JP2004311005A - 光記録媒体及びその製造方法、並びに、記録再生方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 基板と、該基板上に少なくとも記録層及び反射層を有する光記録媒体において、前記基板が厚さの設定中心値を有し、該設定中心値から一定範囲内に基板厚さがあるとき前記光記録媒体の軸方向加速度が最大許容値を有し、かつ該設定中心値からのずれ量が一定範囲を超えるに従って前記光記録媒体における軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように形成されてなる光記録媒体である。
【選択図】 なし
Description
しかしながら、従来の技術においては、前記基板厚さが設定中心値のときの軸方向加速度の最大許容値が独立に考慮されているのみであり、基板厚さの中心値からのずれ及び基板の歪による軸方向加速度を同時に検討している従来例は開示も示唆もされていない。
<2> 基板厚さの設定中心値が600μmであり、該設定中心値からのずれ量が±10μmを超えるに従って光記録媒体における軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように形成されてなる前記<1>に記載の光記録媒体である。
<3> 基板厚さが580〜620μmである前記<1>から<2>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<4> 光記録媒体を線速3.5m/secで回転させて、DVD再生システムで規定される回転軸方向の周波数帯域が2.1kHzの標準サーボ特性を有する光学ピックアップを用いて測定した際における光記録媒体の軸方向加速度の最大許容値をM(m/sec2)、基板厚さをD(μm)とした時、軸方向加速度の最大許容値Mが、590μm<D<610μmの範囲では2.5m/sec2を満たし、610μm≦D≦620μmの範囲では下記数式1を満たし、かつ580μm≦D≦590μmの範囲では下記数式2を満たすように形成される前記<1>から<3>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<数式1>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(D(μm)−610μm)〕
<数式2>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(590μm−D(μm))〕
<5> 光記録媒体における軸方向加速度が0.8m/sec2以上である前記<1>から<4>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<6> 光記録媒体における周方向加速度が、0.8〜2.0m/sec2である前記<1>から<5>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<7> 記録再生用レーザ光の波長が620〜700nmであり、かつレンズNAが0.60〜0.70である前記<1>から<6>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<8> 記録可能な線速度(L.V.)が14m/sec<L.V.≦56m/secの範囲である前記<1>から<7>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<9> 記録層が、相変化型記録層である前記<1>から<8>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<10> 記録層が、有機色素含有記録層である前記<1>から<8>のいずれかに記載の光記録媒体である。
<11> 基板上に少なくとも記録層及び反射層を有する光記録媒体を製造する方法であって、前記基板厚さが設定中心値から一定範囲内にあるとき光記録媒体の軸方向加速度が最大許容値を有し、基板厚さの設定中心値からのずれ量が一定範囲を超えて大きくなるにつれて軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように制御して製造することを特徴とする光記録媒体の製造方法である。
<12> 基板厚さが580〜620μmであり、光記録媒体の線速が3.5m/secで回転させて、DVD再生システムにおいて規定される回転軸方向の周波数帯域が2.1kHzの標準サーボ特性を有する光学ピックアップを用いて測定した際における光記録媒体の軸方向加速度の最大許容値をM(m/sec2)、基板厚さをD(μm)とした時、軸方向加速度の最大許容値Mが、(590μm<D<610μmの範囲では2.5m/sec2を満たし、610μm≦D≦620μmの範囲では下記数式1を満たし、かつ580μm≦D≦590μmの範囲では下記数式2を満たすように製造する前記<11>に記載の光記録媒体の製造方法である。
