) | 워크피 스위치 결정방법 및 그 장치 | |
JP2002277502A (ja) | 基板検査装置及び基板検査方法 | |
JP2004334220A (ja) | 統合された大型ガラス取り扱いシステム | |
CN111211064A (zh) | 一种低接触晶圆对中、翻转系统 | |
KR20030074374A (ko) | 박판재의 이동적재방법 및 장치 | |
JP2004503769A (ja) | ディスク形状物体の位置決め装置 | |
EP1544897B1 (en) | Surface inspection apparatus | |
JPH03141545A (ja) | ウエハ搬送装置 | |
JP7474325B2 (ja) | ウエハ搬送装置、およびウエハ搬送方法 | |
CN101961886B (zh) | 切削装置 | |
KR100414890B1 (ko) | 웨이퍼 절삭 장치 | |
TW202246155A (zh) | 對準裝置及對準方法 | |
JP5730664B2 (ja) | 電子部品実装機 | |
JPH09293772A (ja) | ウエハの位置合わせ装置 | |
JP2004503769A5 (ja) | ||
US6310685B1 (en) | Apparatus and method for holding a green sheet and system and method for inspecting a green sheet | |
JP2003167355A (ja) | マスクのたわみ補正方法およびたわみ補正機構を備えた露光装置 | |
JP2001351958A (ja) | 半導体製造装置 | |
JPH0541423A (ja) | プローブ装置 | |
JP2000156391A (ja) | 半導体ウェーハ検査装置 | |
JP3404810B2 (ja) | 陰極線管のファンネルの位置決め装置 | |
JP5227688B2 (ja) | マスク用基板検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080502 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110531 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110829 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110905 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111130 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120904 |