JP2004200316A - 半導体装置 - Google Patents

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秀幸 若林
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Abstract

【課題】放熱性に優れる半導体装置を提供する。
【解決手段】配線基板21上に半導体チップ25が電気的に接続して搭載され、該半導体チップ25が封止樹脂27により封止されている半導体装置20において、前記半導体チップ25表面にメタライズ部が形成され、該メタライズ部に一端が接続された放熱用の金属線28が複数本設けられ、該各金属線28の他端が前記封止樹脂27表面から露出していることを特徴としている。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は放熱性に優れる半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
樹脂封止型の半導体装置は、図6に示すように、配線パターンを形成した配線基板10に半導体チップ12を搭載し、半導体チップ12と配線パターン間とをワイヤ13によって電気的に接続し、封止樹脂14により半導体チップ12が封止されてなる。15は外部接続用のボールバンプである。
半導体チップ12から発生した熱は、封止樹脂14表面にヒートシンク16を設けるなどして放熱を図るようにしている(例えば特許文献1参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開平10−247702号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の半導体装置では、半導体チップ12とヒートシンク16との間に封止樹脂14が介在していることから、放熱性が十分でないという課題がある。
【0005】
そこで本発明は上記課題を解決すべくなされたものであり、その目的とするところは、放熱性に優れる半導体装置を提供するにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明に係る半導体装置は、配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、前記半導体チップ表面にメタライズ部が形成され、該メタライズ部に一端が接続された放熱用の金属線が複数本設けられ、該各金属線の他端が前記封止樹脂表面から露出していることを特徴としている。
【0007】
また、前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにワイヤにより電気的に接続され、前記金属線が前記ワイヤのワイヤボンディングの際に前記メタライズ部に一端がボンディングされると共に他端側が外方に引き出されて所要長さに切断されることを特徴とする。
また、前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにフリップチップ接続により電気的に接続され、前記金属線の一端が前記半導体チップの背面側表面に形成された前記メタライズ部に接続されていることを特徴とする。
また、前記金属線の他端側に共通の放熱板が配設されていることを特徴とする。
また、前記配線基板の前記半導体チップが搭載される面と反対側の面に外部接続用のボールバンプが形成されていることを特徴とする。
【0008】
また本発明に係る半導体装置は、配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、一方の面に複数本の金属線が一端側で固定された放熱板が、該一方の面側を前記配線基板側に向けて、前記金属線の他端が前記半導体チップ表面に当接するように配置された状態で、前記封止樹脂により半導体チップが封止され、かつ前記放熱板が該封止樹脂により固定されていることを特徴としている。
【0009】
また、前記放熱板の他方の面が前記封止樹脂から露出していることを特徴とする。
また、前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにワイヤにより電気的に接続されていることを特徴とする。
また、前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにフリップチップ接続により電気的に接続されていることを特徴とする。
また、前記配線基板の前記半導体チップが搭載される面と反対側の面に外部接続用のボールバンプが形成されていることを特徴とする。
【0010】
また本発明に係る半導体装置は、配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、前記封止樹脂の表面に、前記半導体チップと対応する位置に透孔が形成された放熱板が前記封止樹脂により固定され、前記半導体チップ表面にメタライズ部が形成され、該メタライズ部に一端が接続された放熱用の金属線が複数本設けられ、該各金属線の他端が前記透孔から外部に引き出されて前記放熱板の外表面に固定されていることを特徴としている。
また、前記放熱板が、支持部材を介して前記配線基板の表面から所定距離離間した位置に支持されていることを特徴とする。
【0011】
さらに本発明に係る半導体装置は、配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、前記半導体チップが前記配線基板上にフリップチップ接続して搭載され、前記封止樹脂の表面に、前記半導体チップと対応する位置に透孔が形成されると共に、該透孔内壁に内方に向けて突出する複数本の金属線が突設された放熱板が前記封止樹脂により固定され、前記金属線が前記半導体チップの背面に当接していることを特徴とする半導体装置。
また、前記金属線が前記放熱板と一体に形成されていることを特徴とする請求項13記載の半導体装置。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は半導体装置20の第1の実施の形態を示す説明図である。
21は配線基板であり、樹脂基板に配線パターン22が形成されてなる。配線基板21は公知の方法により形成できる。図示の例では樹脂基板の表面に配線パターン22が形成され、樹脂基板の下面側に引き出された端子に外部接続用のボールバンプ23が形成されたBGAタイプの配線基板21に形成されている。
【0013】
樹脂基板上に半導体チップ25が搭載され、半導体チップ25と配線パターン22とがワイヤ26により電気的に接続されている。
半導体チップ25は封止樹脂27により封止されている。
以上は従来の半導体装置と同様の構造である。
本実施の形態では、半導体チップ25と配線パターン22との間がワイヤボンディングされる際、同時にボンダーにより金属線28の一端が半導体チップ25の表面にボンディングされ、他端側が外方に引き出されて所要長さに切断される。
金属線28の他端側は封止樹脂27の外部に露出される。
【0014】
半導体チップ25の表面に金属線28がボンディングできるように、ワイヤ26がボンディングされる部位と同様に、半導体チップ25表面に金属部(メタライズ部、図示せず)を半導体チップ25のパターン形成の際に同時に作りこんでおくようにするとよい。
金属線28はワイヤ26と同一の材質のものでも違うものでもよい。太さも任意であるが、放熱性を高めるためにできるだけ太いものを用いるのが好適である。
また金属線28の本数も、半導体チップ25の空きスペースを有効に用いてできるだけ多く設けるようにするとよい。
【0015】
上記のように、半導体チップ25に一端が固定された金属線28が外方に引き出され、他端が封止樹脂27の外部に露出されていることから、特に半導体チップ25表面で発生した熱が金属線28を伝って外部に放熱されるので放熱効果を高めることができる。
また、ワイヤ26のうち外部に露出させても構わない、例えば接地線(グランド線)などを、一部を図示のように封止樹脂27から外部に露出させることによって一層放熱効果を高めることができる。
【0016】
また、上記では半導体チップ25と配線パターン22との間をワイヤ26により接続したが、場合によっては半導体チップ25をフリップチップ接続により配線基板21に搭載してもよい。この場合は半導体チップ25の背面側全面を利用できるので、より多くの金属線28を設けることができ、放熱効果を高められる。
【0017】
なお、図示の例では、配線基板21は多層に形成され、内部に金属箔等からなるサーマルプレーン24が配設され、このサーマルプレーン24、半導体チップ25、放熱用のボールバンプ23が、サーマルビア29により接続されて、半導体チップ25で発生した熱がサーマルプレーン24、サーマルビア29を通じて放熱されるようになっている。サーマルプレーン24は、接地プレーンもしくは電源プレーンを兼用することもできる。このサーマルプレーン24は必ずしも設けなくともよい。
【0018】
図2は、図1に示すものにおいて、複数の金属線28の他端側に共通の放熱板30を配設した第2の実施の形態を示す。
放熱板30は、金属線28の他端側に固定しても、単に載置したものであってもよい。放熱板30は封止樹脂27に固着されている。
放熱板30は図示のように少なくとも片面を封止樹脂27から露出させるのが好ましいが、場合によっては封止樹脂27中に埋没させてもよい。
【0019】
放熱板30は金属製の他、窒化アルミニウム等の放熱性の良好な材料のものを用いることができる。
また、放熱板30にヒートシンク31を取りつけてもよい。
また、サーマルプレーン24から配線基板21上に引き出したパッド(図示せず)上に金属線28を立設し、この金属線28を放熱板30に当接させてもよい。
【0020】
図3は第3の実施の形態を示す。
本実施の形態では、図3に示すように、あらかじめ放熱板30の側に複数本の金属線28を一端側で溶接等によって固定したものを用意する。そしてこの放熱板30を、該一方の面側を配線基板21側に向けて、金属線28の他端が半導体チップ25表面に当接するように配置し、この状態で金型内に組み込み、モールドして、封止樹脂27により半導体チップ25が封止され、かつ放熱板30が封止樹脂27により固定された、図2に示すのと同等な半導体装置20に形成するのである(図面的には図2と同一になるので図示を省略する。
【0021】
本実施の形態でも同様に放熱性に優れる半導体装置20を提供できる。
金属線28をあらかじめ放熱板30に固定するものであるため、容易に放熱板30を形成できる。
なお、本実施の形態においても半導体チップ25はワイヤにより電気的に接続しても、フリップチップ接続により電気的に接続しても、いずれでもよい。
【0022】
図4は第4の実施の形態を示す。
上記実施の形態と同一の部材は同一符号を付している。
本実施の形態では、封止樹脂27の表面に、半導体チップ25と対応する位置に透孔32が形成された放熱板30が封止樹脂27により固定され、半導体チップ25表面にメタライズ部(図示せず)が形成され、該メタライズ部に一端が接続された放熱用の金属線28が複数本設けられ、該各金属線28の他端が透孔32から外部に引き出されて放熱板30の外表面に固定されてなる。
なお、放熱板30は、支持部材33を介して配線基板21の表面から所定距離離間した位置に支持されている。放熱板30と配線基板21との間の間隙に封止樹脂27が充填される。
本実施の形態においても、金属線28および放熱板30を介して半導体チップ25から発生した熱が直接外部に放出されるので、放熱効果に優れる。
【0023】
図5は第5の実施の形態を示す。
上記実施の形態と同一の部材は同一符号を付している。
本実施の形態では、図4に示す実施の形態のものにおいて、半導体チップ25が配線基板21上にフリップチップ接続して搭載されている。放熱板30の、半導体チップ25と対応する位置に透孔32が形成されていて、放熱板30は封止樹脂27により固定されている。透孔32内壁には内方に向けて複数本の金属線34が突設され、この金属線34が半導体チップ25の背面上に当接している。
封止樹脂27は金属線34間に進入し、また半導体チップ25上を覆っている。
33は支持部材である。
本実施の形態においても、金属線34および放熱板30を介して半導体チップ25から発生した熱が直接外部に放出されるので、放熱効果に優れる。
金属線34は、金属板を打ち抜き加工等することによって、放熱板30と一体的に形成でき、好適である。
【0024】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、半導体チップに直接接続される金属線を介して、半導体チップで発生した熱を外部に直接放出できるので放熱効果に優れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態を示す断面説明図である。
【図2】第2の実施の形態を示す断面説明図である。
【図3】第3の実施の形態を示す断面説明図である。
【図4】第4の実施の形態を示す断面説明図である。
【図5】第5の実施の形態を示す断面説明図である。
【図6】従来の半導体装置の一例を示す断面説明図である。
【符号の説明】
20 半導体装置
21 配線基板
22 配線パターン
23 ボールバンプ
25 半導体チップ
26 ワイヤ
27 封止樹脂
28 金属線
30 放熱板
32 透孔
33 支持部

Claims (14)

  1. 配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、
    前記半導体チップ表面にメタライズ部が形成され、該メタライズ部に一端が接続された放熱用の金属線が複数本設けられ、該各金属線の他端が前記封止樹脂表面から露出していることを特徴とする半導体装置。
  2. 前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにワイヤにより電気的に接続され、前記金属線が前記ワイヤのワイヤボンディングの際に前記メタライズ部に一端がボンディングされると共に他端側が外方に引き出されて所要長さに切断されることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  3. 前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにフリップチップ接続により電気的に接続され、前記金属線の一端が前記半導体チップの背面側表面に形成された前記メタライズ部に接続されていることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
  4. 前記金属線の他端側に共通の放熱板が配設されていることを特徴とする請求項1〜3いずれか1項記載の半導体装置。
  5. 前記配線基板の前記半導体チップが搭載される面と反対側の面に外部接続用のボールバンプが形成されていることを特徴とする請求項1〜4いずれか1項記載の半導体装置。
  6. 配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、
    一方の面に複数本の金属線が一端側で固定された放熱板が、該一方の面側を前記配線基板側に向けて、前記金属線の他端が前記半導体チップ表面に当接するように配置された状態で、前記封止樹脂により半導体チップが封止され、かつ前記放熱板が該封止樹脂により固定されていることを特徴とする半導体装置。
  7. 前記放熱板の他方の面が前記封止樹脂から露出していることを特徴とする請求項6記載の半導体装置。
  8. 前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにワイヤにより電気的に接続されていることを特徴とする請求項6または7記載の半導体装置。
  9. 前記半導体チップが前記配線基板上の配線パターンにフリップチップ接続により電気的に接続されていることを特徴とする請求項6または7記載の半導体装置。
  10. 前記配線基板の前記半導体チップが搭載される面と反対側の面に外部接続用のボールバンプが形成されていることを特徴とする請求項6〜9いずれか1項記載の半導体装置。
  11. 配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、
    前記封止樹脂の表面に、前記半導体チップと対応する位置に透孔が形成された放熱板が前記封止樹脂により固定され、前記半導体チップ表面にメタライズ部が形成され、該メタライズ部に一端が接続された放熱用の金属線が複数本設けられ、該各金属線の他端が前記透孔から外部に引き出されて前記放熱板の外表面に固定されていることを特徴とする半導体装置。
  12. 前記放熱板が、支持部材を介して前記配線基板の表面から所定距離離間した位置に支持されていることを特徴とする請求項11記載の半導体装置。
  13. 配線基板上に半導体チップが電気的に接続して搭載され、該半導体チップが封止樹脂により封止されている半導体装置において、
    前記半導体チップが前記配線基板上にフリップチップ接続して搭載され、
    前記封止樹脂の表面に、前記半導体チップと対応する位置に透孔が形成されると共に、該透孔内壁に内方に向けて突出する複数本の金属線が突設された放熱板が前記封止樹脂により固定され、
    前記金属線が前記半導体チップの背面に当接していることを特徴とする半導体装置。
  14. 前記金属線が前記放熱板と一体に形成されていることを特徴とする請求項13記載の半導体装置。
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