JPH0629778B2 - 赤外線光学装置 - Google Patents
赤外線光学装置Info
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- JPH0629778B2 JPH0629778B2 JP63314694A JP31469488A JPH0629778B2 JP H0629778 B2 JPH0629778 B2 JP H0629778B2 JP 63314694 A JP63314694 A JP 63314694A JP 31469488 A JP31469488 A JP 31469488A JP H0629778 B2 JPH0629778 B2 JP H0629778B2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、例えば赤外線画像を得る赤外線光学装置に
関するものである。
関するものである。
［従来の技術］ 第２図は、例えばR.D.Hudson,Jr.“InfraredSystem Eng
ineering”,John Wily ＆Sons,1969年，p.354 に示され
た従来の赤外線光学装置を示す断面図であり、図におい
て、１は赤外線を結像する赤外光学系、２は上記赤外光
学系１に入射する赤外線、３は上記赤外光学系１を保持
する鏡筒、４は真空，低温状態を得るためのデュア(Dew
ar)瓶、５は上記デュア瓶４の赤外光学系側開口に設け
られたデュア窓、６はデュア瓶４の凸状底面に設けられ
た，例えば微小な素子を２次元アレイ状に並べた赤外固
体撮像素子などの赤外線検出素子、７は上記赤外線検出
素子６への雑音光の入射を遮るためのコールドシール
ド、８は上記デュア瓶４を覆うとともに鏡筒３を保持す
る筐体、９は筐体８に取り付けられ冷却部がデュア瓶４
の凹部に挿入された冷却装置である。
ineering”,John Wily ＆Sons,1969年，p.354 に示され
た従来の赤外線光学装置を示す断面図であり、図におい
て、１は赤外線を結像する赤外光学系、２は上記赤外光
学系１に入射する赤外線、３は上記赤外光学系１を保持
する鏡筒、４は真空，低温状態を得るためのデュア(Dew
ar)瓶、５は上記デュア瓶４の赤外光学系側開口に設け
られたデュア窓、６はデュア瓶４の凸状底面に設けられ
た，例えば微小な素子を２次元アレイ状に並べた赤外固
体撮像素子などの赤外線検出素子、７は上記赤外線検出
素子６への雑音光の入射を遮るためのコールドシール
ド、８は上記デュア瓶４を覆うとともに鏡筒３を保持す
る筐体、９は筐体８に取り付けられ冷却部がデュア瓶４
の凹部に挿入された冷却装置である。
次に動作について説明する。
赤外光学系１に入射した赤外線２は、デュア窓５及びコ
ールドシールド７の開口７ａを通って赤外線検出素子６
上に結像する。赤外線検出素子６は、感度を得るために
冷却装置９によって冷却される。デュア瓶４とデュア窓
５で囲まれた空間は、効率良く赤外線検出素子６を冷却
するために真空にしてある。コールドシールド７はデュ
ア瓶４に取付けられ、赤外線検出素子６と同程度に冷却
されており、コールドシールド７から放射される赤外線
は検出すべき赤外線２に比べ無視できる程小さい。コー
ルドシールド７の開口７ａは、赤外線検出素子６の下端
６ａに結像する赤外線２ａ及び赤外線検出素子６の上端
６ｂに結像する赤外線２ｂがそれぞれコールドシールド
７に妨げられることなく赤外線検出素子６に到達するた
めに必要な径である。従って、コールドシールド７を設
置することにより、赤外光学系１を透過した赤外線２以
外に、鏡筒３等の常温の背景から放射され赤外線検出素
子６に入射する不要な雑音光を極力少なくする構成とな
っている。コールドシールド７の雑音光低域の効率η
は、第１式に示すように、赤外線検出素子６からコール
ドシールド７の開口７ａを見込む立体角ΩＣと、赤外線
検出素子６に結像する赤外線２の光束の立体角ΩＯの比 η＝ΩＯ／ΩＣ (1) で表される。η＜１，すなわちΩＯ＜ΩＣでは、第２図
に斜線で示した立体角内で鏡筒３から放射された雑音光
が赤外線検出素子６の下端６ａに入射する。赤外線検出
素子６の他の点においても同様に雑音光が入射する。従
ってη＜１では、検出信号のＳ／Ｎの低下だけでなく、
赤外線光学装置の環境温度が変化して鏡筒３の温度が上
昇したときには、最悪の場合、赤外線検出素子６の出力
が雑音光で飽和してしまい信号が検出できなくなる恐れ
がある。
