JP2004281907A - 大型基板ホルダ - Google Patents
大型基板ホルダ Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004281907A JP2004281907A JP2003074040A JP2003074040A JP2004281907A JP 2004281907 A JP2004281907 A JP 2004281907A JP 2003074040 A JP2003074040 A JP 2003074040A JP 2003074040 A JP2003074040 A JP 2003074040A JP 2004281907 A JP2004281907 A JP 2004281907A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate holder
- vibration
- bars
- glass substrate
- rubber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Vibration Prevention Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】枠状のステージに形成された基板ホルダ本体2と、この基板ホルダ本体2の開口部3内に複数並設された桟4と、この開口部3内に設けられた開口部3の中央部を通る前記桟4の間に一直線上に配置した、外的要因及び内的要因の振動を吸収する複数の振動吸収部材8とを設けた。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば液晶ディスプレイ(LCD)やプラズマディスプレイパネル(PDP)、有機ELディスプレイなどのフラットディスプレイ(FPD)のガラス基板を保持する大型基板ホルダに関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、液晶ディスプレイに用いられるガラス基板は、近年の液晶ディスプレイの技術の進歩によりそのサイズが大型化しており、例えば1m×1m以上になっている。
【0003】
このようなガラス基板は、液晶ディスプレイの製造工程において基板ホルダ上に載置されて欠陥検査が行なわれる。この欠陥検査に用いられる基板ホルダは、例えば特許文献1に記載されている。この特許文献1は、基板ホルダ枠内に複数の桟を設けた構成となっている。そして、欠陥検査は、ガラス基板を照明して検査員の目視により欠陥部分を検査するマクロ検査と、このマクロ検査により検出された欠陥部分を顕微鏡を用いて拡大して検査するミクロ検査とが行なわれる。
【0004】
【特許文献1】
特開9−189641号公報
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ガラス基板は、基板ホルダ上に載置されているが、例えば人が動くなどの外的要因により発生した振動が基板ホルダに伝達され、ガラス基板が振動してしまう。又、ガラス基板が振動するのは、人の動きだけでなく、例えばクリーンルームに流れるダウンフローの風圧を受けて振動したり、ガラス基板を搬送するローダ・アンローダの動作時に生じる振動の影響、グレーチング床等からの振動を受けて振動してしまう。さらには、基板ホルダ自体が移動するなどの内的要因により振動が発生し、ガラス基板を振動させてしまう。
【0006】
基板ホルダは、サイズが例えば1m×1m以上の大型のガラス基板を保持するために大型化し、ホルダ枠内に設けられた各桟の長さも長くなる。このため、これら桟は、僅かな振動で共振してその振動が大きくなり、ガラス基板を振動させてしまう。この振動では、低周波数の振動や高周波の振動が含まれる。さらに、ガラス基板は、板厚が薄く形成されているので、基板ホルダの振動を受けやすい。
【0007】
このようにガラス基板が振動すると、ガラス基板の検査時、例えばミクロ検査時に顕微鏡を通して観察される欠陥部分の拡大画像が振動してしまい、拡大画像の見え方が悪化する。特に、顕微鏡の倍率が高くなるに従って微小な振動や僅かなダウンフローの風圧でも顕微鏡を通して観察される拡大画像が例えば微小に振動してしまう。このため、拡大画像の見え方が悪化し、ガラス基板を検査するには、不良な画像となる。この結果、欠陥部分のミクロ検査やガラス基板上の線幅測定を十分な精度で行うことが出来ない。
【0008】
このようなガラス基板の振動防止方法としては、例えば基板ホルダ上においてガラス基板を全面吸着する方法や、特許文献1に記載されているように基板ホルダを構成する複数の桟を金属部材により構成する方法などがある。