<数式1>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(D(μm)−610μm)〕
<数式2>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(590μm−D(μm))〕
<13> 内周部の厚みよりも外周部の厚みが厚いスタンパを用いて射出圧縮成形により基板を成形する前記<11>から<12>のいずれかに記載の光記録媒体の製造方法である。
<14> スタンパにおける内周部の厚みと外周部の厚みとの差が±20μm以内である前記<13>に記載の光記録媒体の製造方法である。
<15> 基板厚みと光記録媒体の軸方向加速度との関係をモニターしながら製造し、該モニター値を予め設定した基板厚さの設定中心値からのずれ量と光記録媒体の軸方向加速度の最大許容値との関係に関する合否判定基準と照合して合否を判定する前記<11>から<14>のいずれかに記載の光記録媒体の製造方法である。
<16> 前記<1>から<10>のいずれかに記載の光記録媒体に対し、記録再生速度に対応する予め決められた周波数帯域を有するピックアップを用いて記録再生を行うことを特徴とする記録再生方法である。
<17> ピックアップのレーザ光の波長が620〜700nmであり、かつレンズNAが0.60〜0.70である前記<16>に記載の記録再生方法である。
<18> 記録に用いる線速度(L.V.)が14m/sec<L.V.≦56m/secであるとき、ピックアップの周波数帯域が下記数式3を満たすように設定する前記<16>から<17>のいずれかに記録再生方法である。
<数式3>
周波数帯域(kHz)=[記録線速(m/sec)/基本線速(m/sec)]×(0.589)〔(+10%)〜(−0%)〕
ただし、前記数式3中、基本線速は、システムにおける基本となる記録再生スピードであり、DVDでは3.49m/secである。〔(+10%)〜(−0%)〕は、−(マイナス)側及び+(プラス)側における公差を表す。
本発明の光記録媒体は、基板と、該基板上に少なくとも記録層及び反射層を有し、更に必要に応じてその他の層を有してなる。
この場合、図2に示すように、基板1に大きな加速度成分を持つ歪み(凸部)5が存在する場合には、いわゆる「記録抜け」の問題が生ずる。記録線速の高速化に伴って歪み5の幅Δt(sec)が相対的に狭くなるため(通過する時間が相対的に短くなるため)、歪みの加速度成分〔Δz/(Δt)2〕は大きくなる。加速度成分が大きくなると、ピックアップの位置決めフィードバックの周波数帯域を大きくするか、基板の歪みのΔz成分を小さくしなければならない。なお、加速度には、軸方向加速度だけでなく、周方向加速度もあるが、実験によると現在のDVDの規格値である1.1m/sec2であれば特に影響はなかった。したがって、前記周方向加速度は、0.8〜2.0m/sec2が好ましい。
従って、4倍速を超えるような高速対応の光記録媒体においては軸方向加速度の最大許容値を今までよりも大幅に低減させる必要があることが分る。
<数式1>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(D(μm)−610μm)〕
<数式2>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(590μm−D(μm))〕
このように、光記録媒体の軸方向加速度を小さくすることによって、振動のゲインがゼロクロスする点の周波数を小さくできることがわかる。
また、例えば、8m/sec2の光記録媒体を少ない読み取り誤り率で読み出せるようにしたビックアップに用いるアクチュエーターの周波数特性(ピックアップのサーボ特性)も合わせて図示するが、DVDなどの光記録媒体の記録再生に用いる場合には、このように光記録媒体の周波数特性よりわずかにゼロクロス周波数が大きくなるように設計する。基本線速範囲では実際の回転数の9.6Hz程度までは20dB程度、これ以上の周波数の減衰領域では0.5dB程度大きい範囲であれば十分である。周波数帯域をこれ以上に大きくするとアクチュエーターの固有振動数をより大きなものに設計する必要があり、この場合アクチュエーターが大きくなったりして、製造コストを増大したり、あまり大きく設定しすぎるとアクチュエーター自身の振動が問題になり、信号特性を却って悪くする。
実際に、軸方向加速度が2.5m/sec2の光記録媒体を用いて回転数を変えて従来の記録システムのサーボ特性である周波数帯域2.1kHzのピックアップを用いて再生試験したところ、DVDの基本線速である3.49m/secの4倍速相当の約14m/secの線速においても、DVDシステムの規定値である残留フォーカスエラー値を0.2μm以下にすることができ、再生信号のジッター特性も規定値である9%を下回る7%程度の値を得ることができた。
光記録媒体の回転数を変化させると見かけの軸方向加速度はその線速度の2乗に比例して増減する。この様子を図示したのが、図8である。光記録媒体の周波数特性とそのときのサーボ系の周波数帯域を示す。この結果から、例えば、DVD8倍速の条件では、軸方向加速度が2.5m/sec2の光記録媒体に適するピックアップのサーボ特性は、4.8kHz〜7kHz程度であり、16倍速(記録線速=56m/sec)の線速範囲では、9.4kHz〜14kHz程度の周波数帯域のものが使用可能である。
前記記録層13は、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができるが、例えば、Ag、In、Sb、及びGeを含有し、更に必要に応じて、非晶質の安定性向上などを図る目的で、Mg、Al、Si、Ca、Cr、Mn、Co、Cu、Ga、Se、Te、Pd、及び希土類元素から選択される少なくとも1種の元素を含有してなる。前記希土類元素としては、例えば、Sc、Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、などが挙げられる。
前記記録層の膜厚は、通常、5〜20nmが好ましい。
前記第1保護層12及び第2保護層14は、前記記録層13の劣化変質を防ぎ、記録層3の接着強度を高め、かつ記録特性を高めるなどの作用効果を有し、例えば、SiO、SiO2、ZnO、SnO2、Al2O3、TiO2、In2O3、MgO、ZrO2などの金属酸化物、Si3N4、AlN、TiN、BN、ZrNなどの窒化物、ZnS、In2S3、TaS4などの硫化物、SiC、TaC、B4C、WC、TiC、ZrCなどの炭化物やダイヤモンド状カーボン(DLC)、又は、それらの混合物が挙げられる。これらの中でも、ZnSとSiO2の混合物が好ましい。前記ZnSとSiO2の混合物は、耐熱性、低熱伝導率性、化学的安定性に優れており、膜の残留応力が小さく、記録及び消去の少なくともいずれかの繰り返しによっても記録感度、消去比などの特性劣化が起きにくく、記録層との密着性にも優れている点で好ましい。
前記第1保護層12、及び第2保護層14の厚みは、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、第1保護層の膜厚は、通常50〜90nmが好ましい。
前記反射層は光反射層としての役割を果たす一方で、記録時にレーザ光照射により記録層に加わった熱を逃がす放熱層としての役割も担っている。非晶質マークの形成は,放熱による冷却速度により大きく左右されるため,反射層の選択は高線速対応媒体では特に重要である。
なお、このように高熱伝導率性を考慮すると純銀が最良であるが、耐食性を考慮しCuを添加しても良い。この場合Agの特性を損なわないためには銅の添加量範囲は0.1〜10原子%程度が好ましく、特に0.5〜3原子%が好適である。銅の過剰な添加は逆にAgの耐食性を劣化させてしまう。
前記反射層の放熱能力は基本的には層の厚さに比例するが、反射層の膜厚は、60〜300nmが好ましい。
前記保護層と前記反射層との間に、硫黄を含まない第3保護層15をバリア層として設けることが好ましい。
第3保護層15の材料としては、例えば、Si、SiC、SiN、GeN、ZrO2、などが挙げられ、これらの中でも、Si又はSiCがバリア性が特に高い点で好ましい。
純Ag又はAg合金を反射層に用いると、ZnSとSiO2の混合物のような硫黄を含む保護層を用いた場合、硫黄がAgへ拡散しディスク欠陥となる不具合が生じてしまう(Agの硫化反応)。従って、このような反応を防止する第3保護層としては、(1)Agの硫化反応を防ぐ、バリア能力があること、(2)レーザ光に対して光学的に透明であること、(3)アモルファスマーク形成のため、熱伝導率が低いこと、(4)保護層や反射層と密着性が良いこと、(5)形成が容易であること、などの観点から適切な材料を選定することが望ましく、上記要件を満たすSi又はSiCを主成分とする材料が第3保護層の構成材料としては好ましい。
前記基板11の材料としては、通常、ガラス、セラミックス、樹脂、などが用いられるが、成形性、コストの点から、樹脂製基板が好適である。前記樹脂としては、例えば、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、アクリロニトリル−スチレン共重合体樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂、ABS樹脂、ウレタン樹脂などが挙げられる。これらの中でも、成形性、光学特性、コストの点から、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂が好ましい。
なお、基板の厚み及び特性については、上述した通りである。
記録層はレーザ光の照射により何らかの光学的変化を生じ、その変化により情報を記録できるものであって、この記録層は有機色素を少なくとも含有し、該有機色素を分散可能な樹脂、及び褐色防止剤、更に必要に応じてその他の成分を含有してなる。
前記記録層の膜厚は、通常、5〜20nmが好ましい。
前記色素中に金属又は金属化合物としては、例えば、In、Te、Bi、Se、Sb、Ge、Sn、Al、Be、TeO2、SnO、As、Cd等を分散混合あるいは積層の形態で用いることもできる。
前記下引き層は、(1)接着性の向上、(2)水又はガス等のバリア、(3)記録層の保存安定性の向上、(4)反射率の向上、(5)溶剤からの基板や記録層の保護、及び(6)案内溝・案内ピット・プレフォーマット等の形成等を目的として使用される。
前記(1)の目的に対しては、高分子材料、例えば、アイオノマー樹脂、ポリアミド樹脂、ビニル系樹脂、天然樹脂、天然高分子、シリコーン、液状ゴム等の種々の高分子物質、及びシランカップリング剤等を用いることができる。前記(2)及び(3)の目的に対しては、前記高分子材料以外に無機化合物、例えば、SiO2、MgF2、SiO、TiO2、ZnO、TiN、SiN等、更に金属、又は半金属、例えばZn、Cu、Ni、Cr、Ge、Se、Au、Ag、Al等を用いることができる。また、前記(4)の目的に対しては、金属、例えば、Al、Ag等や、金属光沢を有する有機薄膜、例えば、メチン染料、キサンテン系染料等を用いることができる。前記(5)及び(6)の目的に対しては、紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂、熱可塑性樹脂等を用いることができる。
前記反射層の材料としては、上述した銀(Ag)合金が用いられる。前記反射層の膜形成法としては、例えば、蒸着、スパッタリング等が挙げられる。
前記保護層、又は基板表面ハードコート層は、(1)記録層(反射吸収層)の傷、ホコリ、汚れ等からの保護、(2)記録層(反射吸収層)の保存安定性の向上、(3)反射率の向上等を目的として使用される。これらの目的に対しては、前記中間層に示した材料を用いることができる。また、無機材料としては、例えば、SiO、SiO2等も用いることができる。有機材料としては、例えば、ポリメチルアクリレート、ポリカーボネート、エポキシ樹脂、ポリスチレン、ポリエステル樹脂、ビニル樹脂、セルロース、脂肪族炭化水素樹脂、芳香族炭化水素樹脂、天然ゴム、スチレンブタジエン樹脂、クロロプレンゴム、ワックス、アルキッド樹脂、乾性油、ロジン等の熱軟化性、熱溶融性樹脂、紫外線硬化樹脂も用いることができる。前記材料のうち保護層、又は基板表面ハードコート層に最も好ましい例としては生産性に優れた紫外線硬化樹脂である。
前記保護層又は基板表面ハードコート層の膜厚は0.01〜30μmが好ましく、0.05〜10μmがより好ましい。
前記保護基板は、この保護基板側からレーザ光を照射する場合、使用レーザ光に対し透明でなくてはならず、単なる保護板として用いる場合、透明性は問わない。使用可能な基板材料は前記の基板材料と全く同様であり、ポリエステル樹脂、アクリル樹脂、ポリアミド樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂等のプラスチックス又は、ガラス、セラミックスあるいは、金属等を用いることができる。
前記接着剤としては、2枚の記録媒体を接着できる材料であれば特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、生産性を考えると、紫外線硬化型接着剤又はホットメルト型接着剤が好ましい。
本発明の光記録媒体の製造方法は、基板厚さが580〜620μmであり、基板厚さが設定中心値から一定範囲内にあるとき光記録媒体の軸方向加速度が最大許容値を有し、基板厚さの設定中心値からのずれ量が一定範囲を超えて大きくなるにつれて軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように制御して製造する。
<数式1>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(D(μm)−610μm)〕
<数式2>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(590μm−D(μm))〕
本発明の記録再生方法は、本発明の前記光記録媒体に対し、記録再生速度に対応する予め決められた周波数帯域を有するピックアップを用いて記録再生を行うものである。
ここで、前記ピックアップのレーザ光の波長が620〜700nmであり、かつレンズNAが0.60〜0.70であることが好ましい。
<数式3>
周波数帯域(kHz)=[記録線速(m/sec)/基本線速(m/sec)]×(0.589)〔(+10%)〜(−0%)〕
ただし、前記数式3中、基本線速は、システムにおける基本となる記録再生スピードであり、DVDでは3.49m/secである。〔(+10%)〜(−0%)〕は、−(マイナス)側及び+(プラス)側における公差を表す。
−光記録媒体の作製−
光ビームを透過する600μmの厚さの設定中心値を有するポリカーボネート樹脂製基板を射出圧縮成形により作製した。基板の成形に際しては、射出圧縮成形の条件(例えば、40t以上80t以下程度の加圧圧縮が可能な射出圧縮成形機を用い、例えば、130〜200℃の条件で2秒のプロセス時間の間に、型開き、材料注入、加圧圧縮、基板剥離の工程を行うように設定する)を適宜調整して、表1に示すような種々の厚さ部分を有する基板を作製した。なお、表1に示す基板厚さは、測定値のうち基板厚さの設定中心値600μmから最もずれた値を示した。ここで、基板厚さはETA−Optik社製 ETA RTにより測定した。
次に、基板上に、ZnS・SiO2(80モル%:20モル%)からなる下部誘電体層を厚みが70nmとなるようにスパッタ法により成膜した。この場合、下部誘電体層のスパッタ法は、表1におけるNo.4、5、及び8については、通常の投入電力(約1kV)で行い、その他については、通常の投入電力よりも最大で約15%少ない範囲内で変化させて行い、これにより種々の歪み(厚み)を有する下部誘電体層を基板上に形成した。
得られた各光記録媒体について、軸方向加速度を株式会社小野測器製 LM1200により測定した。結果を表1に示す。
また、得られた各光記録媒体に対し、該光記録媒体の軸方向のフィードバックループの周波数帯域を5kHzとしたピックアップを用い、フォーカスオフセットを基板厚さの設定中心値である600μmに最適化してDVDの8倍速(記録線速度=28m/sec)で記録を行った。次いで、再生信号がそれぞれ最大となるようにピックアップのフォーカスオフセットを最適化してDVDの基本記録再生速度(記録線速度=3.5m/sec)で再生を行ったときの、再生信号のエラー率を以下のようにして評価した。また、以下のようにして合否を判定した。結果を表1に示す。
エラー率の評価は、DVDの訂正コードに従って、訂正可能なエラーの個数を測定し、下記の基準で評価した。150個未満の場合を「○」、150〜250個の場合を「△」、250個を超える場合を「×」とした。
<合否の評価>
合否は、各層を積層して作製した光記録媒体について、得られた軸方向加速度と基板厚さから、基板厚さと軸方向加速度の関係が図6の斜線部内にある場合を「○」、斜線部から外れる場合を「×」とした。
また、DVDの4倍速(記録線速度=14m/sec)で記録を行った結果では、エラー率は総て100個未満となり、上記合否判定基準は4倍速(記録線速度=14m/sec)を超える高速記録時に有効なものであることが確認できた。
実施例1において、内周部と外周部の厚さの差が±5μm以下のスタンパにより射出圧縮成形したポリカーボネート樹脂製基板を用いた以外は、実施例1と同様にして、「光記録媒体A」を作製した。
また、実施例1において、内周部の厚さよりも外周部の厚さが20μm厚いスタンパを用いて射出圧縮成形したポリカーボネート樹脂製基板を用いた以外は、実施例1と同様にして、「光記録媒体B」を作製した。
ここで、「光記録媒体A」の歩留まりが「光記録媒値B」の歩留まりよりも低いのは、「光記録媒体A」の場合には、図6に示す基板厚さが中心値±10μm〜±20μmで軸方向加速度が2.0m/sec2〜2.5m/sec2の光記録媒体が含まれているが、図6の斜線部の上部は2次関数の曲線で囲まれているため、この条件を満たすものの中には該2次関数の曲線よりも上部にあって斜線部を外れるものが含まれるからであると考えられる。
実施例1と同様にして、基板厚さ及び最大軸方向加速度を変化させた光記録媒体を100個作製し、図6に示すように、基板厚さの設定中心値からのずれ量と軸方向加速度の最大許容値の関係を求め、実施例1と同様にしてエラー率を評価した。なお、値は平均値で表した。
その結果、図6の斜線部内に入るの光記録媒体には、高速記録時のエラー率がDVDの規格値より多いものは見当らなかったのに対し、図6の斜線部を外れる光記録媒体には約65%の割合でエラー率が悪いものが含まれていた。
従って、図6の斜線部内に在るか否かを光記録媒体を製造する際の合否判定基準にすることが可能であることが認められる。
2 記録層
3 対物レンズ
4 記録再生光
5 歪み
6 記録抜け部分
11 基板
12 第1保護層
13 記録層
14 第2保護層
15 第3保護層
16 反射層
21 基板
22 記録層
23 下引き層
24 保護層
25 ハードコート層
26 反射層
27 保護基板
28 接着層
Claims (18)
- 基板と、該基板上に少なくとも記録層及び反射層を有する光記録媒体において、前記基板が厚さの設定中心値を有し、該設定中心値から一定範囲内に基板厚さがあるとき前記光記録媒体の軸方向加速度が最大許容値を有し、かつ該設定中心値からのずれ量が一定範囲を超えるに従って前記光記録媒体における軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように形成されてなることを特徴とする光記録媒体。
- 基板厚さの設定中心値が600μmであり、該設定中心値からのずれ量が±10μmを超えるに従って光記録媒体における軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように形成されてなる請求項1に記載の光記録媒体。
- 基板厚さが580〜620μmである請求項1から2のいずれかに記載の光記録媒体。
- 光記録媒体を線速3.5m/secで回転させて、DVD再生システムで規定される回転軸方向の周波数帯域が2.1kHzの標準サーボ特性を有する光学ピックアップを用いて測定した際における光記録媒体の軸方向加速度の最大許容値をM(m/sec2)、基板厚さをD(μm)とした時、軸方向加速度の最大許容値Mが、590μm<D<610μmの範囲では2.5m/sec2を満たし、610μm≦D≦620μmの範囲では下記数式1を満たし、かつ580μm≦D≦590μmの範囲では下記数式2を満たすように形成される請求項1から3のいずれかに記載の光記録媒体。
<数式1>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(D(μm)−610μm)〕
<数式2>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(590μm−D(μm))〕 - 光記録媒体における軸方向加速度が0.8m/sec2以上である請求項1から4のいずれかに記載の光記録媒体。
- 光記録媒体における周方向加速度が、0.8〜2.0m/sec2である請求項1から5のいずれかに記載の光記録媒体。
- 記録再生用レーザ光の波長が620〜700nmであり、かつレンズNAが0.60〜0.70である請求項1から6のいずれかに記載の光記録媒体。
- 記録可能な線速度(L.V.)が14m/sec<L.V.≦56m/secの範囲である請求項1から7のいずれかに記載の光記録媒体。
- 記録層が、相変化型記録層である請求項1から8のいずれかに記載の光記録媒体。
- 記録層が、有機色素含有記録層である請求項1から8のいずれかに記載の光記録媒体。
- 基板上に少なくとも記録層及び反射層を有する光記録媒体を製造する方法であって、前記基板厚さが設定中心値から一定範囲内にあるとき光記録媒体の軸方向加速度が最大許容値を有し、基板厚さの設定中心値からのずれ量が一定範囲を超えて大きくなるにつれて軸方向加速度の最大許容値が小さくなるように制御して製造することを特徴とする光記録媒体の製造方法。
- 基板厚さが580〜620μmであり、光記録媒体の線速が3.5m/secで回転させて、DVD再生システムにおいて規定される回転軸方向の周波数帯域が2.1kHzの標準サーボ特性を有する光学ピックアップを用いて測定した際における光記録媒体の軸方向加速度の最大許容値をM(m/sec2)、基板厚さをD(μm)とした時、軸方向加速度の最大許容値Mが、(590μm<D<610μmの範囲では2.5m/sec2を満たし、610μm≦D≦620μmの範囲では下記数式1を満たし、かつ580μm≦D≦590μmの範囲では下記数式2を満たすように製造する請求項11に記載の光記録媒体の製造方法。
<数式1>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(D(μm)−610μm)〕
<数式2>
M(m/sec2)=2.5−〔0.05×(590μm−D(μm))〕 - 内周部の厚みよりも外周部の厚みが厚いスタンパを用いて射出圧縮成形により基板を成形する請求項11から12のいずれかに記載の光記録媒体の製造方法。
- スタンパにおける内周部の厚みと外周部の厚みとの差が±20μm以内である請求項13に記載の光記録媒体の製造方法。
- 基板厚みと光記録媒体の軸方向加速度との関係をモニターしながら製造し、該モニター値を予め設定した基板厚さの設定中心値からのずれ量と光記録媒体の軸方向加速度の最大許容値との関係に関する合否判定基準と照合して合否を判定する請求項11から14のいずれかに記載の光記録媒体の製造方法。
- 請求項1から10のいずれかに記載の光記録媒体に対し、記録再生速度に対応する予め決められた周波数帯域を有するピックアップを用いて記録再生を行うことを特徴とする記録再生方法。
- ピックアップのレーザ光の波長が620〜700nmであり、かつレンズNAが0.60〜0.70である請求項16に記載の記録再生方法。
- 記録に用いる線速度(L.V.)が14m/sec<L.V.≦56m/secであるとき、ピックアップの周波数帯域が下記数式3を満たすように設定する請求項16から17のいずれかに記録再生方法。
<数式3>
周波数帯域(kHz)=[記録線速(m/sec)/基本線速(m/sec)]×(0.589)〔(+10%)〜(−0%)〕
ただし、前記数式3中、基本線速は、システムにおける基本となる記録再生スピードであり、DVDでは3.49m/secである。〔(+10%)〜(−0%)〕は、−(マイナス)側及び+(プラス)側における公差を表す。
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