ールドシールド７の開口７ａを通って赤外線検出素子６
上に結像する。赤外線検出素子６は、感度を得るために
冷却装置９によって冷却される。デュア瓶４とデュア窓
５で囲まれた空間は、効率良く赤外線検出素子６を冷却
するために真空にしてある。コールドシールド７はデュ
ア瓶４に取付けられ、赤外線検出素子６と同程度に冷却
されており、コールドシールド７から放射される赤外線
は検出すべき赤外線２に比べ無視できる程小さい。コー
ルドシールド７の開口７ａは、赤外線検出素子６の下端
６ａに結像する赤外線２ａ及び赤外線検出素子６の上端
６ｂに結像する赤外線２ｂがそれぞれコールドシールド
７に妨げられることなく赤外線検出素子６に到達するた
めに必要な径である。従って、コールドシールド７を設
置することにより、赤外光学系１を透過した赤外線２以
外に、鏡筒３等の常温の背景から放射され赤外線検出素
子６に入射する不要な雑音光を極力少なくする構成とな
っている。コールドシールド７の雑音光低域の効率η
は、第１式に示すように、赤外線検出素子６からコール
ドシールド７の開口７ａを見込む立体角ΩＣと、赤外線
検出素子６に結像する赤外線２の光束の立体角ΩＯの比 η＝ΩＯ／ΩＣ (1) で表される。η＜１，すなわちΩＯ＜ΩＣでは、第２図
に斜線で示した立体角内で鏡筒３から放射された雑音光
が赤外線検出素子６の下端６ａに入射する。赤外線検出
素子６の他の点においても同様に雑音光が入射する。従
ってη＜１では、検出信号のＳ／Ｎの低下だけでなく、
赤外線光学装置の環境温度が変化して鏡筒３の温度が上
昇したときには、最悪の場合、赤外線検出素子６の出力
が雑音光で飽和してしまい信号が検出できなくなる恐れ
がある。
一方、η＞１，すなわちΩＯ＞ΩＣのときは、鏡筒３か
ら放射される雑音光が直接赤外線検出素子６に入射する
ことはないが、赤外光学系１を透過して赤外線検出素子
６に結像する赤外線２がコールドシールド７の開口７ａ
で制限され、信号光が減少する。従って、信号光を減少
させることなく最も雑音光を低減できるのは、コールド
シールド７の効率η＝１，すなわちΩＯ＝ΩＣのときで
ある。
ら放射される雑音光が直接赤外線検出素子６に入射する
ことはないが、赤外光学系１を透過して赤外線検出素子
６に結像する赤外線２がコールドシールド７の開口７ａ
で制限され、信号光が減少する。従って、信号光を減少
させることなく最も雑音光を低減できるのは、コールド
シールド７の効率η＝１，すなわちΩＯ＝ΩＣのときで
ある。
η＝１である赤外線光学装置は、コールドシールド７の
開口７ａを赤外光学系１の開口絞りと一致させることに
より得られる。第３図は、例えばR.E.Fischer，Photoni
cs Spectra，p.53〜60(1986)に示されたコールドシール
ド７の効率η＝１である従来の赤外線光学装置を示す断
面図であり、図において、１〜９は第２図に示した従来
例と同様なものである。１０は赤外光学系１の開口絞
り、１１は赤外光学系１の光軸である。
開口７ａを赤外光学系１の開口絞りと一致させることに
より得られる。第３図は、例えばR.E.Fischer，Photoni
cs Spectra，p.53〜60(1986)に示されたコールドシール
ド７の効率η＝１である従来の赤外線光学装置を示す断
面図であり、図において、１〜９は第２図に示した従来
例と同様なものである。１０は赤外光学系１の開口絞
り、１１は赤外光学系１の光軸である。
第３図に示した赤外線光学装置において、赤外線検出素
子６の中心から見込むコールドシールド７の開口７ａの
立体角ΩＣは、赤外光学系１のＦ数で決まり、 である。これにより、赤外線検出素子６に入射する雑音
光は、赤外光学系１自身の放射光と、冷却されたコール
ドシールド７から放射される微かな放射光に低減され
る。
子６の中心から見込むコールドシールド７の開口７ａの
立体角ΩＣは、赤外光学系１のＦ数で決まり、 である。これにより、赤外線検出素子６に入射する雑音
光は、赤外光学系１自身の放射光と、冷却されたコール
ドシールド７から放射される微かな放射光に低減され
る。
［発明が解決しようとする課題］ 第３図に示した従来の赤外線光学装置において、赤外線
検出素子６の中心に対する上端６ｂでの赤外線２の相対
的な照度Ｓは、赤外光学系１に歪曲がなければ、第３式 Ｓ＝cos4θ (3) で与えられる。第３式においてθは、赤外線検出素子６
の上端６ｂと開口絞り１０の中心を結ぶ直線と、赤外光
学系１の光軸１１とが成す角度である。
検出素子６の中心に対する上端６ｂでの赤外線２の相対
的な照度Ｓは、赤外光学系１に歪曲がなければ、第３式 Ｓ＝cos4θ (3) で与えられる。第３式においてθは、赤外線検出素子６
の上端６ｂと開口絞り１０の中心を結ぶ直線と、赤外光
学系１の光軸１１とが成す角度である。
第３式から、赤外線検出素子６上の赤外線２の照度分布
は、θが小，すなわち開口絞り１０と赤外線検出素子６
間の距離が赤外線検出素子６の寸法に比して大である
程、一様となることがわかる。
は、θが小，すなわち開口絞り１０と赤外線検出素子６
間の距離が赤外線検出素子６の寸法に比して大である
程、一様となることがわかる。
鏡筒３から放射される雑音光が赤外線検出素子６に入射
しない低雑音な赤外線光学装置とするためには、上記で
説明したようにコールドシールド７の開口７ａを赤外光
学系１の開口絞り１０と一致させる必要がある。従っ
て、赤外線検出素子６上の赤外線２の照度を一様に近く
するためには、コールドシールド７の開口７ａと赤外線
検出素子６間の距離（以下コールドシールドの高さと呼
ぶ）が大きくとらねばならず、コールドシールド７が長
くなる。また、赤外線２が制限されることなく赤外線検
出素子６に入射するために必要なコールドシールド７の
開口７ａを見込む立体角は、第２式で示したように赤外
光学系１のＦ数で決まるので、コールドシールドの高さ
が増大するにつれ開口も増大し、大形のコールドシール
ド７が必要となる。
しない低雑音な赤外線光学装置とするためには、上記で
説明したようにコールドシールド７の開口７ａを赤外光
学系１の開口絞り１０と一致させる必要がある。従っ
て、赤外線検出素子６上の赤外線２の照度を一様に近く
するためには、コールドシールド７の開口７ａと赤外線
検出素子６間の距離（以下コールドシールドの高さと呼
ぶ）が大きくとらねばならず、コールドシールド７が長
くなる。また、赤外線２が制限されることなく赤外線検
出素子６に入射するために必要なコールドシールド７の
開口７ａを見込む立体角は、第２式で示したように赤外
光学系１のＦ数で決まるので、コールドシールドの高さ
が増大するにつれ開口も増大し、大形のコールドシール
ド７が必要となる。
特に、赤外線画像を得るために赤外線検出素子６として
微小な素子を２次元アレイ状に並べた赤外固体撮像素子
を用いる場合、広視野，高分解能な画像を得るために多
数の素子を用いた大形の赤外固体撮像素子が開発されつ
つあり、かなり大形のコールドシールド７が必要とな
る。
微小な素子を２次元アレイ状に並べた赤外固体撮像素子
を用いる場合、広視野，高分解能な画像を得るために多
数の素子を用いた大形の赤外固体撮像素子が開発されつ
つあり、かなり大形のコールドシールド７が必要とな
る。
このようにコールドシールド７が大形化すると、コール
ドシールド７はデュア瓶４に取付けられ赤外線検出素子
６とともに冷却されるので、冷却装置９は、大形の赤外
線検出素子６に加えて大形のコールドシールド７を冷却
しなければならず、熱負荷が増大するという課題があっ
た。
ドシールド７はデュア瓶４に取付けられ赤外線検出素子
６とともに冷却されるので、冷却装置９は、大形の赤外
線検出素子６に加えて大形のコールドシールド７を冷却
しなければならず、熱負荷が増大するという課題があっ
た。
更に、冷却装置９の熱負荷が増大すると、赤外線検出素
子６を所定の温度，例えば液体窒素温度まで冷却するの
に要する時間が増し、赤外線光学装置が動作するまでに
時間を要するという課題があった。
子６を所定の温度，例えば液体窒素温度まで冷却するの
に要する時間が増し、赤外線光学装置が動作するまでに
時間を要するという課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、コールドシールドを大形化することなく低雑音
化が図れる赤外線光学装置を得ることを目的とする。
もので、コールドシールドを大形化することなく低雑音
化が図れる赤外線光学装置を得ることを目的とする。
［課題を解決するための手段］ この発明に係る赤外線光学装置は、赤外線検出素子とコ
ールドシールドを冷却する冷却装置とは別の第２の冷却
装置により冷却される冷却絞りを赤外光学系とコールド
シールドの間に設置して、赤外線検出素子からコールド
シールドの開口を見込む立体角と赤外光学系の開口絞り
を見込む立体角間を覆うようにしたものである。
ールドシールドを冷却する冷却装置とは別の第２の冷却
装置により冷却される冷却絞りを赤外光学系とコールド
シールドの間に設置して、赤外線検出素子からコールド
シールドの開口を見込む立体角と赤外光学系の開口絞り
を見込む立体角間を覆うようにしたものである。
［作用］ この発明における冷却絞りは、第２の冷却装置によって
冷却され、赤外光学系とコールドシールド間の背景から
赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減するので、雑音
光を低減するためにコールドシールドの開口を赤外光学
系の開口絞りと一致させる必要がなく、小形のコールド
シールドを用いることにより、赤外線検出素子及びコー
ルドシールドを冷却する冷却装置の熱負荷を増大させる
ことなく，赤外線検出素子の周辺光量の低下の少ない，
低雑音な赤外線光学装置を構成することができる。
冷却され、赤外光学系とコールドシールド間の背景から
赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減するので、雑音
光を低減するためにコールドシールドの開口を赤外光学
系の開口絞りと一致させる必要がなく、小形のコールド
シールドを用いることにより、赤外線検出素子及びコー
ルドシールドを冷却する冷却装置の熱負荷を増大させる
ことなく，赤外線検出素子の周辺光量の低下の少ない，
低雑音な赤外線光学装置を構成することができる。
［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図は、この発明の一実施例を示す断面図であり、図
において、１〜１１は上記従来例と同様のものである。
１２は赤外光学系１の開口絞り１０の位置にその赤外光
学系側開口１２ａが一致するように設置した冷却絞り、
１３は上記冷却絞り１２に取付けられた第２の冷却装置
であり、上記冷却絞り１２は冷却装置１３を介して筐体
８の内壁に取付けられ、この筐体８に断熱材１４を介し
て鏡筒３が取付けられている。
において、１〜１１は上記従来例と同様のものである。
１２は赤外光学系１の開口絞り１０の位置にその赤外光
学系側開口１２ａが一致するように設置した冷却絞り、
１３は上記冷却絞り１２に取付けられた第２の冷却装置
であり、上記冷却絞り１２は冷却装置１３を介して筐体
８の内壁に取付けられ、この筐体８に断熱材１４を介し
て鏡筒３が取付けられている。
冷却絞り１２は、第１図に斜線で示したように、赤外線
検出素子６上の点からコールドシールド７の開口７ａを
見込む立体角ΩＣと赤外光学系１の開口絞り１０を見込
む立体角ΩＯの差であるΩＣ−ΩＯの立体角内の部分を
覆うように設置する。冷却絞り１２の内壁はベルベット
コーティング等を塗布して反射率を低減することによ
り、赤外光学系１及び鏡筒３から放射された不要な赤外
線が冷却絞り１２の内壁で反射して赤外線検出素子６に
入射するのを防ぐ。
検出素子６上の点からコールドシールド７の開口７ａを
見込む立体角ΩＣと赤外光学系１の開口絞り１０を見込
む立体角ΩＯの差であるΩＣ−ΩＯの立体角内の部分を
覆うように設置する。冷却絞り１２の内壁はベルベット
コーティング等を塗布して反射率を低減することによ
り、赤外光学系１及び鏡筒３から放射された不要な赤外
線が冷却絞り１２の内壁で反射して赤外線検出素子６に
入射するのを防ぐ。
このように冷却絞り１２が設置されているので、検出す
べき信号光である赤外線２以外に赤外線検出素子６に入
射する不要な雑音光は、赤外光学系１自身，冷却絞り１
２及びコールドシールド７からの放射光に限られる。
べき信号光である赤外線２以外に赤外線検出素子６に入
射する不要な雑音光は、赤外光学系１自身，冷却絞り１
２及びコールドシールド７からの放射光に限られる。
絶対温度Ｔである黒体の分光放射輝度Ｗ（λ，Ｔ）は、
第４式 で与えられる。ここで、λは放射光の波長，ｈはプラン
ク定数，ｋはボルツマン定数，ｃは光速度である。第４
式から、例えば放射光の波長λを４μｍとした場合、２
０℃のときの放射輝度は６０℃のときの放射輝度の１／
４以下となることがわかる。従って、冷却絞り１２は必
ずしも赤外線検出素子６と同程度の温度まで冷却される
必要はなく、第２の冷却装置１３を例えばペルチェ素子
などで構成し、冷却絞り１２を常温以下に保つことで鏡
筒３の温度が上昇しても雑音光の増大を防ぐことができ
る。
第４式 で与えられる。ここで、λは放射光の波長，ｈはプラン
ク定数，ｋはボルツマン定数，ｃは光速度である。第４
式から、例えば放射光の波長λを４μｍとした場合、２
０℃のときの放射輝度は６０℃のときの放射輝度の１／
４以下となることがわかる。従って、冷却絞り１２は必
ずしも赤外線検出素子６と同程度の温度まで冷却される
必要はなく、第２の冷却装置１３を例えばペルチェ素子
などで構成し、冷却絞り１２を常温以下に保つことで鏡
筒３の温度が上昇しても雑音光の増大を防ぐことができ
る。
第２の冷却装置１３としてペルチェ素子を用いた場合、
冷却絞り１２の冷却に伴う放熱は筐体８を介して行うこ
とができる。この場合、第２の冷却装置１３の放熱によ
り鏡筒３及び赤外光学系１の温度が上昇するのを防ぐた
めに、鏡筒３は断熱材１４を介して筐体８に取付けられ
る。
冷却絞り１２の冷却に伴う放熱は筐体８を介して行うこ
とができる。この場合、第２の冷却装置１３の放熱によ
り鏡筒３及び赤外光学系１の温度が上昇するのを防ぐた
めに、鏡筒３は断熱材１４を介して筐体８に取付けられ
る。
また、鏡筒３，デュア瓶４及び筐体８で囲まれた空間に
窒素ガス等の乾燥ガスを封入しておくことにより、冷却
絞り１２を常温以下の低温に冷却しても結露を防ぐこと
ができる。
窒素ガス等の乾燥ガスを封入しておくことにより、冷却
絞り１２を常温以下の低温に冷却しても結露を防ぐこと
ができる。
以上のように、この赤外線光学装置によれば、コールド
シールド７の開口７ａは赤外光学系１の開口絞り１０と
一致する必要がないので、赤外線検出素子６上における
赤外線２の照度分布を一様にするために開口絞り１０を
赤外線検出素子６から離した構成としても、コールドシ
ールド７の高さを高くして大形にする必要がなく、赤外
線検出素子６及びコールドシールド７を冷却する冷却装
置９の負荷が増大することはない。
シールド７の開口７ａは赤外光学系１の開口絞り１０と
一致する必要がないので、赤外線検出素子６上における
赤外線２の照度分布を一様にするために開口絞り１０を
赤外線検出素子６から離した構成としても、コールドシ
ールド７の高さを高くして大形にする必要がなく、赤外
線検出素子６及びコールドシールド７を冷却する冷却装
置９の負荷が増大することはない。
なお、上記実施例では、赤外光学系１とコールドシール
ド７の間に開口絞り１０があり、開口絞り１０と冷却絞
り１２の赤外光学系側開口12ａが一致している場合につ
いて説明したが、開口絞り１０が赤外光学系１の内部に
ある場合についても、冷却絞り１２を赤外光学系１とコ
ールドシールド７の間に設置することにより、鏡筒３か
ら放射され赤外線検出素子６に入射する雑音光を低減で
き、同様の効果が得られる。
ド７の間に開口絞り１０があり、開口絞り１０と冷却絞
り１２の赤外光学系側開口12ａが一致している場合につ
いて説明したが、開口絞り１０が赤外光学系１の内部に
ある場合についても、冷却絞り１２を赤外光学系１とコ
ールドシールド７の間に設置することにより、鏡筒３か
ら放射され赤外線検出素子６に入射する雑音光を低減で
き、同様の効果が得られる。
［発明の効果］ 以上のように、この発明によれば、赤外光学系とコール
ドシールドとの間に、赤外線検出素子からコールドシー
ルドの開口を見込む立体角と赤外光学系の開口絞りを見
込む立体角間を覆い第２の冷却装置によって冷却される
冷却絞りを備え、赤外光学系とコールドシールド間の背
景から赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減する構成
としたので、背景温度が上昇しても低雑音の赤外線光学
装置が得られ、また、赤外線検出素子とともに冷却され
るコールドシールドを小形なもので構成できるので、赤
外線検出素子の冷却装置の熱負荷を軽減し、冷却に要す
る時間を短縮するという効果がある。
ドシールドとの間に、赤外線検出素子からコールドシー
ルドの開口を見込む立体角と赤外光学系の開口絞りを見
込む立体角間を覆い第２の冷却装置によって冷却される
冷却絞りを備え、赤外光学系とコールドシールド間の背
景から赤外線検出素子へ入射する雑音光を低減する構成
としたので、背景温度が上昇しても低雑音の赤外線光学
装置が得られ、また、赤外線検出素子とともに冷却され
るコールドシールドを小形なもので構成できるので、赤
外線検出素子の冷却装置の熱負荷を軽減し、冷却に要す
る時間を短縮するという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は従
来の赤外線光学装置を示す断面図、第３図は低雑音化さ
れた従来の赤外線光学装置を示す断面図である。 １は赤外光学系、２は赤外線、３は鏡筒、４はデュア
瓶、５はデュア窓、６は赤外線検出素子、７はコールド
シールド、７ａはコールドシールドの開口、８は筐体、
９は冷却装置、１０は開口絞り、１１は光軸、１２は冷
却絞り、１３は第２の冷却装置、１４は断熱材。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
来の赤外線光学装置を示す断面図、第３図は低雑音化さ
れた従来の赤外線光学装置を示す断面図である。 １は赤外光学系、２は赤外線、３は鏡筒、４はデュア
瓶、５はデュア窓、６は赤外線検出素子、７はコールド
シールド、７ａはコールドシールドの開口、８は筐体、
９は冷却装置、１０は開口絞り、１１は光軸、１２は冷
却絞り、１３は第２の冷却装置、１４は断熱材。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 【請求項１】赤外線を結像する赤外光学系と、冷却装置
によってそれぞれ冷却され，上記赤外光学系の結像位置
に設けられた赤外線検出素子及び上記赤外光学系側に面
して開口を有し赤外線検出素子への雑音光を遮蔽するコ
ールドシールドとを備えた赤外線光学装置において、 上記赤外光学系とコールドシールドとの間に、赤外線検
出素子からコールドシールドの開口を見込む立体角と赤
外光学系の開口絞りを見込む立体角間を覆い上記冷却装
置とは異なる第２の冷却装置によって冷却される冷却絞
りを備えたことを特徴とする赤外線光学装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63314694A JPH0629778B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 赤外線光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63314694A JPH0629778B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 赤外線光学装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03191835A JPH03191835A (ja) | 1991-08-21 |
| JPH0629778B2 true JPH0629778B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=18056424
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63314694A Expired - Fee Related JPH0629778B2 (ja) | 1988-12-13 | 1988-12-13 | 赤外線光学装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629778B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4303231C2 (de) * | 1993-02-04 | 1995-02-23 | Steinheil Optronik Gmbh | Infrarot-Strahlendetektoreinrichtung |
| DE102006026920B4 (de) * | 2006-06-09 | 2008-05-21 | ArcelorMittal Eisenhüttenstadt GmbH | Vorrichtung zur Unterdrückung von Messwert verfälschenden Strahlungsanteilen bei berührungslos arbeitenden IR-Messeinrichtungen in Hochtemperaturöfen |
| CN111238659B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-09-07 | 武汉高芯科技有限公司 | 一种具有抑制杂散光功能的冷屏及制冷型红外探测器 |
-
1988
- 1988-12-13 JP JP63314694A patent/JPH0629778B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03191835A (ja) | 1991-08-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |