JP2004163272A - 冷却式光検出装置 - Google Patents

冷却式光検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004163272A
JP2004163272A JP2002329743A JP2002329743A JP2004163272A JP 2004163272 A JP2004163272 A JP 2004163272A JP 2002329743 A JP2002329743 A JP 2002329743A JP 2002329743 A JP2002329743 A JP 2002329743A JP 2004163272 A JP2004163272 A JP 2004163272A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
cooling
photoelectric tube
fixed
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002329743A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuharu Negi
康晴 根木
Toru Hirohata
徹 廣畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP2002329743A priority Critical patent/JP2004163272A/ja
Priority to US10/703,160 priority patent/US6818885B2/en
Priority to CNA200310116389A priority patent/CN1501055A/zh
Publication of JP2004163272A publication Critical patent/JP2004163272A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J43/00Secondary-emission tubes; Electron-multiplier tubes
    • H01J43/02Tubes in which one or a few electrodes are secondary-electron emitting electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J7/00Details not provided for in the preceding groups and common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
    • H01J7/24Cooling arrangements; Heating arrangements; Means for circulating gas or vapour within the discharge space
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/20Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating
    • H05K7/20009Modifications to facilitate cooling, ventilating, or heating using a gaseous coolant in electronic enclosures
    • H05K7/20136Forced ventilation, e.g. by fans
    • H05K7/20154Heat dissipaters coupled to components
    • H05K7/20163Heat dissipaters coupled to components the components being isolated from air flow, e.g. hollow heat sinks, wind tunnels or funnels

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

【課題】微弱光も高精度に検出することが可能であり、しかも小型化が可能な冷却式光検出装置を提供する。
【解決手段】冷却素子4の吸熱作用により、その吸熱部に固定された伝熱性支持部材13の支持突片13Aを介して光電管3が受光面板3A側から冷却される。その際、光電管3は、支持突片13Aにのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子を冷却源として光電面が受光面板3Aを介し効率よく冷却されてその冷却温度も安定する。このため、光電面からの熱電子の放出が抑制され、光電管3のノイズの発生が十分に抑制される。そして、この状態で筐体1の光入射窓1Aを透過する被測定光が支持突片13Aの絞孔13Cを介して光電管3の光電面に入射され、筐体1から発せられる背景光は絞孔13Cの周囲の支持突片13Aに遮られて光電面への入射が阻止される。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光電管を収容する筐体内に少なくとも冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
この種の冷却式光検出装置として、光電子増倍管を収容するボックス内に、ペルチェ素子からなる冷却素子と、この冷却素子の低温側(吸熱部)に取り付けられた環状の冷却ブロックとを内蔵した構造の冷却式光検出装置が従来一般に知られている(例えば特許文献1参照)。また、赤外像を結ぶ光学系の鏡筒内に、赤外像検出器と、ペルチェ素子からなる冷却素子と、この冷却素子の吸熱側(吸熱部)に取り付けられた冷却枠とを内蔵した構造の赤外線光学装置も従来一般に知られている(例えば特許文献2参照)。
【0003】
特許文献1に記載の冷却式光検出装置においては、光電子増倍管の光電面側の一端部と、これに対向して配置された真空セル型光入射窓の一端部とを環状の冷却ブロックで包囲して冷却するように構成されている。ここで、光電子増倍管の一端部を除く部分は断熱材を介してボックス内に支持され、また、真空セル型光入射窓の他端部はボックスの壁部に嵌合して支持されている。そして、真空セル型光入射窓の他端部は、冷却素子の高温側(放熱部)が取り付けられた放熱板からボックスの壁部を介して加温されるように構成されている。
【0004】
一方、特許文献2に記載の赤外線光学装置においては、光学系の補助レンズのみを冷却枠に支持して冷却するように構成されている。そして、赤外線像検出器は、液体窒素等が内部に充填された別途の冷却部により保持部を介して冷却されるように構成されている。
【0005】
【特許文献1】
特開平6−88747号公報(段落番号0013、0014及び図1)
【0006】
【特許文献2】
特開平5−312638号公報(段落番号0005、0009、0010及び図1)
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、特許文献1に記載の従来例では、光電子増倍管の光電面側の一端部を環状の冷却ブロックで包囲して間接的に冷却するため、その冷却効率が悪く、光電子増倍管のノイズの発生を十分に抑制できない恐れがある。また、加温された真空セル型光入射窓が背景光(熱輻射)を発生して光電子増倍管に照射するため、光電子増倍管の感度が低下する恐れがある。このため、微弱光を高精度に検出するには難点がある。
【0008】
一方、特許文献2に記載の従来例では、赤外線像検出器を冷却するための冷却部および保持部を有する冷却手段と、光学系の補助レンズを冷却するための冷却素子および冷却枠を有する補助冷却手段との2系統の独立した冷却手段が必要であり、装置構成を小型化するには難点がある。
【0009】
そこで、本発明は、微弱光も高精度に検出することが可能であり、しかも小型化が可能な冷却式光検出装置を提供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る冷却式光検出装置は、光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、冷却素子は筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、冷却素子の吸熱部には光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、支持突片には筐体の光入射窓を透過する被測定光を光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、絞孔に受光面板を位置合わせして光電管が支持突片にのみ固定されていることを特徴とする。
【0011】
この冷却式光検出装置では、冷却素子が冷却機能を発揮すると、その吸熱部に固定された伝熱性支持部材の支持突片を介して光電管が受光面板側から冷却される。その際、光電管は支持突片にのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子を冷却源として光電管の光電面が受光面板を介し効率よく冷却されてその冷却温度も安定する。このため、光電管の光電面からの熱電子の放出が抑制され、光電管のノイズの発生が十分に抑制される。そして、この状態で筐体の光入射窓を透過する被測定光が支持突片の絞孔を介して光電管の光電面に入射され、筐体から発せられる背景光は絞孔の周囲の支持突片に遮られて光電面への入射が阻止される。
【0012】
また、本発明に係る冷却式光検出装置は、光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、冷却素子は筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、冷却素子の吸熱部には光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、支持突片には筐体の光入射窓を透過する被測定光を光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、支持突片の一方の面には絞孔に受光面板を位置合わせして光電管が固定され、支持突片の他方の面には、筐体の光入射窓を透過する被測定光を絞孔に向けて集光する光学系の鏡筒が絞孔に位置を合わせて固定されていることを特徴とする。
【0013】
この冷却式光検出装置では、冷却素子が冷却機能を発揮すると、その吸熱部に固定された伝熱性支持部材の支持突片を介して光電管が受光面板側から冷却され、同時に光学系が鏡筒と共に冷却される。このため、光電管の光電面が受光面板を介し効率よく冷却されて光電面からの熱電子の放出が抑制され、光電管のノイズの発生が十分に抑制される。また、光学系が効率よく冷却されて光学系からの背景光(熱輻射)の発生が十分に抑制される。そして、この状態で筐体の光入射窓を透過する被測定光が光学系により支持突片の絞孔を介して光電管の光電面に集光され、筐体から発せられる背景光は絞孔の周囲の支持突片に遮られて光電面への入射が阻止される。
【0014】
さらに、本発明に係る冷却式光検出装置は、光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、冷却素子は筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、冷却素子の吸熱部には光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、支持突片には筐体の光入射窓を透過する被測定光を光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、絞孔に受光面板を位置合わせして光電管が支持突片の一方の面にのみ固定され、支持突片の他方の面には、筐体の光入射窓を透過する被測定光を絞孔に向けて集光する光学系の鏡筒が絞孔に位置を合わせて固定されていることを特徴とする。
【0015】
この冷却式光検出装置では、冷却素子が冷却機能を発揮すると、その吸熱部に固定された伝熱性支持部材の支持突片を介して光電管が受光面板側から冷却され、同時に光学系が鏡筒と共に冷却される。その際、光電管は支持突片にのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子を冷却源として光電管の光電面が受光面板を介し効率よく冷却されてその冷却温度も安定する。このため、光電管の光電面からの熱電子の放出が抑制され、光電管のノイズの発生が十分に抑制される。また、光学系が効率よく冷却されて光学系からの背景光(熱輻射)の発生が十分に抑制される。そして、この状態で筐体の光入射窓を透過する被測定光が光学系により支持突片の絞孔を介して光電管の光電面に集光され、筐体から発せられる背景光は絞孔の周囲の支持突片に遮られて光電面への入射が阻止される。
【0016】
また、本発明に係る冷却式光検出装置は、光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、冷却素子は筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、冷却素子の吸熱部には光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、支持突片には筐体の光入射窓を透過する被測定光を光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、絞孔に受光面板を位置合わせして光電管が支持突片の一方の面にのみ固定され、筐体の光入射窓を透過する被測定光を絞孔に向けて集光する光学系の鏡筒が絞孔に位置を合わせて支持突片の他方の面にのみ固定されていることを特徴とする。
【0017】
この冷却式光検出装置では、冷却素子が冷却機能を発揮すると、その吸熱部に固定された伝熱性支持部材の支持突片を介して光電管が受光面板側から冷却され、同時に光学系が鏡筒と共に冷却される。その際、光電管は支持突片にのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子を冷却源として光電管の光電面が受光面板を介し効率よく冷却されてその冷却温度も安定する。このため、光電管の光電面からの熱電子の放出が抑制され、光電管のノイズの発生が十分に抑制される。また、光学系が支持突片にのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子を冷却源として効率よく冷却されて光学系からの背景光(熱輻射)の発生が十分に抑制される。そして、この状態で筐体の光入射窓を透過する被測定光が光学系により支持突片の絞孔を介して光電管の光電面に集光され、筐体から発せられる背景光は絞孔の周囲の支持突片に遮られて光電面への入射が阻止される。
【0018】
本発明の冷却式光検出装置において、光電管は、支持突片に直接受光面板が接触する状態で固定されていてもよいし、絞孔の周囲に配設された絶縁板を介して受光面板が支持突片に接触する状態で固定されていてもよい。受光面板が絶縁板を介して支持突片に接触している場合には、受光面板の電位変動が防止されて光電面の電位が安定する。
【0019】
ここで、光電管の側管には高電圧が印加されることがあるため、光電管の取扱い上、側管の外周には絶縁体が被着されているのが好ましい。特に、絶縁体がテフロンであると、絶縁性が高く、しかも真空中でのガス放出が少ないため好ましい。
【0020】
また、側管に高電圧が印加されることのある光電管を支持突片に固定するには、支持突片に絶縁支持構造を介して板バネ状の止金具を支持しておき、この止金具により光電管を支持突片に押圧して固定するのが好ましい。この場合、側管の外周に絶縁体が被着されていると、絶縁支持構造と合わせて二重に絶縁が確保されることになるので好ましい。また、特に絶縁体がテフロンからなるチューブ(以下テフロンチューブ)であると、止金具がテフロンチューブに喰い込んで光電管を確実に支持突片に押圧できるので好ましい。
【0021】
さらに、筐体の内部が真空状態に保持されていると、断熱材を使用することなく筐体から光電管への熱の流入を阻止できるので好ましい。この場合、光学系の内外を連通する開口が鏡筒に形成され、この開口を覆う遮光カバーが鏡筒に付設されていると、鏡筒の遮光機能を損なうことなく集光レンズの内面に結露が発生するのを防止できるので好ましい。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明に係る冷却式光検出装置の実施の形態を説明する。参照する図面において、図1は一実施形態に係る冷却式光検出装置の全体構造と共に筐体部分の内部構造を示す一部縦断側面図、図2は図1に示した筐体部分の横断面図、図3は図1に示した伝熱性支持部材に対する光電管の固定構造を示す拡大側面図である。
【0023】
図1に示す一実施形態の冷却式光検出装置は、例えば近赤外域の微弱光も検出可能に構成されたものであり、被測定光が入射される光入射窓1Aが形成された筐体1内には、被測定光を集光する光学系2、光学系2により集光された被測定光を電気信号として検出する光電管3、光学系2および光電管3を冷却して被測定光の検出性能を向上させる冷却素子4などが収容されている。
【0024】
筐体1は、図1および図2に示すような有底筒状の容器本体1Bの開口部に容器蓋1Cがシールリング(図示省略)を介して気密に装着された真空容器である。容器本体1Bの周壁には、光学系2に対面して光入射窓1Aが開口されており、この光入射窓1Aの外側には、フランジ5により容器本体1Bに押圧される透光性の窓材1Dがシールリング(図示省略)を介して気密に装着されている。
【0025】
また、容器本体1の周壁には、光電管3にリード線6Aを介して接続される複数のリードピン6Bを有する気密コネクタ6と、筐体1内を真空引きするための排気管7と、光電管3の信号を筐体1外へ導くために光電管3に同軸線8Aを介して接続される気密信号コネクタ8とがそれぞれシールリング(図示省略)を介して気密に装着されている。そして、筐体1内は排気管7により真空引きされて真空状態に保持されている。
【0026】
ここで、容器本体1Bは、例えばアルミニウム合金や銅合金などの熱伝導性の高い金属材料で構成されており、この容器本体1Bの底部外面には、相互に平行な複数の放熱フィン9Aを有するヒートシンク9が面接触して連設されている。そして、このヒートシンク9には、複数の放熱フィン9Aの間に冷却風を流通させる冷却ファン10が付設されている。
【0027】
一方、容器本体1Bの底部内面には、容器本体1Bと同種の金属材料からなる台座部材11がネジ止めなどの手段により固定されており、この台座部材11上に冷却素子4が板バネ状の止金具12により押圧状態で固定されている。
【0028】
冷却素子4は、図示しない温度調節器から供給される電流によりペルチェ効果を発揮して一方の面の吸熱部が温度低下し、他方の面の放熱部が温度上昇するペルチェ素子で構成されている。この冷却素子4は、図示の例では、冷却機能を増倍するように、3個のペルチェ素子を相互に放熱部と吸熱部が接触する向きで3段に積み重ねて構成されている。そして、この3段のペルチェ素子からなる冷却素子4は、台座部材11に放熱部が押圧された状態で固定されている。
【0029】
冷却素子4の吸熱部には、光学系2および光電管3を固定するための支持突片13Aを有する伝熱性支持部材13が固定されている。この伝熱性支持部材13は、例えばアルミニウム合金や銅合金などの熱伝導性の高い金属材料で構成されており、冷却素子4の吸熱部に面接触する固定片13Bの端部から支持突片13Aが略直角に突出する側面視L字状に形成されている(図3参照)。
【0030】
伝熱性支持部材13の支持突片13Aには、筐体1の容器本体1Bに開口された光入射窓1Aを透過する被測定光を光電管3の受光面板3Aを通して光電面へ導くための絞孔13Cが開口されている(図3参照)。この絞孔13Cは、光入射窓1Aの周囲の容器本体1Bから発せられる背景光を遮断できる所定の直径に設定されている。
【0031】
そして、このような絞孔13Cを有する支持突片13Aの光入射窓1Aに対面する外面には、光入射窓1Aを透過する被測定光を絞孔13Cに向けて集光する光学系2の鏡筒2Aの一端部が絞孔13Cと同芯状に位置合わせしてネジ止め固定されている。また、支持突片13Aの内面には、光電管3の受光面板3A側の端部が絞孔13Cと同芯状に位置合わせして固定されている。
【0032】
光学系2は、アルミニウム合金や銅合金などの熱伝導性の高い金属材料で構成された鏡筒2Aの他端部の大径部2B内に集光レンズ2Cを収容している。この集光レンズ2Cは、鏡筒2Aの大径部2Bから小径部2Dへの段部2Eに内面が当接しており、集光レンズ2Cの外面側にはスペーサリング2Fが配設されている。そして、鏡筒2Aの大径部2Bの開口端部にネジ止めされた係止リング2Gがスペーサリング2Fに当接してこれを係止することで、集光レンズ2Cが大径部2B内の所定位置に保持されている。
【0033】
ここで、係止リング2Gの内径は、その内径縁部を通過する被測定光が集光レンズ2Cにより集光されて支持突片13Aの絞孔13Cの内径縁部を通過するように設定されている。
【0034】
また、光学系2の冷却により集光レンズ2Cの内面に結露が発生するのを防止するため、鏡筒2Aの大径部2Bに隣接する小径部2Dには、その内外を連通する開口2Hが形成されている。そして、この開口2Hの周囲を囲んで覆う筒状の遮光カバー2Jが係止リング2Gに一体に設けられている。
【0035】
図3に示すように、光電管3は、例えば石英ガラス製の受光面板3Aが金属製の円筒状の側管3Bの一端部に装着され、側管3Bの他端部にステム板3Cが装着されたメタルパッケージのヘッドオン型のPMT(光電子増倍管)からなる。この光電管3は、受光面板3Aの裏面に形成された光電面および側管3Bに内蔵された図示しないダイノード部などによって近赤外領域の微弱光も電気信号として検出可能に構成されている。
【0036】
なお、光電管3への印加電圧を筐体1の外部から制御できるように、ステム板3Cから突出する複数のステムピン3Dが厚膜抵抗基板14に接続され、この厚膜抵抗基板14には、図1および図2に示すように、リード線6Aを介して気密コネクタ6の複数のリードピン6Bが接続されている。さらに、光電管3の検出信号を筐体1の外部へ導くため、厚膜抵抗基板14には、同軸線8Aを介して気密信号コネクタ8が接続されている。
【0037】
図3に示すように、光電管3の側管3Bの一端部には、受光面板3Aに近接して大径のツバ部3Eが形成されている。ここで、メタルパッケージの光電管3の側管3Bには、1,000V程度の高電圧が印加されることがある。そこで、光電管3の取扱性を良くするため、ツバ部3Eを含む側管3Bの外周には、絶縁性を有するテフロンチューブ15が被着されている。このテフロンチューブ15は、ツバ部3Eおよび側管3Bに密着するように加熱収縮されている。
【0038】
ここで、側管3Bに高電圧が印加されることのある光電管3を絶縁状態で伝熱性支持部材13の支持突片13Aに固定するため、支持突片13Aの内面には、例えばステンレス鋼板からなる板バネ状の複数の止金具16がそれぞれ絶縁支持構造17を介して支持されている。
【0039】
図4に示すように、止金具16は、装着孔16Aを有するワッシャ状の固定片16Bから左右一対の係合爪16Cが左右対称に突出する平面形状を有する。一対の係合爪16Cは、光電管3の大径のツバ部3E(図3参照)に弾性的に係合してツバ部3Eを支持突片13A側へ押圧できるように、固定片16Bから斜めに折り曲げられている。
【0040】
一方、絶縁支持構造17は、支持突片13Aにねじ込み固定される止ネジ17Aと、この止ネジ17Aの頭部に大径部を向けて止ネジ17Aのねじ部に嵌合されるセラミック製の段付絶縁カラー17Bと、この段付絶縁カラー17Bの小径部の外周に嵌合されるセラミック製の絶縁カラー17Cとで構成されている。そして、この絶縁支持構造17は、段付絶縁カラー17Bの小径部に止金具16の装着孔16Aおよび絶縁カラー17Cを順次嵌合させ、この状態で止ネジ17Aが支持突片13Aにねじ込み固定されることにより、止金具16の固定片16Bを段付絶縁カラー17Bの大径部の端面と絶縁カラー17Cの端面との間に挟持して止金具16を絶縁状態で支持している(図3参照)。
【0041】
図3に示すように、止金具16を絶縁状態で支持した絶縁支持構造17は、支持突片13Aの絞孔13Cを中心とする同心円上の例えば4箇所に等間隔で配置されている。そして、各絶縁支持構造17に支持された止金具16の左右一対の係合爪16Cがそれぞれテフロンチューブ15を介して光電管3のツバ部3Eを支持突片13A側へ押圧することにより、光電管3が絶縁状態で支持突片13Aに固定されている。
【0042】
ここで、支持突片13Aの内面の絞孔13Cの周囲にはリング状の絶縁板18が配設されており、このリング状の絶縁板18を介して光電管3の受光面板3Aが支持突片13Aの内面に圧接している。絶縁板18は、石英ガラスからなる受光面板3Aの絶縁性を補助するために介設されるものであり、例えばAlN(窒化アルミニウム)などの熱伝導性のよい絶縁材料で構成されている。そして、この絶縁板18は、支持突片13Aと受光面板3Aとの間の熱伝導性を高めるため、両面が研磨されて支持突片13Aの内面および受光面板3Aの表面に密着している。
【0043】
以上のように構成された一実施形態の冷却式光検出装置は、例えば可視域から近赤外域の被測定光を検出するために使用される。この冷却式光検出装置の使用に際して、図示しない温度調節器から筐体1内の冷却素子4に駆動電流が供給されると、図1に示す冷却素子4がペルチェ効果を発揮してその吸熱部が温度低下し、その放熱部が温度上昇する。そして、冷却素子4の放熱部から筐体1の容器本体1Bを介してヒートシンク9に伝達された熱が冷却ファン10によって強制空冷される各放熱フィン9Aから放熱されることで、冷却素子4の吸熱部が温度低下して吸熱作用を継続する。
【0044】
冷却素子4の吸熱部が吸熱作用を継続することにより、この吸熱部に接触している伝熱性支持部材13が冷却され、その支持突片13Aに固定された光学系2および光電管3が同時に冷却される。
【0045】
ここで、光学系2は、支持突片13Aに一端部が固定された鏡筒2Aを介して集光レンズ2C、スペーサリング2F、係止リング2Gおよび遮光カバー2Jなどを含む全体が略同じ温度に冷却される。一方、光電管3は、支持突片13Aに密着した絶縁板18を介して受光面板3Aが冷却され、この受光面板3Aから側管3Bを介して全体が冷却される。
【0046】
その際、光電管3は、伝熱性支持部材13の支持突片13Aにのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、図示しない温度調節器により冷却温度が制御される冷却素子4を冷却源として、効率よく安定した温度に冷却される。すなわち、光電管3の受光面板3Aを介して光電面が安定した温度に効率よく冷却される。その結果、光電管3は、光電面からの熱電子の放出が抑制されてノイズの発生が十分に抑制される。
【0047】
同様に、光学系2は、伝熱性支持部材13の支持突片13Aにのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子4を冷却源として効率よく安定した温度に冷却される。すなわち、鏡筒2A、集光レンズ2C、スペーサリング2F、係止リング2Gおよび遮光カバー2Jなどを含む光学系2の全体が安定した温度に効率よく冷却される。その結果、光学系2からの背景光(熱輻射)の発生が十分に抑制される。
【0048】
ここで、一実施形態の冷却式光検出装置においては、図1および図2に示すように、近赤外光を含む被測定光が筐体1の容器本体1Bに装着された窓材5を通して光入射窓1Aから光学系2に入射される。この被測定光は、光学系2の集光レンズ2Cにより支持突片13Aの絞孔13Cに集光され、光電管3の受光面板3Aを通してその裏面の光電面に照射される。その際、筐体1から発せられる背景光(熱輻射)は、絞孔13Cの周囲の支持突片13Aに遮られて光電面への照射が阻止される。
【0049】
このように、一実施形態の冷却式光検出装置では、筐体1からの背景光(熱輻射)が遮断され、光学系2からの背景光(熱輻射)の発生が十分に抑制され、しかも、光電管3の光電面からの熱電子の放出が抑制されてノイズの発生が抑制された状態において、被測定光が光電管3により電気信号として検出される。従って、一実施形態の冷却式光検出装置によれば、被測定光の検出精度が格段に向上し、近赤外領域の微弱光も高精度に検出することができる。
【0050】
また、冷却素子4の吸熱側に固定された伝熱性支持部材13の支持突片13Aに光学系2および光電管3を固定して両者を同時に冷却する構造を備えているため、冷却素子4の温度を図示しない単一の温度調節器で制御するだけで、光学系2および光電管3を同時に適温に冷却することができる。そして、図示しない温度調節器、冷却素子4、伝熱性支持部材13などの冷却系統が1系統で済むため、装置構成を小型化でき、コストも削減することができる。
【0051】
さらに、伝熱性支持部材13の支持突片13Aに光電管3を固定する構造において、光電管3の受光面板3Aと支持突片13Aとの間に絶縁板18が介設されているため、光電管3の側管3Bに高電圧が印加されるような状況にあっても、受光面板3Aの電位変動を防止して光電面の電位を安定化することができる。
【0052】
また、光電管3の側管3Bの外周に絶縁性を有するテフロンチューブ15が被着されているため、側管3Bに高電圧が印加される場合の光電管3の取扱性が向上する。そして、この場合、絶縁支持構造17に支持された止金具16の係合爪16Cがテフロンチューブ15に喰い込むため、止金具16によって光電管3を確実に支持突片13Aに押圧することができる。
【0053】
さらに、筐体1の内部が真空状態に保持されているため、筐体1から光電管3への熱の流入を阻止するための断熱材が不要となる。この場合、光学系2の鏡筒2Aにはその内外を連通する開口2Hが形成されているため、集光レンズ2Cの内面に結露が発生する事態を未然に防止することができる。そして、この開口2Hは遮光カバー2Jで覆われているため、鏡筒2Aの遮光機能を損なうことがない。
【0054】
本発明に係る冷却式光検出装置は、一実施形態に限定されるものではない。例えば、光学系2および光電管3を固定して冷却する伝熱性支持部材13(図3参照)は、図5に示すように、固定片13Bの中間部から支持突片13Aが略直角に突出する側面視T字状に形成されていてもよい。この場合、筐体1の中央部に支持突片13Aが位置するように伝熱性支持部材13を配置することで、光学系2および光電管3を筐体1内にバランス良く配置することができる。
【0055】
また、伝熱性支持部材13の支持突片13Aと光電管3の受光面板3Aとの間に介設される絶縁板18は、連続したリング状の形状のものに限らず、リング状に配置された複数の板片で構成されていてもよい。なお、このような絶縁板18は、必ずしも必須のものではなく、省略することもできる。
【0056】
さらに、光電管3は、ダイノードを有するPMT(光電子増倍管)に限定されない。例えば、電界援助型光電子放射面を有するMCP−PMT(マイクロチャンネルプレート内蔵光電子増倍管)としてもよい。
【0057】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る冷却式光検出装置では、冷却素子の吸熱作用により、伝熱性支持部材の支持突片を介して光電管が受光面板側から冷却される。その際、光電管は、支持突片にのみ固定されて他の部材からの熱の流入が阻止されているため、冷却素子を冷却源として光電面が受光面板を介して効率よく冷却され、その冷却温度が安定する。このため、光電面からの熱電子の放出が抑制され、光電管のノイズの発生が十分に抑制される。そして、この状態で筐体の光入射窓を透過する被測定光が支持突片の絞孔を介して光電管の光電面に入射され、筐体から発せられる背景光は絞孔の周囲の支持突片に遮られて光電面への入射が阻止される。従って、本発明の冷却式光検出装置によれば、検出精度が向上し、微弱光も高精度に検出することが可能となる。また、冷却素子の吸熱部に固定される伝熱性支持部材により冷却系が簡素に構成されるため、小型化が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る冷却式光検出装置の全体構造と共に筐体部分の内部構造を示す一部縦断側面図である。
【図2】図1に示した筐体部分の横断面図である。
【図3】図1に示した伝熱性支持部材に対する光電管の固定構造を示す拡大側面図である。
【図4】図3に示した止金具および絶縁支持構造の分解斜視図である。
【図5】図3に示した伝熱性支持部材の変形例を示す断面図である。
【符号の説明】
1…筐体、1A…光入射窓、1B…容器本体、1C…容器蓋、1D…窓材、2…光学系、2A…鏡筒、2C…集光レンズ、2G…係止リング、2H…開口、2J…遮光カバー、3…光電管、3A…受光面板、3B…側管、3E…ツバ部、4…冷却素子、5…フランジ、6…気密コネクタ、7…排気管、8…気密信号コネクタ、8A…同軸線、9…ヒートシンク、10…冷却ファン、11…台座部材、12…止金具、13…伝熱性支持部材、13A…支持突片、13B…固定片、13C…絞孔、14…厚膜抵抗基板、15…テフロンチューブ、16…止金具、17…絶縁支持構造、17A…止ネジ、17B…段付絶縁カラー、17C…絶縁カラー、18…絶縁板。

Claims (11)

  1. 光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、
    前記冷却素子は前記筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、
    前記冷却素子の吸熱部には前記光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、
    前記支持突片には前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、
    前記絞孔に受光面板を位置合わせして前記光電管が前記支持突片にのみ固定されていることを特徴とする冷却式光検出装置。
  2. 光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、
    前記冷却素子は前記筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、
    前記冷却素子の吸熱部には前記光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、
    前記支持突片には前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、
    前記支持突片の一方の面には前記絞孔に受光面板を位置合わせして前記光電管が固定され、
    前記支持突片の他方の面には、前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記絞孔に向けて集光する光学系の鏡筒が前記絞孔に位置を合わせて固定されていることを特徴とする冷却式光検出装置。
  3. 光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、
    前記冷却素子は前記筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、
    前記冷却素子の吸熱部には前記光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、
    前記支持突片には前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、
    前記絞孔に受光面板を位置合わせして前記光電管が前記支持突片の一方の面にのみ固定され、
    前記支持突片の他方の面には、前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記絞孔に向けて集光する光学系の鏡筒が前記絞孔に位置を合わせて固定されていることを特徴とする冷却式光検出装置。
  4. 光入射窓を有する筐体内に少なくとも光電管および冷却素子が内蔵されている冷却式光検出装置であって、
    前記冷却素子は前記筐体側に放熱部が接触した状態で固定され、
    前記冷却素子の吸熱部には前記光電管を固定するための支持突片を有する伝熱性支持部材が接触状態で固定され、
    前記支持突片には前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記光電管の受光面板を通して光電面へ導くための絞孔が開口されており、
    前記絞孔に受光面板を位置合わせして前記光電管が前記支持突片の一方の面にのみ固定され、
    前記筐体の光入射窓を透過する被測定光を前記絞孔に向けて集光する光学系の鏡筒が前記絞孔に位置を合わせて前記支持突片の他方の面にのみ固定されていることを特徴とする冷却式光検出装置。
  5. 前記光電管の受光面板が前記支持突片に直接接触していることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の冷却式光検出装置。
  6. 前記光電管の受光面板が前記絞孔の周囲に配置された絶縁板を介して前記支持突片に接触していることを特徴とする請求項1〜4の何れかに記載の冷却式光検出装置。
  7. 前記光電管の側管の外周には絶縁体が被着されていることを特徴とする請求項1〜6の何れかに記載の冷却式光検出装置。
  8. 前記絶縁体がテフロンであることを特徴とする請求項7に記載の冷却式光検出装置。
  9. 前記支持突片には板バネ状の止金具が絶縁支持構造を介して支持されており、この止金具により前記光電管が前記支持突片に押圧されて固定されていることを特徴とする請求項1〜8の何れかに記載の冷却式光検出装置。
  10. 前記筐体の内部が真空状態に保持されていることを特徴とする請求項1〜9の何れかに記載の冷却式光検出装置。
  11. 前記光学系の鏡筒にはその内外を連通する開口が形成され、この開口を覆う遮光カバーが前記鏡筒に付設されていることを特徴とする請求項10に記載の冷却式光検出装置。
JP2002329743A 2002-11-13 2002-11-13 冷却式光検出装置 Pending JP2004163272A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002329743A JP2004163272A (ja) 2002-11-13 2002-11-13 冷却式光検出装置
US10/703,160 US6818885B2 (en) 2002-11-13 2003-11-07 Photodetector
CNA200310116389A CN1501055A (zh) 2002-11-13 2003-11-12 光电检测器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002329743A JP2004163272A (ja) 2002-11-13 2002-11-13 冷却式光検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004163272A true JP2004163272A (ja) 2004-06-10

Family

ID=32697473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002329743A Pending JP2004163272A (ja) 2002-11-13 2002-11-13 冷却式光検出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6818885B2 (ja)
JP (1) JP2004163272A (ja)
CN (1) CN1501055A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6940199B2 (en) * 2003-10-10 2005-09-06 Honda Motor Co., Ltd. Permanent magnet rotor and brushless motor
JP2013040940A (ja) * 2011-08-16 2013-02-28 Leica Microsystems Cms Gmbh 検出装置
CN103903934A (zh) * 2012-12-26 2014-07-02 核工业西南物理研究院 一种用于大功率高压电真空器件的油冷却器
JP2017538111A (ja) * 2014-10-22 2017-12-21 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH 検出器装置
JP2018509629A (ja) * 2015-03-23 2018-04-05 モレキュラー デバイシーズ, エルエルシー 低減された結露を有する冷却された光電子増倍管ベースの光検出器ならびに関連する装置および方法
WO2023276765A1 (ja) * 2021-06-30 2023-01-05 シーシーエス株式会社 光出力測定装置

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005019647B4 (de) 2005-02-23 2023-01-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Photomultiplier-System und ein Mikroskop
US9523657B2 (en) * 2006-02-14 2016-12-20 Excellims Corporation Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
US10309929B2 (en) * 2006-02-14 2019-06-04 Excellims Corporation Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
US10073056B2 (en) * 2006-02-14 2018-09-11 Excellims Corporation Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
US10794862B2 (en) * 2006-11-28 2020-10-06 Excellims Corp. Practical ion mobility spectrometer apparatus and methods for chemical and/or biological detection
JP5042757B2 (ja) * 2007-09-21 2012-10-03 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置
US7684545B2 (en) * 2007-10-30 2010-03-23 Rigaku Innovative Technologies, Inc. X-ray window and resistive heater
US20100224695A1 (en) * 2009-03-08 2010-09-09 Excellims Corporation Controlling ionization source temperature
US9285555B2 (en) * 2010-11-25 2016-03-15 Gnitabouré YABRE Optical circuit board
EP2560189B1 (de) * 2011-08-16 2020-06-17 Leica Microsystems CMS GmbH Detektorvorrichtung
CN108227350B (zh) * 2016-12-14 2021-06-08 台达电子工业股份有限公司 数字微型反射投影机
US11994427B2 (en) * 2018-09-27 2024-05-28 Temple University-Of The Commonwealth System Of Higher Education Silicon photomultiplier imaging system and method for cooling the same
CN111610603A (zh) * 2019-02-26 2020-09-01 晶连股份有限公司 光发射次模块改良结构
CN110989105B (zh) * 2019-12-23 2021-04-27 武汉飞沃科技有限公司 一种用于光模块的安装固定及散热结构

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5979127A (ja) * 1982-10-28 1984-05-08 Fujitsu Ltd 赤外線光電変換装置
JPS59104519A (ja) * 1982-12-07 1984-06-16 Hamamatsu Photonics Kk 高速繰返しパルス光計測装置
JPH0688747A (ja) * 1992-09-08 1994-03-29 Omron Corp 冷却式光検出装置
JPH0968464A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Hamamatsu Photonics Kk 発光分光分析装置
JPH11329338A (ja) * 1998-05-13 1999-11-30 Hamamatsu Photonics Kk 電子管装置
JP2001059771A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Hamamatsu Photonics Kk 光学装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4464572A (en) * 1982-05-06 1984-08-07 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Infrared photoemitting diode having reduced work function
JPH05312638A (ja) 1992-05-15 1993-11-22 Nikon Corp 赤外線光学装置
US5485005A (en) * 1994-06-15 1996-01-16 Xicon, Inc. Cooled x-ray sensitive photoconductor
JP3694565B2 (ja) 1996-07-23 2005-09-14 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
WO1999026298A1 (fr) * 1997-11-19 1999-05-27 Hamamatsu Photonics K.K. Photodetecteur et dispositif de prise d'image utilisant ledit photodetecteur

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5979127A (ja) * 1982-10-28 1984-05-08 Fujitsu Ltd 赤外線光電変換装置
JPS59104519A (ja) * 1982-12-07 1984-06-16 Hamamatsu Photonics Kk 高速繰返しパルス光計測装置
JPH0688747A (ja) * 1992-09-08 1994-03-29 Omron Corp 冷却式光検出装置
JPH0968464A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Hamamatsu Photonics Kk 発光分光分析装置
JPH11329338A (ja) * 1998-05-13 1999-11-30 Hamamatsu Photonics Kk 電子管装置
JP2001059771A (ja) * 1999-08-23 2001-03-06 Hamamatsu Photonics Kk 光学装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6940199B2 (en) * 2003-10-10 2005-09-06 Honda Motor Co., Ltd. Permanent magnet rotor and brushless motor
JP2013040940A (ja) * 2011-08-16 2013-02-28 Leica Microsystems Cms Gmbh 検出装置
JP2013040938A (ja) * 2011-08-16 2013-02-28 Leica Microsystems Cms Gmbh 検出装置
JP2013040939A (ja) * 2011-08-16 2013-02-28 Leica Microsystems Cms Gmbh 検出装置
JP2014522093A (ja) * 2011-08-16 2014-08-28 ライカ マイクロシステムス ツェーエムエス ゲーエムベーハー 検出装置
CN103903934A (zh) * 2012-12-26 2014-07-02 核工业西南物理研究院 一种用于大功率高压电真空器件的油冷却器
JP2017538111A (ja) * 2014-10-22 2017-12-21 ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLeica Microsystems CMS GmbH 検出器装置
JP2018509629A (ja) * 2015-03-23 2018-04-05 モレキュラー デバイシーズ, エルエルシー 低減された結露を有する冷却された光電子増倍管ベースの光検出器ならびに関連する装置および方法
WO2023276765A1 (ja) * 2021-06-30 2023-01-05 シーシーエス株式会社 光出力測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1501055A (zh) 2004-06-02
US6818885B2 (en) 2004-11-16
US20040135071A1 (en) 2004-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004163272A (ja) 冷却式光検出装置
US20130043378A1 (en) Detector apparatus
JP6431574B1 (ja) 電子管
JPH01255143A (ja) 電子顕微鏡におけるx線分析装置
JP2010151639A (ja) サーモパイル型赤外線検出装置
JP3884616B2 (ja) 光検出装置およびこれを用いた撮像装置
WO1999059186A1 (fr) Tube electronique
JP2005221483A (ja) 赤外線検出器
JPH0688747A (ja) 冷却式光検出装置
JP2006112870A (ja) 光検出装置
JPH0979905A (ja) 発光分光分析装置
EP0595468B1 (en) Image device
US6002132A (en) Thermionic thermal detector and detector array
JP7360975B2 (ja) 光検出器
JP2007333653A (ja) 放射線検出装置
JP3761992B2 (ja) 赤外光源装置
JP2706669B2 (ja) 赤外線検出装置
US7026618B2 (en) Highly-sensitive, pyroelectric infrared sensing method and apparatus
JPH0968464A (ja) 発光分光分析装置
JPH08193880A (ja) 赤外線検出装置
JPH0629778B2 (ja) 赤外線光学装置
JPH04335120A (ja) 赤外線検出器
JP2595475Y2 (ja) 赤外線ガス分析装置
JP2602849Y2 (ja) 半導体x線検出器
JPH06294688A (ja) 赤外線撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051020

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070123

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070403

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070601

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080108

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080513