【0009】
しかしながら、ガラス基板を全面吸着する方法では、ガラス基板の裏面側が基板ホルダによって塞がれることになり、ガラス基板の裏面側から透過照明光を照射できなくなる。このため、透過照明を用いてガラス基板の欠陥検査が出来なくなる。
【0010】
又、特許文献1に示す桟を金属部材により構成する方法では、金属部材が剛体であるために振動しやすくなる。
【0011】
そこで本発明は、振動を防止できる大型基板ホルダを提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明は、枠状のステージと、このステージ枠内に設けられ大型基板を水平に載置する複数の桟とを有する大型基板ホルダにおいて、各桟の間に外的要因及び内的要因の振動を吸収する振動吸収手段を設けた大型基板ホルダである。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0014】
図1は大型基板ホルダの構成図である。この大型基板ホルダは、例えばフラットパネルディスプレイの大型のガラス基板1の表面を検査する表面検査装置に適用される。基板ホルダ本体2は、枠状に形成されている。この基板ホルダ本体2の開口部3内には、複数の桟4がX方向に架設されている。これら桟4は、基板ホルダ本体2の開口部3内の互いに対向する2辺間に所定の間隔で並設されている。これら桟4は、互いの板面が向かい合って配置された帯状の2枚の保持板4a、4bとから構成される。これら保持板4a、4bの間には、透過照明光が通過するための空間部4cが形成されている。これら保持板4a、4bの間には、例えば透明な防止材を挟んでもよい。
【0015】
基板ホルダ本体2の開口部3内における所定位置、例えば中央部分に対応する各桟4には、複数の基板吸引部材5が設けられている。又、各桟4には、ガラス基板1を水平に保持するために複数の支持ピン6が設けられている。
【0016】
図2(a)(b)は桟4に対する基板吸引部材5及び支持ピン6の取り付けを示す構成図であって、同図(a)は上方から見た構成図、同図(b)は側面図である。これら基板吸引部材5及び支持ピン6は、2枚の保持板4a、4bの間に所定間隔に挟持されている。基板吸引部材5は、それぞれ基板ホルダ本体2上に載置されるガラス基板1を吸引保持し、支持ピン6は、同ガラス基板1を水平に支持する。これら基板吸引部材5及び支持ピン6は、図1に示すように基板ホルダ本体2の周縁載置部2aと同一高さに設けられる。
【0017】
各基板吸引部材5には、吸引チューブ7が接続されている。この吸引チューブ7は、2枚の保持板4a、4bの間に配置されている。この吸引チューブ7は、例えば光透過性の材料により形成されている。そして、各桟4毎に配設された各吸引チューブ7は、例えば1本に纏められ、図1に示すように基板ホルダ本体2外部に設けられた吸引ポンプPに接続される。
【0018】
なお、図2(a)(b)は基板吸引部材5及び支持ピン6の取り付けた桟4を示すが、基板吸引部材5を取付けない場合には、複数の支持ピン6が各保持板4a、4bの間に所定間隔毎に挟持される。
【0019】
又、基板ホルダ本体2の開口部3内には、複数の桟4の配置方向(X方向)に対して垂直方向(Y方向)に複数の振動吸収部材8が取付けられている。これら振動吸収部材8は、開口部3内に複数列、例えば図1では中央部とその両側との計3列が所定間隔をおいて配列される。これら振動吸収部材8は、外的要因及び内的要因により生じる基板ホルダ自体の低周波数の振動や高周波の振動を吸収、減衰する。
【0020】
図3は振動吸収部材8を一部拡大した分解構成図である。各桟4の間には、それぞれ振動吸収手段として例えば弾性体であるゴム9が圧入される。このゴム9は、例えば高分子のゴムにより直方体に形成され、その長さは各桟4の間隔よりも若干長く形成されている。なお、ゴム9の長さ、高さ及び幅は、それぞれ外的要因及び内的要因により生じる基板ホルダ自体の振動の大きさなどに応じて調整してもよい。
【0021】
このようなゴム9は、例えば図4において圧入状態を強調して示すように、長手方向の両端がそれぞれ各桟4への押し付け力によって隣接する一方の桟の保持板4bと他方の桟4の保持板4aの間に挟持される。
【0022】
これら各桟4の間に挟持されるゴム9は、上下の各カバー10、11により覆われる。上カバー10は、凹形状に形成され、各桟4が入り込むところに切欠き12が設けられている。下カバー11は、凹形状に形成され、その長さは各桟4の間隔つまり保持板4bと4aとの間隔よりも若干短く形成されている。これら上下カバー10、11は、図5(a)に示すようにゴム9を上下方向から覆い、例えばビス13により固定される。なお、ゴム9は、図5(a)に示すように上下カバー10、11に接触しないように支持してもよく、図5(b)に示すようにゴム9を上カバー11で挟み込んで保持してもよく、さらにゴム9を上下カバー10、11の両方に接触させて覆ってもよい。
【0023】
なお、各桟4の各保持板4a、4bは、板厚に対して充分に長い幅寸法を有し、剛性の高い金属からなもので、振動を抑える目的でその板面に防振材をコーティングしたり、又は粒界腐食ステンレス等の制振金属で作製してもよい。防振材としては、例えば高分子のゴム、又は樹脂、振動吸収塗料、ゲル状物質を用いる。振動吸収塗料としては、例えばウレタン、アクリル、シリコン系樹脂塗料を用いる。ゲル状物質としては、例えばオルガノゲル、ポリマー系ゲル、シリコン系ゲル、フッ素イオン交換樹脂などを用いる。さらに、各桟4が共振しないように各保持板4a、4bの板厚を変えたり、防振材の厚みや量を変えるなどして各桟4自体の共振周波数を異ならせ、各桟4同士間の共振をなくすことが好ましい。
【0024】
又、基板ホルダ本体2の周縁載置部2aには、ガラス基板1を吸着保持するための複数の吸引部材(吸着パッド)14が設けられている。これら吸引部材14は、吸引チューブ7に接続され、吸引ポンプPの吸引動作を受けて吸引作用を行なう。又、基板ホルダ本体2には、複数の基準ピン15及び複数の押付けピン16が設けられている。
【0025】
次に、上記の如く構成されたホルダの作用について説明する。
【0026】
基板ホルダ本体2上には、例えば液晶ディスプレイに用いられる1m×1m以上のサイズの大型のガラス基板1が載置される。このガラス基板1は、複数の押付けピン16により複数の基準ピン15に押し付けられて、基準位置にセッティングされる。この後、ガラス基板1は、吸引ポンプPの動作によって各基板吸引部材5及び各吸引部材14により吸着保持される。
【0027】
この状態で、ガラス基板1の表面に照明が行なわれ、検査員の目視によりマクロ検査が行なわれる。次に、マクロ検査により検出された欠陥部分が顕微鏡により拡大され、この拡大像を観察することによりミクロ検査が行なわれる。又、顕微鏡によりガラス基板1表面の拡大像を撮像し、この画像データを画像処理してガラス基板1表面上の線幅測定が行なわれる。
【0028】
このようなガラス基板1に対する検査、測定中に、外的要因及び内的要因により発生した振動が基板ホルダ本体2に伝達されると、各桟4の間に圧入された複数のゴム9によって振動が吸収、減衰される。このとき、基板ホルダ本体2は、ガラス基板1のサイズの大型化によってホルダ枠内に設けられる各桟4の長さが長くなるために、外的要因又は内的要因により基板ホルダ本体2内の中央部で振動の大きさが最も大きくなる。
【0029】
本実施の形態では、基板ホルダ本体2内の中央部に対応する位置に振動吸収部材8として複数のゴム9が圧入されているので、基板ホルダ本体2内の中央部に発生する振動も各ゴム9により吸収、減衰される。さらに、各桟4の間を振動吸収部材8として複数のゴム9で連結するので、振動が縦方向(X方向)、横方向(Y方向)及び高さ方向(Z方向)に生じても、これら方向の振動が各ゴム9により吸収、減衰される。
【0030】
この結果、ガラス基板のミクロ検査時、顕微鏡を通して観察されるガラス基板1表面上の欠陥部分の拡大画像は、振動せずに良好に観察できる。特に、顕微鏡の倍率が高くなっても拡大画像は、振動して観察されることがない。又、ガラス基板1上の線幅測定も十分な精度で出来る。
【0031】
このように上記第1の実施の形態においては、基板ホルダ本体2内の複数の桟4の間に振動吸収部材8としてゴム9を圧入したので、外的要因及び内的要因により発生した横方向及び縦方向の振動をゴム9によって吸収、減衰することができ、基板ホルダ本体2上に載置された大型のガラス基板1の振動を最小限に抑えることができる。又、複数の桟4の間を振動吸収部材8で連結することで、各桟4に伝達する共振周波数を減衰させ、各桟4間の共振を無くすことができる。又、基板ホルダ本体2の中央部に対応する位置に振動吸収部材8と基板吸引部材5とを設けることで、振動の最も大きくなる基板ホルダ本体2の中央部分の振動を吸収・減衰させることができ、これにより、ガラス基板1のミクロ検査時に顕微鏡を通して高倍率で観察しても、その拡大画像が振動することなく良好に観察でき、ガラス基板1上の線幅測定においても良好な観察画像を得ることができる。
【0032】
又、各桟4の間に各ゴム9を圧入するだけの構成なので、既存の基板ホルダに簡単に取り付けて、振動の影響を無くすことができる。
【0033】
又、各ゴム9は、上及び下カバー10、11によって覆われているので、各桟4の間からゴム9が外れても、基板ホルダ本体2から落下することがない。
【0034】
なお、上記第1の実施の形態は、次の通りに変形してもよい。
【0035】
上記第1の実施の形態では、複数の桟4の配置方向に対して垂直方向に複数の振動吸収部材8を取り付けたが、例えば図6に示すように基板ホルダ本体2の開口部3内の中央部に一直線状に振動吸収部材8を取り付けるようにしてもよい。すなわち、基板ホルダ本体2上のガラス基板1は、中央部で振動の大きさが最も大きくなるために、この中央部における振動を吸収、減衰させれば、ガラス基板1の振動を極めて小さくすることができる。従って、基板ホルダ本体2の各桟4の中央部を振動吸収部材8で連結するだけでも、ガラス基板1の振動を吸収、減衰するのに効果的である。
【0036】
又、振動吸収部材8は、図7に示すように各桟4の間に例えばちどり状に離散的に取り付けてもよい。なお、振動吸収部材8の取付位置は、任意に決めてもよく、敢えて言うならば、振動の大きくなる基板ホルダ本体2の開口部3の中央部に取り付けるのが好ましい。又、基板ホルダ本体2上に吸着保持されたガラス基板1の振動を分析し、ガラス基板1の振動の腹や振動が大きく発生する部分に振動吸収部材8を取り付けることもできる。
【0037】
各桟4の間に圧入される振動吸収部材8としてのゴム9は、例えば図8に示すように桟4の対向位置にそれぞれ各ピン20、21を設け、これらピン20、21の間にゴム9を嵌め込んでもよい。各桟4に設けられた各ピン20、21を設ける各部分には、嵌め込み用の凹部22を形成し、この凹部22に円柱状に形成されたゴム9の端部を嵌め込むようにしてもよい。ゴム9は、例えば円柱状に形成され、かつ両端部にそれぞれ各ピン20、21が挿入される各穴23a、23bが形成される。従って、ゴム9は、各ピン20、21が各穴23a、23bに挿入され、かつ両端部が各保持板4a、4bの各嵌め込み用の凹部22に嵌め込められる。この場合、ゴム9が各桟4間に挟持されて落下する可能性がなければ、各ピン20、21を取り除いて凹部22に直接ゴム9を嵌め込んでもよい。
【0038】
又、各桟4の間に圧入するゴム9は、例えば図9に示すように桟4の対向位置にそれぞれテーパ状の凹部24、25を形成し、これら凹部24、25内に板状又は柱状の先端をテーパ状に形成したゴム9を圧入してもよい。この場合、ゴム9は、板状に形成され、両端部が三角のコーナ部に形成されている。各凹部24、25は、それぞれゴム9のコーナ部に嵌合する三角穴に形成されている。
【0039】
なお、ゴム9の形状は、円柱状や板状に限ることはなく、例えば角状に形成してもよい。
【0040】
又、図3、図8及び図9に示す各ゴム9は、その表面を例えばポリエチレン等によってコーティングしてもよい。コーティングすることによってゴム9の耐久性を向上できると共に、静電気の発生を防止でき、さらに桟4との間で擦れて発生する塵、パーティクルが落下することもない。又、ゴム9は、テフロンにより形成された筒内に入れても、静電気の発生を防止できる。
【0041】
次に、本発明の第2の実施の形態について図面を参照して説明する。
【0042】
図10及び図11は基板検査装置に適用するホルダ装置の構成図であって、図10は正面図、図11は上面図である。
【0043】
検査装置本体30内には、ベース32上に基板ホルダ本体31が設けられている。基板ホルダ本体31には、図11に示すように同心円状に配置された複数のリング状桟33が同心円状に設けられている。これらリング状桟33は、半径方向でかつ所定角度毎、例えば60度毎に設けられた複数の直線状桟34によって連結され、透過照明用の開口部36が形成されている。但し、外側から一番目と二番目の各リング状桟33との間には、後述するリフトピン44、45が120度の範囲で移動できるように120度毎に直線状支持桟34が配置されている。これにより、基板ホルダ本体31の外周部側にガイド用開口部35−3〜35−4が形成される。又、基板ホルダ本体31の外側には、後述するリフトピン44、45が移動するガイド用開口部35−1、35−2が形成されている。
【0044】
複数のリング状桟33の各間は、半径方向に図3に示すのと同様に構成した複数の振動吸収部材8−1〜8−6が取り付けられている。これにより、各リング状桟33の各間には、振動吸収部材としてゴム9が圧入され、各リング状桟33は、ゴム9で連結される。なお、これら振動吸収部材8−1〜8−6は、半径方向に一列に取り付けるに限らず、例えば振動の大きくなる一部のリング状桟33間にだけ取り付けてもよい。又、振動吸収部材8は、各リング状桟33の各間毎に1本ずつ任意の位置に離散的に取り付けてもよい。又、リング状桟33の形状は、上記第1の実施の形態のように2枚の保持板4a、4bに限定されるものでなく、断面が細長い長方形をした板材や、断面が矩形状の角材、断面が矩形状の中空部を有する角材、若しくは断面がコ字形状をした角材であってもよい。
【0045】
基板ホルダ本体31の下方には、図10に示すように回転機構37が設けられている。この回転機構37は、ガラス基板1を各開口部35−1〜35−4を通して基板ホルダ本体31の上方に持ち上げ、この持ち上げた状態で例えば略90度回転させるもので、駆動部38及びリフトピン機構39からなる。駆動部38は、リフトピン機構39の上下移動と回転とを行う。
【0046】
リフトピン機構39は、図11に示すように各リフトピン支持バー40、41と、これらリフトピン支持バー40、41の各両先端部に立設している各リフトピン42〜45とからなる。
【0047】
従って、リフトピン機構39が上昇した状態で回転すると、各リフトピン42、43は、各ガイド用開口部35−1、35−2内に沿って円弧状に移動し、各リフトピン44、45も各ガイド用開口部35−4、34−3に沿って円弧状に移動する。
【0048】
又、基板ホルダ本体31の両端側のベース32上には、Y方向のガイドレール46、47が互いに平行に設けられている。これらガイドレール46、47の間には、門柱アーム48が基板ホルダ本体31の上方を跨るように設けられている。門柱アーム48は、ガイドレール46、47に対してY方向に移動可能に設けられ、かつこの門柱アーム48に対して顕微鏡49がX方向に移動可能に設けられている。
【0049】
基板ホルダ本体31の上方には、図示しないがマクロ照明装置が設けられ、かつ基板ホルダ本体31の下方には、ライン透過照明装置50が設けられている。
【0050】
水平状態にある基板ホルダ本体31上には、大型サイズのガラス基板1が載置される。この状態で、基板ホルダ本体31を所定の角度に起こしたり、揺動させて上方に設けられたマクロ照明装置から照明光がガラス基板1の表面上に照射し、例えばガラス基板1面上の傷、欠け、汚れ、ダストの付着などの欠陥部分を検査する。
【0051】
一方、ミクロ検査を行う場合は、基板ホルダ本体31を水平状態に設置し、門柱アーム49を各ガイドレール47、48に対してY方向に移動させると共に、顕微鏡49を門柱アーム49に対してX方向に移動させて、顕微鏡49によって欠陥部分のミクロ検査が行われる。
【0052】
このような検査中に、外的要因又は内的要因により発生した振動が基板ホルダ本体31に伝達されると、同心円状に配置された複数のリング状桟33の中央部で振動が最も大きくなる。
【0053】
本実施の形態では、同心円状に配置された各リング状桟33間にゴム9を圧入したので、各リング状桟33に伝達される振動を各ゴム9により吸収、減衰させることができる。さらに、振動は、縦方向(X方向)、横方向(Y方向)及び高さ方向(Z方向)に生じても、これら方向の振動が各ゴム9により吸収、減衰される。
【0054】
この結果、ガラス基板のミクロ検査時、顕微鏡49を通して観察されるガラス基板1表面上の欠陥部分の拡大画像は、振動せずに良好に観察できる。特に、顕微鏡の倍率が高くなっても拡大画像は、振動して観察されることがない。
【0055】
【発明の効果】
以上詳記したように本発明によれば、振動を防止できる大型基板ホルダを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態を示す構成図。
【図2】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における保持台に対する基板吸引部材及び支持ピンの取り付け構成図。
【図3】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における振動吸収部材の分解構成図。
【図4】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における各桟間のゴムの圧入状態を示す図。
【図5】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態におけるゴムの上下カバーを示す図。
【図6】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における基板ホルダ本体の中央部に振動吸収部材を取り付けた変形例を示す構成図。
【図7】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における振動吸収部材を離散的に取り付けた変形例を示す構成図。
【図8】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における各桟の間に圧入するゴムの嵌め込みの変形例を示す構成図。
【図9】本発明に係わる大型基板ホルダの第1の実施の形態における各桟の間に圧入するゴムの嵌め込みの変形例を示す構成図。
【図10】本発明に係わる大型基板ホルダの第2の実施の形態を示す正面構成図。
【図11】本発明に係わる大型基板ホルダの第2の実施の形態を示す上面構成図。
【符号の説明】
1:ガラス基板、2:基板ホルダ本体、3:開口部、4:桟、4a,4b:保持板、5:基板吸引部材、6:支持ピン、7:吸引チューブ、8:振動吸収部材、9:ゴム、10:上カバー、11:下カバー、12:切欠き、13:ビス、14:吸引部材、15:基準ピン、16:押付けピン、20,21:ピン、22:凹部、23a,23b:穴、24,25:抉り部、P:吸引ポンプ、30:検査装置本体、31:ホルダ本体、32:ベース、33:リング状桟、34:直線状支持桟、35−1〜35−4,36:ガイド用開口部、37:回転機構、38:駆動部、39:リフトピン機構、40,41:リフトピン支持バー、42〜45:リフトピン、46,47:ガイドレール、48:門柱アーム、49:顕微鏡、50,51:照明系ガイド、52:操作部。
Claims (8)
- 枠状のステージと、このステージ枠内に設けられ大型基板を水平に載置する複数の桟とを有する大型基板ホルダにおいて、
前記各桟の間に外的要因及び内的要因の振動を吸収する振動吸収手段を設けたことを特徴とする大型基板ホルダ。 - 前記桟は、前記ステージ枠内に複数並設されたことを特徴とする請求項1記載の大型基板ホルダ。
- 前記桟は、前記ステージ枠内に同心円状に複数設けられたことを特徴とする請求項1記載の大型基板ホルダ。
- 前記振動吸収手段は、前記ステージ枠内の中央部を通る前記各桟の間に一直線状に配置されたことを特徴とする請求項1記載の大型基板ホルダ。
- 前記振動吸収手段は、前記各桟の間に散在して配置されたことを特徴とする請求項1記載の大型基板ホルダ。
- 前記振動吸収手段は、前記各桟の間隔より長い柱状に形成され、前記各桟の間に圧入されることを特徴とする請求項1項記載の大型基板ホルダ。
- 前記振動吸収手段は、カバーが施されていることを特徴とする請求項6記載の大型基板ホルダ。
- 前記振動吸収手段は、コーティングが施されていることを特徴とする請求項6記載の大型基板ホルダ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003074040A JP4276867B2 (ja) | 2003-03-18 | 2003-03-18 | 基板ホルダ及びこれを備えた表面検査装置 |
TW093106400A TWI332931B (en) | 2003-03-18 | 2004-03-10 | Large size substrate holder |
KR1020040017622A KR101011850B1 (ko) | 2003-03-18 | 2004-03-16 | 대형 기판 홀더 |
CN2004100300483A CN1532532B (zh) | 2003-03-18 | 2004-03-18 | 基板保持架 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003074040A JP4276867B2 (ja) | 2003-03-18 | 2003-03-18 | 基板ホルダ及びこれを備えた表面検査装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004281907A true JP2004281907A (ja) | 2004-10-07 |
JP2004281907A5 JP2004281907A5 (ja) | 2006-03-09 |
JP4276867B2 JP4276867B2 (ja) | 2009-06-10 |
Family
ID=33289785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003074040A Expired - Fee Related JP4276867B2 (ja) | 2003-03-18 | 2003-03-18 | 基板ホルダ及びこれを備えた表面検査装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4276867B2 (ja) |
KR (1) | KR101011850B1 (ja) |
CN (1) | CN1532532B (ja) |
TW (1) | TWI332931B (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009231437A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Olympus Corp | マクロ検査装置、マクロ検査システム、及び、マクロ検査方法 |
JP2013513933A (ja) * | 2009-12-11 | 2013-04-22 | カーゲーテー・グラフィート・テヒノロギー・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 基板支持体 |
KR20180021407A (ko) * | 2016-08-22 | 2018-03-05 | 주성엔지니어링(주) | 기판지지홀더 및 이를 사용한 기판처리장치 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI307929B (en) * | 2005-05-12 | 2009-03-21 | Olympus Corp | Substrate inspection apparatus |
TWI658532B (zh) * | 2017-08-09 | 2019-05-01 | 明安國際企業股份有限公司 | 基板承置匣 |
EP3810825A1 (en) * | 2018-06-25 | 2021-04-28 | Applied Materials, Inc. | Carrier for a substrate and method for carrying a substrate |
TWD210557S (zh) | 2020-01-21 | 2021-03-21 | 志聖工業股份有限公司 | 熱製程用承載盤 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3636235B2 (ja) * | 1996-01-08 | 2005-04-06 | オリンパス株式会社 | 基板ホルダ |
JP4175697B2 (ja) | 1998-06-18 | 2008-11-05 | オリンパス株式会社 | ガラス基板保持具 |
CN2370524Y (zh) * | 1999-01-07 | 2000-03-22 | 神基科技股份有限公司 | 具防震结构的数据存储装置 |
WO2003006971A1 (fr) * | 2001-07-02 | 2003-01-23 | Olympus Optical Co., Ltd. | Dispositif de support de substrat |
JP2003049558A (ja) * | 2001-08-07 | 2003-02-21 | Kazuhiko Kasai | 制振間柱 |
-
2003
- 2003-03-18 JP JP2003074040A patent/JP4276867B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-03-10 TW TW093106400A patent/TWI332931B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-03-16 KR KR1020040017622A patent/KR101011850B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-03-18 CN CN2004100300483A patent/CN1532532B/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009231437A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Olympus Corp | マクロ検査装置、マクロ検査システム、及び、マクロ検査方法 |
JP2013513933A (ja) * | 2009-12-11 | 2013-04-22 | カーゲーテー・グラフィート・テヒノロギー・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング | 基板支持体 |
KR20180021407A (ko) * | 2016-08-22 | 2018-03-05 | 주성엔지니어링(주) | 기판지지홀더 및 이를 사용한 기판처리장치 |
KR101881408B1 (ko) | 2016-08-22 | 2018-07-23 | 주성엔지니어링(주) | 기판지지홀더 및 이를 사용한 기판처리장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1532532A (zh) | 2004-09-29 |
TWI332931B (en) | 2010-11-11 |
JP4276867B2 (ja) | 2009-06-10 |
CN1532532B (zh) | 2010-12-08 |
TW200418703A (en) | 2004-10-01 |
KR101011850B1 (ko) | 2011-01-31 |
KR20040082305A (ko) | 2004-09-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101325762B1 (ko) | 광학검사 장치 | |
KR100726698B1 (ko) | 디스플레이 장치용 글라스패널의 마이크로 검사장비용스테이지 | |
JP5057491B2 (ja) | マスク不良検査装置 | |
KR100859933B1 (ko) | 기판홀딩장치 | |
JP2004281907A (ja) | 大型基板ホルダ | |
JP5637974B2 (ja) | 基板洗浄装置及び基板洗浄方法 | |
JP2008064666A (ja) | 外観検査装置の基板保持機構 | |
KR20110013794A (ko) | 옵틱척 클리너를 구비한 어레이 테스트 장치 | |
JP4079651B2 (ja) | 基板支持装置 | |
KR100571864B1 (ko) | 기판처리장치 | |
JP2008076079A (ja) | 基板検査装置 | |
CN102095947A (zh) | 阵列测试装置 | |
KR100669112B1 (ko) | 슬라이딩 기능이 구비된 디스플레이 장치용 글라스 검사장치 | |
KR100781605B1 (ko) | 평판 디스플레이 패널 검사장치에 구비되는 패널 고정용클램프 | |
KR200400646Y1 (ko) | 평판디스플레이용 유리기판 검사 장치의 글라스 지지핀 | |
JP2002039745A (ja) | ウェーハ形状検査方法およびその装置 | |
KR100483367B1 (ko) | 글라스 흡착 지지장치 | |
JPH0725679Y2 (ja) | ガラス基板検査用フレキシブル載置台 | |
US7140066B1 (en) | Apparatus and method for inspecting and cleaning semiconductor devices | |
JP2001041712A (ja) | 被測定体の支持装置およびその製造方法 | |
KR20140087836A (ko) | 글라스 검사장치 | |
KR20050076565A (ko) | 액정글라스 표면결함 검사장비의 가변장치 | |
JP2003045764A (ja) | クリーンルーム材料評価装置及びクリーンルーム材料の評価方法 | |
JPH10118869A (ja) | 大型基板保持方法および装置 | |
KR20040095993A (ko) | 웨이퍼척 및 이를 이용한 웨이퍼를 웨이퍼척에 고정시키는방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060125 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060125 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081125 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090123 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090217 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090309 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120313 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130313 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140313 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |